JP2018048845A - 光検査装置 - Google Patents
光検査装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2018048845A JP2018048845A JP2016183280A JP2016183280A JP2018048845A JP 2018048845 A JP2018048845 A JP 2018048845A JP 2016183280 A JP2016183280 A JP 2016183280A JP 2016183280 A JP2016183280 A JP 2016183280A JP 2018048845 A JP2018048845 A JP 2018048845A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- image processing
- image
- processing algorithm
- unit
- defective product
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 238000007689 inspection Methods 0.000 title claims abstract description 140
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 title claims abstract description 30
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 claims abstract description 19
- 230000002950 deficient Effects 0.000 claims description 101
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 27
- 238000012790 confirmation Methods 0.000 description 8
- 230000006870 function Effects 0.000 description 5
- 230000002068 genetic effect Effects 0.000 description 4
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 3
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 3
- 238000000034 method Methods 0.000 description 3
- 239000005022 packaging material Substances 0.000 description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 235000013305 food Nutrition 0.000 description 2
- 239000000463 material Substances 0.000 description 2
- 229910001220 stainless steel Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010935 stainless steel Substances 0.000 description 2
- 241000032989 Ipomoea lacunosa Species 0.000 description 1
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 1
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 230000006872 improvement Effects 0.000 description 1
- 230000010365 information processing Effects 0.000 description 1
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 description 1
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 235000013372 meat Nutrition 0.000 description 1
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 1
- 230000008569 process Effects 0.000 description 1
- 238000010187 selection method Methods 0.000 description 1
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 1
Images
Landscapes
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
Abstract
Description
図1及び図2に示されるX線検査装置(光検査装置)1は、食品等の物品Gの生産ラインに設置されている。X線検査装置1は、物品GにX線(光)を透過させることで得られたX線透過画像(透過画像)に対して、画像処理アルゴリズムを用いた画像処理を施して処理画像を生成する。X線検査装置1は、生成した処理画像に基づいて、物品Gに含まれる異物の有無を検査する。
次に、第2実施形態に係るX線検査装置について説明する。第2実施形態の説明では、上記第1実施形態と異なる点について説明する。
Claims (7)
- 物品に光を透過させることで得られた透過画像に対して、画像処理アルゴリズムを用いた画像処理を施して処理画像を生成し、前記処理画像に基づいて前記物品の検査を行う光検査装置であって、
複数の前記画像処理アルゴリズムを予め記憶する記憶部と、
前記記憶部に記憶された複数の前記画像処理アルゴリズムのうちオペレータによって選択された少なくとも1つを、前記検査時の前記画像処理に用いる検査用画像処理アルゴリズムに設定する設定部と、
異物を含む前記物品に光を透過させることにより得られた不良品透過画像に対して、前記記憶部に記憶された一の前記画像処理アルゴリズムを用いた前記画像処理を施して不良品処理画像を生成する処理を、前記記憶部に記憶された複数の前記画像処理アルゴリズムについて行う画像処理部と、
前記画像処理部で生成した複数の前記不良品処理画像の少なくとも何れかを表示する表示部と、
前記画像処理部で生成した複数の前記不良品処理画像の少なくとも何れかに対するマーキング操作を前記オペレータから受け付ける操作部と、を備え、
前記設定部は、
前記操作部が前記マーキング操作を受け付けた場合、当該マーキング操作の対象となった前記不良品処理画像の前記画像処理に用いた前記画像処理アルゴリズムに関する情報を、前記記憶部に記憶させる、光検査装置。 - 前記設定部は、
前記操作部が前記マーキング操作を受け付けた場合、当該マーキング操作の対象となった前記不良品処理画像の前記画像処理に用いた前記画像処理アルゴリズムに関する情報を、前記表示部に表示させる、請求項1記載の光検査装置。 - 前記操作部は、複数の前記不良品処理画像の少なくとも何れかに対して優先度を付与するランキング操作を前記オペレータから受け付け、
前記設定部は、
前記操作部が前記ランキング操作を受け付けた場合、当該ランキング操作の対象となった前記不良品処理画像の前記画像処理に用いた前記画像処理アルゴリズムと当該ランキング操作で付与された前記優先度とに関する情報を、前記記憶部に記憶させる、請求項1又は2記載の光検査装置。 - 前記設定部は、
前記操作部が前記ランキング操作を受け付けた場合、当該ランキング操作の対象となった前記不良品処理画像の前記画像処理に用いた前記画像処理アルゴリズムと当該ランキング操作で付与された前記優先度とに関する情報を、前記表示部に表示させる、請求項3記載の光検査装置。 - 前記設定部は、前記マーキング操作の対象となった複数の前記不良品処理画像を、前記表示部に並べて表示させる、請求項1〜4の何れか一項記載の光検査装置。
- 前記設定部で設定する前記検査用画像処理アルゴリズムには、第1及び第2検査用画像処理アルゴリズムが含まれ、
前記操作部は、
前記第1検査用画像処理アルゴリズムに関する前記マーキング操作である第1マーキング操作と前記第2検査用画像処理アルゴリズムに関する前記マーキング操作である第2マーキング操作とを前記オペレータから受け付け、
前記設定部は、
前記操作部が前記第1マーキング操作を受け付けた場合、当該第1マーキング操作の対象となった前記不良品処理画像の前記画像処理に用いた前記画像処理アルゴリズムに関する情報を、前記第1検査用画像処理アルゴリズムに関する情報として前記記憶部に記憶させ、
前記操作部が前記第2マーキング操作を受け付けた場合、当該第2マーキング操作の対象となった前記不良品処理画像の前記画像処理に用いた前記画像処理アルゴリズムに関する情報を、前記第2検査用画像処理アルゴリズムに関する情報として前記記憶部に記憶させる、請求項1〜5の何れか一項記載の光検査装置。 - 前記設定部は、
前記操作部が前記第1マーキング操作を受け付けた場合、当該第1マーキング操作の対象となった前記不良品処理画像の前記画像処理に用いた前記画像処理アルゴリズムに関する情報を、前記第1検査用画像処理アルゴリズムに関する情報として前記表示部に表示させ、
前記操作部が前記第2マーキング操作を受け付けた場合、当該第2マーキング操作の対象となった前記不良品処理画像の前記画像処理に用いた前記画像処理アルゴリズムに関する情報を、前記第2検査用画像処理アルゴリズムに関する情報として前記表示部に表示させる、請求項6記載の光検査装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2016183280A JP6893676B2 (ja) | 2016-09-20 | 2016-09-20 | 光検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2016183280A JP6893676B2 (ja) | 2016-09-20 | 2016-09-20 | 光検査装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2018048845A true JP2018048845A (ja) | 2018-03-29 |
JP6893676B2 JP6893676B2 (ja) | 2021-06-23 |
Family
ID=61767494
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2016183280A Active JP6893676B2 (ja) | 2016-09-20 | 2016-09-20 | 光検査装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP6893676B2 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2020189044A1 (ja) * | 2019-03-19 | 2020-09-24 | 株式会社システムスクエア | 検査装置、異常検出方法、コンピュータプログラム、学習モデルの生成方法、及び学習モデル |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2010244320A (ja) * | 2009-04-07 | 2010-10-28 | Panasonic Electric Works Co Ltd | 画像処理装置 |
JP2012137387A (ja) * | 2010-12-27 | 2012-07-19 | Anritsu Sanki System Co Ltd | X線検査装置 |
JP2016114417A (ja) * | 2014-12-12 | 2016-06-23 | アンリツインフィビス株式会社 | X線検査装置 |
US20160210526A1 (en) * | 2012-05-08 | 2016-07-21 | Kla-Tencor Corporation | Visual Feedback for Inspection Algorithms and Filters |
-
2016
- 2016-09-20 JP JP2016183280A patent/JP6893676B2/ja active Active
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2010244320A (ja) * | 2009-04-07 | 2010-10-28 | Panasonic Electric Works Co Ltd | 画像処理装置 |
JP2012137387A (ja) * | 2010-12-27 | 2012-07-19 | Anritsu Sanki System Co Ltd | X線検査装置 |
US20160210526A1 (en) * | 2012-05-08 | 2016-07-21 | Kla-Tencor Corporation | Visual Feedback for Inspection Algorithms and Filters |
JP2016114417A (ja) * | 2014-12-12 | 2016-06-23 | アンリツインフィビス株式会社 | X線検査装置 |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2020189044A1 (ja) * | 2019-03-19 | 2020-09-24 | 株式会社システムスクエア | 検査装置、異常検出方法、コンピュータプログラム、学習モデルの生成方法、及び学習モデル |
JP2020153765A (ja) * | 2019-03-19 | 2020-09-24 | 株式会社 システムスクエア | 検査装置、異常検出方法、コンピュータプログラム、学習モデルの生成方法、及び学習モデル |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP6893676B2 (ja) | 2021-06-23 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR20210126163A (ko) | 검사 장치 | |
JP6920988B2 (ja) | 検査装置 | |
KR102387529B1 (ko) | 검사 장치 | |
JP4849805B2 (ja) | 検査装置及びptp包装機 | |
JP7239507B2 (ja) | アラート出力タイミング制御装置、アラート出力タイミング制御方法、アラート出力タイミング制御プログラム | |
JP5864404B2 (ja) | X線検査装置 | |
JPWO2017014194A1 (ja) | 光検査システム及び画像処理アルゴリズム設定方法 | |
JP6893676B2 (ja) | 光検査装置 | |
US20220318985A1 (en) | Training data generation device, inspection device and program | |
JP6346753B2 (ja) | 包装体検査装置 | |
JP5822315B2 (ja) | 作業支援システム、作業支援装置、作業支援方法、及びプログラム | |
WO2019235022A1 (ja) | 検査装置 | |
JP2005031069A (ja) | X線検査装置 | |
JP7250301B2 (ja) | 検査装置、検査システム、検査方法、検査プログラム及び記録媒体 | |
JP6763569B2 (ja) | 光検査装置及び光検査システム | |
JP6144584B2 (ja) | 破損検査装置 | |
JP6757970B2 (ja) | 光検査装置及び光検査方法 | |
JP2010112850A (ja) | X線検査装置 | |
JP6941851B2 (ja) | 質量推定装置 | |
KR101138653B1 (ko) | 터치위치 판독 개시 시점 판단 방법 | |
WO2021166727A1 (ja) | 検査支援装置、検査支援方法、及びコンピュータ読み取り可能な記録媒体 | |
JPWO2017159855A1 (ja) | X線検査装置 | |
JP2024054011A (ja) | 検査装置 | |
JP2022128310A (ja) | 計数装置、学習モデル生成装置、検査装置及びプログラム | |
JP2022106094A (ja) | 異物管理システム |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20190919 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20200520 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20200818 |
|
A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20201019 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20201217 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20210511 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20210526 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 6893676 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |