JP2012033584A - 樹脂封止装置及び樹脂封止方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】 封止前基板5に装着されたチップを樹脂封止する樹脂封止装置1に、成形モジュール3A〜3Dと、各成形モジュール3A〜3Dに各々設けられた下型10と、下型10に相対向して各々設けられた上型と、各下型10に設けられ流動性樹脂によって満たされるキャビティ11と、各成形モジュール3A〜3Dまで封止前基板5を搬送する搬送機構9と、搬送機構9に設けられた第1のヒータと、搬送機構9から受け取った封止前基板5をキャビティ11の上方まで移送して上型の型面に引き渡す移送機構13と、移送機構13に設けられた第2のヒータとを備える。第1のヒータは封止前基板5を各成形モジュール3A〜3Dまで搬送する過程において、第2のヒータは受け取った封止前基板5を上型の型面に引き渡すまでの過程において、各々封止前基板5を面的に加熱する。
【選択図】図1
Description
2 受入及び払出モジュール
3A、3B、3C、3D 成形モジュール
4 基板供給部
5 封止前基板
6 回転機構
7 中継機構
8 受け渡し台
9 搬送機構
10 下型(第2の成形型)
11 キャビティ
12 基板位置
13 移送機構
14 基板
15 境界線
16 領域
17 チップ
18 導線
19、23 本体
20 ヒータ(第1のヒータ)
21 表層部
22、26、29 吸引路
24 ヒータ(第2のヒータ)
25 枠状部
27 収容部
28 上型(第1の成形型)
30 流動性樹脂
31 硬化樹脂
32 封止済基板
Claims (12)
- チップ状の電子部品からなるチップが基板に装着された状態において前記チップを樹脂封止する樹脂封止装置であって、
第1の成形型と、
前記第1の成形型に相対向して設けられた第2の成形型と、
前記第1の成形型と前記第2の成形型との少なくともいずれかに設けられ流動性樹脂によって満たされるべきキャビティと、
前記チップが装着された前記基板からなる封止前基板を前記キャビティの少なくとも近傍まで搬送する搬送機構と、
前記搬送機構に設けられた第1のヒータとを備えるとともに、
前記第1のヒータの形状はシート状であり、
前記第1のヒータは、前記封止前基板を少なくとも前記キャビティの近傍まで搬送する過程において前記封止前基板を面的に加熱し、
前記キャビティに満たされた前記流動性樹脂に前記チップが浸漬された状態において前記流動性樹脂が硬化することを特徴とする樹脂封止装置。 - 請求項1に記載された樹脂封止装置において、
前記第1の成形型と前記第2の成形型とはそれぞれ複数個設けられているとともに、
複数個の前記第2の成形型がそれぞれ有する前記キャビティの少なくとも近傍まで前記封止前基板を搬送する距離が相異なることを特徴とする樹脂封止装置。 - 請求項1又は2に記載された樹脂封止装置において、
前記第1のヒータは前記封止前基板を直接加熱することを特徴とする樹脂封止装置。 - 請求項1又は2に記載された樹脂封止装置において、
前記搬送機構は、前記第1の成形型と前記第2の成形型とのいずれかにおいて前記キャビティに平面視して重なる位置における型面まで前記封止前基板を更に搬送して前記封止前基板を前記型面を含む型面に引き渡し、
前記第1のヒータは、前記封止前基板を前記型面に引き渡すまでの過程において前記封止前基板を面的に加熱することを特徴とする樹脂封止装置。 - 請求項1又は2に記載された樹脂封止装置において、
前記搬送機構から前記封止前基板を受け取り、かつ、前記型面まで前記封止前基板を移送する移送機構と、
前記移送機構に設けられた第2のヒータとを備えるとともに、
前記第2のヒータは、前記封止前基板を前記型面に引き渡すまでの過程において前記封止前基板を面的に加熱することを特徴とする樹脂封止装置。 - 請求項5に記載された樹脂封止装置において、
前記第2のヒータの形状はシート状であり、
前記第2のヒータは、前記チップに対して非接触である状態において前記封止前基板を面的に加熱することを特徴とする樹脂封止装置。 - チップ状の電子部品からなるチップが基板に装着された状態において前記チップを樹脂封止することを目的として、第1の成形型と該第1の成形型に相対向して設けられた第2の成形型とを準備する工程と、前記チップが装着された前記基板からなる封止前基板を搬送機構に配置する工程と、前記第1の成形型と前記第2の成形型との少なくともいずれかに設けられ流動性樹脂によって満たされるべきキャビティの少なくとも近傍まで前記搬送機構を使用して前記封止前基板を搬送する工程と、前記第1の成形型と前記第2の成形型とのいずれかにおいて前記キャビティに平面視して重なる位置における型面を含む型面に前記封止前基板を固定する工程と、前記第1の成形型と前記第2の成形型とを型締めする工程と、前記キャビティに満たされた前記流動性樹脂に前記チップが浸漬された状態において前記流動性樹脂を硬化させることによって硬化樹脂を形成する工程と、前記第1の成形型と前記第2の成形型とを型開きする工程と、前記基板と前記チップと前記硬化樹脂とを有する封止済基板を取り出す工程とを備える樹脂封止方法であって、
前記搬送する工程においては、前記搬送機構に設けられシート状の形状を有する第1のヒータを使用して前記封止前基板を面的に加熱することを特徴とする樹脂封止方法。 - 請求項7に記載された樹脂封止方法において、
前記第1の成形型と前記第2の成形型とはそれぞれ複数個設けられているとともに、
複数個の前記第2の成形型がそれぞれ有する前記キャビティの少なくとも近傍まで前記封止前基板を搬送する距離が相異なることを特徴とする樹脂封止方法。 - 請求項7又は8に記載された樹脂封止方法において、
前記搬送する工程においては、前記第1のヒータは前記封止前基板を直接加熱することを特徴とする樹脂封止方法。 - 請求項7又は8に記載された樹脂封止方法において、
前記搬送する工程においては、前記型面まで前記封止前基板を更に搬送して前記封止前基板を前記型面に引き渡すことを特徴とする樹脂封止方法。 - 請求項7又は8に記載された樹脂封止方法において、
前記搬送する工程においては、移送機構が前記搬送機構から前記封止前基板を受け取る工程と、前記移送機構を使用して前記封止前基板を前記型面まで移送する工程と、前記封止前基板を前記型面に引き渡す工程とを更に備えるとともに、
前記移送する工程においては、前記移送機構に設けられた第2のヒータを使用して、前記チップに対して非接触である状態において前記封止前基板を面的に加熱することを特徴とする樹脂封止方法。 - 請求項11に記載された樹脂封止方法において、
前記第2のヒータの形状はシート状であることを特徴とする樹脂封止方法。
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Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2013206947A (ja) * | 2012-03-27 | 2013-10-07 | Renesas Electronics Corp | 半導体装置の製造方法及び半導体装置 |
JP2013219275A (ja) * | 2012-04-11 | 2013-10-24 | Towa Corp | 樹脂封止装置及び樹脂封止方法 |
KR20140090068A (ko) * | 2013-01-08 | 2014-07-16 | 토와 가부시기가이샤 | 수지 밀봉 장치 및 수지 밀봉 방법 |
JP2015157438A (ja) * | 2014-02-25 | 2015-09-03 | Towa株式会社 | 樹脂成形装置及び樹脂成形方法 |
JP2019031051A (ja) * | 2017-08-09 | 2019-02-28 | Towa株式会社 | 搬送機構、樹脂成形装置、成形対象物の成形型への受け渡し方法、及び樹脂成形品の製造方法 |
Families Citing this family (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP6549150B2 (ja) * | 2014-01-06 | 2019-07-24 | エムシー10 インコーポレイテッドMc10,Inc. | コンフォーマル電子デバイスの封入方法 |
US10170339B2 (en) * | 2016-10-25 | 2019-01-01 | Nanya Technology Corporation | Semiconductor structure and a manufacturing method thereof |
CN113451485A (zh) * | 2021-06-29 | 2021-09-28 | 顺德职业技术学院 | 一种防止led显示器串光的封装胶的成模装置 |
CN113394326A (zh) * | 2021-06-29 | 2021-09-14 | 顺德职业技术学院 | 一种防水led进水的封装胶的成模装置 |
CN113442361A (zh) * | 2021-06-29 | 2021-09-28 | 顺德职业技术学院 | 一种提高led显示器拼接效果的封装胶的成模装置 |
Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH04307218A (ja) * | 1991-04-04 | 1992-10-29 | Matsushita Electron Corp | 半導体樹脂封止装置 |
JPH05162138A (ja) * | 1991-12-13 | 1993-06-29 | Toshiba Corp | 成形装置 |
JPH11126784A (ja) * | 1997-10-24 | 1999-05-11 | Nec Corp | リードフレーム搬送装置及びそれを備えた樹脂封止装置 |
JP2000167841A (ja) * | 1998-12-08 | 2000-06-20 | Apic Yamada Corp | 樹脂封止装置 |
JP2001028378A (ja) * | 1999-07-14 | 2001-01-30 | Daiichi Seiko Kk | 半導体装置封止装置 |
JP2004273773A (ja) * | 2003-03-10 | 2004-09-30 | Apic Yamada Corp | 成形品収納装置及び樹脂封止装置 |
JP2009105273A (ja) * | 2007-10-24 | 2009-05-14 | Sumitomo Heavy Ind Ltd | 樹脂封止金型 |
Family Cites Families (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2694509B2 (ja) | 1994-05-19 | 1997-12-24 | トーワ株式会社 | 電子部品の樹脂封止成形方法 |
JP4519398B2 (ja) * | 2002-11-26 | 2010-08-04 | Towa株式会社 | 樹脂封止方法及び半導体装置の製造方法 |
JP5192646B2 (ja) * | 2006-01-16 | 2013-05-08 | Towa株式会社 | 光素子の樹脂封止方法、その樹脂封止装置、および、その製造方法 |
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-
2011
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Patent Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH04307218A (ja) * | 1991-04-04 | 1992-10-29 | Matsushita Electron Corp | 半導体樹脂封止装置 |
JPH05162138A (ja) * | 1991-12-13 | 1993-06-29 | Toshiba Corp | 成形装置 |
JPH11126784A (ja) * | 1997-10-24 | 1999-05-11 | Nec Corp | リードフレーム搬送装置及びそれを備えた樹脂封止装置 |
JP2000167841A (ja) * | 1998-12-08 | 2000-06-20 | Apic Yamada Corp | 樹脂封止装置 |
JP2001028378A (ja) * | 1999-07-14 | 2001-01-30 | Daiichi Seiko Kk | 半導体装置封止装置 |
JP2004273773A (ja) * | 2003-03-10 | 2004-09-30 | Apic Yamada Corp | 成形品収納装置及び樹脂封止装置 |
JP2009105273A (ja) * | 2007-10-24 | 2009-05-14 | Sumitomo Heavy Ind Ltd | 樹脂封止金型 |
Cited By (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2013206947A (ja) * | 2012-03-27 | 2013-10-07 | Renesas Electronics Corp | 半導体装置の製造方法及び半導体装置 |
US9087826B2 (en) | 2012-03-27 | 2015-07-21 | Renesas Electronics Corporation | Method for manufacturing semiconductor device using mold having resin dam and semiconductor device |
JP2013219275A (ja) * | 2012-04-11 | 2013-10-24 | Towa Corp | 樹脂封止装置及び樹脂封止方法 |
KR20140117482A (ko) | 2012-04-11 | 2014-10-07 | 토와 가부시기가이샤 | 수지 밀봉 장치 및 수지 밀봉 방법 |
KR20140090068A (ko) * | 2013-01-08 | 2014-07-16 | 토와 가부시기가이샤 | 수지 밀봉 장치 및 수지 밀봉 방법 |
JP2014135330A (ja) * | 2013-01-08 | 2014-07-24 | Towa Corp | 樹脂封止装置及び樹脂封止方法 |
KR101587694B1 (ko) * | 2013-01-08 | 2016-01-21 | 토와 가부시기가이샤 | 수지 밀봉 장치 및 수지 밀봉 방법 |
JP2015157438A (ja) * | 2014-02-25 | 2015-09-03 | Towa株式会社 | 樹脂成形装置及び樹脂成形方法 |
JP2019031051A (ja) * | 2017-08-09 | 2019-02-28 | Towa株式会社 | 搬送機構、樹脂成形装置、成形対象物の成形型への受け渡し方法、及び樹脂成形品の製造方法 |
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