JP2011506758A5 - - Google Patents

Download PDF

Info

Publication number
JP2011506758A5
JP2011506758A5 JP2010526899A JP2010526899A JP2011506758A5 JP 2011506758 A5 JP2011506758 A5 JP 2011506758A5 JP 2010526899 A JP2010526899 A JP 2010526899A JP 2010526899 A JP2010526899 A JP 2010526899A JP 2011506758 A5 JP2011506758 A5 JP 2011506758A5
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
gas material
substrate
reactive gas
thin film
deposition
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2010526899A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2011506758A (ja
Filing date
Publication date
Priority claimed from US11/861,618 external-priority patent/US7858144B2/en
Application filed filed Critical
Publication of JP2011506758A publication Critical patent/JP2011506758A/ja
Publication of JP2011506758A5 publication Critical patent/JP2011506758A5/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Claims (15)

  1. 原子層堆積法によって基板上に有機薄膜を形成する方法であって、実質的に平行な細長チャネルに沿って一連のガス流を同時に方向付けする工程を含み、該一連のガス流は、順番に、少なくとも第1反応ガス材料と、不活性パージガスと、第2反応ガス材料とを含み、任意選択的に複数回繰り返される、この際、該第1反応ガス材料は、該第2反応ガス材料で処理された基板表面と反応することができ、そして該第2反応ガス材料は、該第1反応ガス材料で処理された表面と反応して、薄膜を形成することができ、該第1反応ガス材料、該第2反応ガス材料、又はその両方は、揮発性有機化合物であり、
    該方法は、実質的に大気圧で、又は大気圧を上回る圧力で実施され、堆積中の該基板の温度は250℃未満であり、そして該堆積された有機薄膜は少なくとも20原子量パーセントの炭素を含む、
    原子層堆積法によって基板上に有機薄膜を形成する方法。
  2. 該第1反応ガス材料が金属原子又は半金属原子を含む、請求項1に記載の方法。
  3. 該第1反応ガス材料が、炭素、窒素、酸素、又は水素に結合された金属原子又は半金属原子を含む、請求項2に記載の方法。
  4. 該金属原子又は半金属原子は、アルミニウム、亜鉛、チタン、及びケイ素から成る群から選択される、請求項2に記載の方法。
  5. 該金属原子又は半金属原子が、β−ジケトネート化合物と関連づけられている、請求項2に記載の方法。
  6. 該第2反応ガス材料該、ヒドロキシル基、チオール基、及びアミン基から成る群から選択された1つ又は2つ以上の官能基を含む、請求項1〜5のいずれか1項に記載の方法。
  7. 該第2反応ガス材料が、ジオール、ジチオール、ジアミン、及びキノリネートから成る群から選択される、請求項1〜6のいずれか1項に記載の方法。
  8. 該有機薄膜が、無機−有機ハイブリッド薄膜である、請求項1〜7のいずれか1項に記載の方法。
  9. 該一連のガス流が、平面図において該基板に向いている、実質的に並行であり、該基板に近接して該基板上に配置され、堆積装置の出力面内にある、一連の開いた細長い出力開口を含む該堆積装置によって提供され、該出力面は、堆積を受ける基板表面から1mm内の間隔が開いており、任意選択的に、該第1反応ガス材料及び該第2反応ガス材料のための細長い出力開口の間に、排気チャネルがない、請求項1〜8のいずれか1項に記載の方法。
  10. 該方法が、
    (a) それぞれ少なくとも第1ガス材料、第2ガス材料、及び第3ガス材料のための少なくとも第1源、第2源、及び第3源を含む、それぞれ複数のガス材料のための複数の源;
    (b)(i)該第1ガス材料、第2ガス材料、及び第3ガス材料をそれぞれ受容するための少なくとも第1、第2、及び第3流入ポートを含む複数の流入ポート;並びに
    (ii)該基板から所定の距離だけ離され、該第1ガス材料、第2ガス材料、及び第3ガス材料のそれぞれのための実質的に平行な複数の細長出力開口を含む堆積出力面
    を含む、該複数のガス材料を、薄膜堆積を受ける基板に供給するための少なくとも1つの供給ヘッドを含み、供給ヘッドが、該出力面内の該細長出力開口から該第1ガス材料、第2ガス材料、及び第3ガス材料を同時に供給するように構成されている、
    堆積システム内で実施される、請求項1〜9のいずれか1項に記載の方法。
  11. 薄膜堆積のために該供給ヘッドから基板表面へのガス材料のうちの1種又は2種以上の流れによって、薄膜堆積中に該供給ヘッドの出力面と該基板表面との間の分離を維持する力の少なくとも一部が生成され、そして該堆積装置が、少なくとも該第1反応ガス材料及び該第2反応ガス材料のための実質的に平行な細長い出力開口の間に排気チャネルをさらに含む、請求項10に記載の方法。
  12. 該基板又は該基板のための支持体が、可動ウェブを含む、請求項1〜11のいずれか1項に記載の方法。
  13. 該方法が、周囲雰囲気に対して密閉されていない関係にある、請求項1〜12のいずれか1項に記載の方法。
  14. 該方法が、少なくとも2つの導電性電極間に配置された絶縁層を含有する電子デバイスの前記絶縁層を形成するために用いられる、請求項1〜13のいずれか1項に記載の方法。
  15. 該方法が、電子デバイスをその周囲雰囲気から保護するバリア層を形成するために用いられる、請求項1〜14のいずれか1項に記載の方法。
JP2010526899A 2007-09-26 2008-09-17 有機材料を堆積する方法 Pending JP2011506758A (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US11/861,618 US7858144B2 (en) 2007-09-26 2007-09-26 Process for depositing organic materials
PCT/US2008/010801 WO2009042051A2 (en) 2007-09-26 2008-09-17 Process for depositing organic materials

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2011506758A JP2011506758A (ja) 2011-03-03
JP2011506758A5 true JP2011506758A5 (ja) 2011-11-10

Family

ID=40377691

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2010526899A Pending JP2011506758A (ja) 2007-09-26 2008-09-17 有機材料を堆積する方法

Country Status (5)

Country Link
US (1) US7858144B2 (ja)
EP (1) EP2210270B1 (ja)
JP (1) JP2011506758A (ja)
CN (1) CN102027603B (ja)
WO (1) WO2009042051A2 (ja)

Families Citing this family (38)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20080166880A1 (en) * 2007-01-08 2008-07-10 Levy David H Delivery device for deposition
US7789961B2 (en) * 2007-01-08 2010-09-07 Eastman Kodak Company Delivery device comprising gas diffuser for thin film deposition
US11136667B2 (en) * 2007-01-08 2021-10-05 Eastman Kodak Company Deposition system and method using a delivery head separated from a substrate by gas pressure
US8398770B2 (en) * 2007-09-26 2013-03-19 Eastman Kodak Company Deposition system for thin film formation
US8211231B2 (en) * 2007-09-26 2012-07-03 Eastman Kodak Company Delivery device for deposition
WO2010051341A1 (en) * 2008-10-31 2010-05-06 Sundew Technologies, Llc Coatings for suppressing metallic whiskers
EP3483919A1 (en) 2008-12-04 2019-05-15 Veeco Instruments Inc. Chemical vapor deposition flow inlet elements and methods
WO2010135107A1 (en) * 2009-05-11 2010-11-25 Regents Of The University Of Colorado, A Body Corporate Ultra-thin metal oxide and carbon-metal oxide films prepared by atomic layer deposition (ald)
JP5096437B2 (ja) * 2009-09-28 2012-12-12 株式会社ジャパンディスプレイイースト 有機el表示装置
US9176377B2 (en) 2010-06-01 2015-11-03 Inpria Corporation Patterned inorganic layers, radiation based patterning compositions and corresponding methods
FI20105908A0 (fi) * 2010-08-30 2010-08-30 Beneq Oy Laite
JP5966618B2 (ja) * 2012-05-28 2016-08-10 東京エレクトロン株式会社 成膜方法
KR101435100B1 (ko) * 2012-06-20 2014-08-29 주식회사 엠티에스나노테크 원자층 증착 장치
DE102012214411B4 (de) 2012-08-14 2022-05-25 Osram Oled Gmbh Vorrichtung und verfahren zum herstellen hermetisch dichter kavitäten
US20140206137A1 (en) * 2013-01-23 2014-07-24 David H. Levy Deposition system for thin film formation
TW201435132A (zh) * 2013-02-22 2014-09-16 Applied Materials Inc 包含SiOC的膜的催化性原子層沉積
KR102075528B1 (ko) * 2013-05-16 2020-03-03 삼성디스플레이 주식회사 증착장치, 유기발광 디스플레이 장치 제조방법 및 유기발광 디스플레이 장치
US20160081945A1 (en) 2013-05-24 2016-03-24 Nanexa Ab A solid nanoparticle with inorganic coating
US9310684B2 (en) 2013-08-22 2016-04-12 Inpria Corporation Organometallic solution based high resolution patterning compositions
CN105745353B (zh) 2013-08-30 2019-07-05 汉阳大学校产学协力团 有机/无机杂化薄膜及其制备方法
CN103510074A (zh) * 2013-10-25 2014-01-15 南京大学 基于ald技术的复合无机-有机杂化物薄膜的制备方法
WO2015146999A1 (ja) * 2014-03-25 2015-10-01 住友金属鉱山株式会社 被覆はんだ材料およびその製造方法
CN106414799A (zh) * 2014-06-12 2017-02-15 巴斯夫涂料有限公司 用于制造可挠性有机‑无机层合物的方法
CN106460171B (zh) * 2014-06-13 2020-10-16 巴斯夫涂料有限公司 生产有机-无机层合物的方法
GB201412201D0 (en) 2014-07-09 2014-08-20 Isis Innovation Two-step deposition process
JP6420706B2 (ja) * 2015-04-07 2018-11-07 信越化学工業株式会社 太陽電池用パッシベーション膜形成方法及び太陽電池用パッシベーション膜形成装置
KR20210048607A (ko) * 2015-06-01 2021-05-03 뉴매티코트 테크놀로지스 엘엘씨 애노드 활성 물질, 캐소드 활성 물질, 및 고체-상태 전해질에 대한 나노-엔지니어링된 코팅 및 나노-엔지니어링된 코팅을 함유하는 배터리의 제조 방법
KR102420015B1 (ko) * 2015-08-28 2022-07-12 삼성전자주식회사 Cs-ald 장치의 샤워헤드
US10865477B2 (en) * 2016-02-08 2020-12-15 Illinois Tool Works Inc. Method and system for the localized deposit of metal on a surface
CN106086812B (zh) * 2016-07-20 2018-08-03 南京航空航天大学 一种金属表面防腐蚀耐磨损的复合涂层及其制备方法
US10400332B2 (en) * 2017-03-14 2019-09-03 Eastman Kodak Company Deposition system with interlocking deposition heads
US12006570B2 (en) * 2017-08-31 2024-06-11 Uchicago Argonne, Llc Atomic layer deposition for continuous, high-speed thin films
CN108448006B (zh) * 2018-03-29 2021-01-22 京东方科技集团股份有限公司 封装结构、电子装置以及封装方法
US10673046B2 (en) * 2018-04-13 2020-06-02 GM Global Technology Operations LLC Separator for lithium metal based batteries
GB2585077A (en) 2019-06-28 2020-12-30 Nanexa Ab Apparatus
WO2021059332A1 (ja) * 2019-09-24 2021-04-01 株式会社Kokusai Electric 基板処理装置、半導体装置の製造方法およびプログラム
US20220359332A1 (en) * 2021-05-09 2022-11-10 Spts Technologies Limited Temporary passivation layer on a substrate
CN115821229A (zh) * 2022-11-25 2023-03-21 江苏微导纳米科技股份有限公司 一种用于沉积薄膜的方法和设备以及薄膜

Family Cites Families (24)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FI57975C (fi) 1979-02-28 1980-11-10 Lohja Ab Oy Foerfarande och anordning vid uppbyggande av tunna foereningshinnor
US6337102B1 (en) * 1997-11-17 2002-01-08 The Trustees Of Princeton University Low pressure vapor phase deposition of organic thin films
US6783849B2 (en) 1998-03-27 2004-08-31 Yissum Research Development Company Of The Hebrew University Of Jerusalem Molecular layer epitaxy method and compositions
US6316098B1 (en) * 1998-03-27 2001-11-13 Yissum Research Development Company Of The Hebrew University Of Jerusalem Molecular layer epitaxy method and compositions
US7476420B2 (en) * 2000-10-23 2009-01-13 Asm International N.V. Process for producing metal oxide films at low temperatures
TW548239B (en) * 2000-10-23 2003-08-21 Asm Microchemistry Oy Process for producing aluminium oxide films at low temperatures
KR20030057133A (ko) * 2001-12-28 2003-07-04 삼성전자주식회사 금속 패턴 형성용 유기금속 전구체 및 이를 이용한 금속패턴 형성방법
US7067439B2 (en) * 2002-06-14 2006-06-27 Applied Materials, Inc. ALD metal oxide deposition process using direct oxidation
US20050084610A1 (en) 2002-08-13 2005-04-21 Selitser Simon I. Atmospheric pressure molecular layer CVD
US6821563B2 (en) 2002-10-02 2004-11-23 Applied Materials, Inc. Gas distribution system for cyclical layer deposition
JP4108633B2 (ja) 2003-06-20 2008-06-25 シャープ株式会社 薄膜トランジスタおよびその製造方法ならびに電子デバイス
JP2005089781A (ja) * 2003-09-12 2005-04-07 Mitsui Eng & Shipbuild Co Ltd 薄膜形成装置
JP2007531236A (ja) 2004-05-18 2007-11-01 メカロニクス カンパニー リミテッド 有機発光層形成方法
JP4363365B2 (ja) * 2004-07-20 2009-11-11 株式会社デンソー カラー有機elディスプレイおよびその製造方法
NO20045674D0 (no) * 2004-12-28 2004-12-28 Uni I Oslo Thin films prepared with gas phase deposition technique
CN1937175B (zh) * 2005-09-20 2012-10-03 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 用于半导体器件的使用大气压的材料原子层沉积的方法
US20070077349A1 (en) * 2005-09-30 2007-04-05 Eastman Kodak Company Patterning OLED device electrodes and optical material
US7754906B2 (en) * 2005-10-07 2010-07-13 Air Products And Chemicals, Inc. Ti, Ta, Hf, Zr and related metal silicon amides for ALD/CVD of metal-silicon nitrides, oxides or oxynitrides
TWI421366B (zh) * 2006-03-10 2014-01-01 Advanced Tech Materials 鈦酸鹽、鑭酸鹽及鉭酸鹽電介質薄膜之原子層沉積及化學氣相沉積用之前驅體組成物
US7456429B2 (en) * 2006-03-29 2008-11-25 Eastman Kodak Company Apparatus for atomic layer deposition
US20080100202A1 (en) * 2006-11-01 2008-05-01 Cok Ronald S Process for forming oled conductive protective layer
US7722422B2 (en) * 2007-05-21 2010-05-25 Global Oled Technology Llc Device and method for improved power distribution for a transparent electrode
US7572686B2 (en) * 2007-09-26 2009-08-11 Eastman Kodak Company System for thin film deposition utilizing compensating forces
US8133555B2 (en) * 2008-10-14 2012-03-13 Asm Japan K.K. Method for forming metal film by ALD using beta-diketone metal complex

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2011506758A5 (ja)
JP2010541159A5 (ja)
JP5177617B2 (ja) 酸化シリコン薄膜形成装置
JP2010517292A5 (ja)
WO2009042051A3 (en) Process for depositing organic materials
JP4564570B2 (ja) 原子層堆積装置
Nam et al. A composite layer of atomic-layer-deposited Al2O3 and graphene for flexible moisture barrier
JP2010515821A5 (ja)
JP2010541237A5 (ja)
TW200837207A (en) Deposition apparatus, control apparatus of deposition apparatus, control method of deposition apparatus, an using method of deposition apparatus and outlet manufacturing method
JP2010540774A5 (ja)
US20160225991A1 (en) Amine precursors for depositing graphene
WO2009042052A3 (en) Process for forming thin film encapsulation layers
KR20110084110A (ko) 기체 및 수분 차단용 그래핀 보호막, 이의 형성 방법 및 그의 용도
FI20105901L (fi) Laitteisto ja menetelmä substraatin pinnan muokkaamiseksi
JP2010540773A5 (ja)
WO2010054075A3 (en) Plasma and thermal anneal treatment to improve oxidation resistance of metal-containing films
WO2007048963A3 (fr) Procede de traitement d'un substrat
TNSN07064A1 (en) Atmospheric pressure chemical vapor deposition
JP6342776B2 (ja) 積層体の製造方法
JP2005524235A5 (ja)
Miyata et al. Fabrication and characterization of graphene/hexagonal boron nitride hybrid sheets
Sagade et al. Graphene-based nanolaminates as ultra-high permeation barriers
JP2005089781A (ja) 薄膜形成装置
ATE511555T1 (de) Atomlagenabscheidungsverfahren zur bildung von siliciumdioxid enthaltenden schichten