JP5541884B2 - X線検査装置 - Google Patents
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Description
また、この構成により、少なくとも2つの互いに異なる面積を有する小パターンによりテストピースの表、裏の判別ができ、異物検出確認位置をより確実に算出することができる。
また、この構成により、小パターン自体が試験用異物の配置された領域の境界を示すことになるので、異物検出確認位置の算出を容易に行うことができる。
図1に示すように、X線検査装置1は、搬送部2と検出部3とを筐体4の内部に備え、表示手段5を筐体4の前面上部に備えている。
ここで、第1の実施の形態のX線検査装置1の動作確認モードで用いられるテストピース71について説明する。図3、図4に示すように、テストピース71は、樹脂等のX線を透過する材料からなるシート状の基材に、大きさの異なる複数(例えば6個)の試験用異物81を組み込んだものである。図4(a)〜図4(d)に示す例では、テストピース71には、例えば、右側から順番に、φ2.0mm、φ3.0mm、φ4.0mm、φ5.0mm、φ6.0mm、φ7.0mmの6つのアルミニウム球が、大きさの異なる複数の試験用異物81として所定間隔おきに一列に並べて基材に一体に組み込まれている。
次に、第2の実施の形態のX線検査装置1の動作確認モードで用いられるテストピース171について図10を用いて説明する。なお、第1の実施の形態と共通する構成については共通の符号を用いる。本実施の形態のテストピース171には、図10(d)に示すように、樹脂等のX線を透過する材料からなるシート状の基材に、大きさの異なる複数の試験用異物81(81a〜81f)が組み込まれている。
2 搬送部
3 検出部
4 筐体
5 表示手段
6 駆動モータ
7 搬入口
8 搬出口
9 X線発生器
10 X線検出器
11 箱体
12 X線管
16 遮蔽カーテン
21 搬送路
22 検査空間
40 制御手段
41 A/D変換部
42 X線画像記憶手段
43 目印情報記憶手段
44 目印画像抽出手段
45 相対位置情報記憶手段
46 異物検出確認位置算出手段
48 画像処理フィルタ設定手段
50 設定入力手段
61、62、63、64、161、162、163 目印
61a、61b、62a、62b、63a、63b、64a、161a、161b、162a、162b、163a、163b 小パターン
71、171 テストピース
81、81a、81b、81c、81d、81e、81f 試験用異物
85 異物検出確認位置
Px X線画像
Pw 被検査物画像
Pg 目印画像領域
W 被検査物
Claims (5)
- 一列に並んだ複数の試験用異物および該試験用異物の周部に設けられX線を透過しにくい部材からなる目印を含むテストピース(71)と、被検査物(W)とにX線を照射して検出したX線透過量を表す濃淡画像に基づいて、複数の画像処理フィルタから前記被検査物中の異物を検出するための画像処理フィルタを選択して設定する画像処理フィルタ設定手段(48)、を備えたX線検査装置であって、
前記目印に対応し、前記試験用異物の配列の両端部に対応する位置に配置されて互いに異なる面積を有する小パターンを少なくとも2つ含む所定の画像パターンを目印情報として予め記憶する目印情報記憶手段(43)と、
前記濃淡画像と、前記目印情報記憶手段に記憶された前記目印情報とに基づいて、前記濃淡画像から前記目印情報に対応する目印画像領域を抽出する目印画像抽出手段(44)と、
前記試験用異物の配列に基づいて、前記目印情報に対する異物検出確認位置の相対位置を表す相対位置情報を予め記憶する相対位置情報記憶手段(45)と、
前記相対位置情報記憶手段が記憶する前記相対位置情報と、前記目印画像抽出手段が抽出した前記目印画像領域とに基づいて前記異物検出確認位置を算出する異物検出確認位置算出手段(46)と、を備え、
前記画像処理フィルタ設定手段は、前記複数の画像処理フィルタの各画像処理フィルタごとの、前記異物検出確認位置算出手段が算出した前記異物検出確認位置における異物の検出状況に基づいて、前記異物を検出するための画像処理フィルタを少なくとも1つ設定することを特徴とするX線検査装置。 - 前記目印情報記憶手段に予め記憶する前記所定の画像パターンは、同一形状を有する小パターンを少なくとも2つ含むことを特徴とする請求項1に記載のX線検査装置。
- 前記目印情報記憶手段に予め記憶する前記所定の画像パターンは、前記試験用異物の配列について非対称な小パターンを少なくとも1つ含むことを特徴とする請求項1または請求項2に記載のX線検査装置。
- 前記目印情報記憶手段に予め記憶する前記所定の画像パターンは、前記試験用異物の配列に対して非対称であることを特徴とする請求項1から請求項3のいずれかに記載のX線検査装置。
- 前記画像処理フィルタ設定手段は、
前記検出状況に基づいて、前記試験用異物のうち所定の試験用異物と他の試験用異物とのそれぞれを検出するために異なる画像処理フィルタを選択することにより、複数の画像処理フィルタを設定することを特徴とする請求項1から請求項4のいずれかに記載のX線検査装置。
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