WO2018056257A1 - 光検査装置及び光検査システム - Google Patents

光検査装置及び光検査システム Download PDF

Info

Publication number
WO2018056257A1
WO2018056257A1 PCT/JP2017/033693 JP2017033693W WO2018056257A1 WO 2018056257 A1 WO2018056257 A1 WO 2018056257A1 JP 2017033693 W JP2017033693 W JP 2017033693W WO 2018056257 A1 WO2018056257 A1 WO 2018056257A1
Authority
WO
WIPO (PCT)
Prior art keywords
image processing
unit
processing algorithm
optical inspection
image
Prior art date
Application number
PCT/JP2017/033693
Other languages
English (en)
French (fr)
Inventor
厚司 岩井
栖原　一浩
Original Assignee
株式会社イシダ
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 株式会社イシダ filed Critical 株式会社イシダ
Publication of WO2018056257A1 publication Critical patent/WO2018056257A1/ja

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
    • G01N23/02—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material
    • G01N23/04—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and forming images of the material
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
    • G01N23/02—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material
    • G01N23/06—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and measuring the absorption
    • G01N23/083—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and measuring the absorption the radiation being X-rays
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
    • G01N23/02—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material
    • G01N23/06—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and measuring the absorption
    • G01N23/18—Investigating the presence of flaws defects or foreign matter

Definitions

  • the present disclosure relates to an optical inspection device and an optical inspection system.
  • an optical inspection apparatus that generates a processed image by performing image processing using an image processing algorithm on a transmission image obtained by transmitting light to an article, and inspects the article based on the processed image It has been known.
  • a plurality of image processing algorithms are stored in the storage unit in advance, and an optimal image processing algorithm used for image processing at the time of inspection is selected from the stored plurality of image processing algorithms. Is set.
  • Patent Document 1 describes an X-ray inspection apparatus.
  • a plurality of image processing algorithms that select a foreign object detection characteristic of a foreign object to be detected from an inspected object and approximate the selected foreign object detection characteristic are stored in a plurality of previously stored images. Extracted from the image processing algorithm and displayed on the display unit.
  • setting of the image processing algorithm may still take time or labor, and there is room for improvement in easily setting the image processing algorithm.
  • This disclosure is intended to provide an optical inspection apparatus and an optical inspection system that can easily set an image processing algorithm.
  • An optical inspection device generates a processed image by performing image processing using an image processing algorithm on a transmission image obtained by transmitting light to an article, and based on the processed image
  • An optical inspection apparatus that inspects an article using at least one of a storage unit that stores a plurality of image processing algorithms in advance and a plurality of image processing algorithms stored in the storage unit for image processing at the time of inspection
  • a setting unit that sets the image processing algorithm, and a totaling unit that totals the image processing algorithm set by the setting unit, and the setting unit stores a plurality of data stored in the storage unit based on the totaling result of the totaling unit
  • the image processing algorithm includes a selection unit that selects a plurality of image processing algorithm candidates that are candidates for the image processing algorithm to be set.
  • an image processing algorithm that is highly likely to be effective can be selected as a candidate image processing algorithm from a plurality of stored image processing algorithms by using the counting result of the counting unit.
  • an image processing algorithm it is possible to select from a plurality of image processing algorithm candidates whose number has been narrowed down instead of selecting from a plurality of stored image processing algorithms.
  • An image processing algorithm can be easily set.
  • the counting unit obtains a predetermined upper number of image processing algorithms in descending order of the frequency set by the setting unit, and the selection unit stores a plurality of images stored in the storage unit From the processing algorithms, the upper predetermined number of image processing algorithms obtained by the counting unit may be selected as a plurality of image processing algorithm candidates. In this case, an image processing algorithm that is more likely to be effective can be selected as an image processing algorithm candidate.
  • the aggregation unit totals the image processing algorithms set by the setting unit for each attribute of the article, and the selection unit performs image processing used for inspection of the specific article by the setting unit.
  • a plurality of image processing algorithm candidates may be selected from a plurality of image processing algorithms stored in the storage unit based on the result of counting the attributes corresponding to the attributes of the specific article. In this case, an image processing algorithm that is more likely to be effective can be selected as an image processing algorithm candidate.
  • the aggregation unit may aggregate the image processing algorithms set by the setting unit in one or more optical inspection devices different from the optical inspection device via the network. Good. Thereby, the totaling unit can further total the image processing algorithms set by the setting unit in another one or a plurality of optical inspection apparatuses using the network.
  • the selection unit may set the priority order of a plurality of image processing algorithm candidates based on the aggregation result. By ordering a plurality of image processing algorithm candidates, it is possible to easily select an image processing algorithm from among the plurality of image processing algorithm candidates when setting the image processing algorithm.
  • An optical inspection apparatus generates a processed image by performing image processing using an image processing algorithm on a transmission image obtained by transmitting light through an article, and based on the processed image
  • An optical inspection apparatus that inspects an article using at least one of a storage unit that stores a plurality of image processing algorithms in advance and a plurality of image processing algorithms stored in the storage unit for image processing at the time of inspection
  • a setting unit configured to set an image processing algorithm, and a totaling unit that aggregates the image processing algorithms set by the setting unit in one or a plurality of optical inspection devices different from the optical inspection device via a network
  • a plurality of image processing algorithms that are candidates for the image processing algorithm to be set out of the plurality of image processing algorithms stored in the storage unit based on the totaling result of the totaling unit Having a selection unit for selecting the algorithm candidate.
  • the totaling unit can total the image processing algorithms set by the setting unit in another one or a plurality of optical inspection apparatuses using a network.
  • An optical inspection system generates a processed image by performing image processing using an image processing algorithm on a transmission image obtained by transmitting light through an article, and based on the processed image
  • One or a plurality of optical inspection devices for inspecting articles and a totaling device capable of communicating via the network between the optical inspection devices, and the optical inspection device stores a plurality of image processing algorithms in advance.
  • a setting unit that sets at least one of a plurality of image processing algorithms stored in the storage unit as an image processing algorithm used for image processing at the time of inspection.
  • the determining unit includes a selection unit that selects a plurality of image processing algorithm candidates that are candidates for the image processing algorithm to be set from the plurality of image processing algorithms stored in the storage unit, based on the transmitted aggregation result.
  • the image processing algorithm when setting the image processing algorithm in the optical inspection apparatus, the image processing algorithm is not selected from a plurality of stored image processing algorithms, but selected from image processing algorithm candidates whose numbers are narrowed down. Is possible. Accordingly, it is possible to easily set an image processing algorithm. Further, the counting device can total the image processing algorithms set by the setting unit in the optical inspection device and transmit the total result to the optical inspection device using a network.
  • FIG. 1 is a perspective view showing an appearance of the X-ray inspection apparatus according to the first embodiment.
  • FIG. 2 is a perspective view showing the configuration inside the shield box of the X-ray inspection apparatus of FIG.
  • FIG. 3 is a functional block diagram of the X-ray inspection apparatus of FIG.
  • FIG. 4 is a functional block diagram of the X-ray inspection apparatus according to the second embodiment.
  • FIG. 5 is a functional block diagram of the X-ray inspection system according to the third embodiment.
  • An X-ray inspection apparatus (optical inspection apparatus) 1 shown in FIGS. 1 and 2 is installed in a production line for articles G such as food.
  • the X-ray inspection apparatus 1 generates a processed image by performing image processing using an image processing algorithm on an X-ray transmission image (transmission image) obtained by transmitting X-rays (light) through the article G To do.
  • the X-ray inspection apparatus 1 inspects the presence or absence of foreign matter contained in the article G based on the generated processed image.
  • the article G and the foreign material are not particularly limited, and various articles and foreign materials can be inspected.
  • the article G may be a product in which contents such as food are contained in a package such as a film packaging material.
  • the article G may be a block meat, and the foreign matter to be detected may be a SUS (stainless steel) wire.
  • the X-ray inspection apparatus 1 includes a shield box 3, a conveyor 5, an X-ray irradiator 7, an X-ray line sensor 9, and a monitor 11.
  • the shield box 3 contains a conveyor 5, an X-ray irradiator 7 and an X-ray line sensor 9.
  • a pair of openings 3 a are provided on both side surfaces of the shield box 3.
  • Each opening 3a is closed by a shielding curtain (not shown) made of rubber containing lead, for example. Thereby, it is suppressed that an X-ray leaks out of the shield box 3 through each opening 3a.
  • the conveyor 5 is disposed in the shield box 3 so as to be spanned between the pair of openings 3a.
  • the conveyor 5 conveys the articles G placed on the belt 5a by rotating the endless belt 5a by a conveyor motor (not shown). As a result, the article G is carried into the shield box 3 through the one opening 3a and carried out of the shield box 3 through the other opening 3a.
  • the X-ray irradiator 7 is disposed in the shield box 3 so as to be positioned above the belt 5a.
  • the X-ray irradiator 7 emits X-rays so as to cross the belt 5a along the width direction of the belt 5a. Thereby, the X-ray irradiator 7 irradiates the article G conveyed by the conveyor 5 with X-rays.
  • the X-ray irradiator 7 constitutes a light irradiation unit that irradiates the article G with light.
  • the X-ray line sensor 9 is disposed in the shield box 3 so as to be positioned below the belt 5a.
  • the X-ray line sensor 9 has a plurality of pixel sensors 9a arranged in a line along the width direction of the belt 5a. As a result, the X-ray line sensor 9 detects X-rays transmitted through the article G conveyed by the conveyor 5.
  • the X-ray line sensor 9 constitutes a light detection unit that detects light transmitted through the article G.
  • the monitor 11 is a display unit that displays various types of information such as processed images.
  • the monitor 11 is a liquid crystal display, for example.
  • the monitor 11 has a touch panel function.
  • the monitor 11 functions as a man-machine interface that accepts input of various conditions by an operator.
  • the X-ray inspection apparatus 1 further includes a control unit 20.
  • the control unit 20 is a computer, for example.
  • the control unit 20 includes a CPU (Central Processing Unit) that is a processor, a RAM (Random Access Memory) that is a recording medium, a ROM (Read Only Memory), and the like.
  • the control unit 20 operates by reading a program or the like on hardware such as a CPU and a RAM.
  • the control unit 20 includes a storage unit 21, a setting unit 23, an image processing unit 25, and a totaling unit 27.
  • the storage unit 21, the setting unit 23, the image processing unit 25, and the totaling unit 27 are configured as functional blocks in the control unit 20.
  • the storage unit 21 stores a plurality of image processing algorithms in advance.
  • the storage unit 21 stores 200 or more image processing algorithms in advance.
  • the image processing algorithm is a type indicating a processing procedure of image processing applied to an X-ray transmission image.
  • the image processing algorithm is configured by, for example, one image processing filter or a combination of a plurality of image processing filters.
  • the plurality of image processing algorithms stored in advance in the storage unit 21 can be acquired from the outside via a network such as the Internet.
  • a plurality of image processing algorithms stored in advance in the storage unit 21 can be acquired from an external storage medium such as a USB memory or a removable hard disk.
  • the plurality of image processing algorithms stored in advance in the storage unit 21 may be an algorithm in which a plurality of image processing filters are appropriately combined manually, in addition to an algorithm generated by adopting a genetic algorithm.
  • the setting unit 23 sets (reserves) at least one of a plurality of image processing algorithms stored in the storage unit 21 as an image processing algorithm used for image processing at the time of article inspection.
  • the setting unit 23 divides a plurality of image processing algorithms into a plurality of sensitivity levels for each of a plurality of types (for example, 200 to 300 types) of articles G.
  • the setting unit 23 can set the image processing algorithm used for image processing at the time of inspection when the article G is “ham” for each of the sensitivity levels 1 to 7.
  • the setting unit 23 of the present embodiment includes a selection unit 23a that selects a plurality of image processing algorithm candidates from a plurality of image processing algorithms stored in the storage unit 21.
  • the image processing algorithm candidate is an image processing algorithm candidate set by the setting unit 23 and determined to have a high possibility of being effective for article inspection.
  • the number of image processing algorithm candidates is, for example, about 5 to 10 by narrowing down the number of image processing algorithms stored in the storage unit 21. Detailed processing of the selection unit 23a will be described later.
  • the setting unit 23 sets the image processing algorithm candidate selected by the operator among the plurality of image processing algorithm candidates selected by the selection unit 23a as an image processing algorithm used for image processing at the time of article inspection.
  • the selection of image processing algorithm candidates by the operator can be performed via the monitor 11 functioning as an interface.
  • the image processing unit 25 generates an X-ray transmission image of the article G based on the signal output from the X-ray line sensor 9.
  • the image processing unit 25 performs image processing using the image processing algorithm set by the setting unit 23 on the X-ray transmission image at the time of inspection of the article G, thereby processing a processed image that is a grayscale image expressed in multiple gradations. Generate.
  • the image processing unit 25 displays the generated processed image on the monitor 11.
  • the image processing unit 25 performs processing for generating a processed image by performing image processing using one of a plurality of image processing algorithm candidates on the X-ray transmission image when the setting unit 23 sets the image processing algorithm. For all the plurality of image processing algorithm candidates.
  • the image processing unit 25 causes the monitor 11 to display at least one of the generated plurality of processed images according to the selection operation by the operator.
  • the totaling unit 27 totals the image processing algorithms set by the setting unit 23.
  • the totaling unit 27 totals the plurality of image processing algorithms currently set in the setting unit 23, and among the plurality of totaled image processing algorithms, the upper predetermined number of image processing algorithms are selected in descending order of the set frequency.
  • Ask. For example, the totaling unit 27 sets all the image processing algorithms set (reserved) by the setting unit 23 for each sensitivity level of each of the plurality of types of articles G when the apparatus is activated or when the setting of the image processing algorithm is changed by the setting unit 23. Are counted. Then, the totaling unit 27 sorts the totaled image processing algorithms in descending order of setting frequency to obtain a predetermined upper number of image processing algorithms.
  • the predetermined number is a number determined in advance or by an operator's operation, and is about 5 to 10.
  • the totaling unit 27 may total the plurality of image processing algorithms set in the past in the setting unit 23 instead of or in addition to the plurality of image processing algorithms currently set in the setting unit 23.
  • the totaling unit 27 totals the image processing algorithms set by the setting unit 23 for each attribute of the article G.
  • the attribute of the article G includes at least one of the type, characteristics, shape, size, category, and the like of the article G.
  • the tabulation unit 27 tabulates separately the image processing algorithm set when the article G is meat and the image processing algorithm set when the article G is fish.
  • the setting part 23 has the selection part 23a as mentioned above.
  • the selection unit 23 a selects a plurality of image processing algorithm candidates from among the plurality of image processing algorithms stored in the storage unit 21 based on the counting result of the counting unit 27.
  • the selection unit 23 a selects the image processing algorithm obtained by the totaling unit 27 (that is, the image processing algorithm having a higher setting frequency in the setting unit 23) from the plurality of image processing algorithms stored in the storage unit 21. , Selected as a plurality of image processing algorithm candidates.
  • the selection unit 23a selects a plurality of image processing algorithm candidates based on the result of counting the attributes corresponding to the attributes of the specific article when the setting unit 23 sets the image processing algorithm used for the inspection of the specific article. For example, when the specific article is “ham”, the selection unit 23a extracts the aggregation result classified as meat such as “ham” or “sausage” from the aggregation results aggregated for each attribute of the article G. . The selection unit 23a selects, as the image processing algorithm candidates, the image processing algorithms having the predetermined number of setting frequencies in the extracted aggregation results.
  • the specific article is an article G that is a target when the setting unit 23 sets an image processing algorithm.
  • the attribute of the specific article can be input or selected by the operator via the monitor 11 functioning as an interface.
  • the selection unit 23 a sets the priority order of the plurality of image processing algorithm candidates based on the aggregation result of the aggregation unit 27.
  • the selection unit 23a sets a predetermined number of image processing algorithms having a higher setting frequency in the setting unit 23 as image processing algorithm candidates
  • the selection unit 23a gives priority to the image processing algorithm candidates such that the higher the setting frequency, the higher the priority.
  • the selection unit 23a selects an image processing algorithm with the highest setting frequency as an image processing algorithm candidate with the highest priority.
  • the X-ray irradiator 7 irradiates the article G with X-rays, and transmits the X-rays transmitted through the article G to the X-ray line sensor. 9 to detect.
  • an X-ray transmission image is generated by the image processing unit 25.
  • the image processing unit 25 performs image processing using the image processing algorithm set by the setting unit 23 on the X-ray transmission image to generate a processed image, and displays the processed image on the monitor 11.
  • the operator checks the processing image displayed on the monitor 11 to inspect for the presence or absence of foreign matter contained in the article G.
  • the image processing algorithm set in the setting unit 23 is totaled for each attribute of the article G by the totaling unit 27.
  • the totaling unit 27 obtains a predetermined number of image processing algorithms in order of increasing setting frequency.
  • the operator inputs or selects an attribute of a new article G to be set via the monitor 11 functioning as an interface.
  • the selection unit 23a selects a plurality of image processing algorithm candidates from the plurality of image processing algorithms stored in the storage unit 21 based on the counting result of the counting unit 27. Specifically, the upper predetermined number of image processing algorithms corresponding to the attributes of the new article G and frequently set are selected as a plurality of image processing algorithm candidates from the plurality of image processing algorithms stored in the storage unit 21. Elected. At this time, a higher priority is set to the plurality of image processing algorithm candidates as the setting frequency increases.
  • the plurality of selected image processing algorithm candidates are displayed on the monitor 11 with their identifiers (numbers or names) arranged in order of priority.
  • the operator appropriately selects one of the displayed identifiers via the monitor 11.
  • the image processing algorithm candidate corresponding to the identifier selected by the operator is set as the image processing algorithm used for the inspection of the new article G.
  • the X-ray inspection apparatus 1 can select an image processing algorithm that is highly likely to be effective from among a plurality of stored image processing algorithms as an image processing algorithm candidate by using the counting result of the counting unit 27. .
  • the X-ray inspection apparatus 1 it is possible to select from a plurality of image processing algorithm candidates whose number has been narrowed down instead of selecting from a plurality of stored image processing algorithms. Therefore, according to the X-ray inspection apparatus 1, it is possible to reduce labor and time for setting the image processing algorithm, and it is possible to easily set the image processing algorithm.
  • the counting unit 27 obtains a predetermined upper number of image processing algorithms in descending order of the setting frequency set by the setting unit 23.
  • the selection unit 23a selects the upper predetermined number of image processing algorithms obtained by the counting unit 27 as a plurality of image processing algorithm candidates from the plurality of image processing algorithms stored in the storage unit 21. In this case, an image processing algorithm that is more likely to be effective can be selected as an image processing algorithm candidate.
  • the totaling unit 27 totals the image processing algorithms set by the setting unit 23 for each attribute of the article G.
  • the selection unit 23a sets the image processing algorithm used for the inspection of the specific article in the setting unit 23
  • the selection unit 23a uses a plurality of image processing algorithms stored in the storage unit 21 based on the result of counting the attributes corresponding to the attribute of the specific article. A plurality of image processing algorithm candidates are selected from. Thereby, an image processing algorithm that is more likely to be effective can be selected as an image processing algorithm candidate.
  • the selection unit 23a sets the priority order of a plurality of image processing algorithm candidates based on the counting result. By ordering a plurality of image processing algorithm candidates, it is possible to easily select an image processing algorithm from among the plurality of image processing algorithm candidates when setting the image processing algorithm.
  • An X-ray inspection apparatus 1A shown in FIG. 4 is different from the first embodiment in that a counting unit 27A is provided instead of the counting unit 27 (see FIG. 3).
  • the totaling unit 27A totals the image processing algorithms set by the setting unit 23B in a plurality of X-ray inspection apparatuses 1B different from the X-ray inspection apparatus 1A via a network N such as the Internet.
  • the aggregation unit 27A is configured to be able to communicate with the plurality of X-ray inspection apparatuses 1B via the network N.
  • the X-ray inspection apparatus 1B is configured similarly to the X-ray inspection apparatus 1A.
  • the setting unit 23B of the X-ray inspection apparatus 1B transmits information regarding the set image processing algorithm to the network N.
  • the image processing algorithm is not selected from a plurality of stored image processing algorithms, but selected from image processing algorithm candidates whose numbers are narrowed down. Is possible. Accordingly, it is possible to easily set an image processing algorithm. Further, the aggregation unit 27A can aggregate the image processing algorithms set by the setting unit 23B in another plurality of X-ray inspection apparatuses 1B using the network N.
  • the totaling unit 27A may total only the image processing algorithms set by the setting unit 23B in one X-ray inspection apparatus 1B via the network N.
  • the totaling unit 27A may further total the image processing algorithms set by the setting unit 23 of the X-ray inspection apparatus 1A.
  • An X-ray inspection system (optical inspection system) 100 shown in FIG. 5 includes a plurality of X-ray inspection apparatuses 1C and a totaling apparatus 27C.
  • 1C of X-ray inspection apparatuses are comprised similarly to the said X-ray inspection apparatus 1 (refer FIG. 3) except the point which is not provided with the total part 27 (refer FIG. 3).
  • the setting unit 23C of the X-ray inspection apparatus 1C transmits information related to the set image processing algorithm to the network N.
  • the aggregation device 27C is, for example, a computer.
  • the counting device 27C includes a CPU, a RAM, a ROM, and the like, and operates by reading a program or the like on hardware such as the CPU and the RAM.
  • the counting device 27C is configured to be able to communicate with the plurality of X-ray inspection devices 1C via the network N.
  • the aggregation device 27C includes an aggregation unit 31 that aggregates the image processing algorithms set by the setting unit 23C of the X-ray inspection apparatus 1C via the network N, and a plurality of X-rays via the network N. And a transmission unit 32 that transmits to the inspection apparatus 1C.
  • the selection unit 23a of the X-ray inspection apparatus 1C performs a plurality of image processing stored in the storage unit 21 based on the transmitted tabulation result.
  • a plurality of image processing algorithm candidates are selected from the algorithms.
  • the image processing algorithm candidates are not selected from a plurality of stored image processing algorithms, but are reduced in number. It becomes possible to select from. Accordingly, it is possible to easily set an image processing algorithm.
  • the totaling device 27C can use the network N to totalize the image processing algorithms set by the setting unit 23C in the X-ray inspection apparatus 1C, and transmit the totalization result to the X-ray inspection apparatus 1C.
  • the X-ray inspection system 100 includes a plurality of X-ray inspection apparatuses 1C, but may include only one X-ray inspection apparatus 1C.
  • storage part 21, the setting part 23, 23B, 23C, the selection part 23a, the image process part 25, the total part 27, 27A, 31, and the transmission part 32 are not limited to what is comprised as a functional block. It may be configured as a hardware configuration. At least one of the storage unit 21, the setting unit 23, 23B, 23C, the selection unit 23a, the image processing unit 25, the totaling unit 27, 27A, 31, and the transmission unit 32 includes a computer of a facility such as an external information processing center. You may do it.
  • At least one of the plurality of image processing algorithm candidates selected by the selection unit 23a is selected by the operator via the monitor 11 and set as an image processing algorithm used for image processing at the time of article inspection.
  • the present invention is not limited to this.
  • At least one of the plurality of image processing algorithm candidates may be automatically selected by a known calculation process and set as an image processing algorithm used for image processing at the time of article inspection. In this case, the calculation processing time required for setting the image processing algorithm can be reduced.
  • one embodiment of the present invention is applied to the X-ray inspection apparatuses 1, 1A, 1B, 1C and the X-ray inspection system 100.
  • one embodiment of the present invention inspects an article using light. Any optical inspection device or optical inspection system may be used.
  • the light may be X-rays, near infrared rays, or other electromagnetic waves.
  • the article G should be inspected without being affected by the packaging material or the printing applied to the packaging material. Can do.

Landscapes

  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Toxicology (AREA)
  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)

Abstract

光検査装置は、物品に光を透過させることで得られた透過画像に対して、画像処理アルゴリズムを用いた画像処理を施して処理画像を生成し、処理画像に基づいて物品の検査を行う。光検査装置は、複数の画像処理アルゴリズムを予め記憶する記憶部と、記憶部に記憶された複数の画像処理アルゴリズムの少なくとも１つを、検査時の画像処理に用いる画像処理アルゴリズムに設定する設定部と、設定部で設定された画像処理アルゴリズムを集計する集計部と、を備える。設定部は、集計部の集計結果に基づいて、記憶部に記憶された複数の画像処理アルゴリズムの中から、設定する画像処理アルゴリズムの候補である複数の画像処理アルゴリズム候補を選出する選出部を有する。

Description

光検査装置及び光検査システム
　本開示は、光検査装置及び光検査システムに関する。
　従来、物品に光を透過させることで得られた透過画像に対して、画像処理アルゴリズムを用いた画像処理を施して処理画像を生成し、この処理画像に基づいて物品の検査を行う光検査装置が知られている。このような光検査装置では、複数の画像処理アルゴリズムが記憶部に予め記憶されており、記憶された複数の画像処理アルゴリズムの中から、検査時の画像処理に用いる最適な画像処理アルゴリズムが選択されて設定される。
　この種の技術として、例えば特許文献１には、Ｘ線検査装置が記載されている。特許文献１に記載されたＸ線検査装置では、被検査物中から検出する異物の異物検出特性を選択し、選択した異物検出特性に近似する複数の画像処理アルゴリズムを、予め記憶された複数の画像処理アルゴリズムから抽出して表示部に表示する。
特許第５６３５９０３号公報
　上述したような光検査装置では、画像処理アルゴリズムの設定に時間又は手間がかかってしまう可能性が未だあり、画像処理アルゴリズムを容易に設定する上で改善の余地がある。
　本開示は、画像処理アルゴリズムを容易に設定することが可能となる光検査装置及び光検査システムを提供することを目的とする。
　本開示の一側面に係る光検査装置は、物品に光を透過させることで得られた透過画像に対して、画像処理アルゴリズムを用いた画像処理を施して処理画像を生成し、処理画像に基づいて物品の検査を行う光検査装置であって、複数の画像処理アルゴリズムを予め記憶する記憶部と、記憶部に記憶された複数の画像処理アルゴリズムの少なくとも１つを、検査時の画像処理に用いる画像処理アルゴリズムに設定する設定部と、設定部で設定された画像処理アルゴリズムを集計する集計部と、を備え、設定部は、集計部の集計結果に基づいて、記憶部に記憶された複数の画像処理アルゴリズムの中から、設定する画像処理アルゴリズムの候補である複数の画像処理アルゴリズム候補を選出する選出部を有する。
　この光検査装置では、集計部の集計結果を利用して、記憶された複数の画像処理アルゴリズムの中から、有効である可能性が高い画像処理アルゴリズムを画像処理アルゴリズム候補として選出できる。その結果、画像処理アルゴリズムの設定の際、記憶された複数の画像処理アルゴリズムの中から選択するのではなく、数が絞り込まれた画像処理アルゴリズム候補の中から選択することが可能となる。画像処理アルゴリズムを容易に設定することが可能となる。
　本開示の一形態に係る光検査装置では、集計部は、設定部で設定された頻度が多い順で上位所定数の画像処理アルゴリズムを求め、選出部は、記憶部に記憶された複数の画像処理アルゴリズムの中から、集計部で求められた上位所定数の画像処理アルゴリズムを、複数の画像処理アルゴリズム候補として選出してもよい。この場合、有効である可能性が一層高い画像処理アルゴリズムを、画像処理アルゴリズム候補として選出できる。
　本開示の一形態に係る光検査装置では、集計部は、物品の属性毎に、設定部で設定された画像処理アルゴリズムを集計し、選出部は、設定部において特定物品の検査に用いる画像処理アルゴリズムを設定する場合、特定物品の属性に対応する属性の集計結果に基づいて、記憶部に記憶された複数の画像処理アルゴリズムの中から複数の画像処理アルゴリズム候補を選出してもよい。この場合、有効である可能性が一層高い画像処理アルゴリズムを、画像処理アルゴリズム候補として選出できる。
　本開示の一形態に係る光検査装置では、集計部は、光検査装置とは別の１又は複数の光検査装置における設定部で設定された画像処理アルゴリズムを、ネットワークを介して集計してもよい。これにより、集計部は、ネットワークを利用して、別の１又は複数の光検査装置における設定部で設定された画像処理アルゴリズムを更に集計できる。
　本開示の一形態に係る光検査装置では、選出部は、複数の画像処理アルゴリズム候補の優先順位を集計結果に基づいて設定してもよい。複数の画像処理アルゴリズム候補を順序付けすることで、画像処理アルゴリズムの設定の際、複数の画像処理アルゴリズム候補の中から画像処理アルゴリズムを容易に選択することが可能となる。
　本本開示の一形態に係る光検査装置は、物品に光を透過させることで得られた透過画像に対して、画像処理アルゴリズムを用いた画像処理を施して処理画像を生成し、処理画像に基づいて物品の検査を行う光検査装置であって、複数の画像処理アルゴリズムを予め記憶する記憶部と、記憶部に記憶された複数の画像処理アルゴリズムの少なくとも１つを、検査時の画像処理に用いる画像処理アルゴリズムに設定する設定部と、光検査装置とは別の１又は複数の光検査装置における設定部で設定された画像処理アルゴリズムを、ネットワークを介して集計する集計部と、を備え、設定部は、集計部の集計結果に基づいて、記憶部に記憶された複数の画像処理アルゴリズムの中から、設定する画像処理アルゴリズムの候補である複数の画像処理アルゴリズム候補を選出する選出部を有する。
　この光検査装置においても、画像処理アルゴリズムの設定に際し、記憶された複数の画像処理アルゴリズムの中から選択するのではなく、数が絞り込まれた画像処理アルゴリズム候補の中から選択することが可能となる。したがって、画像処理アルゴリズムを容易に設定することが可能となる。また、集計部は、ネットワークを利用して、別の１又は複数の光検査装置における設定部で設定された画像処理アルゴリズムを集計することができる。
　本開示の一形態に係る光検査システムは、物品に光を透過させることで得られた透過画像に対して、画像処理アルゴリズムを用いた画像処理を施して処理画像を生成し、処理画像に基づいて物品の検査を行う１又は複数の光検査装置と、光検査装置との間で、ネットワークを介して通信可能な集計装置と、を備え、光検査装置は、複数の画像処理アルゴリズムを予め記憶する記憶部と、記憶部に記憶された複数の画像処理アルゴリズムの少なくとも１つを、検査時の画像処理に用いる画像処理アルゴリズムに設定する設定部と、を有し、集計装置は、光検査装置の設定部で設定された画像処理アルゴリズムを、ネットワークを介して集計する集計部と、集計部の集計結果を、ネットワークを介して光検査装置へ送信する送信部と、を有し、設定部は、送信された集計結果に基づいて、記憶部に記憶された複数の画像処理アルゴリズムの中から、設定する画像処理アルゴリズムの候補である複数の画像処理アルゴリズム候補を選出する選出部を含む。
　この光検査システムにおいても、光検査装置における画像処理アルゴリズムの設定に際し、記憶された複数の画像処理アルゴリズムの中から選択するのではなく、数が絞り込まれた画像処理アルゴリズム候補の中から選択することが可能となる。したがって、画像処理アルゴリズムを容易に設定することが可能となる。また、集計装置は、ネットワークを利用して、光検査装置における設定部で設定された画像処理アルゴリズムを集計すると共に、当該集計結果を光検査装置へ送信することができる。
　本開示によれば、画像処理アルゴリズムを容易に設定することが可能となる光検査装置及び光検査システムを提供できる。
図１は、第１実施形態に係るＸ線検査装置の外観を示す斜視図である。 図２は、図１のＸ線検査装置のシールドボックス内の構成を示す斜視図である。 図３は、図１のＸ線検査装置の機能ブロック図である。 図４は、第２実施形態に係るＸ線検査装置の機能ブロック図である。 図５は、第３実施形態に係るＸ線検査システムの機能ブロック図である。
　以下、実施形態について、図面を参照して詳細に説明する。なお、各図において同一又は相当部分には同一符号を付し、重複する説明を省略する。
［第１実施形態］
　図１及び図２に示されるＸ線検査装置（光検査装置）１は、食品等の物品Ｇの生産ラインに設置されている。Ｘ線検査装置１は、物品ＧにＸ線（光）を透過させることで得られたＸ線透過画像（透過画像）に対して、画像処理アルゴリズムを用いた画像処理を施して処理画像を生成する。Ｘ線検査装置１は、生成した処理画像に基づいて、物品Ｇに含まれる異物の有無を検査する。
　物品Ｇ及び異物としては、特に限定されず、様々な物品及び異物を検査対象とすることができる。例えば物品Ｇは、フィルム包装材等のパッケージ内に食品等の内容物が収容された製品であってもよい。例えば物品Ｇはブロック肉であってもよく、検出すべき異物はＳＵＳ（ステンレス鋼）線であってもよい。Ｘ線検査装置１は、シールドボックス３と、コンベア５と、Ｘ線照射器７と、Ｘ線ラインセンサ９と、モニタ１１と、を備えている。
　シールドボックス３は、コンベア５、Ｘ線照射器７及びＸ線ラインセンサ９を収容している。シールドボックス３の両側面には、一対の開口部３ａが設けられている。各開口部３ａは、例えば鉛を含むゴムからなる遮蔽カーテン（図示省略）によって塞がれている。これにより、各開口部３ａを介してシールドボックス３外にＸ線が漏洩することが抑制されている。
　コンベア５は、一対の開口部３ａ間に掛け渡されるように、シールドボックス３内に配置されている。コンベア５は、コンベアモータ（図示省略）によって無端状のベルト５ａを回転させることで、ベルト５ａ上に載置された物品Ｇを搬送する。これにより、物品Ｇは、一方の開口部３ａを介してシールドボックス３内に搬入され、他方の開口部３ａを介してシールドボックス３外に搬出される。
　Ｘ線照射器７は、ベルト５ａの上方に位置するように、シールドボックス３内に配置されている。Ｘ線照射器７は、ベルト５ａの幅方向に沿ってベルト５ａを横切るようにＸ線を照射する。これにより、Ｘ線照射器７は、コンベア５によって搬送される物品ＧにＸ線を照射する。Ｘ線照射器７は、物品Ｇに光を照射する光照射部を構成する。
　Ｘ線ラインセンサ９は、ベルト５ａの下方に位置するように、シールドボックス３内に配置されている。Ｘ線ラインセンサ９は、ベルト５ａの幅方向に沿って一列に配置された複数の画素センサ９ａを有している。これにより、Ｘ線ラインセンサ９は、コンベア５によって搬送される物品Ｇを透過したＸ線を検出する。Ｘ線ラインセンサ９は、物品Ｇを透過した光を検出する光検出部を構成する。
　モニタ１１は、処理画像等の各種情報を表示する表示部である。モニタ１１は、例えば液晶ディスプレイである。モニタ１１は、タッチパネル機能を有している。モニタ１１は、オペレータによる各種条件の入力等を受け付けるマンマシンインタフェースとして機能する。
　図３に示されるように、Ｘ線検査装置１は、制御部２０を更に備えている。制御部２０は、例えばコンピュータである。制御部２０は、プロセッサであるＣＰＵ（Central Processing Unit）、記録媒体であるＲＡＭ（Random Access Memory）、及びＲＯＭ（Read Only Memory）等を含んで構成される。制御部２０は、ＣＰＵ及びＲＡＭ等のハードウェア上にプログラム等を読み込ませることにより動作する。制御部２０は、記憶部２１、設定部２３、画像処理部２５及び集計部２７を有している。記憶部２１、設定部２３、画像処理部２５及び集計部２７は、制御部２０において機能ブロックとして構成される。
　記憶部２１は、複数の画像処理アルゴリズムを予め記憶する。例えば記憶部２１は、２００以上の画像処理アルゴリズムを予め記憶する。画像処理アルゴリズムとは、Ｘ線透過画像に施す画像処理の処理手順を示す型である。画像処理アルゴリズムは、例えば、１つの画像処理フィルタ、又は、複数の画像処理フィルタの組み合わせによって構成される。
　記憶部２１に予め記憶する複数の画像処理アルゴリズムは、インターネット等のネットワークを介して外部から取得することができる。記憶部２１に予め記憶する複数の画像処理アルゴリズムは、ＵＳＢメモリ又はリムーバブルハードディスク等の外部記憶媒体から取得することができる。記憶部２１に予め記憶する複数の画像処理アルゴリズムは、生物界における遺伝及び進化のメカニズムを応用した手法である遺伝的アルゴリズム（GA=Genetic Algorithms）を採用して、Ｘ線検査装置１の仕様又は検査条件等に基づき複数の画像処理フィルタから自動生成することができる。なお、記憶部２１に予め記憶する複数の画像処理アルゴリズムは、遺伝的アルゴリズムを採用して生成されたアルゴリズム以外に、複数の画像処理フィルタを人手で適宜組み合わせたアルゴリズム等でもよい。
　設定部２３は、記憶部２１に記憶された複数の画像処理アルゴリズムの少なくとも１つを、物品検査時における画像処理に用いる画像処理アルゴリズムに設定（予約）する。設定部２３は、複数種（例えば２００～３００種）の物品Ｇそれぞれについて、複数の画像処理アルゴリズムを複数の感度レベルに分けて設定する。例えば設定部２３は、物品Ｇが「ハム」の場合の検査時における画像処理に用いる画像処理アルゴリズムを、感度レベル１～７毎に設定することができる。
　本実施形態の設定部２３は、記憶部２１に記憶された複数の画像処理アルゴリズムの中から、複数の画像処理アルゴリズム候補を選出する選出部２３ａを有する。画像処理アルゴリズム候補とは、設定部２３で設定する画像処理アルゴリズムの候補であって、物品検査に有効である可能性が高いと判断された画像処理アルゴリズムである。画像処理アルゴリズム候補の数は、記憶部２１に記憶された画像処理アルゴリズムの数が絞り込まれて、例えば５～１０程度とされる。選出部２３ａの詳細な処理については、後述する。
　設定部２３は、選出部２３ａで選出された複数の画像処理アルゴリズム候補のうち、オペレータによって選択された画像処理アルゴリズム候補を、物品検査時における画像処理に用いる画像処理アルゴリズムに設定する。オペレータによる画像処理アルゴリズム候補の選択は、インタフェースとして機能するモニタ１１を介して行うことができる。
　画像処理部２５は、Ｘ線ラインセンサ９から出力された信号に基づいて、物品ＧのＸ線透過画像を生成する。画像処理部２５は、物品Ｇの検査時において、設定部２３で設定した画像処理アルゴリズムを用いた画像処理をＸ線透過画像に施して、多階調で表現された濃淡画像である処理画像を生成する。画像処理部２５は、生成した当該処理画像をモニタ１１に表示させる。
　また、画像処理部２５は、設定部２３による画像処理アルゴリズムの設定時において、複数の画像処理アルゴリズム候補のうちの一つを用いた画像処理をＸ線透過画像に施して処理画像を生成する処理を、複数の画像処理アルゴリズム候補全てについて行う。画像処理部２５は、生成した複数の当該処理画像の少なくとも何れかを、オペレータによる選択操作に応じてモニタ１１に表示させる。
　集計部２７は、設定部２３で設定された画像処理アルゴリズムを集計する。集計部２７は、設定部２３において現在設定されている複数の画像処理アルゴリズムを集計し、集計した複数の画像処理アルゴリズムの中で、設定された頻度が多い順で上位所定数の画像処理アルゴリズムを求める。例えば集計部２７は、装置起動時又は設定部２３による画像処理アルゴリズムの設定変更時において、複数種の物品Ｇそれぞれの感度レベル毎に設定部２３で設定（予約）されている画像処理アルゴリズムの全てを集計する。そして、集計部２７は、集計した画像処理アルゴリズムを設定頻度が多い順にソートし、上位所定数の画像処理アルゴリズムを求める。
　なお、所定数は、予め又はオペレータの操作により定められた数であり、５～１０程度である。集計部２７は、設定部２３に現在設定されている複数の画像処理アルゴリズムに代えてもしくは加えて、設定部２３に過去に設定されていた複数の画像処理アルゴリズムを集計してもよい。
　集計部２７は、物品Ｇの属性毎に、設定部２３で設定された画像処理アルゴリズムを集計する。物品Ｇの属性は、物品Ｇの種類、特性、形状、大きさ及びカテゴリー等の少なくとも何れかを含む。例えば集計部２７は、物品Ｇが肉類の場合にて設定されている画像処理アルゴリズムと、物品Ｇが魚類の場合にて設定されている画像処理アルゴリズムと、を分けて集計する。
　ここで、設定部２３は、前述したように、選出部２３ａを有している。選出部２３ａは、集計部２７の集計結果に基づいて、記憶部２１に記憶された複数の画像処理アルゴリズムの中から複数の画像処理アルゴリズム候補を選出する。選出部２３ａは、集計部２７で求められた画像処理アルゴリズム（つまり、設定部２３における設定頻度が上位所定数の画像処理アルゴリズム）を、記憶部２１に記憶された複数の画像処理アルゴリズムの中から、複数の画像処理アルゴリズム候補として選出する。
　選出部２３ａは、設定部２３において特定物品の検査に用いる画像処理アルゴリズムを設定する場合、この特定物品の属性に対応する属性の集計結果に基づいて、複数の画像処理アルゴリズム候補を選出する。例えば選出部２３ａは、特定物品が「ハム」である場合、物品Ｇの属性毎に集計された集計結果の中から、「ハム」又は「ソーセージ」等の肉類として分類された集計結果を抽出する。選出部２３ａは、抽出した集計結果において設定頻度が上記所定数の画像処理アルゴリズムを、画像処理アルゴリズム候補として選出する。特定物品とは、設定部２３で画像処理アルゴリズムを設定する際に対象となる物品Ｇである。特定物品の属性は、インタフェースとして機能するモニタ１１を介して、オペレータにより入力あるいは選択できる。
　選出部２３ａは、複数の画像処理アルゴリズム候補の優先順位を、集計部２７の集計結果に基づいて設定する。選出部２３ａは、設定部２３における設定頻度が上位所定数の画像処理アルゴリズムを画像処理アルゴリズム候補に設定する場合、設定頻度が多いほど優先度が高くなるような優先順位を当該画像処理アルゴリズム候補に設定する。例えば選出部２３ａは、最も設定頻度が多い画像処理アルゴリズムを、優先順位が最上位の画像処理アルゴリズム候補として選出する。
　以上に説明したＸ線検査装置１を用いて物品Ｇを検査する場合、まず、Ｘ線照射器７から物品Ｇに対してＸ線を照射し、物品Ｇを透過したＸ線をＸ線ラインセンサ９で検出する。Ｘ線ラインセンサ９から出力された信号に基づいて、画像処理部２５によりＸ線透過画像を生成する。画像処理部２５により、設定部２３で設定した画像処理アルゴリズムを用いた画像処理をＸ線透過画像に施して処理画像を生成し、当該処理画像をモニタ１１に表示させる。これにより、オペレータは、モニタ１１に表示させた処理画像をチェックすることで、物品Ｇに含まれる異物の有無を検査する。
　次に、Ｘ線検査装置１において、検査時の画像処理に用いる画像処理アルゴリズムを設定する方法を説明する。ここでは、例えば２００～３００種類の物品Ｇ毎に画像処理アルゴリズムが設定部２３に既に設定されているＸ線検査装置１において、新たな物品Ｇ（特定物品）の検査時の画像処理に用いる画像処理アルゴリズムを追加設定する例を説明する。
　まず、集計部２７により、物品Ｇの属性毎に、設定部２３に設定されている画像処理アルゴリズムが集計される。集計部２７により、設定頻度が多い順で上位所定数の画像処理アルゴリズムが取得される。オペレータは、設定対象となる新たな物品Ｇの属性を、インタフェースとして機能するモニタ１１を介して入力あるいは選択する。
　これにより、選出部２３ａにより、集計部２７の集計結果に基づいて、記憶部２１に記憶された複数の画像処理アルゴリズムの中から、複数の画像処理アルゴリズム候補が選出される。具体的には、新たな物品Ｇの属性に対応し且つ設定頻度が多い上位所定数の画像処理アルゴリズムが、記憶部２１に記憶された複数の画像処理アルゴリズムの中から複数の画像処理アルゴリズム候補として選出される。このとき、複数の画像処理アルゴリズム候補には、当該設定頻度が多いほど上位となる優先順位が設定される。
　選出された複数の画像処理アルゴリズム候補は、その識別子（番号又は名称等）が優先順位の順序で並べられてモニタ１１に表示される。オペレータは、表示された複数の識別子のうちの何れかを、モニタ１１を介して適宜選択する。その結果、オペレータによって選択された識別子に対応する画像処理アルゴリズム候補が、新たな物品Ｇの検査に用いる画像処理アルゴリズムに設定されることとなる。
　以上、Ｘ線検査装置１では、集計部２７の集計結果を利用して、記憶された複数の画像処理アルゴリズムの中から、有効である可能性が高い画像処理アルゴリズムを画像処理アルゴリズム候補として選出できる。その結果、画像処理アルゴリズムの設定の際、記憶された複数の画像処理アルゴリズムの中から選択するのではなく、数が絞り込まれた画像処理アルゴリズム候補の中から選択することが可能となる。したがって、Ｘ線検査装置１によれば、画像処理アルゴリズムの設定にかかる手間及び時間を低減でき、画像処理アルゴリズムを容易に設定することが可能となる。
　Ｘ線検査装置１では、集計部２７は、設定部２３で設定された設定頻度が多い順で上位所定数の画像処理アルゴリズムを求める。選出部２３ａは、記憶部２１に記憶された複数の画像処理アルゴリズムの中から、集計部２７で求められた上位所定数の画像処理アルゴリズムを、複数の画像処理アルゴリズム候補として選出する。この場合、有効である可能性が一層高い画像処理アルゴリズムを、画像処理アルゴリズム候補として選出できる。
　Ｘ線検査装置１では、集計部２７は、設定部２３で設定された画像処理アルゴリズムを物品Ｇの属性毎に集計する。選出部２３ａは、設定部２３において特定物品の検査に用いる画像処理アルゴリズムを設定する場合、特定物品の属性に対応する属性の集計結果に基づいて、記憶部２１に記憶された複数の画像処理アルゴリズムの中から複数の画像処理アルゴリズム候補を選出する。これにより、有効である可能性が一層高い画像処理アルゴリズムを、画像処理アルゴリズム候補として選出できる。
　Ｘ線検査装置１では、選出部２３ａは、複数の画像処理アルゴリズム候補の優先順位を集計結果に基づいて設定する。複数の画像処理アルゴリズム候補を順序付けすることで、画像処理アルゴリズムの設定の際、複数の画像処理アルゴリズム候補の中から画像処理アルゴリズムを容易に選択することが可能となる。
［第２実施形態］
　図４に示されるＸ線検査装置１Ａは、集計部２７（図３参照）に代えて集計部２７Ａを備えた点で上記第１実施形態と異なる。集計部２７Ａは、Ｘ線検査装置１Ａとは別の複数のＸ線検査装置１Ｂにおける設定部２３Ｂで設定された画像処理アルゴリズムを、インターネット等のネットワークＮを介して集計する。集計部２７Ａは、複数のＸ線検査装置１Ｂとの間で、ネットワークＮを介して通信可能に構成されている。Ｘ線検査装置１Ｂは、Ｘ線検査装置１Ａと同様に構成されている。Ｘ線検査装置１Ｂの設定部２３Ｂは、設定された画像処理アルゴリズムに関する情報を、ネットワークＮへ送信する。
　このようなＸ線検査装置１Ａにおいても、画像処理アルゴリズムの設定に際し、記憶された複数の画像処理アルゴリズムの中から選択するのではなく、数が絞り込まれた画像処理アルゴリズム候補の中から選択することが可能となる。したがって、画像処理アルゴリズムを容易に設定することが可能となる。また、集計部２７Ａは、ネットワークＮを利用して、別の複数のＸ線検査装置１Ｂにおける設定部２３Ｂで設定された画像処理アルゴリズムを集計できる。
　なお、集計部２７Ａは、１つのＸ線検査装置１Ｂにおける設定部２３Ｂで設定された画像処理アルゴリズムのみを、ネットワークＮを介して集計してもよい。集計部２７Ａは、Ｘ線検査装置１Ａの設定部２３で設定された画像処理アルゴリズムを更に集計してもよい。
［第３実施形態］
　図５に示されるＸ線検査システム（光検査システム）１００は、複数のＸ線検査装置１Ｃと、集計装置２７Ｃと、を含んで構成されている。Ｘ線検査装置１Ｃは、集計部２７（図３参照）を備えていない点以外は上記Ｘ線検査装置１（図３参照）と同様に構成されている。Ｘ線検査装置１Ｃの設定部２３Ｃは、設定された画像処理アルゴリズムに関する情報を、ネットワークＮへ送信する。
　集計装置２７Ｃは、例えばコンピュータである。集計装置２７Ｃは、ＣＰＵ、ＲＡＭ及びＲＯＭ等を含んで構成され、ＣＰＵ及びＲＡＭ等のハードウェア上にプログラム等を読み込ませることにより動作する。集計装置２７Ｃは、複数のＸ線検査装置１Ｃとの間で、ネットワークＮを介して通信可能に構成されている。集計装置２７Ｃは、Ｘ線検査装置１Ｃの設定部２３Ｃで設定された画像処理アルゴリズムをネットワークＮを介して集計する集計部３１と、集計部３１の集計結果をネットワークＮを介して複数のＸ線検査装置１Ｃへ送信する送信部３２と、を有する。送信部３２により集計結果がＸ線検査装置１Ｃへ送信された結果、当該Ｘ線検査装置１Ｃの選出部２３ａは、送信された集計結果に基づいて、記憶部２１に記憶された複数の画像処理アルゴリズムの中から複数の画像処理アルゴリズム候補を選出する。
　このようなＸ線検査システム１００においても、Ｘ線検査装置１Ｃにおける画像処理アルゴリズムの設定に際し、記憶された複数の画像処理アルゴリズムの中から選択するのではなく、数が絞り込まれた画像処理アルゴリズム候補の中から選択することが可能となる。したがって、画像処理アルゴリズムを容易に設定することが可能となる。また、集計装置２７Ｃは、ネットワークＮを利用して、Ｘ線検査装置１Ｃにおける設定部２３Ｃで設定された画像処理アルゴリズムを集計すると共に、当該集計結果をＸ線検査装置１Ｃへ送信することができる。なお、Ｘ線検査システム１００は、複数のＸ線検査装置１Ｃを含んでいるが、１つのＸ線検査装置１Ｃのみを含んでいてもよい。
　以上、本開示の一実施形態について説明したが、本開示の一形態及び他形態は、上記実施形態に限定されるものではない。
　上記実施形態において、記憶部２１、設定部２３，２３Ｂ，２３Ｃ、選出部２３ａ、画像処理部２５、集計部２７，２７Ａ，３１及び送信部３２は、機能ブロックとして構成されるものに限定されず、ハード構成として構成されていてもよい。記憶部２１、設定部２３，２３Ｂ，２３Ｃ、選出部２３ａ、画像処理部２５、集計部２７，２７Ａ，３１及び送信部３２の少なくとも何れかは、外部の情報処理センター等の施設のコンピュータが有していてもよい。
　上記実施形態では、選出部２３ａで選出された複数の画像処理アルゴリズム候補の少なくとも１つが、オペレータによってモニタ１１を介して選択されて、物品検査時における画像処理に用いる画像処理アルゴリズムに設定されたが、これに限定されない。複数の画像処理アルゴリズム候補の少なくとも１つが、公知の演算処理によって自動的に選択されて、物品検査時における画像処理に用いる画像処理アルゴリズムに設定されてもよい。この場合には、画像処理アルゴリズムの設定にかかる演算処理時間を低減できる。
　上記実施形態では、本発明の一形態をＸ線検査装置１，１Ａ，１Ｂ，１Ｃ及びＸ線検査システム１００に適用したが、本発明の一形態は、光を利用して物品の検査を行う光検査装置又は光検査システムであればよい。本発明の一形態において、光とは、Ｘ線、近赤外線、その他の電磁波であってもよい。ただし、光としてＸ線を利用する場合には、物品Ｇが包装されている場合であっても、包材や、包材に施された印刷に影響されることなく、物品Ｇを検査することができる。
　１，１Ａ，１Ｂ，１Ｃ…Ｘ線検査装置（光検査装置）、２１…記憶部、２３，２３Ｂ，２３Ｃ…設定部、２３ａ…選出部、２７，２７Ａ，３１…集計部、２７Ｃ…集計装置、３２…送信部、１００…Ｘ線検査システム（光検査システム）、Ｇ…物品、Ｎ…ネットワーク。

Claims (7)

  1. 　物品に光を透過させることで得られた透過画像に対して、画像処理アルゴリズムを用いた画像処理を施して処理画像を生成し、前記処理画像に基づいて前記物品の検査を行う光検査装置であって、
    　複数の前記画像処理アルゴリズムを予め記憶する記憶部と、
    　前記記憶部に記憶された複数の前記画像処理アルゴリズムの少なくとも１つを、前記検査時の前記画像処理に用いる前記画像処理アルゴリズムに設定する設定部と、
    　前記設定部で設定された前記画像処理アルゴリズムを集計する集計部と、を備え、
    　前記設定部は、
    　　前記集計部の集計結果に基づいて、前記記憶部に記憶された複数の前記画像処理アルゴリズムの中から、設定する前記画像処理アルゴリズムの候補である複数の画像処理アルゴリズム候補を選出する選出部を有する、光検査装置。
  2. 　前記集計部は、前記設定部で設定された頻度が多い順で上位所定数の前記画像処理アルゴリズムを求め、
    　前記選出部は、前記記憶部に記憶された複数の前記画像処理アルゴリズムの中から、前記集計部で求められた上位所定数の前記画像処理アルゴリズムを、複数の前記画像処理アルゴリズム候補として選出する、請求項１に記載の光検査装置。
  3. 　前記集計部は、前記物品の属性毎に、前記設定部で設定された前記画像処理アルゴリズムを集計し、
    　前記選出部は、前記設定部において特定物品の検査に用いる前記画像処理アルゴリズムを設定する場合、前記特定物品の属性に対応する属性の前記集計結果に基づいて、前記記憶部に記憶された複数の前記画像処理アルゴリズムの中から複数の前記画像処理アルゴリズム候補を選出する、請求項１又は２に記載の光検査装置。
  4. 　前記集計部は、前記光検査装置とは別の１又は複数の光検査装置における設定部で設定された前記画像処理アルゴリズムを、ネットワークを介して集計する、請求項１～３の何れか一項に記載の光検査装置。
  5. 　前記選出部は、複数の前記画像処理アルゴリズム候補の優先順位を前記集計結果に基づいて設定する、請求項１～４の何れか一項に記載の光検査装置。
  6. 　物品に光を透過させることで得られた透過画像に対して、画像処理アルゴリズムを用いた画像処理を施して処理画像を生成し、前記処理画像に基づいて前記物品の検査を行う光検査装置であって、
    　複数の前記画像処理アルゴリズムを予め記憶する記憶部と、
    　前記記憶部に記憶された複数の前記画像処理アルゴリズムの少なくとも１つを、前記検査時の前記画像処理に用いる前記画像処理アルゴリズムに設定する設定部と、
    　前記光検査装置とは別の１又は複数の光検査装置における設定部で設定された前記画像処理アルゴリズムを、ネットワークを介して集計する集計部と、を備え、
    　前記設定部は、
    　　前記集計部の集計結果に基づいて、前記記憶部に記憶された複数の前記画像処理アルゴリズムの中から、設定する前記画像処理アルゴリズムの候補である複数の画像処理アルゴリズム候補を選出する選出部を有する、光検査装置。
  7. 　物品に光を透過させることで得られた透過画像に対して、画像処理アルゴリズムを用いた画像処理を施して処理画像を生成し、前記処理画像に基づいて前記物品の検査を行う１又は複数の光検査装置と、
    　前記光検査装置との間で、ネットワークを介して通信可能な集計装置と、を備え、
    　前記光検査装置は、
    　　複数の前記画像処理アルゴリズムを予め記憶する記憶部と、
    　　前記記憶部に記憶された複数の前記画像処理アルゴリズムの少なくとも１つを、前記検査時の前記画像処理に用いる前記画像処理アルゴリズムに設定する設定部と、を有し、
    　前記集計装置は、
    　　前記光検査装置の前記設定部で設定された前記画像処理アルゴリズムを、ネットワークを介して集計する集計部と、
    　　前記集計部の集計結果を、ネットワークを介して前記光検査装置へ送信する送信部と、を有し、
    　前記設定部は、
    　　送信された前記集計結果に基づいて、前記記憶部に記憶された複数の前記画像処理アルゴリズムの中から、設定する前記画像処理アルゴリズムの候補である複数の画像処理アルゴリズム候補を選出する選出部を含む、光検査システム。
PCT/JP2017/033693 2016-09-20 2017-09-19 光検査装置及び光検査システム WO2018056257A1 (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2016183278A JP6763569B2 (ja) 2016-09-20 2016-09-20 光検査装置及び光検査システム
JP2016-183278 2016-09-20

Publications (1)

Publication Number Publication Date
WO2018056257A1 true WO2018056257A1 (ja) 2018-03-29

Family

ID=61691046

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
PCT/JP2017/033693 WO2018056257A1 (ja) 2016-09-20 2017-09-19 光検査装置及び光検査システム

Country Status (2)

Country Link
JP (1) JP6763569B2 (ja)
WO (1) WO2018056257A1 (ja)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP7177721B2 (ja) * 2019-02-15 2022-11-24 日本信号株式会社 検査システム

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012137387A (ja) * 2010-12-27 2012-07-19 Anritsu Sanki System Co Ltd Ｘ線検査装置
JP2015141029A (ja) * 2014-01-27 2015-08-03 独立行政法人 国立印刷局 印刷機の排紙装置
WO2016136670A1 (ja) * 2015-02-24 2016-09-01 ナブテスコ株式会社 計測装置及び計測システム

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4902170B2 (ja) * 2005-10-21 2012-03-21 株式会社イシダ 検査システム
JP6022860B2 (ja) * 2012-08-31 2016-11-09 株式会社イシダ 物品検査装置及び物品検査方法
JP6068060B2 (ja) * 2012-08-31 2017-01-25 株式会社イシダ Ｘ線検査装置
JP6177649B2 (ja) * 2013-10-07 2017-08-09 株式会社日立ハイテクノロジーズ データ処理装置、測長システム、欠陥検査システム、画像トラッキングシステム、及びデータ処理方法

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012137387A (ja) * 2010-12-27 2012-07-19 Anritsu Sanki System Co Ltd Ｘ線検査装置
JP2015141029A (ja) * 2014-01-27 2015-08-03 独立行政法人 国立印刷局 印刷機の排紙装置
WO2016136670A1 (ja) * 2015-02-24 2016-09-01 ナブテスコ株式会社 計測装置及び計測システム

Also Published As

Publication number Publication date
JP6763569B2 (ja) 2020-09-30
JP2018048844A (ja) 2018-03-29

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR20210126163A (ko) 검사 장치
KR102387529B1 (ko) 검사 장치
CA2690831A1 (en) Method and apparatus for assessing characteristics of liquids
JP6749655B1 (ja) 検査装置、異常検出方法、コンピュータプログラム、学習モデルの生成方法、及び学習モデル
JP2021012108A (ja) 画像生成装置、検査装置及び学習装置
JP6920988B2 (ja) 検査装置
JP2016156647A (ja) 電磁波を使用した検査装置
JP6746142B2 (ja) 光検査システム及び画像処理アルゴリズム設定方法
WO2018056257A1 (ja) 光検査装置及び光検査システム
JP7295568B2 (ja) 検査装置及びプログラム
WO2019235022A1 (ja) 検査装置
JP6893676B2 (ja) 光検査装置
JP2005031069A (ja) Ｘ線検査装置
JP6742037B1 (ja) 学習モデルの生成方法、学習モデル、検査装置、異常検出方法、及びコンピュータプログラム
JP7212446B2 (ja) 物品検査装置及び物品検査システム
JP5875878B2 (ja) 密度算出装置
JP6861990B2 (ja) Ｘ線検査装置
JP6757970B2 (ja) 光検査装置及び光検査方法
JP2016090494A (ja) Ｘ線検査装置
KR102668930B1 (ko) 검사 장치
JP4291123B2 (ja) 放射線異物検査装置および放射線異物検査方法
JP2018105697A (ja) 質量推定装置
JP7177607B2 (ja) 生産管理システム及び生産管理プログラム
JP6983747B2 (ja) 物品検査情報管理装置、そのプログラム及び物品検査システム
JP7250301B2 (ja) 検査装置、検査システム、検査方法、検査プログラム及び記録媒体

Legal Events

Date Code Title Description
121 Ep: the epo has been informed by wipo that ep was designated in this application

Ref document number: 17853029

Country of ref document: EP

Kind code of ref document: A1

NENP Non-entry into the national phase

Ref country code: DE

122 Ep: pct application non-entry in european phase

Ref document number: 17853029

Country of ref document: EP

Kind code of ref document: A1