JP2011506758A5 - - Google Patents
Download PDFInfo
- Publication number
- JP2011506758A5 JP2011506758A5 JP2010526899A JP2010526899A JP2011506758A5 JP 2011506758 A5 JP2011506758 A5 JP 2011506758A5 JP 2010526899 A JP2010526899 A JP 2010526899A JP 2010526899 A JP2010526899 A JP 2010526899A JP 2011506758 A5 JP2011506758 A5 JP 2011506758A5
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- gas material
- substrate
- reactive gas
- thin film
- deposition
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 239000007789 gas Substances 0.000 claims 35
- 239000000463 material Substances 0.000 claims 31
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims 14
- 239000010409 thin film Substances 0.000 claims 6
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims 4
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims 4
- 150000002738 metalloids Chemical group 0.000 claims 4
- 125000004429 atoms Chemical group 0.000 claims 3
- 238000000427 thin-film deposition Methods 0.000 claims 3
- 238000000231 atomic layer deposition Methods 0.000 claims 2
- 229910052799 carbon Inorganic materials 0.000 claims 2
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 2
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N nitrogen Chemical group N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 2
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 claims 1
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminum Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 1
- 125000003277 amino group Chemical group 0.000 claims 1
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 claims 1
- 150000004985 diamines Chemical class 0.000 claims 1
- 150000002009 diols Chemical class 0.000 claims 1
- 150000004662 dithiols Chemical class 0.000 claims 1
- 125000000524 functional group Chemical group 0.000 claims 1
- UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N hydrogen Chemical group [H][H] UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 1
- 239000001257 hydrogen Chemical group 0.000 claims 1
- 229910052739 hydrogen Chemical group 0.000 claims 1
- 125000002887 hydroxy group Chemical group [H]O* 0.000 claims 1
- 229910052757 nitrogen Inorganic materials 0.000 claims 1
- 150000002894 organic compounds Chemical class 0.000 claims 1
- 239000001301 oxygen Chemical group 0.000 claims 1
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 claims 1
- MYMOFIZGZYHOMD-UHFFFAOYSA-N oxygen Chemical group O=O MYMOFIZGZYHOMD-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 1
- 238000010926 purge Methods 0.000 claims 1
- LOAUVZALPPNFOQ-UHFFFAOYSA-M quinaldate Chemical class C1=CC=CC2=NC(C(=O)[O-])=CC=C21 LOAUVZALPPNFOQ-UHFFFAOYSA-M 0.000 claims 1
- 239000000376 reactant Substances 0.000 claims 1
- 238000000926 separation method Methods 0.000 claims 1
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 claims 1
- 239000010703 silicon Substances 0.000 claims 1
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 1
- 125000003396 thiol group Chemical group [H]S* 0.000 claims 1
- RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N titanium Chemical compound [Ti] RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 1
- 239000010936 titanium Substances 0.000 claims 1
- 229910052719 titanium Inorganic materials 0.000 claims 1
- HCHKCACWOHOZIP-UHFFFAOYSA-N zinc Chemical compound [Zn] HCHKCACWOHOZIP-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 1
- 229910052725 zinc Inorganic materials 0.000 claims 1
- 239000011701 zinc Substances 0.000 claims 1
Claims (15)
- 原子層堆積法によって基板上に有機薄膜を形成する方法であって、実質的に平行な細長チャネルに沿って一連のガス流を同時に方向付けする工程を含み、該一連のガス流は、順番に、少なくとも第1反応ガス材料と、不活性パージガスと、第2反応ガス材料とを含み、任意選択的に複数回繰り返される、この際、該第1反応ガス材料は、該第2反応ガス材料で処理された基板表面と反応することができ、そして該第2反応ガス材料は、該第1反応ガス材料で処理された表面と反応して、薄膜を形成することができ、該第1反応ガス材料、該第2反応ガス材料、又はその両方は、揮発性有機化合物であり、
該方法は、実質的に大気圧で、又は大気圧を上回る圧力で実施され、堆積中の該基板の温度は250℃未満であり、そして該堆積された有機薄膜は少なくとも20原子量パーセントの炭素を含む、
原子層堆積法によって基板上に有機薄膜を形成する方法。 - 該第1反応ガス材料が金属原子又は半金属原子を含む、請求項1に記載の方法。
- 該第1反応ガス材料が、炭素、窒素、酸素、又は水素に結合された金属原子又は半金属原子を含む、請求項2に記載の方法。
- 該金属原子又は半金属原子は、アルミニウム、亜鉛、チタン、及びケイ素から成る群から選択される、請求項2に記載の方法。
- 該金属原子又は半金属原子が、β−ジケトネート化合物と関連づけられている、請求項2に記載の方法。
- 該第2反応ガス材料該、ヒドロキシル基、チオール基、及びアミン基から成る群から選択された1つ又は2つ以上の官能基を含む、請求項1〜5のいずれか1項に記載の方法。
- 該第2反応ガス材料が、ジオール、ジチオール、ジアミン、及びキノリネートから成る群から選択される、請求項1〜6のいずれか1項に記載の方法。
- 該有機薄膜が、無機−有機ハイブリッド薄膜である、請求項1〜7のいずれか1項に記載の方法。
- 該一連のガス流が、平面図において該基板に向いている、実質的に並行であり、該基板に近接して該基板上に配置され、堆積装置の出力面内にある、一連の開いた細長い出力開口を含む該堆積装置によって提供され、該出力面は、堆積を受ける基板表面から1mm内の間隔が開いており、任意選択的に、該第1反応ガス材料及び該第2反応ガス材料のための細長い出力開口の間に、排気チャネルがない、請求項1〜8のいずれか1項に記載の方法。
- 該方法が、
(a) それぞれ少なくとも第1ガス材料、第2ガス材料、及び第3ガス材料のための少なくとも第1源、第2源、及び第3源を含む、それぞれ複数のガス材料のための複数の源;
(b)(i)該第1ガス材料、第2ガス材料、及び第3ガス材料をそれぞれ受容するための少なくとも第1、第2、及び第3流入ポートを含む複数の流入ポート;並びに
(ii)該基板から所定の距離だけ離され、該第1ガス材料、第2ガス材料、及び第3ガス材料のそれぞれのための実質的に平行な複数の細長出力開口を含む堆積出力面
を含む、該複数のガス材料を、薄膜堆積を受ける基板に供給するための少なくとも1つの供給ヘッドを含み、供給ヘッドが、該出力面内の該細長出力開口から該第1ガス材料、第2ガス材料、及び第3ガス材料を同時に供給するように構成されている、
堆積システム内で実施される、請求項1〜9のいずれか1項に記載の方法。 - 薄膜堆積のために該供給ヘッドから基板表面へのガス材料のうちの1種又は2種以上の流れによって、薄膜堆積中に該供給ヘッドの出力面と該基板表面との間の分離を維持する力の少なくとも一部が生成され、そして該堆積装置が、少なくとも該第1反応ガス材料及び該第2反応ガス材料のための実質的に平行な細長い出力開口の間に排気チャネルをさらに含む、請求項10に記載の方法。
- 該基板又は該基板のための支持体が、可動ウェブを含む、請求項1〜11のいずれか1項に記載の方法。
- 該方法が、周囲雰囲気に対して密閉されていない関係にある、請求項1〜12のいずれか1項に記載の方法。
- 該方法が、少なくとも2つの導電性電極間に配置された絶縁層を含有する電子デバイスの前記絶縁層を形成するために用いられる、請求項1〜13のいずれか1項に記載の方法。
- 該方法が、電子デバイスをその周囲雰囲気から保護するバリア層を形成するために用いられる、請求項1〜14のいずれか1項に記載の方法。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US11/861,618 US7858144B2 (en) | 2007-09-26 | 2007-09-26 | Process for depositing organic materials |
PCT/US2008/010801 WO2009042051A2 (en) | 2007-09-26 | 2008-09-17 | Process for depositing organic materials |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2011506758A JP2011506758A (ja) | 2011-03-03 |
JP2011506758A5 true JP2011506758A5 (ja) | 2011-11-10 |
Family
ID=40377691
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2010526899A Pending JP2011506758A (ja) | 2007-09-26 | 2008-09-17 | 有機材料を堆積する方法 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7858144B2 (ja) |
EP (1) | EP2210270B1 (ja) |
JP (1) | JP2011506758A (ja) |
CN (1) | CN102027603B (ja) |
WO (1) | WO2009042051A2 (ja) |
Families Citing this family (38)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20080166880A1 (en) * | 2007-01-08 | 2008-07-10 | Levy David H | Delivery device for deposition |
US7789961B2 (en) * | 2007-01-08 | 2010-09-07 | Eastman Kodak Company | Delivery device comprising gas diffuser for thin film deposition |
US11136667B2 (en) * | 2007-01-08 | 2021-10-05 | Eastman Kodak Company | Deposition system and method using a delivery head separated from a substrate by gas pressure |
US8398770B2 (en) * | 2007-09-26 | 2013-03-19 | Eastman Kodak Company | Deposition system for thin film formation |
US8211231B2 (en) * | 2007-09-26 | 2012-07-03 | Eastman Kodak Company | Delivery device for deposition |
WO2010051341A1 (en) * | 2008-10-31 | 2010-05-06 | Sundew Technologies, Llc | Coatings for suppressing metallic whiskers |
EP3483919A1 (en) | 2008-12-04 | 2019-05-15 | Veeco Instruments Inc. | Chemical vapor deposition flow inlet elements and methods |
WO2010135107A1 (en) * | 2009-05-11 | 2010-11-25 | Regents Of The University Of Colorado, A Body Corporate | Ultra-thin metal oxide and carbon-metal oxide films prepared by atomic layer deposition (ald) |
JP5096437B2 (ja) * | 2009-09-28 | 2012-12-12 | 株式会社ジャパンディスプレイイースト | 有機el表示装置 |
US9176377B2 (en) | 2010-06-01 | 2015-11-03 | Inpria Corporation | Patterned inorganic layers, radiation based patterning compositions and corresponding methods |
FI20105908A0 (fi) * | 2010-08-30 | 2010-08-30 | Beneq Oy | Laite |
JP5966618B2 (ja) * | 2012-05-28 | 2016-08-10 | 東京エレクトロン株式会社 | 成膜方法 |
KR101435100B1 (ko) * | 2012-06-20 | 2014-08-29 | 주식회사 엠티에스나노테크 | 원자층 증착 장치 |
DE102012214411B4 (de) | 2012-08-14 | 2022-05-25 | Osram Oled Gmbh | Vorrichtung und verfahren zum herstellen hermetisch dichter kavitäten |
US20140206137A1 (en) * | 2013-01-23 | 2014-07-24 | David H. Levy | Deposition system for thin film formation |
TW201435132A (zh) * | 2013-02-22 | 2014-09-16 | Applied Materials Inc | 包含SiOC的膜的催化性原子層沉積 |
KR102075528B1 (ko) * | 2013-05-16 | 2020-03-03 | 삼성디스플레이 주식회사 | 증착장치, 유기발광 디스플레이 장치 제조방법 및 유기발광 디스플레이 장치 |
US20160081945A1 (en) | 2013-05-24 | 2016-03-24 | Nanexa Ab | A solid nanoparticle with inorganic coating |
US9310684B2 (en) | 2013-08-22 | 2016-04-12 | Inpria Corporation | Organometallic solution based high resolution patterning compositions |
CN105745353B (zh) | 2013-08-30 | 2019-07-05 | 汉阳大学校产学协力团 | 有机/无机杂化薄膜及其制备方法 |
CN103510074A (zh) * | 2013-10-25 | 2014-01-15 | 南京大学 | 基于ald技术的复合无机-有机杂化物薄膜的制备方法 |
WO2015146999A1 (ja) * | 2014-03-25 | 2015-10-01 | 住友金属鉱山株式会社 | 被覆はんだ材料およびその製造方法 |
CN106414799A (zh) * | 2014-06-12 | 2017-02-15 | 巴斯夫涂料有限公司 | 用于制造可挠性有机‑无机层合物的方法 |
CN106460171B (zh) * | 2014-06-13 | 2020-10-16 | 巴斯夫涂料有限公司 | 生产有机-无机层合物的方法 |
GB201412201D0 (en) | 2014-07-09 | 2014-08-20 | Isis Innovation | Two-step deposition process |
JP6420706B2 (ja) * | 2015-04-07 | 2018-11-07 | 信越化学工業株式会社 | 太陽電池用パッシベーション膜形成方法及び太陽電池用パッシベーション膜形成装置 |
KR20210048607A (ko) * | 2015-06-01 | 2021-05-03 | 뉴매티코트 테크놀로지스 엘엘씨 | 애노드 활성 물질, 캐소드 활성 물질, 및 고체-상태 전해질에 대한 나노-엔지니어링된 코팅 및 나노-엔지니어링된 코팅을 함유하는 배터리의 제조 방법 |
KR102420015B1 (ko) * | 2015-08-28 | 2022-07-12 | 삼성전자주식회사 | Cs-ald 장치의 샤워헤드 |
US10865477B2 (en) * | 2016-02-08 | 2020-12-15 | Illinois Tool Works Inc. | Method and system for the localized deposit of metal on a surface |
CN106086812B (zh) * | 2016-07-20 | 2018-08-03 | 南京航空航天大学 | 一种金属表面防腐蚀耐磨损的复合涂层及其制备方法 |
US10400332B2 (en) * | 2017-03-14 | 2019-09-03 | Eastman Kodak Company | Deposition system with interlocking deposition heads |
US12006570B2 (en) * | 2017-08-31 | 2024-06-11 | Uchicago Argonne, Llc | Atomic layer deposition for continuous, high-speed thin films |
CN108448006B (zh) * | 2018-03-29 | 2021-01-22 | 京东方科技集团股份有限公司 | 封装结构、电子装置以及封装方法 |
US10673046B2 (en) * | 2018-04-13 | 2020-06-02 | GM Global Technology Operations LLC | Separator for lithium metal based batteries |
GB2585077A (en) | 2019-06-28 | 2020-12-30 | Nanexa Ab | Apparatus |
WO2021059332A1 (ja) * | 2019-09-24 | 2021-04-01 | 株式会社Kokusai Electric | 基板処理装置、半導体装置の製造方法およびプログラム |
US20220359332A1 (en) * | 2021-05-09 | 2022-11-10 | Spts Technologies Limited | Temporary passivation layer on a substrate |
CN115821229A (zh) * | 2022-11-25 | 2023-03-21 | 江苏微导纳米科技股份有限公司 | 一种用于沉积薄膜的方法和设备以及薄膜 |
Family Cites Families (24)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
FI57975C (fi) | 1979-02-28 | 1980-11-10 | Lohja Ab Oy | Foerfarande och anordning vid uppbyggande av tunna foereningshinnor |
US6337102B1 (en) * | 1997-11-17 | 2002-01-08 | The Trustees Of Princeton University | Low pressure vapor phase deposition of organic thin films |
US6783849B2 (en) | 1998-03-27 | 2004-08-31 | Yissum Research Development Company Of The Hebrew University Of Jerusalem | Molecular layer epitaxy method and compositions |
US6316098B1 (en) * | 1998-03-27 | 2001-11-13 | Yissum Research Development Company Of The Hebrew University Of Jerusalem | Molecular layer epitaxy method and compositions |
US7476420B2 (en) * | 2000-10-23 | 2009-01-13 | Asm International N.V. | Process for producing metal oxide films at low temperatures |
TW548239B (en) * | 2000-10-23 | 2003-08-21 | Asm Microchemistry Oy | Process for producing aluminium oxide films at low temperatures |
KR20030057133A (ko) * | 2001-12-28 | 2003-07-04 | 삼성전자주식회사 | 금속 패턴 형성용 유기금속 전구체 및 이를 이용한 금속패턴 형성방법 |
US7067439B2 (en) * | 2002-06-14 | 2006-06-27 | Applied Materials, Inc. | ALD metal oxide deposition process using direct oxidation |
US20050084610A1 (en) | 2002-08-13 | 2005-04-21 | Selitser Simon I. | Atmospheric pressure molecular layer CVD |
US6821563B2 (en) | 2002-10-02 | 2004-11-23 | Applied Materials, Inc. | Gas distribution system for cyclical layer deposition |
JP4108633B2 (ja) | 2003-06-20 | 2008-06-25 | シャープ株式会社 | 薄膜トランジスタおよびその製造方法ならびに電子デバイス |
JP2005089781A (ja) * | 2003-09-12 | 2005-04-07 | Mitsui Eng & Shipbuild Co Ltd | 薄膜形成装置 |
JP2007531236A (ja) | 2004-05-18 | 2007-11-01 | メカロニクス カンパニー リミテッド | 有機発光層形成方法 |
JP4363365B2 (ja) * | 2004-07-20 | 2009-11-11 | 株式会社デンソー | カラー有機elディスプレイおよびその製造方法 |
NO20045674D0 (no) * | 2004-12-28 | 2004-12-28 | Uni I Oslo | Thin films prepared with gas phase deposition technique |
CN1937175B (zh) * | 2005-09-20 | 2012-10-03 | 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 | 用于半导体器件的使用大气压的材料原子层沉积的方法 |
US20070077349A1 (en) * | 2005-09-30 | 2007-04-05 | Eastman Kodak Company | Patterning OLED device electrodes and optical material |
US7754906B2 (en) * | 2005-10-07 | 2010-07-13 | Air Products And Chemicals, Inc. | Ti, Ta, Hf, Zr and related metal silicon amides for ALD/CVD of metal-silicon nitrides, oxides or oxynitrides |
TWI421366B (zh) * | 2006-03-10 | 2014-01-01 | Advanced Tech Materials | 鈦酸鹽、鑭酸鹽及鉭酸鹽電介質薄膜之原子層沉積及化學氣相沉積用之前驅體組成物 |
US7456429B2 (en) * | 2006-03-29 | 2008-11-25 | Eastman Kodak Company | Apparatus for atomic layer deposition |
US20080100202A1 (en) * | 2006-11-01 | 2008-05-01 | Cok Ronald S | Process for forming oled conductive protective layer |
US7722422B2 (en) * | 2007-05-21 | 2010-05-25 | Global Oled Technology Llc | Device and method for improved power distribution for a transparent electrode |
US7572686B2 (en) * | 2007-09-26 | 2009-08-11 | Eastman Kodak Company | System for thin film deposition utilizing compensating forces |
US8133555B2 (en) * | 2008-10-14 | 2012-03-13 | Asm Japan K.K. | Method for forming metal film by ALD using beta-diketone metal complex |
-
2007
- 2007-09-26 US US11/861,618 patent/US7858144B2/en not_active Expired - Fee Related
-
2008
- 2008-09-17 WO PCT/US2008/010801 patent/WO2009042051A2/en active Application Filing
- 2008-09-17 JP JP2010526899A patent/JP2011506758A/ja active Pending
- 2008-09-17 EP EP08833728.2A patent/EP2210270B1/en not_active Not-in-force
- 2008-09-17 CN CN2008801088120A patent/CN102027603B/zh not_active Expired - Fee Related
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP2011506758A5 (ja) | ||
JP2010541159A5 (ja) | ||
JP5177617B2 (ja) | 酸化シリコン薄膜形成装置 | |
JP2010517292A5 (ja) | ||
WO2009042051A3 (en) | Process for depositing organic materials | |
JP4564570B2 (ja) | 原子層堆積装置 | |
Nam et al. | A composite layer of atomic-layer-deposited Al2O3 and graphene for flexible moisture barrier | |
JP2010515821A5 (ja) | ||
JP2010541237A5 (ja) | ||
TW200837207A (en) | Deposition apparatus, control apparatus of deposition apparatus, control method of deposition apparatus, an using method of deposition apparatus and outlet manufacturing method | |
JP2010540774A5 (ja) | ||
US20160225991A1 (en) | Amine precursors for depositing graphene | |
WO2009042052A3 (en) | Process for forming thin film encapsulation layers | |
KR20110084110A (ko) | 기체 및 수분 차단용 그래핀 보호막, 이의 형성 방법 및 그의 용도 | |
FI20105901L (fi) | Laitteisto ja menetelmä substraatin pinnan muokkaamiseksi | |
JP2010540773A5 (ja) | ||
WO2010054075A3 (en) | Plasma and thermal anneal treatment to improve oxidation resistance of metal-containing films | |
WO2007048963A3 (fr) | Procede de traitement d'un substrat | |
TNSN07064A1 (en) | Atmospheric pressure chemical vapor deposition | |
JP6342776B2 (ja) | 積層体の製造方法 | |
JP2005524235A5 (ja) | ||
Miyata et al. | Fabrication and characterization of graphene/hexagonal boron nitride hybrid sheets | |
Sagade et al. | Graphene-based nanolaminates as ultra-high permeation barriers | |
JP2005089781A (ja) | 薄膜形成装置 | |
ATE511555T1 (de) | Atomlagenabscheidungsverfahren zur bildung von siliciumdioxid enthaltenden schichten |