JP6454503B2 - 検査装置 - Google Patents
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Description
本発明は、こうした観点から、内容物の重なりのない部分と、重なりのある部分毎に検査を行うことにより、複数枚数の内容物がずれた状態で重なりあっていても、各内容物の欠品検査や割れ欠け検査、さらには、異物混入検査等も行うのである。
図1は、X線検査装置の一実施形態の概略構成図を示す。この図において、X線検査装置1の入口側には、搬入コンベア10が接続され、出口側には、搬出コンベア20が接続されている。そして、上流から搬送されてきた物品Bは、搬入コンベア10を介してX線検査装置1に搬入され、そこで物品Bの収納個数の検査や、異物混入検査、欠品検査、割れ欠け検査等が行われて、搬出コンベア20へ送り出される。送り出された物品Bは、下流の振分装置30(図2参照)を介して梱包ラインへ搬送される。また、X線検査装置1の検査結果は、振分装置30に送信されて、不良品は、ライン外へ、正常品は、そのまま梱包ラインへと搬送される。
なお、図3で示すH1は、線分Aにおける内容物の濃淡の階調を示したものであり、重なりのある箇所が暗くなることを表している。階調が階段状になっているが、最も上の段が、内容物がないコンベヤベルト面の階調であり、2段目が内容物の重なりのない箇所の階調であり、最も下の段が重なりのある箇所の階調である。
図6は、欠けのある内容物の一例を示す。まず、この画像を、内容物の領域全体を求めるしきい値T1により、二値化する。この二値化された画像にラベリング処理を施すことにより、内容物の領域全体のR1を特定することができる(図7)。
図11は、内容物に欠けがある別の一例である。図11の画像に対し、内容物全体を求めるしきい値で二値化を行い、図12のような画像を形成する。この二値化された画像にラベリング処理を施して内容物全体が写り込んだ領域R3を特定し、その領域R3の重心C1を求める。
続いて下記に示すように、重心C1から領域R3の輪郭線上における各輪郭点P1,P2,P3・・までの放射方向に伸びる距離T1、T2,T3・・を求める。
T1=|P1−C1|
T2=|P2−C1|
T3=|P3−C1|
・
・
・
Tn=|Pn−C1|
また、図13は、図11の画像から、内容物の重なった枚数に応じた濃淡しきい値により二値化して、内容物が重なり合った部分の画像を抽出したものである。図13の画像にラベリング処理を施して、内容物が重なった領域R4を特定する。続いて、下記に示すように、前記処理で求めた内容物全体の重心C1から領域R4の輪郭線上における各輪郭点H1、H2、H3・・・までの放射方向に伸びる距離を求める。
S1=|H1−C1|
S2=|H2−C1|
S3=|H3−C1|
・
・
・
Sn=|Hn−C1|
次に、重心C1から内容物全体の各輪郭点P(1−n)までの距離T(1−n)と、同じ重心C1から重なり合った部分の各輪郭点H(1−n)までの距離S(1−n)を減算することにより、重なり合った部分の各輪郭点H(1−n)から内容物全体の各輪郭点P(1−n)までの距離U(1−n)を求める。
この距離U(1−n)は、正量品においては、徐々に長くなって、徐々に短くなる特徴がある。よって、U(1−n)の各距離がそうした特徴を示さない場合は、不良品と判断することができる。
また、重心C1から重なった部分の各輪郭点H1、H2、H3・・までの距離S(1−n)は、正量品においては、徐々に短くなって徐々に長くなり、その間に変曲点がある。重なった部分の対角線の最も長いものを垂直にすると、0度、90度、180度、270度のあたりに変曲点が存在する。よってこの変曲点の位置が、ある一定以上異なっていると不良品と判断できる。
図14は、図11の画像に対し、重なった枚数に応じた濃淡しきい値により重なりのある部分を二値化した画像である。図14の画像にラベリング処理を施して、内容物の重なり合った領域R4を特定する。
続いて、領域R4の画像の中心線を求める。この中心線を基準にして画像の左右対象性を求める。正量品においては、対称性が非常に高い特徴があるため、対称性が一定以上異なっていると不良品と判断できる。
上記一実施形態では、電磁波としてX線を用いたが、X線照射手段とラインセンサに代えて、近赤外線光源とラインカメラを用いることが可能である。この場合、近赤外線光源は近赤外線(波長が700〜2500ナノメートル程度の光線)を発光するLED(Light Emitting Diode)から構成され、連続する2台の搬送コンベアの間隙の下方に設置される。また、近赤外線を検出するラインカメラは、搬送コンベアの間隙の上方で近赤外線光源に対向する位置に設置される。なお、近赤外線を用いる場合、シールドボックスは不要となるため、設置スペースを少なくすることができる。
4 X線照射手段
5 ラインセンサ
6 タッチパネル
7 制御手段
11a 抽出部
11b 判断部
B 物品
P1〜P3 輪郭点
T1〜T3 距離
H1〜H3 輪郭点
S1〜S3 距離
Claims (8)
- 複数枚の内容物が収納された物品に電磁波を照射し、該物品を透過した電磁波に基づいて前記物品の透過画像を作成し、該透過画像に基づいて前記内容物の検査を行う検査装置であって、
前記透過画像から前記内容物の重なりのある部分と内容物の領域全体とを抽出する抽出部と、
前記重なりのある部分と内容物の領域全体のそれぞれの形状に基づき前記内容物の形状異常を判断する判断部と、
を備えたことを特徴とする検査装置。 - 前記抽出部は、前記内容物の重なった枚数に応じた濃淡しきい値にて前記重なりのある部分を抽出することを特徴とする請求項1に記載の検査装置。
- 前記判断部は、前記重なりのある部分の輪郭線とその包絡線との近似性を調べることにより前記内容物の形状異常を判断することを特徴とする請求項1又は2に記載の検査装置。
- 前記判断部は、前記内容物の領域全体の輪郭線とその包絡線との近似性を調べることにより前記内容物の形状異常を判断することを特徴とする請求項1又は2に記載の検査装置。
- 前記判断部は、前記内容物全体の重心から、前記内容物の領域全体の輪郭線上における各輪郭点までの放射方向に伸びる各距離と、前記重心から、前記重なりのある部分の輪郭線上における各輪郭点までの放射方向に伸びる各距離との差に基づいて前記内容物の形状異常を判断することを特徴とする請求項1から4の何れか一項にに記載の検査装置。
- 前記判断部は、前記重なりのある部分又は前記内容物の領域全体の図形の対称性に基づき前記内容物の形状異常を判断することを特徴とする請求項1から5の何れか一項にに記載の検査装置。
- 前記電磁波とはX線である請求項1から6の何れか一項にに記載の検査装置。
- 前記電磁波とは近赤外線である請求項1から6の何れか一項にに記載の検査装置。
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