JP2013515249A5 - - Google Patents

Download PDF

Info

Publication number
JP2013515249A5
JP2013515249A5 JP2012545135A JP2012545135A JP2013515249A5 JP 2013515249 A5 JP2013515249 A5 JP 2013515249A5 JP 2012545135 A JP2012545135 A JP 2012545135A JP 2012545135 A JP2012545135 A JP 2012545135A JP 2013515249 A5 JP2013515249 A5 JP 2013515249A5
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
detection
sample
resolution
activated
switching
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2012545135A
Other languages
English (en)
Japanese (ja)
Other versions
JP2013515249A (ja
Filing date
Publication date
Priority claimed from DE102009060793A external-priority patent/DE102009060793A1/de
Application filed filed Critical
Publication of JP2013515249A publication Critical patent/JP2013515249A/ja
Publication of JP2013515249A5 publication Critical patent/JP2013515249A5/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

JP2012545135A 2009-12-22 2010-12-14 物体の２次元または３次元の位置調整のための高解像度顕微鏡および方法 Pending JP2013515249A (ja)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE102009060793.5 2009-12-22
DE102009060793A DE102009060793A1 (de) 2009-12-22 2009-12-22 Hochauflösendes Mikroskop und Verfahren zur zwei- oder dreidimensionalen Positionsbestimmung von Objekten
PCT/EP2010/007595 WO2011085766A1 (de) 2009-12-22 2010-12-14 Hochauflösendes mikroskop und verfahren zur zwei- oder dreidimensionalen positionsbestimmung von objekten

Related Child Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2015121233A Division JP6018263B2 (ja) 2009-12-22 2015-06-16 物体の２次元または３次元の位置調整のための高解像度顕微鏡および方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2013515249A JP2013515249A (ja) 2013-05-02
JP2013515249A5 true JP2013515249A5 (enExample) 2013-08-08

Family

ID=43567611

Family Applications (3)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2012545135A Pending JP2013515249A (ja) 2009-12-22 2010-12-14 物体の２次元または３次元の位置調整のための高解像度顕微鏡および方法
JP2015121233A Active JP6018263B2 (ja) 2009-12-22 2015-06-16 物体の２次元または３次元の位置調整のための高解像度顕微鏡および方法
JP2016191256A Active JP6282706B2 (ja) 2009-12-22 2016-09-29 物体の２次元または３次元の位置調整のための高解像度顕微鏡および方法

Family Applications After (2)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2015121233A Active JP6018263B2 (ja) 2009-12-22 2015-06-16 物体の２次元または３次元の位置調整のための高解像度顕微鏡および方法
JP2016191256A Active JP6282706B2 (ja) 2009-12-22 2016-09-29 物体の２次元または３次元の位置調整のための高解像度顕微鏡および方法

Country Status (5)

Country Link
US (1) US9234846B2 (enExample)
EP (1) EP2516993B1 (enExample)
JP (3) JP2013515249A (enExample)
DE (1) DE102009060793A1 (enExample)
WO (1) WO2011085766A1 (enExample)

Families Citing this family (45)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0742971B2 (ja) 1990-06-06 1995-05-15 株式会社青山製作所 ブランクおよびこのブランクを用いたボルトの製造法
DE102010041794A1 (de) 2010-09-30 2012-04-05 Carl Zeiss Microlmaging Gmbh Mikroskopsystem, Mikroskopieverfahren und Computerprogrammprodukt
DE102011053232B4 (de) * 2011-09-02 2020-08-06 Leica Microsystems Cms Gmbh Mikroskopische Einrichtung und mikroskopisches Verfahren zur dreidimensionalen Lokalisierung von punktförmigen Objekten
DE102011055294B4 (de) 2011-11-11 2013-11-07 Leica Microsystems Cms Gmbh Mikroskopische Einrichtung und Verfahren zur dreidimensionalen Lokalisierung von punktförmigen Objekten in einer Probe
DE102012201003B4 (de) * 2012-01-24 2024-07-25 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Mikroskop und Verfahren für die hochauflösende 3-D Fluoreszenzmikroskopie
GB201217171D0 (en) * 2012-08-23 2012-11-07 Isis Innovation Stimulated emission depletion microscopy
EP2898312B1 (en) * 2012-09-24 2021-03-24 Global Life Sciences Solutions USA LLC Methods for resolving positions in fluorescence stochastic microscopy using three-dimensional structured illumination.
DE102013102988A1 (de) * 2013-03-22 2014-09-25 Leica Microsystems Cms Gmbh Lichtmikroskopisches Verfahren zur Lokalisierung von Punktobjekten
WO2014179269A2 (en) * 2013-04-30 2014-11-06 Molecular Devices, Llc Apparatus and method for generating in-focus images using parallel imaging in a microscopy system
DE102013208415B4 (de) * 2013-05-07 2023-12-28 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Mikroskop und Verfahren für die 3D-hochauflösende Lokalisierungsmikroskopie
DE102013208926A1 (de) * 2013-05-14 2014-11-20 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Verfahren zur 3D-hochauflösenden Lokalisierungsmikroskopie
DE102013208927A1 (de) * 2013-05-14 2014-11-20 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Verfahren zur 3D-hochauflösenden Lokalisierungsmikroskopie
DE102013009042A1 (de) * 2013-05-28 2014-12-04 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Lumineszenzmikroskopie
DE102013216124A1 (de) * 2013-08-14 2015-02-19 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Hochauflösende 3D-Fluoreszenzmikroskopie
WO2015089506A2 (en) 2013-12-15 2015-06-18 President And Fellows Of Harvard College Methods and compositions relating to optical super-resolution patterning
DE102014002328B4 (de) * 2014-02-12 2021-08-05 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Multifokales Fluoreszenzrastermikroskop
WO2015164844A1 (en) * 2014-04-24 2015-10-29 Vutara, Inc. Super resolution microscopy
JP6300658B2 (ja) * 2014-06-19 2018-03-28 オリンパス株式会社 標本観察装置
US20160033411A1 (en) * 2014-07-29 2016-02-04 President And Fellows Of Harvard College Methods and compositions relating to storm-based patterning
US10006917B2 (en) 2014-12-15 2018-06-26 President And Fellows Of Harvard College Methods and compositions relating to super-resolution imaging and modification
LU92620B1 (de) * 2014-12-19 2016-06-20 Leica Microsystems Rastermikroskop
KR101716125B1 (ko) * 2015-07-20 2017-03-15 주식회사 토모큐브 파면 제어기를 활용한 초고속 고정밀 3차원 굴절률 측정 방법 및 장치
EP3385769A4 (en) * 2015-11-27 2019-10-30 Nikon Corporation MICROSCOPE DEVICE
DE102015016353A1 (de) 2015-12-16 2017-06-22 Horst Wochnowski PALM-Verfahren mit mehreren sich nur marginal voneinander unterscheidenden Fluorophoren
JP6726687B2 (ja) * 2015-12-18 2020-07-22 株式会社堀場製作所 粒子分析装置及び粒子分析方法
CN106546513B (zh) * 2016-11-02 2019-04-23 中国人民解放军理工大学 一种基于正交双视场的三维降水粒子测量与重构装置及方法
JP6784603B2 (ja) * 2017-01-05 2020-11-11 東レエンジニアリング株式会社 分光測定方法および分光測定装置
CN107167929B (zh) * 2017-06-12 2019-06-25 华南师范大学 基于dmd的双模式光学超分辨显微成像装置及方法
JP2019066706A (ja) 2017-10-02 2019-04-25 ソニー株式会社 蛍光顕微鏡装置及び蛍光顕微鏡システム
JP2019086529A (ja) * 2017-11-01 2019-06-06 株式会社ニコン 顕微鏡、照明装置、及び観察方法
WO2019135069A1 (en) * 2018-01-02 2019-07-11 King's College London Method and system for localisation microscopy
JP7380569B2 (ja) * 2018-08-09 2023-11-15 ソニーグループ株式会社 光学顕微鏡装置及び光学顕微鏡システム
CN109407295B (zh) * 2018-12-18 2020-07-24 中国科学院深圳先进技术研究院 一种基于dmd可多色激发的结构光显微系统及多色激发方法
EP3987481B1 (en) * 2019-06-18 2025-09-17 SurgVision GmbH Luminescence imaging with refining loop based on combination of partial illuminations
DE102019129932B4 (de) * 2019-11-06 2023-12-21 Technische Universität Braunschweig Optische Detektionseinrichtung und Verfahren zum Betreiben einer optischen Detektionseinrichtung
CN110989186B (zh) * 2019-12-18 2022-03-08 苏州显纳精密仪器有限公司 一种能在不同环境介质中实现大视场下超分辨成像的上浸没微球透镜组
CN111650739B (zh) * 2020-05-21 2022-06-03 中国科学院苏州生物医学工程技术研究所 基于dmd的单帧曝光快速三维荧光成像系统及方法
DE102020130476A1 (de) * 2020-11-18 2022-05-19 MAX-PLANCK-Gesellschaft zur Förderung der Wissenschaften e.V. Verfahren und Laserscanningmikroskop zum Abbilden einer mit verschiedenen Fluoreszenzmarkern markierten Struktur einer Probe
DE102020131047B4 (de) * 2020-11-24 2024-08-22 Abberior Instruments Gmbh Verfahren und Vorrichtung zur Aufnahme nanoskopischer Bilder mehrfach gefärbter Proben
CN112859315A (zh) * 2021-01-11 2021-05-28 北京大学 一种多色双模式结构光照明显微成像系统及其成像方法
CN115702777B (zh) * 2021-08-13 2024-05-17 深圳先进技术研究院 一种多功能双光子显微成像系统
CN113936837B (zh) * 2021-10-11 2023-07-21 散裂中子源科学中心 一种中子光阑转动切换机构
DE102021134427A1 (de) 2021-12-22 2023-06-22 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Mikroskop und verfahren zur mikroskopie
WO2024216409A1 (es) * 2023-04-21 2024-10-24 Pontificia Universidad Catolica De Chile Método para realizar mediciones volumétricas
CN118896940A (zh) * 2023-05-04 2024-11-05 深圳先进技术研究院 融合光遗传刺激与光信号探测的光学系统及成像装置

Family Cites Families (34)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE2834204C3 (de) 1978-08-04 1981-03-19 Karl Süss KG, Präzisionsgeräte für Wissenschaft und Industrie - GmbH & Co, 8046 Garching Mikroskop mit zwei Strahlengängen zur gleichzeitigen Scharfeinstellung auf zwei im Abstand befindliche Dingebenen
DE4416558C2 (de) 1994-02-01 1997-09-04 Hell Stefan Verfahren zum optischen Messen eines Probenpunkts einer Probe und Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens
US5866911A (en) 1994-07-15 1999-02-02 Baer; Stephen C. Method and apparatus for improving resolution in scanned optical system
US5867604A (en) 1995-08-03 1999-02-02 Ben-Levy; Meir Imaging measurement system
DE19643475C1 (de) * 1996-10-22 1998-06-25 Laser Applikationan Gmbh Verfahren zur Geschwindigkeitsmessung nach dem Laser-Doppler-Prinzip
US6388788B1 (en) * 1998-03-16 2002-05-14 Praelux, Inc. Method and apparatus for screening chemical compounds
DE19829981C2 (de) 1998-07-04 2002-10-17 Zeiss Carl Jena Gmbh Verfahren und Anordnung zur konfokalen Mikroskopie
DE19835072A1 (de) 1998-08-04 2000-02-10 Zeiss Carl Jena Gmbh Anordnung zur Beleuchtung und/oder Detektion in einem Mikroskop
EP1145066B1 (de) * 1998-12-21 2005-03-02 Evotec OAI AG Positionierung des messvolumens in einem scanning-mikroskopischen verfahren
JP3099063B2 (ja) * 1998-12-28 2000-10-16 大阪大学長 多光子顕微鏡
DE19908883A1 (de) 1999-03-02 2000-09-07 Rainer Heintzmann Verfahren zur Erhöhung der Auflösung optischer Abbildung
DE19930532C2 (de) 1999-06-30 2002-03-28 Zeiss Carl Jena Gmbh Anordnung zur Optimierung der Pulsform in einem Laser-Scanning-Mikroskop
JP2002062261A (ja) 2000-08-21 2002-02-28 Olympus Optical Co Ltd 光学装置および顕微鏡
JP4804665B2 (ja) * 2001-08-09 2011-11-02 オリンパス株式会社 レーザ顕微鏡
DE10259443B4 (de) 2002-12-19 2015-01-22 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Verfahren und Anordnung zur optischen Untersuchung und/oder Bearbeitung einer Probe
DE10325460A1 (de) 2003-04-13 2004-11-11 MAX-PLANCK-Gesellschaft zur Förderung der Wissenschaften e.V. Räumlich hochauflösendes Abbilden
JP4454980B2 (ja) * 2003-07-11 2010-04-21 オリンパス株式会社 顕微鏡の撮像光学系およびそれを用いた顕微鏡
US7372985B2 (en) * 2003-08-15 2008-05-13 Massachusetts Institute Of Technology Systems and methods for volumetric tissue scanning microscopy
JP2005233802A (ja) * 2004-02-20 2005-09-02 Yokogawa Electric Corp 物理量計測装置およびその装置を用いて行う物理量校正方法
EP3203235A1 (en) 2005-05-23 2017-08-09 Harald F. Hess Optical microscopy with phototransformable optical labels
DE102005027896B4 (de) * 2005-06-16 2012-03-15 MAX-PLANCK-Gesellschaft zur Förderung der Wissenschaften e.V. Verfahren zum optischen Messen einer Probe
ATE441103T1 (de) 2005-07-22 2009-09-15 Zeiss Carl Microimaging Gmbh Auflísungsgesteigerte lumineszenz-mikroskopie
DE102006021317B3 (de) * 2006-05-06 2007-10-11 MAX-PLANCK-Gesellschaft zur Förderung der Wissenschaften e.V. Verfahren und Fluoreszenzlichtmikroskop zum räumlich hochauflösenden Abbilden einer Struktur einer Probe
US7838302B2 (en) * 2006-08-07 2010-11-23 President And Fellows Of Harvard College Sub-diffraction limit image resolution and other imaging techniques
DE102006047912A1 (de) * 2006-10-06 2008-04-10 Carl Zeiss Microimaging Gmbh Verfahren und Anordnung zur parallelisierten mikroskopischen Bildgebung
US8217992B2 (en) * 2007-01-11 2012-07-10 The Jackson Laboratory Microscopic imaging techniques
CN101918816B (zh) * 2007-12-21 2015-12-02 哈佛大学 三维中的亚衍射极限图像分辨率
WO2009098079A1 (en) * 2008-02-06 2009-08-13 Ludwig-Maximilians-Universität München Thermo-optical characterisation of nucleic acid molecules
WO2009115108A1 (en) * 2008-03-19 2009-09-24 Ruprecht-Karls-Universität Heidelberg A method and an apparatus for localization of single dye molecules in the fluorescent microscopy
JP2009229715A (ja) * 2008-03-21 2009-10-08 Olympus Corp 顕微鏡
US7772569B2 (en) * 2008-04-01 2010-08-10 The Jackson Laboratory 3D biplane microscopy
DE102008021641A1 (de) * 2008-04-30 2009-11-05 Carl Zeiss Microlmaging Gmbh Auflösungsgesteigerte Lumineszenzmikroskopie
CN102037347B (zh) * 2008-05-21 2013-11-13 马克思-普朗克科学促进协会 样品中感兴趣结构的高空间分辨率成像
US8948851B2 (en) * 2009-01-20 2015-02-03 The Trustees Of Dartmouth College Method and apparatus for depth-resolved fluorescence, chromophore, and oximetry imaging for lesion identification during surgery

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2013515249A5 (enExample)
JP6282706B2 (ja) 物体の２次元または３次元の位置調整のための高解像度顕微鏡および方法
CN103339547B (zh) 扫描显微镜和用于物体的光显微成像的方法
US9645375B2 (en) Light microscope and microscopy method
CN104956249B (zh) 光学显微镜和显微术方法
JP5259154B2 (ja) 走査型レーザ顕微鏡
JP5269901B2 (ja) ２光子励起式ｓｔｅｄ蛍光顕微鏡法
JP5894180B2 (ja) 深さ分解能が向上した顕微鏡検査
US7477380B2 (en) Scanning microscope comprising a confocal slit scanner for imaging an object
JP2011511966A5 (enExample)
US20160139050A1 (en) Method and system for imaging a molecular strand
JP2019532360A (ja) 顕微鏡の検出光のための光学グループ、顕微鏡法のための方法、及び顕微鏡
JP6789815B2 (ja) 光学的投影トモグラフィを用いて試料を検査する方法および装置
JP2013506152A5 (enExample)
CN107530699B (zh) 多光阱控制装置和方法
JP2007233370A (ja) 試料を高い空間分解能で検査するための方法および顕微鏡
JP2014517352A (ja) 高分解能ルミネッセンス顕微鏡法
US7567346B2 (en) System and method for multimode imaging
US11686928B2 (en) Light microscope
JP2016516219A (ja) ランダムアクセス誘導放出抑制（ｓｔｅｄ）顕微鏡
JP6166865B2 (ja) 共焦点レーザ走査顕微鏡のピンホール
JP6484234B2 (ja) 試料の共焦点観察のための装置
US6760105B2 (en) Method and apparatus for inspecting DNA and method for detecting fluorescence
JP2006313356A (ja) 光を調節可能に変化させるための方法および装置
US6975394B2 (en) Method and apparatus for measuring the lifetime of an excited state in a specimen