JP2012137387A - X線検査装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】画像処理アルゴリズムを予め複数記憶する情報蓄積部47と、被検査物W中から検出する異物について、主に検出すべき異物の成分を含む異物検出能力を表す異物検出特性を選択する設定操作部45と、設定操作部45で選択された異物検出特性に近似する少なくとも1つの画像処理アルゴリズムを情報蓄積部47から抽出する制御部46と、制御部46により抽出された画像処理アルゴリズムを所定形式で表示する表示部5と、を備える。
【選択図】図2
Description
まず構成について説明する。
以下、後述する設定処理に先立って行われる目印−異物間の相対位置情報の記憶処理について説明する。この処理は、目印付きテストピース70における目印81〜84と試験用異物との位置関係をX線検査装置1に予め学習させるためのものである。
設定処理について説明する。図9に示すように、まず、目印付きテストピース70に検査対象の被検査物Wを載置した状態(図10(a)参照)で、X線を照射および透過X線を検出し、検出されたX線透過画像(図10(b)参照)を入力する(ステップS21)。
第2の実施の形態は、予め多くの被検査物Wに対して、検査対象の被検査物Wの画像特徴を調べ、ニューラルネットワークを用いて被検査物Wの形状(画像特徴)と画像処理アルゴリズムの能力値との関係を調べてデータとして記憶しておき、記憶しておいた被検査物Wの形状に近い被検査物Wの形状を抽出し、その被検査物Wの形状に対応する画像処理アルゴリズムを呼び出すようにしたものである。
図11に示すように、学習フェーズ1においては、まず、学習用の被検査物WのX線透過画像を入力する(ステップS41)。
図12に示すように、学習フェーズ2においては、まず、学習用の被検査物W+試験用異物のX線透過画像を入力する(ステップS51)。
以下の運用動作は、前述の学習フェーズ1、学習フェーズ2の実施後に行われるものである。
2 搬送部
3 検出部
4 筐体
5 表示部(画像処理アルゴリズム表示手段)
6 駆動モータ
7 搬入口
8 搬出口
9 X線発生器
10 X線検出器
11 箱体
12 X線管
16 遮蔽カーテン
21 搬送路
22 検査空間
40 制御回路
41 A/D変換部
42 X線画像記憶部
43 画像処理部
44 判定部
45 設定操作部(異物検出特性選択手段、画像処理アルゴリズム選択操作手段)
46 制御部(画像処理アルゴリズム抽出手段、形状算出手段)
47 情報蓄積部(画像処理アルゴリズム記憶手段、対応関係記憶手段)
70 目印付きテストピース
71〜76 テストピース
81〜84 目印
W 被検査物
Claims (4)
- 被検査物(W)にX線を照射して検出したX線透過量を表す濃淡画像に対して、複数の画像処理フィルタを組み合わせてなる画像処理アルゴリズムを適用して、前記被検査物中の異物を検出するX線検査装置であって、
前記画像処理アルゴリズムを予め複数記憶する画像処理アルゴリズム記憶手段(47)と、
前記被検査物中から検出する異物について、主に検出すべき異物の成分を含む異物検出能力を表す異物検出特性を選択する異物検出特性選択手段(45)と、
前記異物検出特性選択手段で選択された異物検出特性に近似する少なくとも1つの画像処理アルゴリズムを前記画像処理アルゴリズム記憶手段から抽出する画像処理アルゴリズム抽出手段(46)と、
前記画像処理アルゴリズム抽出手段により抽出された画像処理アルゴリズムを所定形式で表示する画像処理アルゴリズム表示手段(5)と、
前記画像処理アルゴリズム表示手段に表示された画像処理アルゴリズムの中から、所望の画像処理アルゴリズムの選択操作を行う画像処理アルゴリズム選択操作手段(45)と、を備えたことを特徴とするX線検査装置。 - 前記被検査物の形状と前記画像処理アルゴリズムとの対応関係を予め記憶する対応関係記憶手段(47)と、
前記被検査物にX線を照射して検出したX線透過量を表す濃淡画像から前記被検査物の形状を算出する形状算出手段(46)と、を備え、
前記画像処理アルゴリズム抽出手段が、前記形状算出手段により算出された被検査物と形状が近似する被検査物に対して前記対応関係記憶手段により関連付けられた画像処理アルゴリズムを対象として、前記異物検出特性選択手段で選択された異物検出特性に近似する少なくとも1つの画像処理アルゴリズムを前記画像処理アルゴリズム記憶手段から抽出することを特徴とする請求項1に記載のX線検査装置。 - 前記画像処理アルゴリズム表示手段が、前記異物検出特性選択手段で選択された異物検出特性との近似度の高い順に、前記画像処理アルゴリズムをランキング形式で表示することを特徴とする請求項1または請求項2に記載のX線検査装置。
- 前記画像処理アルゴリズム記憶手段が、前記画像処理アルゴリズム、該画像処理アルゴリズムの異物検出能力値、および該画像処理アルゴリズムにより前記被検査物中の異物を検出した場合の見本画像を予め複数記憶し、
前記画像処理アルゴリズム表示手段が、前記画像処理アルゴリズムの名称、前記異物検出能力値、および前記見本画像を表示することを特徴とする請求項1乃至請求項3の何れかに記載のX線検査装置。
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---|---|
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Cited By (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101362367B1 (ko) * | 2012-10-23 | 2014-02-13 | (주)자비스 | 컨베이어를 이용한 플렉시블 피씨비 엑스레이검사 방법 |
JP2016114417A (ja) * | 2014-12-12 | 2016-06-23 | アンリツインフィビス株式会社 | X線検査装置 |
JP2016180712A (ja) * | 2015-03-25 | 2016-10-13 | アンリツインフィビス株式会社 | X線検査装置 |
WO2017014194A1 (ja) * | 2015-07-17 | 2017-01-26 | 株式会社イシダ | 光検査システム及び画像処理アルゴリズム設定方法 |
WO2018056257A1 (ja) * | 2016-09-20 | 2018-03-29 | 株式会社イシダ | 光検査装置及び光検査システム |
JP2018048845A (ja) * | 2016-09-20 | 2018-03-29 | 株式会社イシダ | 光検査装置 |
JP2019164156A (ja) * | 2018-02-14 | 2019-09-26 | 株式会社イシダ | 検査装置 |
WO2019189557A1 (ja) * | 2018-03-29 | 2019-10-03 | 日本電気株式会社 | 選別支援装置、選別支援システム、選別支援方法及びプログラム |
WO2020004068A1 (ja) * | 2018-06-29 | 2020-01-02 | 株式会社イシダ | 検査装置、検査システム、検査方法、検査プログラム及び記録媒体 |
JP2020051783A (ja) * | 2018-09-25 | 2020-04-02 | 株式会社明治 | 食品の検査方法及び検査装置 |
WO2020189043A1 (ja) * | 2019-03-19 | 2020-09-24 | 株式会社システムスクエア | 学習モデルの生成方法、学習モデル、検査装置、異常検出方法、及びコンピュータプログラム |
JP2020153765A (ja) * | 2019-03-19 | 2020-09-24 | 株式会社 システムスクエア | 検査装置、異常検出方法、コンピュータプログラム、学習モデルの生成方法、及び学習モデル |
JP2021152489A (ja) * | 2020-03-24 | 2021-09-30 | 株式会社 システムスクエア | 教師データ生成装置、検査装置及びプログラム |
Citations (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2003232752A (ja) * | 2002-02-12 | 2003-08-22 | Yamato Scale Co Ltd | X線異物検査装置の感度校正方法及び感度校正用異物試料体 |
JP2004028891A (ja) * | 2002-06-27 | 2004-01-29 | Anritsu Sanki System Co Ltd | X線画像処理フィルタ自動設定方法,x線異物検出方法及びx線異物検出装置 |
JP2005099033A (ja) * | 2004-10-29 | 2005-04-14 | Shimadzu Corp | X線異物検査装置およびx線異物検査装置のための判定用パラメータ設定装置 |
WO2006001107A1 (ja) * | 2004-06-24 | 2006-01-05 | Ishida Co., Ltd. | X線検査装置およびx線検査装置の画像処理手順の生成方法 |
JP2007286014A (ja) * | 2006-04-20 | 2007-11-01 | Anritsu Sanki System Co Ltd | 物品検査装置 |
JP2009031149A (ja) * | 2007-07-27 | 2009-02-12 | Anritsu Sanki System Co Ltd | 異物検出装置 |
JP2009139230A (ja) * | 2007-12-06 | 2009-06-25 | Anritsu Sanki System Co Ltd | X線異物検出装置 |
JP2009168740A (ja) * | 2008-01-18 | 2009-07-30 | Anritsu Sanki System Co Ltd | X線異物検出装置 |
JP2010054380A (ja) * | 2008-08-28 | 2010-03-11 | Ishida Co Ltd | X線検査装置 |
-
2010
- 2010-12-27 JP JP2010290088A patent/JP5635903B2/ja active Active
Patent Citations (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2003232752A (ja) * | 2002-02-12 | 2003-08-22 | Yamato Scale Co Ltd | X線異物検査装置の感度校正方法及び感度校正用異物試料体 |
JP2004028891A (ja) * | 2002-06-27 | 2004-01-29 | Anritsu Sanki System Co Ltd | X線画像処理フィルタ自動設定方法,x線異物検出方法及びx線異物検出装置 |
WO2006001107A1 (ja) * | 2004-06-24 | 2006-01-05 | Ishida Co., Ltd. | X線検査装置およびx線検査装置の画像処理手順の生成方法 |
JP2005099033A (ja) * | 2004-10-29 | 2005-04-14 | Shimadzu Corp | X線異物検査装置およびx線異物検査装置のための判定用パラメータ設定装置 |
JP2007286014A (ja) * | 2006-04-20 | 2007-11-01 | Anritsu Sanki System Co Ltd | 物品検査装置 |
JP2009031149A (ja) * | 2007-07-27 | 2009-02-12 | Anritsu Sanki System Co Ltd | 異物検出装置 |
JP2009139230A (ja) * | 2007-12-06 | 2009-06-25 | Anritsu Sanki System Co Ltd | X線異物検出装置 |
JP2009168740A (ja) * | 2008-01-18 | 2009-07-30 | Anritsu Sanki System Co Ltd | X線異物検出装置 |
JP2010054380A (ja) * | 2008-08-28 | 2010-03-11 | Ishida Co Ltd | X線検査装置 |
Cited By (21)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101362367B1 (ko) * | 2012-10-23 | 2014-02-13 | (주)자비스 | 컨베이어를 이용한 플렉시블 피씨비 엑스레이검사 방법 |
JP2016114417A (ja) * | 2014-12-12 | 2016-06-23 | アンリツインフィビス株式会社 | X線検査装置 |
JP2016180712A (ja) * | 2015-03-25 | 2016-10-13 | アンリツインフィビス株式会社 | X線検査装置 |
WO2017014194A1 (ja) * | 2015-07-17 | 2017-01-26 | 株式会社イシダ | 光検査システム及び画像処理アルゴリズム設定方法 |
JPWO2017014194A1 (ja) * | 2015-07-17 | 2018-04-26 | 株式会社イシダ | 光検査システム及び画像処理アルゴリズム設定方法 |
WO2018056257A1 (ja) * | 2016-09-20 | 2018-03-29 | 株式会社イシダ | 光検査装置及び光検査システム |
JP2018048845A (ja) * | 2016-09-20 | 2018-03-29 | 株式会社イシダ | 光検査装置 |
JP2018048844A (ja) * | 2016-09-20 | 2018-03-29 | 株式会社イシダ | 光検査装置及び光検査システム |
JP2019164156A (ja) * | 2018-02-14 | 2019-09-26 | 株式会社イシダ | 検査装置 |
JP2019174421A (ja) * | 2018-03-29 | 2019-10-10 | 日本電気株式会社 | 選別支援装置、選別支援システム、選別支援方法及びプログラム |
WO2019189557A1 (ja) * | 2018-03-29 | 2019-10-03 | 日本電気株式会社 | 選別支援装置、選別支援システム、選別支援方法及びプログラム |
WO2020004068A1 (ja) * | 2018-06-29 | 2020-01-02 | 株式会社イシダ | 検査装置、検査システム、検査方法、検査プログラム及び記録媒体 |
JP2020003387A (ja) * | 2018-06-29 | 2020-01-09 | 株式会社イシダ | 検査装置、検査システム、検査方法、検査プログラム及び記録媒体 |
JP7250301B2 (ja) | 2018-06-29 | 2023-04-03 | 株式会社イシダ | 検査装置、検査システム、検査方法、検査プログラム及び記録媒体 |
JP2020051783A (ja) * | 2018-09-25 | 2020-04-02 | 株式会社明治 | 食品の検査方法及び検査装置 |
JP7228981B2 (ja) | 2018-09-25 | 2023-02-27 | 株式会社明治 | 食品の検査方法及び検査装置 |
WO2020189043A1 (ja) * | 2019-03-19 | 2020-09-24 | 株式会社システムスクエア | 学習モデルの生成方法、学習モデル、検査装置、異常検出方法、及びコンピュータプログラム |
JP2020153764A (ja) * | 2019-03-19 | 2020-09-24 | 株式会社 システムスクエア | 学習モデルの生成方法、学習モデル、検査装置、異常検出方法、及びコンピュータプログラム |
JP2020153765A (ja) * | 2019-03-19 | 2020-09-24 | 株式会社 システムスクエア | 検査装置、異常検出方法、コンピュータプログラム、学習モデルの生成方法、及び学習モデル |
WO2020189044A1 (ja) * | 2019-03-19 | 2020-09-24 | 株式会社システムスクエア | 検査装置、異常検出方法、コンピュータプログラム、学習モデルの生成方法、及び学習モデル |
JP2021152489A (ja) * | 2020-03-24 | 2021-09-30 | 株式会社 システムスクエア | 教師データ生成装置、検査装置及びプログラム |
Also Published As
Publication number | Publication date |
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JP5635903B2 (ja) | 2014-12-03 |
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