JP2011166080A - 半導体装置 - Google Patents

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Abstract

【課題】固体撮像素子13の特性が安定している撮像装置1を提供する。
【解決手段】第1の主面11に形成された固体撮像素子13と第2の主面12に形成された固体撮像素子13の外部端子17とを有するデバイスチップ10と、接続パッド36を有する先端部31と、90度以上の角度に折り曲げられた屈曲部32と、延設部33と、からなり、先端部31から屈曲部32を介して延設部33まで延設された配線層35を有する配線板30と、第2の主面12に先端部31を接着する接着層16と、外部端子17と接続パッド36とを電気的に接続するワイヤボンディング配線40と、を具備し、配線板30がデバイスチップ10の第2の主面の直上空間10S内にある。
【選択図】図1

Description

本発明は、半導体チップをチップサイズパッケージした半導体装置に関し、特に、半導体素子が形成された第1の主面と対向する第2の主面に配線板を接合した半導体装置に関する。
半導体装置は、半導体素子が形成された半導体チップと、半導体チップを外部の配線板等に接続するパッケージと、から構成されている。近年では、高密度実装の要求に応じて、半導体チップと略同等の大きさでパッケージ化できるチップサイズパッケージ(CSP)が多用されるようになってきた。
CSPでは、半導体チップには半導体素子が形成された第1の主面から貫通配線を介して第2の主面に半導体素子の外部接続用電極部が形成される。例えば、特開2008−270650公報には、電極部にスタッドバンプが形成されている半導体装置が開示されている。しかし上記構造の半導体装置はスタッドバンプを介して配線板に圧着して実装されるため、半導体チップに応力が加わる。CSPでは貫通配線を形成するために半導体チップの厚さが薄く加工されているため、応力による半導体素子の特性が劣化、例えば動作が不安定となりノイズ発生が多発するおそれがあった。
特開2008−270650号公報
本発明は、半導体素子の特性が安定している半導体装置を提供することを目的とする。
上記目的を達成すべく、本発明の半導体装置は、第1の主面に形成された半導体素子と、第2の主面に形成された前記半導体素子の外部端子とを、有する半導体チップと、接続パッドを有する先端部と、90度以上の角度に折り曲げられた屈曲部と、延設部と、からなり、前記先端部から前記屈曲部を介して前記延設部まで延設された配線層を有する配線板と、前記第2の主面と前記配線板の前記先端部を接合する接着層と、前記半導体チップの前記外部端子と前記接続パッドとを電気的に接続するワイヤボンディング配線と、を具備し、前記配線板が、前記半導体チップの前記第2の主面の直上空間内にある。
本発明によれば、半導体素子の特性が安定している半導体装置を提供することができる。
第1の実施の形態の撮像装置の斜視図である。 第1の実施の形態の撮像装置を説明するための説明図であり、図2(A)は上面から見たときの状態を示す図、図2(B)は側面からから見たときの状態を示す図、図2(C)は正面からから見たときの状態を示す図である。 第1の実施の形態の撮像装置を内視鏡の先端部に配設したときの断面構造を説明するための模式図である。 第2の実施の形態の撮像装置の斜視図である。 第2の実施の形態の撮像装置を説明するための説明図であり、図5(A)は上面から見たときの状態を示す図、図5(B)は側面からから見たときの状態を示す図、図5(C)は正面からから見たときの状態を示す図である。 第2の実施の形態の撮像装置を内視鏡の先端部に配設したときの断面構造を説明するための模式図である。
<第1の実施形態>
本実施の形態の半導体装置は、例えば内視鏡の先端部に配設される撮像装置1である。図1および図2に示すように、撮像装置1は、半導体チップであるデバイスチップ10と、デバイスチップ10の第1の主面11に接合された透明基板であるガラス基板20と、デバイスチップ10の第2の主面12の中央部に接着層16を介して接合された配線板30と、を有する。
デバイスチップ10の第1の主面11には半導体素子である固体撮像素子13(図2(B)参照)が形成されており、固体撮像素子13と信号のやりとりをするための外部端子17は貫通配線14(図2(B)参照)を介して第2の主面12に形成されている。なお貫通配線14の第2の主面12側から外部端子17までは引き回し配線により接続されているが、外部端子17以外は図示しない絶縁層により覆われている。また固体撮像素子としては、CCD、CMOSセンサ等でもよいし、裏面照射型の撮像素子であってもよい。また半導体素子としては、特に撮像素子に限定するものではない。
配線板30は、ポリイミド等の可撓性樹脂を基材とし、銅等からなる配線層35を有するフレキシブル配線板である。なお、以下、便宜上、配線板30を、先端部31、屈曲部32、延設部33に区分して表現するが、図1に示すように1枚の配線板であり、前記区分の境界は明確に定義されるものではなく、接着層16との接合部を先端部31、屈曲している部分を屈曲部32としている。なお配線板は少なくとも屈曲部32が可撓性を有しているフレキシブル配線板であればよく、先端部31および延設部33を硬質配線板で構成してもよい。フレキシブル配線板と硬質配線板とからなる複合配線板では、区分の境界は明確である。
配線板30の先端部31には接続パッド34が、延設部33の後端側には接続パッド36(図3参照)が形成されており、接続パッド34と接続パッド36とは配線層35により電気的に接続されている。また配線板30に、接続パッド(不図示)を介してチップコンデンサ等の電子部品56(図3参照)を配線層35と接続して電気回路を構成してもよい。
そして、配線板30の先端部31は、接着層16を介してデバイスチップ10の第2の主面12と接合されている。さらに、固体撮像素子13の外部端子17と配線板30の接続パッド34とは、ワイヤボンディング配線40により接続されている。ワイヤボンディング配線40により接続された端子間に作用する応力は極めて低い。またワイヤボンディング時に作用する熱および応力の影響も大きくはない。なお、図1等に示す撮像装置1では、樹脂ならなる封止材41により機械的強度が劣るワイヤボンディング配線40を保護しているとともに、屈曲部32の形状を保持している。
一方、配線板30は、可撓性を有する屈曲部32において接着層16との接合部から90度以上の角度(θV1)に折り曲げられている。このため、延設部33を含めた配線板30は、デバイスチップ10の第2の主面12の直上空間10S内に納められている。なお、配線板30の延設部33は電子部品56を実装したり、ケーブルを接続したりする必要があるため、その長手方向の寸法(長さ)は、搭載される部品の大きさにもよるが、例えば先端部31の主面の辺の長さの2〜8倍である。また、配線板30は、単層配線板でもよいし、少なくとも両面に配線層が形成されている多層配線板であってもよい。
次に、撮像装置1の製造方法について説明する。
最初に、シリコン基板の表面(第1の主面11)に公知の半導体プロセスを用いて多数の固体撮像素子13が形成される。そしてシリコン基板と略同サイズのガラスウエハを保護材として固体撮像素子13形成面に接合後、シリコン基板の裏面(第2の主面12)側から研削加工が行われる。研削加工によりシリコン基板の厚さを薄くした後、裏面側からエッチング等により貫通孔を形成し、内部を導電性ペーストやめっき法やスパッタ法等により導電化することで貫通配線14が形成される。その後、ガラスウエハが接合されたシリコン基板を切断により個片化することによりガラス基板20が接合された撮像素子チップであるデバイスチップ10が作製される。配線板30は銅箔と基材であるポリイミド等を貼り合わせエッチングしたり、めっき法等を用いたりして作製され、必要に応じて電子部品56が実装される。
そして、デバイスチップ10の第2の主面12の中央部に配線板30の先端部31が接着層16を介して接合される。次に、ワイヤボンディング装置を用いて、固体撮像素子13の外部端子17と配線板30の接続パッド34とが接続される。ワイヤボンディング配線40は、金またはアルミニウム等からなる金属細線を超音波振動により発生する熱等により圧着接合したものである。
そして、配線板30が、屈曲部32において接着層16との接合部から90度以上の角度(θV1)に大きく折り曲げられる。なお、屈曲される前の屈曲角度は0度である。屈曲角度は、90度以上であれば配線板30をデバイスチップ10の第2の主面12の直上空間10S内に配置可能であり、延設部33の長さ、搭載する部品の大きさおよび形状に応じて決定される。
さらに、ワイヤボンディング配線40を保護するとともに、屈曲部32の形状を維持するために、樹脂等からなる封止部である封止材41が第2の主面12に配設される。さらに、配線板30の延設部33の接続パッド36に、ケーブルがはんだ付けにより接続される。
本実施の形態の撮像装置1は、チップサイズパッケージを用いて作製されており、固体撮像素子13の外部端子17と配線板30の接続パッド34とをワイヤボンディング配線40で接続し、配線板30を折り曲げ、デバイスチップ10の投影面積内に納めている。このため、撮像装置1は、半導体素子である固体撮像素子13に作用する応力が小さいため、固体撮像素子13は特性が安定しており、画像信号にノイズ等が発生することが少ない。さらに、配線板30が、デバイスチップ10の第2の主面12の直上空間10S内にあるこのため、光軸方向の大きさが小さい。
そして、図3に示すように、本実施の形態の撮像装置1は内視鏡装置50の挿入部先端部に配設したとき、先端部の細径化が可能である。図3において模式的に示している光学系51と、撮像装置1とは枠部52により光軸Oを中心に固定されている。撮像装置1の後側はシールド枠53により覆われており、シールド枠53の内部は樹脂充填剤55により充填されている。配線板30の延設部33にはチップコンデンサ等の電子部品56が実装されているとともに、接続パッド36にはケーブル54が接続されている。
すなわち、以上の説明の内視鏡装置50は、第1の主面に形成された撮像素子と、第2の主面に形成された前記撮像素子の外部端子とを、有する撮像素子チップと、先端部に配設された接続パッドと、前記接続パッドから延設部まで延設された配線層と、を有する配線板と、前記第2の主面に前記先端部を接着する接着層と、前記外部端子と前記接続パッドとを電気的に接続するワイヤボンディング配線と、を具備し、前記延設部が、前記接着層との接合部から90度以上の角度に折り曲げられた可撓性の屈曲部を有し、前記撮像素子チップの前記第2の主面の直上空間内にあることを特徴とする撮像装置を、挿入部先端部に具備している。
<第2の実施の形態>
次に第2の実施の形態の撮像装置1Aについて説明する。本実施の形態の撮像装置1Aは第1の実施の形態の撮像装置1と類似しているので同じ構成要素には同じ符号を付し説明は省略する。
図4および図5に示すように、本実施の形態の撮像装置1Aの配線板30Aは、少なくとも両面に配線層を有する多層配線板である。そして、先端部から延設部33Aの屈曲部側までが長手方向の2本のスリット37により幅方向に3分割されている。言い換えれば、先端部、屈曲部および延設部の屈曲部側が幅方向に3分割するための2本のスリット37を有する。分割された先端部31A1〜31A3には、それぞれ接続パッド34A1、34A2、34A3が形成されているが、接続パッド34A1、34A3と接続パッド34A2とは異なる面に形成されている。
そして3分割された屈曲部32A1〜32A3が、それぞれの接続パッドが上面となるように交互に直角に反対方向に折り曲げられ、先端部31A1〜31A3がデバイスチップ10の第2の主面12の中央部に接着層16を介して接合されている。すなわち、図5(B)に示す屈曲角θV2、θV1はともに90度である。
本実施の形態の撮像装置1Aは、第1の実施の形態の撮像装置1が有する効果に加えて、屈曲部に集中する配線板の応力を低減することができる。このため、撮像装置1よりも、固体撮像素子13の特性がより安定しており、例えば、ノイズの発生がより低減されている。
なお、本実施の形態の撮像装置1Aでは3分割された先端部31A1〜31A3が交互に直角に折り曲げられている場合を例示しているが、複数に分割された先端部が交互に折り曲げられていれば、撮像装置1よりも、配線板の屈曲部に集中する応力を低減することが可能である。
そして、図6に示すように、本実施の形態の撮像装置1Aは内視鏡装置50Aの挿入部先端部に配設したとき、細径化を実現できるだけでなく、実装する電子部品56の配置の自由度が高く、またケーブル54を両面に接続可能であるために、配線板30Aの設計が容易である。
すなわち図6に示すように、内視鏡装置50Aが挿入部先端部に有する撮像装置1Aは、撮像装置1が有する構成に加えて、さらに配線板が多層配線板であり、先端部、屈曲部および延設部の屈曲部側が長手方向のスリットにより幅方向に分割されており、分割された複数の屈曲部が、交互に反対方向に折り曲げられている。
本発明は上述した実施の形態に限定されるものではなく、本発明の要旨を変えない範囲において、種々の変更、改変等ができる。
1、1A…撮像装置、10…デバイスチップ、10S…直上空間、11…第1の主面、12…第2の主面、13…固体撮像素子、14…貫通配線、16…接着層、17…外部端子、20…ガラス基板、30、30A…配線板、31、31A1〜31A3…先端部、32、32A1〜32A3…屈曲部、33、33A…延設部、34、34A1〜34A3…接続パッド、35…配線層、36…接続パッド、37…スリット、40…ワイヤボンディング配線、41…封止材、50、50A…内視鏡装置、51…光学系、52…枠部、53…シールド枠、54…ケーブル、55…充填剤、56…電子部品

Claims (6)

  1. 第1の主面に形成された半導体素子と、第2の主面に形成された前記半導体素子の外部端子とを、有する半導体チップと、
    接続パッドを有する先端部と、90度以上の角度に折り曲げられた屈曲部と、延設部と、からなり、前記先端部から前記屈曲部を介して前記延設部まで延設された配線層を有する配線板と、
    前記半導体チップの前記第2の主面と前記配線板の前記先端部とを接合する接着層と、
    前記外部端子と前記接続パッドとを電気的に接続するワイヤボンディング配線と、を具備し、
    前記配線板が、前記半導体チップの前記第2の主面の直上空間内にあることを特徴とする半導体装置。
  2. 前記配線板が少なくとも両面に配線層を有する多層配線板であり、前記先端部、前記屈曲部および前記延設部の屈曲部側が長手方向のスリットにより幅方向に分割されており、
    分割された複数の前記屈曲部が、交互に反対方向に折り曲げられていることを特徴とする請求項1に記載の半導体装置。
  3. 前記複数の屈曲部が、交互に直角に反対方向に折り曲げられていることを特徴とする請求項2に記載の半導体装置。
  4. 前記先端部が前記半導体チップの前記第2の主面の中央部に接着されていることを特徴とする請求項1または請求項3に記載の半導体装置。
  5. 前記ワイヤボンディング配線および前記屈曲部を覆う封止部を具備することを特徴とする請求項4に記載の半導体装置。
  6. 前記半導体素子が撮像素子であり、
    前記第1の主面に透明基板が接合されている撮像装置であることを特徴とする請求項1から請求項5のいずれか1項に記載の半導体装置。
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Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2013098182A (ja) * 2011-10-27 2013-05-20 Olympus Medical Systems Corp 撮像ユニット、内視鏡及び撮像ユニットの製造方法
WO2014174994A1 (ja) 2013-04-26 2014-10-30 オリンパス株式会社 撮像装置
WO2015019671A1 (ja) * 2013-08-05 2015-02-12 オリンパスメディカルシステムズ株式会社 内視鏡用撮像ユニット
DE102015002534A1 (de) * 2015-02-28 2016-09-01 Schölly Fiberoptic GmbH Verfahren zur Fertigung eines Kameramoduls und Kameramodul
WO2016166891A1 (ja) * 2015-04-17 2016-10-20 オリンパス株式会社 撮像装置
CN107205625A (zh) * 2015-01-15 2017-09-26 奥林巴斯株式会社 内窥镜和摄像装置
WO2020137384A1 (ja) * 2018-12-26 2020-07-02 株式会社フジクラ 撮像モジュール

Families Citing this family (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN106037624B (zh) 2010-09-08 2018-09-07 Kpr美国有限责任公司 具有成像组件的导管
JP5386567B2 (ja) * 2011-11-15 2014-01-15 株式会社フジクラ 撮像素子チップの実装方法、内視鏡の組立方法、撮像モジュール及び内視鏡
USD716841S1 (en) 2012-09-07 2014-11-04 Covidien Lp Display screen with annotate file icon
USD735343S1 (en) 2012-09-07 2015-07-28 Covidien Lp Console
US9198835B2 (en) 2012-09-07 2015-12-01 Covidien Lp Catheter with imaging assembly with placement aid and related methods therefor
US9517184B2 (en) 2012-09-07 2016-12-13 Covidien Lp Feeding tube with insufflation device and related methods therefor
USD717340S1 (en) 2012-09-07 2014-11-11 Covidien Lp Display screen with enteral feeding icon
CN104769720B (zh) * 2012-10-23 2018-02-13 奥林巴斯株式会社 摄像装置、内窥镜、半导体装置以及半导体装置的制造方法
CN104902802B (zh) * 2013-10-04 2017-03-15 奥林巴斯株式会社 内窥镜用摄像单元
WO2016166889A1 (ja) * 2015-04-17 2016-10-20 オリンパス株式会社 撮像装置
CN108697313A (zh) * 2016-03-15 2018-10-23 奥林巴斯株式会社 摄像装置、内窥镜和摄像装置的制造方法
WO2019077755A1 (ja) * 2017-10-20 2019-04-25 オリンパス株式会社 内視鏡先端部、内視鏡および内視鏡先端部の製造方法
CN111819835B (zh) 2018-03-22 2022-02-25 京瓷株式会社 相机模块
JP6697021B2 (ja) * 2018-04-03 2020-05-20 株式会社フジクラ 内視鏡

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008034505A (ja) * 2006-07-27 2008-02-14 Olympus Corp 固体撮像装置
JP2008109378A (ja) * 2006-10-25 2008-05-08 Matsushita Electric Ind Co Ltd 光学デバイスモジュールとその製造方法および光学デバイスユニットとその製造方法

Family Cites Families (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4717345A (en) * 1985-07-22 1988-01-05 Rogers Corporation Solderless connector technique and apparatus
US6028365A (en) * 1998-03-30 2000-02-22 Micron Technology, Inc. Integrated circuit package and method of fabrication
JP2001210919A (ja) * 1999-11-17 2001-08-03 Sharp Corp フレキシブル配線板およびそれを用いた電子機器
US7417292B2 (en) * 2003-09-23 2008-08-26 Finisar Corporation Arrangement for connecting the terminal contacts of an optoelectronic component to a printed circuit board
JP3722223B2 (ja) * 2003-10-27 2005-11-30 セイコーエプソン株式会社 半導体装置及びその製造方法、電子モジュール並びに電子機器
DE102004012979B4 (de) * 2004-03-16 2009-05-20 Infineon Technologies Ag Kopplungssubstrat für Halbleiterbauteile, Anordnungen mit dem Kopplungssubstrat, Kopplungssubstratstreifen, Verfahren zur Herstellung dieser Gegenstände und Verfahren zur Herstellung eines Halbleitermoduls
JP5026690B2 (ja) * 2005-11-21 2012-09-12 株式会社ジャパンディスプレイイースト 表示装置
US7388756B1 (en) * 2006-12-12 2008-06-17 The Boeing Company Method and system for angled RF connection using a flexible substrate
JP2008270650A (ja) 2007-04-24 2008-11-06 Matsushita Electric Ind Co Ltd 光学デバイスおよびその製造方法。
JP4799542B2 (ja) 2007-12-27 2011-10-26 株式会社東芝 半導体パッケージ

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008034505A (ja) * 2006-07-27 2008-02-14 Olympus Corp 固体撮像装置
JP2008109378A (ja) * 2006-10-25 2008-05-08 Matsushita Electric Ind Co Ltd 光学デバイスモジュールとその製造方法および光学デバイスユニットとその製造方法

Cited By (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2013098182A (ja) * 2011-10-27 2013-05-20 Olympus Medical Systems Corp 撮像ユニット、内視鏡及び撮像ユニットの製造方法
US9520428B2 (en) 2013-04-26 2016-12-13 Olympus Corporation Image pickup apparatus
WO2014174994A1 (ja) 2013-04-26 2014-10-30 オリンパス株式会社 撮像装置
WO2015019671A1 (ja) * 2013-08-05 2015-02-12 オリンパスメディカルシステムズ株式会社 内視鏡用撮像ユニット
US9462933B2 (en) 2013-08-05 2016-10-11 Olympus Corporation Image pickup unit for endoscope
CN107205625A (zh) * 2015-01-15 2017-09-26 奥林巴斯株式会社 内窥镜和摄像装置
US9854145B2 (en) 2015-02-28 2017-12-26 Scholly Fiberoptic Gmbh Method for producing a camera module, and camera module, where functional units are formed on a common board
DE102015002534B4 (de) * 2015-02-28 2016-10-06 Schölly Fiberoptic GmbH Verfahren zur Fertigung eines Kameramoduls und Kameramodul
DE102015002534A1 (de) * 2015-02-28 2016-09-01 Schölly Fiberoptic GmbH Verfahren zur Fertigung eines Kameramoduls und Kameramodul
WO2016166891A1 (ja) * 2015-04-17 2016-10-20 オリンパス株式会社 撮像装置
US10440243B2 (en) 2015-04-17 2019-10-08 Olympus Corporation Image pickup apparatus
WO2020137384A1 (ja) * 2018-12-26 2020-07-02 株式会社フジクラ 撮像モジュール
US11826025B2 (en) 2018-12-26 2023-11-28 Fujikura Ltd. Imaging module

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Publication number Publication date
JP5452273B2 (ja) 2014-03-26
US8471392B2 (en) 2013-06-25
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