JP6068060B2 - Ｘ線検査装置 - Google Patents

Description

本発明は、複数の異なる入れ物のいずれかに収容された状態で搬送される物品の検査を行うＸ線検査装置に関する。

搬送されてくる被検査対象をＸ線検査装置により検査する単一の検査ラインに、材質や形状等の異なる複数の入れ物のいずれかに収容された状態で、被検査対象としての物品が供給される場合がある。このような場合には、入れ物によって、Ｘ線の吸収量や、収容される製品の個数等が異なるため、単一の検査条件では精度のよいＸ線検査が困難である。

このような問題に対し、入れ物の種類を判別する判別手段を別途設置し、入れ物の判別結果に応じて検査条件を変更するという対応が考えられる。例えば、特許文献１（特開２００４−２９０４０号公報）には、検査対象をテレビカメラで撮影し、その形状等から検査対象を判別し、判別された検査対象に応じてＸ線検査の検査条件を変更する事例が開示されている。

しかし、特許文献１のような構成では、入れ物の判別手段を別途設置する必要があり、設備費用が増大する。

本発明の課題は、複数の異なる入れ物のいずれかに収容された物品が被検査対象として供給されるＸ線検査装置において、設備費用を抑制しつつ、入れ物に応じた適切な検査条件で物品を検査可能なＸ線検査装置を提供することにある。

本発明に係るＸ線検査装置は、複数の異なる入れ物のうちいずれかの入れ物に収容された状態で搬送される物品の検査を行う。Ｘ線検査装置は、搬送部と、照射部と、検出部と、画像生成部と、把握部と、記憶部と、検査部と、を備える。搬送部は、物品の収容された入れ物を搬送する。照射部は、搬送部で搬送される入れ物と物品とからなる集合体に対してＸ線を照射する。検出部は、集合体を透過したＸ線を検出する。画像生成部は、検出部によるＸ線の検出結果を用いてＸ線画像を生成する。把握部は、Ｘ線画像の、集合体全体に対応する部分の特徴を把握する。記憶部は、それぞれの入れ物について、その入れ物と物品とからなる集合体全体に対応する部分の特徴に関する情報を記憶する。検査部は、把握部が把握した特徴と、記憶部に記憶された情報とに基づいて、入れ物を判別し、判別した入れ物に対応する検査条件で、検査対象領域内のＸ線画像を用いて物品の検査を行う。

ここでは、Ｘ線画像の、入れ物及び物品からなる集合体全体に対応する部分の特徴が把握され、その特徴に応じた検査条件で物品の検査が行われる。そのため、入れ物の種類を認識するための機器を別途設けることなく、入れ物の種類に応じた適切な検査条件でＸ線検査を実行できる。

また、本発明に係るＸ線検査装置では、把握部は、集合体全体に対応する部分の、面積、長さ、及び全周長の少なくとも１つを特徴として把握することが望ましい。

ここでは、集合体全体に対応する部分の、面積、長さ、及び全周長の少なくとも１つを特徴として把握することで、入れ物の種類に応じた適切な検査条件でＸ線検査を実行できる。

また、本発明に係るＸ線検査装置では、検査部は、検査対象領域内のＸ線画像から、マスク領域のＸ線画像を除外して物品の検査を行うものであって、特徴と記憶部に記憶された情報とに基づいて判別された入れ物に対応するように、検査条件としてのマスク領域を変更することが望ましい。

これにより、入れ物の種類に応じた適切なマスク領域を検査条件として用い、精度のよいＸ線検査を実行することができる。

また、本発明に係るＸ線検査装置では、検査部は、特徴と記憶部に記憶された情報とに基づいて判別された入れ物に対応するように、検査条件としての物品の検査のアルゴリズムを変更することが望ましい。

これにより、入れ物の種類に応じて適切な検査アルゴリズムを用い、精度のよいＸ線検査を実行することができる。

また、本発明に係るＸ線検査装置では、検査部は、Ｘ線画像の濃度と閾値とを比較した結果を用いて物品の検査を行うものであって、特徴と記憶部に記憶された情報とに基づいて判別された入れ物に対応するように、検査条件としての閾値を変更することが望ましい。

これにより、入れ物の種類に応じ適切な検査基準を用いたＸ線検査を実行できる。

また、本発明に係るＸ線検査装置では、入れ物には、複数の物品が収容されており、検査部は、入れ物内の物品の入り数を検査することが望ましい。

これにより、複数の入れ物に収容された物品の入り数検査を、入れ物の種類に応じた適切な条件で実行できる。

また、本発明に係るＸ線検査装置では、検査部は、物品の異物検査を行うことが望ましい。

これにより、複数の入れ物に収容された物品の異物検査を、入れ物の種類に応じた適切な条件で実行できる。

本発明に係るＸ線検査装置では、Ｘ線画像の、入れ物及び物品からなる集合体全体に対応する部分の特徴が把握され、その特徴に応じた検査条件で物品の検査が行われる。そのため、入れ物の種類を認識するための機器を別途設けることなく、入れ物の種類に応じた適切な検査条件でＸ線検査を実行できる。

本発明の一実施形態に係るＸ線検査装置の斜視図である。 図１のＸ線検査装置が用いられるシステムの概略平面図である。 図１のＸ線検査装置のブロック構成図である。 図１のＸ線検査装置のシールドボックス内の概略斜視図である。 （ａ）図１のＸ線検査装置で検査される、ケースに収容された物品（第１集合体）の概略平面図である。図中の矢印は、第１集合体の搬送方向Ｄを示す。（ｂ）図１のＸ線検査装置で検査される、ダンボールに収容された物品（第２集合体）の概略平面図である。図中の矢印は、第２集合体の搬送方向Ｄを示す。 （ａ）図１のＸ線検査装置の画像生成部により生成された、図５（ａ）の第１集合体のＸ線画像である。（ｂ）図１のＸ線検査装置の画像生成部により生成された、図５（ｂ）の第２集合体のＸ線画像である。 （ａ）図６（ａ）のＸ線画像が二値化された画像である。（ｂ）図６（ｂ）のＸ線画像が二値化された画像である。 図１のＸ線検査装置による、異物検査及び入り数検査に関する処理（Ｘ線画像生成及びＸ線画像の集合体全体に対応する部分の特徴把握を含む）のフローチャートである。

以下、図面を参照して、本発明の一実施形態に係るＸ線検査装置１０について説明する。なお、下記の実施形態は、本発明の趣旨を逸脱しない範囲で適宜変更可能である。

（１）全体構成
Ｘ線検査装置１０は、複数の異なる入れ物Ｃのいずれかに収容された状態で搬送される物品ＰにＸ線を照射し、物品ＰのＸ線検査を行う装置である。図１にＸ線検査装置１０の斜視図を示す。

入れ物Ｃは、検査工程において、物品Ｐが収容される入れ物である。なお、入れ物Ｃは、検査工程前後の輸送工程等でも使用されてもよい。入れ物Ｃは、樹脂製のケースＣ１及びダンボールＣ２の２種類からなる。樹脂製のケースＣ１及びダンボールＣ２には、それぞれ所定の数量の物品Ｐが収容される。物品Ｐは例えばケーキやパンなどの食品である。

ここでは、入れ物Ｃと入れ物Ｃに収容された物品Ｐとを併せて集合体Ｇと呼ぶ。特に、ケースＣ１とそのケースＣ１に収容された物品Ｐとを併せて第１集合体Ｇ１と呼び、ダンボールＣ２とそのダンボールＣ２に収容された物品Ｐとを併せて第２集合体Ｇ２と呼ぶ。

Ｘ線検査装置１０は、例えば、図２に示すシステム内で用いられる。物品Ｐの収容された入れ物Ｃ（集合体Ｇ）は、前段コンベア６０によってＸ線検査装置１０まで搬送される。前段コンベア６０は、第１集合体Ｇ１と第２集合体Ｇ２とのいずれかを規則性無く搬送する。Ｘ線検査装置１０は、前段コンベア６０によって搬送されてきたケースＣ１又はダンボールＣ２内の物品ＰのＸ線検査を行う。Ｘ線検査装置１０による物品ＰのＸ線検査の結果は、Ｘ線検査装置１０の下流側に配置されている振分機構７０に送信される。振分機構７０は、Ｘ線検査装置１０において良品（検査合格）と判定された物品Ｐの収容された入れ物Ｃ（集合体Ｇ）を正規のラインコンベア８０へと送り、Ｘ線検査装置１０において不良品（検査不合格）と判定された物品Ｐの収容された入れ物Ｃ（集合体Ｇ）を不良品貯留コンベア９０へと送る。

Ｘ線検査装置１０は、図１、図３、及び図４に示すように、主として、シールドボックス１１と、コンベア１２と、Ｘ線照射器１３と、Ｘ線ラインセンサ１４と、光電センサ１５と、モニタ２０と、制御機器３０と、から構成されている。

（２）詳細構成
以下に、Ｘ線検査装置１０のシールドボックス１１と、コンベア１２と、Ｘ線照射器１３と、Ｘ線ラインセンサ１４と、光電センサ１５と、モニタ２０と、制御機器３０と、について詳述する。

なお、以下では、方向や位置関係を説明する際に「前（正面）」、「後（背面）」、「上」、「下」、「左」、「右」等の表現を用いる場合があるが、特に断りのない限り、図１の矢印に従って、「前（正面）」、「後（背面）」、「上」、「下」、「左」、「右」という表現を使用する。

（２−１）シールドボックス
シールドボックス１１の左右側面には、図１のように、物品Ｐの収容された入れ物Ｃ（集合体Ｇ）をシールドボックス１１の内外に搬入出するための開口１１ａが形成されている。開口１１ａは、シールドボックス１１の外部へのＸ線の漏洩を防止するために、遮蔽ノレン（図示せず）によって塞がれている。遮蔽ノレンは、鉛を含むゴムで成形されており、入れ物Ｃが開口１１ａを通過する際には入れ物Ｃによって押しのけられるようになっている。

シールドボックス１１内には、コンベア１２、Ｘ線照射器１３、Ｘ線ラインセンサ１４、制御機器３０等が収容されている。また、シールドボックス１１の正面上部には、モニタ２０の他、キーの差し込み口及び電源スイッチ等が配置されている。

（２−２）コンベア
コンベア１２は、物品Ｐの収容された入れ物Ｃ（集合体Ｇ）を搬送する搬送部である。コンベア１２は、図１に示すように、シールドボックス１１の両側面に形成された開口１１ａを貫通するように配置されている。コンベア１２は、コンベアモータ１２ａ（図３参照）によって駆動される駆動ローラによって無端状のベルトを回転させ、ベルト上に載置された入れ物Ｃを搬送方向Ｄ（図１における左から右）に搬送する（図４参照）。なお、搬送方向Ｄは例であり、コンベア１２は、逆方向（図１における右から左）に入れ物Ｃを搬送してもよい。

コンベア１２は、第１集合体Ｇ１及び第２集合体Ｇ２を、概ね図５（ａ）及び図５（ｂ）の姿勢で搬送方向Ｄに搬送する。つまり、コンベア１２は、ケースＣ１及びダンボールＣ２の長手方向を搬送方向Ｄとして、第１集合体Ｇ１及び第２集合体Ｇ２を搬送する。ただし、ケースＣ１及びダンボールＣ２の向きは例示であり、コンベア１２は、ケースＣ１及びダンボールＣ２の短手方向を搬送方向Ｄとして、第１集合体Ｇ１及び第２集合体Ｇ２を搬送してもよい。なお、ケースＣ１及びダンボールＣ２は、上述のように、それぞれ第１集合体Ｇ１及び第２集合体Ｇ２を構成する入れ物であり、入れ物Ｃの下位概念である。

コンベア１２による入れ物Ｃの搬送速度は、後述する制御機器３０によるコンベアモータ１２ａのインバータ制御により、後述するモニタ２０からオペレータにより入力された設定どおりになるように制御される。また、コンベアモータ１２ａには、図３のように、コンベア１２の搬送速度を検出し、制御機器３０に対して送信するエンコーダ１２ｂが設けられている。

（２−３）Ｘ線照射器
Ｘ線照射器１３は、Ｘ線を照射する照射部である。Ｘ線照射器１３は、図４に示すように、コンベア１２の中央上方に配置されている。Ｘ線照射器１３は、コンベア１２の下方に配されるＸ線ラインセンサ１４に向けてＸ線を照射する。

Ｘ線照射器１３から照射されたＸ線は、図示しないスリットを通過して、Ｘ線照射器１３を二等辺三角形の頂点とした略二等辺三角形状の照射範囲Ｙに広がる。なお、Ｘ線照射器１３から照射されるＸ線は、コンベア１２の搬送面に略垂直で、コンベア１２の搬送方向に略直交する面上で広がる。言い換えれば、Ｘ線照射器１３から照射されるＸ線は、コンベア１２の搬送ベルトの幅方向（図１における前後方向）に広がる。検査対象である物品Ｐの収容された入れ物Ｃ（集合体Ｇ）は、コンベア１２により搬送され、Ｘ線の照射範囲Ｙ内を通過する。つまり、Ｘ線照射器１３は、入れ物Ｃと物品Ｐとからなる集合体Ｇに対してＸ線を照射する。

（２−４）Ｘ線ラインセンサ
Ｘ線ラインセンサ１４は、Ｘ線を検出する検出部である。Ｘ線ラインセンサ１４は、図４に示すように、コンベア１２の下方に配置されている。Ｘ線ラインセンサ１４は、主として多数の画素センサ１４ａから構成されている。これらの画素センサ１４ａは、コンベア１２の搬送方向に略直交し、かつ、コンベア１２の搬送面に略平行な方向に、直線状に配置されている。各画素センサ１４ａは、物品Ｐ及び入れ物Ｃ（集合体Ｇ）やコンベア１２を透過したＸ線を検出し、Ｘ線透視像信号を出力する。Ｘ線透視像信号は、画素センサ１４ａが検出したＸ線の強度（透過Ｘ線量）が大きいほど、言い換えればＸ線照射器１３と画素センサ１４ａとの間にＸ線を遮るものが少ないほど、大きな値を示す。

（２−５）光電センサ
光電センサ１５は、物品Ｐの収容された入れ物ＣがＸ線の照射範囲Ｙを通過するタイミングを検知するための同期センサである。光電センサ１５は、図４のように、コンベア１２を挟んで配置される一対の投光器１５ａ及び受光器１５ｂから構成されている。

（２−６）モニタ
モニタ２０は、液晶ディスプレイであり、Ｘ線画像等の各種データが表示される。また、モニタ２０は、タッチパネル機能を有しており、オペレータから検査パラメータ等の各種データの入力を受け付ける。

（２−７）制御機器
制御機器３０は、コンベア１２のコンベアモータ１２ａ及びエンコーダ１２ｂ、Ｘ線照射器１３、Ｘ線ラインセンサ１４、光電センサ１５、及びモニタ２０を含むＸ線検査装置１０の各部に接続されている。また、制御機器３０は、Ｘ線検査装置１０の後段に配置される振分機構７０とも接続されている。制御機器３０は、主に、Ｘ線検査装置１０の各部の制御を行うと共に、Ｘ線検査装置１０の各部と各種信号及び各種情報の授受を行う。

制御機器３０は、図３に示すように、記憶部３１及び制御部３２を含む。記憶部３１は、主として、ＲＯＭ、ＲＡＭ、及びＨＤＤ（ハードディスク）等によって構成されている。制御部３２は、主としてＣＰＵによって構成されている。

（２−７−１）記憶部
記憶部３１には、制御部３２に実行させる各種プログラムが記憶されている。また、記憶部３１には、モニタ２０からオペレータにより入力された検査パラメータ、デフォルト値として記憶されている検査パラメータ、及びＸ線検査の結果等が記憶される。

また、記憶部３１は、特徴情報記憶領域３１ａ及び検査条件記憶領域３１ｂを含む。

（２−７−１−１）特徴情報記憶領域
特徴情報記憶領域３１ａは、後述する把握部３４により把握される、Ｘ線画像の集合体Ｇ全体に対応する部分の特徴、に関する情報が記憶されている。具体的には、第１集合体Ｇ１及び第２集合体Ｇ２それぞれについて、Ｘ線画像の、集合体Ｇ全体に対応する部分の面積、長さ、及び全周長の基準値が記憶されている。Ｘ線画像の集合体Ｇ全体に対応する部分の面積、長さ、及び全周長については、後ほど詳述する。

特徴情報記憶領域３１ａに記憶される面積、長さ、及び全周長の基準値は、Ｘ線検査装置１０の運転開始時等に、オペレータによりモニタ２０から入力される値である。ただし、これに限定されるものではない。例えば、第１集合体Ｇ１及び第２集合体Ｇ２のいずれにＸ線が照射されているかが明らかな状態でＸ線検査装置１０の試運転が行われ、試運転時に実測された値（面積、長さ、及び全周長）が、特徴情報記憶領域３１ａに基準値として記憶されてもよい。

（２−７−１−２）検査条件記憶領域
検査条件記憶領域３１ｂは、第１集合体Ｇ１及び第２集合体Ｇ２別に、後述する検査部３５が使用する検査条件が記憶されている。具体的には、検査条件記憶領域３１ｂには、第１集合体Ｇ１について、閾値Ｔ１、アルゴリズムＡ１，ａ１、マスク領域Ｍ１、及び判定値Ｂ１が記憶されている。検査条件記憶領域３１ｂには、第２集合体Ｇ２について、閾値Ｔ２、アルゴリズムＡ２，ａ２、マスク領域Ｍ２、及び判定値Ｂ２が記憶されている。

閾値Ｔ１は、検査部３５により第１集合体Ｇ１を構成する物品Ｐの異物検査が実行される際に、閾値Ｔ２は、検査部３５により第２集合体Ｇ２を構成する物品Ｐの異物検査が実行される際に、それぞれ使用される値である。閾値Ｔ１，Ｔ２については、後述する。

アルゴリズムＡ１は、検査部３５により第１集合体Ｇ１を構成する物品Ｐの異物検査が実行される際に、アルゴリズムＡ２は、検査部３５により第２集合体Ｇ２を構成する物品Ｐの異物検査が実行される際に、それぞれ実行される画像処理手順である。アルゴリズムａ１は、検査部３５により第１集合体Ｇ１を構成する物品Ｐの入り数検査が実行される際に、アルゴリズムａ２は、検査部３５により第２集合体Ｇ２を構成する物品Ｐの入り数検査が実行される際に、それぞれ実行される画像処理手順である。アルゴリズムＡ１は、後述する画像生成部３３により生成された第１集合体Ｇ１のＸ線画像Ｅ１（図６（ａ）参照）に適用されることで、アルゴリズムＡ２は、画像生成部３３により生成される第２集合体Ｇ２のＸ線画像Ｅ２（図６（ｂ）参照）に適用されることで、それぞれ入れ物Ｃ１，Ｃ２に収容された物品Ｐの異物検査の検査精度が向上するように事前に決定された画像処理手順である。アルゴリズムａ１は、画像生成部３３により生成される第１集合体Ｇ１のＸ線画像Ｅ１に適用されることで、アルゴリズムａ２は、画像生成部３３により生成される第２集合体Ｇ２のＸ線画像Ｅ２に適用されることで、それぞれ入れ物Ｃ１，Ｃ２に収容された物品Ｐの入り数検査の検査精度が向上するように事前に決定された画像処理手順である。画像処理には、例えば画像の収縮処理、平滑化処理、及び、鮮鋭化処理等が含まれる。

マスク領域Ｍ１は、検査部３５により第１集合体Ｇ１を構成する物品Ｐの異物検査及び入り数検査が実行される際に、マスク領域Ｍ２は、検査部３５により第２集合体Ｇ２を構成する物品Ｐの異物検査及び入り数検査が実行される際に、Ｘ線画像の検査対象領域から、検査には使用しない領域として除外される領域である。具体的には、第１集合体Ｇ１のＸ線画像Ｅ１（図６（ａ）参照）に対してマスク領域Ｍ１を用いることで、検査対象領域（Ｘ線画像全体）から、物品Ｐが投影された部分周辺の、ケースＣ１が投影された領域が除外される。つまり、第１集合体Ｇ１のＸ線画像Ｅ１に対してマスク領域Ｍ１を用いることで、概ね物品Ｐの投影された領域だけを検査することが可能になる。マスク領域Ｍ２は、ここでは何も設定されていない。つまり、第２集合体Ｇ２を構成する物品Ｐの異物検査及び入り数検査では、Ｘ線画像Ｅ２（図６（ｂ）参照）のマスクは行われない。

判定値Ｂ１，Ｂ２は、それぞれ第１集合体Ｇ１及び第２集合体Ｇ２の入り数検査の基準として使用される値である。つまり、判定値Ｂ１，Ｂ２は、それぞれ、ケースＣ１及びダンボールＣ２に本来入っているべき物品Ｐの個数である。

（２−７−２）制御部
制御部３２は、記憶部３１に記憶された各種プログラムを呼び出して実行し、Ｘ線検査装置１０の各部の制御を行う。例えば、制御部３２は、Ｘ線照射器１３のＸ線の照射タイミングやＸ線照射量、コンベア１２の集合体Ｇの搬送速度等を制御する。

また、制御部３２は、記憶部３１に記憶されたプログラムを呼び出して実行することで、画像生成部３３、把握部３４、及び検査部３５として機能する。画像生成部３３は、Ｘ線ラインセンサ１４から出力された集合体Ｇを透過したＸ線の検出結果としてのＸ線透視像信号を用いてＸ線画像を生成する。把握部３４は、画像生成部３３により生成されたＸ線画像の、入れ物Ｃと物品Ｐとからなる集合体Ｇ全体に対応する部分の特徴を把握する。検査部３５は、把握部３４に把握された特徴に応じた検査条件で、検査対象領域内のＸ線画像を用いて物品Ｐの検査を行う。

以下に画像生成部３３、把握部３４、及び検査部３５について説明する。

（２−７−２−１）画像生成部
画像生成部３３は、Ｘ線ラインセンサ１４から出力されるＸ線の検出結果としてのＸ線透視像信号を用いて、Ｘ線画像を生成する。

より具体的には、画像生成部３３は、物品Ｐの収容された入れ物Ｃ（集合体Ｇ）がＸ線照射器１３のＸ線の照射範囲Ｙを通過する時に、Ｘ線ラインセンサ１４の各画素センサ１４ａから出力されるＸ線透視像信号を所定の時間間隔で取得し、取得したＸ線透視像信号に基づいてＸ線画像を生成する。すなわち、画像生成部３３は、Ｘ線ラインセンサ１４の各画素センサ１４ａから得られるＸ線の明るさ（Ｘ線の強度）に関する所定の時間間隔毎のデータを時系列につなぎ合わせることにより、物品Ｐ及び入れ物Ｃ（集合体Ｇ）を写すＸ線画像を生成する。Ｘ線画像には、Ｘ線透視像信号が大きな値を示す領域ほど濃度値が小さく（明るく）、Ｘ線透視像信号が小さな値を示す領域ほど濃度値が大きく（暗く）表れる。なお、入れ物ＣがＸ線の照射範囲Ｙを通過するタイミングは、光電センサ１５からの信号により判断される。

画像生成部３３は、図５（ａ）のような物品Ｐが収容されたケースＣ１（第１集合体Ｇ１）に対して図６（ａ）のようなＸ線画像Ｅ１を、図５（ｂ）のような物品Ｐが収容されたダンボールＣ２（第２集合体Ｇ２）に対して図６（ｂ）のようなＸ線画像Ｅ２を、それぞれ生成する。

第１集合体Ｇ１のＸ線画像Ｅ１においては、物品Ｐ及びケースＣ１が投影された領域の濃度が濃く表示される。物品Ｐ及びケースＣ１によりＸ線が吸収されやすく、画素センサ１４ａに検出される物品Ｐ及びケースＣ１を透過したＸ線の強度は小さい（Ｘ線透視像信号が小さな値を示す）ためである。

一方、第２集合体Ｇ２のＸ線画像Ｅ２においては、物品Ｐが投影された領域だけが、濃度が濃く表示される。ダンボールＣ２にはＸ線がほとんど吸収されず、画素センサ１４ａに検出されるダンボールＣ２を透過したＸ線の強度は大きい（Ｘ線透視像信号が大きな値を示す）ためである。

（２−７−２−２）把握部
把握部３４は、Ｘ線画像の、集合体Ｇ全体に対応する部分の特徴を把握する。具体的には、把握部３４は、Ｘ線画像の、集合体Ｇ全体に対応する部分の面積、長さ、及び全周長を特徴として把握する。より具体的には、把握部３４は、画像生成部３３の生成したＸ線画像を二値化処理した画像を生成し、二値化された画像の集合体Ｇ全体に対応する部分の面積、長さ、全周長を、Ｘ線画像の集合体Ｇ全体に対応する部分の面積、長さ、及び全周長を特徴として把握する。以下に、詳述する。

まず、二値化処理とは、Ｘ線画像の、濃度値が所定の閾値以上の画素を黒色に、それ以外の画素を白色に変換する処理である。

具体的には、画像生成部３３の生成したＸ線画像が図６（ａ）のＸ線画像Ｅ１であれば、把握部３４は、Ｘ線画像Ｅ１に二値化処理を実行し、図７（ａ）のような二値化画像Ｆ１を生成する。二値化画像Ｆ１では、Ｘ線画像Ｅ１の、ケースＣ１及び物品Ｐの投影部分に対応する画素Ｈ１が黒色に、その他の部分は白色に変換されている（図７（ａ）参照）。画像生成部３３の生成したＸ線画像が図６（ｂ）のＸ線画像Ｅ２であれば、把握部３４は、Ｘ線画像Ｅ２に二値化処理を実行し、図７（ｂ）のような二値化画像Ｆ２を生成する。二値化画像Ｆ２では、Ｘ線画像Ｅ２の、物品Ｐの投影部分に対応する画素Ｈ２が黒色に、その他の部分は白色に変換されている（図７（ｂ）参照）。

Ｘ線画像の集合体Ｇ全体に対応する部分の面積は、二値化されたＸ線画像の黒色の画素部分の面積である。例えば、二値化画像Ｆ１では、図７（ａ）における黒色の画素Ｈ１部分の面積であり、二値化画像Ｆ２では、図７（ｂ）における黒色の画素Ｈ２部分の面積である。実際には、把握部３４は、二値化された画像の黒色の画素数を用いて面積を算出し、Ｘ線画像の集合体Ｇ全体に対応する部分の面積として把握する。

Ｘ線画像の集合体Ｇ全体に対応する部分の長さとは、二値化されたＸ線画像の黒色の画素部分の、集合体Ｇの搬送方向Ｄの距離及び搬送方向Ｄに垂直な方向の距離である。例えば、図７（ａ）の二値化画像Ｆ１では、Ｌ１が搬送方向Ｄの距離であり、Ｗ１が搬送方向Ｄに垂直な方向の距離である。例えば、図７（ｂ）の二値化画像Ｆ２では、Ｌ２が搬送方向Ｄの距離であり、Ｗ２が搬送方向Ｄに垂直な方向の距離である。把握部３４は、例えば図７（ａ）の二値化画像Ｆ１中のＬ１を把握する場合には、図７（ａ）中の最右端の黒色の画素の座標と、最左端の黒色の画素の座標とを用いてＬ１を算出する。

Ｘ線画像の集合体Ｇ全体に対応する部分の全周長とは、二値化されたＸ線画像の黒色の画素部分の周縁の長さである。実際には、把握部３４は、上記の集合体Ｇの搬送方向Ｄの距離及び搬送方向Ｄに垂直な方向の距離を加算して２倍した値を、Ｘ線画像の集合体Ｇ全体に対応する部分の全周長として算出し、把握する。例えば、図７（ａ）の二値化画像Ｆ１の場合には、Ｘ線画像の集合体Ｇ全体に対応する部分の全周長ＴＬ１は（Ｌ１＋Ｗ１）×２として、図７（ｂ）の二値化画像Ｆ２の場合には、Ｘ線画像の集合体Ｇ全体に対応する部分の全周長ＴＬ２は（Ｌ２＋Ｗ２）×２として、算出される。

（２−７−２−３）検査部
検査部３５は、把握部３４により把握された、Ｘ線画像の集合体Ｇ全体に対応する部分の特徴に応じた検査条件で、物品Ｐの異物検査と入り数検査とを実行する。そして、検査部３５は、集合体Ｇの物品Ｐが異物検査及び入り数検査の両方に合格した場合、検査対象となった集合体Ｇの物品Ｐは良品（検査合格）と判定する。検査部３５は、検査対象となった集合体Ｇの物品Ｐが良品か否かを振分機構７０に情報として送信する。

検査部３５は、物品Ｐの異物検査を実行する異物検査部３５ｂと、入れ物Ｃ内に入れられている物品Ｐの入り数検査を実行する入り数検査部３５ｃと、把握部３４が把握したＸ線画像の集合体Ｇ全体に対応する部分の特徴に応じて、Ｘ線画像が第１集合体Ｇ１のＸ線画像Ｅ１であるか、第２集合体Ｇ２のＸ線画像Ｅ２であるかを判別する判別部３５ａとを含む。判別部３５ａ、異物検査部３５ｂ、及び入り数検査部３５ｃについて説明する。

（ａ）判別部
判別部３５ａは、画像生成部３３により生成されたＸ線画像が、第１集合体Ｇ１及び第２集合体Ｇ２のいずれのＸ線画像であるかを判別する。

具体的には、判別部３５ａは、特徴情報記憶領域３１ａに記憶されたＸ線画像の集合体Ｇ全体に対応する部分の特徴に関する情報（面積、長さ、及び全周長の基準値）を呼び出し、把握部３４により把握されたＸ線画像の集合体Ｇ全体に対応する部分の面積、長さ、及び全周長と比較する。その結果に基づいて、画像生成部３３により生成されたＸ線画像が、第１集合体Ｇ１及び第２集合体Ｇ２のいずれのＸ線画像であるかを判別する。

より具体的には、把握部３４により把握された、Ｘ線画像の集合体Ｇ全体に対応する部分の面積、長さ及び全周長の値が、第１集合体Ｇ１及び第２集合体Ｇ２のいずれの基準値に近いかにより、第１集合体Ｇ１と第２集合体Ｇ２とのいずれのＸ線画像であるかを判別する。

ここでは、Ｘ線画像の集合体Ｇ全体に対応する部分の面積、長さ、周囲長の全てについて比較が行われるが、これに限定されるものではない。例えば、面積、長さ、周囲長のいずれかについてのみ比較が行われてもよい。また、例えば、面積、長さ、周囲長のいずれかを比較しただけでは判別が困難な場合のみ、他の特徴（面積、長さ、周囲長）について比較が行われてもよい。ただし、より正確な判別を行うために、複数の特徴（面積、長さ、周囲長）について比較が行われることが望ましい。

（ｂ）異物検査部
異物検査部３５ｂは、把握部３４により把握された、Ｘ線画像の集合体Ｇ全体に対応する部分の特徴に応じた検査条件で、検査対象領域内のＸ線画像を用いて物品Ｐの異物検査を行う。具体的には、異物検査部３５ｂは、判別部３５ａで判別された集合体Ｇに対応する閾値、アルゴリズム、及びマスク領域を検査条件記憶領域３１ｂから検査条件として呼び出し、呼び出した検査条件を用いて異物検査を行う。

判別部３５ａが、画像生成部３３により生成されたＸ線画像は第１集合体Ｇ１のものであると判定した場合（画像生成部３３により生成されたＸ線画像が、図６（ａ）のＸ線画像Ｅ１であった場合）を例にして、異物検査部３５ｂの機能を説明する。

異物検査部３５ｂは、検査条件記憶領域３１ｂから閾値Ｔ１、アルゴリズムＡ１、及びマスク領域Ｍ１を呼び出す。そして、異物検査部３５ｂは、画像生成部３３で作成されたＸ線画像Ｅ１（図６（ａ）参照）に対して、アルゴリズムＡ１に従って画像処理を実行する。その後、異物検査部３５ｂは、アルゴリズムＡ１に従って画像処理された画像に対し、検査対象領域（Ｘ線画像全体）からマスク領域Ｍ１を除外した領域について、異物の検出処理（異物判定）を実行する。

異物の検出方法としては、Ｘ線画像に含まれる画素の濃度値を閾値Ｔ１により二値化することで、所定濃度よりも暗い画素を異物として検出する、二値化処理による検出方法が用いられる。つまり、閾値Ｔ１は、異物検査の検査基準である。閾値Ｔ１が小さいほど、異物検査の検査基準が厳しくなる。

なお、本実施形態では、閾値Ｔ１は、第２集合体Ｇ２に対する閾値Ｔ２よりも大きな値が使用される。その理由は、ケースＣ１に物品Ｐが収容された第１集合体Ｇ１においては、物品ＰだけではなくケースＣ１によってもＸ線が遮られるため、ケースＣ１の影響で物品Ｐの投影部分の濃度値が大きな値となりやすく、閾値Ｔ１を小さな値とすると、ケースＣ１を異物と誤って判定する可能性があるためである。一方、ダンボールＣ２に物品Ｐが収容された第２集合体Ｇ２においては、ダンボールＣ２がほとんどＸ線を遮らないので、厳しい検査基準（閾値Ｔ２）で検査を実行することが可能である。

（ｃ）入り数検査部
入り数検査部３５ｃは、把握部３４により把握された、Ｘ線画像の集合体Ｇ全体に対応する部分の特徴に応じた検査条件で、検査対象領域内のＸ線画像を用いて物品Ｐの入り数検査を行う。より具体的には、入り数検査部３５ｃは、判別部３５ａで判別された集合体Ｇに対応するアルゴリズム、マスク領域、及び判定値を検査条件記憶領域３１ｂから検査条件として呼び出し、呼び出した検査条件を用いて入り数検査を行う。

判別部３５ａが、画像生成部３３により生成されたＸ線画像は第１集合体Ｇ１のものであると判定した場合（画像生成部３３により生成されたＸ線画像が、図６（ａ）のＸ線画像Ｅ１であった場合）を例にして、入り数検査部３５ｃの機能を説明する。

入り数検査部３５ｃは、検査条件記憶領域３１ｂからアルゴリズムａ１、マスク領域Ｍ１及び判定値Ｂ１を呼び出す。そして、入り数検査部３５ｃは、画像生成部３３で作成されたＸ線画像Ｅ１（図６（ａ）参照）に対して、アルゴリズムａ１に従って画像処理を実行する。その後、入り数検査部３５ｃは、アルゴリズムａ１に従って画像処理された画像に対し、検査対象領域（Ｘ線画像全体）からマスク領域Ｍ１を除外した領域について、入り数の判定処理を実行する。そして、入り数検査部３５ｃは、アルゴリズムａ１に従って画像処理された画像に対し、検査対象領域からマスク領域Ｍ１を除外した領域で、所定の閾値によって二値化処理を行うことで、物品Ｐを抽出する。さらに、入り数検査部３５ｃは、抽出された物品Ｐの数量が、判定値Ｂ１と一致するか否か判定する。

なお、ここでの二値化処理の閾値は、第１集合体Ｇ１と第２集合体Ｇ２とで共通の値が用いられるが、第１集合体Ｇ１及び第２集合体Ｇ２に対して異なる閾値が用いられてもよい。この場合、検査条件記憶領域３１ｂに第１集合体Ｇ１及び第２集合体Ｇ２別に閾値が記憶され、入り数検査部３５ｃは、判別部３５ａで判別された集合体Ｇに対応する閾値を検査条件記憶領域３１ｂから呼び出す。

（３）異物検査及び入り数検査に関する処理
制御部３２による、異物検査及び入り数検査に関する処理（Ｘ線画像の生成処理及びＸ線画像の集合体Ｇ全体に対応する部分の特徴の把握処理を含む）について、図８に示すフローチャートを用いて説明する。

まず、ステップＳ１では、画像生成部３３が、Ｘ線ラインセンサ１４から送信されたＸ線透視像信号を用いて、図６（ａ），図６（ｂ）のようなＸ線画像を生成する。

ステップＳ２では、画像生成部３３により生成されたがＸ線画像が、把握部３４により、所定の閾値に対して二値化され、図７（ａ），図７（ｂ）のような画像が生成される。さらに、把握部３４は、二値化された画像を用いて、Ｘ線画像の物品Ｐと入れ物Ｃとからなる集合体Ｇ全体に対応する部分の特徴、すなわち、集合体Ｇ全体の面積、長さ、全周長を把握する。

ステップＳ３では、検査部３５の判別部３５ａが、把握部３４により把握されたＸ線画像の集合体Ｇ全体に対応する部分の面積、長さ、及び、全周長を、特徴情報記憶領域３１ａに記憶された第１集合体Ｇ１及び第２集合体Ｇ２についての面積、長さ、及び、全周長の基準値と比較する。その結果、判別部３５ａは、画像生成部３３により生成されたＸ線画像が、第１集合体Ｇ１のもの（Ｘ線画像Ｅ１）であるか、第２集合体Ｇ２のもの（Ｘ線画像Ｅ２）であるかを判別する。Ｘ線画像が第１集合体Ｇ１のものと判別された場合にはステップＳ１１に進む。Ｘ線画像が第２集合体Ｇ２のものと判別された場合にはステップＳ２１に進む。

ステップＳ１１では、異物検査部３５ｂは、第１集合体Ｇ１に対応する検査条件（アルゴリズムＡ１、マスク領域Ｍ１、閾値Ｔ１）を検査条件記憶領域３１ｂから呼び出す。さらに、異物検査部３５ｂは、画像生成部３３により生成されたＸ線画像Ｅ１をアルゴリズムＡ１によって画像処理し、画像処理後の画像のマスク領域Ｍ１を除いた領域について、閾値Ｔ１を用いた異物判定を実行する。

ステップＳ１２では、入り数検査部３５ｃは、第１集合体Ｇ１に対応する検査条件（アルゴリズムａ１、マスク領域Ｍ１、判定値Ｂ１）を検査条件記憶領域３１ｂから呼び出す。さらに、入り数検査部３５ｃは、画像生成部３３により生成されたＸ線画像Ｅ１をアルゴリズムａ１によって画像処理し、画像処理後の画像のマスク領域Ｍ１を除いた領域について、物品Ｐの抽出処理を行う。そして、入り数検査部３５ｃは、抽出された物品Ｐの数が判定値Ｂ１と一致するか入り数判定を実行する。

ステップＳ１３では、検査部３５が、ステップＳ１１及びステップＳ１２の異物検査及び入り数検査の結果に基づき、物品Ｐが良品か否かの判定（両検査とも合格か否か）を行う。判定結果は、物品Ｐの検査結果として、振分機構７０に送信される。

一方、ステップＳ２１では、異物検査部３５ｂは、第２集合体Ｇ２に対応する検査条件（アルゴリズムＡ２、マスク領域Ｍ２、閾値Ｔ２）を検査条件記憶領域３１ｂから呼び出す。さらに、異物検査部３５ｂは、画像生成部３３により生成されたＸ線画像Ｅ２をアルゴリズムＡ２によって画像処理し、画像処理後の画像のマスク領域Ｍ２を除いた領域について、閾値Ｔ２を用いた異物判定を実行する。なお、ここでは、第２集合体Ｇ２のＸ線画像についてはマスクされないので、異物検査部３５ｂは、アルゴリズムＡ２による画像処理後のＸ線画像全体について、閾値Ｔ２を用いた異物判定を実行する。

ステップＳ２２では、入り数検査部３５ｃは、第２集合体Ｇ２に対応する検査条件（アルゴリズムａ２、マスク領域Ｍ２、判定値Ｂ２）を検査条件記憶領域３１ｂから呼び出す。さらに、入り数検査部３５ｃは、画像生成部３３により生成されたＸ線画像Ｅ２をアルゴリズムａ２によって画像処理し、画像処理後の画像のマスク領域Ｍ２を除いた領域について（ここでは、実際には除外される領域なし）、物品Ｐの抽出処理を行う。そして、入り数検査部３５ｃは、抽出された物品Ｐの数が判定値Ｂ２と一致するか入り数判定を実行する。

ステップＳ２３では、検査部３５が、ステップＳ２１及びステップＳ２２の異物検査及び入り数検査の結果に基づき、物品Ｐが良品か否かの判定（両検査とも合格か否か）を行う。判定結果は、物品Ｐの検査結果として、振分機構７０に送信される。

（４）特徴
（４−１）
上記実施形態に係るＸ線検査装置１０は、異なる入れ物（ケースＣ１，ダンボールＣ２）のうちいずれかの入れ物Ｃに収容された状態で搬送される物品Ｐの検査を行う。Ｘ線検査装置１０は、搬送部としてのコンベア１２と、照射部としてのＸ線照射器１３と、検出部としてのＸ線ラインセンサ１４と、画像生成部３３と、把握部３４と、検査部３５と、を備える。コンベア１２は、物品Ｐの収容された入れ物Ｃを搬送する。Ｘ線照射器１３は、コンベア１２で搬送される入れ物Ｃと物品Ｐとからなる集合体Ｇに対してＸ線を照射する。Ｘ線ラインセンサ１４は、集合体Ｇを透過したＸ線を検出する。画像生成部３３は、Ｘ線ラインセンサ１４によるＸ線の検出結果を用いてＸ線画像を生成する。把握部３４は、Ｘ線画像の、集合体Ｇ全体に対応する部分の特徴を把握する。検査部３５は、特徴に応じた検査条件で、検査対象領域内のＸ線画像を用いて物品Ｐの検査を行う。

なお、検査部３５は、物品Ｐの入り数検査及び異物検査を実行する。入り数検査とは、入れ物Ｃに収容された複数の物品Ｐの、入れ物Ｃ内の物品Ｐの入り数の検査である。異物検査とは、物品Ｐの異物混入を検出する検査である。

ここでは、Ｘ線画像の、入れ物Ｃ及び物品Ｐからなる集合体Ｇ全体に対応する部分の特徴が把握され、その特徴に応じた条件で物品Ｐの検査が行われる。そのため、入れ物Ｃの種類を認識するための機器を別途設けることなく、入れ物Ｃの種類に応じた適切な条件でＸ線検査、より具体的には入り数検査及び異物検査を実行できる。

（４−２）
上記実施形態に係るＸ線検査装置１０では、把握部３４は、集合体Ｇ全体に対応する部分の、面積、長さ、及び全周長を特徴として把握する。

ここでは、集合体Ｇ全体に対応する部分の、面積、長さ、及び全周長を特徴として把握することで、入れ物Ｃの種類に応じた適切な条件でＸ線検査を実行できる。

（４−３）
上記実施形態に係るＸ線検査装置１０では、検査部３５は、検査対象領域内のＸ線画像から、マスク領域Ｍ１，Ｍ２のＸ線画像を除外して物品Ｐの検査を行うものであって、把握部３４により把握された特徴に応じて、検査条件としてのマスク領域Ｍ１，Ｍ２を変更する。

より具体的には、第１集合体Ｇ１については、Ｘ線画像中のケースＣ１の投影部分がＸ線検査の妨げとなるため、検査対象領域のＸ線画像（Ｘ線画像全体）から、物品Ｐが投影された部分周りの、ケースＣ１が投影された領域が、マスク領域Ｍ１として除外される。一方、第２集合体Ｇ２では、物品Ｐの投影部分以外はＸ線画像にほとんど表示されないため、マスク領域は不要であり、設定されない。

つまり、ここでは、入れ物Ｃの種類（ケースＣ１、ダンボールＣ２）に応じて適切なマスク領域Ｍ１，Ｍ２を設定してＸ線検査を実行できる。

（４−４）
上記実施形態に係るＸ線検査装置１０では、検査部３５は、把握部３４により把握された特徴に応じて、検査条件としての物品Ｐの検査のアルゴリズムＡ１，Ａ２，ａ１，ａ２を変更する。

これにより、入れ物Ｃの種類に応じ、適切な検査のアルゴリズムＡ１，Ａ２を用いてＸ線検査を実行できる。より具体的には、第１集合体Ｇ１のＸ線画像Ｅ１についてはケースＣ１の投影部分を含むＸ線画像に適したアルゴリズムＡ１，ａ１を用いた画像処理が、第２集合体Ｇ２のＸ線画像Ｅ２については物品Ｐだけが投影されたＸ線画像に適したアルゴリズムＡ２，ａ２を用いた画像処理が実行される。その結果、第１集合体Ｇ１の物品Ｐについても、第２集合体Ｇ２の物品Ｐについても、精度のよい異物検査及び入り数検査を行うことができる。

（４−５）
上記実施形態に係るＸ線検査装置１０では、検査部３５は、Ｘ線画像の濃度と閾値Ｔ１，Ｔ２とを比較した結果を用いて物品Ｐの検査を行うものであって、把握部３４により把握された特徴に応じて、検査条件としての閾値Ｔ１，Ｔ２を変更する。

これにより、入れ物Ｃの種類に応じ、適切な閾値Ｔ１，Ｔ２を用いてＸ線検査（ここでは異物検査）を実行できる。つまり、ケースＣ１に物品Ｐが収容された第１集合体Ｇ１においては、物品ＰだけではなくケースＣ１によってもＸ線が遮られるので、ケースＣ１を異物と判定しないよう、閾値Ｔ１は閾値Ｔ２よりも大きな値に設定される。一方、ダンボールＣ２に物品Ｐが収容された第２集合体Ｇ２においては、ダンボールＣ２がほとんどＸ線を遮らないので、厳しい検査基準（閾値Ｔ１よりも小さな閾値Ｔ２）で検査を実行することが可能であり、精度の高い異物検査を実行できる。

（５）変形例
以下に本実施形態の変形例を示す。なお、複数の変形例を適宜組み合わせてもよい。

（５−１）変形例Ａ
上記実施形態では、Ｘ線検査装置１０は、ケースＣ１とダンボールＣ２との２種類の入れ物Ｃに収容された物品Ｐを検査するが、これに限定されるものではない。３種類以上の入れ物Ｃに収容された物品Ｐを検査する場合にも同様に適用可能である。

（５−２）変形例Ｂ
上記実施形態では、把握部３４は、Ｘ線画像の集合体Ｇ全体に対応する部分の長さとして、集合体Ｇの搬送方向Ｄの距離及び搬送方向Ｄに垂直な方向の距離を把握するが、これに限定されるものではない。

例えば、ある基準点から、最も離れた黒色画素までの長さをＸ線画像の集合体Ｇ全体に対応する部分の長さとして把握してもよい。具体的な例としては、図７（ａ）及び図７（ｂ）の二値化された画像において、最右端に位置する黒色の画素のうち、上端の画素を基準点とし、最も離れた黒色画素までの距離をＸ線画像の集合体Ｇ全体に対応する部分の長さとして把握してもよい。この場合には、概ね第１集合体Ｇ１及び第２集合体Ｇ２の対角線長さを、Ｘ線画像の集合体Ｇ全体に対応する部分の長さとして把握することになる。また、この場合には、ケースＣ１又はダンボールＣ２の長手方向が、搬送方向Ｄ又は搬送方向Ｄと垂直な方向でない場合にも、ケースＣ１及びダンボールＣ２の姿勢を判別することなく、Ｘ線画像の集合体Ｇ全体に対応する部分の長さを把握できる。

（５−３）変形例Ｃ
上記実施形態では、把握部３４は、Ｘ線画像の集合体Ｇ全体に対応する部分の全周長を、集合体Ｇの搬送方向Ｄの距離及び搬送方向Ｄに垂直な方向の距離を用いて算出したが、これに限定されるものではない。例えば、Ｘ線画像の黒色画素の輪郭を抽出し、輪郭の長さを算出することでＸ線画像の集合体Ｇ全体に対応する部分の全周長を把握してもよい。

（５−４）変形例Ｄ
上記実施形態では、検査部３５は、異物検査及び入り数検査を実行するが、これに限定されるものではなく、異物検査のみ、あるいは、入り数検査のみを実行するものであってもよい。

また、検査部３５は、把握部３４により把握された、Ｘ線画像の集合体Ｇ全体に対応する部分の特徴に応じて検査条件を変更し、物品Ｐの欠品検査（例えば、物品Ｐの割れや欠けの検出など）を実行するものであってもよい。

（５−５）変形例Ｅ
上記実施形態では、光電センサ１５を用いて入れ物ＣがＸ線の照射範囲Ｙを通過するタイミングが判断されるが、これに限定されるものではなく、Ｘ線ラインセンサ１４のＸ線の検出結果により、入れ物ＣがＸ線の照射範囲Ｙを通過するタイミングが判断されてもよい。

（５−６）変形例Ｆ
上記実施形態では、異物検査部３５ｂは、異物の検出方法として二値化処理による検出方法を用いているが、これに限定されるものではなく、その他の異物判定方法が使用されてもよい。

本発明は、複数の異なる入れ物のいずれかに収容された物品が被検査対象として供給されるＸ線検査装置であって、設備費用を抑制しつつ、入れ物に応じて検査条件で物品を検査可能なＸ線検査装置として有用である。

１０ Ｘ線検査装置
１２ コンベア（搬送部）
１３ Ｘ線照射器（照射部）
１４ Ｘ線ラインセンサ（検出部）
３３ 画像生成部
３４ 把握部
３５ 検査部
３５ｂ 異物検査部
３５ｃ 入り数検査部
Ｃ 入れ物
Ｃ１ ケース（入れ物）
Ｃ２ ダンボール（入れ物）
Ｐ 物品
Ｇ 集合体
Ｇ１ 第１集合体（集合体）
Ｇ２ 第２集合体（集合体）
Ｅ１，Ｅ２ Ｘ線画像
Ａ１，Ａ２，ａ１，ａ２ アルゴリズム
Ｍ１，Ｍ２ マスク領域
Ｔ１，Ｔ２ 閾値

特開２００４−２９０４０号公報

Claims (7)

1. 複数の異なる入れ物のうちいずれかの前記入れ物に収容された状態で搬送される物品の検査を行うＸ線検査装置であって、
   前記物品の収容された前記入れ物を搬送する搬送部と、
   前記搬送部で搬送される前記入れ物と前記物品とからなる集合体に対してＸ線を照射する照射部と、
   前記集合体を透過したＸ線を検出する検出部と、
   前記検出部によるＸ線の検出結果を用いてＸ線画像を生成する画像生成部と、
   前記Ｘ線画像の、前記集合体全体に対応する部分の特徴を把握する把握部と、
   それぞれの前記入れ物について、その入れ物と前記物品とからなる前記集合体全体に対応する部分の特徴に関する情報を記憶する記憶部と、
   前記把握部が把握した前記特徴と、前記記憶部に記憶された前記情報とに基づいて、前記入れ物を判別し、判別した前記入れ物に対応する検査条件で、検査対象領域内の前記Ｘ線画像を用いて前記物品の検査を行う検査部と、
   を備えるＸ線検査装置。
2. 前記把握部は、前記集合体全体に対応する前記部分の、面積、長さ、及び全周長の少なくとも１つを前記特徴として把握する、
   請求項１に記載のＸ線検査装置。
3. 前記検査部は、前記検査対象領域内の前記Ｘ線画像から、マスク領域の前記Ｘ線画像を除外して前記物品の検査を行うものであって、前記特徴と前記情報とに基づいて判別された前記入れ物に対応するように、前記検査条件としての前記マスク領域を変更する、
   請求項１又は２に記載のＸ線検査装置。
4. 前記検査部は、前記特徴と前記情報とに基づいて判別された前記入れ物に対応するように、前記検査条件としての前記物品の検査のアルゴリズムを変更する、
   請求項１又は２に記載のＸ線検査装置。
5. 前記検査部は、前記Ｘ線画像の濃度と閾値とを比較した結果を用いて前記物品の検査を行うものであって、前記特徴と前記情報とに基づいて判別された前記入れ物に対応するように、前記検査条件としての前記閾値を変更する、
   請求項１又は２に記載のＸ線検査装置。
6. 前記入れ物には、複数の前記物品が収容されており、
   前記検査部は、前記入れ物内の前記物品の入り数を検査する、
   請求項１から５のいずれかに記載のＸ線検査装置。
7. 前記検査部は、前記物品の異物検査を行う、
   請求項１から５のいずれかに記載のＸ線検査装置。

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