JP2012132875A - センサーチップ、センサーチップの製造方法、検出装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】センサーチップ10は、基板20と、基板20の表面に格子状に配列して形成される凸部22,23,…,と凸部間の凹部24とから構成される凹凸構造と、凹凸構造の互いに隣り合う凸部22,23それぞれの上部稜線22a,23aによって表面プラズモン共鳴を生じる微小間隙を有して配列される金属ナノ粒子30と、を備える。金属微粒子間にレーザー光を照射させることにより局在表面プラズモン共鳴がより効率的に生じる。その結果、表面増強ラマン散乱を取り出し、高感度に物質を検出することが可能なセンサーチップを実現できる。
【選択図】図1
Description
ここで、誘電体としては、例えば、石英、水晶、硼珪酸ガラスなどのガラス、シリコンなどが適している。なお、入射する光を基板側に設定する場合には、入射する光に対して透明な基板が適しており、入射する光を金属微粒子側に設定する場合には、必ずしも透明である必要はない。
なお、以下の説明で参照する図は、各部材を認識可能な大きさとするため、各部材ないし部分の縦横の縮尺は実際のものとは異なる模式図である。
(センサーチップ・実施例1)
(センサーチップ・実施例2)
図3は、実施例2に係るセンサーチップの1部を示す平面図である。なお、断面構造は図2と同様に表すことが可能であるので省略する。図3において、凹凸構造は、縦横方向それぞれに凸部と凹部とが配列されている。ここで、一つの金属ナノ粒子を例示して説明すると、金属ナノ粒子30は、柱状の凸部25,26,27,28の各稜線が交わる4つの角部によって支持配列される。つまり、凸部25,26,27,28の各稜線が交わる4つの交点によって支持される金属微粒子30との組み合わせを1ユニットとして、基板20の縦・横に配列されている。なお、凸部25,26,27,28以外の部分(図示、白抜きの部分)は凹部であるが、これら凸部と凹部とを置き換えた凹凸構造としてもよい。このような構成では、凸部25,26,27,28の稜線によって金属微粒子30が支持される。また、凸部の平面視形状は、四角形でも円形でもよい。
(センシングの原理)
図4はラマン分光の説明図、図5は被検出物質をアセトアルデヒドとしたときの測定例を示すスペクトル図、図6は金属ナノ粒子に光を照射した時に形成される増強電場の説明図である。
図4に示すように、被検出物質である標的分子に入射光(波長ν)が照射されると、多くはレイリー散乱光として波長が変化せず散乱される。一部に標的分子の分子振動の情報を含んだラマン散乱光(波長ν−ν‘)が散乱される。そのラマン散乱光には、図5に示すような標的分子(ここではアセトアルデヒド分子を例示)の指紋スペクトルが得られることになる。
(センサーチップ・実施例3)
図7は、実施例3に係るセンサーチップの1部を示す断面図である。図7において、凹凸構造の凹部は、基板20の上面21に対して底の方が狭い傾き(テーパ)を有して形成されている。このような形状は、前述した実施例1の1次元構造、実施例2の2次元構造にも応用可能である(図示は実施例1の場合)。金属ナノ粒子30は、凸部22と凸部23によって保持され、所定の配列構造を有する。
(センサーチップ・変形例)
図8は、変形例に係る金属ナノ粒子に光を照射した時に形成される増強電場の説明図である。センサーチップ10は、基板表面20aに金属ナノ粒子30がほぼ1層となるように配列されている。金属ナノ粒子30は、分散媒に混合された分散液を基板表面20aにインクジェット法を用いて滴下させ、分散媒を蒸発させることで、基板20に吸着させることができる。
(センサーチップの製造方法)
図9、図10は、はセンサーチップの主たる製造工程を示す断面図である。基板20としては、石英、水晶、硼珪酸ガラスなどのガラス、シリコン等を用いることができるが、ここでは石英板を例示して説明する。まず、図9(a)に示すように、清浄な基板20の表面に、レジスト40をスピンコーターなどの装置で塗布し乾燥させる。そこへ、所望の凹凸パターンを作るために、レーザー干渉露光する。
図12は、センサー基板上のセンサーチップの配置構成を示す配置図である。センサー基板70に、前述した方法(図8、参照)で、多数の凹凸構造を形成する。これら凹凸構造の一つ一つの集合がセンサー部11である。凹凸構造を形成した後、インクジェット装置を用いて、凹凸構造上に、金属ナノ粒子が分散された分散液を吐出し、センサーチップ10を形成する。
(検出装置)
図13は、検出装置の構成の1例を示す構成図である。検出装置200は、センサーチップ10、及び吸引流路220などの検出のたびに交換する消耗品と、繰り返し使用可能な本体部と、から構成されている。
図14は、検出装置に係る制御系の構成を示すブロック図である。なお、図13も参照する。検出装置200の表面には、操作パネル250、表示部251、外部とのインターフェイスのための接続部215、電力供給部214が具えられている。電力供給部214が2次電池の場合には、充電のための接続部216を具える。本体の上部のセンサー部カバー201の内部にはセンサーチップ10と、センサーチップ10の有無を検出し、センサーチップ10のコードを読み取るためのセンサーチップ検出器240があり、センサーチップ検出回路234を経由してその情報が信号処理・制御部213を構成するCPU(Central Processing Unit)に送られて判断される。この状態は、検出の準備ができた状態なので、CPUから表示部251へ準備OKの表示信号を出す。それを見た操作者は、検出開始を操作パネル250から指示信号をCPUへ出す。
セキュリティー分野では、空港・港湾・交通機関などで行われる麻薬や爆発物の探知、及び可燃性危険物の探知が可能である。
Claims (9)
- 基板と、前記基板の表面に格子状に配列して形成される凹凸構造と、
前記凹凸構造の互いに隣り合う凸部の上部稜線に接して支持される複数の金属粒子と、
を備え、
前記複数の金属粒子の少なくとも一部は、隣り合う金属微粒子との間に間隙を有することを特徴とするセンサーチップ。 - 請求項1に記載のセンサーチップにおいて、
前記間隙は、表面プラズモン共鳴を生じる微小間隙であり、
前記基板が、誘電体であることを特徴とするセンサーチップ。 - 請求項1または請求項2に記載のセンサーチップにおいて、
前記金属微粒子の平均粒径が、入射する光の波長よりも小さく、表面プラズモン共鳴による増強電場を形成する大きさであることを特徴とするセンサーチップ。 - 請求項1ないし請求項3のいずれか一項に記載のセンサーチップにおいて、
前記凹凸構造の互いに隣り合う凸部間の距離は、前記金属微粒子の平均粒径よりも小さいことを特徴とするセンサーチップ。 - 請求項1ないし請求項4のいずれか一項に記載のセンサーチップにおいて、
前記金属微粒子が、金(Au)、銀(Ag)、銅(Cu)、アルミニウム(Al)、白金(Pt)、パラジウム(Pd)、モリブデン(Mo)、クロム(Cr)、もしくはこれらの合金又は複合体であることを特徴とするセンサーチップ。 - 基板表面に格子状に配列される凹凸構造を形成する工程と、
分散媒に金属微粒子が分散された分散液を、前記凹凸構造の上部に吐出する工程と、
前記分散媒を除去する工程と、
を含むことを特徴とするセンサーチップの製造方法。 - 請求項6に記載のセンサーチップの製造方法において、
前記分散液を前記凹凸構造の上部に吐出する工程が、インクジェット法であることを特徴とするセンサーチップの製造方法。 - 請求項7に記載のセンサーチップの製造方法において、前記分散液を吐出した後の広がりの大きさが、前記凹凸構造の形成領域よりも小さいことを特徴とするセンサーチップの製造方法。
- 気体状の被検出物質をセンサーチップ上に輸送する吸引手段及び排出手段と、
ラマン散乱を励起する手段と、
レイリー散乱光を除去する光学手段と、
ラマン散乱光を分光する分光手段と、
分光された光を電気信号に変換する受光手段と、
電気信号に変換されたラマン情報を信号処理、制御する信号処理・制御手段と、
が、備えられ、
前記センサーチップ上の金属微粒子間に発生する局在表面プラズモン共鳴及び表面増強ラマン散乱を用いて前記検出物質を検出することを特徴とする検出装置。
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