JP6757970B2 - 光検査装置及び光検査方法 - Google Patents
光検査装置及び光検査方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP6757970B2 JP6757970B2 JP2016183281A JP2016183281A JP6757970B2 JP 6757970 B2 JP6757970 B2 JP 6757970B2 JP 2016183281 A JP2016183281 A JP 2016183281A JP 2016183281 A JP2016183281 A JP 2016183281A JP 6757970 B2 JP6757970 B2 JP 6757970B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- image processing
- image
- defective
- processing algorithm
- article
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
Images
Description
Claims (5)
- 物品に光を透過させることで得られた透過画像に対して、画像処理アルゴリズムを用いた画像処理を施して処理画像を生成し、前記処理画像に基づいて前記物品の検査を行う光検査装置であって、
複数の前記画像処理アルゴリズムを予め記憶する記憶部と、
前記記憶部に記憶された複数の前記画像処理アルゴリズムの少なくとも1つを、前記検査時の前記画像処理に用いる前記画像処理アルゴリズムに設定する設定部と、
良品の前記物品に光を透過させることにより得られた良品透過画像に対して、前記記憶部に記憶された一の前記画像処理アルゴリズムを用いた画像処理を施して良品処理画像を生成する処理を、前記記憶部に記憶された複数の前記画像処理アルゴリズムについて行う画像処理部と、を備え、
前記設定部は、
前記画像処理部で生成した複数の前記良品処理画像における画素の明るさに関する情報に基づいて、前記記憶部に記憶された複数の前記画像処理アルゴリズムの中から、設定する前記画像処理アルゴリズムの候補である複数の画像処理アルゴリズム候補を選出する選出部を有する、光検査装置。 - 前記選出部は、
複数の前記良品処理画像それぞれにおける物品検査領域内の画素値の合計又はバラツキに基づいて、複数の前記良品処理画像の中から1又は複数の良品処理画像を選出し、
選出した1又は複数の前記良品処理画像の生成に用いられた前記画像処理アルゴリズムを、前記画像処理アルゴリズム候補として選出する、請求項1に記載の光検査装置。 - 前記選出部は、
複数の前記良品処理画像の中から、前記画素値の合計が大きい順又は小さい順で上位所定数の前記良品処理画像を選出し、
選出した上位所定数の前記良品処理画像の生成に用いられた前記画像処理アルゴリズムを、前記画像処理アルゴリズム候補として選出する、請求項2に記載の光検査装置。 - 前記選出部は、複数の前記画像処理アルゴリズム候補の優先順位を、前記画像処理アルゴリズム候補に対応する前記良品処理画像における画素の明るさに関する情報に基づいて設定する、請求項1〜3の何れか一項に記載の光検査装置。
- 物品に光を透過させることで得られた透過画像に対して、画像処理アルゴリズムを用いた画像処理を施して処理画像を生成し、前記処理画像に基づいて前記物品の検査を行う光検査方法であって、
複数の前記画像処理アルゴリズムを予め記憶する記憶ステップと、
前記記憶ステップで記憶された複数の前記画像処理アルゴリズムの少なくとも1つを、前記検査時の前記画像処理に用いる前記画像処理アルゴリズムに設定する設定ステップと、
良品の前記物品に光を透過させることにより得られた良品透過画像に対して、前記記憶ステップで記憶された一の前記画像処理アルゴリズムを用いた画像処理を施して良品処理画像を生成する処理を、前記記憶ステップで記憶された複数の前記画像処理アルゴリズムについて行う画像処理ステップと、を備え、
前記設定ステップは、
前記画像処理ステップで生成した複数の前記良品処理画像における画素の明るさに関する情報に基づいて、前記記憶ステップで記憶された複数の前記画像処理アルゴリズムの中から、設定する前記画像処理アルゴリズムの候補である複数の画像処理アルゴリズム候補を選出する選出ステップを有する、光検査方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2016183281A JP6757970B2 (ja) | 2016-09-20 | 2016-09-20 | 光検査装置及び光検査方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2016183281A JP6757970B2 (ja) | 2016-09-20 | 2016-09-20 | 光検査装置及び光検査方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2018048846A JP2018048846A (ja) | 2018-03-29 |
JP6757970B2 true JP6757970B2 (ja) | 2020-09-23 |
Family
ID=61766175
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2016183281A Active JP6757970B2 (ja) | 2016-09-20 | 2016-09-20 | 光検査装置及び光検査方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP6757970B2 (ja) |
Family Cites Families (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3839658B2 (ja) * | 2000-11-10 | 2006-11-01 | 株式会社イシダ | X線検査装置 |
KR100775695B1 (ko) * | 2004-06-24 | 2007-11-09 | 가부시끼가이샤 이시다 | X선 검사 장치 및 x선 검사 장치의 화상 처리 순서의생성 방법 |
JP4684928B2 (ja) * | 2006-03-29 | 2011-05-18 | アンリツ産機システム株式会社 | X線検査システム |
DE112012004856B4 (de) * | 2011-11-22 | 2022-01-05 | The University Of North Carolina At Chapel Hill | Kontrollsystem und Verfahren zur schnellen, platzsparenden Röntgentomografiekontrolle |
JP6068060B2 (ja) * | 2012-08-31 | 2017-01-25 | 株式会社イシダ | X線検査装置 |
JP6022860B2 (ja) * | 2012-08-31 | 2016-11-09 | 株式会社イシダ | 物品検査装置及び物品検査方法 |
-
2016
- 2016-09-20 JP JP2016183281A patent/JP6757970B2/ja active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2018048846A (ja) | 2018-03-29 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP7250331B2 (ja) | 画像生成装置、検査装置及び学習装置 | |
JP4317566B2 (ja) | X線検査装置およびx線検査装置の画像処理手順の生成方法 | |
KR20210126163A (ko) | 검사 장치 | |
JP6920988B2 (ja) | 検査装置 | |
KR102387529B1 (ko) | 검사 장치 | |
JP6746142B2 (ja) | 光検査システム及び画像処理アルゴリズム設定方法 | |
JP2016156647A (ja) | 電磁波を使用した検査装置 | |
JP5829087B2 (ja) | X線検査装置 | |
JP6757970B2 (ja) | 光検査装置及び光検査方法 | |
JP2015137858A (ja) | 検査装置 | |
KR102498829B1 (ko) | 검사 장치 | |
JP7250330B2 (ja) | 検査装置及び学習装置 | |
JPWO2019235022A1 (ja) | 検査装置 | |
JP6893676B2 (ja) | 光検査装置 | |
JP6763569B2 (ja) | 光検査装置及び光検査システム | |
JP6941851B2 (ja) | 質量推定装置 | |
JP7250301B2 (ja) | 検査装置、検査システム、検査方法、検査プログラム及び記録媒体 | |
WO2020189087A1 (ja) | X線検査装置 | |
JP2013152127A (ja) | 密度算出装置 | |
JPWO2017159855A1 (ja) | X線検査装置 | |
JP2023113030A (ja) | X線検査装置 | |
JP2024054011A (ja) | 検査装置 | |
JP2023132587A (ja) | X線検査装置及びその調整方法 | |
JP2015137859A (ja) | X線検査装置 | |
JP2021148645A (ja) | X線検査装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20190919 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20200520 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20200818 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20200826 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 6757970 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |