JP2012502490A - 結像光学系 - Google Patents
結像光学系 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2012502490A JP2012502490A JP2011526392A JP2011526392A JP2012502490A JP 2012502490 A JP2012502490 A JP 2012502490A JP 2011526392 A JP2011526392 A JP 2011526392A JP 2011526392 A JP2011526392 A JP 2011526392A JP 2012502490 A JP2012502490 A JP 2012502490A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- mirror
- plane
- optical system
- imaging optical
- imaging
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B21/00—Microscopes
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
- G03F7/00—Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
- G03F7/70—Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
- G03F7/70058—Mask illumination systems
- G03F7/702—Reflective illumination, i.e. reflective optical elements other than folding mirrors, e.g. extreme ultraviolet [EUV] illumination systems
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B17/00—Systems with reflecting surfaces, with or without refracting elements
- G02B17/02—Catoptric systems, e.g. image erecting and reversing system
- G02B17/06—Catoptric systems, e.g. image erecting and reversing system using mirrors only, i.e. having only one curved mirror
- G02B17/0647—Catoptric systems, e.g. image erecting and reversing system using mirrors only, i.e. having only one curved mirror using more than three curved mirrors
- G02B17/0657—Catoptric systems, e.g. image erecting and reversing system using mirrors only, i.e. having only one curved mirror using more than three curved mirrors off-axis or unobscured systems in which all of the mirrors share a common axis of rotational symmetry
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B17/00—Systems with reflecting surfaces, with or without refracting elements
- G02B17/02—Catoptric systems, e.g. image erecting and reversing system
- G02B17/06—Catoptric systems, e.g. image erecting and reversing system using mirrors only, i.e. having only one curved mirror
- G02B17/0647—Catoptric systems, e.g. image erecting and reversing system using mirrors only, i.e. having only one curved mirror using more than three curved mirrors
- G02B17/0663—Catoptric systems, e.g. image erecting and reversing system using mirrors only, i.e. having only one curved mirror using more than three curved mirrors off-axis or unobscured systems in which not all of the mirrors share a common axis of rotational symmetry, e.g. at least one of the mirrors is warped, tilted or decentered with respect to the other elements
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B21/00—Microscopes
- G02B21/02—Objectives
- G02B21/04—Objectives involving mirrors
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B26/00—Optical devices or arrangements for the control of light using movable or deformable optical elements
- G02B26/06—Optical devices or arrangements for the control of light using movable or deformable optical elements for controlling the phase of light
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B26/00—Optical devices or arrangements for the control of light using movable or deformable optical elements
- G02B26/08—Optical devices or arrangements for the control of light using movable or deformable optical elements for controlling the direction of light
- G02B26/0816—Optical devices or arrangements for the control of light using movable or deformable optical elements for controlling the direction of light by means of one or more reflecting elements
- G02B26/0825—Optical devices or arrangements for the control of light using movable or deformable optical elements for controlling the direction of light by means of one or more reflecting elements the reflecting element being a flexible sheet or membrane, e.g. for varying the focus
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B7/00—Mountings, adjusting means, or light-tight connections, for optical elements
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B7/00—Mountings, adjusting means, or light-tight connections, for optical elements
- G02B7/18—Mountings, adjusting means, or light-tight connections, for optical elements for prisms; for mirrors
- G02B7/181—Mountings, adjusting means, or light-tight connections, for optical elements for prisms; for mirrors with means for compensating for changes in temperature or for controlling the temperature; thermal stabilisation
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
- G03F7/00—Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
- G03F7/20—Exposure; Apparatus therefor
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
- G03F7/00—Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
- G03F7/70—Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
- G03F7/70216—Mask projection systems
- G03F7/70233—Optical aspects of catoptric systems, i.e. comprising only reflective elements, e.g. extreme ultraviolet [EUV] projection systems
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
- G03F7/00—Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
- G03F7/70—Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
- G03F7/70216—Mask projection systems
- G03F7/70258—Projection system adjustments, e.g. adjustments during exposure or alignment during assembly of projection system
- G03F7/70266—Adaptive optics, e.g. deformable optical elements for wavefront control, e.g. for aberration adjustment or correction
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Lenses (AREA)
- Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
- Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
Abstract
【選択図】図3
Description
5 物体平面
21 支持体
30 入射瞳平面
31 結像光学系
32 接続軸
Claims (17)
- 物体平面(5)の物体視野(4)を像平面(9)の像視野(8)内に結像する複数のミラー(M1からM6)を有する結像光学系(31)であって、
物体平面(5)に対して垂直であり、かつ空間的に物体視野(4)に最も近く隣接するミラー(M2)の幾何学的中心点を通じて延びる接続軸(32)上で、該物体視野(4)に最も近く隣接する該ミラー(M2)が、結像光学系(31)の入射瞳平面(30)の間隔(B)よりも大きい該物体視野(4)からの間隔(A)で配置され、該瞳平面(30)は、該物体視野(4)から該物体視野(4)の上流の結像光(3)のビーム経路に位置する、
ことを特徴とする結像光学系(31)。 - 物体平面(5)の物体視野(4)を像平面(9)の像視野(8)内に結像する複数のミラー(M1からM6)を有する結像光学系(31)であって、
物体平面(5)上で反射された結像光(3)のビーム経路内で物体視野(4)の上流に位置する入射瞳平面(30)を有し、
前記物体平面(5)に対して垂直であり、かつ入射瞳の幾何学的中心点を通じて延びる接続軸(32)を有し、
前記接続軸(32)と前記入射瞳平面(30)の交点(C)が、前記物体視野(4)の下流の前記結像光(3)の前記ビーム経路における中心物体視野点の主ビーム(33)と該接続軸(32)との第1の交点(D)よりも前記物体平面(5)に近く、
ミラー(M5,M6)の少なくとも一方が、結像光(3)が通過するための貫通開口部(18,19)を有する、
ことを特徴とする結像光学系(31)。 - 物体平面(5)の物体視野(4)を像平面(9)の像視野(8)内に結像する複数のミラー(M1からM6)を有する結像光学系(7;31)であって、
2つの視野(4,8)の一方に最も近く隣接して隣接ミラーと呼ばれる第1のミラー(M5)から離間し、結像光学系(7;31)内で該隣接ミラー(M5)の配列平面と光学的に共役な平面に配置された変形可能な更に別のミラー(M3)を有する、
ことを特徴とする結像光学系(7;31)。 - 物体平面(5)の物体視野(4)を像平面(9)の像視野(8)内に結像する複数のミラー(M1からM6)を有する結像光学系(7;31)であって、
2つの視野(4,8)の一方に最も近く隣接する隣接ミラーのミラー(M5)の支持体(21)が、他のミラー(M1からM4,M6)のうちの少なくとも1つの支持体(22)の材料の弾性率の少なくとも2倍大きい弾性率を有する材料で作られる、
ことを特徴とする結像光学系(7;31)。 - 前記隣接ミラー(M5)は、少なくとも150GPaの弾性率を有する材料から作られることを特徴とする請求項4に記載の結像光学系。
- 前記隣接ミラー(M5)は、炭化珪素で作られることを特徴とする請求項5に記載の結像光学系。
- 前記隣接ミラー(M5)から離間し、かつ変形可能ミラー(M3)を有することを特徴とする請求項4から請求項6のいずれか1項に記載の結像光学系。
- 前記変形可能ミラー(M3)は、結像光学系(7)内で前記隣接ミラー(M5)の前記配列平面に光学的に共役な平面に配置されることを特徴とする請求項7に記載の結像光学系。
- 結像光学系(7;31)が前記隣接ミラー(M5)に加えて有する前記ミラー(M1からM4,M6)は、最大で1×10-7m/m/Kである熱膨張係数を有する材料から構成されることを特徴とする請求項4から請求項8のいずれか1項に記載の結像光学系。
- 厳密に6つのミラー(M1からM6)を特徴とする請求項1から請求項9のいずれか1項に記載の結像光学系。
- 前記ミラー(M1からM6)の反射面の少なくとも1つが、回転対称非球面によって説明することができる面として構成されることを特徴とする請求項1から請求項10のいずれか1項に記載の結像光学系。
- 前記ミラー(M1からM6)の反射面の少なくとも1つが、回転対称関数によって説明することができない自由曲面として構成されることを特徴とする請求項1から請求項10のいずれか1項に記載の結像光学系。
- 前記ミラー(M5,M6)の少なくとも1つが、結像光(3)が通過するための貫通開口部(18,19)を有することを特徴とする請求項1又は請求項3から請求項12のいずれか1項に記載の結像光学系。
- マイクロリソグラフィのための投影露光系であって、
請求項1から請求項13のいずれか1項に記載の結像光学系(7;31)を有し、
照明及び結像光(3)のための光源(2)を有し、
前記照明光(2)を前記結像光学系(7;31)の物体視野(4)へ誘導するための光学照明系(6)を有する、
ことを特徴とする投影露光系。 - 前記光学照明系(6)の瞳ファセットミラー(29)が、前記結像光学系(31)の入射瞳平面(30)に配置されることを特徴とする請求項14に記載の投影露光系。
- 微細構造構成要素を生成する方法であって、
レチクル(10)及びウェーハ(11)を準備する段階と、
請求項14又は請求項15に記載の投影露光系を用いて、前記レチクル(10)上の構造を前記ウェーハ(11)の感光層上に投影する段階と、
前記ウェーハ(11)上に微細構造を生成する段階と、
を有することを特徴とする方法。 - 請求項16に記載の方法に従って生成された微細構造構成要素。
Applications Claiming Priority (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US9568908P | 2008-09-10 | 2008-09-10 | |
US61/095,689 | 2008-09-10 | ||
DE102008046699.9A DE102008046699B4 (de) | 2008-09-10 | 2008-09-10 | Abbildende Optik |
DE102008046699.9 | 2008-09-10 | ||
PCT/EP2009/006171 WO2010028748A1 (en) | 2008-09-10 | 2009-08-26 | Imaging optical system |
Related Child Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2014165998A Division JP6103507B2 (ja) | 2008-09-10 | 2014-08-18 | 結像光学系 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2012502490A true JP2012502490A (ja) | 2012-01-26 |
JP5600680B2 JP5600680B2 (ja) | 2014-10-01 |
Family
ID=41650870
Family Applications (2)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2011526392A Expired - Fee Related JP5600680B2 (ja) | 2008-09-10 | 2009-08-26 | 結像光学系 |
JP2014165998A Active JP6103507B2 (ja) | 2008-09-10 | 2014-08-18 | 結像光学系 |
Family Applications After (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2014165998A Active JP6103507B2 (ja) | 2008-09-10 | 2014-08-18 | 結像光学系 |
Country Status (7)
Country | Link |
---|---|
US (2) | US8873122B2 (ja) |
JP (2) | JP5600680B2 (ja) |
KR (1) | KR101656539B1 (ja) |
CN (2) | CN102937742A (ja) |
DE (1) | DE102008046699B4 (ja) |
TW (1) | TWI497219B (ja) |
WO (1) | WO2010028748A1 (ja) |
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2013540350A (ja) * | 2010-09-29 | 2013-10-31 | カール・ツァイス・エスエムティー・ゲーエムベーハー | Euv投影露光系のためのミラー、光学系、及び構成要素を生成する方法 |
JP2014225498A (ja) * | 2013-05-15 | 2014-12-04 | 凸版印刷株式会社 | 反射型マスクブランク及び反射型マスク |
JP2015532980A (ja) * | 2012-09-21 | 2015-11-16 | エーエスエムエル ネザーランズ ビー.ブイ. | リソグラフィ方法及び装置 |
KR20160064222A (ko) * | 2013-10-02 | 2016-06-07 | 칼 짜이스 에스엠티 게엠베하 | 마이크로리소그래피용 투영 노광 방법 및 투영 노광 장치 |
JP2017526010A (ja) * | 2014-08-21 | 2017-09-07 | カール・ツァイス・エスエムティー・ゲーエムベーハー | 特にマイクロリソグラフィ投影露光装置用のミラーモジュール |
CN108292099A (zh) * | 2015-12-03 | 2018-07-17 | 卡尔蔡司Smt有限责任公司 | 具有主动可调整的度量支撑单元的光学成像布置 |
Families Citing this family (25)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE102008046699B4 (de) | 2008-09-10 | 2014-03-13 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Abbildende Optik |
DE102009045163B4 (de) | 2009-09-30 | 2017-04-06 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Optische Anordnung in einer mikrolithographischen Projektionsbelichtungsanlage |
WO2011131289A1 (en) * | 2010-04-22 | 2011-10-27 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Imaging optics, and a projection exposure apparatus for microlithography having such an imaging optics |
KR102002269B1 (ko) | 2010-07-30 | 2019-07-19 | 칼 짜이스 에스엠티 게엠베하 | Euv 노광 장치 |
DE102011080649A1 (de) * | 2010-09-24 | 2012-03-29 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Optische Anordnung in einer mikrolithographischen Projektionsbelichtungsanlage |
DE102011006468B4 (de) | 2011-03-31 | 2014-08-28 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Vermessung eines abbildenden optischen Systems durch Überlagerung von Mustern |
KR102330570B1 (ko) | 2012-02-06 | 2021-11-25 | 가부시키가이샤 니콘 | 반사 결상 광학계, 노광 장치, 및 디바이스 제조 방법 |
KR20130092843A (ko) * | 2012-02-13 | 2013-08-21 | 삼성전자주식회사 | 빛의 인텐시티를 컨트롤할 수 있는 컨트롤 모듈 미러를 갖는 반사형 포토리소그래피 설비 |
DE102012212757A1 (de) * | 2012-07-20 | 2014-01-23 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Verfahren zum betreiben einer mikrolithographischen projektionsbelichtungsanlage |
US9746654B2 (en) * | 2013-05-08 | 2017-08-29 | Ohio State Innovation Foundation | Optical delay elements created from variations of the robert cell |
US8755114B1 (en) | 2013-06-14 | 2014-06-17 | Computer Power Supply, Inc. | Apparatus for aiding manual, mechanical alignment of optical equipment |
DE102014221175A1 (de) * | 2014-10-17 | 2016-04-21 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Beleuchtungsoptik für ein Projektionsbelichtungssystem |
DE102014223452A1 (de) * | 2014-11-18 | 2016-05-19 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Optisches Teilsystem für die Projektionslithographie sowie Beleuchtungsoptik für die Projektionslithographie |
DE102014224822A1 (de) | 2014-12-04 | 2016-06-09 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Spiegel für eine lithographieanlage, projektionssystem für eine lithographieanlage und lithographieanlage |
NL2016248A (en) * | 2015-03-23 | 2016-09-30 | Asml Netherlands Bv | Radiation Beam Expander. |
JP6722195B2 (ja) * | 2015-03-27 | 2020-07-15 | ディーアールエス ネットワーク アンド イメージング システムズ、リミテッド ライアビリティー カンパニー | 広視野を有する反射望遠鏡 |
DE102015221983A1 (de) * | 2015-11-09 | 2017-05-11 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Abbildende Optik zur Abbildung eines Objektfeldes in ein Bildfeld sowie Projektionsbelichtungsanlage mit einer derartigen abbildenden Optik |
DE102016108226A1 (de) * | 2016-05-03 | 2017-11-09 | Carl Zeiss Microscopy Gmbh | Mikroskop |
NL2020103A (en) * | 2017-01-17 | 2018-07-23 | Asml Netherlands Bv | Lithographic Apparatus and Method |
JP2021504150A (ja) * | 2017-11-22 | 2021-02-15 | アルテック アンゲヴァンテ レーザーリヒト テヒノロギー ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング | レーザーマーキングシステム |
JP7234498B2 (ja) * | 2018-03-19 | 2023-03-08 | 株式会社リコー | 投射光学系ユニット及び投射光学装置 |
CN110095858B (zh) * | 2018-12-12 | 2021-06-08 | 中国科学院紫金山天文台 | 自适应光学变形镜弹性模态像差表征方法 |
DE102019203423A1 (de) * | 2019-03-13 | 2020-01-16 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Abbildende Optik |
US20230324663A1 (en) * | 2020-08-31 | 2023-10-12 | Arizona Board Of Regents On Behalf Of The University Of Arizona | All-reflective microscopy |
CN113938661B (zh) * | 2021-09-29 | 2024-05-07 | 漳州万利达科技有限公司 | 一种投影仪侧投校正方法、终端设备及存储介质 |
Citations (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2000100694A (ja) * | 1998-09-22 | 2000-04-07 | Nikon Corp | 反射縮小投影光学系、該光学系を備えた投影露光装置および該装置を用いた露光方法 |
JP2000235144A (ja) * | 1999-02-15 | 2000-08-29 | Carl Zeiss Stiftung Trading As Carl Zeiss | マイクロリソグラフィー縮小用対物レンズおよび投影露光装置 |
JP2002116382A (ja) * | 2000-10-05 | 2002-04-19 | Nikon Corp | 投影光学系および該投影光学系を備えた露光装置 |
JP2003045782A (ja) * | 2001-07-31 | 2003-02-14 | Canon Inc | 反射型縮小投影光学系及びそれを用いた露光装置 |
JP2003233005A (ja) * | 2002-02-07 | 2003-08-22 | Canon Inc | 反射型投影光学系、露光装置及びデバイス製造方法 |
JP2005072513A (ja) * | 2003-08-28 | 2005-03-17 | Nikon Corp | 露光装置および露光方法 |
JP2005321565A (ja) * | 2004-05-07 | 2005-11-17 | Canon Inc | 光学素子の製造方法 |
JP2006253486A (ja) * | 2005-03-11 | 2006-09-21 | Nikon Corp | 照明装置、投影露光方法、投影露光装置、及びマイクロデバイスの製造方法 |
JP2008153396A (ja) * | 2006-12-15 | 2008-07-03 | Nikon Corp | 照度均一化装置、露光装置、露光方法および半導体デバイスの製造方法 |
WO2009022506A1 (ja) * | 2007-08-10 | 2009-02-19 | Nikon Corporation | 照明光学装置、露光装置、およびデバイス製造方法 |
JP2009177184A (ja) * | 2008-01-24 | 2009-08-06 | Nikon Corp | 露光装置とその製造方法及び支持方法 |
JP2010510666A (ja) * | 2006-11-21 | 2010-04-02 | インテル・コーポレーション | フォトリソグラフィ・スキャナ・フィールド投影装置用の反射光学システム |
Family Cites Families (32)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0855789A (ja) * | 1994-06-09 | 1996-02-27 | Nikon Corp | 投影光学装置 |
US6021004A (en) * | 1995-02-28 | 2000-02-01 | Canon Kabushiki Kaisha | Reflecting type of zoom lens |
US7186983B2 (en) | 1998-05-05 | 2007-03-06 | Carl Zeiss Smt Ag | Illumination system particularly for microlithography |
JP2001307366A (ja) * | 1999-08-02 | 2001-11-02 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 光ピックアップ装置 |
EP1093021A3 (en) | 1999-10-15 | 2004-06-30 | Nikon Corporation | Projection optical system as well as equipment and methods making use of said system |
US6600608B1 (en) * | 1999-11-05 | 2003-07-29 | Carl-Zeiss-Stiftung | Catadioptric objective comprising two intermediate images |
US6766026B2 (en) * | 2000-12-15 | 2004-07-20 | Thomson Licensing, S.A. | Dynamic allocation of power supplied by a power supply and frequency agile spectral filtering of signals |
TW594847B (en) * | 2001-07-27 | 2004-06-21 | Canon Kk | Illumination system, projection exposure apparatus and method for manufacturing a device provided with a pattern to be exposed |
DE10139177A1 (de) * | 2001-08-16 | 2003-02-27 | Zeiss Carl | Objektiv mit Pupillenobskuration |
JP4298336B2 (ja) * | 2002-04-26 | 2009-07-15 | キヤノン株式会社 | 露光装置、光源装置及びデバイス製造方法 |
US6803994B2 (en) * | 2002-06-21 | 2004-10-12 | Nikon Corporation | Wavefront aberration correction system |
JP4068496B2 (ja) * | 2003-04-14 | 2008-03-26 | Nec東芝スペースシステム株式会社 | 鏡面母材及びそれを用いた鏡体及び、鏡体を用いた光学装置 |
EP1664933A1 (de) | 2003-09-27 | 2006-06-07 | Carl Zeiss SMT AG | Euv-projektionsobjektiv mit spiegeln aus materialien mit unterschiedlichem vorzeichen der steigung der temperaturabhängigkeit des wärmeausdehnungskoeffizienten nahe der nulldurchgangstemperatur |
US20080151364A1 (en) * | 2004-01-14 | 2008-06-26 | Carl Zeiss Smt Ag | Catadioptric projection objective |
US6970286B1 (en) * | 2004-06-23 | 2005-11-29 | Corning Incorporated | Multiple field of view reflective telescope |
WO2006037651A1 (en) * | 2004-10-08 | 2006-04-13 | Carl Zeiss Smt Ag | Optical projection system |
CN100582861C (zh) * | 2004-12-23 | 2010-01-20 | 卡尔蔡司Smt股份公司 | 具有暗化光瞳的大孔径物镜 |
WO2006069725A1 (de) | 2004-12-23 | 2006-07-06 | Carl Zeiss Smt Ag | Hochaperturiges objektiv mit obskurierter pupille |
CN103076723A (zh) | 2005-09-13 | 2013-05-01 | 卡尔蔡司Smt有限责任公司 | 微光刻投影光学系统 |
US7397039B2 (en) * | 2005-09-30 | 2008-07-08 | Applied Materials, Inc. | Real-time compensation of mechanical position error in pattern generation or imaging applications |
JP2007103657A (ja) * | 2005-10-04 | 2007-04-19 | Canon Inc | 光学素子保持装置、露光装置およびデバイス製造方法 |
US7740634B2 (en) | 2006-03-20 | 2010-06-22 | Depuy Products, Inc. | Method of bone plate shaping |
DE102006014380A1 (de) | 2006-03-27 | 2007-10-11 | Carl Zeiss Smt Ag | Projektionsobjektiv und Projektionsbelichtungsanlage mit negativer Schnittweite der Eintrittspupille |
CN100573229C (zh) * | 2006-07-17 | 2009-12-23 | 中国科学院光电技术研究所 | 基于共轭成像的组合式波前校正器 |
DE102006039760A1 (de) * | 2006-08-24 | 2008-03-13 | Carl Zeiss Smt Ag | Beleuchtungssystem mit einem Detektor zur Aufnahme einer Lichtintensität |
DE102006047387A1 (de) * | 2006-10-06 | 2008-04-10 | Carl Zeiss Smt Ag | Kompaktes 3-Spiegel-Objektiv |
EP1950594A1 (de) | 2007-01-17 | 2008-07-30 | Carl Zeiss SMT AG | Abbildende Optik, Projektionsbelichtunsanlage für die Mikrolithographie mit einer derartigen abbildenden Optik, Verfahren zur Herstellung eines mikrostrukturierten Bauteils mit einer derartigen Projektionsbelichtungsanlage, durch das Herstellungsverfahren gefertigtes mikrostrukturiertes Bauelement sowie Verwendung einer derartigen abbildenden Optik |
US20090040493A1 (en) * | 2007-08-09 | 2009-02-12 | Hideki Komatsuda | Illumination optical system, illumination optical apparatus, exposure apparatus, and device manufacturing method |
CN100565275C (zh) * | 2007-08-23 | 2009-12-02 | 蔡然 | 一种天基半导体列阵技术 |
DE102009034166A1 (de) * | 2008-08-11 | 2010-02-18 | Carl Zeiss Smt Ag | Kontaminationsarme optische Anordnung |
US20100033704A1 (en) * | 2008-08-11 | 2010-02-11 | Masayuki Shiraishi | Deformable mirror, mirror apparatus, and exposure apparatus |
DE102008046699B4 (de) | 2008-09-10 | 2014-03-13 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Abbildende Optik |
-
2008
- 2008-09-10 DE DE102008046699.9A patent/DE102008046699B4/de not_active Expired - Fee Related
-
2009
- 2009-08-26 WO PCT/EP2009/006171 patent/WO2010028748A1/en active Application Filing
- 2009-08-26 CN CN2012104697364A patent/CN102937742A/zh active Pending
- 2009-08-26 CN CN200980135379.4A patent/CN102150068B/zh active Active
- 2009-08-26 JP JP2011526392A patent/JP5600680B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 2009-08-26 KR KR1020117008141A patent/KR101656539B1/ko active IP Right Grant
- 2009-09-03 TW TW098129664A patent/TWI497219B/zh not_active IP Right Cessation
-
2011
- 2011-02-22 US US13/031,920 patent/US8873122B2/en active Active
-
2014
- 2014-08-18 JP JP2014165998A patent/JP6103507B2/ja active Active
- 2014-10-06 US US14/507,147 patent/US9195145B2/en not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2000100694A (ja) * | 1998-09-22 | 2000-04-07 | Nikon Corp | 反射縮小投影光学系、該光学系を備えた投影露光装置および該装置を用いた露光方法 |
JP2000235144A (ja) * | 1999-02-15 | 2000-08-29 | Carl Zeiss Stiftung Trading As Carl Zeiss | マイクロリソグラフィー縮小用対物レンズおよび投影露光装置 |
JP2002116382A (ja) * | 2000-10-05 | 2002-04-19 | Nikon Corp | 投影光学系および該投影光学系を備えた露光装置 |
JP2003045782A (ja) * | 2001-07-31 | 2003-02-14 | Canon Inc | 反射型縮小投影光学系及びそれを用いた露光装置 |
JP2003233005A (ja) * | 2002-02-07 | 2003-08-22 | Canon Inc | 反射型投影光学系、露光装置及びデバイス製造方法 |
JP2005072513A (ja) * | 2003-08-28 | 2005-03-17 | Nikon Corp | 露光装置および露光方法 |
JP2005321565A (ja) * | 2004-05-07 | 2005-11-17 | Canon Inc | 光学素子の製造方法 |
JP2006253486A (ja) * | 2005-03-11 | 2006-09-21 | Nikon Corp | 照明装置、投影露光方法、投影露光装置、及びマイクロデバイスの製造方法 |
JP2010510666A (ja) * | 2006-11-21 | 2010-04-02 | インテル・コーポレーション | フォトリソグラフィ・スキャナ・フィールド投影装置用の反射光学システム |
JP2008153396A (ja) * | 2006-12-15 | 2008-07-03 | Nikon Corp | 照度均一化装置、露光装置、露光方法および半導体デバイスの製造方法 |
WO2009022506A1 (ja) * | 2007-08-10 | 2009-02-19 | Nikon Corporation | 照明光学装置、露光装置、およびデバイス製造方法 |
JP2009177184A (ja) * | 2008-01-24 | 2009-08-06 | Nikon Corp | 露光装置とその製造方法及び支持方法 |
Cited By (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2013540350A (ja) * | 2010-09-29 | 2013-10-31 | カール・ツァイス・エスエムティー・ゲーエムベーハー | Euv投影露光系のためのミラー、光学系、及び構成要素を生成する方法 |
US10274649B2 (en) | 2010-09-29 | 2019-04-30 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Mirror and related EUV systems and methods |
JP2015532980A (ja) * | 2012-09-21 | 2015-11-16 | エーエスエムエル ネザーランズ ビー.ブイ. | リソグラフィ方法及び装置 |
US9958787B2 (en) | 2012-09-21 | 2018-05-01 | Asml Netherlands B.V. | Lithographic method and apparatus |
JP2014225498A (ja) * | 2013-05-15 | 2014-12-04 | 凸版印刷株式会社 | 反射型マスクブランク及び反射型マスク |
KR20160064222A (ko) * | 2013-10-02 | 2016-06-07 | 칼 짜이스 에스엠티 게엠베하 | 마이크로리소그래피용 투영 노광 방법 및 투영 노광 장치 |
JP2016534381A (ja) * | 2013-10-02 | 2016-11-04 | カール・ツァイス・エスエムティー・ゲーエムベーハー | マイクロリソグラフィのための投影露光方法及び投影露光装置 |
KR102268034B1 (ko) * | 2013-10-02 | 2021-06-23 | 칼 짜이스 에스엠티 게엠베하 | 마이크로리소그래피용 투영 노광 방법 및 투영 노광 장치 |
JP2017526010A (ja) * | 2014-08-21 | 2017-09-07 | カール・ツァイス・エスエムティー・ゲーエムベーハー | 特にマイクロリソグラフィ投影露光装置用のミラーモジュール |
CN108292099A (zh) * | 2015-12-03 | 2018-07-17 | 卡尔蔡司Smt有限责任公司 | 具有主动可调整的度量支撑单元的光学成像布置 |
JP2019505828A (ja) * | 2015-12-03 | 2019-02-28 | カール・ツァイス・エスエムティー・ゲーエムベーハー | 能動的に調整可能なメトロロジー支持ユニットを備える光学結像装置 |
US10890850B2 (en) | 2015-12-03 | 2021-01-12 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Optical imaging arrangement with actively adjustable metrology support units |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP6103507B2 (ja) | 2017-03-29 |
KR20110053273A (ko) | 2011-05-19 |
US20150022799A1 (en) | 2015-01-22 |
JP5600680B2 (ja) | 2014-10-01 |
CN102150068B (zh) | 2015-07-08 |
CN102150068A (zh) | 2011-08-10 |
KR101656539B1 (ko) | 2016-09-09 |
WO2010028748A1 (en) | 2010-03-18 |
US8873122B2 (en) | 2014-10-28 |
TWI497219B (zh) | 2015-08-21 |
US20110165522A1 (en) | 2011-07-07 |
DE102008046699B4 (de) | 2014-03-13 |
TW201015235A (en) | 2010-04-16 |
DE102008046699A1 (de) | 2010-03-11 |
JP2015029107A (ja) | 2015-02-12 |
CN102937742A (zh) | 2013-02-20 |
US9195145B2 (en) | 2015-11-24 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP6103507B2 (ja) | 結像光学系 | |
KR101444517B1 (ko) | 이미징 광학 시스템 및 이러한 타입의 이미징 광학 시스템을 구비한 마이크로리소그래피용 투영 노광 장치 | |
KR101593243B1 (ko) | 결상 광학 시스템 및 투영 노광 장치 | |
JP6146918B2 (ja) | 結像光学系及びこの種の結像光学系を含むマイクロリソグラフィ用の投影露光装置 | |
KR101646285B1 (ko) | 이미징 광학기기 | |
JP2016006550A (ja) | 結像光学系 | |
JP5810467B2 (ja) | 結像光学系及び該結像光学系を有するマイクロリソグラフィ用の投影露光装置 | |
US20140240686A1 (en) | Arrangement of a mirror | |
JP5896313B2 (ja) | 結像光学系及びこの種の結像光学系を備えたマイクロリソグラフィ用の投影露光装置 | |
JP5431345B2 (ja) | 結像光学系、この種の結像光学系を含むマイクロリソグラフィのための投影露光装置、及びこの種の投影露光装置を用いて微細構造構成要素を生成する方法 | |
KR20070115940A (ko) | 접근 용이한 조리개 또는 구경 조리개를 구비한마이크로리소그래피 투영 시스템 | |
TWI539231B (zh) | 成像光學系統、具有此類型成像光學系統之用於微影的投射曝光設備以及用於製造結構化組件的方法 | |
KR20120003914A (ko) | 이미징 광학소자 및 이러한 타입의 이미징 광학소자를 가진 마이크로리소그래피용 투영 노광 장치 | |
US20240159988A1 (en) | Support for an optical element |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20120525 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20130315 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20130605 |
|
A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20130826 |
|
A602 | Written permission of extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602 Effective date: 20130902 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20131205 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20140618 |
|
A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20140718 |
|
A602 | Written permission of extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602 Effective date: 20140724 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20140818 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 5600680 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |