JP2011230053A5 - - Google Patents

Download PDF

Info

Publication number
JP2011230053A5
JP2011230053A5 JP2010102521A JP2010102521A JP2011230053A5 JP 2011230053 A5 JP2011230053 A5 JP 2011230053A5 JP 2010102521 A JP2010102521 A JP 2010102521A JP 2010102521 A JP2010102521 A JP 2010102521A JP 2011230053 A5 JP2011230053 A5 JP 2011230053A5
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
catalyst
gas
cleaning
supplying
hydrogen radicals
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2010102521A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2011230053A (ja
JP5693042B2 (ja
Filing date
Publication date
Application filed filed Critical
Priority to JP2010102521A priority Critical patent/JP5693042B2/ja
Priority claimed from JP2010102521A external-priority patent/JP5693042B2/ja
Priority to EP11162534A priority patent/EP2383613A3/en
Priority to US13/093,687 priority patent/US20110259374A1/en
Publication of JP2011230053A publication Critical patent/JP2011230053A/ja
Publication of JP2011230053A5 publication Critical patent/JP2011230053A5/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5693042B2 publication Critical patent/JP5693042B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Claims (9)

  1. 対象物に水素ラジカルを供給することによって前記対象物を洗浄する洗浄装置であって、
    加熱された触媒に気体を供給することによって水素ラジカルを生成する生成手段と、
    前記生成手段と前記対象物の間の経路に設けられ、前記触媒の周囲の気体が前記対象物側の空間に流入することを制限可能な制限手段と、
    前記制限手段により前記触媒の周囲の気体流入が制限された状態で、前記触媒の周囲の気体を、前記制限手段よりも前記生成手段側で排気可能な排気手段と、
    を備えることを特徴とする洗浄装置。
  2. 前記触媒が配置される空間を囲む筐体と、
    前記筐体を加熱可能な加熱手段と、を備えることを特徴とする請求項1に記載の洗浄装置。
  3. 前記制限手段を冷却可能な冷却手段を備え、
    前記制限手段は、前記経路から退避可能であることを特徴とする請求項1または2に記載の洗浄装置。
  4. 前記生成手段は、前記触媒の表面に付着した酸化物を還元可能な第1気体と、前記過熱された触媒に供給することによって水素ラジカルを生成可能な第2気体と、を選択的に前記触媒に供給可能であることを特徴とする請求項1に記載の洗浄装置。
  5. 前記第1気体は水素ラジカルであることを特徴とする請求項4に記載の洗浄装置。
  6. 加熱された第2触媒に気体を供給することによって、前記触媒に供給される水素ラジカルを生成する第2生成手段と、
    前記第2生成手段と前記触媒の間の経路に配置され、前記第2触媒の周囲の気体が前記触媒側に流入することを制限可能な第2制限手段と、
    前記第2制限手段により前記第2触媒の周囲の気体の流入が制限された状態で、前記第2触媒の周囲の気体を、前記第2制限手段よりも前記第2触媒側で排気可能な第2排気手段と、
    を備えることを特徴とする請求項5に記載の洗浄装置。
  7. 対象物に水素ラジカルを供給することによって前記対象物を洗浄する洗浄装置であって、
    加熱された触媒に気体を供給することによって水素ラジカルを生成する生成手段と、
    前記生成手段と前記対象物の間の経路に設けられ、前記触媒の周囲の気体が前記対象物側に流入することを制限可能する制限手段と、
    前記対象物と前記制限手段との間の空間を介さずに前記触媒の周囲の気体を排気可能な排気手段と、
    を備えることを特徴とする洗浄装置。
  8. 請求項1乃至のいずれか1項に記載の洗浄装置を用いて、粒子線を制御可能な光学部材を洗浄することを特徴とするパターン転写装置。
  9. 加熱された触媒に気体を供給して生成させた水素ラジカルを用いて対象物を洗浄する洗浄方法であって、
    前記触媒の周囲の気体の、前記対象物側への流入が制限された状態で、前記触媒の周囲の気体を排気する工程と
    前記排気する工程と並行して、前記触媒の表面の酸化物を還元または蒸発させることにより前記酸化物を除去する工程と、
    前記加熱された触媒に気体を供給して水素ラジカルを生成する工程と、
    前記制限が解除された状態で、生成された水素ラジカルを前記対象物に供給する工程と、
    を備えることを特徴とすることを特徴とする洗浄方法。
JP2010102521A 2010-04-27 2010-04-27 洗浄装置、および洗浄方法 Expired - Fee Related JP5693042B2 (ja)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2010102521A JP5693042B2 (ja) 2010-04-27 2010-04-27 洗浄装置、および洗浄方法
EP11162534A EP2383613A3 (en) 2010-04-27 2011-04-15 Cleaning apparatus and cleaning method
US13/093,687 US20110259374A1 (en) 2010-04-27 2011-04-25 Cleaning apparatus and cleaning method

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2010102521A JP5693042B2 (ja) 2010-04-27 2010-04-27 洗浄装置、および洗浄方法

Publications (3)

Publication Number Publication Date
JP2011230053A JP2011230053A (ja) 2011-11-17
JP2011230053A5 true JP2011230053A5 (ja) 2013-06-20
JP5693042B2 JP5693042B2 (ja) 2015-04-01

Family

ID=44453882

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2010102521A Expired - Fee Related JP5693042B2 (ja) 2010-04-27 2010-04-27 洗浄装置、および洗浄方法

Country Status (3)

Country Link
US (1) US20110259374A1 (ja)
EP (1) EP2383613A3 (ja)
JP (1) JP5693042B2 (ja)

Families Citing this family (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2013535806A (ja) * 2010-07-06 2013-09-12 エーエスエムエル ネザーランズ ビー.ブイ. Euvリソグラフィ装置用のコンポーネント、当該コンポーネントを含むeuvリソグラフィ装置、および当該コンポーネントを製造する方法
US9265573B2 (en) 2012-07-19 2016-02-23 Covidien Lp Ablation needle including fiber Bragg grating
JP6280116B2 (ja) * 2012-08-03 2018-02-14 エーエスエムエル ネザーランズ ビー.ブイ. リソグラフィ装置および方法
JP2014053416A (ja) 2012-09-06 2014-03-20 Toshiba Corp Euv露光装置及びクリーニング方法
US9560730B2 (en) * 2013-09-09 2017-01-31 Asml Netherlands B.V. Transport system for an extreme ultraviolet light source
WO2020101838A1 (en) * 2018-11-16 2020-05-22 Mattson Technology, Inc. Chamber seasoning to improve etch uniformity by reducing chemistry

Family Cites Families (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0748440B2 (ja) * 1988-09-19 1995-05-24 株式会社日立製作所 薄膜磁気ヘッドの製造方法
JPH04103770A (ja) * 1990-08-22 1992-04-06 Sumitomo Metal Ind Ltd プラズマプロセス装置
JPH0665465U (ja) * 1993-02-26 1994-09-16 株式会社島津製作所 蒸着装置
JPH10340857A (ja) * 1997-06-10 1998-12-22 Mitsubishi Electric Corp 半導体装置の製造方法及び半導体製造装置
JP2000294535A (ja) * 1999-04-08 2000-10-20 Sony Corp 気相加工方法及びその装置
JP3639795B2 (ja) * 2000-03-13 2005-04-20 キヤノン株式会社 薄膜の製造方法
US7868304B2 (en) * 2005-02-07 2011-01-11 Asml Netherlands B.V. Method for removal of deposition on an optical element, lithographic apparatus, device manufacturing method, and device manufactured thereby
JP4592746B2 (ja) * 2005-03-02 2010-12-08 株式会社日立国際電気 半導体製造装置及び半導体装置の製造方法並びに排気トラップ装置
US7750326B2 (en) * 2005-06-13 2010-07-06 Asml Netherlands B.V. Lithographic apparatus and cleaning method therefor
US7495239B2 (en) * 2005-12-22 2009-02-24 Asml Netherlands B.V. Method for cleaning a lithographic apparatus module, a cleaning arrangement and a lithographic apparatus comprising the cleaning arrangement
US7504643B2 (en) * 2005-12-22 2009-03-17 Asml Netherlands B.V. Method for cleaning a lithographic apparatus module, a cleaning arrangement and a lithographic apparatus comprising the cleaning arrangement
WO2008029315A2 (en) * 2006-09-04 2008-03-13 Philips Intellectual Property & Standards Gmbh Method of cleaning a surface region covered with contaminant or undesirable material
NL1036832A1 (nl) * 2008-04-15 2009-10-19 Asml Netherlands Bv Lithographic apparatus comprising an internal sensor and a mini-reactor, and method for treating a sensing surface of an internal sensor of a lithographic apparatus.

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2011230053A5 (ja)
JP2015508287A5 (ja)
JP2010534946A5 (ja)
JP2013064219A5 (ja)
JP2009028788A5 (ja)
JP2009212340A5 (ja)
NO20073235L (no) Flerskala endelig volum-fremgangsmate til bruk i stromningssimulering under overflate
WO2007145451A3 (en) Laundry dryer and method for controlling the same
JP2014099297A5 (ja)
JP2011530823A5 (ja)
JP2015070177A5 (ja) 半導体装置の製造方法、基板処理装置およびプログラム
JP2010212293A5 (ja)
JP2011096700A5 (ja)
JP2006210948A5 (ja)
JP2014067805A5 (ja)
ATE493700T1 (de) Verfahren und einrichtung zum erzeugen einer pseudozufallszeichenkette
EP2383613A3 (en) Cleaning apparatus and cleaning method
JP2015507716A5 (ja)
JP2011173713A5 (ja)
JP2013256880A5 (ja)
JP2011114339A5 (ja)
JP2013201300A5 (ja) 半導体装置の製造方法、基板処理装置、及びプログラム
TWI494162B (zh) 利用增加氣體密度的溫度調整方法
CN203514122U (zh) 一种离型纸熟化室
JP2002353226A5 (ja)