JP2013198979A - 単結晶シリコン電極を備えた容量性微小電気機械式センサー - Google Patents

単結晶シリコン電極を備えた容量性微小電気機械式センサー Download PDF

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Abstract

【課題】全ての重要な応力作用点に単結晶シリコンを備えた容量性センサーを提供する。
【解決手段】絶縁トレンチが、駆動、検知及び防護のために電媒質的に絶縁された導電性シリコン電極を形成する補充物及びトレンチによって形成される。この発明による圧力検知装置において、圧力ポートは、パッケージングの容易性のため、ワイヤーボンド・パッドの反対側とされる。面内加速度と面外加速度を計測する二重軸加速度計も記述される。加速度計を複製してその面外軸の周りで90゜回転させることによって面内第3軸を容易に得ることができる。共振構造、角速度センサー、ボロメーター及び他の多くの構造の創成が、このプロセス技術によって可能である。重要な利点は、密閉性、縦方向バイア、垂直及び水平ギャップ能力、単結晶材料、ウエハ・レベルのパッケージング、小寸法、高性能及び低コストである。
【選択図】図1

Description

この発明は、概略的には、センサーに関する。より詳細には、この発明は、単結晶シリコン電極を備えた容量性微小電気機械式センサーに関する。
幾つかの製造様式は、容量性センサーの精度及び耐久性の低下を引き起こす。また、容量性ギャップの上面及び底面での異なる材料の使用は、容量性ギャップの上面と底面の間での温度の不一致を生ずる。金属電極の使用は、2つのウエハ間で高温溶融接合を形成する能力を制限することとなり、これが、デバイスを密閉状に封入する能力を制限する。圧力ポートをワイヤーボンド・パッドと同じ側の面とする構造は、適応される粗い質の媒体にワイヤーボンド・パッドをさらすという困難な問題を生ずる。
現今の製造方法は、これらの課題の幾つかを目指しているが、他の課題を目指してはいない。例えば、多くの方法では、センサーの反対側に能動センサー素子からの電気接続を設けるのに導電性金属バイアを使用する。しかしながら、これらの製造方法は、いくつかの不都合な点を有している。例えば、センサー内に導電性金属バイアをパターン形成するには、特殊な製造工程を使用しなければならない。付け加えるに、金属の使用は、上述した障害を引き起こす。したがって、密閉封入を可能とし、且つ、温度不一致を削減又は除去し、且つ、ワイヤーボンド・パッドの露出を制限する容量性センサーを製造する方法の開発への必要が当業界に存在している。
この発明は、単結晶シリコン電極を有する容量性微小電気機械式センサーを提供する。このセンサーは、好ましくは、圧力、加速度、角速度、又は共振の少なくとも1つを検知する。このセンサーは、2つの層を含む。第1の層は、単結晶シリコンから製作され、上面と底面を有する。第1の層は、少なくとも1つの電極を形成する。第2の層も、また、単結晶シリコンから製作され、上面と底面を有する。第2の層には、この層の上面から底面へと延びる誘電体材質の絶縁トレンチによって1つの電極が画定される。好ましくは、この絶縁トレンチが前記電極の周りの外囲を形成する。同様に好ましくは、第2の層は、さらに、少なくとも1つの電気防護部分(electrical guard)となる電極を含み、前記少なくとも1つの電気防護部分は、前記第2の層の上面から底面へと延びる誘電体材質の第2の絶縁トレンチによって画定される。第1の層の前記少なくとも1つの電極と第2の層の前記1つの電極は、協働してコンデンサーを構成する。好ましくは、第2の層の上面は食刻されて、容量性ギャップを構成する空所を形成する。センサーは、さらに、第2の層の底面に位置付けられた少なくとも1つの電気接点を含む。この電気接点は、第2の層内の前記1つの電極と電気接続関係にある。
好実施例では、第1の層はダイヤフラムを形成する。第1の層は、また、共振構造、バネ、又は検定質量を形成するように食刻されることも可能である。
別の好実施例では、センサーは、さらに、最上層の上面から誘電体層によって分離された第3の単結晶シリコン層を含む。一実施例では、この第3の層は、圧力ポートを形成するように食刻される。この実施例では、センサーは、圧力ポートが電気接点からは反対側のデバイス上にある利点を用いて圧力を検知する。
この発明は、添付図面に関連した以下の説明を読むことによって、その目的及び利点とともに、理解されるであろう。
この発明によるセンサーの断面図(A)とパッド側から見た平面図(B)を示す。 この発明によるセンサーの実施例を示す。 この発明による圧力センサーの断面図(A)とパッド側から見た平面図(B)を示す。 この発明による加速度計の断面図(A)とパッド側から見た平面図(B)を示す。 この発明による加速度計シャトルの平面図(A)と等測投影図(B)を示す。 この発明によるセンサー製造の工程の模式図を示す。 この発明によるセンサー製造の工程の模式図を示す。 この発明によるセンサー製造の工程の模式図を示す。 この発明によるセンサー製造の工程の模式図を示す。 この発明によるセンサー製造の工程の模式図を示す。
以下の説明においては、異なる図面に現れる構造に同一に符号が付される。図1Aは、この発明による容量性微小電気機械式センサーの断面図を示す。センサーは、上面112と底面114を備えた第1の層110を含む。第1の層110は、単結晶シリコンで製作され、少なくとも1つの電極130を含有する。このセンサーは、さらに、上面122と底面124を備えた第2の層120を含む。第2の層120は、上面122から底面124へと延びる誘電体材質よりなる絶縁トレンチ150を含有する。絶縁トレンチ150は、電極140を画定する。電極140は、ワイヤーボンド・パッドのような電気接点160に電気的に接続される。好ましくは、第1の層110は、電気接点160の側とは反対の側のセンサー上にあるセンサーの検知素子の全てを含有する。電極130と電極140は、協働して、容量性ギャップ170を備えたコンデンサーを形成する。容量性ギャップ170は、好ましくは、第2の層120内に形成され、ギャップ170の精確な空間的構造配置を可能とする。
図1Bは、第2の層120の底面124の平面図を示す。図1Bは、絶縁トレンチ150が、電極140を画定するように電極140周囲の外囲を形成することを示す。図では、矩形トレンチが示されているが、トレンチ150は、任意の幾何学的図形構造とすることが可能である。
図2は、この発明によるセンサーの幾つかの実施例を示す。図2Aは、第3の単結晶シリコン層210であって、誘電体層220によって第1の層110の上面112から分離された該第3の単結晶シリコン層210を有するセンサーを示す。このセンサーでは、第1の層110は、厚さを薄くされてダイヤフラム130を形成する。好実施例では、第3の層が食刻されて圧力ポート230を形成する(図2B)。代替的には又は追加的には、第1の層110は、例えば、検定質量260、バネ250、又は共振構造(図示しない)を形成するように食刻することも可能である。第1の層110は、デバイス作動のために、誘電体層220の食刻除去によって、離すことも可能である(図2C)。
図3Aは、この発明による好適な圧力センサーの断面図を示す。この圧力センサーは、ダイヤフラム130を形成するようにフライス削りされた又は食刻された第1の単結晶シリコン層110を有する。ダイヤフラム130は、コンデンサーの第1の電極として機能する。この圧力センサーは、また、空所170を形成するように食刻された第2の単結晶シリコン層120を有する。第2の単結晶シリコン層120は、2つの絶縁トレンチ150を含む。絶縁トレンチ150は、固定電極340を画定し、該固定電極340は、コンデンサーの第2の電極と電気防護部分360と被駆動共通ポート370を形成する。固定電極340、電気防護部分360及び被駆動共通ポート370は、各々、金属ボンド・パッド320、330、及び340に電気的に接続される。圧力センサーは、また、誘電体層220によってダイヤフラム130から分離された第3の単結晶シリコン層210を有する。層220は、例えば、埋め込み酸化物層とすることが可能である。層210は、圧力ポート230を形成するように食刻される。このセンサーでは、全ての重要な圧力作用点に単結晶シリコンが使用されており、センサー内には金属を必要とせず、且つ、圧力ポートは反応過敏な金属ボンド・パッドとは反対の側に位置付けられていることに、留意されたい。
図3Bは、センサーの底面から見た圧力センサーの平坦図を示す。絶縁トレンチ150は、固定電極340と電気防護部分360と共通駆動ポート370を画定して見ることができる。これらの電子部品は、各々、金属ボンド・パッド320、330及び340と電気接続関係にある。
図4A及び図4Bは、この発明による好適な加速度計の断面図と平面図を示す。一実施例において、加速度計は、図3に記述された圧力センサーと同一のダイ内に組立てられる。加速度計は、トレンチ430と加速度計シャトル420を形成するように食刻された第1の単結晶シリコン層110を有する。このセンサーは、また、空所170を形成するように食刻された第2のシリコン層120を有する。第2の単結晶シリコン層120は、共通駆動ポート460と4つの電極440、442、444、450を画定する絶縁トレンチ150を含む。共通駆動ポート460と4つの電極440、442、444、450は、各々、金属ボンド・パッド490、470、480、492、及び494に電気的に接続される。加速度計は、また、誘電体層220によって第1の層から分離された第3の単結晶シリコン層210を有する。層220は、例えば、埋め込み酸化物層とすることが可能である。層220は、加速度計シャトル420のためのギャップ410を設けるために食刻される。図示された加速度計は、面内(in plane)加速度と面外(out of plane)加速度を計測する二軸加速度計(dual axis accelerometer)であるが、面内第3軸は、加速度計を複製してその面外軸の周りで90゜回転することによって達成容易である。
図5A及び図5Bは、加速度計シャトル420の平面図と等測投影図である。フィンガ電極510と絶縁支持体515と側部バネ520と側部バネ端部525と回転バネ530と検定質量540とジンバル枠550と絶縁トレンチ560が図示される。フィンガ電極510は、電極442又は444のいずれかに接続する絶縁支持体515に取り付けられる。これらの全ての構造は、以下に説明する第1の層のエッチング処理を介して創成される。
図6−10に示す工程1−17は、この発明によるセンサー製造のための製造処理工程の例の模式的図解である。
工程1−3は、SOIウエハ処理のために使用され、工程4−10は、絶縁トレンチ処理のために使用され、工程11−17は、二重ウエハ処理工程である。この例では、工程は、この発明により加速度計とともに圧力センサーを同時に製造する方法を示す。代替的には、工程2と工程3を省略して、圧力のみを検知するセンサーを組立てることが可能である。この発明による他の種類のセンサーの創成を目的として、以下の工程の変更が可能である。例えば、ポリシリコン層を付加し、表面微小加工同様のパターン形成が可能である。これらの層を層612に付加することが、これらの層が空所730の内部にあってボンディング面910を妨害しないことを可能とする。
工程1は、酸化によってSOIウエハ610上に酸化物620を形成する。SOIウエハ610の比較的薄い能動層612は、最終的には、図2Bのダイヤフラム130のような、ダイヤフラムを形成する。層612は、導電性電極面として利用されるために、約0.1乃至0.01Ω/cmの間で比較的高度にドープされる。比較的厚いハンドル層614は、図2に図解の第3の層210を形成する。工程2は、写真平版術及びウエット酸化物エッチングによって酸化物620にパターン形成と食刻を行い、酸化物620に開口630を設け、それで、工程3での下層のシリコン612の食刻を可能とする。工程3は、ダイヤフラム層612内に、バネ650、エッチング穴640、フィンガ510、絶縁トレンチ560、検定質量550、回転バネ530、及びその他の構造を食刻して形成する深層反応性イオンエッチング(DRIE)である(図5参照)。表面微小加工処理で作成可能な他の幾何学的図形型と組合せるマスク用の版型(masking artwork)の変更によって、この層に、角速度センサー、共振器、又は、せん断センサーのような他の種類のセンサーを作成することができる。さらに、多種類のセンサーを同時に作成することができ、そのため、1チップ上での比較的高い集積度が可能となる。共振構造は、当業者に知られているように、検定質量、バネ、及び、くし形駆動装置/くし形検知装置の組合せを画定することによって平易に作成することができる。工程4は、比較的高度にドープされたシリコンの能動層712を含有する新しいSOIウエハ710上に、酸化により再度、酸化物720を形成し、これは、図3に示す340、350、370のような単結晶シリコン電極とハンドル・ウエハ714を画定する絶縁トレンチを形成し、これは、連続して後に、エッチングにより除去されるか、又は、研削/研磨により除去される。工程5は、RIE酸化物食刻装置内での酸化物720のエッチングであり、酸化物720に開口730を形成する。これは、工程6のDRIEエッチングのための能動層712を準備する。工程6では、能動層712は、開口730からDRIEで食刻され、これはボックス層716上で停止し、トレンチ740を形成する。このエッチングでは、隙間なく充填するのが困難な再入トレンチを回避するように注意が払われる。工程7では、誘電体材質750を提供するように、熱酸化物成長によってトレンチ740が酸化され、これは単結晶シリコン電極を画定し且つ絶縁する。工程8において、トレンチ740はポリシリコン810で充填される。これは、絶縁トレンチを形成するのに必要な誘電体材質の量を削減する。トレンチ全体が誘電体材質で充填されることが可能であるが、熱酸化物が使用された場合には、該酸化物の必要厚の故に、高価で困難であることが分かる。工程9は、DRIE、RIE、又は、円筒型食刻装置さえも含む任意の種類の食刻装置を使用したウエハ710のポリシリコン・ブランケット・エッチングであり、ウエハ710の表面からポリシリコン810を除去し、酸化物720上で停止し、残りのトレンチ740の内側にのみポリシリコン810を残す。概ね0.5乃至2μの深さの工程10のシリコン層712のDRIEエッチングが、図2の空所170のような空所730を形成する。酸化物620と720は、工程11において、BOEのようなウェット・エッチングを利用して表面910から除去される。これが、高温ウエハ・ボンディング技法を利用する工程12での表面910の整合と接合を可能とする。工程11は、また、ボックス層616の基部の切除と、図4のギャップ410のようなギャップ920の形成によって、検定質量が離れることを可能とする。工程13では、最上位の酸化物620に、BOEを利用して、開口920が食刻され、底の酸化物720が除去される。これが、工程14における、DRIEエッチングによるシリコン層614のエッチングを可能とし、図2Bのポート230のようなポート1010を創成する。また、工程14において、背面研削/研磨によって又はDRIEエッチング又はRIEエッチング又は円筒型食刻装置によって、ハンドル・ウエハ714が除去される。工程15は、RIE酸化物エッチングを利用することによってボックス616とボックス716を食刻して、ダイヤフラム612と相互接続1020をそれぞれ露出する。ポート1010の反対側には、工程16において、スパッター装置を使用して、金属1030が堆積される。工程17では、写真平版術及びウェット・エッチングを利用して金属1030が食刻され、相互接続1020及び、図2のボンド・パッド160のような金属ボンド・パッド1040を形成する。
当業者に理解されるように、この発明の原理から逸脱せずに各種の変更、代替、及び改変が作成可能であり又は別様式にて実施可能である。したがって、この発明の範囲は、請求項及びその均等技術により定められる。
この発明は、単結晶シリコン電極を有する容量性微小電気機械式センサーを提供する。このセンサーは、好ましくは、圧力、加速度、角速度、又は共振の少なくとも1つを検知する。このセンサーは、2つの層を含む。第1の層は、単結晶シリコンから製作され、上面と底面を有する。第1の層は、少なくとも1つの電極を形成する。第2の層も、また、単結晶シリコンから製作され、上面と底面を有する。第2の層には、この層の上面から底面へと延びる誘電体材質の絶縁トレンチによって1つの電極が画定される。好ましくは、この絶縁トレンチが前記電極の周りの外囲を形成する。そしてこの前記第2の層の前記1つの電極部分が単結晶シリコンの単一体よりなる。同様に好ましくは、第2の層は、さらに、少なくとも1つの電気防護部分(electrical guard)となる電極を含み、前記少なくとも1つの電気防護部分は、前記第2の層の上面から底面へと延びる誘電体材質の第2の絶縁トレンチによって画定される。第1の層の前記少なくとも1つの電極と第2の層の前記1つの電極は、協働してコンデンサーを構成する。好ましくは、第2の層の上面は食刻されて、容量性ギャップを構成する空所を形成する。センサーは、さらに、第2の層の底面に位置付けられた少なくとも1つの電気接点を含む。この電気接点は、第2の層内の前記少なくとも1つの電極と電気接続関係にある。

Claims (10)

  1. 容量性微小電気機械式センサーであって、
    a)上面と底面を有し、単結晶シリコンより成り、少なくとも1つの電極を形成する第1の層と、
    b)上面と底面を有し、単結晶シリコンより成る第2の層であって、該第2の層には、該第2の層の前記上面から前記底面へと延びる誘電体材質の絶縁トレンチによって1つの電極が画定されている該第2の層と、
    c)前記第2の層の前記底面に位置付けられ且つ前記第2の層の前記1つの電極と電気接続関係にある少なくとも1つの電気接点とを有しており、
    前記第1の層の前記少なくとも1つの電極と前記第2の層の前記1つの電極とが、コンデンサーを形成することを特徴とする容量性微小電気機械式センサー。
  2. 前記絶縁トレンチが前記電極周囲の外囲を形成することを特徴とする請求項1に記載の容量性微小電気機械式センサー。
  3. 前記第2の層の前記上面は食刻されて前記第2の層に空所を形成し、該空所が容量性ギャップを画定することを特徴とする請求項1または2に記載の容量性微小電気機械式センサー。
  4. さらに第3の層を有しており、該第3の層は、単結晶シリコンより成り、且つ、該第3の層は、誘電体層によって前記第1の層の前記上面から分離されることを特徴とする請求項1〜3のいずれか一つに記載の容量性微小電気機械式センサー。
  5. 前記第3の層は食刻されて圧力ポートを画定することを特徴とする請求項4に記載の容量性微小電気機械式センサー。
  6. 前記第1の層がダイヤフラムを形成することを特徴とする請求項1〜5のいずれか一つに記載の容量性微小電気機械式センサー。
  7. 前記第1の層は食刻されて、共振構造、バネ、又は検定質量の少なくとも1つを画定することを特徴とする請求項1〜6のいずれか一つに記載の容量性微小電気機械式センサー。
  8. 前記センサーは、圧力、加速度、角速度又は共振の少なくとも1つを検知することを特徴とする請求項1〜7のいずれか一つに記載の容量性微小電気機械式センサー。
  9. 全ての検知素子が前記第1の層内に位置付けられていることを特徴とする請求項1〜8のいずれか一つに記載の容量性微小電気機械式センサー。
  10. さらに、前記第2の層内に少なくとも1つの電気防護部分となる電極を有し、前記少なくとも1つの電気防護部分は、前記第2の層の前記上面から前記底面へと延びる誘電体材質の第2の絶縁トレンチによって画定されることを特徴とする請求項1〜9のいずれか一つに記載の容量性微小電気機械式センサー。
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Families Citing this family (52)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7741964B2 (en) * 2007-05-31 2010-06-22 Schrader Electronics Ltd. Tire pressure detector having reduced power consumption mechanism
JP5260155B2 (ja) * 2008-06-16 2013-08-14 株式会社堀場エステック 静電容量型圧力センサ及びその製造方法
US8238073B2 (en) * 2008-07-18 2012-08-07 Synaptics, Inc. In-molded capacitive sensors
US8499629B2 (en) * 2008-10-10 2013-08-06 Honeywell International Inc. Mounting system for torsional suspension of a MEMS device
ITBO20080079U1 (it) * 2008-10-30 2010-04-30 Lorenzo Peretto Sistema costruttivo per un sensore capacitivo.
US8739626B2 (en) * 2009-08-04 2014-06-03 Fairchild Semiconductor Corporation Micromachined inertial sensor devices
US8421168B2 (en) * 2009-11-17 2013-04-16 Fairchild Semiconductor Corporation Microelectromechanical systems microphone packaging systems
US8490495B2 (en) 2010-05-05 2013-07-23 Consensic, Inc. Capacitive pressure sensor with vertical electrical feedthroughs and method to make the same
KR101938609B1 (ko) 2010-09-18 2019-01-15 페어차일드 세미컨덕터 코포레이션 미세기계화 모노리식 6축 관성 센서
US8813564B2 (en) 2010-09-18 2014-08-26 Fairchild Semiconductor Corporation MEMS multi-axis gyroscope with central suspension and gimbal structure
CN103221331B (zh) 2010-09-18 2016-02-03 快捷半导体公司 用于微机电系统的密封封装
EP2616772B1 (en) 2010-09-18 2016-06-22 Fairchild Semiconductor Corporation Micromachined monolithic 3-axis gyroscope with single drive
DE112011103124T5 (de) 2010-09-18 2013-12-19 Fairchild Semiconductor Corporation Biegelager zum Verringern von Quadratur für mitschwingende mikromechanische Vorrichtungen
KR101871865B1 (ko) 2010-09-18 2018-08-02 페어차일드 세미컨덕터 코포레이션 멀티-다이 mems 패키지
WO2012040211A2 (en) 2010-09-20 2012-03-29 Fairchild Semiconductor Corporation Microelectromechanical pressure sensor including reference capacitor
WO2012040245A2 (en) 2010-09-20 2012-03-29 Fairchild Semiconductor Corporation Through silicon via with reduced shunt capacitance
JP5649474B2 (ja) * 2011-01-26 2015-01-07 ローム株式会社 静電容量型圧力センサおよび静電容量型圧力センサの製造方法
US8673756B2 (en) * 2011-04-14 2014-03-18 Robert Bosch Gmbh Out-of-plane spacer defined electrode
JP5833752B2 (ja) * 2011-06-29 2015-12-16 インベンセンス, インク.Invensense, Inc. 一部が縦型集積電子回路とともに環境に曝露された密閉封止型memsデバイス
US9062972B2 (en) 2012-01-31 2015-06-23 Fairchild Semiconductor Corporation MEMS multi-axis accelerometer electrode structure
US8978475B2 (en) 2012-02-01 2015-03-17 Fairchild Semiconductor Corporation MEMS proof mass with split z-axis portions
US8714021B2 (en) 2012-02-27 2014-05-06 Amphenol Thermometrics, Inc. Catheter die and method of fabricating the same
US8857264B2 (en) 2012-03-30 2014-10-14 Amphenol Thermometrics, Inc. Catheter die
US8754694B2 (en) 2012-04-03 2014-06-17 Fairchild Semiconductor Corporation Accurate ninety-degree phase shifter
US9488693B2 (en) 2012-04-04 2016-11-08 Fairchild Semiconductor Corporation Self test of MEMS accelerometer with ASICS integrated capacitors
US8742964B2 (en) 2012-04-04 2014-06-03 Fairchild Semiconductor Corporation Noise reduction method with chopping for a merged MEMS accelerometer sensor
EP2647955B8 (en) 2012-04-05 2018-12-19 Fairchild Semiconductor Corporation MEMS device quadrature phase shift cancellation
US9069006B2 (en) 2012-04-05 2015-06-30 Fairchild Semiconductor Corporation Self test of MEMS gyroscope with ASICs integrated capacitors
KR102058489B1 (ko) 2012-04-05 2019-12-23 페어차일드 세미컨덕터 코포레이션 멤스 장치 프론트 엔드 전하 증폭기
EP2647952B1 (en) 2012-04-05 2017-11-15 Fairchild Semiconductor Corporation Mems device automatic-gain control loop for mechanical amplitude drive
US9625272B2 (en) 2012-04-12 2017-04-18 Fairchild Semiconductor Corporation MEMS quadrature cancellation and signal demodulation
KR101999745B1 (ko) 2012-04-12 2019-10-01 페어차일드 세미컨덕터 코포레이션 미세 전자 기계 시스템 구동기
DE102013014881B4 (de) 2012-09-12 2023-05-04 Fairchild Semiconductor Corporation Verbesserte Silizium-Durchkontaktierung mit einer Füllung aus mehreren Materialien
EP2725334B1 (en) * 2012-10-25 2020-04-15 Invensense, Inc. A pressure sensor having a membrane and a method for fabricating the same
US9156676B2 (en) * 2013-04-09 2015-10-13 Honeywell International Inc. Sensor with isolated diaphragm
US9837935B2 (en) 2013-10-29 2017-12-05 Honeywell International Inc. All-silicon electrode capacitive transducer on a glass substrate
EP2871455B1 (en) 2013-11-06 2020-03-04 Invensense, Inc. Pressure sensor
EP2871456B1 (en) * 2013-11-06 2018-10-10 Invensense, Inc. Pressure sensor and method for manufacturing a pressure sensor
US9464950B2 (en) * 2013-11-15 2016-10-11 Rosemount Aerospace Inc. Capacitive pressure sensors for high temperature applications
CN103552980A (zh) * 2013-11-15 2014-02-05 安徽北方芯动联科微系统技术有限公司 Mems芯片圆片级封装方法及其单片超小型mems芯片
NO2777050T3 (ja) * 2014-02-25 2018-06-16
FI126599B (en) 2014-02-26 2017-03-15 Murata Manufacturing Co Microelectromechanical frame structure
CN105084296B (zh) * 2014-04-25 2017-02-08 无锡华润上华半导体有限公司 Mems电容式压力传感器的制作方法
EP3614115A1 (en) 2015-04-02 2020-02-26 InvenSense, Inc. Pressure sensor
US10697994B2 (en) 2017-02-22 2020-06-30 Semiconductor Components Industries, Llc Accelerometer techniques to compensate package stress
KR101988469B1 (ko) * 2017-07-26 2019-06-13 주식회사 신성씨앤티 멤스 센서 및 그 제조 방법
CN108051134A (zh) * 2017-11-23 2018-05-18 胡波 闭环工作方式的电容式压力传感器
CN108680138A (zh) * 2018-05-09 2018-10-19 中交第公路勘察设计研究院有限公司 软土地基路基大变形沉降自动监测系统及其方法
DE102018119943A1 (de) * 2018-08-16 2020-02-20 Endress+Hauser SE+Co. KG Drucksensor
US11225409B2 (en) 2018-09-17 2022-01-18 Invensense, Inc. Sensor with integrated heater
US11060929B2 (en) * 2019-03-04 2021-07-13 Silicon Microstructures, Inc. Pressure sensor die attach
EP3969868A1 (en) * 2019-05-17 2022-03-23 InvenSense, Inc. A pressure sensor with improve hermeticity

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61272623A (ja) * 1985-05-29 1986-12-02 Fuji Electric Co Ltd 静電容量式圧力センサ
JPH04326033A (ja) * 1991-02-28 1992-11-16 Robert Bosch Gmbh 圧力または加速度センサ
JPH06323939A (ja) * 1993-05-17 1994-11-25 Omron Corp 静電容量式センサ
JPH08122251A (ja) * 1994-10-19 1996-05-17 Mitsubishi Materials Corp 赤外線式ガス分析装置
JP2002328137A (ja) * 2001-04-27 2002-11-15 Matsushita Electric Works Ltd 加速度センサ及びその製造方法
WO2004084300A1 (en) * 2003-03-21 2004-09-30 Silex Microsystems Ab Electrical connections in substrates
JP2004356708A (ja) * 2003-05-27 2004-12-16 Hosiden Corp 音響検出機構及びその製造方法

Family Cites Families (23)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4617606A (en) * 1985-01-31 1986-10-14 Motorola, Inc. Capacitive pressure transducer
JPS6259828A (ja) * 1985-09-11 1987-03-16 Fuji Electric Co Ltd 静電容量式圧力センサ
FI78784C (fi) * 1988-01-18 1989-09-11 Vaisala Oy Tryckgivarkonstruktion och foerfarande foer framstaellning daerav.
US5511428A (en) 1994-06-10 1996-04-30 Massachusetts Institute Of Technology Backside contact of sensor microstructures
FR2722878B1 (fr) * 1994-07-22 1996-09-06 Suisse Electronique Microtech Capteur de pression differentielle de type capacitif
US6212056B1 (en) 1999-03-26 2001-04-03 Lucent Technologies Inc. Micromachined variable capacitor
JP3588286B2 (ja) 1999-10-06 2004-11-10 株式会社山武 容量式圧力センサ
US6396677B1 (en) * 2000-05-17 2002-05-28 Xerox Corporation Photolithographically-patterned variable capacitor structures and method of making
JP3629185B2 (ja) * 2000-06-15 2005-03-16 株式会社日立製作所 半導体センサ及びその製造方法
US6507475B1 (en) * 2000-06-27 2003-01-14 Motorola, Inc. Capacitive device and method of manufacture
US6377438B1 (en) * 2000-10-23 2002-04-23 Mcnc Hybrid microelectromechanical system tunable capacitor and associated fabrication methods
JP2002228678A (ja) * 2001-02-02 2002-08-14 Denso Corp 半導体力学量センサとその製造方法
WO2002080255A1 (en) 2001-03-16 2002-10-10 Corning Intellisense Corporation Electrostatically actuated micro-electro-mechanical devices and method of manufacture
WO2002096166A1 (en) * 2001-05-18 2002-11-28 Corporation For National Research Initiatives Radio frequency microelectromechanical systems (mems) devices on low-temperature co-fired ceramic (ltcc) substrates
US6909589B2 (en) * 2002-11-20 2005-06-21 Corporation For National Research Initiatives MEMS-based variable capacitor
JP4159895B2 (ja) 2003-02-17 2008-10-01 キヤノンアネルバ株式会社 静電容量型圧力センサ及びその製造方法
US6928879B2 (en) * 2003-02-26 2005-08-16 Robert Bosch Gmbh Episeal pressure sensor and method for making an episeal pressure sensor
US6930368B2 (en) 2003-07-31 2005-08-16 Hewlett-Packard Development Company, L.P. MEMS having a three-wafer structure
US7111518B1 (en) 2003-09-19 2006-09-26 Silicon Microstructures, Inc. Extremely low cost pressure sensor realized using deep reactive ion etching
US20050172717A1 (en) 2004-02-06 2005-08-11 General Electric Company Micromechanical device with thinned cantilever structure and related methods
JP2005233877A (ja) 2004-02-23 2005-09-02 Alps Electric Co Ltd 圧力センサ
CN1314969C (zh) * 2004-04-29 2007-05-09 中国科学院上海微系统与信息技术研究所 一种单硅片体微机械工艺实现的带静电自检测的加速度计
US7272954B2 (en) * 2004-07-14 2007-09-25 L'air Liquide, Societe Anonyme A Directoire Et Conseil De Surveillance Pour L'etude Et L'exploitation Des Proceded Georges Claude Low temperature air separation process for producing pressurized gaseous product

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61272623A (ja) * 1985-05-29 1986-12-02 Fuji Electric Co Ltd 静電容量式圧力センサ
JPH04326033A (ja) * 1991-02-28 1992-11-16 Robert Bosch Gmbh 圧力または加速度センサ
JPH06323939A (ja) * 1993-05-17 1994-11-25 Omron Corp 静電容量式センサ
JPH08122251A (ja) * 1994-10-19 1996-05-17 Mitsubishi Materials Corp 赤外線式ガス分析装置
JP2002328137A (ja) * 2001-04-27 2002-11-15 Matsushita Electric Works Ltd 加速度センサ及びその製造方法
WO2004084300A1 (en) * 2003-03-21 2004-09-30 Silex Microsystems Ab Electrical connections in substrates
JP2004356708A (ja) * 2003-05-27 2004-12-16 Hosiden Corp 音響検出機構及びその製造方法

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