JP2011517200A - 少なくとも一つの誘電体層を含む電気部品の製造方法、及び少なくとも一つの誘電体層を含む電気部品 - Google Patents
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- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims description 36
- 238000000034 method Methods 0.000 claims abstract description 206
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims abstract description 65
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims abstract description 65
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 39
- 238000005868 electrolysis reaction Methods 0.000 claims abstract description 15
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 claims abstract description 13
- 238000000576 coating method Methods 0.000 claims abstract description 13
- 230000001590 oxidative effect Effects 0.000 claims abstract description 6
- 230000003647 oxidation Effects 0.000 claims description 22
- 238000007254 oxidation reaction Methods 0.000 claims description 22
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 13
- 238000000151 deposition Methods 0.000 claims description 12
- 239000010953 base metal Substances 0.000 claims description 11
- 238000001465 metallisation Methods 0.000 claims description 11
- 238000005530 etching Methods 0.000 claims description 7
- 229910018072 Al 2 O 3 Inorganic materials 0.000 claims description 5
- 230000008719 thickening Effects 0.000 claims description 5
- 229910013641 LiNbO 3 Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 229910004298 SiO 2 Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 229910052697 platinum Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 229910052719 titanium Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 229910052728 basic metal Inorganic materials 0.000 abstract 2
- 150000003818 basic metals Chemical class 0.000 abstract 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 17
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 9
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 8
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 5
- 230000008021 deposition Effects 0.000 description 5
- 238000002161 passivation Methods 0.000 description 3
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 3
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 2
- 239000003792 electrolyte Substances 0.000 description 2
- 239000008151 electrolyte solution Substances 0.000 description 2
- 238000009966 trimming Methods 0.000 description 2
- 238000005019 vapor deposition process Methods 0.000 description 2
- 238000005336 cracking Methods 0.000 description 1
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 description 1
- 238000010292 electrical insulation Methods 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 230000007613 environmental effect Effects 0.000 description 1
- 230000008020 evaporation Effects 0.000 description 1
- 238000001704 evaporation Methods 0.000 description 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 1
- 238000007654 immersion Methods 0.000 description 1
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 1
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 1
- 238000005304 joining Methods 0.000 description 1
- 229910044991 metal oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000004706 metal oxides Chemical class 0.000 description 1
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
- 238000001020 plasma etching Methods 0.000 description 1
- 238000007747 plating Methods 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 1
- 238000007740 vapor deposition Methods 0.000 description 1
- 238000003631 wet chemical etching Methods 0.000 description 1
Images
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-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03H—IMPEDANCE NETWORKS, e.g. RESONANT CIRCUITS; RESONATORS
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- H03H9/25—Constructional features of resonators using surface acoustic waves
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- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
- H01L21/02104—Forming layers
- H01L21/02107—Forming insulating materials on a substrate
- H01L21/02225—Forming insulating materials on a substrate characterised by the process for the formation of the insulating layer
- H01L21/02227—Forming insulating materials on a substrate characterised by the process for the formation of the insulating layer formation by a process other than a deposition process
- H01L21/0223—Forming insulating materials on a substrate characterised by the process for the formation of the insulating layer formation by a process other than a deposition process formation by oxidation, e.g. oxidation of the substrate
- H01L21/02244—Forming insulating materials on a substrate characterised by the process for the formation of the insulating layer formation by a process other than a deposition process formation by oxidation, e.g. oxidation of the substrate of a metallic layer
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- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
- H01L21/04—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
- H01L21/18—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer the devices having semiconductor bodies comprising elements of Group IV of the Periodic Table or AIIIBV compounds with or without impurities, e.g. doping materials
- H01L21/30—Treatment of semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/26
- H01L21/31—Treatment of semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/26 to form insulating layers thereon, e.g. for masking or by using photolithographic techniques; After treatment of these layers; Selection of materials for these layers
- H01L21/314—Inorganic layers
- H01L21/316—Inorganic layers composed of oxides or glassy oxides or oxide based glass
- H01L21/3165—Inorganic layers composed of oxides or glassy oxides or oxide based glass formed by oxidation
- H01L21/31683—Inorganic layers composed of oxides or glassy oxides or oxide based glass formed by oxidation of metallic layers, e.g. Al deposited on the body, e.g. formation of multi-layer insulating structures
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- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03H—IMPEDANCE NETWORKS, e.g. RESONANT CIRCUITS; RESONATORS
- H03H3/00—Apparatus or processes specially adapted for the manufacture of impedance networks, resonating circuits, resonators
- H03H3/007—Apparatus or processes specially adapted for the manufacture of impedance networks, resonating circuits, resonators for the manufacture of electromechanical resonators or networks
- H03H3/08—Apparatus or processes specially adapted for the manufacture of impedance networks, resonating circuits, resonators for the manufacture of electromechanical resonators or networks for the manufacture of resonators or networks using surface acoustic waves
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- H—ELECTRICITY
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- H03H—IMPEDANCE NETWORKS, e.g. RESONANT CIRCUITS; RESONATORS
- H03H9/00—Networks comprising electromechanical or electro-acoustic devices; Electromechanical resonators
- H03H9/02—Details
- H03H9/0222—Details of interface-acoustic, boundary, pseudo-acoustic or Stonely wave devices
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- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
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- Y10T29/00—Metal working
- Y10T29/49—Method of mechanical manufacture
- Y10T29/49002—Electrical device making
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- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
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- Y10T29/00—Metal working
- Y10T29/49—Method of mechanical manufacture
- Y10T29/49002—Electrical device making
- Y10T29/49005—Acoustic transducer
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- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
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- Y10T29/49002—Electrical device making
- Y10T29/4902—Electromagnet, transformer or inductor
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- Y10T29/49—Method of mechanical manufacture
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- Y10T29/4902—Electromagnet, transformer or inductor
- Y10T29/4908—Acoustic transducer
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- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
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- Y10T29/00—Metal working
- Y10T29/49—Method of mechanical manufacture
- Y10T29/49002—Electrical device making
- Y10T29/49117—Conductor or circuit manufacturing
- Y10T29/49124—On flat or curved insulated base, e.g., printed circuit, etc.
- Y10T29/4913—Assembling to base an electrical component, e.g., capacitor, etc.
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- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
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Abstract
【選択図】図2g
Description
Claims (34)
- 基板(1)上の誘電体層(7)を含む電気部品の製造方法であり、
基板(1)に金属層(6)を付ける方法ステップa)と、
前記金属層(6)を酸化して誘電体層(7)を形成する方法ステップb)と、を含み、
前記金属層(6)の少なくとも一つの部分領域は、該層の厚さ全体にわたり十分に酸化されている、
電気部品の製造方法。 - 前記方法ステップa)は、比較的薄い閉じたベース金属被覆(5)を堆積する方法と、
前記ベース金属被覆(5)を厚くするための電気分解法と、
を含む請求項1に記載の電気部品の製造方法。 - 材料にAlを含む金属層(6)が付けられる、
請求項1又は2に記載の電気部品の製造方法。 - Alの比率は90%以上である、
請求項3に記載の電気部品の製造方法。 - 前記金属層(6)は前記電気分解法により少なくとも1μmの厚さまで厚くされた、
請求項2乃至4のいずれか1項に記載の電気部品の製造方法。 - 電気音響部品用に基板(1)を供給する方法ステップA)と、
前記基板(1)に、導電層(2)を付ける方法ステップB)と、
前記導電層(2)を構造形成する方法ステップC)と、
前記構造形成された導電層(2)に非導電性層(3)を付ける方法ステップD)と、
前記非導電性層(3)にベース金属被覆(5)を付ける方法ステップE)と、
電気分解法により、前記ベース金属被覆(5)を厚くして金属層(6)を生成する方法ステップF)と、
前記金属層(6)を酸化して、誘電体層(7)を生成する方法ステップG)と、
を含む、請求項1に記載の電気部品の製造方法。 - 前記方法ステップE)の前記金属層(6)に対して、Alの比率が90%以上である材料が使用される、
請求項6に記載の電気部品の製造方法。 - 前記基板(1)に対して、圧電材料が使用される、
請求項1乃至7のいずれか1項に記載の電気部品の製造方法。 - 前記非導電性層(3)の部分領域にレジスト(4)を塗布する追加の方法ステップH)を含み、
該方法ステップH)は、前記方法ステップD)とE)との間で実行される、
請求項6乃至8のいずれか1項に記載の電気部品の製造方法。 - 前記非導電性層(3)を構造形成する追加の方法ステップI)を含み、
該方法ステップI)は、前記方法ステップG)の後に実行される、
請求項6乃至9のいずれか1項に記載の電気部品の製造方法。 - 表面にレジスト(4)を塗布する追加の方法ステップJ)を含み、
該方法ステップJ)は、前記方法ステップG)の後に実行される、
請求項6乃至10のいずれか1項に記載の電気部品の製造方法。 - 前記方法ステップJ)は前記方法ステップI)の後に実行される、
請求項10又は11に記載の電気部品の製造方法。 - 表面に接触層(9)を付ける追加の方法ステップK)を含み、
該方法ステップK)は、前記方法ステップJ)の後に実行される、
請求項11又は12に記載の電気部品の製造方法。 - 前記レジスト(4)と、その上に堆積された前記接触層(9)とを除去する追加の方法ステップL)を含み、
該方法ステップL)は、前記方法ステップK)の後に実行される、
請求項13に記載の電気部品の製造方法。 - 表面に電気絶縁カバー層(10)を堆積する追加の方法ステップM)を含む、
請求項6乃至14のいずれか1項に記載の電気部品の製造方法。 - 前記非導電性層(3)を構造形成する追加の方法ステップN)を含み、
該方法ステップN)は、前記方法ステップD)とE)との間で実行される、
請求項6乃至15のいずれか1項に記載の電気部品の製造方法。 - 前記金属層(6)の部分領域にレジスト(4)を塗布する追加の方法ステップO)を含み、
該方法ステップO)は、前記方法ステップF)とG)との間で実行される、
請求項6乃至16のいずれか1項に記載の電気部品の製造方法。 - 前記金属層(6)をエッチングする追加の方法ステップP)を含み、
該方法ステップP)は、前記方法ステップO)の後に実行される、
請求項17に記載の電気部品の製造方法。 - 前記金属層(6)に酸化レジスト(11)を塗布する追加の方法ステップQ)を含み、
該方法ステップQ)は、前記方法ステップF)の後に実行される、
請求項6乃至18のいずれか1項に記載の電気部品の製造方法。 - 前記金属層(6)を選択的に酸化する追加の方法ステップR)を含み、
該方法ステップR)は、前記方法ステップQ)の後に実行される、
請求項19に記載の電気部品の製造方法。 - 前記酸化レジスト(11)を除去する方法ステップと、
レジスト(4)を塗布する方法ステップと、
表面に接触層(9)を堆積する方法ステップと、
前記レジスト(4)を、その上に堆積された前記接触層(9)とともに除去する方法ステップと、
表面に電気絶縁カバー層(10)を付ける方法ステップと、が
前記方法ステップR)の後に続く、
請求項20に記載の電気部品の製造方法。 - 前記酸化レジスト(11)を除去する方法ステップと、
前記酸化レジスト(11)の除去により露出された領域に接触層(9)を付ける方法ステップと、が
前記方法ステップR)の後に続く、
請求項20に記載の電気部品の製造方法。 - 前記電気部品は、前記接触層(9)を介して回路基板(12)に接続される、
請求項22に記載の電気部品の製造方法。 - 前記電気部品は、レジスト(11)の除去により、露出された前記接触層(9)の領域を介してもう一つの電気部品に接続される、
請求項22に記載の電気部品の製造方法。 - 前記基板(1)が前記誘電体層(7)と同じ厚さを有するように、前記基板(1)の、前記導電層(2)で覆われた表面とは反対側にある表面の一部が前記方法ステップG)の後に除去される、
請求項6乃至24のいずれか1項に記載の電気部品の製造方法。 - 請求項1乃至25のいずれか1項に記載の電気部品の製造方法に従って製造された電気音響部品。
- ガイドバルク音響波で動作する、
請求項26に記載の電気音響部品。 - 前記誘電体層(7)は、バルク波の1/2波長よりも厚い、
請求項27に記載の電気音響部品。 - 前記導電層(2)は、元素Cu、Ag、Au、Pt、Tiの内の少なくとも一つを含む、
請求項26乃至28のいずれか1項に記載の電気音響部品。 - 前記基板(1)はLiNbO3又はLiTaO3を含む、
請求項26乃至29のいずれか1項に記載の電気音響部品。 - 前記非導電性層(3)はSiO2を含む、
請求項26乃至30のいずれか1項に記載の電気音響部品。 - 前記誘電体層(7)は、Al2O3を含む領域を有する、
請求項26乃至31のいずれか1項に記載の電気音響部品。 - 前記誘電体層(7)は、金属Alを含む領域を有する、
請求項26乃至32のいずれか1項に記載の電気音響部品。 - 前記金属Al領域は、前記導電層(2)と電気的接触状態にある、
請求項33に記載の電気音響部品。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE102008016613A DE102008016613B4 (de) | 2008-04-01 | 2008-04-01 | Verfahren zur Herstellung eines elektrischen Bauelements mit mindestens einer dielektrischen Schicht und ein elektrisches Bauelement mit mindestens einer dielektrischen Schicht |
DE102008016613.8 | 2008-04-01 | ||
PCT/EP2009/053883 WO2009121906A1 (de) | 2008-04-01 | 2009-04-01 | Verfahren zur herstellung eines elektrischen bauelements mit mindestens einer dielektrischen schicht und ein elektrisches bauelement mit mindestens einer dielektrischen schicht |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2011517200A true JP2011517200A (ja) | 2011-05-26 |
JP5406274B2 JP5406274B2 (ja) | 2014-02-05 |
Family
ID=40940483
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2011502379A Expired - Fee Related JP5406274B2 (ja) | 2008-04-01 | 2009-04-01 | 少なくとも一つの誘電体層を含む電気部品の製造方法、及び少なくとも一つの誘電体層を含む電気部品 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (2) | US8756796B2 (ja) |
JP (1) | JP5406274B2 (ja) |
DE (1) | DE102008016613B4 (ja) |
WO (1) | WO2009121906A1 (ja) |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE102008016613B4 (de) | 2008-04-01 | 2010-04-15 | Epcos Ag | Verfahren zur Herstellung eines elektrischen Bauelements mit mindestens einer dielektrischen Schicht und ein elektrisches Bauelement mit mindestens einer dielektrischen Schicht |
DE102010036256B4 (de) | 2010-09-03 | 2018-09-27 | Epcos Ag | Mikroakustisches Bauelement und Herstellungsverfahren |
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- 2008-04-01 DE DE102008016613A patent/DE102008016613B4/de active Active
-
2009
- 2009-04-01 JP JP2011502379A patent/JP5406274B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 2009-04-01 WO PCT/EP2009/053883 patent/WO2009121906A1/de active Application Filing
-
2010
- 2010-08-23 US US12/861,184 patent/US8756796B2/en not_active Expired - Fee Related
-
2014
- 2014-05-29 US US14/290,705 patent/US9941858B2/en active Active
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Publication number | Publication date |
---|---|
WO2009121906A1 (de) | 2009-10-08 |
US20110037538A1 (en) | 2011-02-17 |
DE102008016613B4 (de) | 2010-04-15 |
JP5406274B2 (ja) | 2014-02-05 |
US9941858B2 (en) | 2018-04-10 |
US8756796B2 (en) | 2014-06-24 |
DE102008016613A1 (de) | 2009-10-15 |
US20140312736A1 (en) | 2014-10-23 |
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---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
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|
A977 | Report on retrieval |
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|
A131 | Notification of reasons for refusal |
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A521 | Request for written amendment filed |
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A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
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A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
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|
R250 | Receipt of annual fees |
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|
S111 | Request for change of ownership or part of ownership |
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|
R350 | Written notification of registration of transfer |
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|
R250 | Receipt of annual fees |
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