JP2013224858A5 - - Google Patents

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なお、測定条件テーブル作成手段は、プリカーサイオンの質量電荷比からプロダクトイオン質量電荷比範囲を算出する際に、予め定められた質量電荷比を下限値とし、該プリカーサイオンの質量電荷比に規定の値を加算又は規定の値を減算することで求めた質量電荷比を上限値とするとよい。この場合、下限値となる質量電荷比の規定値は予め複数用意され、プリカーサイオンの質量電荷比に応じてその複数の中から該質量電荷比を超えないように選択されるようにするとよい。
ＭＲＭ測定パラメータ決定用データ処理部４１は、化合物情報テーブルに基づき選択された化合物に対する測定時間範囲、プリカーサイオン質量電荷比範囲、プロダクトイオンスキャン質量電荷比範囲を求めたならば、図４（ｂ）（及び図５（ｂ））に示すような測定条件テーブル１０３を作成し、測定条件テーブル設定用画面１００内に表示する。また、このとき、参照クロマトグラム１０２上には、測定条件テーブル１０３において定められている測定時間範囲がそれぞれ重ねて表示される。
図４（ｂ）及び図５（ｂ）に示した測定条件テーブルによれば、ＧＣ部１での試料注入時点を起点として経過時間が１０．０分から１１．０分までの測定時間範囲中には、化合物Ａの定量を目的として、前段四重極マスフィルタ３３における選択質量電荷比が１００であり、後段四重極マスフィルタ３６における質量走査範囲が５０〜１１５であるプロダクトイオンスキャン測定と、前段四重極マスフィルタ３３における選択質量電荷比が２００であり、後段四重極マスフィルタ３６における質量走査範囲が５０〜２１５であるプロダクトイオンスキャン測定とが、時分割で実施される。また、経過時間が１１．０分から１２．０分までの測定時間範囲中には、化合物Ｃの定量を目的として、前段四重極マスフィルタ３３における選択質量電荷比が３０であり、後段四重極マスフィルタ３６における質量走査範囲が１５〜４５であるプロダクトイオンスキャン測定と、前段四重極マスフィルタ３３における選択質量電荷比が３５であり、後段四重極マスフィルタ３６における質量走査範囲が１５〜５０であるプロダクトイオンスキャン測定とが、時分割で実施される。
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