JP2013170930A - 電子部品の検査方法、これを行うための電気的特性検査装置及び電子部品の端子 - Google Patents

Abstract

【課題】電子部品の端子とプローブピンとを安定して接触させ、電子部品の電気的特性検査を正確に行う。
【解決手段】電子部品に突出して設けられている端子２０に加工を施し、プローブピン１２が端子２０に接触する際に、端子２０がプローブピン１２から受ける荷重に対する変形を、端子２０自体が有する剛性を利用して抑制可能な形状の接触面２０ａを、端子２０に形成する。そして、端子２０に形成されている接触面２０ａに対して、接触面２０ａと直交する方向から、電気的特性検査装置１０のプローブピン１２を接触させる。これにより、端子２０にプローブピン１２を安定して接触させることができるため、電子部品の電気的特性の検査を正確に行うことが可能となる。
【選択図】図１

Description

本発明は、電子部品の検査方法、これを行うための電気的特性検査装置及び電子部品の端子に関するものである。

従来から、電気的特性を有する電子部品の検査をするために、様々な方法が発案されている。例えば、電子部品がプリント基板実装用のＩＣチップである場合には、ＩＣチップに設けられている端子に、電気的特性検査装置のプローブピンを接触させ、テスト信号や回路駆動電力等の入力を行い、ＩＣチップからの出力信号をモニタリングすることにより、電気的特性を検査する方法が存在する。この方法において、電気的特性の正確な検査を行うために、プローブピンをＩＣチップの端子に安定して接触させる必要があり、そのための創意工夫が、ＩＣチップの端子、或いは、プローブピンを有する電気的特性検査装置に関して発案されている（例えば、特許文献１参照）。

又、電気的特性を有する電子部品がパワーモジュール等である場合に、電子部品から突出した検査用端子が予め設けられていることがあり、この場合においても、電気的特性検査装置のプローブピンを検査用端子に接触させ、電気的特性の検査を行う。図５は、このような検査方法を概略的に示しており、電子部品の端子１１０に対し、電気的特性検査装置１００のプローブピン１０２を接触させる様子を示している。この検査方法において、電気的特性検査装置１００のプローブピン１０２を、端子１１０に接触させる際には、図５（ａ）に示すように、電子部品に設けられている複数（図示では４つ）の端子１１０に対して、夫々の端子１１０の接触面１１０ａと略直交する方向から、同じく複数（図示では４つ）のプローブピン１０２を接近させ、接触させるものである。

特開２００６−１８６１７６号公報

ところで、図５に示す電気的特性検査装置１００のプローブピン１０２は、端子１１０に適度な圧力で接触するために、内部にばね１０４を有するスプリングプローブピンとなっており、更に、その先端部に、面接触を行うための接触面１０２ａを有している。一方、電子部品の端子１１０は、例えば、プリント基板に半田付けするための応力緩和の必要性から、十分に弾性を持つ必要がある。このため、端子１１０の接触面１１０ａと略直交する方向から、プローブピン１０２を接触させると、図５（ｂ）に示すように、プローブピン１０２の荷重により、端子１１０が図中左側方向へ撓るように変形する。そして、プローブピン１０２の接触面１０２ａと、端子１１０の接触面１１０ａとが、面接触をせずに片当たり状態（図中符号Ａ参照）となり、接触が不安定になってしまう。この結果、接触箇所を介して送受信する電気信号等も不安定となり、端子１１０を有する電子部品の電気的特性の検査を、正確に行うことができなくなってしまう。
本発明は上記課題に鑑みてなされたものであり、その目的とするところは、電子部品の端子とプローブピンとを安定して接触させ、電子部品の電気的特性検査を正確に行うことにある。

（発明の態様）
以下の発明の態様は、本発明の構成を例示するものであり、本発明の多様な構成の理解を容易にするために、項別けして説明するものである。各項は、本発明の技術的範囲を限定するものではない。そのため、発明を実施するための最良の形態を参酌しつつ、各項の構成要素の一部を置換し、削除し、又は、更に他の構成要素を付加したものについても、本願発明の技術的範囲に含まれ得るものである。

（１）電子部品に設けられている端子にプローブピンを接触させることにより、電気的特性を検査する検査方法であって、前記端子に、該端子自体の剛性を利用して、前記プローブピンから受ける荷重に対する変形を抑制可能な形状を有する接触面が形成されるように加工を施し、前記端子の接触面に対して、該接触面と直交する方向から前記プローブピンを接触させることにより、電気的特性を検査する電子部品の検査方法（請求項１）。

本項に記載の電子部品の検査方法は、検査対象の電子部品に突出して設けられている端子に、電気的特性検査装置のプローブピンを接触させることにより、電子部品の電気的特性を検査する方法である。そして、本検査方法は、電子部品の端子に加工を施し、プローブピンが端子に接触する際に、端子がプローブピンから受ける荷重に対する変形を、端子自体が有する剛性を利用して抑制可能な形状の接触面を、端子に形成するものである。すなわち、端子に形成された接触面にプローブピンが接触し、プローブピンから端子に荷重がかかる際にも、端子自体が有する剛性を利用して、端子が変形し難くなるような形状を、端子の接触面が有している。従って、端子に形成された接触面に対して、例えば、接触方向にばね性を有するスプリングプローブピン等を接触させる場合であっても、端子が撓る等の変形をすることなく、安定して接触させるものとなる。

更に、本項に記載の電子部品の検査方法は、電子部品の端子に形成された接触面に対して、接触面と直交する方向から、電気的特性検査装置のプローブピンを接触させるものである。このため、端子に形成された接触面は、プローブピンからの荷重を正面方向から受けることとなり、端子の剛性を担持する部分に、荷重を効果的に分散させる。従って、端子の接触面と、プローブピンとの接触位置がずれるようなこともなく、安定して接触するものとなる。

（２）上記（１）項において、前記端子に、該端子の根元近辺での表裏面と直交する接触面が形成されるように加工を施す電子部品の検査方法（請求項２）。
本項に記載の電子部品の検査方法は、電子部品の端子に形成する接触面を、端子の根元近辺での表裏面、すなわち、端子の電子部品側端部周辺における、端子の長手方向の断面形状で比較的長い２辺を有する端子の２面と、直交するように形成するものである。これにより、端子の接触面に対して、接触面と直交する方向からプローブピンを接触させる際に、端子がプローブピンから受ける荷重を、端子の変形を抑制可能な、端子の根元近辺での表裏面と直交する面で受けることになるため、端子の根元近辺での表裏面と平行な面で荷重を受ける場合と比較して、端子が撓るような変形をすることがない。このため、電子部品の端子に、電気的特性検査装置のプローブピンが安定して接触するものとなる。

（３）上記（２）項において、前記端子に、該端子の長手方向と直交する接触面が形成されるように折り曲げ加工を施す電子部品の検査方法（請求項３）。
本項に記載の電子部品の検査方法は、電子部品の端子に折り曲げ加工を施し、端子の長手方向と直交するように接触面を形成するものである。従って、端子の接触面に対して、接触面と直交する方向からプローブピンを接触させる際に、端子がプローブピンから受ける荷重を、端子の剛性を担持する部分、すなわち、端子の変形を抑制可能な、端子の長手方向に受けることになるため、端子が変形することなく、安定して接触させるものとなる。

（４）上記（３）項において、前記端子を互いに直交する方向に２回折り曲げる電子部品の検査方法。
本項に記載の電子部品の検査方法は、電子部品の端子に折り曲げ加工を施す際に、端子を互いに直交する方向に２回折り曲げることによって、端子の長手方向と直交する接触面を形成するものである。これにより、端子の剛性を損なうような極度の折り曲げ角度ではなく、略９０度の折り曲げ角度で、端子の長手方向と直交する接触面が形成されることになる。このため、端子の剛性を損なわずに、上記（３）項と同様の作用を奏するものとなる。

（５）上記（４）項において、２回目の折り曲げを、１回目の折り曲げ方向とは逆方向に折り曲げる電子部品の検査方法。
本項に記載の電子部品の検査方法は、電子部品の端子を、互いに直交する方向に２回折り曲げる際に、２回目の折り曲げを、１回目の折り曲げ方向とは逆方向に折り曲げることにより、上記（４）項と同様の作用を奏するものである。

（６）上記（２）項において、前記端子に、該端子の根元近辺での表裏面と直交し、かつ、前記端子の長手方向と平行な接触面が形成されるように捩り加工を施す電子部品の検査方法。
本項に記載の電子部品の検査方法は、電子部品の端子に捩り加工を施し、端子の根元近辺での表裏面と直交し、かつ、端子の長手方向と平行となるような接触面を形成するものである。すなわち、端子の中途部で、端子を略９０度捩ることにより、接触面を形成する。これにより、端子の接触面に対して、接触面と直交する方向からプローブピンを接触させる際に、端子がプローブピンから受ける荷重を、端子の剛性を担持する部分、すなわち、端子の変形を抑制可能な、端子の根元近辺での長方形断面形状の長尺方向に受けることになるため、端子が変形することなく、安定して接触させるものとなる。

（７）上記（１）項に記載の検査方法に用いられる検査装置であって、前記端子の接触面に対して、該接触面と直交する方向から接触するプローブピンを含む電子部品の電気的特性検査装置（請求項４）。
本項に記載の電子部品の電気的特性検査装置は、電子部品の端子に形成されている接触面に対して、接触面と直交する方向から接触するプローブピンを含むものである。すなわち、端子の接触面とプローブピンとの接触面積を、最も広く確保することが可能な向きに合わせた方向から、電子部品の端子にプローブピンを接触させる。例えば、端子の接触面が、端子の長手方向の先端側を向いて形成されている場合は、本項に記載の電子部品の電気的特性検査装置は、プローブピンを、端子の長手方向の先端側から接触面へ接触させる。これにより、電子部品の端子に形成されている接触面に対して、安定して接触する方向から、プローブピンを接触させるものとなる。

（８）上記（７）項において、前記プローブピンの先端に、該プローブピンの長手方向と直交する接触面が設けられている電子部品の電気的特性検査装置（請求項５）。
本項に記載の電子部品の電気的特性検査装置は、プロ−ブピンの先端に、プローブピンの長手方向と直交する接触面が設けられていることにより、プローブピンを、電子部品の端子に形成されている接触面に対して、端子の接触面と直交する方向から接触させる際に、端子の接触面と、プローブピンの接触面とが、面接触をする状態となる。このため、端子の接触面と、プローブピンの接触面とが、広い面積で安定して接触するものとなる。

（９）上記（７）（８）項において、電子部品の端子に形成されている接触面の向きを判別する機能を有する電子部品の電気的特性検査装置。
本項に記載の電子部品の電気的特性検査装置は、電子部品の端子に形成されている接触面の向きを判別する機能を有しているものである。これにより、端子の接触面の向きが異なる複数種類の電子部品に対して、同じ電気的特性検査装置が、端子の接触面の向きを判別し、その向きに直交する方向からプローブピンを接触させる。従って、端子の接触面の向きが異なる複数種類の電子部品に対しても、適切な方向から安定してプローブピンを接触させるものとなる。

（１０）上記（１）項に記載の検査方法に供される電子部品の端子であって、加工が施されていることにより、自身の剛性を利用して、前記プローブピンから受ける荷重に対する変形を抑制可能な形状を有する接触面が形成されている電子部品の端子（請求項６）。
（１１）上記（１０）項において、加工が施されていることにより、根元近辺での表裏面と直交する接触面が形成されている電子部品の端子（請求項７）。

（１２）上記（１１）項において、折り曲げ加工が施されていることにより、前記接触面が長手方向と直交している電子部品の端子（請求項８）。
（１３）上記（１２）項において、互いに直交する方向に２回折り曲げることにより、前記接触面が形成されている電子部品の端子。

（１４）上記（１３）項において、２回目の折り曲げ方向が、１回目の折り曲げ方向とは逆方向である電子部品の端子。
（１５）上記（１１）項において、捩り加工が施されていることにより、前記接触面が根元近辺での表裏面と直交し、かつ、長手方向と平行である電子部品の端子。
そして、上記（１０）から（１５）項に記載の電子部品の端子は、上記特徴を有していることにより、これらの端子を有する電子部品に対して電気的特性の検査を行う際に、各々、上記（１）から（６）項の電子部品の検査方法に対応する作用を奏するものとなる。

本発明はこのように構成したので、電子部品の端子とプローブピンとを安定して接触させ、電子部品の電気的特性検査を正確に行うことができる。

本発明の実施の形態に係る電子部品の検査方法を模式的に示す模式図である。 本発明の実施の形態に係る電子部品の端子の形状を模式的に示す斜視図である。 本発明の実施の形態に係る電子部品の検査方法の手順を模式的に示すフローチャートである。 本発明の別の実施の形態に係る電子部品の端子の形状を模式的に示す模式図である。 従来の電子部品の検査方法を概略的に示すものであり、（ａ）はプローブピンを端子に接触させる前の斜視図、（ｂ）はプローブピンを端子に接触させたときの模式図である。

以下、本発明の実施の形態を図面に基づき説明する。ここで、従来技術と同一部分、若しくは相当する部分については同一符号で示し、詳しい説明を省略する。
図１は、本発明の実施の形態に係る電子部品の検査方法を模式的に示している。図示のように、本発明の実施の形態に係る電子部品の検査方法は、電子部品の端子２０に対して、電気的特性検査装置１０のプローブピン１２を接触させることにより、電子部品の電気的特性の検査を行う。電子部品の端子２０は、図２の斜視図に示すような形状を有しており、互いに直交する方向に２回折り曲げられ、２回目の折り曲げ方向が、１回目の折り曲げ方向とは逆方向になっている。すなわち、図１を参照して説明すると、端子２０の中途部で図中右方向に略直角に折り曲げられ、その折り曲げ箇所から端子２０の先端側に進んだ箇所で、図中上方向に略直角に折り曲げられている。このような折り曲げ加工が施されているため、電子部品の端子２０には、１回目の折り曲げ箇所と２回目の折り曲げ箇所との間に、図中上方向を向いた接触面２０ａが形成されている。

一方、電気的特性検査装置１０のプローブピン１２は、その先端に、プローブピン１２の長手方向と直交する接触面１２ａを有している。このプローブピン１２は、端子２０に適切な圧力で接触するために、例えば、スプリングプローブピンのように、接触方向にばね性を有するものであることが望ましい。
そして、本発明の実施の形態に係る電子部品の検査方法は、電子部品の端子２０に、電気的特性検査装置１０のプローブピン１２を接触させる際に、図示のように、端子２０の接触面２０ａに対して、接触面２０ａと直交する方向、すなわち、図中上方から、プローブピン１２を接触させる。このように接触させることによって、プローブピン１２の長手方向と直交する、プローブピン１２の先端の接触面１２ａが、端子２０の接触面２０ａに対して、面接触をする状態となる。

次に、図３で示すフローチャートを参照しながら、本発明の実施の形態に係る電子部品の検査方法の手順を概略的に説明する。なお、電気的特性検査装置１０のプローブピン１２、及び、電子部品の端子２０の構造については、適宜、図１を参照されたい。
Ｓ１０：端子２０を有する検査対象の電子部品を、位置決め治具等を用い、本発明の実施の形態に係る電子部品の検査方法により検査を行うための所定位置にセットする。
Ｓ２０：電気的特性検査装置１０のプローブピン１２を、所定位置にセットされた電子部品の端子２０に圧接させる。この際に、図１に示すように、端子２０に形成されている接触面２０ａに対して、接触面２０ａと直交する方向から、プローブピン１２の先端の接触面１２ａを接触させる。
Ｓ３０：上記Ｓ２０で接触させた、電気的特性検査装置１０のプローブピン１２と、電子部品の端子２０との接触不良の有無を確認する。確認の方法として、例えば、カメラ等で接触箇所を監視するようにしてもよい。

Ｓ４０：上記Ｓ３０の確認により、接触不良が無い場合（ＹＥＳ）はＳ６０へ移行し、接触不良が有る場合（ＮＯ）はＳ５０へ移行する。
Ｓ５０：上記Ｓ４０で接触不良が有ると判定された場合、電子部品の端子２０に対する、電気的特性検査装置１０のプローブピン１２の接触を、所定回数やり直したか否かを確認する。そして、当該接触を所定回数やり直していない場合（ＮＯ）は、上記Ｓ２０へ移行し、再度接触を試みる。一方、当該接触を所定回数やり直した場合（ＹＥＳ）は、検査対象の電子部品に対して不良品の処置を行う。
なお、プローブピン１２を、端子２０に対して接触不良なく接触させた場合に実行する、Ｓ６０〜Ｓ９０の検査手順内容は、図５に示した従来の検査方法で実行する検査手順内容と同様であるため、図示のみとして詳しい説明を省略する。

ここで、本発明の別の実施の形態に係る電子部品の端子について説明する。図４（ａ）〜（ｄ）は、夫々、本発明の別の実施の形態に係る電子部品の端子を、側面方向から模式的に示したものである。まず、図４（ａ）で示す端子３０は、図１及び図２で示す端子２０と同様に、互いに直交する方向に２回折り曲げられているが、２回目の折り曲げ方向が、端子２０と異なり、図中下方向に略直角に折り曲げられている。このような折り曲げ加工が施されているため、端子３０には、１回目の折り曲げ箇所と２回目の折り曲げ箇所との間に、図中上方向を向いた接触面３０ａが形成されている。
次に、図４（ｂ）で示す端子４０は、その先端部より図中下側の位置で、図中右方向に略直角に折り曲げられている。このような折り曲げ加工が施されているため、端子４０には、その先端部近辺に、図中上方向を向いた接触面４０ａが形成されている。

続いて、図４（ｃ）で示す端子５０は、図から確認できるように、３箇所で折り曲げられている。まず、端子５０の中途部で図中左上方向に折り曲げられ、その折り曲げ箇所から端子５０の先端側に進んだ箇所で、図中右方向に折り曲げられ、更に、端子５０の先端部手前で、図中左下方向に折り曲げられている。このような折り曲げ加工が施されているため、端子５０には、その先端部近辺に、図中上方向を向いた接触面５０ａが形成されている。すなわち、図中上方向を向いた接触面５０ａが形成されるのであれば、各折り曲げ角度は直角に限定されるものではない。
又、図４（ｄ）で示す端子６０は、その中途部の捩り箇所６０ｃで、図中手前方向に略９０度捩られている。このような捩り加工が施されているため、端子６０には、捩り箇所６０ｃから先端部にかけて、図中手前方向を向いた接触面６０ａが形成されている。
すなわち、以下に説明するように、本発明の実施の形態に係る電子部品の端子は、プローブピンから受ける荷重による変形を、端子自身の剛性によって抑制できる形状の接触面が形成されるように、端子の剛性が保たれる範囲で加工を施したものであればよい。

さて、上記構成をなす本発明の実施の形態によれば、次のような作用効果を得ることが可能である。すなわち、本発明の実施の形態に係る電子部品の検査方法は、図１に示すように、検査対象の電子部品に突出して設けられている端子２０に、電気的特性検査装置１０のプローブピン１２を接触させることにより、電子部品の電気的特性を検査するものである。そして、本検査方法は、電子部品の端子２０に加工を施し、プローブピン１２が端子２０に接触する際に、端子２０がプローブピン１２から受ける荷重に対する変形を、端子２０自体が有する剛性を利用して抑制可能な形状の接触面２０ａ（３０ａ〜６０ａ）を、端子２０に形成するものである。すなわち、端子２０に形成された接触面２０ａにプローブピン１２が接触し、プローブピン１２から端子２０に荷重がかかる際にも、端子２０自体が有する剛性を利用して、端子２０が変形し難くなるような形状を、端子２０の接触面２０ａが有している。図１の例では、端子２０に折り曲げ加工が施されており、２回目の折り曲げ方向が１回目の折り曲げ方向とは逆方向になるように、互いに直交する方向に２回折り曲げることで、接触面２０ａが形成されている。従って、端子２０に形成された接触面２０ａに対して、例えば、接触方向にばね性を有するスプリングプローブピン等を接触させる場合であっても、端子２０が撓る等の変形をすることなく、安定して接触させることが可能となり、電子部品の電気的特性の検査を正確に行うことができる。

更に、本発明の実施の形態に係る電子部品の検査方法は、電子部品の端子２０に形成された接触面２０ａに対して、接触面２０ａと直交する方向（図中上方）から、電気的特性検査装置１０のプローブピン１２を接触させるものである。このため、端子２０に形成された接触面２０ａは、プローブピン１２からの荷重を正面方向から受けることとなり、端子２０の剛性を担持する部分に、荷重を効果的に分散させることができる。従って、端子２０の接触面２０ａと、プローブピン１２との接触位置がずれるようなこともなく、安定して接触することができるため、電子部品の電気的特性の検査を正確に行うことが可能となる。

又、本発明の実施の形態に係る電子部品の検査方法は、電子部品の端子２０に形成する接触面２０ａを、端子２０の根元近辺での表裏面２０ｂ、すなわち、端子２０の電子部品側（図中下側）端部周辺における、端子２０の長手方向の断面形状で比較的長い２辺を有する端子の２面と、直交するように形成するものである。これにより、端子２０の接触面２０ａに対して、接触面２０ａと直交する方向（図中上方）からプローブピン１２を接触させる際に、端子２０がプローブピンから受ける荷重を、端子２０の変形を抑制可能な、端子２０の根元近辺での表裏面２０ｂと直交する面（２０ａ）で受けることになるため、端子２０の根元近辺での表裏面２０ｂと平行な面で荷重を受ける場合と比較して、端子２０が撓るような変形をすることがない。このため、電子部品の端子２０に、電気的特性検査装置１０のプローブピン１２が安定して接触することができ、電子部品の電気的特性の検査を正確に行うことができる。

更に、本発明の実施の形態に係る電子部品の検査方法は、図４（ａ）（ｂ）に示すように、電子部品の端子３０、４０に折り曲げ加工を施す際に、端子３０は互いに直交する方向に２回、端子４０は互いに直交する方向に１回折り曲げることによって、端子３０、４０の長手方向（図中上下方向）と直交する接触面３０ａ、４０ａを形成してもよい。これにより、端子３０、４０の剛性を損なうような極度の折り曲げ角度ではなく、略９０度の折り曲げ角度で、端子３０、４０の長手方向と直交する接触面が形成されることになる。このため、端子３０、４０ａの接触面３０ａ、４０ａに対して、接触面３０ａ、４０ａと直交する方向（図中上方）からプローブピン１２を接触させる際に、端子３０、４０がプローブピン１２から受ける荷重を、端子３０、４０の剛性を担持する部分、すなわち、端子３０、４０の変形を抑制可能な、端子３０、４０の長手方向に受けることになる。更に、折り曲げ加工により端子３０、４０の剛性が損なわれることはないため、端子３０、４０が変形することなく、安定して接触させることが可能となる。このため、電子部品の電気的特性の検査を正確に行うことができる。

又、本発明の実施の形態に係る電子部品の検査方法は、図４（ｃ）に示すように、電子部品の端子５０に折り曲げ加工を施す際に、折り曲げ角度を直角に限定せずに、端子５０の長手方向（図中上下方向）と直交するように接触面５０ａを形成してもよい。この場合においても、端子５０の接触面５０ａに対して、接触面５０ａと直交する方向（図中上方）からプローブピン１２を接触させる際に、端子５０がプローブピン１２から受ける荷重を、端子５０の剛性を担持する部分、すなわち、端子５０の変形を抑制可能な、端子５０の長手方向に受けることになる。このため、端子５０が変形することなく、安定して接触させることが可能となり、電子部品の電気的特性の検査を正確に行うことができる。

又、本発明の実施の形態に係る電子部品の検査方法は、図４（ｄ）に示すように、電子部品の端子６０に捩り加工を施し、端子６０の根元近辺での表裏面６０ｂと直交し、かつ、端子６０の長手方向（図中上下方向）と平行となるような接触面６０ａを形成してもよい。すなわち、端子６０の中途部の捩り箇所６０ｃで、端子６０を略９０度捩ることにより、接触面６０ａを形成する。これにより、端子６０の接触面６０ａに対して、接触面６０ａと直交する方向（紙面と直交する方向）からプローブピン１２を接触させる際に、端子６０がプローブピン１２から受ける荷重を、端子６０の剛性を担持する部分、すなわち、端子６０の変形を抑制可能な、端子６０の根元近辺での長方形断面形状の長尺方向（紙面と直交する方向）に受けることになる。このため、端子６０が変形することなく、安定して接触させることができ、電子部品の電気的特性の検査を正確に行うことが可能となる。

又、本発明の実施の形態に係る電子部品の電気的特性検査装置１０は、図１に示すように、電子部品の端子２０に形成されている接触面２０ａに対して、接触面２０ａと直交する方向から接触するプローブピン１２を含むものである。すなわち、端子２０の接触面２０ａとプローブピン１２との接触面積を、最も広く確保することが可能な向きに合わせた方向から、電子部品の端子２０にプローブピン１２を接触させる。例えば、図示のように、端子２０の接触面２０ａが、端子２０の長手方向の先端側（図中上側）を向いて形成されている場合は、本発明の実施の形態に係る電子部品の電気的特性検査装置１０は、プローブピン１２を、端子２０の長手方向の先端側（図中上側）から接触面２０ａへ接触させる。これにより、電子部品の端子２０に形成されている接触面２０ａに対して、安定して接触する方向から、プローブピン１２を接触させることとなるため、電子部品の電気的特性の検査を正確に行うことができる。

更に、本発明の実施の形態に係る電子部品の電気的特性検査装置１０は、プロ−ブピン１２の先端に、プローブピン１２の長手方向（図中上下方向）と直交する接触面１２ａが設けられている。これにより、プローブピン１２を、電子部品の端子２０に形成されている接触面２０ａに対して、端子２０の接触面２０ａと直交する方向（図中上方）から接触させる際に、端子２０の接触面２０ａと、プローブピン１２の接触面１２ａとが、面接触をする状態となる。このため、端子２０の接触面２０ａと、プローブピン１２の接触面１２ａとが、広い面積で安定して接触することができ、電子部品の電気的特性の検査を正確に行うことが可能となる。

なお、更なる応用例として、本発明の実施の形態に係る電子部品の電気的特性検査装置１０は、電子部品の端子２０に形成されている接触面２０ａの向きを判別する機能を有していてもよい。この場合には、端子２０の接触面２０ａの向きが異なる複数種類の電子部品に対して、同じ電気的特性検査装置１０が、端子２０の接触面２０ａの向きを判別し、その向きに直交する方向からプローブピン１２を接触させる。従って、端子２０の接触面２０ａの向きが異なる複数種類の電子部品に対しても、適切な方向から安定してプローブピン１２を接触させることができるため、電気的特性の検査を正確に行うことができる。

そして、本発明の実施の形態に係る電子部品の端子２０、３０、４０、５０、６０は、本発明の実施の形態に係る電子部品の検査方法に供されることにより、上述したような本発明の実施の形態に係る電子部品の検査方法と同様の作用効果を奏するものとなる。

１０：電気的特性検査装置、１２：プローブピン、１２ａ：接触面、２０、３０、４０、５０、６０：端子、２０ａ、３０ａ、４０ａ、５０ａ、６０ａ：接触面、２０ｂ、６０ｂ：端子根元近辺の表裏面

Claims (8)

1. 電子部品に設けられている端子にプローブピンを接触させることにより、電気的特性を検査する検査方法であって、
   前記端子に、該端子自体の剛性を利用して、前記プローブピンから受ける荷重に対する変形を抑制可能な形状を有する接触面が形成されるように加工を施し、
   前記端子の接触面に対して、該接触面と直交する方向から前記プローブピンを接触させることにより、電気的特性を検査することを特徴とする電子部品の検査方法。
2. 前記端子に、該端子の根元近辺での表裏面と直交する接触面が形成されるように加工を施すことを特徴とする請求項１記載の電子部品の検査方法。
3. 前記端子に、該端子の長手方向と直交する接触面が形成されるように折り曲げ加工を施すことを特徴とする請求項２記載の電子部品の検査方法。
4. 請求項１に記載の検査方法に用いられる検査装置であって、前記端子の接触面に対して、該接触面と直交する方向から接触するプローブピンを含むことを特徴とする電子部品の電気的特性検査装置。
5. 前記プローブピンの先端に、該プローブピンの長手方向と直交する接触面が設けられていることを特徴とする請求項４記載の電子部品の電気的特性検査装置。
6. 請求項１に記載の検査方法に供される電子部品の端子であって、加工が施されていることにより、自身の剛性を利用して、前記プローブピンから受ける荷重に対する変形を抑制可能な形状を有する接触面が形成されていることを特徴とする電子部品の端子。
7. 加工が施されていることにより、根元近辺での表裏面と直交する接触面が形成されていることを特徴とする請求項６記載の電子部品の端子。
8. 折り曲げ加工が施されていることにより、前記接触面が長手方向と直交していることを特徴とする請求項７記載の電子部品の端子。

Images