JP2013170930A5 - 電子部品の検査方法、これを行うための電気的特性検査装置及び電子部品 - Google Patents

Description

本発明は、電子部品の検査方法、これを行うための電気的特性検査装置及び電子部品に関するものである。

（７）電子部品に設けられた端子にプローブピンを接触させることにより、電気的特性を検査する検査装置であって、前記プローブピンから受ける荷重に対する変形を、前記端子自体の剛性を利用して、抑制可能な形状を有する接触面が形成された端子を備える、電子部品を検査対象として、前記プローブピンが、前記端子の接触面に対して、前記接触面と直交する方向から接触するように構成されている電子部品の電気的特性検査装置（請求項４）。
本項に記載の電子部品の電気的特性検査装置は、電子部品に設けられた端子に接触させるためのプローブピンを有している。又、本検査装置が検査対象とする電子部品は、プローブピンにより接触される端子に、プローブピンから受ける荷重に対する変形を、端子自体の剛性を利用して抑制可能な形状を有する接触面が形成されているものである。従って、端子に形成された接触面にプローブピンが接触して、プローブピンから端子に荷重がかかる際にも、端子自体の剛性を利用して端子の変形が抑制されるため、端子が撓る等の変形をすることなく、安定して接触するものとなる。
更に、本項に記載の電子部品の電気的特性検査装置は、プローブピンが、上記のような端子の接触面に対して、接触面と直交する方向から接触するように構成されているものである。すなわち、端子の接触面とプローブピンとの接触面積を、最も広く確保することが可能な向きに合わせた方向から、電子部品の端子にプローブピンを接触させる。例えば、端子の接触面が、端子の長手方向の先端側を向いて形成されている場合は、本項に記載の電子部品の電気的特性検査装置は、プローブピンを、端子の長手方向の先端側から接触面へ接触させる。これにより、電子部品の端子に形成されている接触面に対して、安定して接触する方向から、プローブピンを接触させるものとなる。

（１０）電気的特性を検査するプローブピンを接触させるための、接触面が形成された端子を備える電子部品であって、前記端子の接触面は、前記プローブピンから前記接触面と直交する方向に受ける荷重に対する前記端子の変形を、前記端子自体の剛性を利用して抑制可能な形状を有する、前記端子自体を変形加工して形成された面である電子部品（請求項６）。
（１１）上記（１０）項において、前記変形加工が施されていることにより、根元近辺での表裏面と直交する接触面が形成されている電子部品（請求項７）。

（１２）上記（１１）項において、前記変形加工として、折り曲げ加工が施されていることにより、前記接触面が長手方向と直交している電子部品（請求項８）。
（１３）上記（１２）項において、互いに直交する方向に２回折り曲げることにより、前記接触面が形成されている電子部品。

（１４）上記（１３）項において、２回目の折り曲げ方向が、１回目の折り曲げ方向とは逆方向である電子部品。
（１５）上記（１１）項において、捩り加工が施されていることにより、前記接触面が根元近辺での表裏面と直交し、かつ、長手方向と平行である電子部品。
そして、上記（１０）から（１５）項に記載の電子部品は、上記特徴を有していることにより、これらの電子部品に対して電気的特性の検査を行う際に、各々、上記（１）から（６）項の電子部品の検査方法に対応する作用を奏するものとなる。

ここで、本発明の別の実施の形態に係る電子部品について説明する。図４（ａ）〜（ｄ）は、夫々、本発明の別の実施の形態に係る電子部品が有する端子を、側面方向から模式的に示したものである。まず、図４（ａ）で示す端子３０は、図１及び図２で示す端子２０と同様に、互いに直交する方向に２回折り曲げられているが、２回目の折り曲げ方向が、端子２０と異なり、図中下方向に略直角に折り曲げられている。このような折り曲げ加工が施されているため、端子３０には、１回目の折り曲げ箇所と２回目の折り曲げ箇所との間に、図中上方向を向いた接触面３０ａが形成されている。
次に、図４（ｂ）で示す端子４０は、その先端部より図中下側の位置で、図中右方向に略直角に折り曲げられている。このような折り曲げ加工が施されているため、端子４０には、その先端部近辺に、図中上方向を向いた接触面４０ａが形成されている。

続いて、図４（ｃ）で示す端子５０は、図から確認できるように、３箇所で折り曲げられている。まず、端子５０の中途部で図中左上方向に折り曲げられ、その折り曲げ箇所から端子５０の先端側に進んだ箇所で、図中右方向に折り曲げられ、更に、端子５０の先端部手前で、図中左下方向に折り曲げられている。このような折り曲げ加工が施されているため、端子５０には、その先端部近辺に、図中上方向を向いた接触面５０ａが形成されている。すなわち、図中上方向を向いた接触面５０ａが形成されるのであれば、各折り曲げ角度は直角に限定されるものではない。
又、図４（ｄ）で示す端子６０は、その中途部の捩り箇所６０ｃで、図中手前方向に略９０度捩られている。このような捩り加工が施されているため、端子６０には、捩り箇所６０ｃから先端部にかけて、図中手前方向を向いた接触面６０ａが形成されている。
すなわち、以下に説明するように、本発明の実施の形態に係る電子部品は、プローブピンから受ける荷重による変形を、端子自身の剛性によって抑制できる形状の接触面が形成されるように、端子の剛性が保たれる範囲で端子に加工を施したものであればよい。

又、本発明の実施の形態に係る電子部品の電気的特性検査装置１０は、図１に示すように、電子部品に設けられた端子２０に接触させるためのプローブピン１２を有している。又、本検査装置１０が検査対象とする電子部品は、プローブピン１２により接触される端子２０に、プローブピン１２から受ける荷重に対する変形を、端子２０自体の剛性を利用して抑制可能な形状を有する接触面２０ａが形成されているものである。従って、端子２０に形成された接触面２０ａにプローブピン１２が接触して、プローブピン１２から端子２０に荷重がかかる際にも、端子２０自体の剛性を利用して端子２０の変形を抑制することができるため、端子２０が撓る等の変形をすることなく、安定して接触させることが可能となる。
更に、本発明の実施の形態に係る電子部品の電気的特性検査装置１０は、プローブピン１２が、上記のような端子２０の接触面２０ａに対して、接触面２０ａと直交する方向から接触するように構成されているものである。すなわち、端子２０の接触面２０ａとプローブピン１２との接触面積を、最も広く確保することが可能な向きに合わせた方向から、電子部品の端子２０にプローブピン１２を接触させる。例えば、図示のように、端子２０の接触面２０ａが、端子２０の長手方向の先端側（図中上側）を向いて形成されている場合は、本発明の実施の形態に係る電子部品の電気的特性検査装置１０は、プローブピン１２を、端子２０の長手方向の先端側（図中上側）から接触面２０ａへ接触させる。これにより、電子部品の端子２０に形成されている接触面２０ａに対して、安定して接触する方向から、プローブピン１２を接触させることとなるため、電子部品の電気的特性の検査を正確に行うことができる。

そして、上述したような端子２０、３０、４０、５０、６０を備えた、本発明の実施の形態に係る電子部品は、本発明の実施の形態に係る電子部品の検査方法に供されることにより、上述したような本発明の実施の形態に係る電子部品の検査方法と同様の作用効果を奏するものとなる。

Claims (4)

1. 電子部品に設けられた端子にプローブピンを接触させることにより、電気的特性を検査する検査装置であって、
   前記プローブピンから受ける荷重に対する変形を、前記端子自体の剛性を利用して、抑制可能な形状を有する接触面が形成された端子を備える、電子部品を検査対象として、
   前記プローブピンが、前記端子の接触面に対して、前記接触面と直交する方向から接触するように構成されていることを特徴とする電子部品の電気的特性検査装置。
2. 電気的特性を検査するプローブピンを接触させるための、接触面が形成された端子を備える電子部品であって、
   前記端子の接触面は、前記プローブピンから前記接触面と直交する方向に受ける荷重に対する前記端子の変形を、前記端子自体の剛性を利用して抑制可能な形状を有する、前記端子自体を変形加工して形成された面であることを特徴とする電子部品。
3. 前記変形加工が施されていることにより、根元近辺での表裏面と直交する接触面が形成されていることを特徴とする請求項６記載の電子部品。
4. 前記変形加工として、折り曲げ加工が施されていることにより、前記接触面が長手方向と直交していることを特徴とする請求項７記載の電子部品。