JP5896313B2 - 結像光学系及びこの種の結像光学系を備えたマイクロリソグラフィ用の投影露光装置 - Google Patents
結像光学系及びこの種の結像光学系を備えたマイクロリソグラフィ用の投影露光装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP5896313B2 JP5896313B2 JP2014162869A JP2014162869A JP5896313B2 JP 5896313 B2 JP5896313 B2 JP 5896313B2 JP 2014162869 A JP2014162869 A JP 2014162869A JP 2014162869 A JP2014162869 A JP 2014162869A JP 5896313 B2 JP5896313 B2 JP 5896313B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- optical system
- free
- imaging optical
- form surface
- mirrors
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 title claims description 177
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 title claims description 120
- 238000001393 microlithography Methods 0.000 title claims description 8
- 238000005286 illumination Methods 0.000 claims description 20
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 6
- 210000001747 pupil Anatomy 0.000 description 41
- 230000003044 adaptive effect Effects 0.000 description 10
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 7
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 5
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 5
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 3
- 208000031481 Pathologic Constriction Diseases 0.000 description 2
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 2
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 2
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 2
- 208000037804 stenosis Diseases 0.000 description 2
- 230000036262 stenosis Effects 0.000 description 2
- 235000010627 Phaseolus vulgaris Nutrition 0.000 description 1
- 244000046052 Phaseolus vulgaris Species 0.000 description 1
- 230000018109 developmental process Effects 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 1
- 230000002349 favourable effect Effects 0.000 description 1
- 230000012447 hatching Effects 0.000 description 1
- 210000003734 kidney Anatomy 0.000 description 1
- 239000002086 nanomaterial Substances 0.000 description 1
- 238000005457 optimization Methods 0.000 description 1
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 1
- 238000002310 reflectometry Methods 0.000 description 1
- 239000000725 suspension Substances 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
- G03F7/00—Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
- G03F7/70—Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
- G03F7/70216—Mask projection systems
- G03F7/70233—Optical aspects of catoptric systems, i.e. comprising only reflective elements, e.g. extreme ultraviolet [EUV] projection systems
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B17/00—Systems with reflecting surfaces, with or without refracting elements
- G02B17/02—Catoptric systems, e.g. image erecting and reversing system
- G02B17/06—Catoptric systems, e.g. image erecting and reversing system using mirrors only, i.e. having only one curved mirror
- G02B17/0647—Catoptric systems, e.g. image erecting and reversing system using mirrors only, i.e. having only one curved mirror using more than three curved mirrors
- G02B17/0663—Catoptric systems, e.g. image erecting and reversing system using mirrors only, i.e. having only one curved mirror using more than three curved mirrors off-axis or unobscured systems in which not all of the mirrors share a common axis of rotational symmetry, e.g. at least one of the mirrors is warped, tilted or decentered with respect to the other elements
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B17/00—Systems with reflecting surfaces, with or without refracting elements
- G02B17/08—Catadioptric systems
- G02B17/0884—Catadioptric systems having a pupil corrector
- G02B17/0888—Catadioptric systems having a pupil corrector the corrector having at least one aspheric surface, e.g. Schmidt plates
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Lenses (AREA)
- Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
- Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
Description
図1には照明光3のビーム経路を非常に概略的に示している。
y方向は右に延び、z方向は下向きに延びている。
ここでx及びyは、座標原点を起点とし、非球面の使用面領域の外側に位置することができる基本球面上の座標を表す。zは、基本非球面の矢高又はサジッタを表す。RDYは、基本非球面の半径、言い換えれば、座標原点における面曲率の逆数である。CCYは、円錐パラメータである。
zM2>zM4>zM3>zM1>zM6>zM5
この場合、x及びyは、それぞれの面上の座標を表す。この場合、局所座標系は、広域基準系に対してy座標方向に変位し、x軸の回りに傾斜される。
zM4>zM2>zM3>zM1>zM6>zM5
5 物体平面
8 像視野
9 像平面
36 結像光学系
M1、M2、M3、M4、M5、M6 ミラー
Claims (26)
- ミラー(M1からM6)のうちの少なくとも1つの反射面が、回転対称関数によって説明することができない固定の自由曲面として設計される、
物体平面(5)の物体視野(4)を像平面(9)の像視野(8)内に結像する複数のミラー(M1からM6)を備えた結像光学系(7;36;37;38;39;40)であって、
自由曲面が、結像光(3)を誘導するように構成された該自由曲面の使用領域(23)の各自由曲面要素(20)に対する法線(FN)が非球面(21)の対応する非球面要素(22)に対する法線(FNB)と最大で70μradの角度(α)を取るような方法で、回転対称関数によって説明することができる該自由曲面に最適に適応した非球面(21)とは異なる、
ことを特徴とする結像光学系。 - 前記ミラー(M1からM6)のうちの少なくとも1つの前記自由曲面の前記使用領域(23)における、各自由曲面要素(20)に対する前記法線(FN)が、前記非球面(21)の対応する非球面要素(22)に対する前記法線(FNB)と最大で34.7μradの角度(α)を取る、請求項1に記載の結像光学系。
- 前記ミラー(M1からM6)のうちの少なくとも1つの前記自由曲面の前記使用領域(23)における、各自由曲面要素(20)に対する前記法線(FN)が、前記非球面(21)の対応する非球面要素(22)に対する前記法線(FNB)と最大で29.5μradの角度(α)を取る、請求項1又は2に記載の結像光学系。
- 前記ミラー(M1からM6)のうちの少なくとも1つの前記自由曲面の前記使用領域(23)における、各自由曲面要素(20)に対する前記法線(FN)が、前記非球面(21)の対応する非球面要素(22)に対する前記法線(FNB)と最大で24.0μradの角度(α)を取る、請求項1乃至3のいずれか1項に記載の結像光学系。
- 前記ミラー(M1からM6)のうちの少なくとも1つの前記自由曲面の前記使用領域(23)における、各自由曲面要素(20)に対する前記法線(FN)が、前記非球面(21)の対応する非球面要素(22)に対する前記法線(FNB)と最大で17.5μradの角度(α)を取る、請求項1乃至4のいずれか1項に記載の結像光学系。
- 前記ミラー(M1からM6)のうちの少なくとも1つの前記自由曲面の前記使用領域(23)における、各自由曲面要素(20)に対する前記法線(FN)が、前記非球面(21)の対応する非球面要素(22)に対する前記法線(FNB)と最大で15.4μradの角度(α)を取る、請求項1乃至5のいずれか1項に記載の結像光学系。
- 前記ミラー(M1からM6)のうちの少なくとも1つの前記自由曲面の前記使用領域(23)における、各自由曲面要素(20)に対する前記法線(FN)が、前記非球面(21)の対応する非球面要素(22)に対する前記法線(FNB)と最大で14.7μradの角度(α)を取る、請求項1乃至6のいずれか1項に記載の結像光学系。
- 前記自由曲面は、それに最適に適応した前記非球面(21)から結像光学系(7;36;37;38;39;40)が設計される対象である前記結像光(3)の波長よりも大きい、前記非球面要素(22)に対する前記法線(FNB)方向の矢高又はサジッタの偏位を有することを特徴とする請求項1乃至7のいずれか1項に記載の結像光学系。
- 前記自由曲面と最適に適応した前記非球面の間の前記偏位が少なくとも0.34μmである、請求項8に記載の結像光学系。
- 前記自由曲面と最適に適応した前記非球面の間の前記偏位が少なくとも0.50μmである、請求項8又は9に記載の結像光学系。
- 前記自由曲面と最適に適応した前記非球面の間の前記偏位が少なくとも0.93μmである、請求項8乃至10のいずれか1項に記載の結像光学系。
- 前記自由曲面と最適に適応した前記非球面の間の前記偏位が少なくとも0.95μmである、請求項8乃至11のいずれか1項に記載の結像光学系。
- 前記自由曲面と最適に適応した前記非球面の間の前記偏位が少なくとも1.01μmである、請求項8乃至12のいずれか1項に記載の結像光学系。
- 前記自由曲面と最適に適応した前記非球面の間の前記偏位が少なくとも1.14μmである、請求項8乃至13のいずれか1項に記載の結像光学系。
- 結像光学系(7;36;37;38;39;40)が、厳密に6つのミラー(M1からM6)を有することを特徴とする請求項1から請求項14のいずれか1項に記載の結像光学系。
- 全ての前記ミラー(M1からM6)の前記反射面は、自由曲面として構成されることを特徴とする請求項1から請求項15のいずれか1項に記載の結像光学系。
- 0.3よりも大きい像側の開口数を特徴とする請求項1から請求項16のいずれか1項に記載の結像光学系。
- 前記像視野(8)は、少なくとも1mmの広がりを有する辺(29,30,34,35)によって境界が定められた、リング視野区域又は矩形視野区域を覆うことを特徴とする請求項1から請求項17のいずれか1項に記載の結像光学系。
- λが、使用される前記結像光(3)の波長である時に、25mλの最大波面誤差(rms)を特徴とする請求項1から請求項18のいずれか1項に記載の結像光学系。
- 1.1nmの最大歪曲を特徴とする請求項1から請求項19のいずれか1項に記載の結像光学系。
- 3mradの最小テレセントリック性を特徴とする請求項1から請求項20のいずれか1項に記載の結像光学系。
- 結像光学系(7;36;37;38;39;40)が、マイクロリソグラフィのための投影光学系として構成されることを特徴とする請求項1から請求項21のいずれか1項に記載の結像光学系。
- 請求項22に記載の投影光学系を備え、かつ
結像光学系(7)の物体視野(4)に向けて照明光(3)を誘導するための照明光学系(6)を備える、
ことを特徴とする光学系。 - 請求項23に記載の光学系を備え、かつ
照明及び結像光(3)のための光源(2)を備える、
ことを特徴とするマイクロリソグラフィのための投影露光装置。 - 前記光源(2)は、5と30nmの間の波長を有する照明光を生成するように構成されることを特徴とする請求項24に記載の投影露光装置。
- 構造化構成要素を生成する方法であって、
レチクル(10)及びウェーハ(11)を準備する段階と、
請求項24又は請求項25に記載の投影露光装置を用いて前記レチクル(10)上の構造を前記ウェーハ(11)の感光層上に投影する段階と、
前記ウェーハ(11)上に構造を生成する段階と、
を含むことを特徴とする方法。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US16452009P | 2009-03-30 | 2009-03-30 | |
US61/164,520 | 2009-03-30 |
Related Parent Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2012502482A Division JP5597246B2 (ja) | 2009-03-30 | 2010-03-11 | 結像光学系及びこの種の結像光学系を備えたマイクロリソグラフィ用の投影露光装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2014222366A JP2014222366A (ja) | 2014-11-27 |
JP5896313B2 true JP5896313B2 (ja) | 2016-03-30 |
Family
ID=42124679
Family Applications (2)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2012502482A Active JP5597246B2 (ja) | 2009-03-30 | 2010-03-11 | 結像光学系及びこの種の結像光学系を備えたマイクロリソグラフィ用の投影露光装置 |
JP2014162869A Active JP5896313B2 (ja) | 2009-03-30 | 2014-08-08 | 結像光学系及びこの種の結像光学系を備えたマイクロリソグラフィ用の投影露光装置 |
Family Applications Before (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2012502482A Active JP5597246B2 (ja) | 2009-03-30 | 2010-03-11 | 結像光学系及びこの種の結像光学系を備えたマイクロリソグラフィ用の投影露光装置 |
Country Status (7)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US9057964B2 (ja) |
EP (2) | EP2447753A1 (ja) |
JP (2) | JP5597246B2 (ja) |
KR (1) | KR101904541B1 (ja) |
CN (1) | CN102449526B (ja) |
TW (1) | TWI498594B (ja) |
WO (1) | WO2010115500A1 (ja) |
Families Citing this family (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN102540435A (zh) * | 2012-02-07 | 2012-07-04 | 中国科学院光电技术研究所 | 一种反射型投影光学系统 |
US20140218704A1 (en) * | 2013-02-04 | 2014-08-07 | Nikon Corporation | High na (numerical aperture) rectangular field euv catoptric projection optics using tilted and decentered zernike polynomial mirror surfaces |
DE102014223811B4 (de) | 2014-11-21 | 2016-09-29 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Abbildende Optik für die EUV-Projektionslithographie, Projektionsbelichtungsanlage und Verfahren zur Herstellung eines strukturierten Bauteils |
WO2016188934A1 (de) * | 2015-05-28 | 2016-12-01 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Abbildende optik zur abbildung eines objektfeldes in ein bildfeld sowie projektionsbelichtungsanlage mit einer derartigen abbildenden optik |
DE102015221983A1 (de) * | 2015-11-09 | 2017-05-11 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Abbildende Optik zur Abbildung eines Objektfeldes in ein Bildfeld sowie Projektionsbelichtungsanlage mit einer derartigen abbildenden Optik |
DE102017215664A1 (de) | 2017-09-06 | 2019-03-07 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Optisches System für eine Projektionsbelichtungsanlage |
US10737621B2 (en) | 2017-09-14 | 2020-08-11 | Toyota Motor Engineering & Manufacturing North America, Inc. | Cloaking devices with lenses and plane mirrors and vehicles comprising the same |
DE102017216893A1 (de) * | 2017-09-25 | 2019-03-28 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Abbildende Optik zur Abbildung eines Objektfeldes in ein Bildfeld |
Family Cites Families (23)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6229595B1 (en) | 1995-05-12 | 2001-05-08 | The B. F. Goodrich Company | Lithography system and method with mask image enlargement |
US7186983B2 (en) | 1998-05-05 | 2007-03-06 | Carl Zeiss Smt Ag | Illumination system particularly for microlithography |
US6985210B2 (en) * | 1999-02-15 | 2006-01-10 | Carl Zeiss Smt Ag | Projection system for EUV lithography |
US6033079A (en) * | 1999-03-15 | 2000-03-07 | Hudyma; Russell | High numerical aperture ring field projection system for extreme ultraviolet lithography |
JP2001185480A (ja) | 1999-10-15 | 2001-07-06 | Nikon Corp | 投影光学系及び該光学系を備える投影露光装置 |
JP2002015979A (ja) | 2000-06-29 | 2002-01-18 | Nikon Corp | 投影光学系、露光装置及び露光方法 |
DE10052289A1 (de) * | 2000-10-20 | 2002-04-25 | Zeiss Carl | 8-Spiegel-Mikrolithographie-Projektionsobjektiv |
EP1679551A1 (en) * | 2000-11-07 | 2006-07-12 | ASML Netherlands B.V. | Lithographic apparatus and device manufacturing method |
TW594043B (en) | 2001-04-11 | 2004-06-21 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Reflection type optical apparatus and photographing apparatus using the same, multi-wavelength photographing apparatus, monitoring apparatus for vehicle |
JP2003015040A (ja) * | 2001-07-04 | 2003-01-15 | Nikon Corp | 投影光学系および該投影光学系を備えた露光装置 |
EP1282011B1 (de) * | 2001-08-01 | 2006-11-22 | Carl Zeiss SMT AG | Reflektives Projektionsobjektiv für EUV-Photolithographie |
JP2004029625A (ja) | 2002-06-28 | 2004-01-29 | Nikon Corp | 投影光学系、露光装置及び露光方法 |
JP2005172988A (ja) | 2003-12-09 | 2005-06-30 | Nikon Corp | 投影光学系および該投影光学系を備えた露光装置 |
TWI308644B (en) | 2004-12-23 | 2009-04-11 | Zeiss Carl Smt Ag | Hochaperturiges objektiv mlt obskurierter pupille |
DE102005042005A1 (de) | 2004-12-23 | 2006-07-06 | Carl Zeiss Smt Ag | Hochaperturiges Objektiv mit obskurierter Pupille |
WO2006069725A1 (de) | 2004-12-23 | 2006-07-06 | Carl Zeiss Smt Ag | Hochaperturiges objektiv mit obskurierter pupille |
KR101309880B1 (ko) | 2005-05-13 | 2013-09-17 | 칼 짜이스 에스엠티 게엠베하 | 낮은 입사각을 갖는 육-미러 euv 프로젝션 시스템 |
KR101149267B1 (ko) | 2005-09-13 | 2012-05-25 | 칼 짜이스 에스엠티 게엠베하 | 마이크로리소그라피 투영 광학 시스템, 디바이스 제작 방법 및 광학 표면을 설계하기 위한 방법 |
DE102006043251A1 (de) * | 2005-09-13 | 2007-03-15 | Carl Zeiss Smt Ag | Mikrolithographie-Projektionsobjektiv, Projektionsbelichtungsanlage mit einem derartigen Objektiv, Herstellungsverfahren mikrostrukturierter Bauteile mit einer derartigen Projektionsbelichtungsanlage sowie mit diesem Verfahren hergestelltes Bauteil |
CN101416117B (zh) | 2006-04-07 | 2014-11-05 | 卡尔蔡司Smt有限责任公司 | 微光刻投影光学系统、工具及其制造方法 |
EP1930771A1 (en) * | 2006-12-04 | 2008-06-11 | Carl Zeiss SMT AG | Projection objectives having mirror elements with reflective coatings |
JP2008158211A (ja) * | 2006-12-22 | 2008-07-10 | Canon Inc | 投影光学系及びそれを用いた露光装置 |
EP1950594A1 (de) | 2007-01-17 | 2008-07-30 | Carl Zeiss SMT AG | Abbildende Optik, Projektionsbelichtunsanlage für die Mikrolithographie mit einer derartigen abbildenden Optik, Verfahren zur Herstellung eines mikrostrukturierten Bauteils mit einer derartigen Projektionsbelichtungsanlage, durch das Herstellungsverfahren gefertigtes mikrostrukturiertes Bauelement sowie Verwendung einer derartigen abbildenden Optik |
-
2010
- 2010-03-11 EP EP11185707A patent/EP2447753A1/en not_active Withdrawn
- 2010-03-11 JP JP2012502482A patent/JP5597246B2/ja active Active
- 2010-03-11 KR KR1020117024258A patent/KR101904541B1/ko active IP Right Grant
- 2010-03-11 EP EP10711331A patent/EP2414884A1/en not_active Withdrawn
- 2010-03-11 CN CN201080023767.6A patent/CN102449526B/zh active Active
- 2010-03-11 WO PCT/EP2010/001512 patent/WO2010115500A1/en active Application Filing
- 2010-03-29 TW TW099109359A patent/TWI498594B/zh active
-
2011
- 2011-09-20 US US13/236,873 patent/US9057964B2/en active Active
-
2014
- 2014-08-08 JP JP2014162869A patent/JP5896313B2/ja active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN102449526A (zh) | 2012-05-09 |
JP5597246B2 (ja) | 2014-10-01 |
KR20120005463A (ko) | 2012-01-16 |
WO2010115500A1 (en) | 2010-10-14 |
KR101904541B1 (ko) | 2018-10-04 |
US9057964B2 (en) | 2015-06-16 |
JP2014222366A (ja) | 2014-11-27 |
TW201044004A (en) | 2010-12-16 |
TWI498594B (zh) | 2015-09-01 |
US20120069315A1 (en) | 2012-03-22 |
EP2447753A1 (en) | 2012-05-02 |
EP2414884A1 (en) | 2012-02-08 |
JP2012522273A (ja) | 2012-09-20 |
CN102449526B (zh) | 2014-05-07 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP7565324B2 (ja) | 物体視野を像視野内に結像するための投影光学ユニット及びそのような投影光学ユニットを含む投影露光装置 | |
JP5896313B2 (ja) | 結像光学系及びこの種の結像光学系を備えたマイクロリソグラフィ用の投影露光装置 | |
JP6963642B2 (ja) | 投影リソグラフィのための照明光学ユニット | |
JP5319789B2 (ja) | 結像光学系及びこの種の結像光学系を有するマイクロリソグラフィ用の投影露光装置 | |
KR102003073B1 (ko) | 이미징 광학 시스템 | |
JP5726396B2 (ja) | 結像光学系 | |
JP5525550B2 (ja) | マイクロリソグラフィ用の照明光学系及び光学系 | |
JP7071327B2 (ja) | Euv投影リソグラフィのための投影光学ユニット | |
JP5643755B2 (ja) | 結像光学系 | |
TWI694311B (zh) | 投影微影的光學次系統與投影微影的照明光學單元 | |
JP5559462B2 (ja) | マイクロリソグラフィのための投影光学系 | |
US9013677B2 (en) | Imaging optics, microlithography projection exposure apparatus having same and related methods | |
JP5946190B2 (ja) | 結像光学系及びこの種の結像光学系を有するマイクロリソグラフィのための投影露光装置 | |
JP2015052797A (ja) | 結像光学系及びこの種の結像光学系を備えたマイクロリソグラフィ用の投影露光装置 | |
JP7284766B2 (ja) | Euvマイクロリソグラフィ用の結像光学ユニット |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20150525 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20150610 |
|
A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20150826 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20151209 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20160104 |
|
A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20160203 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20160218 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 5896313 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |