JP2011518479A - 高電圧耐性の入出力インターフェイス回路 - Google Patents
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- 入出力(IO)インターフェイス回路であって、
信号パッド、
第1の電圧源に接続するように適合されたエミッタと、第1の制御信号を受け取るように適合されたベースと、オープンコレクタ構成で前記信号パッドに直接接続されたコレクタとを有する少なくとも1つの第1の寄生バイポーラ・トランジスタ、及び、
前記少なくとも1つの第1の寄生バイポーラ・トランジスタに結合され、第1の制御信号を発生するよう動作する金属酸化膜半導体(MOS)制御回路を備える、インターフェイス回路。 - 前記少なくとも1つの第1の寄生バイポーラ・トランジスタが寄生NPNトランジスタおよび寄生PNPトランジスタのうち少なくとも1つを備える、請求項1に記載のインターフェイス回路。
- 前記第1の電圧源が前記インターフェイス回路の電圧帰路であり、前記少なくとも1つの第1の寄生バイポーラ・トランジスタが寄生NPNトランジスタを備える、請求項1に記載のインターフェイス回路。
- 前記第1の電圧源がインターフェイス回路の電圧源であり、前記少なくとも1つの第1の寄生バイポーラ・トランジスタが寄生PNPトランジスタを備える、請求項1に記載のインターフェイス回路。
- 前記少なくとも1つの第1の寄生バイポーラ・トランジスタが横型バイポーラ・トランジスタ及び縦型バイポーラ・トランジスタのうち少なくとも1つを備える、請求項1に記載のインターフェイス回路。
- 前記制御回路が、pチャネル金属酸化膜半導体(PMOS)デバイスとnチャネル金属酸化膜半導体(NMOS)デバイスとを含む少なくとも1つのインバータを備え、前記PMOSデバイスの第1のソース/ドレインが前記インターフェイス回路の電圧源に接続し、前記PMOSデバイスの第2のソース/ドレインが、前記NMOSデバイスの第1のソース/ドレインに接続され、前記第1の制御信号を発生する前記制御回路の出力端を形成し、前記NMOSデバイスの第2のソース/ドレインが前記第1の電圧源に接続し、前記PMOSデバイスのゲートと前記NMOSデバイスのゲートとが、互いに接続され、前記制御回路への入力信号を受け取るように適合される、請求項1に記載のインターフェイス回路。
- IOインターフェイス回路であって、
信号パッド、
第1の電圧源に接続するように適合されたエミッタと、第1の制御信号を受け取るように適合されたベースと、前記信号パッドに直接接続されたコレクタとを有する少なくとも1つの第1の寄生バイポーラ・トランジスタ、
第2の電圧源と前記信号パッドとの間に接続され、前記第1の制御信号の論理的補数である前記第2の制御信号を受け取るように適合されるアクティブ・プルアップ回路、及び、
前記第1の寄生バイポーラ・トランジスタに結合され、前記第1の制御信号と前記第2の制御信号とを発生するよう動作するMOS制御回路を備える、インターフェイス回路。 - 前記アクティブ・プルアップ回路が、前記信号パッドに接続されたエミッタと、前記第2の電圧源へ接続するように適合されたコレクタと、前記第2の制御信号を受け取るように適合されたベースとを含む少なくとも1つの第2の寄生バイポーラ・トランジスタを備える、請求項7に記載のインターフェイス回路。
- 前記少なくとも1つの第1の寄生バイポーラ・トランジスタと前記少なくとも1つの第2の寄生バイポーラ・トランジスタとのそれぞれが寄生NPNトランジスタを備える、請求項8に記載のインターフェイス回路。
- 前記制御回路が、pチャネル金属酸化膜半導体(PMOS)デバイスとnチャネル金属酸化膜半導体(NMOS)デバイスとを含む少なくとも1つのインバータを備え、前記PMOSデバイスの第1のソース/ドレインが前記第2の電圧源に接続し、前記PMOSデバイスの第2のソース/ドレインが、前記NMOSデバイスの第1のソース/ドレインに接続され、前記第1の制御信号を発生する前記制御回路の出力端を形成し、前記NMOSデバイスの第2のソース/ドレインが前記第1の電圧源に接続し、前記PMOSデバイスのゲートと前記NMOSデバイスのゲートとが、互いに接続され、前記制御回路への入力信号を受け取るように適合される、請求項7に記載のインターフェイス回路。
- 前記第1および第2の電圧源のうち少なくとも1つが前記MOS制御回路への電圧源接続から電気的に絶縁される、請求項7に記載のインターフェイス回路。
- 請求項7に記載のIOインターフェイス回路を少なくとも1つ備える集積回路。
- 少なくとも1つの入出力(IO)インターフェイス回路を含む集積回路であって、前記少なくとも1つの入出力(IO)インターフェイス回路は、
信号パッド、
第1の電圧源に接続するように適合されたエミッタと、第1の制御信号を受け取るように適合されたベースと、オープンコレクタ構成で前記信号パッドに直接接続されたコレクタを有する少なくとも1つの第1の寄生バイポーラ・トランジスタ、及び、
前記少なくとも1つの第1の寄生バイポーラ・トランジスタに結合され、第1の制御信号を発生するよう動作する金属酸化膜半導体(MOS)制御回路を備える、集積回路。 - 前記第1の寄生バイポーラ・トランジスタが寄生NPNトランジスタおよび寄生PNPトランジスタのうち少なくとも1つを備える、請求項13に記載の集積回路。
- 前記第1の電圧源が前記少なくとも1つのインターフェイス回路の電圧帰路であり、前記少なくとも1つの第1の寄生バイポーラ・トランジスタが寄生NPNトランジスタを備える、請求項13に記載の集積回路。
- 前記第1の電圧源が前記少なくとも1つのインターフェイス回路の電圧源であり、前記少なくとも1つの第1の寄生バイポーラ・トランジスタが寄生PNPトランジスタを備える、請求項13に記載の集積回路。
- 前記少なくとも1つの第1の寄生バイポーラ・トランジスタが横型バイポーラ・トランジスタおよび縦型バイポーラ・トランジスタのうち少なくとも1つを備える、請求項13に記載の集積回路。
- 前記制御回路が、pチャネル金属酸化膜半導体(PMOS)デバイスおよびnチャネル金属酸化膜半導体(NMOS)デバイスを含む少なくとも1つのインバータを含み、前記PMOSデバイスの第1のソース/ドレインが前記インターフェイス回路の電圧源に接続し、前記PMOSデバイスの第2のソース/ドレインが、前記NMOSデバイスの第1のソース/ドレインに接続され、前記第1の制御信号を発生する前記制御回路の出力端を形成し、前記NMOSデバイスの第2のソース/ドレインが前記第1の電圧源に接続し、前記PMOSデバイスのゲートと前記NMOSデバイスのゲートとが、互いに接続され、前記制御回路への入力信号を受け取るように適合される、請求項13に記載の集積回路。
- IOインターフェイス回路の電圧耐性を向上する方法であって、
第1の電圧源へ接続するように適合されたエミッタと、第1の制御信号を受け取るように適合されたベースと、オープンコレクタ構成でIOインターフェイス回路の信号パッドに直接接続されたコレクタとを有する少なくとも1つの第1の寄生バイポーラ・トランジスタを設けるステップと、
前記IOインターフェイス回路に与えられた入力信号の関数として、前記第1の制御信号を発生するステップとを含む、方法。
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