JP2011103165A - 可変ミラーアクチュエータ - Google Patents

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Abstract

【課題】曲率可変ミラーにおいて小型かつ簡易な制御で多様な球面収差を補正できる可変ミラーアクチュエータを提供する。
【解決手段】本発明に関わる可変ミラーアクチュエータは、照射される光を反射する反射部材17と、磁界が加えられることで、反射部材17に撓む力を付与する磁性力付与部材18と、電流が印加されることにより、磁性力付与部材18に磁界を加えて反射部材17を所望形状に撓ませる電磁石構造体D1とを備える。
電磁石構造体D1に印加する電流により磁性力付与部材18に引力を与え、それに伴い反射部材17は理想的なパラボラ形状に撓み、照射された光の強度分布を変化させ、球面収差を補正することができる。
【選択図】図2

Description

本発明は、ミラー面の変形を可能とし、可変焦点ミラーや収差補正ミラーなどの光学特性の可変な素子を有する可変ミラーアクチュエータに関する。
近年、インターネットの普及や画像の高画質化等に伴う電子情報量の増加により、主要な情報記録媒体の1つである光ディスクは高密度化の一途をたどっている。高密度化は、一般に対物レンズの開口数増加と波長を短波長化することによる集光した光スポットサイズの縮小、記録層を多層化する方式などが採用されている。
しかし、開口数の増加に伴い、ディスク面と記録層間距離の誤差変動によって生じる球面収差が急激に増大する。また、記録層多層化によりディスク面と各記録層間距離は数10マイクロメートル異なるため、正常な記録・再生動作を実現するためにはこれらにより生じる球面収差を補正する機構が必須となる。
特許文献1に記載の光ピックアップでは、球面収差を補正するレンズをアクチュエータにより光軸方向に平行に移動させる技術が開示されている。
図15は、従来の収差補正機構223を有する光ピックアップの光学系の1例を示す図である。
光ディスク212の記録層211の位置変化(記録層211aと記録層211bの位置変化)等による球面収差の変化を補正するため、従来、対物レンズ209に入射するレーザ光源207からのレーザビームの発散角度を、レンズ221光軸方向の位置をモータ222を使用した一軸アクチュエータを用いて、変位させることにより行っている。
また、特許文献2に記載の光ピックアップでは、光の位相差を発生させる透過型液晶素子を用い、ディテクタからの信号により球面収差を補正する技術が開示されている。
さらに、特許文献3に記載の光ピックアップでは、対物レンズへレーザビームを反射する反射ミラーの反射面をパラボラ状に撓ませ、対物レンズに入射するレーザビームの強度分布パターンを変えることにより球面収差を補正する技術が公開されている。
特開平13−45067号公報 特開平12−57616号公報 特開2006−155850号公報
しかしながら、特許文献1に示した例では、次世代光記録の多層化に伴い、さらに大きな球面収差が生じるため、その補正にはレンズの光軸方向へのさらに大きな平行移動が必要となる。例えば、4層以上になると、補正のためにレンズを光軸方向へ数cm移動させねばならない場合がある。また、本構造では、球面収差補正機構が複雑であり、設置スペースが大きくなる。そのため、小型・薄型化が必須である光ピックアップでは、部品配置スペース確保が困難になるという問題がある。
また、特許文献2に示した例では、液晶素子が使用環境温度によって、電圧−光透過度の特性が異なる問題があり、また、球面収差補正には液晶素子に多数の電極が必要であり、さらに、制御が困難で光ピックアップ全体の電極数が増大するという解決すべき課題がある。
一方、特許文献3に示した例では、可変ミラーの駆動電極は少なく、また球面収差補正アクチュエータと反射ミラーの機能を融合させているため小型化に適しているが、断面形状が複雑な反射ミラーの製作には多数の加工を要するため、コストが高くなる。また、ミラーの撓みによりミラー中心と端では電極間距離が異なり、そのため変形力をミラーに均一に加えることが困難であるという解決すべき課題がある。
本発明は以上の問題に鑑み、曲率可変ミラーにおいて小型かつ簡易な制御で多様な球面収差を補正できる可変ミラーアクチュエータの提供を目的とする。
上記目的を達成するため、本発明の可変ミラーアクチュエータは、照射される光を反射する反射部材と、磁界が加えられることで、前記反射部材に撓む力を付与する磁性力付与部材と、電流が印加されることにより、前記磁性力付与部材に前記磁界を加えて前記反射部材を所望形状に撓ませる電磁石構造体とを備えている。
本発明によれば、曲率可変ミラーにおいて小型かつ簡易な制御で多様な球面収差を補正できる可変ミラーアクチュエータを実現できる。
第1実施形態の焦点可変レンズ装置の可変ミラーアクチュエータを組み込んだ光ピックアップの光学系の概略図である。 (a)は、第1実施形態の可変ミラーアクチュエータを例示した軸方向の縦断面図であり、(b)は、反射膜と一体に形成される変形膜と変形膜に固定される磁性体を(a)図のA方向から見た図である。 第2実施形態の可変ミラーアクチュエータを組み込んだ光ピックアップの光学系の概略の一例を示す図である。 (a)は、第2の実施形態の可変ミラーアクチュエータを例示した軸方向の縦断面図であり、(b)は、反射膜と一体に形成される変形膜と変形膜に固定されるリング状磁性体を(a)図のB方向から見た図である。 第3実施形態の可変ミラーアクチュエータを例示した軸方向の縦断面図である。 第4実施形態の可変ミラーアクチュエータを例示した軸方向の縦断面図である。 (a)は、第5実施形態の可変ミラーアクチュエータのリング状磁性体、変形膜、および反射膜を有する反射体を示す下面図であり、(b)は、(a)図のC−C線断面図である。 (a)は、第6実施形態の可変ミラーアクチュエータのリング状磁性体、変形膜、および反射膜を有する反射体を示す下面図であり、(b)は、(a)図のD−D線断面図であり、(c)は、(a)図のE−E線断面図である。 (a)は、第7実施形態の可変ミラーアクチュエータを例示した軸方向の縦断面図であり、(b)は、反射膜と一体に形成される変形膜を(a)図のF方向から見た図である。 (a)は、第8実施形態の可変ミラーアクチュエータを例示した軸方向の縦断面図であり、(b)は、反射膜と一体に形成される変形膜とこれに固定されるリング状磁性体を(a)図のG方向から見た図である。 第9実施形態の可変ミラーアクチュエータのリング状磁性体、変形膜、および反射膜を有する反射体を示す下面図である。 リング状磁性体に磁力を加えた場合のミラー中心(反射膜27の中心)からの距離に対するミラーの変位量を表した図である。 ミラー中心(反射膜の中心)からの距離に対するミラー(反射膜)表面形状と理想放物曲線との偏差を表した図である。 (a)は、第10実施形態の可変ミラーアクチュエータを例示した軸方向の縦断面図であり、(b)は、(a)のホルダと導線を(a)図のH方向から見た図である。 従来の収差補正機構を有する光ピックアップの光学系の1例を示す図である。
以下、本発明の実施形態について添付図面を参照して説明する。
<<第1実施形態>>
図1は、第1実施形態の焦点可変レンズ装置の可変ミラーアクチュエータA1を組み込んだ光ピックアップP1の光学系の概略の一例を示している。
第1実施形態の可変ミラーアクチュエータA1は、レーザビームを反射する反射ミラー(反射膜17)の反射面を任意に変形させ、球面収差補正を可能とするものである。
光ピックアップP1は、光ピックアップP1に装着される複数の記録層11(11a、11b)が形成された光ディスク12と、光ディスク12の記録層11に照射するレーザビームを発光するレーザ光源7と、光ディスク12の記録層11で反射されたレーザビームを検出するディテクタ1とを備えている。
光ピックアップP1は、レーザ光源7から光ディスク12の記録層11を介してのディテクタ1までのレーザビームの光路に、レーザ光源7や光ディスク12の記録層11からのレーザビームを反射と透過で分割する偏光ビームスプリッタ3と、偏光ビームスプリッタ3で反射されたレーザ光源7からのレーザビームを光ディスク12の記録層11に向けて反射するとともに記録層11で反射されたレーザビームをディテクタ1に向けて反射する可変ミラーアクチュエータA1と、直線偏光を円偏光に変換する1/4波長板8と、レンズアクチュエータ10により光軸方向に移動され光ディスク12の記録層11に対してレーザビームを集光する対物レンズ9と、記録層11で反射されたレーザビームをディテクタ1に対して集光する集光レンズ2とを備えている。
なお、光ピックアップP1のレーザ光源7と偏光ビームスプリッタ3との間には、レーザ光源7からのレーザビームを平行光とするコリメートレンズ6と、コリメートレンズ6でコリメートされたレーザビームを分割するグレーティング5とを備えている。
<可変ミラーアクチュエータA1>
図2(a)は、図1の可変ミラーアクチュエータA1を例示した軸方向の縦断面図であり、図2(b)は、可変ミラーアクチュエータA1の反射膜17と一体に形成される変形膜16と変形膜16に固定されるリング状磁性体18を図2(a)のA方向から見た図である。
可変ミラーアクチュエータA1において、図1に示すように、レーザビームを反射する反射膜17は、レーザビームを反射する材料、例えば、アルミ、銀等の金属、S、Tを含む誘電体多層膜等を用いて、平板状に形成されている。このように、反射膜17は金属などの単層膜でもよいし、誘電体などを用いた多層膜反射膜でもよいし、限定されない。
ここで、レーザビームは、円形の横断面を有し、反射膜17に対して45度の角度で入射するため、反射膜17は、反射膜17で反射したレーザビームが反射前と同様な円形の横断面となるようなレーザビーム進行方向に長い楕円形の平板状に形成されている。
反射膜17は、図2に示すように、反射膜17と同形状の楕円形の例えばシリコン基板等の変形膜16の一方面上に積層されている。なお、変形膜16は、変形可能な部材であれば、シリコン基板以外のもので構成してもよく、シリコン基板に限定されない。
変形膜16の他方面上には、反射膜17を反射前と同様なレーザビームに反射するようなパラボラ状に撓ませるため、リング状磁性体18が積層され固定されている。なお、リング状磁性体18は反射膜上に積層され固定されても良い。
リング状磁性体18は、磁性体を用いて構成されている。そして、リング状磁性体18は、図1に示すように、レーザビームが反射膜17に対して45度の角度で入射するため、反射膜17で反射したレーザビームが反射前と同様な円形の横断面となるように、反射膜17、変形膜16と同様、レーザビームの進行方向に長い楕円形のリング形状に形成されている。リング状磁性体18は、それ自身の剛性により変形膜16の変形を阻害しないため、低剛性の構造がより望ましい。
なお、リング状磁性体18は、例えばフォトレジストに磁性粉体を分散させた複合材料でもよく、磁界によって磁力を強く受ける材料であれば、限定されない。
このように、反射膜17が変形膜16の一方面上に積層されるとともに、変形膜16の他方面上にリング状磁性体18が積層された複数の積層物を有するリング構造を、以下、反射体17T(図2参照)と称する。
図2(a)に示すように、可変ミラーアクチュエータA1においては、反射体17Tが、反射膜17、変形膜16と同様な楕円形の外周形状を有するリング状のスペーサ15を介して、電磁石D1の上に設けられている。
スペーサ15は、樹脂等の非磁性体が望ましく、変形膜16と一体に形成してもよい。なお、スペーサ15は、可変ミラーアクチュエータA1の性能が劣化しなければ磁性体で形成してもよい。
電磁石D1は、磁性体のヨーク14と、その中央部を形成するヨーク中央部14cの周りに複数回巻線されるコイル13とを備えている。
電磁石D1のヨーク14は、リング状磁性体18と同様な楕円形の楕円柱状のヨーク中央部14cと、ヨーク中央部14cの下部外周に連続して形成されるヨーク周辺部14sとを有している。ヨーク周辺部14sは、軸方向断面が内方に開口したコ字状を有し、反射膜17、変形膜16(図2(b)参照)と同様な楕円形の外周形状を有している。
なお、ヨーク14は、鋼板の薄板を複数枚積層した鉄心、フェライト、コバルト等で形成される。
本構成の可変ミラーアクチュエータA1は、電磁石D1のコイル13に電流を印加することにより、ヨーク14に強い磁界を発生させ、反射体17Tのリング状磁性体18を引き付けることで、図2(a)の二点鎖線に示すように、変形膜16、反射膜17を共にパラボラ状に撓ませている。このように、反射膜17を収差補正に好適なパラボラ状に撓ませることにより、反射膜17で反射されたレーザビームの発散角度を制御する。これにより、記録層11の位置が、図1に示す記録層11aの位置p1と記録層11bの位置p2とに変わることにより発生するレーザビームの球面収差を補正している。
ここで、ヨーク14の構造は、コイル13の内方にのみ形成される単純な楕円柱形状のヨーク中央部14cだけの構成よりも、図2(a)に示すコイル13の外周外方領域に同心楕円状のヨーク周辺部14を連結付加する構成の方が、コイル13周りの磁力線の密度が高くなり、よりリング状磁性体18に働く磁力を強くできるため、より望ましい。
例えば、図2(a)に示すように、断面コ字状のヨーク周辺部14sにヨーク周辺上部14s1を形成することで、コイル13周りに形成される磁界をより高密度にでき、リング状磁性体18に、より強い磁力を付与できる。
なお、ヨーク14は、ヨーク中央部14cだけで構成してもよいのは勿論である。
<光ディスク12の記録層11からの記録の読み取り>
次に、光ピックアップP1に装着された光ディスク12の記録層11からのレーザビームによる記録(信号)の読み取りについて、記録層11bからの読み取りを例に説明する。なお、記録層11aからの記録(信号)の読み取りも同様である。
図1に示すように、光ディスク12の記録層11bに記録されたピットを電気信号として読み取るため、レーザ光源7から出射されたレーザビームは、コリメートレンズ6でコリメートされ、グレーティング5を透過した後、偏光ビームスプリッタ3で可変ミラーアクチュエータA1に向けて反射される。なお、レーザ光源7から出射されたレーザビームの一部は偏光ビームスプリッタ3を透過し、フロントモニタ4で受光され、レーザ光源7の発光強度がモニタされる。
そして、偏光ビームスプリッタ3で反射されたレーザビームは、可変ミラーアクチュエータA1の反射膜17で反射され、その後、1/4波長板8を透過し円偏光に変換され、対物レンズ9により記録膜11b上に集光され、記録膜11bから反射される。記録膜11bで反射されたレーザビームは、再び対物レンズ9を透過してコリメート光に変換された後、1/4波長板8を透過し直線偏光に変換され、可変ミラーアクチュエータの反射膜17によって偏光ビームスプリッタ3に向けて反射される。
反射膜17で反射されたレーザビームは、偏光ビームスプリッタ3を透過し、集光レンズ2によりディテクタ1上に集光され、ディテクタ1に入射される光量が、電気信号に変換される。
この際、光ディスク12の記録層11(11aまたは11b)上に、対物レンズ9のレーザビームの焦点位置を合わせるため、ディテクタ1で受光したレーザビームの情報を元に、制御回路C1で演算した対物レンズ9の移動量を示す信号に基づき、レンズ駆動回路C2から駆動電流をレンズアクチュエータ10に流す。これにより、レンズアクチュエータ10は、対物レンズ9を光軸または、光軸と直角方向に光ディスク12の記録層11に対して並進または回転させる。
また、ディテクタ1で受光した情報を元に、制御回路C1で演算した反射膜17の撓み量を示す信号に基づき、ミラー駆動回路C3から、電流を可変ミラーアクチュエータA1のコイル13に印加する。
これにより、可変ミラーアクチュエータA1は、コイル13に流れる電流により、ヨーク14の中心部に強い磁界を発生させ、反射体17Tのリング状磁性体18を、図2(a)の二点鎖線で示すように電磁石D1に向けて引き付ける。これに伴い、電磁石D1にスペーサ15を介して支持される反射体17Tの変形膜16、反射膜17がパラボラ状に撓む。
このように、可変ミラーアクチュエータA1のコイル13に電流を流すことで反射膜17を所望のパラボラ状に撓ませ、反射膜17で反射されたレーザビームの発散角度を、コイル13の電流の大小で制御し、記録層11の位置が、位置P1(記録層11a)と位置P2(記録層11b)とに変わることにより生ずるレーザビームの球面収差を補正している。
<<第2実施形態>>
次に、第2実施形態の可変ミラーアクチュエータA2について、図3、図4を用いて説明する。
図3は、第2実施形態の可変ミラーアクチュエータA2を組み込んだ光ピックアップP2の光学系の概略の一例を示す図である。
図4(a)は、第2実施形態の可変ミラーアクチュエータA2を例示した軸方向の縦断面図であり、図4(b)は、可変ミラーアクチュエータA2の反射膜27と一体に形成される変形膜26と変形膜26に固定されるリング状磁性体28を図4(a)のB方向から見た図である。
図3に示す第2実施形態の光ピックアップP2は、基本的な構成は第1実施形態の光ピックアップP1(図1参照)と同様であるが、第1実施形態の可変ミラーアクチュエータA1の配置を、レーザビームが垂直に入射する可変ミラーアクチュエータA2として異ならせたものである。これに伴い、第2実施形態の可変ミラーアクチュエータA2は、第1実施形態の可変ミラーアクチュエータA1の構成と異ならせている。
その他の構成は、第1実施形態の可変ミラーアクチュエータA1と同様な構成であるので、詳細な説明は省略する。
なお、図3、図4においては、可変ミラーアクチュエータA2の各構成要素の符号を20番台の符号を付して示している。
以下、第2実施形態の光ピックアップP2の第1実施形態と異なる構造を詳細に説明する。
第2実施形態の光ピックアップP2は、図1に示す第1実施形態の光学系においてグレーティング5と対物レンズ9との間にある光学系を異ならせている。
図3に示す光ピックアップP2において、レーザ光源7から発光され一部がビームスプリッタ19で反射されたレーザビームは、偏光ビームスプリッタ3を透過し、1/4波長板8を透過し円偏光とされる。この1/4波長板8を透過したレーザビームは、可変ミラーアクチュエータA2の反射膜27で反射され、再び1/4波長板8を透過し直線偏光とされた後、偏光ビームスプリッタ3で光ディスク12の記録層11に向けて反射される。
偏光ビームスプリッタ3で反射されたレーザビームは、対物レンズ9を透過し集光され、記録膜11(11aまたは11b)で反射される。反射されたレーザビームは、再び対物レンズ9を透過し平行光とされ、偏光ビームスプリッタ3で反射され、1/4波長板8を透過し円偏光とされる。そして、可変ミラーアクチュエータA2の反射膜27で再び反射されたレーザビームは、1/4波長板8を透過し直線偏光とされ、さらに、偏光ビームスプリッタ3を透過し、ビームスプリッタ19に向けて照射され、一部が透過して集光レンズ2によりディテクタ1に集光される。
光ピックアップP2の光学系では、レーザビームは、可変ミラーアクチュエータA2の反射ミラー27に対して垂直に入射・反射する。そのため、反射ミラー27に照射されるレーザビームは円形となる。
そこで、第2実施形態の可変ミラーアクチュエータA2は、第1実施形態の楕円柱状の可変ミラーアクチュエータA1を、円柱形状に形成したものである。これ以外の構成は第1実施形態の可変ミラーアクチュエータA1と同様である。
図4に示すように、第2実施形態の可変ミラーアクチュエータA2においては、反射膜27が円形の平板状に形成され、変形膜26が、反射膜27と同形状の円形の平板状に形成されている。そして、変形膜26に固定されるリング状磁性体28は、円形のリング形状に形成される。これにより、図4(b)に示すように、反射体27Tは、円形の平板状に形成されている。
図4(a)に示すように、反射体27Tは、変形膜26、反射膜27と同形状の外周形状をもつ円形のリング状のスペーサ25を介して、円柱状の電磁石D2に設置される。
電磁石D2は、リング状磁性体28と同様な円形の円柱状のヨーク中央部24cとその下部外周に連続して形成される軸方向断面が内方に開口したコ字状の磁性体のヨーク周辺部24sとを有する略円柱形状のヨーク24を備えている。
そして、電磁石D2のヨーク24の円柱状のヨーク中央部24cの周りには、コイル23が複数回巻線されている。
なお、図4(a)における寸法tは、リング状磁性体28とヨーク24との間の空隙の寸法を示しており、また、図4(b)における寸法W1は、円形のリング状磁性体28の内径の半径寸法を示しており、図4(b)における寸法W2は、円形のリング状のスペーサ25の内径の半径寸法を示している。
第2実施形態の可変ミラーアクチュエータA2によれば、第1実施形態の可変ミラーアクチュエータA1で用いる図2の楕円形ミラーの反射膜17と異なり、反射膜27が円形状とでき、ミラーサイズを小さくすることが可能である。
また、可変ミラーアクチュエータA2は、円柱状に製作できるので製造が容易である。また、反射膜27を変形させる制御回路C1、ミラー駆動回路C3による制御が容易となる。なお、リング状磁性体28は反射膜上に積層され固定されても良い。
<<第3実施形態>>
次に、第3実施形態の可変ミラーアクチュエータA3について、図5を用いて説明する。
図5は、第3実施形態の可変ミラーアクチュエータA3を例示した軸方向の縦断面図である。
第3実施形態の光ピックアップの基本的な構成は、第1、2実施形態の光ピックアップP1、P2(図1参照、図3参照)と同様であり、第1、2実施形態の可変ミラーアクチュエータA1、A2のヨーク14、ヨーク24(図2(a)、図4(a)参照)の形状が異なるものである。
その他の構成は、第1、2実施形態の可変ミラーアクチュエータA1、A2と同様な構成であるので、詳細な説明は省略する。
なお、図5においては、可変ミラーアクチュエータA3の各構成要素の符号を30番台の符号を付して示している。
以下、第1、2実施形態の可変ミラーアクチュエータA1、A2のヨーク14、24と異なる構造を説明する。
図5に示す第3実施形態の可変ミラーアクチュエータA3は、第1実施形態のヨーク14と同様な楕円柱形状のヨーク34の場合(図2参照)は、コイル33の内径側のヨーク34の中心部を楕円柱状の空洞34kとしている。
一方、第2実施形態のヨーク24と同様な円柱形状のヨーク34の場合(図4参照)は、コイル33の内径側のヨーク34の中心部を円柱状の空洞34kとしている。
これにより、コイル33の内径側のヨーク34に流れる磁束が、コイル33の内側のヨーク中央部34cにより集中し、結果として、リング状磁性体38を通る磁束密度が高くなる。従って、リング状磁性体38への電磁石D3の引力が向上する効果を奏する。
<<第4実施形態>>
次に、第4実施形態の可変ミラーアクチュエータA4について、図6を用いて説明する。
図6は、第4実施形態の可変ミラーアクチュエータA4を例示した軸方向の縦断面図である。
第4実施形態の光ピックアップの基本的な構成は、第1、2実施形態の光ピックアップP1、P2(図1、図3参照)と同様であり、図6に示す可変ミラーアクチュエータA4のヨーク44aの形状を、第1、2実施形態の可変ミラーアクチュエータA1、A2のヨーク14、24(図2(a)、図4(a)参照)の形状と異ならせたものである。
その他の構成は、第1、2実施形態の可変ミラーアクチュエータA1、A2と同様な構成であるので、詳細な説明は省略する。
なお、図6においては、可変ミラーアクチュエータA4の各構成要素の符号を40番台の符号を付して示している。
以下、第1、2実施形態の可変ミラーアクチュエータA1、A2のヨーク14、24と異なる構造を説明する。
第4実施形態の可変ミラーアクチュエータA4は、第1、第2実施形態の楕円柱形状または円柱形状のヨーク14、24を、コイル43の内周部のヨーク44aを鉄心、フェライト等の磁性体で形成する一方、コイル43外周部の箇所を例えば樹脂などの別材料の構造体のホルダ44Hで構成している。
ここで、ヨーク44aと別体の構造体であるホルダ44Hに、第1、2実施形態のスペーサ15、25(図2(a)、図4(a)参照)に相当する構造を一体に形成している。
これにより、第1、2実施形態の可変ミラーアクチュエータA1、A2のヨーク14、24の箇所を、ヨーク44aとホルダ44Hとの構造とすることが可能である。
また、ホルダ44Hに加工容易な材料を用いることにより、加工の容易化が行える。
また、光ピックアップの樹脂の基本支持部材であるベース部材と一体にホルダ44Hを形成することが可能となり、光学系への適合性が向上する。
<<第5実施形態>>
次に、第5実施形態の可変ミラーアクチュエータについて、図7を用いて説明する。
図7(a)は、第5実施形態の可変ミラーアクチュエータのリング状磁性体58、変形膜56、および反射膜57を有する反射体57Tを示す下面図(図2(a)のA方向矢視図)であり、図7(b)は、図7(a)のC−C線断面図である。
第5実施形態の光ピックアップの基本的な構成は、第1、2実施形態の光ピックアップP1、P2(図1、図3参照)と同様であり、図7に示す可変ミラーアクチュエータの変形膜56の形状を、第1、2実施形態の可変ミラーアクチュエータA1、A2の変形膜16、26(図2、図4参照)の形状と異ならせたものである。
その他の構成は、第1、2実施形態の可変ミラーアクチュエータA1、A2と同様な構成であるので、詳細な説明は省略する。
なお、図7においては、可変ミラーアクチュエータの反射体57Tの各構成要素の符号を50番台の符号を付して示している。
以下、第1、2実施形態の可変ミラーアクチュエータA1、A2の変形膜16、26と異なる構造を説明する。
図7に示す第5実施形態の可変ミラーアクチュエータの変形膜56は、第1、第2実施形態の単一膜厚の変形膜16、26に対して、リング状磁性体58の外周外方の領域において、同心円状に膜厚の厚い領域56a(56a1、56a2、56a3)と薄い領域56b(56b1、56b2、56b3、56b4)が交互に周期的に形成されている。
変形膜56の厚い領域56aと薄い領域56bとの各1周期内での膜厚の厚い領域56aの割合は、ミラー中心、すなわち反射膜57の中心から離隔するに従い低下し、それに伴い、ミラー中心(反射膜57の中心)から離隔するに従い、ミラーを構成する反射体57Tの実効的な剛性が低下している。
そのため、膜厚の厚い領域56aと薄い領域56bとの各1周期内での厚い領域56aの割合を最適化することにより、リング状磁性体58に働く磁力によって、反射体57Tを理想的なパラボラ形状に変形させることができる。
なお、第5実施形態においては、円形状のリング状磁性体58、変形膜56、反射膜57を有する反射体57Tを例示して説明したが、第1実施形態の可変ミラーアクチュエータA1(図2参照)のように、楕円形状のリング状磁性体18、変形膜16、反射膜17を有する反射体17Tにも同様に適用できることは勿論である。
また、リング状磁性体58は反射膜上に積層され固定されても良い。
<<第6実施形態>>
次に、第6実施形態の可変ミラーアクチュエータについて、図8を用いて説明する。
図8(a)は、第6実施形態の可変ミラーアクチュエータのリング状磁性体68、変形膜66、および反射膜67を有する反射体67Tの下面図(図2(a)のA方向矢視図に相当)であり、図8(b)は、図8(a)のD−D線断面図であり、図8(c)は、図8(a)のE−E線断面図である。
第6実施形態の光ピックアップの基本的な構成は、第1、2実施形態の光ピックアップP1、P2(図1、図3参照)と同様であり、図8に示す可変ミラーアクチュエータの変形膜66の形状を、第1、2実施形態の可変ミラーアクチュエータA1、A2の変形膜16、26(図2(a)、図4(a)参照)の形状と異ならせたものである。
その他の構成は、第1、2実施形態の可変ミラーアクチュエータA1、A2と同様な構成であるので、詳細な説明は省略する。
なお、図8においては、可変ミラーアクチュエータの反射体67Tの各構成要素の符号を60番台の符号を付して示している。
以下、第1、2実施形態の可変ミラーアクチュエータA1、A2の変形膜16、26と異なる構造を説明する。
図8に示す第6実施形態の可変ミラーアクチュエータの変形膜66は、第1、第2実施形態の単一膜厚の変形膜16、26(図2、図4参照)と比べ、リング状磁性体68の外周外方領域に、膜厚が薄い領域66bの間に膜厚が厚い領域66aが放射状に広がる構成である。そして、膜厚が厚い領域66aは、変形膜66における中心部に近づくに従いの幅が広くなる一方、外周に近づくに従って幅が狭くなるように形成されている。
これにより、ミラー中心(反射膜67の中心)から離隔するに従って、ミラーを形成する反射体67Tの実効的な剛性が低下する。
そのため、変形膜66における放射状に膜厚が厚い領域66aが広がる構造を最適化することにより、リング状磁性体68に働く磁力によって、反射体67Tを理想的なパラボラ形状に変形させることができる。
なお、第6実施形態においては、円形状のリング状磁性体68、変形膜66、反射膜67を有する反射体67Tを例示して説明したが、第1実施形態の可変ミラーアクチュエータA1(図2参照)のように、楕円形状のリング状磁性体18、変形膜16、反射膜17を有する楕円形状の反射体17Tにも同様に適用できることは勿論である。
<<第7実施形態>>
次に、第7実施形態の可変ミラーアクチュエータA7について、図9を用いて説明する。
図9(a)は、第7実施形態の可変ミラーアクチュエータA7を例示した軸方向の縦断面図であり、図9(b)は、可変ミラーアクチュエータA7の反射膜77と一体に形成される変形膜76を図9(a)のF方向から見た図である。
第7実施形態の光ピックアップの基本的な構成は、第1、2実施形態の光ピックアップP1、P2(図1、図3参照)と同様であり、図9(a)に示す可変ミラーアクチュエータA7は、第1、2実施形態の可変ミラーアクチュエータA1、A2のリング状磁性体18、28(図2(a)、図4(a)参照)の形状とミラー変形原理(反射体17T、27Tの変形原理)を異ならせたものである。
その他の構成は、第1、2実施形態の可変ミラーアクチュエータA1、A2と同様な構成であるので、詳細な説明は省略する。
以下、第1、2実施形態の可変ミラーアクチュエータA1、A2のリング状磁性体18、28およびミラー変形原理(反射体17T、27Tの変形原理)と異なる構造を説明する。
なお、図9においては、可変ミラーアクチュエータA7の各構成要素の符号を70番台の符号を付して示している。
第7実施形態の可変ミラーアクチュエータA7においては、例えば図2に示すリング状磁性体18に相当する磁性体リング78が、変形膜76に固定されない構成である。
そして、図9(a)に示すように、電磁石D7のヨーク74におけるコイル73周囲に形成された円筒形の溝部74mに、板厚の厚い短円筒状の磁性体リング78と、磁性体リング78を上方に押圧する圧縮コイルバネ78sとを有する構造体が配置されている。
この構造により、電磁石D7のコイル73に電流が流されていない定常時には、短円筒状の磁性体リング78は、圧縮コイルバネ78sから上方への押圧力を受けて上方(図9(a)の上方向)へ押し出され、変形膜76、反射膜77をパラボラ状に近い形状に変形させている(図9(a)の実線参照)。
この定常状態から、電磁石D7のコイル73に電流を印加すると、コイル73周りのヨーク74に発生する磁界が磁性体リング78を透過し、磁性体リング78が電磁石D7に近づく方向に引き込まれ、磁性体リング78の上方への押圧力が弱まるため、変形膜76、反射膜77が平板状に近い形状(図9(a)の二点鎖線参照)に復元する。
一方、コイル73への印加電流を低減すると、コイル73の周りのヨーク74に発生する磁界が弱くなり、磁性体リング78が受ける電磁石D7に近づく方向の磁力が弱まり、圧縮コイルバネ78sの上方への弾性力を受け、磁性体リング78が、変形膜76、反射膜77を上方(図9(a)の上方向)に押し出す。
このように、圧縮コイルバネ78sの弾性力によって、リング状の磁性体リング78が変形膜76にリング状に接触するとともに、可変ミラーアクチュエータA7を駆動させ電磁石D7のコイル73に電流を印加することにより、変形膜76を第1実施形態と同様に自在に撓ませることができ、反射膜77を所望のパラボラ形状とすることができる。
なお、第7実施形態においては、可変ミラーアクチュエータA7が円柱形状の場合を例示して説明したが、第1実施形態のように、楕円柱形状の場合(図2参照)も同様に適用可能であることは勿論である。
<<第8実施形態>>
次に、第8実施形態の可変ミラーアクチュエータA8について、図10を用いて説明する。
図10(a)は、第8実施形態の可変ミラーアクチュエータA8の構成を例示した軸方向の縦断面図であり、図10(b)は、可変ミラーアクチュエータA8の反射膜87と一体に形成される変形膜86とこれに固定されるリング状の良導電体88を図10(a)のG方向から見た図である。
図10に示す第8実施形態の光ピックアップの基本的な構成は、第1、2実施形態の光ピックアップP1、P2(図1、図3参照)と同様である。
第8実施形態の可変ミラーアクチュエータA8は、基本的な構造は第1、2実施形態の可変ミラーアクチュエータA1、A2と類似しているが、第1、2実施形態の可変ミラーアクチュエータA1、A2とそのミラー(反射膜17、27)駆動原理が異なる。
その他の構成は、第1、2実施形態の可変ミラーアクチュエータA1、A2と同様な構成であるので、詳細な説明は省略する。
なお、図10においては、可変ミラーアクチュエータA8の各構成要素の符号を80番台の符号を付して示している。
以下、第8実施形態の可変ミラーアクチュエータA8の第1、2実施形態の可変ミラーアクチュエータA1、A2とそのミラー(反射膜17、27)駆動原理が異なる構造を説明する。
第8実施形態の可変ミラーアクチュエータA8においては、反射膜87と一体の変形膜86に固定されるリング状磁性体に代替し、例えば金等のリング状の良導電体88(図10(b)参照)を設けている。リング状の良導電体88は、電磁石D8のコイル83の内周に面したヨーク84の外周面84aの外方領域に配置している。
そして、反射体87Tとヨーク84間の第1、2実施形態で例示したリング状のスペーサをなくし、ヨーク外周部84gをスペーサの領域まで延在して形成し、ヨーク外周部84gに反射体87Tを固定している。
本構成の可変ミラーアクチュエータA8は、電磁石D8のコイル83に駆動電流を流して、電磁誘導によるヨーク84内の磁束を変化させることにより、ヨーク84の外周面84aの外方に配置した図10(b)に示すリング状の良導電体88のリング内を透過する磁束の変化が発生する。これに伴い、リング状の良導電体88にはリング周回方向に誘導電流が誘起され、良導電体88のリング内を透過する磁束を打ち消す磁界が発生し、コイル83から発生した磁界と反発する力がリング状の良導電体88に働く。
これにより、変形膜86を第1、第2実施形態と同様に、好適なパラボラ状の形状に撓ませることができる。
なお、コイル83に印加する電流の駆動波形は、一定電流駆動では磁界変化がなく良導電体88に力が働かない。また、線形なサインカーブの電流駆動では良導電体88に働く力が相殺され、良導電体88の移動が阻害される現象が発生する。
そのため、コイル83に印加する電流は、良導電体88の移動が良好に行える三角波や正弦半波等の時間的に非線形な駆動波形が望ましい。
なお、第8実施形態においては、可変ミラーアクチュエータA8が円柱形状の場合を例示して説明したが、第1実施形態のように、楕円柱形状の場合も同様に適用可能であることは勿論である。
<<第9実施形態>>
次に、第9実施形態の可変ミラーアクチュエータについて、図11等を用いて説明する。
図11は、第9実施形態の可変ミラーアクチュエータのリング状磁性体98、変形膜96、および反射膜97を有する反射体97Tを示す下面図(図2(a)のA方向矢視図に相当)である。
第9実施形態の光ピックアップ(図示せず)の基本的な構成は、第1、2実施形態の光ピックアップP1、P2(図1、図2参照)と同様である。
第9実施形態の可変ミラーアクチュエータの反射体97Tは、第1、2実施形態の可変ミラーアクチュエータA1、A2のミラー形状(反射体17T、27Tの形状)と異なる。
その他の構成は、第1、2実施形態の可変ミラーアクチュエータA1、A2と同様な構成であるので、詳細な説明は省略する。
なお、図11においては、反射体97Tの各構成要素の符号を90番台の符号を付して示している。
以下、第1、2実施形態の可変ミラーアクチュエータA1、A2の反射体17T、27Tと異なる構造を説明する。
前記の第2実施形態における可変ミラーである反射体27Tは、図4に示すように、円形形状の単一膜厚の反射膜27と変形膜26上にリング状磁性体28が固定されている。可変ミラーである反射体27Tの下部に配置したコイル23とヨーク24により発生する磁界により、リング状磁性体28にはヨーク24に向けての引力が働き、この時のミラーを形成する反射体27Tの中心(反射膜27の中心)からの各距離におけるミラーの変位量は図12の実線L3で表される。
なお、図12は、第2実施形態のリング状磁性体28に磁力を加えた場合のミラー中心(反射膜27の中心)からの距離に対するミラー(反射膜27)の変位量を表した図であり、第2実施形態のミラー表面形状の変形を実線(L3)で表す一方、レーザビームを理想的に反射させるミラー表面形状の理想放物曲線を破線(L4)で示している。
図12によれば、第2実施形態の構造では、ミラーの変形はリング状磁性体28内周以内(図12のリング内周位置W1より左)では破線で示す理想的なパラボラ形状の理想放物曲線L4と整合性が高く、リング状磁性体28の外周外方領域(図12のリング内周位置W1より右かつミラー端位置W2までの領域)では、反射膜27の外周縁27e(図4参照)に近づくに従って次第に理想パラボラ形状の理想放物曲線L4から乖離する。
高精度な球面収差補正には、理想的なパラボラ形状の理想放物曲線L4とミラー(反射膜27)のミラー表面形状L3との乖離はナノメートルオーダー以下とする必要がある。
一方、可変ミラーアクチュエータA2は、光ピックアップP2(図3参照)に搭載するためには数マイクロメートル角程度の小型化の必要があり、それにより可変ミラーを形成する反射体27Tの下部に配置するコイル23とヨーク24によって発生する磁界により、リング状磁性体28に働く引力は非常に弱くなる。
他方で、変形膜26や反射膜27は、小型化に伴い断面係数が大きくなり剛性が向上するため、一般的には、図12に示すリング内周位置W1とミラー端位置W2との間隔を広くし、リング状磁性体28外周外方領域(図4(b)参照)の剛性を実効的に低下させる必要がある。つまり、可変ミラーアクチュエータA2の変形膜26および反射膜27の小型化と低剛性化は相反する現象となる。
そこで、図11に示す第9実施形態の反射体97Tでは、変形膜96および反射膜97のリング状磁性体98の外周外方領域96s、97sに、放射状に周期的に空隙99を形成している。外周外方領域96s、97sにおける一周期D1当たりの空隙99とする領域D2の割合を増加させることにより、リング状磁性体98外周外方領域96s、97sの剛性が実効的に低下するため、可変ミラーアクチュエータの変形膜96および反射膜97の小型化と低剛性化を両立させることができる。
なお、本第9実施形態における変形膜96と反射膜97の変形は、図11に示す梁構造部L1と空隙部L2の断面では剛性が異なるため、梁構造部L1と空隙部L2のそれぞれの位置におけるミラー表面形状と理想放物曲線との偏差は、図13に示すように、ミラーの中心からの距離が離れるに従い、理想放物曲線のライン(横軸の0.0のライン)からそれぞれ相反する方向に乖離する。
なお、図13は、ミラー中心(反射膜97の中心)からの距離に対するミラー(反射膜97)表面形状と理想放物曲線との偏差を表した図であり、図13のミラー表面形状と理想放物曲線との偏差(0.0)のラインは、ミラー表面形状と理想放物曲線との偏差が無いライン、すなわち理想放物曲線を表すラインを示している。
そのため、図11に示すリング状磁性体98の外周外方領域の空隙99とリング状磁性体98との間の距離W3や、梁構造部L1の数、空隙部L2の空隙99の大きさや数等を最適に設計することにより、リング内周位置W1と実質的にミラーを形成する端縁であるミラー端位置W2との間隔を広げることなく、リング状磁性体98の内周以内の領域およびリング状磁性体98の内周外方からミラー端位置W2までの領域で高精度に理想パラボラ形状の理想放物曲線に一致させることができる。
<<第10実施形態>>
次に、第10実施形態の可変ミラーアクチュエータA10について、図14を用いて説明する。
図14(a)は、第10実施形態の可変ミラーアクチュエータA10を例示した軸方向の縦断面図であり、図14(b)は、図14(a)に示すホルダ130と導線128を図14(a)のH方向から見た図である。
第10実施形態の光ピックアップ(図示せず)の基本的な構成は、第1、2実施形態の光ピックアップP1、P2(図1、図2参照)と同様であり、図14(a)に示す可変ミラーアクチュエータA10は、第1、2実施形態の可変ミラーアクチュエータA1、A2のヨーク14、24とコイル13、23と、異なる構成としたものである。
その他の構成は、第1、2実施形態の可変ミラーアクチュエータA1、A2と同様な構成であるので、詳細な説明は省略する。
なお、図14においては、可変ミラーアクチュエータA10の各構成要素の符号を100番台の符号を付して示している。
以下、第1、2実施形態の可変ミラーアクチュエータA1、A2と異なる構造を説明する。
図14に示す第10実施形態の可変ミラーアクチュエータA10のホルダ130は、上中央部に短円柱状の凹部130oが形成され、短円柱状に樹脂等を用いて形成されている。そして、ホルダ130の凹部130oには、反射体107Tのリング状磁性体108に磁界による引力を加えるための導線128が渦巻き状に配置されている。
本構成の可変ミラーアクチュエータA10は、ホルダ130内の凹部130oに渦巻き状に配置した導線128に電流を印加することにより、リング状磁性体108に引力を作用させる磁界を発生させ、この磁界によりリング状磁性体108を導線128に向けて引き付けることで、リング状磁性体108が固定される変形膜106、反射膜107を理想放物線に近似されるパラボラ状に変形させている。
第10実施形態によれば、導線128が平巻きのため、ホルダ130と導線128の構造が薄くでき、結果として第1、第2実施形態に比べ可変ミラーアクチュエータA10の全体の薄型化が可能である。
また、可変ミラーアクチュエータA10のホルダ130の形状も簡素化でき、生産性の向上が図れ、生産コストが低減できる。
なお、第10実施形態においては、渦巻き状の導線128を平面状に形成する場合を例示しているが、反射膜107を理想放物線に変形させる引力を作用させる磁界を発生できれば、渦巻き状の導線128を凹凸をもって形成しても構わない。また、リング状磁性体108は反射膜上に積層され固定されても良い。
<作用効果>
第1〜第10実施形態によれば、可変膜である変形膜16、…、106に固定された円形状若しくは楕円形状のリング状磁性体18、…、68、磁性体リング78、良導電体88、リング状磁性体98、108に、電磁石D1、…、D10から駆動力が作用すると、変形膜16、…、106に、円形状若しくは楕円形状のリング状磁性体18、…、68、磁性体リング78、良導電体88、リング状磁性体98、108のリング状の力分布が作用する。
これにより、リング状磁性体18、…、68、磁性体リング78、良導電体88、リング状磁性体98、108内の変形膜16、…、106および反射膜17、…、107を理想放物曲線形状に形成できる。
また、本構造ではリング状磁性体18、…、68、磁性体リング78、良導電体88、リング状磁性体98、108の中心から撓み量が同心円状または同心楕円状に同一となる。
そのため、可変膜の変形膜16、…、106および反射膜17、…、107が撓んで変形しても、リング状磁性体18、…、68、磁性体リング78、良導電体88、リング状磁性体98、108と電磁石D1、…、D10との距離は、リング状のどこでも同一となり、可変膜の変形膜16、…、106および反射膜17、…、107に応力分布が均一になる力を付与することができる。
また、リング状磁性体18、…、68、磁性体リング78、良導電体88、リング状磁性体98、108に作用する力は、電磁石D1、…、D10を駆動する電流値に依存するため、駆動電流値を制御することにより、球面収差を多段に補正することが可能である。
なお、第1〜第10実施形態においては、レーザ光源7からのレーザビームを横断面円形としたので、反射膜17等を円形または楕円形とする場合を例示したが、反射膜17から反射したレーザビームが円形になれば、必ずしも反射膜17等を円形または楕円形状としなくてもよい。また、レーザ光源7からのレーザビームの横断面を円形以外の形状とすれば、反射膜17等の形状を円形または楕円形としなくてもよい。なお、光学系等の扱いにおいては、レーザ光源7からのレーザビームの横断面は円形が好適であるので、反射膜17等の形状は、円形が最も望ましく、楕円形が好ましい。
また、第1〜第10実施形態においては、リング状に連続するリング状磁性体18、…、68、磁性体リング78、リング状磁性体98、108を例示したが、反射膜17、…、77、97、107を理想的な放物曲線形状に形成できれば、リング状磁性体18、…、68、磁性体リング78、リング状磁性体98、108は、必ずしもリング状に連続してなくともよい。
なお、第1〜第10実施形態においては、変形膜16、…、106を設ける場合を例示したが、反射膜17、…、107の強度が所定値以上に形成でき、かつ、反射膜17、…、67、87、…、107にリング状磁性体18、…、68、良導電体88、リング状磁性体98、108をそれぞれ接合でき、また、反射膜76に磁性体リング78を接触でき圧縮コイルバネ78sで反射膜76を押圧できれば、変形膜16、…、106を設けなくともよい。
また、第1〜第10実施形態においては、各構成を個別に説明したが、第1〜第10実施形態の構成を適宜組み合わせて構成してもよい。
13、23、33、43、73、83 コイル
14、24、34、44、54、64、74、84 ヨーク
16、26、36、46、56、66、76、86、96、106 変形膜(可変構造部材)
17、27、37、47、57、67、77、97、107 反射膜(反射部材)
18、28、38、48、58、68、98、108 リング状磁性体(磁性力付与部材)
34k 空洞(孔)
44H ホルダ
56a1、56a2、56a3 膜厚の厚い領域(凹凸構造)
56b1、56b2、56b3、56b4 膜厚の薄い領域(凹凸構造)
66a 膜厚の厚い領域(リブ構造)
78 磁性体リング(磁性力付与部材)
78s 圧縮コイルバネ(押圧部材)
88 良導電体(磁性力付与部材)
99 空隙(開口部)
128 導線
A1〜A10 可変ミラーアクチュエータ
D1〜D10 電磁石(電磁石構造体)

Claims (13)

  1. 照射される光を反射する反射部材と、
    磁界が加えられることで、前記反射部材に撓む力を付与する磁性力付与部材と、
    電流が印加されることにより、前記磁性力付与部材に前記磁界を加えて前記反射部材を所望形状に撓ませる電磁石構造体とを
    備えることを特徴とする可変ミラーアクチュエータ。
  2. 請求項1記載の可変ミラーアクチュエータにおいて、
    前記反射部材と前記磁性力付与部材とは、円形または楕円形状を有する
    ことを特徴とする可変ミラーアクチュエータ。
  3. 請求項1または請求項2記載の可変ミラーアクチュエータにおいて、
    前記反射部材と前記磁性力付与部材との間に、前記磁性力付与部材から力を受け前記反射部材を所望形状に撓ませる可変構造部材を設けた
    ことを特徴とする可変ミラーアクチュエータ。
  4. 請求項3記載の可変ミラーアクチュエータにおいて、
    前記可変構造部材は、前記磁性力付与部材の外周外方において、外周縁に近付くに従って凸部が小さく形成される同心の凹凸構造を有する
    ことを特徴とする可変ミラーアクチュエータ。
  5. 請求項3記載の可変ミラーアクチュエータにおいて、
    前記可変構造部材は、前記磁性力付与部材の外周外方において、放射状であって外周縁に近付くに従って細く形成される凸状のリブ構造を有する
    ことを特徴とする可変ミラーアクチュエータ。
  6. 請求項3から請求項5の何れか一項記載の可変ミラーアクチュエータにおいて、
    前記可変構造部材は、前記磁性力付与部材より外方の領域に開口部が形成され、
    前記可変構造部材の磁性力付与部材より外方の領域における前記開口部とそれ以外の領域の非開口部との割合は、前記反射部材が所望形状に撓むように決定される
    ことを特徴とする可変ミラーアクチュエータ。
  7. 請求項1から請求項6の何れか一項記載の可変ミラーアクチュエータにおいて、
    前記磁性力付与部材は、磁性体である
    ことを特徴とする可変ミラーアクチュエータ。
  8. 請求項1から請求項7の何れか一項記載の可変ミラーアクチュエータにおいて、
    前記磁性力付与部材は、リング形状の良導電体であり、前記電磁石から発生する磁界変化により、リング周回方向に誘導起電力とともに前記磁界変化に対する反力を発生する
    ことを特徴とする可変ミラーアクチュエータ。
  9. 請求項8記載の可変ミラーアクチュエータにおいて、
    前記電磁石に印加する電流は、三角波や正弦半波を含む時間的に非線形な波形の電流である
    ことを特徴とする可変ミラーアクチュエータ。
  10. 請求項1から請求項7の何れか一項記載の可変ミラーアクチュエータにおいて、
    前記磁性力付与部材は、磁性体であり、
    前記磁性力付与部材を押圧する押圧部材をさらに備え、
    前記電磁石構造体から発生する磁界による前記磁性力付与部材に対する引き込み力と、該引き込み力に反する方向の前記磁性力付与部材に対する前記押圧部材による押圧力とにより前記反射部材を所望形状に撓ませる
    ことを特徴とする可変ミラーアクチュエータ。
  11. 請求項1から請求項10の何れか一項記載の可変ミラーアクチュエータにおいて、
    前記電磁石構造体は、ヨークの中央部にコイルの巻線の軸方向に延在する孔が形成される
    ことを特徴とする可変ミラーアクチュエータ。
  12. 請求項1から請求項10の何れか一項記載の可変ミラーアクチュエータにおいて、
    前記電磁石構造体は、ヨークをコイルの内方の領域に形成した
    ことを特徴とする可変ミラーアクチュエータ。
  13. 請求項1から請求項7の何れか一項記載の可変ミラーアクチュエータにおいて、
    前記電磁石構造体は、前記電流が印加される渦巻き状の導線である
    ことを特徴とする可変ミラーアクチュエータ。
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