JP2013236424A - 電源装置の制御回路 - Google Patents

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Abstract

【課題】力率改善と、過渡応答の遅れの抑制との両立を図る。
【解決手段】エラーアンプ12は、電圧Vfbと基準電圧Vrefとを比較し、位相補償回路13と協同して誤差信号Vcompを生成する。AC検出回路14は、入力電圧信号Visにより低電圧系か高電圧系かを判断して、エラーアンプ12のゲインを切り替える。電圧信号Visがあらかじめ設定したしきい値よりも低い場合は(例えば、入力電圧Viが100Vac系に該当する場合)、位相補償回路13の過渡応答を速くするため、AC検出回路14は、エラーアンプ12のゲインを高くする。また、電圧信号Visがあらかじめ設定したしきい値よりも高い場合は(例えば、入力電圧Viが200Vac系に該当する場合)、力率を高くするため、AC検出回路14は、エラーアンプ12のゲインを低くする。
【選択図】図4

Description

本発明は、力率改善型の電源装置の制御回路に関する。
交流電源を入力とするスイッチングコンバータ(スイッチング電源装置)は、入力と出力を結ぶスイッチング素子をスイッチング動作させることにより、全波整流された交流入力電圧を所望レベルの直流出力電圧に変換して負荷に供給するものであり、電子機器等に広く使用されている。
また、商用電力システムの安定化・安全化のため、例えば、消費電力が75Wを超えるようなスイッチングコンバータに対しては、力率改善が求められている。力率改善によって、配電設備系統の負担を軽減し、電力コストを削減することができる。
力率改善型のスイッチングコンバータでは、誘導性負荷の場合、入力電圧に対して入力電流の位相が遅れるため、この位相を合わせる方向に調整することで力率を向上させる。また、出力電圧を基準電圧と比較するエラーアンプと、比較結果である誤差信号の位相を補償する位相補償回路とが設けられている。
高力率を得るためには、エラーアンプのゲインや、位相補償回路の位相補償定数(時定数)を適切な値に設定することになるが、位相補償回路が付加された回路においては、特に入力電圧が低くなるときは、過渡応答が遅くなり応答性が低下することがあった。
この過渡応答の遅れを改善するために、出力電圧を検出して、検出電圧のオーバーシュートまたはアンダーシュートが大きくなった場合に、エラーアンプのゲインを急増加させる技術が提案されている(特許文献1)。
特開2011−211828号公報
しかし、上記のような特開2011−211828号公報の技術では、入力電圧が高いときは、電源ゲインも高くなるので、この状態でさらにエラーアンプのゲインを急増加させると、出力電圧が発振してしまう可能性があるといった問題があった。また、入力電圧が低いときは、出力電圧のアンダーシュートについても、適切な位相補償定数を設定し難く、設計が困難であるといった問題があった。
本発明はこのような点に鑑みてなされたものであり、力率改善と、過渡応答の遅れの抑制との両立を図った電源装置の制御回路を提供することを目的とする。
上記課題を解決するために、整流された交流入力電圧を直流の出力電圧に変換する電源装置の制御回路が提供される。電源装置の制御回路は、誤差信号生成部、位相補償部および入力電圧検出部を備える。誤差信号生成部は、出力電圧を検出し、検出した出力側検出電圧と、基準電圧との差を増幅した信号を出力する。位相補償部は、誤差信号生成部と協同して誤差信号を生成する。入力電圧検出部は、交流入力電圧を検出し、検出した入力側検出電圧に応じて、誤差信号生成部のゲインを切り替える。
力率改善と、過渡応答の遅れの抑制との両立を図ることが可能になる。
電源装置の制御回路の主要部の構成例を示す図である。 昇圧方式の力率改善型のスイッチング電源装置の構成例を示す図である。 従来技術におけるFB電圧とエラーアンプの出力電流との関係を示す図である。 実施の形態のスイッチング電源装置の構成例を示す図である。 FB電圧とエラーアンプの出力電流との関係を示す図である。 エラーアンプの構成例を示す図である。 AC検出回路の構成例を示す図である。
以下、実施の形態を図面を参照して説明する。図1は電源装置の制御回路の主要部の構成例を示す図である。電源装置1は、整流された交流入力電圧を直流の出力電圧に変換する装置であり、誤差信号生成部1a、位相補償部1bおよび入力電圧検出部1cを備える。
誤差信号生成部1aは、誤差信号を生成するために、出力電圧から検出した出力側検出電圧と、基準電圧との差を増幅した信号を出力する。位相補償部1bは誤差信号生成部1aの周波数特性を考慮して位相補償を行うことにより、誤差信号生成部1aと協同して誤差信号を生成する。
入力電圧検出部1cは、交流入力電圧を表す入力側検出電圧と、あらかじめ設定したしきい値との比較結果に基づき、入力側検出電圧が高電圧系であるが低電圧系であるかを判断して誤差信号生成部1aのゲインを切り替える。
この場合、入力電圧検出部1cは、入力側検出電圧が交流入力電圧の半周期の間常にしきい値よりも低く、低電圧系(例えば100Vac系)であると判断した場合は、誤差信号生成部1aのゲインを上昇させる。また、交流入力電圧の半周期の間に入力側検出電圧がしきい値よりも高いときがあり、高電圧系(例えば200Vac系)であると判断した場合は、誤差信号生成部1aのゲインを低下させる。
ここで、図1に示すグラフは、出力側検出電圧(電源装置の出力電圧Voの検出値)と誤差信号生成部1aの直接の出力である電流信号(誤差電流信号)Ierrとの関係を示しており、横軸は出力側検出電圧、縦軸は電流信号(誤差電流信号)Ierrである。
入力電圧検出部1cでは、低電圧系であると判断した場合は、誤差信号生成部1aから出力される電流信号(誤差電流信号)Ierrの電流値を上げてゲインを上昇させる。また、高電圧系であると判断した場合は、誤差信号生成部1aから出力させる電流信号(誤差電流信号)Ierrの電流値を下げてゲインを低下させる。
次に電源装置1の制御回路の詳細について説明する前に、本発明が解決すべき課題について詳しく説明する。図2は昇圧方式の力率改善型のスイッチング電源装置の構成例を示す図である。
昇圧方式の力率改善型のスイッチング電源装置100は、入力コンデンサC1、昇圧インダクタL1、スイッチング素子(NチャネルMOSFET(Metal Oxide Semiconductor Field Effect Transistor))Q1、整流ダイオードD1、出力コンデンサC2、入力電圧検出抵抗R1、R2、動作電流検出抵抗R3、オンオフ指示回路101、出力電圧検出抵抗R4、R5、基準電源部Vo、電圧電流変換型の増幅回路であるエラーアンプ(OTA:Operational Transconductance Amplifier)102および位相補償回路103を備えている。なお、位相補償回路103は、コンデンサC3、C4および抵抗R6を含む。
最初に各素子の接続関係について説明する。入力コンデンサC1の一端は、抵抗R1の一端とインダクタL1の一端と接続し、入力コンデンサC1の他端は、オンオフ指示回路101の入力端子i2と抵抗R3の一端と接続する。
抵抗R1の他端は、抵抗R2の一端とオンオフ指示回路101の入力端子i1と接続する。インダクタL1の他端は、スイッチング素子Q1のドレインとダイオードD1のアノードと接続する。スイッチング素子Q1のゲートは、オンオフ指示回路101の出力端子o1と接続する。
ダイオードD1のカソードは、抵抗R4の一端と、コンデンサC2の正極性側端子と接続する。抵抗R4の他端は、抵抗R5の一端とエラーアンプ102の反転入力端子(−)と接続する。エラーアンプ102の非反転入力端子(+)は基準電源部Voの一端と接続する。
エラーアンプ102の出力端子は、抵抗R6の一端とコンデンサC3の一端とオンオフ指示回路101の入力端子i3と接続し、抵抗R6の他端は、コンデンサC4の一端と接続する。
コンデンサC3の他端は、抵抗R2の他端と、抵抗R3の他端と、コンデンサC4の他端と、基準電源部Voの他端(GND)と、スイッチング素子Q1のソースと、GNDと、抵抗R5の他端と、コンデンサC2の負極性側端子と接続する。
次に動作について説明する。整流器(図示せず)側で交流入力電圧を全波整流して得られた入力電圧Viは、入力電圧検出抵抗R1、R2によって分圧され、分圧によって生成された電圧信号Visは、オンオフ指示回路101の入力端子i1へ送られる。
オンオフ指示回路101は、入力端子i2に入力されるインダクタ電流検出信号(抵抗R3によって、抵抗R3に流れるインダクタ電流を電圧に変換した信号)によりインダクタL1に流れる電流がゼロになったと判断すると、もしくは内部の発振回路によりトリガーがかけられると、出力端子o1からHレベル信号を出力し、スイッチング素子Q1をオンする。スイッチング素子Q1がオンすると、昇圧インダクタL1を介して電流が流れる。このとき、昇圧インダクタL1にエネルギーが蓄えられる。
出力電圧Voは、出力電圧検出抵抗R4、R5で分圧され、分圧された電圧(FB(フィードバック)電圧)Vfbは、V/I(電圧/電流)変換機能を有するエラーアンプ102に入力される。エラーアンプ102は、FB電圧Vfbと基準電圧Vrefとを比較し、その比較結果にもとづき電流信号(誤差電流信号)Ierrを出力する。なお、電流信号Ierrは、位相補償回路103に対するソース電流の場合とシンク電流の場合の、両方の場合がある。
エラーアンプ102から出力される電流信号Ierrは、コンデンサC3、C4および抵抗R6を含む位相補償回路103により電圧信号である誤差信号Vcompに変換され(電流信号Ierrが抵抗R6とコンデンサC4の直列回路と、コンデンサC3とに分流され、分流された電流がコンデンサC3,C4,抵抗R4の両端電圧を発生させる。)、この誤差信号Vcompがオンオフ指示回路101の入力端子i3に送られる。オンオフ指示回路101は、抵抗R1、R2の接続点の電圧である電圧信号Visと、エラーアンプ102から出力されて、位相補償回路103を介して入力される誤差信号Vcompとを乗算する。そして、乗算結果をスイッチング素子Q1のインダクタ電流検出信号の目標値とする。
オンオフ指示回路101は、インダクタ電流検出信号が目標値に達すると、Lレベル信号を出力してスイッチング素子Q1をオフする。スイッチング素子Q1がオフすると、昇圧インダクタL1に蓄えられたエネルギーが入力電圧Viに重畳され、整流ダイオードD1および出力コンデンサC2を介して外部に出力される。
このとき、昇圧インダクタL1のエネルギーの放出が終了すると、もしくは内部の発振回路によりトリガーがかけられると、再びスイッチング素子Q1がオンする。このような動作を繰り返すことにより、所定の出力電圧を得ながら力率改善が行われる。
次にスイッチング電源装置100と、特許文献1として上記した特開2011−211828号公報(以下、従来技術と呼ぶ)との問題点について説明する。スイッチング電源装置100において、高力率を得るためには、エラーアンプ102のゲインと、位相補償回路103のコンデンサC3、C4の容量値および抵抗R6の抵抗値を適切に設定することが必要である。
この場合、位相補償回路103では、一般的に、カットオフ周波数は10Hz以下に設定されるため、特に入力電圧が低くなるときは、過渡応答が遅くなり応答性が低下するといった問題があった。
このような課題に対し、従来技術では、出力電圧を検出して、検出電圧のオーバーシュートまたはアンダーシュートが大きくなった場合に、エラーアンプ102のゲインを急増加させるといった対策をとっている。すなわち、従来技術では、エラーアンプ102は、電流を出力するOTAタイプなので、出力に電流を注入する電流源や、電流を引き抜く電流源を付加する構成をとっている。
図3はこの従来技術におけるFB電圧とエラーアンプの出力電流との関係を示す図である。横軸はFB電圧Vfb、縦軸は誤差電流信号Ierrである。エラーアンプ102は、FB電圧Vfbと、基準電圧Vrefとの誤差電圧を増幅して、誤差電圧に応じた誤差電流信号Ierrを出力する。ここで図3において、誤差電流信号Ierrは、シンク電流側をプラス方向として扱う。
エラーアンプ102は、FB電圧Vfbが基準電圧Vref2よりも小さいとき、誤差電圧に比例した基準オペアンプ電流に定電流I1を加算した電流をソース電流として出力する(図3に示すIcomp1)。また、エラーアンプ102は、FB電圧Vfbが基準電圧Vref3よりも大きいとき、基準オペアンプ電流に定電流I2を加算した電流をシンク電流として出力する(図3に示すIcomp2)。このように、誤差電流信号Ierrは、FB電圧Vfbに応じて変化する。なお、Icomp1、Icomp2は(VfB−Vref)の絶対値が大きくなると飽和する。
一方、装置の入力電圧がワールドワイド仕様(例えば、85Vac〜264Vac)の場合、入力電圧が高くなるほど、電源ゲインが高くなるため、力率は低くなる。逆に入力電圧が低くなるほど、電源ゲインが低くなるため、過渡応答が遅くなる。
ここで、「入力電圧が高くなるほど、電源ゲインが高くなる」ことについて説明する。スイッチング素子Q1がオンしているときに昇圧インダクタL1に流れる電流は、di/dt=Vi/L1で増加する。このため、昇圧インダクタL1に流れる電流、すなわち入力電流は、入力電圧が大きいほど短時間で変化する。これが、「電源ゲインが高い」という意味である。
また、「電源ゲインが高くなると、力率は低くなる」ことについて説明する。力率が高いということは、入力電圧と入力電流の位相差が小さいだけではなく、両者の波形が相似になっていることが重要である。よって、電源ゲインが高くなると、ノイズにより入力電流波形がこの相似形から外れやすくなる。
すなわち、力率改善型のスイッチング電源では、入力であるAC(Alternating Current)電圧の2倍の周波数のリップルが、出力電圧Voに重畳される(出力電圧にリップルが乗ることについては後述)。また、このリップルの大きさは、入力電圧が100V系であるか200V系であるかには依存せず、入力であるAC電圧の周波数,出力電圧Vo,負荷電流および出力コンデンサC2によって決まる。
出力電圧Voのリップルは、エラーアンプ102の出力信号Vcompにも影響を与えて、出力信号Vcompにもリップルが乗る(上述のように、リップルが乗ることは入力電圧が100V系であるか200V系であるかには関係ない)。
一方、上述のように、入力電圧Viが高いほど入力電流が変わりやすくなるので、同じ出力信号Vcompのリップルに対しては、入力電圧Viが高いほどその影響は大きくなる。すなわち、200V系の方が100V系のものより、入力電流波形の理想波形からの外れ方が大きくなるので、力率が悪化することになる。
出力電圧Voにリップルが生じることについて説明する。力率改善型のスイッチング電源ではAC入力電圧を全波波形し、入力電流がその波形と相似形となるようにする。入力電力は、入力電圧と入力電流の積であるので、入力電力は、入力電圧が高いほど高くなり、その周波数はAC入力の2倍(全波波形の周波数)となる。
一方、出力電力は、負荷で消費される電力なのでほぼ一定と看做せる。これに対し、スイッチング電源から供給される電力は、電源の効率を無視すれば入力電力に等しく、AC入力の2倍の周波数で変化するものになる。
したがって、供給電力が負荷で消費する電力より大きければ、そのエネルギーは出力コンデンサC2を充電して出力電圧Voを上昇させ、また、供給電力が負荷で消費する電力より小さければ不足エネルギーが出力コンデンサC2から取り出されて、出力電圧Voを低下させる。このような動作が繰り返されることにより、出力電圧Voにリップルが発生することになる。
ここで、従来技術では、入力電圧が高いときは、電源ゲインも高くなるにもかかわらず、この状態でさらに単にエラーアンプ102のゲインを急増加させる構成なので、出力電圧が発振してしまう可能性があるといった問題があった。また、出力電圧のアンダーシュートについても、入力電圧が低いときは、適切な位相補償定数を設定し難いといった問題があった。
また、上述したように、入力電圧が高くなるほど、電源ゲインが高くなって、力率は低下し、入力電圧が低くなるほど、電源ゲインが低くなって、過渡応答が遅くなる。このため、力率改善と過渡応答の遅れの抑制との両方を実現するには、入力電圧の大きさに応じた適応制御が必要であるが、従来技術では、入力電圧にもとづく適応制御が行われていなかった。
本発明はこのような点に鑑みてなされたものであり、力率改善と、過渡応答の遅れの抑制との両立を図った電源装置を提供するものである。
次に本発明の実施の形態の電源装置1の制御回路について詳しく説明する。図4は、発明を実施するための形態を説明するための、スイッチング電源装置の構成例を示す図である。
昇圧方式の力率改善型のスイッチング電源装置1−1は、入力コンデンサC1、昇圧インダクタL1、スイッチング素子(NチャネルMOSFET)Q1、整流ダイオードD1、出力コンデンサC2、入力電圧検出抵抗R1、R2、動作電流検出抵抗R3、オンオフ指示回路11、出力電圧検出抵抗R4、R5、基準電源部Vo、電圧電流変換型の増幅回路であるエラーアンプ(OTA)12、位相補償回路13およびAC検出回路14を備えている。また、位相補償回路13は、コンデンサC3、C4および抵抗R6を含む。
なお、図1の誤差信号生成部1aは、エラーアンプ12に対応し、図1の位相補償部1bは、位相補償回路13に対応し、図1の入力電圧検出部1cは、AC検出回路14に対応する。また、図4に示す回路のうち、入力電圧検出抵抗R1、R2、動作電流検出抵抗R3、オンオフ指示回路11、出力電圧検出抵抗R4、R5、基準電源部Vo、エラーアンプ(OTA)12、位相補償回路13およびAC検出回路14はスイッチング電源装置の制御回路(の一部)を構成し、さらにこれらの少なくとも一部は半導体集積回路内に集積することができる。
各素子の接続関係について説明する。コンデンサC1の一端は、抵抗R1の一端とインダクタL1の一端と接続する。また、コンデンサC1の一端には入力電圧Viが印加される。コンデンサC1の他端は、オンオフ指示回路11の入力端子i2と抵抗R3の一端と接続する。
抵抗R1の他端は、抵抗R2の一端と、オンオフ指示回路11の入力端子i1と、AC検出回路14の入力端子と接続する。AC検出回路14の出力端子は、エラーアンプ12のゲイン制御端子gと接続する。
インダクタL1の他端は、スイッチング素子Q1のドレインとダイオードD1のアノードと接続する。スイッチング素子Q1のゲートは、オンオフ指示回路11の出力端子o1と接続する。
ダイオードD1のカソードは、抵抗R4の一端と、コンデンサC2の正極性側端子と接続する。抵抗R4の他端は、抵抗R5の一端と、エラーアンプ12の反転入力端子(−)と接続する。エラーアンプ12の非反転入力端子(+)は、基準電源部Voの一端と接続する。
エラーアンプ12の出力端子は、抵抗R6の一端と、コンデンサC3の一端と、オンオフ指示回路11の入力端子i3と接続し、抵抗R6の他端は、コンデンサC4の一端と接続する。
コンデンサC3の他端は、抵抗R2の他端と、抵抗R3の他端と、コンデンサC4の他端と、基準電源部Voの他端(GND)と、スイッチング素子Q1のソースと、GNDと、抵抗R5の他端と、コンデンサC2の負極性側端子と接続する。
次に動作について説明する。整流器(図示せず)側で交流入力電圧を全波整流して得られた入力電圧Viは、入力電圧検出抵抗R1、R2によって分圧され、分圧によって生成された電圧信号Visは、オンオフ指示回路11の入力端子i1へ送られる。
オンオフ指示回路11は、入力端子i2に入力されるインダクタ電流検出信号(抵抗R3によって、抵抗R3に流れるインダクタ電流を電圧に変換した信号)によりインダクタL1に流れる電流がゼロになったと判断すると、もしくは内部の発振回路によりトリガーがかけられると、出力端子o1からHレベル信号を出力し、スイッチング素子Q1をオンする。スイッチング素子Q1がオンすると、昇圧インダクタL1を介して電流が流れる。このとき、昇圧インダクタL1にエネルギーが蓄えられる。
出力電圧Voは、出力電圧検出抵抗R4、R5で分圧され、分圧された電圧(FB(フィードバック)電圧)Vfbは、V/I変換機能を有するエラーアンプ12に入力される。エラーアンプ12は、FB電圧Vfbと基準電圧Vrefとを比較し、その比較結果にもとづき誤差電流信号Ierrを出力する。なお、電流信号Ierrは、位相補償回路13に対するソース電流の場合とシンク電流の場合の、両方の場合がある。
位相補償回路13はエラーアンプ12の周波数特性を考慮して位相補償を行うことにより、エラーアンプ12と協同して誤差信号を生成する。すなわちエラーアンプ12から出力される電流信号Ierrは、コンデンサC3、C4および抵抗R6を含む位相補償回路13により電圧信号である誤差信号Vcompに変換され(電流信号Ierrが抵抗R6とコンデンサC4の直列回路と、コンデンサC3とに分流され、分流された電流がコンデンサC3,C4,抵抗R4の両端電圧を発生させる。)、この誤差信号Vcompがオンオフ指示回路11の入力端子i3に送られる。オンオフ指示回路11は、抵抗R1、R2の接続点の電圧である電圧信号Visと、エラーアンプ12から出力されて、位相補償回路13を介して入力される誤差信号Vcompとを乗算する。そして、乗算結果をスイッチング素子Q1のインダクタ電流検出信号の目標値とする。
オンオフ指示回路11は、インダクタ電流検出信号が目標値に達すると、Lレベル信号を出力してスイッチング素子Q1をオフする。スイッチング素子Q1がオフすると、昇圧インダクタL1に蓄えられたエネルギーが入力電圧Viに重畳され、整流ダイオードD1および出力コンデンサC2を介して外部に出力される。
このとき、昇圧インダクタL1のエネルギーの放出が終了すると、もしくは内部の発振回路によりトリガーがかけられると、再びスイッチング素子Q1がオンする。このような動作を繰り返すことにより、所定の出力電圧を得ながら力率改善が行われる。
次にエラーアンプ12のゲイン切替制御について説明する。AC検出回路14は、入力電圧検出抵抗R1、R2による分圧信号である電圧信号Visを検出し、電圧信号Visによって、エラーアンプ12のゲインを切り替える。
交流入力電圧の半周期の間、電圧信号Visがあらかじめ設定したしきい値よりも常に低い場合は(例えば、入力電圧Viが100Vac系に該当する場合)、位相補償回路13の過渡応答を速くするため、AC検出回路14は、エラーアンプ12のゲインを高くする。この場合、AC検出回路14は、例えばL(Low)レベルの制御信号Vac−staをエラーアンプ12のゲイン制御端子gに送信して、エラーアンプ12のゲインを高く設定する。
また、交流入力電圧の半周期の間に電圧信号Visがあらかじめ設定したしきい値よりも高いときがある場合は(例えば、入力電圧Viが200Vac系に該当する場合)、力率を高くするため、AC検出回路14は、エラーアンプ12のゲインを低くする。この場合、AC検出回路14は、例えばH(High)レベルの制御信号Vac−staをエラーアンプ12のゲイン制御端子gに送信して、エラーアンプ12のゲインを低く設定する。なお、交流入力電圧の半周期の間に電圧信号Visがあらかじめ設定したしきい値よりも常に低いか高いときがあるかは、電圧信号Visのピーク値(近傍)の電圧としきい値とを比較することでも判断できる。
図5はFB電圧とエラーアンプの出力電流との関係を示す図である。横軸はFB電圧Vfb、縦軸はエラーアンプ12の誤差電流信号Ierrである。誤差電流信号Ierr−1は、例えば、入力電圧Viが100Vac系の場合における、エラーアンプ12の出力電流である。また、誤差電流信号Ierr−2は、例えば、入力電圧Viが200Vac系の場合における、エラーアンプ12の出力電流である。
入力電圧Viが100Vac系の場合、AC検出回路14は、位相補償回路13の過渡応答を速くするために、エラーアンプ12のゲインを高く設定するので、エラーアンプ12から出力される誤差電流信号Ierr−1は、誤差電流信号Ierr−2より大きい。
また、入力電圧Viが200Vac系の場合、AC検出回路14は、力率を高くするために、エラーアンプ12のゲインを低く設定するので、エラーアンプ12から出力される誤差電流信号Ierr−2は、誤差電流信号Ierr−1より小さくなる。
上記のように、入力電圧をAC検出回路14で検出し、AC検出回路14は、100Vac系と200Vac系に対応する、ゲイン切替のための制御信号Vac−staを出力する。そして、AC検出回路14は、制御信号Vac−staにより、エラーアンプ12のゲインを、入力電圧の大きさに応じて適応的に切り替える。
これにより、入力電圧が低いときには(例えば、100Vac系)、エラーアンプ12のゲインが高く設定されるので、位相補償回路13の過渡応答を速くすることができる(100Vacの力率は良いため、100Vac系では、過渡応答も速いし力率も良くなる)。
また、入力電圧が高いときには(例えば、200Vac系)、エラーアンプ12のゲインが低く設定されるので、力率が良くなる。電源ゲインは高いために、エラーアンプ12のゲインを低く設定しても過渡応答は遅くならず、出力電圧のアンダーシュートは大きくならない。
したがって、ワールドワイド電源において、安定的な動作をしながら、力率改善と過渡応答の遅延抑制との両立を図ることができる。さらに、100Vac系のアンダーシュートに対しても、位相補償定数(コンデンサC3、C4の容量および抵抗R6の抵抗値)が調整可能な値であるので、設計もしやすくなる。
次にゲイン設定可能なエラーアンプ12の構成について説明する。図6はエラーアンプの構成例を示す図である。
エラーアンプ12は、トランジスタMP1〜MP5(PチャネルMOSFET)、トランジスタMN1〜MN5(NチャネルMOSFET)、スイッチsw1、sw2、定電流源IoおよびインバータIC1を備える。
また、エラーアンプ12は、入出力信号端子として、端子P1〜P4を備える。端子P1は、FB電圧Vfbの入力端子であり、端子P2は、基準電圧Vrefの入力端子である。端子P3は、誤差電流信号Ierrの出力端子であり、端子P4は、AC検出回路14から出力される制御信号Vac−staの入力端子であり、図4のゲイン制御端子gと同じものである。
各素子の接続関係について説明する。電源電圧VDDは、トランジスタMP3、MP4、MP5のソースと、定電流源Ioとに接続する。トランジスタMP3のゲートは、トランジスタMP4、MP5のゲートと、トランジスタMP3のドレインと、トランジスタMN3のドレインと接続する。
定電流源Ioの出力端は、トランジスタMP1、MP2のソースに接続する。トランジスタMP1のゲートには、端子P1が接続し、トランジスタMP2のゲートには、端子P2が接続する。
トランジスタMP1のドレインは、トランジスタMN1のドレインと、トランジスタMN1、MN3のゲートと接続する。トランジスタMP2のドレインは、トランジスタMN2のドレインと、トランジスタMN2、MN4、MN5のゲートと接続する。
トランジスタMN3のソースは、トランジスタMN1、MN2、MN4、MN5のソースと、GNDと接続する。トランジスタMP4のドレインは、トランジスタMN4のドレインと、スイッチsw1の端子a2と、スイッチsw2の端子b2と、端子P3と接続する。端子P4は、インバータIC1の入力端子に接続し、インバータIC1の出力端子は、スイッチsw1の端子a3と、スイッチsw2の端子b3と接続する。トランジスタMP5のドレインは、スイッチsw1の端子a1と接続し、トランジスタMN5のドレインは、スイッチsw2の端子b1と接続する。
動作について説明する。エラーアンプ12は、端子P1に入力されるFB電圧Vfbと端子P2に入力される基準電圧Vrefとの電圧差を誤差電流信号Ierrに変換する回路である。トランジスタMP1(第1の電流分岐部)およびトランジスタMP2(第2の電流分岐部)は、定電流源Ioからの定電流を分け合う回路である。
Vfb>Vrefの場合は、トランジスタMP1よりもトランジスタMP2側に、より大きな電流が流れる。また、Vfb<Vrefの場合は、トランジスタMP2よりもトランジスタMP1側に、より大きな電流が流れる。
ここで、トランジスタMN1、MN3によって、カレントミラー回路が構成され、トランジスタMP3、MP4、MP5によって、カレントミラー回路が構成されている。さらに、トランジスタMN2、MN4、MN5によって、カレントミラー回路が構成されている。
トランジスタMP1に流れる電流は、カレントミラー回路(MN1、MN3)およびカレントミラー回路(MP3、MP4、MP5)によってコピーされ、トランジスタMP4(第1のトランジスタ)および(トランジスタMP5のドレインがオープンでなければ)トランジスタMP5(第2のトランジスタ)には、トランジスタMP1に流れる電流に比例した電流(第1の電流および第2の電流)がそれぞれ流れる。
また、トランジスタMP2に流れる電流は、カレントミラー回路(MN2、MN4、MN5)によってコピーされ、トランジスタMN4(第3のトランジスタ)および(トランジスタMN5のドレインがオープンでなければ)トランジスタMN5(第4のトランジスタ)には、トランジスタMP2に流れる電流に比例した電流(第3の電流および第4の電流)がそれぞれ流れる。
ここで、制御信号Vac−staが、入力電圧が高いことを示すレベル(例えばHレベル)の信号である場合、トランジスタMP5、MN5を端子P3に接続するスイッチsw1、sw2(出力制御部に該当)がオフ(遮断)する。
このとき、トランジスタMP4のドレインと、トランジスタMN4のドレインとが接続する接続点p1(第1の接続点)には、((トランジスタMP4から吐き出される電流(第1の電流))−(トランジスタMN4に引き抜かれる電流(第3の電流)))の電流信号(第1の電流信号)が流れる。この電流信号を電流信号A1とすれば、スイッチsw1、sw2はオフしているので、端子P3からは、電流信号A1が誤差電流信号Ierrとして出力される。
一方、制御信号Vac−staが、入力電圧が低いことを示すレベル(例えばLレベル)の信号である場合、トランジスタMP5、MN5を端子P3に接続するスイッチsw1、sw2がオン(導通)する。
このとき、トランジスタMP5のドレインと、トランジスタMN5のドレインとが接続する接続点p2(第2の接続点)から端子P4に、((トランジスタMP5から吐き出される電流(第2の電流))−(トランジスタMN5に引き抜かれる電流(第4の電流)))の電流信号(第2の電流信号)が流れる。この電流信号を電流信号A2とすれば、端子P3からは、電流信号A1に電流信号A2が追加(加算)された電流信号が、誤差電流信号Ierrとして出力されることになる。すなわち、エラーアンプ12のゲインが高くなることになる。
次にAC検出回路14の構成について説明する。図7はAC検出回路の構成例を示す図である。AC検出回路14は、選択信号保持部40と、選択信号保持部40に制御信号Vac−staの切り替えタイミングを指示するタイミング検出部60とから構成される。
選択信号保持部40は、比較器42、トランスファゲート44、46、RSフリップフロップ48、D型フリップフロップ50およびインバータ52、54によって構成され、AC入力電圧の監視結果に応じた制御信号Vac−staを保持出力するものである。
選択信号保持部40には、互いに異なる大きさの電圧信号V1、V2(V1>V2)が入力され、それらは第1の基準電圧および第2の基準電圧としてそれぞれトランスファゲート44、46を介して比較器42の反転入力端子に供給されている。
また、比較器42の非反転入力端子は、コンデンサC6を介して接地されるとともに、抵抗R7を介して、電圧Visが入力する端子Vdetと接続されている。ここで、コンデンサC6と抵抗R7は電圧Visに対する入力フィルタを構成している。
こうして、比較器42の非反転入力端子には、AC入力電圧の全波整流電圧に比例するAC入力電圧の検出値Visが供給され、比較器42およびトランスファゲート44、46によって、AC入力電圧の大きさを監視する、より具体的には、交流入力電圧の半周期の間に電圧信号Visがあらかじめ設定したしきい値よりも常に低いか高いときがあるか(もしくはAC入力電圧のピーク近傍の電圧の検出値が基準電圧より高いか低いか)でAC入力が高電圧系(例えば200Vac系)か低電圧系(例えば100Vac系)であるかを判断する監視回路40Aが構成される。
監視回路40Aからは、比較器42の出力信号SaがAC入力電圧の監視結果としてRSフリップフロップ48の一方の入力端子Sに供給されている。RSフリップフロップ48は、入力端子SにHレベルの信号が供給されると、出力端子Qに同じHレベルが出力されるものであり、その後に、入力端子Sに供給されている比較器42の出力信号SaがLレベルに戻ってもその状態は変化せず、出力端子QがHレベルに維持される。
また、RSフリップフロップ48の他方の入力端子Rには、タイミング検出部60からワンショット信号S2が供給されている。なお、RSフリップフロップ48は、入力端子Sに入力される比較器42の出力信号SaがLレベルの状態で、他方の入力端子RがHレベルになったとき、出力端子Qの出力信号S3をLレベルに反転させる。
選択信号保持部40には、RSフリップフロップ48、D型フリップフロップ50およびインバータ52、54によって、AC入力電圧の監視結果に応じた選択信号を保持する保持回路40Bが構成されている。
ここでは、RSフリップフロップ48の出力端子Qは、D型フリップフロップ50のD入力端子と接続され、D型フリップフロップ50のCK端子に供給されるクロック信号Ckに同期して、そこからRSフリップフロップ48の出力信号S3がD型フリップフロップ50に読み込まれるように構成されている。
保持回路40BのD型フリップフロップ50は、その出力端子Qがインバータ52を介してトランスファゲート44の第1制御端子、およびトランスファゲート46の第2制御端子に接続されている。
このインバータ52の出力端子は、さらにインバータ54を介してトランスファゲート44の第2制御端子、およびトランスファゲート46の第1制御端子に接続されている。
ここで、トランスファゲート44、46は、Hレベルの信号が第1制御端子に入力され、Lレベルの信号が第2制御端子に入力されたとき、導通状態になって入力された信号を出力側に転送可能な状態となる。
また、D型フリップフロップ50は、その出力端子Qからの出力信号が、インバータ52とインバータ54とを介して、制御信号Vac−staとして外部に出力される。
監視回路40Aは、保持回路40BのD型フリップフロップ50の出力により定まるインバータ52およびインバータ54の出力によって制御されるヒステリシスコンパレータを構成している。
ここでは、D型フリップフロップ50の出力がLレベルであると、トランスファゲート44が導通して比較器42の反転入力端子に第1の基準電圧V1が入力される。このときAC入力電圧の検出値Visが第1の基準電圧V1を超えると比較器42の出力信号SaがHレベルになり、RSフリップフロップ48がセットされる。
そして、RSフリップフロップ48の出力信号S3がHレベルになって、これがD型フリップフロップ50に読み込まれる。これにより、D型フリップフロップ50の出力がHレベルになって、今度はトランスファゲート46が導通して、比較器42の反転入力端子には第2の基準電圧V2が入力されるようになる。
一方、クロック信号Ckが入力されてD型フリップフロップ50が読み込み動作を行った直後に、タイミング検出部60でワンショット信号S2が生成される。このワンショット信号S2がRSフリップフロップ48に入力されて、RSフリップフロップ48がリセットされる。
その後、AC入力電圧の検出値Visが第1の基準電圧V1を下回っても、この検出値Visが第2の基準電圧V2を超えていれば、RSフリップフロップ48は再度セットされ、その出力信号S3がHレベルとなるので、D型フリップフロップ50ではHレベルの状態が維持される。
一方、クロック信号CkによりRSフリップフロップ48がリセットされてから次のクロック信号Ckが発生するまでの間に、AC入力電圧の検出値Visが第2の基準値V2を超えなければ、RSフリップフロップ48の出力信号S3はLレベルのままになる。
すると、この出力信号S3がD型フリップフロップ50に読み込まれ、その結果、再びトランスファゲート44が導通して比較器42の反転入力端子に第1の基準電圧V1が入力されることになる。
その後、AC入力電圧の検出値Visが第2の基準電圧V2を上回っても、第1の基準電圧V1を超えなければ、RSフリップフロップ48がリセットされたままとなるので、D型フリップフロップ50ではLレベルの状態が維持される。
タイミング検出部60は、比較回路60Aとパルス生成回路60Bから構成され、AC入力電圧が零レベル近傍に到達したタイミングを検出して、選択信号保持部40に選択信号の出力を指示するものである。
比較回路60Aは、比較器62、インバータ64、およびトランスファゲート66、68から構成されていて、トランスファゲート66、68には互いに異なる大きさの電圧信号V3、V4(V4>V3)が入力され、第3の基準電圧V3および第4の基準電圧V4としてそれぞれトランスファゲート66、68を介して比較器62の反転入力端子に供給されている。
比較回路60Aでは、比較器62の非反転入力端子に、AC入力電圧の全波整流電圧に比例するAC入力電圧の検出値Visが供給され、比較器62の出力信号Sbが、AC入力電圧の監視結果としてパルス生成回路60Bに出力されている。
パルス生成回路60Bは、比較回路60Aの出力信号Sbに基づき、AC入力電圧の検出値Visが低下して、第3の基準電圧V3に達するタイミングでクロック信号Ckを立ち上げる。
このとき、比較回路60Aに供給される第3の基準電圧V3は、第1および第2の基準電圧V1、V2より小さく設定され(V1>V2>V3)、この第3の基準電圧V3を基準にしてAC入力電圧を監視し、AC入力電圧が零レベル近傍に到達するタイミングを決定している。
比較回路60Aでは、比較器62の出力端子が、トランスファゲート66の第1制御端子、およびトランスファゲート68の第2制御端子に接続されている。比較器62の出力端子は、さらにインバータ64を介してトランスファゲート66の第2制御端子、およびトランスファゲート68の第1制御端子に接続されている。
なお、第4の基準電圧V4は、第1および第2の基準電圧V1、V2より小さく、かつ第3の基準電圧V3より大きく設定される(V1>V2>V4>V3)ことにより、比較器62にヒステリシスを持たせている。
すなわち、比較器62の出力信号SbがHレベルであれば、トランスファゲート66が導通して比較器62の反転入力端子に第3の基準電圧V3が入力され、比較器62の出力信号SbがLレベルであれば、トランスファゲート68が導通して比較器62の反転入力端子に第4の基準電圧V4が入力される。
この構成により、全波整流されたAC入力電圧の検出値Visが減少して零レベル近傍に近づき、第3の基準電圧V3を下回ったとき、比較器62の出力信号SbがHレベルからLレベルに反転する。
そして、全波整流されたAC入力電圧の検出値Visの減少が終了して増加に転じ、その値が第4の基準電圧V4を超えたときに比較器62の出力信号SbがLレベルからHレベルに反転する。
すなわち、比較回路60Aでは、全波整流されたAC入力電圧の検出値Visが零レベル近傍になったときに、Lレベルの短パルスの出力信号Sbが比較器62から出力される。
パルス生成回路60Bは、インバータ70、NチャネルMOSFET72、定電流源74、コンデンサC5、インバータ76、78およびNORゲート80から構成されている。
ここでは、比較回路60Aの出力信号Sbをインバータ70で反転してクロック信号Ckを生成している。このクロック信号Ckは、NチャネルMOSFET72のゲート端子、NORゲート80の一方の入力端子、および選択信号保持部40のD型フリップフロップ50に供給される。
NチャネルMOSFET72と定電流源74は、電源Vccと接地との間で直列に接続されている。MOSFET72のドレイン端子と定電流源74との接続点は、インバータ76の入力端子に接続される。
また、MOSFET72のドレイン端子と定電流源74との接続点は、コンデンサC5を介して接地されている。定電流源74とコンデンサC5は積分回路を構成していて、クロック信号Ckの立ち下がりを遅延させて伝達する働きをするものである。
すなわち、クロック信号Ckが立ち下がると、MOSFET72がオフ(遮断)してコンデンサC5による定電流源74の定電流の積分が開始される。そして、コンデンサC5の積分電圧(コンデンサC5の両端電圧)がインバータ76の閾値電圧に達すると、インバータ76の出力がHレベルからLレベルに反転し、このとき初めてクロック信号Ckの立ち下がりがインバータ78に伝達されるのである。
また、クロック信号Ckが立ち上がると、MOSFET72がオン(導通)してコンデンサC5が即座に放電され、インバータ76、78の出力がそれぞれHレベル、Lレベルになる。インバータ78の出力信号は、NORゲート80の他方の入力端子に入力される。
こうして、NORゲート80では、クロック信号CkとMOSFET72のドレイン端子の電圧Vdとの否定論理和演算が行われ、これより、クロック信号CkがHレベルのときはNORゲート80の一方の入力(クロック信号Ck)がHレベルであるため、NORゲート80の出力は常にLレベルとなる。
一方、クロック信号CkがHレベルからLレベルに立ち下がると、その直後はコンデンサC5の積分電圧がインバータ76の閾値電圧に達していないので、NORゲート80の2つの入力が共にLレベルとなるため、NORゲート80の出力はHレベルとなる。
その後、コンデンサC5の積分電圧がインバータ76の閾値電圧に達するとインバータ78の出力がHレベルになるため、NORゲート80の出力はLレベルとなる。したがって、NORゲート80からは、定電流源74とコンデンサC5とインバータ76の閾値電圧とで決まる時間幅を有するHレベルのワンショット信号S2が生成され、クロック信号Ckの立ち下がりに同期して出力される。
上述のように、AC入力電圧の検出値Visが零レベル近傍になると、比較器62からはLレベルの短パルス信号Sbが出力されるので、このときクロック信号Ckは信号Sbを反転したHレベルの短パルス信号となる。
保持回路40BのD型フリップフロップ50は、クロック信号Ckの立ち上がりで読み込み動作を行い、RSフリップフロップ48はクロック信号Ckの立ち下がりに同期したワンショット信号S2でリセットされる。
そして、保持回路40Bは、AC入力電圧の半周期が終了してAC入力電圧の検出値Visが零レベル近傍になると、まずRSフリップフロップ48の状態をD型フリップフロップ50に記憶し、直後にRSフリップフロップ48をリセットして次の半周期における監視回路40Aからの入力に備えることになる。
以上説明したように、本実施の形態の電源装置1によれば、力率改善回路内のエラーアンプに対して、入力側検出電圧がしきい値よりも低い場合は、エラーアンプのゲインを上昇させ、入力側検出電圧がしきい値よりも高い場合は、エラーアンプのゲインを低くする構成とした。
これにより、エラーアンプに対して、入力電圧の大きさに応じたゲイン調整の適応制御を行うことで、力率改善と、力率改善回路内の位相補償回路の過渡応答の遅れの抑制との両立を図ることが可能になる。
以上、実施の形態を例示したが、実施の形態で示した各部の構成は同様の機能を有する他のものに置換することができる。また、他の任意の構成物や工程が付加されてもよい。
例えば、実施の形態では、インダクタ電流検出信号が目標値に達するとスイッチング素子Q1をオフするいわゆるカレントモードの電源に適用する場合を実施の形態として示したが、制御回路内に発振回路を設け、当該発振回路から出力される最小値、最大値および周波数が一定のキャリア信号(例えば、三角波、鋸波、台形波など)と誤差信号Vcompとの比較結果でスイッチング素子のオンオフを定めるいわゆるボルテージモードの電源に対しても、同様に適用できる(同様にエラーアンプのゲインを変えればよい)。
1 電源装置
1a 誤差信号生成部
1b 位相補償部
1c 入力電圧検出部
11 オンオフ指示回路
12 エラーアンプ
13 位相補償回路
14 AC検出回路
C1 入力コンデンサ
C2 出力コンデンサ
D1 ダイオード
L1 昇圧インダクタ
Q1 スイッチング素子

Claims (7)

  1. 整流された交流入力電圧を直流の出力電圧に変換する電源装置の制御回路であって、
    前記出力電圧を検出し、検出した出力側検出電圧と、基準電圧との差を増幅した信号を出力する誤差信号生成部と、
    前記誤差信号生成部と協同して誤差信号を生成する位相補償部と、
    前記交流入力電圧を検出し、検出した入力側検出電圧に応じて、前記誤差信号生成部のゲインを切り替える入力電圧検出部と、
    を有することを特徴とする電源装置の制御回路。
  2. 前記入力電圧検出部は、前記交流入力電圧が低電圧系であると判断すると前記誤差信号生成部のゲインを上昇させ、前記交流入力電圧が高電圧系であると判断すると前記誤差信号生成部のゲインを低下させることを特徴とする請求項1記載の電源装置の制御回路。
  3. 前記入力電圧検出部は、前記入力側検出電圧が前記交流入力電圧の半周期の間しきい値よりも低い場合は前記交流入力電圧が低電圧系であると判断し、前記交流入力電圧の半周期の間に前記入力側検出電圧が前記しきい値よりも高いときがある場合は前記交流入力電圧が高電圧系であると判断することを特徴とする請求項1記載の電源装置の制御回路。
  4. 前記誤差信号生成部は電圧電流変換型の増幅回路であることを特徴とする請求項1ないし3のいずれか1項に記載の電源装置の制御回路。
  5. 前記誤差信号と、前記入力側検出電圧とを乗算し、乗算結果にもとづき、前記交流入力電圧と前記出力電圧とを結合するスイッチング素子をオンオフ制御することを特徴とする請求項1記載の電源装置の制御回路。
  6. 前記誤差信号と発振回路から出力されるキャリア信号との比較結果にもとづき前記交流入力電圧と前記出力電圧とを結合するスイッチング素子をオンオフ制御することを特徴とする請求項1記載の電源装置の制御回路。
  7. 前記誤差信号生成部は、
    定電流源からの定電流を前記出力側検出電圧と前記基準電圧との大小に応じて分け合う第1、第2の電流分岐部と、
    前記第1の電流分岐部に流れる電流に比例した第1および第2の電流がそれぞれドレイン−ソース間に流れるPチャネル型の第1、第2のトランジスタと、
    前記第2の電流分岐部に流れる電流に比例した第3および第4の電流がそれぞれドレイン−ソース間に流れるNチャネル型の第3、第4のトランジスタと、
    前記入力電圧検出部から出力されたゲイン切替のための制御信号のレベルにもとづいて、前記第1のトランジスタのドレインと前記第3のトランジスタのドレインとの接続点である第1の接続点を流れる第1の電流信号と、前記第2のトランジスタのドレインと前記第4のトランジスタのドレインとの接続点である第2の接続点を流れる第2の電流信号と、から前記誤差信号を生成して出力する出力制御部と、
    を備え、
    前記出力側検出電圧が前記基準電圧よりも大きい場合は、前記第1の電流分岐部よりも前記第2の電流分岐部側に大きな電流が流れ、前記出力側検出電圧が前記基準電圧よりも小さい場合は、前記第2の電流分岐部よりも前記第1の電流分岐部側に大きな電流が流れ、
    前記出力制御部は、
    前記制御信号のレベルから前記入力側検出電圧が前記しきい値よりも高いと認識した場合は、前記第1のトランジスタを流れる前記第1の電流から、前記第3のトランジスタを流れる前記第3の電流を引いた前記第1の電流信号を前記誤差信号として出力し、
    前記制御信号のレベルから前記入力側検出電圧が前記しきい値よりも低いと認識した場合は、前記第2のトランジスタを流れる前記第2の電流から、前記第4のトランジスタを流れる前記第4の電流を引いた前記第2の電流信号を、前記第1の電流信号に追加して前記誤差信号として出力することを特徴とする請求項1記載の電源装置の制御回路。
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