JP2013201291A - 固体撮像素子及びその製造方法 - Google Patents

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Abstract

【課題】水平・垂直両方向の解像度を低下させることなく、かつ可視光を検出しているポイントと赤外光を検出しているポイントのデータ精度が高い固体撮像素子及びその製造方法を提供することにある。
【解決手段】基板1に対して周期的に2次元配列された可視光検出器(可視光検出層2)及び赤外光検出器(ダイアフラム20、ボロメータ膜15)と、基板1内に設けられ、かつ可視光検出器(可視光検出層2)及び赤外光検出器(ダイアフラム20、ボロメータ膜15)の信号を時系列信号として外部に出力する信号読出回路を有し、可視光検出器(可視光検出層2)と赤外光検出器(ダイアフラム20、ボロメータ膜15)とは、基板1に対して上下方向に重なって同一光軸上に配置されている固体撮像素子。
【選択図】図1

Description

本発明は、固体撮像素子及びその製造方法に関し、特に、量子型可視光検出器と熱型赤外光検出器とを有し、可視光撮像と赤外光撮像とを同時に行なう固体撮像素子及びその製造方法に関する。
セキュリティ分野等に利用される人体検知用の光学撮像システム等では、可視光撮像と赤外光撮像とを組み合わせることによって検知性能を向上させることができる。このような撮像システムとしては、従来、可視光撮像系および赤外光撮像系の2つの撮像系を単純に組み合わせたものが使用されていたが、システムが大型になり、かつデータ解析に2つの光学画像間の複雑な処理が必要になるため、1台のカメラで両方の撮像ができるシステムが望まれていた。
これに関連して、可視光撮像と赤外光撮像とを1つのチップで行うことを可能にするイメージセンサが提案されている。これにより、1つのチップで可視光および赤外光の2つの波長領域の撮像を可能にしている。
これに関連する技術として、例えば、特開2006−343229号公報(特許文献1)、特開2008−204978号公報(特許文献2)がある。
特開2006−343229号公報 特開2008−204978号公報
上記特許文献1、2では、可視光検出用画素と赤外光検出用画素とが各々独立した画素であるため、交互に並べられた方向の各々の波長域における画像の解像度が低下するという問題がある。例えば、可視光検出用画素の列と赤外光検出用画素の列とが1列置きに交互に配置されている場合は、水平方向の解像度が1/2となり、可視光検出用画素の行と赤外光検出用画素の行とが1行置きに交互に配置されている場合は、垂直方向の解像度が1/2となる。また、可視光検出用画素と赤外光検出用画素とが行方向及び列方向に交互に並ぶように配置されている場合には、どちらの方向も解像度が1/√2となる。
さらに、上記特許文献1、2では、可視光を検出しているポイントと赤外光を検出しているポイントとが厳密には同一ではないため、精密な計測分野においてはデータ精度が低いという問題もある。
本発明の目的は、上述した従来技術の課題を解決するための技術を提供することにあり、水平・垂直両方向の解像度を低下させることなく、かつ可視光を検出しているポイントと赤外光を検出しているポイントのデータ精度が高い固体撮像素子及びその製造方法を提供することにある。
本発明に係る固体撮像素子は、
基板に対して周期的に2次元配列された可視光検出器及び赤外光検出器と、
前記基板内に設けられ、かつ前記可視光検出器及び前記赤外光検出器の信号を時系列信号として外部に出力する信号読出回路を有し、
前記可視光検出器と前記赤外光検出器とは、前記基板に対して上下方向に重なって同一光軸上に配置されていることを特徴とする。
本発明に係る固体撮像素子の製造方法は、
可視光検出器と赤外光検出器とが基板に対して周期的に2次元配列され、前記基板内に設けられた信号読出回路によって前記可視光検出器と前記赤外光検出器の信号を時系列信号として外部に出力する固体撮像素子の製造方法であって、
トランジスタのソース・ドレイン領域形成工程と、
前記基板内に前記信号読出回路を形成する際、前記トランジスタのソース・ドレイン領域形成工程の前後何れかの直近の工程において、可視光検出層を形成する工程と、
前記基板上にポリイミド層を形成する工程と、
前記ポリイミド層上であって前記可視光検出層の直上の位置にフォトレジストパターンを形成する工程と、
前記フォトレジストパターンを熱処理によってリフローしてレンズ形状に成形する工程と、
エッチバックによって前記フォトレジストパターンのレンズ形状を前記ポリイミド層に転写して、ポリイミドから成るマイクロレンズを形成する工程と、
前記マイクロレンズを保護するマイクロレンズ保護膜を形成する工程と、
犠牲層を用いて前記赤外光検出器を形成する工程と有し、
前記可視光検出器と前記赤外光検出器とは、前記基板に対して上下方向に重なって同一光軸上に配置されていることを特徴とする。
本発明によれば、水平・垂直両方向の解像度を低下させることなく、かつ可視光を検出しているポイントと赤外光を検出しているポイントのデータ精度が高い固体撮像素子及びその製造方法を提供することができる。
本発明の一実施の形態に係る固体撮像素子の単位画素の構造を示す断面図である。 本発明の一実施の形態に係る固体撮像素子の全体構成を示す図である。 本発明の一実施の形態に係る固体撮像素子の製造方法における製造工程を示す断面図である。 本発明の一実施の形態に係る固体撮像素子の製造方法における製造工程を示す断面図である。 本発明の一実施の形態に係る固体撮像素子の製造方法における製造工程を示す断面図である。 本発明の一実施の形態に係る固体撮像素子の製造方法における製造工程を示す断面図である。 本発明の一実施の形態に係る固体撮像素子の製造方法における製造工程を示す断面図である。 関連技術としての特許文献1に記載された固体撮像素子の構造を示す断面図である。
(関連技術)
最初に、図8を参照して、本発明の特徴がより明確になるように、関連技術として特許文献1に記載された固体撮像素子の構造について簡単に説明する。ここで、図8は、撮像領域の一部の断面図である。
図8に示すように、可視光検出用画素41及び赤外光検出用画素42が隣り合って配置されている。可視光検出用画素41は、Si基板46に形成されたフォトダイオード48、同じくSi基板46に形成された行選択MOSトランジスタを含む読出回路49aから成る。赤外光検出用画素42は、誘電体膜50を堆積したSi基板46上に形成された断熱構造体44、その上に形成されたボロメータ45、Si基板46に形成された行選択MOSトランジスタを含む読出回路49bから成る。光検出器間の電気的な分離のため、基板46上にはフィールド酸化膜47が形成されている。また、フォトダイオード48上に堆積された誘電体膜50は可視光に対して透明な材料で形成される。
撮像領域には、可視光検出用画素41の列と赤外光検出用画素42の列とが1列置きに交互に配置されたり、可視光検出用画素41の行と赤外光検出用画素42の行とが1行置きに交互に配置されたり、あるいは、可視光検出用画素41と赤外光検出用画素42とが行方向及び列方向に交互に並ぶように配置されたりする。このような構成にすることにより、1つのチップで可視光撮像と赤外光撮像とを独立かつ同時に行なえるようにしている。
この固体撮像素子は赤外光検出器が断熱構造体44を有する熱型の検出器から成るため、極低温まで冷却するクーラー等を不要とすることができるので、撮像システムの小型化や製造コストの低減などを図れる利点がある。
しかし、関連技術では、可視光検出用画素41と赤外光検出用画素42とが各々独立した画素であるため、交互に並べられた方向の各々の波長域における画像の解像度が低下するという問題がある。例えば、可視光検出用画素41の列と赤外光検出用画素42の列とが1列置きに交互に配置されている場合は、水平方向の解像度が1/2となり、可視光検出用画素41の行と赤外光検出用画素42の行とが1行置きに交互に配置されている場合は、垂直方向の解像度が1/2となる。また、可視光検出用画素41と赤外光検出用画素42とが行方向及び列方向に交互に並ぶように配置されている場合には、どちらの方向も解像度が1/√2となる。
さらに、可視光を検出しているポイントと赤外光を検出しているポイントとが厳密には同一ではないため、精密な計測分野においてはデータ精度が低いという問題もある。
(本発明の実施の形態)
本発明の実施の形態は、上記関連技術の問題点を解決するためのもので、量子型可視光検出器と熱型赤外光検出器とを有し、可視光撮像と赤外光撮像とを同時に行なう固体撮像素子において、水平・垂直両方向の解像度が低下することなく、かつ各ポイントのデータ精度も高い固体撮像素子及びその製造方法を提供する。
本発明の実施の形態は、量子型可視光検出器と熱型赤外光検出器とが基板上に周期的に2次元配列され、基板内に設けられた信号読出回路によって両光検出器の信号を時系列信号として外部に出力する可視・赤外両用の固体撮像素子において、前記量子型可視光検出器と前記熱型赤外光検出器とが同一光軸上に配置されていることを特徴とする。
また、前記量子型可視光検出器と前記熱型赤外光検出器との間にマイクロレンズを具備することが好ましい。また、前記マイクロレンズはマイクロレンズ保護膜で覆われていることが好ましい。さらに、前記マイクロレンズはポリイミドから成ることが好ましい。
さらに、本発明の実施の形態では、量子型可視光検出器と熱型赤外光検出器とが基板上に周期的に2次元配列され、基板内に設けられた信号読出回路によって両光検出器の信号を時系列信号として外部に出力する可視・赤外両用の固体撮像素子の製造方法であって、通常のSi−LSI製造方法によって基板内に信号読出回路を形成する際、トランジスタのソース・ドレイン領域形成工程の前後何れかの直近の工程において、可視光検出層を形成する工程を含み、信号読出回路付基板上にポリイミド層を形成する工程と、前記ポリイミド層上の前記可視光検出層直上の位置にフォトレジストパターンを形成する工程と、熱処理によって前記フォトレジストパターンをリフローし、レンズ形状に成形する工程と、エッチバックによって前記フォトレジストパターンのレンズ形状を前記ポリイミド層に転写してポリイミドから成るマイクロレンズを形成する工程と、前記ポリイミドから成るマイクロレンズを保護するマイクロレンズ保護膜を形成する工程と、犠牲層を用いた通常のMEMS製造方法によって熱型赤外光検出器を形成する工程と、を少なくとも有することを特徴とする。
本発明の実施の形態に係る固体撮像素子では、量子型可視光検出器と熱型赤外光検出器とが同一光軸上に配置されているので、水平・垂直両方向の解像度を高い状態で保持することができる。
また、量子型可視光検出器と熱型赤外光検出器との間にマイクロレンズを具備するので、信号読出回路の構成要素によって可視光検出層の占有面積が制限されても、実効的開口率を高くすることができる。
また、マイクロレンズをマイクロレンズ保護膜で覆っているので、熱型赤外光検出器の製造工程において犠牲層として頻繁に用いられるポリイミドをマイクロレンズ材料とすることができる。
さらに、本発明の固体撮像素子の製造方法では、通常のSi−LSI製造方法によって基板内に信号読出回路を形成する際、トランジスタのソース・ドレイン領域形成工程の前後何れかの直近の工程において、可視光検出層を形成する工程を含み、該信号読出回路付基板上にポリイミド層を形成する工程と、前記ポリイミド層上の前記可視光検出層直上の位置にフォトレジストパターンを形成する工程と、熱処理によって前記フォトレジストパターンをリフローし、レンズ形状に成形する工程と、エッチバックによって前記フォトレジストパターンのレンズ形状を前記ポリイミド層に転写してポリイミドから成るマイクロレンズを形成する工程と、前記ポリイミドから成るマイクロレンズを保護するマイクロレンズ保護膜を形成する工程と、犠牲層を用いた通常のMEMS製造方法によって熱型赤外光検出器を形成する工程と、を少なくとも有することにより、上述した構成の本発明の固体撮像素子を実現することができる。
以下、本発明の実施の形態について、図面を用いて詳細に説明する。
図1は、本実施の形態に係る固体撮像素子の単位画素の構造を示す断面図である。また、図2は、本実施の形態に係る固体撮像素子の全体構成を示す図である。図2には1画素分の回路しか描いていないが、ここに図1に示す単位画素がアレイ状に複数形成されている。
図1に示すように、信号読出回路を有するSi基板1内には、1画素内に可視光検出層2、可視用垂直MOSスイッチトランジスタ3及び赤外用垂直MOSスイッチトランジスタ4が造り込まれている。可視用垂直MOSスイッチトランジスタ3については、VIA接続電極5を介して第1層Al配線6(図2の可視用垂直信号線29に対応)に接続されている。赤外用垂直MOSスイッチトランジスタ4については、一方はVIA接続電極5、第1層Al配線6、VIA接続電極7、第2層Al配線8、VIA接続電極9を介して接続電極10に接続され、他方はVIA接続電極5、VIA接続電極7を介して第1層Al配線6乃至第2層Al配線8から成るGND線に接続されている。
GND線の第1層Al配線6及び第2層Al配線8の破線部分は、この断面に存在しない部分であって、可視光検出層2以外の領域を隠す遮光膜としての機能を兼ねている。換言すると、第1層Al配線6及び第2層Al配線8の破線部分は、可視光検出層2の開口部(窓)である。あるいは、別途遮光膜を設けても構わない。赤外用垂直MOSスイッチトランジスタ4が繋がっていない方の接続電極10は、VIA接続電極9を介して第2層Al配線8(図2の赤外用垂直信号線28に対応)に接続されている。
特に図示はしていないが、ブルーミング抑制機能や電子シャッター機能を持たせるため、可視光検出層2に縦型乃至横型のオーバーフロードレインを繋げることが一般的である。
熱型赤外光検出器は、2本の支持脚19(19a:水平部,19b:立ち上り部)と、その支持脚19によってSi基板1から中空に持上げられ維持されたダイアフラム20から構成されている。この構造により、ダイアフラム20がSi基板1から熱的に分離された状態となっている。
ダイアフラム20内には、下層支持膜14とボロメータ保護膜16に覆われて、温度変化検出機構としてのボロメータ膜15が形成されている。例えば、ボロメータ膜15は膜厚が30〜200nmの酸化バナジウム(V、VOなど)や酸化チタン(TiO)などから成る。ボロメータ膜15の両端は、ボロメータ保護膜16に開口されたコンタクトホールを介して電極配線17に接続されている。電極配線17上を、さらに上層支持膜18が覆っている。例えば、下層支持膜14、ボロメータ保護膜16及び上層支持膜18は何れも膜厚20〜800nmのSi酸化膜(SiO、SiO)、Si窒化膜(SiN、Si),あるいはSi酸化窒化膜(SiON)などから成る。
電極配線17は、膜厚が10〜200nmのアルミ(Al)、銅(Cu)、金(Au)、チタン(Ti)、タングステン(W)、モリブデン(Mo)あるいはチタン・アルミ・バナジウム(TiAlV) などの合金、もしくは高濃度に不純物添加したSiなどの半導体から成る。2本の電極配線17は、各々別の支持脚19内を通り、前記接続電極10上に開口されたコンタクトホールを介して接続電極10に接続されている。さらに、ダイアフラム20は、受光面積を拡大して赤外感度を向上できる庇21を備えている。例えば、庇21は膜厚100〜1000nmのSi酸化膜(SiO、SiO)、Si窒化膜(SiN、Si),あるいはSi酸化窒化膜(SiON)などから成る。
ダイアフラム20の下の空洞内の可視光検出層2の直上の位置に、マイクロレンズ12が設けられている。マイクロレンズ12は、有機高分子材料から成るが、従来から熱型赤外光検出器の製造工程において犠牲層として頻繁に用いられているポリイミドで構成すると、整合性が最も良い。マイクロレンズ12上をマイクロレンズ保護膜13が覆っており、熱型赤外光検出器の製造過程においてマイクロレンズ12が損傷を受けないよう保護している。例えば、マイクロレンズ保護膜13は膜厚20〜1000nmのSi酸化膜(SiO、SiO)、Si窒化膜(SiN、Si)あるいはSi酸化窒化膜(SiON)などから成る。
単位画素に入射した赤外線は、庇21を含むダイアフラム20に吸収されて熱となり、ダイアフラム20の温度を上昇させる。その温度上昇により、ダイアフラム20内のボロメータ膜15の抵抗変化が起こるので、それを電気的に読み出すことにより赤外光を検出することができる。
一方、単位画素に入射した可視光線は、庇21を含むダイアフラム20を透過し、マイクロレンズ12によって集光されて可視光検出層2に入射する。そこで可視光線は吸収されて光励起キャリアを生成するので、その光励起キャリアを電気的に読み出すことにより可視光を検出することができる。すなわち、同一の単位画素において、可視光と赤外光の両方を効率良く検出することができる。
図2に示すように、単位画素はボロメータ型赤外線検出器22,可視光検出器(フォトダイオード) 23、赤外用垂直MOSスイッチ24、可視用垂直MOSスイッチ25から構成されている。ボロメータ型赤外線検出器22の一端は赤外用垂直MOSスイッチ24に接続されており、他端は赤外用垂直信号線28に接続されている。赤外用垂直MOSスイッチ24のゲートは赤外用駆動線26に接続され、その赤外用駆動線26は赤外用垂直走査回路30に繋がっている。赤外用垂直信号線28は積分回路32に繋がっており、そこから赤外用水平MOSスイッチ33の一端に接続されている。赤外用水平MOSスイッチ33の他端は出力へ繋がっている。赤外用水平MOSスイッチ33のゲートは赤外用水平走査回路35に繋がっている。
一方、可視光検出器23の一端は可視用垂直MOSスイッチ25に接続されており、他端は可視用垂直信号線29に接続されている。可視用垂直MOSスイッチ25のゲートは可視用駆動線27に接続され、その可視用駆動線27は可視用垂直走査回路31に繋がっている。可視用垂直信号線29は可視用水平MOSスイッチ34の一端に接続されている。可視用水平MOSスイッチ34の他端は出力へ繋がっている。可視用水平MOSスイッチ34のゲートは可視用水平走査回路36に繋がっている。
前述の通り、赤外線入射によってボロメータ型赤外線検出器22は入射光量に応じた抵抗変化を起こす。赤外用垂直走査回路30の走査によりN行目の赤外用駆動線26が選択されると、それに接続されたN行目画素の赤外用垂直MOSスイッチ24がONとなる。N行目のボロメータ型赤外線検出器22が積分回路32に電気的に接続され、積分回路32にてボロメータ型赤外線検出器22の抵抗変化に応じた電流蓄積・電位変換が行われる。これを赤外用水平走査回路35によって順次赤外用水平MOSスイッチ33をONすることにより、N行目のボロメータ型赤外線検出器22の抵抗変化に対応した時系列の電気信号が出力される。各行について同様の動作をすることにより、2次元の赤外撮像信号を得ることができる。
一方、前述の通り、可視光線入射によって可視光検出器(フォトダイオード)23は光励起キャリアを生成し、PN接合容量に蓄積され電位変化を起こす。可視用垂直走査回路31の走査によりN行目の可視用駆動線27が選択されると、それに接続されたN行目画素の可視用垂直MOSスイッチ25がONとなり、N行目の可視光検出器23が可視用垂直信号線29に電気的に接続される。これを可視用水平走査回路36によって順次可視用水平MOSスイッチ34をONすることにより、N行目の可視光検出器23の電位変化に対応した時系列の電気信号が出力される。各行について同様の動作をすることにより、2次元の可視撮像信号を得ることができる。
なお、可視用垂直MOSスイッチ25のON電位が可視光検出器23のリセット電位を決めるのであるが、同じゲート電位で赤外用垂直MOSスイッチ24を駆動しても構わないという条件であれば、各行の駆動線を1本とし、垂直走査回路を1つとすることができる。
以上述べた構成により、量子型可視光検出器23と熱型赤外光検出器22とを具備し、可視光撮像と赤外光撮像とを同時に行なう固体撮像素子において、水平・垂直両方向の解像度が低下することなく、各ポイントのデータ精度も高い固体撮像素子を得ることができる。
次に、図3〜図7を参照して、本発明の一実施形態に係る固体撮像素子の製造方法について詳細に説明する。なお、図3〜図7は、本発明の固体撮像素子の製造方法における主要工程を示す断面図である。
まず、図3(a)に示すように、通常のSi−LSI製造方法によってSi基板1内に信号読出回路を形成する際、トランジスタのソース・ドレイン領域形成工程の前後何れかの直近の工程において、可視光検出層2を形成する。ソース・ドレイン領域は浅い接合が必要なため、例えば10〜100keV程度のエネルギーのイオン注入法を用いるが、可視光検出層2は赤感度を得るのに深めの接合が必要なため、例えば150〜300keV程度のエネルギーのイオン注入法を用いる。その後の多層Al配線工程も施し、内部に可視光検出層2を有する信号読出回路付のSi基板1を得る。
次に、図3(b)に示すように、Si基板1上に第1層ポリイミド37を形成する。第1層ポリイミド37は、例えば300〜500℃程度の熱処理により硬化させている。第1層ポリイミド37の膜厚は、作成するマイクロレンズの最厚部より若干厚めにするが、例えば1〜10μm程度である。
次に、図4(a)に示すように、第1層ポリイミド37上の可視光検出層2の直上の位置に、フォトレジストパターン38を形成する。フォトレジストパターン38の膜厚は、レンズ形状に成形する際に最厚部が2〜4割増加するため、第1層ポリイミド37の膜厚より2〜4割薄めとする。
次に、図4(b)に示すように、熱処理を施して前記フォトレジストパターン38をリフローし、レンズ形状に成形する。熱処理温度はフォトレジストの特性にもよるが、例えば150〜200℃程度である。
次に、図5(a)に示すように、OやCFを用いた異方性エッチングによるエッチバックを施し、フォトレジストパターン38のレンズ形状を第1層ポリイミド37に転写してマイクロレンズ12を形成する。
次に、図5(b)に示すように、マイクロレンズ12上にマイクロレンズ保護膜13を形成する。
これ以降は、犠牲層を用いた通常のMEMS製造方法によって熱型赤外光検出器22を形成する工程となる。
図6(a)に示すように、第1層の犠牲層となる第2層ポリイミド39を形成する。
次に、図6(b)に示すように、ダイアフラム20下の空洞部となる領域を残す第2層ポリイミド39のパターニングを、露光・現像乃至ドライエッチングにより行なう。
次に、図7(a)に示すように、第1層犠牲層上に支持脚19やボロメータ膜15などを形成した後、第3層ポリイミド(第2層犠牲層)40を形成し、最上層に庇21を形成する。
次に、図7(b)に示すように、Oプラズマを用いたアッシングにより第1層及び第2層の犠牲層を除去し、固体撮像素子が完成する。
以上述べた製造方法により、量子型可視光検出器23と熱型赤外光検出器22とを具備し、可視光撮像と赤外光撮像とを同時に行なう固体撮像素子において、水平・垂直両方向の解像度が低下することなく、各ポイントのデータ精度も高い固体撮像素子を得ることができる。
(実施例)
次に、本発明の実施例について説明する。
量子型可視光検出器23と熱型赤外光検出器22とを具備する単位画素が撮像部に有効320×240配された固体撮像素子を試作した。可視光検出層2は200keVのPイオン注入で形成した。マイクロレンズ形成時のレジストパターン膜厚を2μmとしたので、ポリイミドのマイクロレンズ最厚部は約2.6μmである。マイクロレンズ保護膜13は膜厚100nmのSi窒化膜から成る。熱型赤外光検出器22については、ボロメータ膜15は膜厚が100nmの酸化バナジウムとし、下層支持膜14、ボロメータ保護膜16及び上層支持膜18は何れもSi窒化膜から形成し、膜厚は各々200nm、50nm、150nmとした。性能評価したところ、当然のことながら、可視・赤外両画像において有効320×240相当の解像度を有することが確認できた。点像検出も可視・赤外両画像の同一アドレスに認知でき、データ精度が高いことも確認できた。
以上説明したように、本発明の固体撮像素子及びその製造方法によれば、量子型可視光検出器と熱型赤外光検出器とを具備し、可視光撮像と赤外光撮像とを同時に行なう固体撮像素子において、水平・垂直両方向の解像度が低下することなく、各ポイントのデータ精度も高い固体撮像素子及びその製造方法を提供できる効果がある。
以上、本発明の実施の形態について具体的に説明したが、本発明は上述の実施形態に限定されるものではなく、本発明の技術的思想に基づく各種の変形が可能である。
例えば、本発明の実施の形態に係る固体撮像素子は暗視装置(赤外線カメラ)やサーモグラフィに適用可能である。
1 Si基板
2 可視光検出層
3 可視用垂直MOSスイッチトランジスタ
4 赤外用垂直MOSスイッチトランジスタ
5 VIA接続電極(拡散層−第1層Al配線間)
6 第1層Al配線
7 VIA接続電極(第1層Al配線−第2層Al配線間)
8 第2層Al配線
9 VIA接続電極(第2層Al配線−接続電極間)
10 接続電極
11 接続電極保護膜
12 マイクロレンズ
13 マイクロレンズ保護膜
14 下層支持膜
15 ボロメータ膜
16 ボロメータ保護膜
17 電極配線
18 上層支持膜
19 支持脚
19a 水平部
19b 立ち上り部
20 ダイアフラム
21 庇
22 ボロメータ型赤外線検出器
23 可視光検出器(フォトダイオード)
24 赤外用垂直MOSスイッチ
25 可視用垂直MOSスイッチ
26 赤外用駆動線
27 可視用駆動線
28 赤外用垂直信号線
29 可視用垂直信号線
30 赤外用垂直走査回路
31 可視用垂直走査回路
32 積分回路
33 赤外用水平MOSスイッチ
34 可視用水平MOSスイッチ
35 赤外用水平走査回路
36 可視用水平走査回路
37 第1層ポリイミド
38 フォトレジストパターン
39 第2層ポリイミド(第1層犠牲層)
40 第3層ポリイミド(第2層犠牲層)
41 可視光検出用画素
42 赤外光検出用画素
43a 信号線(可視用)
43b 信号線(赤外用)
44 断熱構造体
45 ボロメータ
46 Si基板
47 フィールド酸化膜
48 フォトダイオード
49a 読出回路(可視用)
49b 読出回路(赤外用)
50 誘電体膜

Claims (10)

  1. 基板に対して周期的に2次元配列された可視光検出器及び赤外光検出器と、
    前記基板内に設けられ、かつ前記可視光検出器及び前記赤外光検出器の信号を時系列信号として外部に出力する信号読出回路を有し、
    前記可視光検出器と前記赤外光検出器とは、前記基板に対して上下方向に重なって同一光軸上に配置されていることを特徴とする固体撮像素子。
  2. 前記可視光検出器と前赤外光検出器との間にはマイクロレンズが設けられていることを特徴とする請求項1に記載の固体撮像素子。
  3. 前記マイクロレンズはマイクロレンズ保護膜で覆われていることを特徴とする請求項2に記載の固体撮像素子。
  4. 前記マイクロレンズはポリイミドから成ることを特徴とする請求項2又は3に記載の固体撮像素子。
  5. 前記赤外光検出器は、
    支持脚と、
    前記支持脚によって前記基板から中空に持上げられたダイアフラムを有し、
    前記ダイアフラムは前記基板から熱的に分離された状態になっていることを特徴とする請求項1から4のいずれか1項に記載の固体撮像素子。
  6. 前記ダイアフラムは、温度変化検出用のボロメータ膜を有し、
    入射した赤外線は、前記ダイアフラムに吸収されて熱となり前記ボロメータ膜の抵抗変化を起こすことにより前記赤外光を検出することを特徴とする請求項5に記載の固体撮像素子。
  7. 前記可視光検出器は、前記基板内に設けられた可視光検出層を有し、
    入射した可視光線は、前記ダイアフラムを透過し、前記マイクロレンズによって集光されて前記可視光検出層に入射することを特徴とする請求項5又は6に記載の固体撮像素子。
  8. 前記マイクロレンズは、前記ダイアフラムの空洞内であって前記可視光検出層の直上の位置に設けられていることを特徴とする請求項5から7のいずれか1項に記載の固体撮像素子。
  9. 可視光検出器と赤外光検出器とが基板に対して周期的に2次元配列され、前記基板内に設けられた信号読出回路によって前記可視光検出器と前記赤外光検出器の信号を時系列信号として外部に出力する固体撮像素子の製造方法であって、
    トランジスタのソース・ドレイン領域形成工程と、
    前記基板内に前記信号読出回路を形成する際、前記トランジスタのソース・ドレイン領域形成工程の前後何れかの直近の工程において、可視光検出層を形成する工程と、
    前記基板上にポリイミド層を形成する工程と、
    前記ポリイミド層上であって前記可視光検出層の直上の位置にフォトレジストパターンを形成する工程と、
    前記フォトレジストパターンを熱処理によってリフローしてレンズ形状に成形する工程と、
    エッチバックによって前記フォトレジストパターンのレンズ形状を前記ポリイミド層に転写して、ポリイミドから成るマイクロレンズを形成する工程と、
    前記マイクロレンズを保護するマイクロレンズ保護膜を形成する工程と、
    犠牲層を用いて前記赤外光検出器を形成する工程と有し、
    前記可視光検出器と前記赤外光検出器とは、前記基板に対して上下方向に重なって同一光軸上に配置されていることを特徴とする固体撮像素子の製造方法。
  10. 前記赤外光検出器は、支持脚によって前記基板から中空に持上げられ維持されたダイアフラムを有し、
    前記ダイアフラムは、温度変化検出用のボロメータ膜を有し、
    前記マイクロレンズを、前記ダイアフラムの空洞内であって前記可視光検出層の直上の位置に配置することを特徴とする請求項9に記載の固体撮像素子の製造方法。
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