JP2011249862A - ノイズ抑制伝送路及びそれに用いられるシート状構造体 - Google Patents

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Abstract

【課題】LSIなどの多数の配線のノイズを一括して抑制することができ、小型且つ薄型のノイズ抑制伝送路及びそれに用いられるシート状構造体を提供すること。
【解決手段】本発明のノイズ抑制伝送路は、少なくとも信号導体を備える配線層と、誘電体層と、シート状構造体とを備えている。シート状構造体は、所定パターンを有する単位形状を繰り返し並べてなる導電体層を備えており、誘電体層は、配線層と導電体層との間に設けられている。なお、配線層のグランド線と導電体層の一部とを接続することとしてもよい。以上の構成により、信号導体を流れるノイズを低減することを可能とした。
【選択図】図2

Description

本発明は、信号導体中における特定周波数の伝導ノイズを除去するノイズ抑制機能を備えたノイズ抑制伝送路、及びそれに用いられるシート状構造体に関する。
従来から、機器内部から外部へと放射される電磁ノイズ、即ち当該機器と外部の電子機器との間に生じる電磁干渉を防止する様々な対策が提案されていた。
一方、電子機器の高周波化・小型化・多機能化の進展に伴い、機器内部における電子部品間あるいは電子回路間の電磁干渉対策についても既に必要不可欠な状況となっている。このような問題の対策部品としては、磁性金属粉末がポリマー中に分散された構造をもつノイズ抑制シート、インピーダンス素子、あるいは信号の高次高調波成分を減衰させるためのオープンスタブを備えたことを特徴とする積層誘電体フィルター(特許文献1参照)のような電磁ノイズ対策部品が提案されている。
かかる状況において、近年、デバイス・材料としてEBG構造体が着目されている。EBG構造体とは、所定の等価回路で表現できる単位構造を周期的に連結してなる構造体である。EBG構造体の特徴の一つとして、EBG構造体に形成された導電体層を通過する信号のうち、所定の周波数帯域に属する信号・ノイズの透過を阻止するというものがある。これは、概略、ある周波数に対してエバネッセント場を構成するような単位構造を周期的に配置することにより、入射された信号・ノイズがエバネッセント場において反射された信号・ノイズにより打ち消されてしまうといったメカニズムを利用するものである。これに関する提案としては、例えば、特開2008−131509(特許文献2)に開示されるものが挙げられる。
特開平10−178302号公報 特開2008−131509号公報
しかしながら、特許文献1に記載されているようなノイズ対策部品を用いたとしても、部品実装と配線の高密度化等によりノイズ対策部品を実装するためのスペースを確保することが困難である点や、機器内部における電磁環境の複雑化によりノイズ除去効果が不十分である点が問題点として発生してきている。また、特許文献2に記載されているようなEBG構造体は導電体層が2層存在するため、製造工程が複雑になる可能性がある。
特に、機器内部の部品の中でもLSIはノイズの大きな発生源であり、LSI内部のスイッチング素子などからはノイズが発生する。そして、LSIからは非常に多くの配線がでておりこれらの配線にノイズが流れてしまうと他の内部部品等に与える影響は極めて大きいものとなるが、従来はこれらの配線のノイズを一括して抑制する方法がなかった。
そこで、本発明は、LSIなどの多数の配線のノイズを一括して抑制することができる新たな構造として、小型且つ薄型のノイズ抑制伝送路及びそれに用いられるシート状構造体を提供する。
従来のEBG構造体において、幾何学的構造に工夫を凝らして特性を低周波数側にシフトさせようとする場合、インダクタンス成分又はキャパシタンス成分を増やすためにEBG構造体の導電体層を複数の層にしたり、スルーホールを用いて該複数の層を電気的に接続したりすることによる幾何学的構造の変更のみに依拠するものについて多く提案されていた。
これに対して、本発明の発明者らは、誘電体層上に一層のみの導電体層を備える小型化に適したシート状構造体を見出し、当該シート状構造体とノイズ除去の対象となっている信号線とを組合せることにより、上述したEBG構造体と同様な効果を得ることを見出した。本発明はかかる知見に基づくものである。
即ち、本発明によれば、第1のノイズ抑制伝送路として、少なくとも信号導体を備える配線層と、誘電体層と、シート状構造体とを備えるノイズ抑制伝送路であって、前記シート状構造体は、単位形状を繰り返し並べてなる導電体層を備えており、前記誘電体層は、前記配線層と前記導電体層との間に設けられているノイズ抑制伝送路が得られる。
また、本発明によれば、第2のノイズ抑制伝送路として、第1のノイズ抑制伝送路であって、前記配線層は、グランド導体を更に備えており、前記グランド導体は、前記導電体層と電気的に接続されているノイズ抑制伝送路が得られる。
また、本発明によれば、第3のノイズ抑制伝送路として、第2のノイズ抑制伝送路であって、前記グランド導体は、前記導電体層とビアにより接続されているノイズ抑制伝送路が得られる。
また、本発明によれば、第4のノイズ抑制伝送路として、第2又は第3のいずれかに記載のノイズ抑制伝送路であって、前記シート状構造体は、前記導電体層上に設けられた磁性体を備えているノイズ抑制伝送路が得られる。
また、本発明によれば、第5のノイズ抑制伝送路として、第4のノイズ抑制伝送路であって、前記磁性体は、前記導電体層上に形成された磁性体被膜であるノイズ抑制伝送路が得られる。
また、本発明によれば、第6のノイズ抑制伝送路として、第4又は第5のノイズ抑制伝送路であって、前記磁性体は、フェライトからなるノイズ抑制伝送路が得られる。
また、本発明によれば、第7のノイズ抑制伝送路として、第6のノイズ抑制伝送路であって、前記磁性体は、フェライトめっき膜であるノイズ抑制伝送路が得られる。
また、本発明によれば、第8のノイズ抑制伝送路として、第2乃至第7のいずれかのノイズ抑制伝送路であって、前記単位形状は、四角形形状を有しており、且つ、当該四角形の4辺に沿って設けられている枠形状のグランド電極と、前記グランド電極の内側の領域に配置され四角形形状を有するパッチ電極と、前記グランド電極とパッチ電極とを接続するインダクタラインとで構成されており、前記グランド導体は、前記グランド電極と電気的に接続されているノイズ抑制伝送路が得られる。
また、本発明によれば、第9のノイズ抑制伝送路として、第2乃至第7のいずれかに記載のノイズ抑制伝送路であって、前記単位形状は、六角形形状を有しており、且つ、当該六角形の6辺に沿って設けられている枠形状のグランド電極と、前記グランド電極の内側の領域に配置され六角形形状を有するパッチ電極と、前記グランド電極とパッチ電極とを接続するインダクタラインとで構成されており、前記グランド導体は、前記グランド電極と電気的に接続されているノイズ抑制伝送路が得られる。
また、本発明によれば、第10のノイズ抑制伝送路として、第1のノイズ抑制伝送路であって、前記シート状構造体は、前記導電体層上に設けられた磁性体を備えているノイズ抑制伝送路が得られる。
また、本発明によれば、第11のノイズ抑制伝送路として、第1又は第2のいずれかに記載のノイズ抑制伝送路であって、前記単位形状は、四角形形状を有しており、且つ、当該四角形の4辺に沿って設けられている枠形状のグランド電極と、前記グランド電極の内側の領域に配置され四角形形状を有するパッチ電極と、前記グランド電極とパッチ電極とを接続するインダクタラインとで構成されている、ノイズ抑制伝送路が得られる。
また、本発明によれば、第12のノイズ抑制伝送路として、第1又は第2のいずれかに記載のノイズ抑制伝送路であって、前記単位形状は、六角形形状を有しており、且つ、当該六角形の6辺に沿って設けられている枠形状のグランド電極と、前記グランド電極の内側の領域に配置され六角形形状を有するパッチ電極と、前記グランド電極とパッチ電極とを接続するインダクタラインとで構成されている、ノイズ抑制伝送路が得られる。
また、本発明によれば、第13のノイズ抑制伝送路として、第11又は第12に記載のノイズ抑制伝送路であって、前記グランド導体は、前記グランド電極とビアにより接続されているノイズ抑制伝送路が得られる。
また、本発明によれば、第14のノイズ抑制伝送路として、第1乃至第13のいずれかのノイズ抑制伝送路であって、前記導電体層は、銅又はアルミニウムからなるノイズ抑制伝送路が得られる。
また、本発明によれば、第15のノイズ抑制伝送路として、第1乃至第14のいずれかのノイズ抑制伝送路であって、前記誘電体層は、ポリイミドからなるノイズ抑制伝送路が得られる。
また、本発明によれば、第16のノイズ抑制伝送路として、第1乃至第15のいずれかのノイズ抑制伝送路であって、前記シート状構造体は、誘電体からなる支持層であって前記導電体層を支持する支持層を更に備えているノイズ抑制伝送路が得られる。
また、本発明によれば、第17のノイズ抑制伝送路として、第1乃至第16のいずれかのノイズ抑制伝送路であって、前記支持層は、ガラス繊維及び樹脂の複合体、高分子フィルム、ポリイミド又はFR4からなるノイズ抑制伝送路が得られる。
また、本発明によれば、第18のノイズ抑制伝送路として、第1乃至第17のいずれかのノイズ抑制伝送路であって、当該ノイズ抑制伝送路は、半導体ベアチップと、外部回路との間を電気的に接続するための経路の少なくとも一部をなすものであり、前記配線層は、前記半導体ベアチップと電気的に接続される第1接続部位と、前記外部回路と電気的に接続される第2接続部位とを有しているノイズ抑制伝送路が得られる。
また、本発明によれば、第19のノイズ抑制伝送路として、第18のノイズ抑制伝送路であって、前記配線層は、リードフレームであるノイズ抑制伝送路が得られる。
また、本発明によれば、第1乃至第19のいずれかのノイズ抑制伝送路と、当該ノイズ抑制伝送路と電気的に接続された半導体ベアチップとを備える半導体パッケージが得られる。
また、本発明によれば、第1乃至第19のいずれかのノイズ抑制伝送路に用いられる前記シート状構造体を備えたノイズ抑制シートが得られる。
本発明によれば、誘電体層上に一層のみの導電体層を備えるシート状構造体を用いることにより、半導体ベアチップに接続される伝送路についてのノイズ対策を一括して行うことが可能となり、新たな配線の追加や部品の追加を少なくすることができる。また、シート状構造体が有している導電体層は1層のみであるため、薄型化・省スペース化を図ることができる。信号・ノイズの透過を阻止する周波数帯域は、導電体層のパターンの調整、誘電体厚さの調整、磁性体の磁気特性、ないしは磁性体の厚さなどによって所望の周波数帯域に調整することができる。
本発明の第1の実施の形態によるノイズ抑制伝送路の断面を表す模式図である。 図1のノイズ抑制伝送路の上面図である。 図1のノイズ抑制伝送路に用いられるシート状構造体の上面図である。 図3のシート状構造体を構成する導体パターンの単位形状を表す図である。 第1の実施の形態によるノイズ抑制伝送路の構造を表す模式図である。 図5のノイズ抑制伝送路の等価回路を表す図である。 本発明の第1の実施の形態によるフェライトめっき膜を製造する装置の模式図である。 本発明の第1の実施の形態によるフェライトめっき膜の透磁率特性を表すグラフである。 フェライトめっき膜を備えた場合のノイズ抑制効果を検証する際に用いたノイズ抑制伝送路の模式図である。 図9におけるノイズ抑制効果の検証結果を示すノイズ抑制伝送路の透過パラメータS21を示すグラフである。 本発明の第2の実施の形態によるノイズ抑制シートの評価系を表す模式図である。 図11の評価系により測定された透過パラメータS21を表すグラフである。 本発明の実施の形態によるシート状構造体の変形例を表す上面図である。 図13のシート状構造体を構成する導体パターンの単位形状を表す図である。 図13のシート状構造体を用いたノイズ抑制伝送路のノイズ抑制効果を計算した結果を表すグラフである。
(第1の実施の形態)
本発明の第1の実施の形態によるノイズ抑制伝送路1は、半導体ベアチップと外部回路との間を電気的に接続するためのものである。具体的には半導体ベアチップと当該半導体ベアチップが搭載される外部回路との間に挟まれるようにして使用されるインターポーザや、リードフレームに対して用いられる。
図1及び図2に示されるように、本実施の形態によるノイズ抑制伝送路1は、信号線12及びグランド線14を備える配線層10と、誘電体からなる誘電体層20と、磁性体膜30と、導体パターン(導電体層)45及び支持層50を備えるシート状構造体40とを備えている。図1に示されるように、誘電体層20及び磁性体膜30は配線層10及び導体パターン45の間に位置しており、磁性体膜30は導体パターン45上に形成されている。
配線層10を構成する信号線12及びグランド線14は、厚み18μmの銅箔で構成されており、配線層10の中央部には半導体ベアチップを実装するための実装位置110が設けられている。各信号線12及び各グランド線14は、半導体ベアチップと電気的に接続されるチップ側接続部(第1接続部位)15と、図示しない外部回路と接続される回路側接続部(第2接続部位)16とを備えている。
本実施の形態による誘電体層20は、厚み25μmのポリイミドシートにより構成されている。誘電体層20の上には配線層10が設けられており信号線12及びグランド線14の配線パターンが形成されている。なお、必要に応じて、誘電体層20は、高分子フィルムや、FR4などのガラス繊維と樹脂の複合体でも構成することとしてもよい。
図3及び図4に示されるように、シート状構造体40は、支持層50の上に導体パターン45を形成してなるものである。本実施の形態による導体パターン45は、厚み18μmの銅箔からなるものである。導体パターン45は、5×5mmの単位形状70を4行4列繰り返し並べて構成されており、全体のサイズとしては20×20mmである。なお、導体パターン45は、アルミニウムなどの導電体で構成してもよい。
図4に示されるように、本実施の形態による単位形状70は、正方形形状を有しており、所定のパターンを有している。即ち、単位形状70は、当該正方形の4辺に沿って形成された枠形状のグランド電極80と、グランド電極80の内側の領域に形成された正方形形状のパッチ電極90と、グランド電極80とパッチ電極90とを4か所で接続するインダクタライン100とを備えている。グランド電極80の幅L1は0.25mmであり、パッチ電極90は4×4mmの正方形形状とし、インダクタラインの線幅L2は0.5mmである。グランド電極80は単位形状70内における幅は0.25mmであるが、隣接する単位形状のグランド電極80と合わせると、その幅は、0.5mmとなる。
本実施の形態によるグランド線14(図1参照)は、ビア60によってグランド電極80と電気的に接続されている。このように、グランド線14と導体パターン45の一部(グランド電極80)とを接続することにより、信号線12と導体パターン45とが電気的に結合することとなり、十分なノイズ抑制効果を得ることができる。
一方、支持層50は、導体パターン45を支持するものであり、厚み50μmのポリイミドシートを用いることとしている。なお、支持層50の材料としては、高分子フィルムや、FR4などのガラス繊維と樹脂の複合体でも構成することができる。
磁性体膜30は厚み5μmのフェライトめっき膜である。磁性体を用いると上述したシート状構造体40のノイズ抑制効果を増大させることができる。なお、磁性体膜30を設けない構成としても、シート状構造体40によるノイズ抑制効果により、ある程度の周波数範囲内のノイズを減衰させることができる。磁性体膜30の素材としては、フェライトめっき膜の他にも、焼結フェライト板、磁性体粉末と樹脂バインダからなる複合磁性体層などが適用可能である。なお、本実施の形態による磁性体膜30は、導体パターン45の上に一様に形成されているが、導体パターン45の上に部分的に設けることとしてもよい。例えば、グランド電極80、パッチ電極90、又はインダクタライン100の少なくともいずれかの上に形成されていればよい。なお、磁性体膜30は、導体パターン45に接触しない状態で配置していてもよいが、ノイズ抑制効果の向上を図るためには磁性体膜30と導体パターン45は接触していることが好ましい。
以上説明したノイズ抑制伝送路1は、以下のように動作する。図5に示されるように、信号線12はシート状構造体40上にあり、本実施の形態におけるグランド線14は、ビア60を介してシート状構造体40の導体パターン45の一部(グランド電極80)に接地されている。なお、誘電体層20及び磁性体膜30は省略されている。図6に示されるような等価回路で考えると、信号線12は、シート状構造体40の導体パターンのパッチ電極90との間で大きなキャパシタンスを形成するものと考えられる。このキャパシタンスによって、信号線12とシート状構造体40とが電気的に結合し、信号導体12と誘電体層20とシート状構造体40とがEBG構造体を構成することにより、信号線12上を通過する信号のうち特定の周波数の透過を防止することができる。透過を防止する周波数については、導体パターン45のパターニングや寸法、誘電体層20及び支持層50の素材、厚み又は誘電率等を変更することにより適宜調整可能である。
なお、上述した実施の形態におけるシート状構造体のノイズ抑制効果の検証と、磁性体膜の有無によるノイズ抑制効果の差異について、以下に説明する。本実施の形態による磁性体膜は、フェライトめっき法により形成されたフェライトめっき膜である。フェライトめっき法とは、例えば特許第1475891号に示されているように、固体表面に金属イオンとして少なくとも第1鉄イオンを含む水溶液を接触させ、その固体表面にFe2またはこれと他の水酸化金属イオンを吸着させ、続いて吸着したFe2を酸化させることによりFe3を得、これが水溶液中の水酸化金属イオンとの間でフェライト結晶化反応を起こすことを利用して、固体表面にフェライト膜を形成する方法である。この方法により形成されたフェライトめっき膜は、結晶相同士が密に配列した構造を有し交換結合による小さな異方性分散が期待でき、バルクのフェライトよりも1桁高い自然共鳴周波数を有する(高い周波数まで透磁率実部μ´が伸びる)。また、組成を変えることで自然共鳴周波数も制御可能である(Y. Shimada, N. Matsushita, M. Abe, K. Kondo, T. Chiba, and S. Yoshida, J. Magn. Magn. Mater., 278, 256 (2004))。
ここで、フェライトめっき膜が近接配置されたシート状構造体のノイズ抑制効果を調べるため、以下に説明する方法によりシート状構造体上にフェライトめっき膜を成膜した。詳しくは、図7に示されるようなフェライトめっき膜製造装置を用いた。このフェライトめっき膜製造装置によるフェライトめっき膜の成膜は以下のように行われる。図7に示されるように、フェライト膜を形成する基体(支持体)140は、回転台130の上に設置される。めっきに必要な液を貯蔵するためのタンク150,152に貯蔵された溶液は、ガス導入口160、162から出る窒素ガスとともにノズル120、122から放射され、基体140に供給される。その際、例えば、ノズル120から基体140に溶液が供給された後に余剰の溶液が回転台130の回転による遠心力で除去されるステップと、他方のノズル122から基体140に溶液が供給された後に余剰の溶液が回転台130の回転による遠心力で除去されるステップとが繰り返し行われる。
このような装置を用いて、回転台130の上に基体140としてシート状構造体を設置し、150rpmで回転させながら脱酸素イオン交換水を供給しつつ90℃まで加熱した。次いで、装置内に窒素ガスを導入し脱酸素雰囲気を形成した。反応液として脱酸素イオン交換水中にFeCl・4HO、NiCl・6HO、ZnClをそれぞれ所定のモル比で溶かし、脱酸素イオン交換水中にNaNOとCHCOONHをそれぞれ溶かした酸化液と前述の反応液とをノズル120,122によりそれぞれ約40ml/minの流量で供給した。このようにして処理された基体140には黒色膜(フェライト膜)が形成されていた。SEMを用いた組織観察の結果、平均膜厚約5μmの組織が形成されていた。膜の化学組成は、3cm角〜5cm角程度の大きさの膜を塩酸により溶解し、誘導結合プラズマ発光分光法(ICPS)により決定したところ、Ni0.2Zn0.3Fe2.5であった。なお、膜の酸素量については、フェライト組成M(M:金属元素)によって決まるが、酸素欠陥または酸素過剰を許容する。膜の透磁率はシールディドループコイル法を用いた透磁率計により測定したところ、図8のような特性であった。
図9に示されるように、導体パターン45とグランド線14とをスルーホールにより導通させ、図に示すPORT1及びPORT2にマイクロプローブの信号端子及びグラウンド端子を接触させ、同軸ケーブルを介してネットワークアナライザにつなぎ、透過パラメータS21を評価した。同様の評価をフェライトめっき膜が形成されていないノイズ抑制伝送路に対しても行った。
その結果、図10に示されるように、フェライトめっき膜の有無にかかわらず、伝導阻止帯域(ノイズが抑制される周波数帯域)が形成されている。そして、フェライトめっき膜が形成されているノイズ抑制伝送路の方が、フェライトめっき膜が形成されていないノイズ抑制伝送路よりも、伝導阻止帯域が低周波数側にシフトしていることが理解される。例えば、図10のグラフのうち−4dBのラインで見ると、低周波数側へ約0.7GHzシフトしていることが見てとれる。
この結果から理解されるように、本発明のシート状構造体40は、信号線12に流れる所定の周波数帯域に属する信号・ノイズの透過を阻止するノイズ抑制シートとして機能する。また、シート状構造体40に磁性体(磁性体膜30)が近接(又は接触)して設けられている場合、上記伝導阻止帯域を低周波側にシフトさせることができる。
(第2の実施の形態)
上述した第1の実施の形態によるノイズ抑制伝送路10(図2参照)は、グランド線14とシート状構造体40の導体パターン45の一部(グランド電極80)とがビア60により接続されているものであった。図11に示される本発明の第2の実施の形態によるノイズ抑制伝送路1’は、マイクロストリップラインに対してシート状構造体40を単に近接させた構成、即ちグランド線14’と導体パターン45とは接続されていない構成を有している。
本実施の形態において用いられているシート状構造体40は、上述した第1の実施の形態によるシート状構造体40(図3参照)を用いることとしている。図11に示されるように、シート状構造体40は、支持層50側の面が信号線12’に接触するように設置されている。このとき、信号線12’と導体パターン45との間隔は、支持層50の厚み、即ち約50μmとなる。比較例として、外形寸法が20mm角の厚さ18μmの銅箔(パターンなし)を厚さ50μmのポリイミドを間に介して設置した場合についても評価した。
その結果、図12に示すとおり、シート状構造体40を近接配置させた場合の方が、銅箔(パターンなし)を近接配置させた場合よりも顕著な伝導阻止帯域が形成されていることが見てとれる。
この結果から理解されるように、本発明のシート状構造体40を信号線12’に対して近接配置させるだけの構成としても、シート状構造体40は所定の周波数帯域に属する信号・ノイズの透過を阻止することができ、ノイズ抑制シートとして機能する。
以上、本発明の実施の形態によるノイズ抑制伝送路は、ノイズを除去したい伝送路等に対してシート状構造体を近接配置させ且つグランド線と導体パターンの一部とを接続する構成、又はノイズを除去したい伝送路等に対してシート状構造体を単に近接配置させる構成のいずれにおいても特定の周波数に属するノイズを低減することができる。このように、シート状構造体と伝送路(信号線及びグランド線)とが組み合わせられることにより、伝送路はノイズ抑制機能を有するノイズ抑制伝送路として機能し、当該ノイズ抑制伝送路に用いられるシート状構造体それ自体は伝送路のノイズを抑制するためのノイズ抑制シートとして機能する。
なお、上述した実施の形態においては、シート状構造体40の導体パターン45は、四角形形状からなる単位形状70を用いることとしていたが(図3参照)、導体パターン45の変形例として、例えば、図13及び図14に示されるように、単位形状70’を六角形としてもよい。このような単位形状70’を用いた場合、直交する2方向に周期構造を作れる四角形状の単位形状70と比べて、60度ずつずれた3方向に周期構造を作ることができる。図13に示されるシート状構造体40’は、単位形状70’が5行5列で繰り返し並べられているものである。なお、等価回路とその動作原理は上述した四角形の単位形状70(図5及び図6参照)の場合と同じである。また、支持層50’は50μmのポリイミドシートで構成されており、導体パターン45は厚み18μmの銅箔で形成することができる。
ここで、単位形状70’の寸法としては、図14に示されるように、単位形状70’の六角形のうち最長の対角線の長さは5mmである。本実施の形態による単位形状70’も、上述した四角形の単位形状70(図4参照)の場合と同様に所定のパターンを有している。即ち、単位形状70は、六角形の6辺に沿って形成された枠形状のグランド電極80’と、当該グランド電極80’の内側の領域に形成された六角形形状のパッチ電極90’と、グランド電極80’及びパッチ電極90’を接続する6つのインダクタライン100’とを備えている。グランド電極80’の幅L1’は0.25mmであり、パッチ電極90’のうちの最長の対角線の長さは4mmとし、インダクタラインの線幅L2’は0.5mmである。また、グランド電極80’は単位形状70’内における幅は0.25mmであるが、隣接する単位形状のグランド電極と合わせるとその幅は0.5mmとなる。
上記の変形例を用いたノイズ抑制伝送路についてノイズ抑制効果を計算したところ、図15に示されるように、S21は1.5GHzで4.5dB、3GHzで8.5dBの減衰が生じていることがわかる。なお、当該シート状構造体40’に対して磁性膜を付加することとしてもよい。これにより、減衰する周波数が低下し減衰量が増加するため、上述した第1の実施の形態と同様にフェライトめっき膜などの磁性膜を挿入しても良い。
更に、上述したシート状構造体40、40’(図3及び図13参照)をリードフレームの下に敷くことしてもよい。この構成では、例えば極薄い両面テープ等を用いてリードフレームの下にシート状構造体を接着させることとしもよい。これにより、リードフレーム上の信号導体(信号線)のノイズを一括して減衰させることができる。
上述したノイズ抑制伝送路に対して半導チップを搭載して半導体パッケージとすることにより、ノイズ抑制効果を有する半導体パッケージを得ることができる。
1 ノイズ抑制伝送路
10 配線層
12、12’ 信号線
14、14’ グランド線
15 チップ側接続部
16 回路側接続部
20 誘電体層
30 磁性体膜
40、40’ シート状構造体
45、45’ 導体パターン(導電体層)
50、50’ 支持層
60 ビア
70、70’ 単位形状
80、80’ グランド電極
90、90’ パッチ電極
100、100’ インダクタライン
110 実装位置
120、122 ノズル
130 回転台
140 基体
150、152 タンク
160、162 ガス導入口

Claims (21)

  1. 少なくとも信号導体を備える配線層と、誘電体層と、シート状構造体とを備えるノイズ抑制伝送路であって、
    前記シート状構造体は、単位形状を繰り返し並べてなる導電体層を備えており、
    前記誘電体層は、前記配線層と前記導電体層との間に設けられている
    ノイズ抑制伝送路。
  2. 請求項1に記載のノイズ抑制伝送路であって、
    前記配線層は、グランド導体を更に備えており、
    前記グランド導体は、前記導電体層と電気的に接続されている
    ノイズ抑制伝送路。
  3. 請求項2に記載のノイズ抑制伝送路であって、
    前記グランド導体は、前記導電体層とビアにより接続されているノイズ抑制伝送路。
  4. 請求項2又は請求項3のいずれかに記載のノイズ抑制伝送路であって、
    前記シート状構造体は、前記導電体層上に設けられた磁性体を備えているノイズ抑制伝送路。
  5. 請求項4に記載のノイズ抑制伝送路であって、
    前記磁性体は、前記導電体層上に形成された磁性体被膜であるノイズ抑制伝送路。
  6. 請求項4又は請求項5に記載のノイズ抑制伝送路であって、
    前記磁性体は、フェライトからなるノイズ抑制伝送路。
  7. 請求項6に記載のノイズ抑制伝送路であって、
    前記磁性体は、フェライトめっき膜であるノイズ抑制伝送路。
  8. 請求項2乃至請求項7のいずれかに記載のノイズ抑制伝送路であって、
    前記単位形状は、四角形形状を有しており、且つ、当該四角形の4辺に沿って設けられている枠形状のグランド電極と、前記グランド電極の内側の領域に配置され四角形形状を有するパッチ電極と、前記グランド電極とパッチ電極とを接続するインダクタラインとで構成されており、
    前記グランド導体は、前記グランド電極と電気的に接続されている
    ノイズ抑制伝送路。
  9. 請求項2乃至請求項7のいずれかに記載のノイズ抑制伝送路であって、
    前記単位形状は、六角形形状を有しており、且つ、当該六角形の6辺に沿って設けられている枠形状のグランド電極と、前記グランド電極の内側の領域に配置され六角形形状を有するパッチ電極と、前記グランド電極とパッチ電極とを接続するインダクタラインとで構成されており、
    前記グランド導体は、前記グランド電極と電気的に接続されている
    ノイズ抑制伝送路。
  10. 請求項1に記載のノイズ抑制伝送路であって、
    前記シート状構造体は、前記導電体層上に設けられた磁性体を備えているノイズ抑制伝送路。
  11. 請求項1又は請求項2のいずれかに記載のノイズ抑制伝送路であって、
    前記単位形状は、四角形形状を有しており、且つ、当該四角形の4辺に沿って設けられている枠形状のグランド電極と、前記グランド電極の内側の領域に配置され四角形形状を有するパッチ電極と、前記グランド電極とパッチ電極とを接続するインダクタラインとで構成されている、ノイズ抑制伝送路。
  12. 請求項1又は請求項2のいずれかに記載のノイズ抑制伝送路であって、
    前記単位形状は、六角形形状を有しており、且つ、当該六角形の6辺に沿って設けられている枠形状のグランド電極と、前記グランド電極の内側の領域に配置され六角形形状を有するパッチ電極と、前記グランド電極とパッチ電極とを接続するインダクタラインとで構成されている、ノイズ抑制伝送路。
  13. 請求項11又は請求項12に記載のノイズ抑制伝送路であって、
    前記グランド導体は、前記グランド電極とビアにより接続されているノイズ抑制伝送路。
  14. 請求項1乃至請求項13のいずれかに記載のノイズ抑制伝送路であって、
    前記導電体層は、銅又はアルミニウムからなるノイズ抑制伝送路。
  15. 請求項1乃至請求項14のいずれかに記載のノイズ抑制伝送路であって、
    前記誘電体層は、ポリイミドからなるノイズ抑制伝送路。
  16. 請求項1乃至請求項15のいずれかに記載のノイズ抑制伝送路であって、
    前記シート状構造体は、誘電体からなる支持層であって前記導電体層を支持する支持層を更に備えているノイズ抑制伝送路。
  17. 請求項1乃至請求項16のいずれかに記載のノイズ抑制伝送路であって、
    前記支持層は、ガラス繊維及び樹脂の複合体、高分子フィルム、ポリイミド又はFR4からなるノイズ抑制伝送路。
  18. 請求項1乃至請求項17のいずれかに記載のノイズ抑制伝送路であって、
    当該ノイズ抑制伝送路は、半導体ベアチップと、外部回路との間を電気的に接続するための経路の少なくとも一部をなすものであり、
    前記配線層は、前記半導体ベアチップと電気的に接続される第1接続部位と、前記外部回路と電気的に接続される第2接続部位とを有している
    ノイズ抑制伝送路。
  19. 請求項18に記載のノイズ抑制伝送路であって、
    前記配線層は、リードフレームであるノイズ抑制伝送路。
  20. 請求項1乃至請求項19のいずれかに記載のノイズ抑制伝送路と、当該ノイズ抑制伝送路と電気的に接続された半導体ベアチップとを備える半導体パッケージ。
  21. 請求項1乃至請求項19のいずれかに記載のノイズ抑制伝送路に用いられる前記シート状構造体を備えたノイズ抑制シート。
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