JP2006343229A - イメージセンサ - Google Patents

イメージセンサ Download PDF

Info

Publication number
JP2006343229A
JP2006343229A JP2005169646A JP2005169646A JP2006343229A JP 2006343229 A JP2006343229 A JP 2006343229A JP 2005169646 A JP2005169646 A JP 2005169646A JP 2005169646 A JP2005169646 A JP 2005169646A JP 2006343229 A JP2006343229 A JP 2006343229A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
visible light
infrared light
light detector
image sensor
rows
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2005169646A
Other languages
English (en)
Inventor
Junji Nakanishi
淳治 中西
Masafumi Ueno
雅史 上野
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Electric Corp filed Critical Mitsubishi Electric Corp
Priority to JP2005169646A priority Critical patent/JP2006343229A/ja
Publication of JP2006343229A publication Critical patent/JP2006343229A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Solid State Image Pick-Up Elements (AREA)
  • Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)
  • Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)

Abstract

【課題】 可視光から近赤外光の波長領域と、中赤外光から遠赤外光の波長領域との2つの領域を同時に撮像する光学センサシステムにおいて、システムの小型化、低コスト化、2つの光学画像間の画像処理の簡素化に役立つイメージセンサを提供すること。
【解決手段】 量子型の可視光検出器と熱型の赤外光検出器とが基板上に周期的に並んだ2次元アレイと、列方向に並ぶ前記可視光検出器または前記赤外光検出器に沿って列ごとに配置された信号線と、行方向に並ぶ前記可視光検出器または前記赤外光検出器に沿って行ごとに配置された駆動線とを前記基板上に備えたイメージセンサとしたこと。
【選択図】 図7

Description

この発明は、可視光撮像と赤外光撮像とを行うイメージセンサに関するものである。
セキュリティ分野等に利用される人体検知用の光学撮像システムでは、可視光撮像と赤外光撮像とを組み合わせることによって検知性能を向上させることができる。このような撮像システムとしては、従来、可視光撮像系および赤外光撮像系の2つの撮像系を単純に組み合わせたものが使用されていたが、システムが大型になり、かつデータ解析に2つの光学画像間の複雑な処理が必要になるため、1台のカメラで両方の撮像ができるシステムが望まれていた。
これに関連して、可視光撮像と赤外光撮像とを1つのチップで行うことを可能にするイメージセンサが提案されている。従来のイメージセンサでは、PtSiショットキダイオードを検出器とする赤外イメージセンサのPtSi層を薄膜化することによって可視光の検出機能を合わせ持たせている(特許文献1参照)。このイメージセンサを用いた光学センサシステムでは、分光フィルタを入れ替えることによって可視光撮像と赤外光撮像とを使い分けている。
また他の従来のイメージセンサではSiフォトダイオードを検出器とした可視イメージセンサに、そのチップ裏面に赤外吸収層を設けて量子型赤外光検出器を形成し、赤外光の検出機能を合わせ持たせている(特許文献2参照)。このイメージセンサでは、基板に印加するバイアス電圧を変化させて空乏層の広がりを制御することによって可視光撮像と赤外光撮像とを使い分けている。いずれの例も、1つのチップで可視光および赤外光の2つの波長領域の撮像を可能にしている。
特開平11−289492号公報 特開2004−103964号公報
これらのイメージセンサはいずれも光検出に量子型の検出器を用いている。一般に量子型の検出器は、波長1μm程度までの可視光〜近赤外光を検出するものであれば非冷却で使用できる。しかしセキュリティ分野等に利用される中赤外領域(波長3〜5μm)や遠赤外領域(波長8〜12μm)の赤外光を検出するには検出器を−200℃程度以下にまで冷却する必要がある。そのためチップを極低温まで冷却するクーラー等が必要になり、撮像システムが大型で製造コストが高くなるという問題があった。また、これらのイメージセンサはいずれも可視光撮像と赤外光撮像とを状況に応じて使い分けるもので、それぞれの撮像を同時に行うことができないという問題があった。
この発明は、上記のような問題点を解決するためになされたものであり、可視光および赤外光の撮像を同時に同一光軸の光学系を用いて行う撮像システムで使用される非冷却で動作する1チップのイメージセンサを提供することを目的としている。
この発明に係るイメージセンサは、量子型の可視光検出器と熱型の赤外光検出器とが基板上に周期的に並んだ2次元アレイと、列方向に並ぶ前記可視光検出器または前記赤外光検出器に沿って列ごとに配置された信号線と、行方向に並ぶ前記可視光検出器または前記赤外光検出器に沿って行ごとに配置された駆動線とを前記基板上に備えたものである。
この発明によれば、赤外光検出器として熱型検出器を用いたため、非冷却でも可視光撮像と赤外光撮像とが同時に行えるイメージセンサを実現できる。また可視光検出器と赤外光検出器とが基板上に周期的に並んだ構造としたとしたため、同一光軸の光学系を用いて行う撮像システムでの使用が可能となる。
実施の形態1.
図1は本発明の実施の形態1によるイメージセンサの概略構成を示す平面図である。可視光検出用画素6は、SiのPN接合フォトダイオードを光電気変換素子とする可視光検出器1、金属配線からなる駆動線3、金属配線からなる信号線4a、可視光検出器1と駆動線3や信号線4aとを電気的に結ぶコンタクト5を含んで構成される。また赤外光検出用画素7は、熱型赤外光検出器2、駆動線3、信号線4b、コンタクト5を含んで構成される。
可視光検出器1と赤外光検出器2とは同一基板上の撮像領域に2次元アレイ状に並べられ、図1の例では1列おきに交互に配置されている。また、図1で可視光検出器1の列と赤外光検出器2の列とにおいて各光検出器は同じ周期間隔で並んでおり、各列は同じ信号線4aまたは信号線4bに接続されている。また図1で信号線に交差する行方向に沿って駆動線3があり、駆動線3に沿って並ぶ可視光検出器1と赤外光検出器2とは同じ駆動線3に接続されている。駆動線3は駆動走査回路8に接続され、信号線4aおよび信号線4bはコラムアンプ群等で構成される信号処理回路9と信号走査回路10とに接続されている。さらに信号処理回路9は、光信号を出力するための可視光用出力アンプ11aおよび赤外光用出力アンプ11bに接続されている。
量子型の可視光検出器と熱型赤外光検出器とは構造が全く異なり、作製プロセスも大幅に違うため、組み合わせることは従来行われなかった。本実施の形態の場合は、基板としてSi基板またはSOI基板を用いて、PN接合構造の作製技術とSiマイクロマシニング技術とを併用することにより、同一基板上に可視光検出器と熱型赤外光検出器とを作製することを可能とした。
このような構成によるイメージセンサの動作を次に説明する。イメージセンサに入射する光のうち、可視光が可視光検出器1のフォトダイオードに入射すると、可視光検出器1の出力電位が入射光量に応じて変化する。イメージセンサに入射する光のうち、中赤外光や遠赤外光が熱型赤外光検出器2に入射すると、熱型赤外光検出器2の出力信号が入射光量に応じて変化する。駆動走査回路8によって1本の駆動線3が選択されるとき、これに接続された1行の可視光検出器1および赤外光検出器2の各出力に対応して、信号線4aおよび4bの電位が変化する。信号線4aおよび信号線4bの端に設けられた信号処理回路9内のコラムアンプによって、各信号線の電位変化が増幅され、信号走査回路10によって選択されたコラムアンプの出力が、可視光用出力アンプ11aおよび赤外光用出力アンプ11bから出力される。駆動走査回路8と信号走査回路10とのスキャン動作によって、アレイ状に配置された可視光検出器1と赤外光検出器2との検出器出力が時系列に読み出され、2次元の可視光画像と赤外光画像とが得られる。
熱型赤外光検出器2は、Siマイクロマシン技術を用いて製造される断熱構造体と、断熱構造体上に形成される熱電変換素子を光電変換素子とする。入射した赤外光が入射するとは断熱構造体で吸収され、入射赤外光量に応じて断熱構造体の温度が上昇する。その温度変化を熱電変換素子で検出し、電位変化として出力する。ため、量子型の赤外光検出器とは異なり、熱型検出器は低温に冷却する必要がなく常温での動作が可能である。一方、可視光は光のエネルギーが大きいため、量子型の光検出器であっても常温で動作する。従って実施の形態1のように、同一基板上の撮像領域に量子型の可視光検出器1と上記のような断熱構造体を形成した熱型の赤外光検出器2とが周期的に2次元アレイ状に配置されたイメージセンサを用いることにより、撮像の際の冷却は不要となり、撮像システムの小型化や低価格化に効果がある。
また、このように可視光検出器1と赤外光検出器2とは同一基板上の撮像領域に2次元アレイ状に並べられ、列方向の可視光検出器1と赤外光検出器2とはそれぞれが同じ周期間隔で並び、各列は同じ信号線4aまたは信号線4bに接続されているため、可視光検出器1と赤外光検出器2とは独立して光検出動作を行うことが可能であり、可視光撮像と赤外光撮像とを同時に行えるといった効果がある。また、行方向には駆動線3があり、駆動線3に沿って並ぶ可視光検出器1と赤外光検出器2とは同じ駆動線3に接続され、可視光検出器と赤外光検出器とに接続される駆動線を共用としたため撮像領域に占める配線の面積が減少し、画素開口率が高く感度に優れたイメージセンサが得られるといった効果がある。さらに、可視光検出器1と赤外光検出器2とで、駆動走査回路8、信号処理回路9、信号走査回路10等の回路を共有しているため、チップサイズの小型化、検出器サイズ増大による感度向上、入出力ピン数の削減等にも効果がある。
なお、実施の形態1では可視光検出器1と赤外光検出器2とを1列おきに交互に配置しているが、一方の検出器の複数列ごとに他方の検出器を1列配置する等、検出器数の比すなわち解像度の比を異なるものにしても良い。特に可視光検出器の列複数本ごとに赤外検出器の列を配置した構成とすれば、解像度の低い赤外画像によって侵入者の有無を検知し、これを検知した場合に解像度の高い可視画像に切り替えて人物を特定するといった防犯カメラ用途等に有効なイメージセンサが得られる。また、逆に赤外光の撮像の解像度が高くなるように、赤外光検出器の列複数本ごとに可視検出器の列を配置した構成としてもよい。
また図1のように可視光検出器1と赤外光検出器2との列の中心が必ずしも同一線上にある必要は無く、それぞれの列の中心がずれていても配線をずらせば同じ構成となり、同じ効果が得られる。
実施の形態2.
図2は本発明の実施の形態2によるイメージセンサの概略構成を示す平面図である。図2の例では、可視光検出用画素6と赤外光検出用画素7とは同一基板上の撮像領域に2次元アレイ状に並べられ、1行おきに交互に配置されている。また、図2で行方向に並ぶ可視光検出器1は駆動線3aに、行方向に並ぶ赤外光検出器2は駆動線3bに接続され、行方向に並ぶ各光検出器は同じ周期間隔で並んでいる。また図2で駆動線3aまたは駆動線3bに交差する列方向には信号線4があり、信号線4に沿って並ぶ可視光検出器1と赤外光検出器2とは同じ信号線4に接続されている。また、駆動走査回路8と画素アレイとの間にインターレース回路12が設けられている。また、信号処理回路9には、可視光および赤外光の光信号を出力するための共通の出力アンプ11が接続されている。その他は図1と同等のものである。
このような構成によるイメージセンサの動作を次に説明する。駆動走査回路8による撮像領域のスキャンの際に、インターレース回路12によりスキャンが繰り返されるごとに1行おきの駆動線3aあるいは駆動線3bのいずれかが選択される。駆動線3aに接続されている検出器はすべて可視光検出器であり、駆動線3bに接続されている画素はすべて赤外光検出器である。そのため、可視光画像情報および赤外光画像情報が一つの出力アンプ11からスキャンごとに交互に出力される。
このような構成によれば、1つの出力箇所から可視光画像信号と赤外光画像信号とが出力できるため、撮像システムの小型化や消費電力低減といった効果がある。また、インターレース走査方法の切替えを行うことにより、可視光撮像と赤外光撮像との双方撮像の切替えが容易に行えるといった効果がある。また、列方向には信号線4があり、信号線4に沿って並ぶ可視光検出器1と赤外光検出器2とは同じ信号線4に接続され、可視光検出器と赤外光検出器とに接続される信号線を共用としたため撮像領域に占める配線の面積が減少し、画素開口率が高く感度に優れたイメージセンサが得られるといった効果がある。さらに、可視光検出器1と赤外光検出器2とで、駆動走査回路8、信号処理回路9、信号走査回路10等の回路を共有しているため、チップサイズの小型化、検出器サイズ増大による感度向上、入出力ピン数の削減等にも効果がある。
なお、実施の形態2では可視光検出器1と赤外光検出器2とを1行おきに交互に配置しているが、一方の検出器の複数行ごとに他方の検出器を1行配置する等、検出器数の比すなわち解像度の比を異なるものにしても良い。特に可視光検出器の行複数本ごとに赤外検出器の行を配置した構成とすれば、解像度の低い赤外画像によって侵入者の有無を検知し、これを検知した場合に解像度の高い可視画像に切り替えて人物を特定するといった防犯カメラ用途等に有効なイメージセンサが得られる。また、逆に赤外光の撮像の解像度が高くなるように、赤外光検出器の行複数本ごとに可視検出器の行を配置した構成としてもよい。
実施の形態3.
図3は本発明の実施の形態3によるイメージセンサの概略構成を示す平面図である。図3の例では、可視光検出器1と赤外光検出器2とは行方向および列方向に交互に並ぶように配置されている。N行目の可視光検出器1は右側の信号線4a、同じ行の赤外光検出器2は右側の信号線4bに接続され、(N+1)行目の可視光検出器1は左側の信号線4a、同じ行の赤外光検出器2は左側の信号線4bに接続されている。すなわち、可視光検出器1は信号線4aに、赤外光検出器2は信号線4bに接続される。
このような構成によるイメージセンサの動作は、図1の場合と全く同様である。図3では可視光検出器1と赤外光検出器2とはそれぞれが斜めの格子配列となり、画素の補完を行うことにより解像度が向上する。また、可視光検出器1と赤外光検出器2とが行方向および列方向に交互に並ぶように配置とした場合には、図4に示すように可視光検出器1と赤外光検出器2との画素サイズを異なるものにできるため、撮像システム全体の性能に応じて可視光と赤外光との受光部の面積バランスを最適化できるといった効果がある。光検出器の面積が異なる場合、図4のように駆動線3、信号線4aと信号線4bとは各光検出器間を蛇行することになるが、動作は図3と同様である。
なお、図3または図4の例ではN行目と(N+1)行目の光検出器で信号線4aまたは信号線4bへの接続方向を異なるようにしているが、信号線4aから出力アンプ11aへの接続と信号線4bから出力アンプ11bへの接続とを、信号処理回路9内で駆動走査のタイミングに同期させて切り替えるような構成としても良い。
実施の形態4.
図5は本発明の実施の形態4によるイメージセンサの回路図であり、図1に示した実施の形態1によるイメージセンサにおいて、可視光検出用画素6、赤外光検出用画素7、信号処理回路9の回路構成の一実施例を示すものである。可視光検出用画素6は、PN接合フォトダイオード13、信号読出用MOSトランジスタ14、行選択MOSトランジスタ15a、リセットMOSトランジスタ16、駆動線3、信号線4a、各部を電気的に接続するコンタクト5、で構成されている。赤外光検出用画素7は、Siマイクロマシニング技術によって形成された断熱構造体17、断熱構造体17上に形成されたボロメータ18、行選択MOSトランジスタ15b、駆動線3、信号線4b、各部を電気的に接続するコンタクト5、で構成されている。信号処理回路は、信号線4aおよび4bに接続された定電流源19aおよび19b、コラムアンプ20aおよび20b、列選択MOSトランジスタ21aおよび21b、信号線22aおよび22b、で構成されている。駆動走査回路8、信号走査回路10、出力アンプ11aおよび11b、は図1と同等のものである。
図6は上記例で隣り合う可視検出用画素6および赤外検出用画素7の断面を示した模式図である。赤外光検出器は誘電体膜30を堆積したSi基板26上に形成された断熱構造体17、その上に形成されたボロメータ18、Si基板上に形成された行選択MOSトランジスタを含む回路29bからなる。一方、可視光検出器はSi基板上に形成されたフォトダイオード28、信号読出用MOSトランジスタと行選択MOSトランジスタとを含む回路29aからなる。また光検出器間の電気的な分離のために基板上にはフィールド酸化膜27が形成されている。なお、フォトダイオード28上に堆積された誘電体膜30は可視光に対して透明な材料で形成される。
このような構成によるイメージセンサの動作を次に説明する。可視光の撮像動作は次のようになる。駆動走査回路8は、図5中、下から上に向かって走査する。このときN行目の駆動線3が選択されると、これに接続されたリセットMOSトランジスタ16を通して(N−1)行目画素のフォトダイオード13に逆バイアスが印加され、リセット電位にリセットされる。このとき、リセット電位は駆動線3の電圧とリセットMOSトランジスタ16の閾値電圧で決まるため、他の制約により駆動線の電圧が定められている場合には、閾値電圧によってリセット電位を制御する。
フォトダイオード13は可視光が入射すると電荷を発生し、そのPN接合容量に電荷が蓄積されて電位を変化させる。すなわち、一端リセットされて一定の蓄積期間後は、フォトダイオードの電位が入射光量に応じた電位となる。N行目の駆動線3が選択されるとき、これに接続されたN行目画素の行選択MOSトランジスタ15aも同時にONとなる。このとき、N行目画素の信号読出用MOSトランジスタ14と信号線4aに接続した定電流源19aで構成されるソースフォロアアンプの動作によって、信号線4aの電位すなわちコラムアンプ20aの電位はフォトダイオード16の電位に応じた値になる。信号走査回路10によってある列の列選択MOSトランジスタ21aが選択されると、その列のコラムアンプ20aの出力が出力アンプ11aから読み出される。以上のように、駆動走査回路8と信号走査回路10とによってアレイ状に配置された可視光検出用画素を順に走査することによって、2次元の可視光画像情報を時系列に読み出す。
赤外光の撮像動作は次のようになる。赤外光検出用画素の断熱構造体17は赤外光が入射するとその入射光量に応じて温度が変化し、ここに形成されたボロメータ18の抵抗値が変化する。駆動走査回路8の走査によりN行目の駆動線3が選択されると、これに接続されたN行目画素の行選択MOSトランジスタ15bがONとなる。このとき、N行目画素のボロメータ18と信号線4bとに定電流源19bが接続され、信号線4bの電位すなわちコラムアンプ20bの電位はボロメータ18の抵抗値すなわち入射赤外光量に応じた値になる。信号走査回路10によってある列の列選択MOSトランジスタ21bが選択されると、その列のコラムアンプ20bの出力が出力アンプ11bから読み出される。以上のように、駆動走査回路8と信号走査回路10とによってアレイ状に配置された赤外光検出用画素を順に走査することによって、2次元の赤外光画像情報を時系列に読み出す。以上の2つの撮像動作において、可視光検出器と赤外光検出器とは独立して光検出動作を行うことができるため、走査回路を共有することによって可視光撮像と赤外光撮像とが並行して同時に行われる。
図5に示した回路構成によれば、可視光検出用画素では、行選択用MOSトランジスタ15aのゲートと信号読出用MOSトランジスタ14とのドレインを駆動線3に接続し、1行前のリセットMOSトランジスタ16のゲートおよびドレインを駆動線3に接続し、1本の駆動線で2つの選択作用と2つのバイアス供給作用とが行われるようにした。その結果、可視光検出用画素では1画素あたり2本の配線で読み出し動作を行うことができ、画素開口率(1画素あたりの受光部面積の割合)を増加させて感度向上が図れるといった効果がある。
赤外光検出用画素では、行選択用MOSトランジスタ15bのゲートとボロメータ18の一端を駆動線3に接続し、1本の駆動線で選択作用とバイアス供給作用とが行われるようにした。その結果、赤外光検出用画素でも1画素あたり2本の配線で読み出し動作を行うことができ、画素開口率を増加させて感度向上が図れるといった効果がある。
以上のように、可視光検出用画素および赤外光検出用画素のいずれも1画素あたり駆動線1本と信号線1本との画素レイアウトとしており、駆動線や駆動走査回路を共有することで周辺回路の回路規模が縮小でき、消費電力の低減や入出力ピン数の削減にも効果がある。
実施の形態5.
図7は本発明の実施の形態5によるイメージセンサの回路図であり、図3に示した実施の形態3によるイメージセンサにおいて、可視光検出用画素6、赤外光検出用画素7、信号処理回路9の回路構成の一実施例を示すものである。このイメージセンサはSOI基板を用いて形成される。SOI基板とはSi基板と表面Si層との間にBOX(埋め込み酸化膜)層を備えた構造を有している。またSOI基板の表面Si層に形成されたダイオードをSOIダイオードと呼ぶことにする。可視光検出用画素は、PN接合フォトダイオード13、信号読出用MOSトランジスタ14、行選択SOIダイオード23、複数個が直列に接続されたリセットSOIダイオード24、駆動線3、信号線4a、各部を電気的に接続するコンタクト5、で構成されている。赤外光検出用画素は、Siマイクロマシニング技術によって形成された断熱構造体17、断熱構造体17上に形成されて複数個が直列に接続されたSOIダイオード25、駆動線3、信号線4b、各部を電気的に接続するコンタクト5、で構成されている。その他の読出し回路については図5と同等のものである。
図8は上記例で隣り合う可視検出用画素6および赤外検出用画素7の断面を示した模式図である。赤外光検出器の構造はSOI基板のBOX(埋め込み酸化膜)層33上の表面Si層に形成されたSOIダイオード25で構成される。BOX(埋め込み酸化膜)層33の下のSi基板部分は、エッチングされて空隙31が形成され、図6で示した断熱構造体と同様に基板への熱伝導を低減する構造となっている。一方、可視光検出器は埋め込み酸化膜の下のSi基板上に形成されたフォトダイオード28、信号読出用MOSトランジスタと行選択MOSトランジスタとを含む回路29aからなる。この例はフォトダイオードをSi基板上に形成した例であるが、可視光検出器をBOX層の上のSi層に形成したSOIダイオードで構成することも可能である。図7のように画素の読出し行選択回路をSOIダイオードで作成することも可能である。フォトダイオード28上に堆積された誘電体膜30は可視光に対して透明な材料で形成される。
このような構成によるイメージセンサの撮像動作は、図5に示した実施の形態4によるイメージセンサの場合と同様である。図7の例では、行選択動作がMOSトランジスタによるスイッチングではなくSOIダイオードの整流作用を利用して行われる。すなわち、可視光検出用画素の読出し行選択は行選択SOIダイオード23によって、フォトダイオード16のリセットはリセットSOIダイオード24によって、赤外光検出用画素の読出し行選択はSOIダイオード25によって行われる。いずれも、選択行のSOIダイオードだけが順方向にバイアスされ、非選択行のSOIダイオードは逆方向にバイアスされて選択動作が行われる。なお、選択時の駆動線3の電位が他の制約によって決められている場合、可視光検出用画素のリセットSOIダイオード24の直列個数によってフォトダイオード16のリセット電位を調節する。また、赤外光検出用画素のSOIダイオード25は、複数個を直列に接続することによって検出感度を高めている。
このように可視光検出器のダイオードのリセット用にSOIダイオード複数個接続することでトランジスタを使用するよりも構成が簡単になり、画素内のコンタクト数が削減され開口率を高める効果がある。また行選択用にもSOIダイオードを用いることも同様にトランジスタを使用場合よりも構成を簡単にする効果があり、開口率を高める効果がある。
本実施例のように熱型赤外光検出器としてSOIダイオードを用いたため、PN接合形成するSiプロセスラインとSiのマイクロマシニング技術により、可視光検出器と赤外光検出器との両方を同一のSi基板上に形成することが可能になった。
本発明の実施の形態1によるイメージセンサの概略構成を示す平面図である。 本発明の実施の形態2によるイメージセンサの概略構成を示す平面図である。 本発明の実施の形態3によるイメージセンサの概略構成を示す平面図である。 本発明の実施の形態3によるイメージセンサの概略構成を示す平面図である。 本発明の実施の形態4によるイメージセンサの回路図である。 本発明の実施の形態4によるイメージセンサの一部の断面図である。 本発明の実施の形態5によるイメージセンサの回路図である。 本発明の実施の形態5によるイメージセンサの一部の断面図である。
符号の説明
1 可視光検出器、2 熱型赤外光検出器、3 駆動線、4 信号線、5 コンタクト、6 可視光検出用画素、7 赤外光検出用画素、8 駆動走査回路、9 信号処理回路、10 信号走査回路、11 出力アンプ、12 インターレース回路、13 フォトダイオード、14 信号読出用MOSトランジスタ、15 行選択MOSトランジスタ15、16 リセットMOSトランジスタ、17 断熱構造体、18 ボロメータ、19 定電流源、20 コラムアンプ、21 列選択MOSトランジスタ、22 信号線、23 行選択SOIダイオード、24 リセットSOIダイオード、25 SOIダイオード、26 Si基板、27 フィールド酸化膜、28 フォトダイオード、29 読出し回路、30 誘電体膜、31 空隙、32 Si基板、33 BOX(埋め込み酸化膜)層、34 フィールド酸化膜(SOI層)、35 トレンチ分離酸化膜。

Claims (14)

  1. 量子型の可視光検出器と熱型の赤外光検出器とが基板上に周期的に並んだ2次元アレイと、列方向に並ぶ前記可視光検出器または前記赤外光検出器に沿って列ごとに配置された信号線と、行方向に並ぶ前記可視光検出器または前記赤外光検出器に沿って行ごとに配置された駆動線とを前記基板上に備えたイメージセンサ。
  2. 2次元アレイは特定の間隔で可視光検出器が並ぶ列と前記間隔で赤外光検出器が並ぶ列とが行方向に周期的に並んだ2次元アレイであり、
    信号線は列ごとに並ぶ前記可視光検出器または前記赤外光検出器に接続され、
    駆動線は行方向に並ぶ前記可視光検出器と前記赤外光検出器とに接続されることを特徴とする請求項1記載のイメージセンサ。
  3. 赤外光検出器の並ぶ列の間に可視光検出器の並ぶ列が複数本並ぶ、
    または前記可視光検出器の並ぶ列の間に前記赤外光検出器の並ぶ列が複数本並ぶことを特徴とする請求項2記載のイメージセンサ。
  4. 2次元アレイは特定の間隔で可視光検出器が並ぶ行と前記間隔で赤外光検出器が並ぶ行とが列方向に周期的に並んだ2次元アレイであり、
    駆動線は行ごとに並ぶ前記可視光検出器または前記赤外光検出器に接続され、
    信号線は列方向に並ぶ前記可視光検出器と前記赤外光検出器とに接続されることを特徴とする請求項1記載のイメージセンサ。
  5. 駆動信号を可視光検出器か赤外光検出器かのどちらか一方を選択して伝達するインターレース回路を駆動線に接続することを特徴とする請求項4記載のイメージセンサ。
  6. 赤外光検出器の並ぶ行の間に可視光検出器の並ぶ行が複数本並ぶ、
    または前記可視光検出器の並ぶ行の間に前記赤外光検出器の並ぶ行が複数本並ぶことを特徴とする請求項4または5記載のイメージセンサ。
  7. 2次元アレイは量子型の可視光検出器と熱型の赤外光検出器とが列方向および行方向で交互に並んだ2次元アレイであることを特徴とする請求項1記載のイメージセンサ。
  8. 可視光検出器の受光部の面積と赤外光検出器の受光部の面積とが異なることを特徴とする請求項7記載のイメージセンサ。
  9. 基板がSi基板であり、可視光検出器はSiフォトダイオードであることを特徴とする請求項1記載のイメージセンサ。
  10. 基板がSi基板と表面Si層との間に埋め込み酸化膜層を備えたSOI基板であり、可視光検出器は前記表面Si層に形成したPN接合ダイオードまたは前記Si基板に形成したSiフォトダイオードであり、赤外光検出器は前記表面Si層に形成したSOIダイオードであることを特徴とする請求項1記載のイメージセンサ。
  11. 可視光検出器にMOSトランジスタが接続されることを特徴とする請求項9または10に記載のイメージセンサ。
  12. 行方向に並ぶ可視光検出器が一方側に配置する駆動線とはリセットトランジスタまたはリセットダイオードを介して接続し、他方側に配置する駆動線とは選択トランジスタまたは選択ダイオードを介して接続することを特徴とする請求項11記載のイメージセンサ。
  13. 可視光検出器のPN接合ダイオードまたはSiフォトダイオードと信号線との間にSOIダイオードの回路を用いることを特徴とする請求項10記載のイメージセンサ。
  14. 可視光検出器のPN接合ダイオードまたはSiフォトダイオードと駆動線との間に複数個のSOIダイオードを直列接続することを特徴とする請求項10記載のイメージセンサ。
JP2005169646A 2005-06-09 2005-06-09 イメージセンサ Pending JP2006343229A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2005169646A JP2006343229A (ja) 2005-06-09 2005-06-09 イメージセンサ

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2005169646A JP2006343229A (ja) 2005-06-09 2005-06-09 イメージセンサ

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2006343229A true JP2006343229A (ja) 2006-12-21

Family

ID=37640294

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2005169646A Pending JP2006343229A (ja) 2005-06-09 2005-06-09 イメージセンサ

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2006343229A (ja)

Cited By (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006352466A (ja) * 2005-06-15 2006-12-28 Fujitsu Ltd 撮像装置
JP2008204978A (ja) * 2007-02-16 2008-09-04 Mitsubishi Electric Corp 撮像素子
JP2010507806A (ja) * 2006-10-24 2010-03-11 レイセオン カンパニー 非冷却lwir検出器に組み合わされた可視すなわちswir検出器を有するデュアル・バンド撮像装置
JP2010114349A (ja) * 2008-11-10 2010-05-20 Konica Minolta Holdings Inc 複合発電装置
JP2012044143A (ja) * 2010-08-20 2012-03-01 Samsung Electronics Co Ltd センサアレイ基板、これを含む表示装置およびこれの製造方法
US8253896B2 (en) 2009-10-19 2012-08-28 Samsung Electronics Co., Ltd. Photonic sensor, method of manufacturing same, color filter substrate having same, and display device having the color filter substrate
US8258004B2 (en) 2005-11-19 2012-09-04 Samsung Electronics Co., Ltd. Display device and manufacturing method thereof
FR2999338A1 (fr) * 2012-12-10 2014-06-13 Soc Fr Detecteurs Infrarouges Sofradir Imageur monolithique multispectral visible et infrarouge
WO2014109157A1 (ja) * 2013-01-08 2014-07-17 株式会社ブイ・テクノロジー 撮像装置
US9287301B2 (en) 2012-03-26 2016-03-15 Nec Corporation Solid-state image sensing device with detecting units having a microlens
WO2016051087A1 (fr) * 2014-10-03 2016-04-07 Commissariat A L'energie Atomique Et Aux Energies Alternatives Capteur d'empreintes digitales ou palmaires
KR101829777B1 (ko) * 2011-03-09 2018-02-20 삼성디스플레이 주식회사 광 감지 센서
WO2018131288A1 (ja) * 2017-01-10 2018-07-19 国立大学法人北海道大学 電子回路及びイメージング回路並びに検出/受光方法
EP3864706A4 (en) * 2018-10-11 2022-06-22 Emberion Oy MULTISPECTRAL PHOTODETECTOR NETWORK
EP3973260A4 (en) * 2019-05-21 2023-12-20 Nextinput, Inc. COMBINED NEAR AND MID INFRARED SENSOR IN A CHIP-SIZE HOUSING

Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH09166493A (ja) * 1995-12-15 1997-06-24 Nikon Corp 撮像装置、撮像方法、および受光装置
JPH10257392A (ja) * 1997-03-14 1998-09-25 Matsushita Electron Corp 物理量分布検知半導体装置およびその駆動方法ならびにその製造方法
JPH11261895A (ja) * 1997-12-03 1999-09-24 Hewlett Packard Co <Hp> 顕著な積分モ―ドによる能動ピクセル・センサ
JP2000088640A (ja) * 1998-09-14 2000-03-31 Mitsubishi Electric Corp 熱型赤外線検出器アレイおよびその製造方法
JP2000294757A (ja) * 1999-04-06 2000-10-20 Seiko Instruments Inc 半導体集積回路装置の製造方法
JP2002148111A (ja) * 2000-11-15 2002-05-22 Mitsubishi Electric Corp 熱型赤外線検出器
JP2003017672A (ja) * 2001-07-04 2003-01-17 Matsushita Electric Ind Co Ltd 電子デバイス,その製造方法,カメラ及び車両
JP2006177712A (ja) * 2004-12-21 2006-07-06 Canon Inc 半導体装置及びその製造方法

Patent Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH09166493A (ja) * 1995-12-15 1997-06-24 Nikon Corp 撮像装置、撮像方法、および受光装置
JPH10257392A (ja) * 1997-03-14 1998-09-25 Matsushita Electron Corp 物理量分布検知半導体装置およびその駆動方法ならびにその製造方法
JPH11261895A (ja) * 1997-12-03 1999-09-24 Hewlett Packard Co <Hp> 顕著な積分モ―ドによる能動ピクセル・センサ
JP2000088640A (ja) * 1998-09-14 2000-03-31 Mitsubishi Electric Corp 熱型赤外線検出器アレイおよびその製造方法
JP2000294757A (ja) * 1999-04-06 2000-10-20 Seiko Instruments Inc 半導体集積回路装置の製造方法
JP2002148111A (ja) * 2000-11-15 2002-05-22 Mitsubishi Electric Corp 熱型赤外線検出器
JP2003017672A (ja) * 2001-07-04 2003-01-17 Matsushita Electric Ind Co Ltd 電子デバイス,その製造方法,カメラ及び車両
JP2006177712A (ja) * 2004-12-21 2006-07-06 Canon Inc 半導体装置及びその製造方法

Cited By (23)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006352466A (ja) * 2005-06-15 2006-12-28 Fujitsu Ltd 撮像装置
US8258004B2 (en) 2005-11-19 2012-09-04 Samsung Electronics Co., Ltd. Display device and manufacturing method thereof
JP2010507806A (ja) * 2006-10-24 2010-03-11 レイセオン カンパニー 非冷却lwir検出器に組み合わされた可視すなわちswir検出器を有するデュアル・バンド撮像装置
JP4677044B2 (ja) * 2006-10-24 2011-04-27 レイセオン カンパニー 非冷却lwir検出器に組み合わされた可視すなわちswir検出器を有するデュアル・バンド撮像装置
JP2008204978A (ja) * 2007-02-16 2008-09-04 Mitsubishi Electric Corp 撮像素子
JP2010114349A (ja) * 2008-11-10 2010-05-20 Konica Minolta Holdings Inc 複合発電装置
US8253896B2 (en) 2009-10-19 2012-08-28 Samsung Electronics Co., Ltd. Photonic sensor, method of manufacturing same, color filter substrate having same, and display device having the color filter substrate
JP2012044143A (ja) * 2010-08-20 2012-03-01 Samsung Electronics Co Ltd センサアレイ基板、これを含む表示装置およびこれの製造方法
KR101829777B1 (ko) * 2011-03-09 2018-02-20 삼성디스플레이 주식회사 광 감지 센서
US9287301B2 (en) 2012-03-26 2016-03-15 Nec Corporation Solid-state image sensing device with detecting units having a microlens
FR2999338A1 (fr) * 2012-12-10 2014-06-13 Soc Fr Detecteurs Infrarouges Sofradir Imageur monolithique multispectral visible et infrarouge
WO2014091093A1 (fr) * 2012-12-10 2014-06-19 Sociéte Française De Détecteurs Imageur monolithique multispectral visible et infrarouge
JP2014135571A (ja) * 2013-01-08 2014-07-24 V Technology Co Ltd 撮像装置
WO2014109157A1 (ja) * 2013-01-08 2014-07-17 株式会社ブイ・テクノロジー 撮像装置
WO2016051087A1 (fr) * 2014-10-03 2016-04-07 Commissariat A L'energie Atomique Et Aux Energies Alternatives Capteur d'empreintes digitales ou palmaires
FR3026877A1 (fr) * 2014-10-03 2016-04-08 Commissariat Energie Atomique Capteur d'empreintes digitales ou palmaires
US10176357B2 (en) 2014-10-03 2019-01-08 Commissariat à l'Energie Atomique et aux Energies Fingerprint or palmprint sensor
WO2018131288A1 (ja) * 2017-01-10 2018-07-19 国立大学法人北海道大学 電子回路及びイメージング回路並びに検出/受光方法
JPWO2018131288A1 (ja) * 2017-01-10 2019-11-07 国立大学法人北海道大学 電子回路及びイメージング回路並びに検出/受光方法
EP3864706A4 (en) * 2018-10-11 2022-06-22 Emberion Oy MULTISPECTRAL PHOTODETECTOR NETWORK
US11852536B2 (en) 2018-10-11 2023-12-26 Emberion Oy Multispectral photodetector array
EP3973260A4 (en) * 2019-05-21 2023-12-20 Nextinput, Inc. COMBINED NEAR AND MID INFRARED SENSOR IN A CHIP-SIZE HOUSING
US11953380B2 (en) 2019-05-21 2024-04-09 Nextinput, Inc. Combined near and mid infrared sensor in a chip scale package

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2006343229A (ja) イメージセンサ
JP4901320B2 (ja) 2波長イメージセンサ
US9123603B2 (en) Photoelectric conversion device and imaging system
JP4011851B2 (ja) 赤外線固体撮像素子
JP7422943B2 (ja) 光検出装置
TWI559514B (zh) 減低畫素區域影像感測器
JP6879919B2 (ja) 固体撮像素子、電子機器、及び、固体撮像素子の製造方法
JP5320989B2 (ja) 固体撮像装置、及び電子機器
JP5443793B2 (ja) 赤外線固体撮像素子
US20070064129A1 (en) Solid-state imaging device
JP2010016056A (ja) 光電変換装置
KR20010034571A (ko) 능동 선형 센서
JP2003152170A (ja) 赤外線センサ
JP2008079172A (ja) 2波長イメージセンサおよび2波長イメージセンサを用いた撮像方法
US8581199B2 (en) Solid state imaging device
TW200301569A (en) Photographing device
KR102656724B1 (ko) 촬상 소자 및 전자 기기
JP4195396B2 (ja) 固体撮像装置および撮像回路
KR20080085798A (ko) 적층형 열화상 센서장치
JP2010520614A (ja) 画素間分離されたイメージセンサ
JP3657885B2 (ja) 赤外線センサ装置およびその駆動方法
KR100703979B1 (ko) 수광 효율이 향상된 2 공유 픽셀 이미지 센서 및 그 제조방법
WO2022254773A1 (ja) 光検出装置及び電子機器
JP5738954B2 (ja) 固体撮像素子
JP5868451B2 (ja) 光電変換装置

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20071015

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20091116

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20091208

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20100126

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20100629

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20100824

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20110105