JP2007178143A - コンタクトプローブ装置および回路基板検査装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】プローブ案内機構に取り付けるための取付け部21と、検査対象体に当接させられる当接部24とがリンク機構RMによって連結され、リンク機構RMは、取付け部21に一端部が連結された一対のアーム22(第1アーム)と、アーム22に一端部が連結されると共に当接部24に他端部が連結された一対のアーム23(第2アーム)とを備えて両アーム22の他端部にプローブ25(プローブ本体)が配設されると共に、プローブ案内機構による取付け部21の案内方向(矢印A1の向き)とは逆向き(矢印B1の向き)への取付け部21に対する当接部24の相対的な移動に伴って取付け部21に対して両アーム22が相対的に回動してチップ部品11のフィレット部12(検査対象体)にその側方からプローブ25を接触させる。
【選択図】図2
Description
2,2A〜2E プローブユニット
3 移動機構
4 検査部
5 制御部
10 検査対象基板
11 チップ部品
12 フィレット部
21,21A 取付け部
22,22A〜22F,23 アーム
24,24A 当接部
25,45 プローブ
25a,45a 先端部
25b,45b 基端部
31〜34 支点
RM,RM1〜RM3 リンク機構
Claims (4)
- プローブ案内機構に取り付けるための取付け部と、検査対象体に当接させられる当接部とがリンク機構によって連結され、
前記リンク機構は、前記取付け部に一端部が連結された一対の第1アームと、当該第1アームに一端部が連結されると共に前記当接部に他端部が連結された一対の第2アームとを備えて前記両第1アームの少なくとも一方における他端部にプローブ本体が配設されると共に、前記プローブ案内機構による前記取付け部の案内方向とは逆向きへの当該取付け部に対する前記当接部の相対的な移動に伴って当該取付け部に対して前記両第1アームが相対的に回動して前記検査対象体にその側方から前記プローブ本体を接触させるコンタクトプローブ装置。 - 前記両第1アームの前記他端部に前記プローブ本体がそれぞれ配設されている請求項1記載のコンタクトプローブ装置。
- 前記両プローブ本体は、先端部間の距離が基端部間の距離よりも短くなるように前記各第1アームの前記各他端部に配設されている請求項2記載のコンタクトプローブ装置。
- 請求項1から3のいずれかに記載のコンタクトプローブ装置と、前記プローブ案内機構と、前記コンタクトプローブ装置における前記プローブ本体を介して前記検査対象体についての電気的検査を実行する検査部と、前記プローブ案内機構による前記コンタクトプローブ装置の移動および前記検査部による前記電気的検査の実行を制御する制御部とを備えている回路基板検査装置。
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