JP2011091275A - アライナ装置、及びそれを備える半導体処理設備 - Google Patents

アライナ装置、及びそれを備える半導体処理設備 Download PDF

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Abstract

【課題】 透過型センサを用いたアライメント装置であって、他の基板の影響を受けることがなく従来技術より正確に外縁形状を検出できるアライメント装置を提供する。
【解決手段】 アライナ装置1は、重ねて配置される2枚の半導体ウエハ10A,10Bをアライメントすることができるようになっている。アライナ装置1は、制御装置16を備えており、この制御装置16は、互いに異なる位置に配置される第1及び第2透過型センサ12,13を用いて2枚の半導体ウエハ10A,10Bの外縁形状を検出するようになっている。また、アライナ装置1は、移動ユニット21を有し、移動ユニット21は、2枚の半導体ウエハ10A,10Bの外縁部10aが第1及び第2透過型センサ12,13に夫々配置され、且つ第1及び第2透過型センサ12,13の各々おいて半導体ウエハ10A,10B同士が重ならないように半導体ウエハ10Bを動かすようになっている。
【選択図】 図1

Description

本発明は、重ねて配置される複数の基板を一緒にアライメントするアライナ装置、及びそれを備える半導体処理設備に関する。
半導体ウエハでは、前の工程の処理と後の工程の処置で方向を正確に合わせなければならないことがある。このような場合、後の工程の前に、アライナ装置によって、半導体ウエハの周方向の位置(即ち、角度位置)を予め調整(即ち、アライメント)しておくことが必要である。アライナ装置としては、半導体ウエハを一枚ずつアライメントするものが一般的であるが、2枚の半導体ウエハを同時にアライメントできるものがある。
2枚の半導体ウエハを同時にアライメントできるものとして、例えば、特許文献1に記載するようなアライメント装置がある。このアライメント装置では、2つ半導体ウエハが層状に重なって配置されている。各半導体ウエハの外周部には、ノッチが形成されており、アライメント装置は、ノッチを検出する2つのセンサを有している。2つのセンサは、最上層(例えば、第1層又第2層)及び最下層(第2層又は第3層)に配置された半導体ウエハの上方及び下方に夫々配置されている。2つのセンサは、反射型センサであり、最上層及び最下層の半導体ウエハに向かって光を照射して前記半導体ウエハからの反射光を受光するようになっており、受光量により半導体ウエハの外周部にあるノッチを検出するようになっている。アライメント装置は、ノッチを検出すると、そのノッチが周方向の特定位置にくるように半導体ウエハを旋回してアライメントを終了する
特開2008−300609号公報
反射型センサでは、一般的に、投光部が帯状のレーザ光を半導体ウエハに照射し、半導体ウエハで反射されたレーザ光を集光レンズにより受光部に集光し、集光された反射光の強弱(即ち、受光量)を検出するようになっている。ノッチが形成されている部分では反射光が少なく受光量が小さくなるため、受光量によりノッチの有無を検出することができるが、ガラス基板のような透明な基板の場合、基板からの反射光が少なく、ノッチの有無に起因する前記反射光の強弱の差が小さくなる。それ故、基板の外縁形状を検出することが難しく、基板のノッチの有無を検出ができないおそれがある。
このような透明な基板においてノッチの検出を可能にするために透過型センサを採用することが考えられる。この透過型センサでは、投光部と受光部とが互いに対向させて配置され、これら投光部と受光部との間に検出対象となる基板が配置される。この透過型センサは、投光部が帯状のレーザ光を基板に投光するようになっている。透明な基板の場合、投光部から投光されたレーザ光は、その殆どが基板を透過して受光部へと達するが、前記基板のエッジに当たるところだけが乱反射する。それ故、半導体ウエハのエッジと重なるところだけが受光することができず、レーザ光を受光できない位置を検出することで、基板の外縁形状を検出することができる。しかし、特許文献1に記載されるアライメント装置のように基板が2枚以上重ねられていると、下層及び上層の基板のうちのどちらの基板のエッジにより乱反射したか検出することは難しく、正確な基板の外縁形状を検出することができない。
そこで本発明は、透過型センサを用いたアライメント装置であって、他の基板の影響を受けることがなく従来技術より正確に外縁形状を検出できるアライメント装置を提供することを目的としている。
本発明のアライナ装置は、重ねて配置される複数の基板をアライメントするアライナ装置であって、互いに異なる位置に配置される複数の透過型センサを有し、該複数の透過型センサを用いて前記複数の基板の外縁形状を検出する検出手段と、前記複数の基板の外縁部を前記互いに異なる透過型センサに夫々くるように、且つ前記各透過型センサの位置にて基板同士が重ならないように前記複数の基板のうち少なくとも一つを動かす移動手段とを備えるものである。
本発明に従えば、透過型センサを採用するので、透明な基板であってもアライメントすることができる。また、移動手段により少なくとも一つの基板を動かして、各検出手段において基板同士が重ならないようにしているので、基板の外縁形状を検出する際に他の基板の影響を受けることがなく、従来技術より正確な外縁形状を検出することができる。
上記発明において、前記透過型センサは、投光部と受光部とを有し、前記投光部は、前記受光部に向かって帯状の光を投光し、前記受光部は、複数の受光領域を有し、前記複数の受光領域での前記帯状の光の受光を個別に認識でき、且つ前記投光部との間に基板が入れられるようになっており、前記検出手段は、前記基板により受光できなくなった前記受光領域に基づき前記基板の外縁形状を検出するようになっていることが好ましい。
上記構成に従えば、投光部と受光部との間に基板が介在すると、基板に覆われた受光領域では受光しなくなる。それ故、この受光しなくなった受光領域の位置の位置に基づいて基板の外縁形状を検出することができ、検出作業が容易である。
上記発明において、前記移動手段は、前記基板が載せられるアームと、該アームを回動させる回動機構とを有し、前記アームは、前記回動機構により回動することで、前記基板を何れかの前記検出手段に配置するようになっていることが好ましい。
上記構成に従えば、アームを回動させることで、各基板が検出手段に配置されるので、移動手段の構成が簡単であり、移動手段の小型化を図ることができる。
上記発明において、前記複数の基板を個別に回転する複数の回転駆動手段と、前記複数の検出手段で夫々検出される前記各基板の外縁形状に基づいて前記複数の回転駆動手段の回転を個別に制御する回転制御手段を更に有することが好ましい。
上記構成に従えば、複数の回転駆動機構が個別に動き、且つ回転制御手段により個別に制御することができる。それ故、複数の回転駆動機構を別々に駆動することで、複数の基板のアライメントを個別に行い、前記複数の基板を同時にアライメントすることができる。これにより、複数の基板のアライメントに必要な時間が短縮され、半導体処理の時間を短縮することができる。
上記発明において、前記移動手段は、前記基板が載置される載置部を有し、前記載置部は、隣接する前記基板との間隔がフープ内の隣接する基板の間の間隔と略同じになるように構成されていることが好ましい。
上記構成に従えば、フープ内に重ねて配置された基板をフープからそのままの状態で取り出して配置することができるので、フープからアライナ装置搬送する際に使用する搬送機器、例えば搬送ロボットの構成が簡単になる。
上記発明の半導体処置設備は、前述するいずれかのアライナ装置と、複数の基板を上下に並べた状態で前記アライナ装置の検出手段に搬送する搬送ロボットとを備え、前記搬送ロボットは、複数の基板が一枚ずつ載置される基板の複数のハンドと、前記複数のハンドを一体的に動かす駆動機構と、前記駆動機構の動きを制御する駆動制御装置とを有し、前記複数のハンドの各々の間隔は、駆動機構を上昇又は下降させたときにアライナ装置に上下に並べて配置される複数の基板が順に取れるようになっており、前記駆動制御装置は、前記複数の基板の中心軸線が一致するように前記駆動機構を動かしながら複数の基板を前記ハンドにより順番に取るように前記駆動機構を制御するようになっているものである。
上記構成に従えば、搬送ロボットは、アライナ装置でアライメントされた複数の基板を取りに行く際、複数の基板を1つずつ順番にハンドによって取ることができる。各々の基板を取りに行く際、複数の基板の中心軸線が互いに一致するようにハンドの動きが制御される。それ故、アライナ装置から取られた複数の基板の中心軸線を一致させることができる。
本発明によれば、透過型センサを用いても、他の基板の影響を受けることがなく従来技術より正確に外縁形状を検出できる。
第1実施形態のアライナ装置を上方から見た平面図である。 図1のアライナ装置を正面から見た正面断面図である。 図1のアライナ装置を右方から見た右側断面図である。 図2に示す第1及び第2の回転駆動機構を拡大して示す拡大断面図である。 図1のアライナ装置を左方から見たときの第1透過型センサを拡大して示す拡大断面図である。 搬送ロボット及びフープを示す正面図である。 第2実施形態のアライナ装置を正面から見た正面断面図である。 図7のアライナ装置を上方から見た平面図である。 芯合わせ機構を拡大して示す拡大図である。
以下では、前述する図面を参照しながら、本発明の実施形態である2つのアライナ装置1,100について説明する。なお、実施形態における上下等の方向の概念は、説明の便宜上使用するものであって、アライナ装置1,100に関して、それらの構成の配置及び向き等をその方向に限定することを示唆するものではない。
<第1実施形態>
図1に示す第1実施形態のアライナ装置1は、図示しない半導体処理設備に備わっている。半導体処理設備には、半導体ウエハ10を格納するフープ(FOUP)49(図6参照)と、半導体ウエハを搬送する搬送ロボット2(図6参照)とが備わっている。フープ49には、複数の半導体ウエハ10が積層するように上下に重ねて格納されており、搬送ロボット2は、フープ49から複数の半導体ウエハ10を取り出すようになっている。搬送ロボット2は、取り出した複数の半導体ウエハ10を、熱処理、不純物導入処理、薄膜形成処理、リソグラフィー処理、洗浄処理及び平坦化処理等の各種プロセス処理を施すための処理部へと搬送するが、これらのプロセス処理をする前に、複数の半導体ウエハ10の周方向の位置を調整(即ち、アライメント)するために複数の半導体ウエハ10をアライナ装置1に搬送する。
アライナ装置1は、図1乃至図3に記載されるように、大略的に直方体状の基台3を有しており、基台3の上部には、第1及び第2の回転駆動機構4,5が設けられている。図4に示すように、第1の回転駆動機構4は、電動モータ6を有している。電動モータ6は、その出力軸6aが減速ギア7に歯合しており、この減速ギア7には、ターンテーブル8が設けられている。ターンテーブル8は、円板状に形成され、その上部がカバー9によって覆われており、このカバー9の上に半導体ウエハ10を載せることができるようになっている。
また、減速ギア7及びターンテーブル8には、それらの中心軸線に沿って管体11が貫通している。管体11の先端は、ターンテーブル8から表出し、カバー9に覆われている。カバー9には、円弧状に形成され複数の吸着孔9aがあり、コンプレッサ等の機器により管体11の基端から空気を強制的に抜くことで、カバー9の上に載せられた半導体ウエハ10が吸着されるようになっている。吸着された状態で電動モータ6を駆動することで、半導体ウエハ10がターンテーブル8の中心軸線回りに回転する。
第2の回転駆動機構5もまた、図4に示すように第1の回転駆動機構4と同様の構成を有しており、第2の回転駆動機構5の構成については、同一の符号を付して説明を省略する。以下では、第1の回転駆動機構4に載置する半導体ウエハ10Aといい、第2の回転駆動機構5に載置する半導体ウエハ10Bという場合がある。
第1及び第2の回転駆動機構4,5は、電動モータ6が基台3内に配置され、ターンテーブル8が基台3の外側に表出し、ターンテーブル8の中心軸線が略垂直になるように基台3の上部に設けられている。基台3の上部には、段差3aが形成されており、この段差3aにより基台3の幅方向(図1の左右方向)の左側部分3bが右側部分3cよりも低くなっている。左側部分3bには、第1の回転駆動機構4が配置され、右側部分3cには、第2の回転駆動機構5が配置されている。このように配置することで、第1の回転駆動機構4と第2の回転駆動機構5のカバー9の上面(即ち、載置面)に高低差を生じさせて、これら2つのカバー9に載せられた半導体ウエハ10A,10Bが互いに当たらないようにしている。
更に、基台3の上部には、第1及び第2の回転駆動機構4,5に夫々対応させて第1及び第2透過型センサ12,13が設けられている。第1透過型センサ12は、図5に示すように、投光部14と受光部15とを有している。投光部14は、基台3内に配置されている。投光部14は、図示しないレーザ素子から発射されたレーザ光をシリンドリカルレンズにより帯状に広げ、帯状のレーザ光(図3及び図5の3点鎖線参照)にして外方に投光するようになっている。投光部14から投光された帯状のレーザ光は、基台3に形成されるレーザ光用孔3dを通って受光部15に達する。受光部15は、基台3の外側に配置され、投光部14に鉛直方向に対向している。受光部15は、いわゆるラインセンサであり、複数の受光素子を有する。これら複数の受光素子は、投光部14から投光される帯状のレーザ光が照射される領域に一列に並べて配置され、各受光素子が1つの受光領域を構成する。各受光素子は、レーザ光を受光し、各受光領域に照射されるレーザ光の強弱(即ち、受光量)を検出するようになっている。
このように構成される第1透過型センサ12は、基台3の上部の左側部分3bに設けられており、その投光部14と受光部15との間に第1の回転駆動機構4に載置された半導体ウエハ10Aの外縁部10aが挿入されるように配置されている。投光部14では、帯状のレーザ光が半導体ウエハ10Aの半径方向に延びて横長になるようにシリンドリカルレンズ等の位置が調整されており、また、受光部15の受光素子は、帯状のレーザ光の形状に対応させて半導体ウエハ10Aの半径方向に一列に配置されている。各受光素子における受光量は、そのレーザ光が半導体ウエハ10Aの外縁部10aにより遮られているか否かにより大きく変化し、受光量が大きく変化するところが半導体ウエハ10Aの外縁部10aとなる。第1透過型センサ12では、外縁部10aの一部分しか検出できないため、第1の回転駆動機構4により半導体ウエハ10を回転させながら半導体ウエハ10Aの外縁部10aを連続的に検出することで、半導体ウエハ10Aの外縁部10aの形状、即ち外縁形状を検出することができる。
第1透過型センサ12は、制御装置16に電気的に接続されており、前述する半導体ウエハの外縁形状は、第1透過型センサ12と制御装置16とが協働して検出する。具体的には、検出手段である制御装置16は、第1の回転駆動機構4により半導体ウエハ10Aを回転させながら投光部14にレーザ光を投光させて、受光部15にてレーザ光を受光させる。制御装置16は、この際に得られた受光量に関する情報を受光部15から取得し、この情報に基づいて各受光素子の受光量を演算する。そして、各受光素子の受光量に基づいて、制御装置16が半導体ウエハ10Aの外縁形状を検出する。
第2透過型センサ13もまた、図3に示すように第1透過型センサ12と同様の構成を有しており、第2透過型センサ13の構成については、同一の符号を付して説明を省略する。第2透過型センサ13は、基台3の上部の右側部分3cに設けられており、その投光部14と受光部15との間に第2の回転駆動機構5に載置された半導体ウエハ10Bの外縁部10aが挿入できるように配置されている。また、第2透過型センサ13において、投光部14では、帯状のレーザ光が半導体ウエハ10Bの半径方向に延びて横長になるようにシリンドリカルレンズ等の位置が調整されており、受光部15の受光素子は、帯状のレーザ光の形状に対応させて半導体ウエハ10Bの半径方向に一列に配置されている。
また、第2透過型センサ13は、第1透過型センサ12と同様に制御装置16に接続されている。制御装置16は、第2の回転駆動機構5にも接続されており、第2の回転駆動機構5によりそこに載置された半導体ウエハ10Bを回転駆動し、第2透過型センサ13と協働して前記半導体ウエハ10Bの外縁形状を検出するようになっている。
このように2枚の半導体ウエハ10A,10Bの外縁形状を検出できるアライナ装置1では、図1及び図3に示すように第1及び第2透過型センサ12,13が基台3の左右に離して設けられており、外縁形状を検出する際に2枚の半導体ウエハ10A,10Bが投光部14上で重ならないようになっている。即ち、外縁形状を検出する際に、2枚の半導体ウエハ10A,10Bが第1及び第2透過型センサ12,13の各々で重ならないように配置されている。これにより、投光部14から投光された各レーザ光を遮るものは、対応する半導体ウエハ10A,10Bだけになる。それ故、他方の半導体ウエハ10A,10Bの影響を受けることなく、一方の半導体ウエハ10A,10Bの外縁形状を正確に検出することができる。
半導体ウエハ10A,10Bには、ノッチ10a(又はオリエンテーションフラット(以下、単に「オリフラ」ともいう))が形成されている。制御装置16は、検出された半導体ウエハ10A,10Bの外縁形状に基づいてノッチ10a(又はオリフラ)の位置を特定し、このノッチ10a(又はオリフラ)が半導体ウエハ10A,10Bの周方向の所定位置(即ち、所定角度位置)に配置されるように第1及び第2の回転駆動機構4,5の回転を制御装置16が制御する。ノッチ10a(又はオリフラ)が前記所定位置にくると、制御装置16は、第1及び第2の回転駆動機構4,5の駆動を停止し、アライメントを終了する。
このようにアライメントするアライナ装置1には、前述の通り、搬送ロボット2(図6参照)によって半導体ウエハ10A,10Bが搬送されてくる。搬送ロボット2により搬送される2枚の半導体ウエハ10A,10Bは、フープ49からそのままの状態で取り出されるので、上下に間隔をあけて重ねられている。搬送ロボット2は、この状態のまま2枚の半導体ウエハ10A,10Bを第1の回転駆動機構4上まで搬送し、下側の半導体ウエハ10Aを第1の回転駆動機構4に載せる。このようにして搬送された半導体ウエハ10A,10Bの外縁部10aは、共に第1透過型センサ12の投光部14及び受光部15の間に挿入されている。アライナ装置1には、これら2枚の半導体ウエハ10A,10Bのうち半導体ウエハ10Bを第2の回転駆動機構5まで動かすために移動ユニット21が備わっている。
移動手段である移動ユニット21は、昇降機構22を有している。昇降機構22は、いわゆるエアシリンダー機構であり、基台3内で回動可能に垂設された基部23を有し、この基部23には、昇降軸24が設けられている。昇降軸24は、基部23に対して垂直方向に進退できるようになっている。昇降軸24の先端側は、基台3から外側に突出しており、昇降軸24の先端には、アーム25が固定されている。アーム25は、大略的に短冊状になっており、その基端側25aが昇降軸24に固定され、先端側に載置部25bが形成されている。載置部25bは、大略C字状になっており、その内径は、第2の回転駆動機構5のカバー9の外形より大きくなっている。
このように構成される昇降機構22は、エアを給排気することで昇降軸24が昇降し、アーム25が上下方向に動くようになっており、エアの給排気は、制御装置16によって制御される。このように昇降軸24が昇降する昇降機構22の基部23には、回動機構26が設けられている。
回動機構26は、基部23をその中心軸線回りに回動させるための機構であり、シリンダ28とピストン29とを有する。シリンダ28は、水平方向に延在しており、その基端部28aが上下方向に垂直な軸線回りに回動可能に基台3に支持されている。シリンダ28の先端部28bには、ピストン29が挿入されており、水平方向に進退できるようになっている。ピストン29の基端側には、隔壁29aが設けられており、この隔壁29aは、シリンダ28内の空間を第1及び第2空間28c,28dに分断している。ピストン29の先端部29bは、連結部30を介して基部23に連結されている。連結部30は、基部23の外周部から突出するように延びており、ピストン29の先端部29bに揺動可能に連結されている。
このように構成される回動機構26では、シリンダ28が切換弁31を介してエアポンプ32に接続されている。切換弁31は、いわゆる電磁切換弁であり、制御装置16に電気的に接続されている。切換弁31は、制御装置16からの指令に応じて、スプール31aを中立位置31Aから第1又は第2オフセット位置31B,31Cに移動させるようになっている。中立位置では、第1及び第2空間28c,28dが遮断され、エアポンプ32からのエアを大気に戻すようになっている。これによりピストン29の位置が維持される。第1オフセット位置31Bでは、第1空間28cがエアポンプ32に接続され、第2空間28dが大気に開放されてピストン29が収縮するように動く。第2オフセット位置31Cでは、第2空間28dがエアポンプ32に接続され、第1空間28cが大気に開放されてピストン29が収縮するように動く。シリンダ28の基端部28aが揺動可能に支持され、またピストン29の先端部29bが連結部30に揺動可能に連結されているので、ピストン29が収縮することで昇降機構22が反時計回り(図1の矢符F1参照)に回り、ピストン29が膨張することで昇降機構22が時計回り(図1の矢符F2参照)に回る。
基台3には、第1及び第2のリミットスイッチ33,34が設けられており、昇降機構22が反時計回りに回ってアーム25の載置部25bが第2の回転駆動機構5上まで達すると、連結部30により第1のリミットスイッチ33が押され、逆に昇降機構22が時計回りに回ってアーム25の載置部25bが第1の回転駆動機構4上まで達すると、連結部30により第2のリミットスイッチ34が押されるようになっている。第1又は第2のリミットスイッチ33,34は制御装置16に接続されており、制御装置16は、第1又は第2のリミットスイッチ33,34が押されると、切換弁31のスプール31aを中立位置31Aに戻して回動機構26の駆動を止める。これにより、半導体ウエハ10Bを第2の回転駆動機構5上に動かし、また第2の回転駆動機構5上に動かした半導体ウエハ10Bを第1の回転駆動機構4上まで戻すことができる。
次に、アライナ装置1に半導体ウエハ10A,10Bを搬送する搬送ロボット2について説明する。搬送ロボット2は、図6に示すようにロボット用基台41を有する。ロボット用基台41は、設置面42に固定されており、そこには上下方向に昇降可能な昇降軸43が設けられている。昇降軸43の上端部には、第1アーム44が回動可能に設けられている。更に、第1アーム44の先端部には、第2アーム45が進退可能に設けられており、第2アーム45の先端面45aには、第1及び第2ハンド46,47が略水平方向に延在している。これら2つのハンド46,47は、垂直方向に互いに間隔をあけて配置されており、この間隔d1は、フープ49に格納される半導体ウエハの間隔と異なっており、本実施形態において間隔d1は、フープ49に格納される半導体ウエハの間隔より広くなっている。このように構成される昇降軸43、第1アーム44及び第2アーム45は、ロボット用制御装置48によりその駆動が制御されている。
このように構成される搬送ロボット2は、昇降軸43、第1アーム44及び第2アーム45を動かしてフープ49から半導体ウエハ10A,10Bを取り出し、取り出した半導体ウエハ10A,10Bを第1の回転駆動機構4上へと搬送する。アライナ装置1では、予めアーム25が第1の回転駆動機構4上に配置されている。第1の回転駆動機構4上に配置されたアーム25の載置部25bの上面と第1の回転駆動機構4の載置面との間隔d3は、フープ49に格納される半導体ウエハ10A,10Bの間隔d2と同じだけ離されている。それ故、搬送ロボット2が第2アーム45を下降させると、搬送された半導体ウエハ10A,10Bが順に第1の回転駆動機構4及びアーム25の載置部25bに載置される。このように、アライナ装置1では、第2アーム45に2つのハンド46,47を固定したような簡単な構成の搬送ロボット2でも2枚の半導体ウエハ10A,10Bを第1の回転駆動機構4及びアーム25の載置部25bに載置できる。
2枚の半導体ウエハ10A,10Bが第1の回転駆動機構4及びアーム25の載置部25bに夫々載置されると、制御装置16は、切換弁31に指令を与えてスプール31aを中立位置31Aから第1オフセット位置31Bに動かし、アーム25を反時計回りに回動させる。回動させてから暫くすると、半導体ウエハ10Bは、第1透過型センサ12から脱出する。脱出したところで、制御装置16は、昇降機構22を駆動してアーム25を上昇させ、載置部25bの下面を第2の回転駆動機構5の載置面より高く上げる。上昇させた後も、制御装置16は、アーム25を回動させて半導体ウエハ10Bを第2の回転駆動機構5上へと移動させ、半導体ウエハ10Bの外縁部10aを第2透過型センサ13へと入れ込む。
半導体ウエハ10Bが第2の回転駆動機構5上に達すると、制御装置16は、スプール31aを中立位置31Aに戻してアーム25の回動を止める。そして、昇降機構22を駆動してアーム25を下降させる。アーム25の載置部25bは、その内側に第2の回転駆動機構5のカバー9を挿通させながら下降していく。やがて半導体ウエハ10Bが第2の回転駆動機構5に載置され、載置された後、暫くすると、制御装置16は、昇降機構22の駆動を停止する。こうすることで、半導体ウエハ10Bが第2の回転駆動機構5に載置される。
載置されたところで、制御装置16は、第1及び第2の回転駆動機構4,5を駆動して半導体ウエハ10A,10Bを回転させる。回転させることで、制御装置16は、第1及び第2透過型センサ12,13と協働して複数のレーザ光半導体ウエハ10A,10Bの外縁形状を連続的に検出する。外縁形状の検出は、例えば、外縁部10aの各所が基準位置からどの程度離れているかを検出するようになっている。このように検出された外縁形状に基づき、制御装置16は、半導体ウエハ10A,10Bに形成されるノッチ10a(又はオリフラ)の位置、及び半導体ウエハ10A,10Bの偏芯の度合いを特定する。特定した後、制御装置16は、第1及び第2の回転駆動機構4,5を個別に動かし、前記ノッチ10a(又はオリフラ)が半導体ウエハ10A,10Bの所定位置に配置する。所位置に配置することで半導体ウエハ10A,10Bのアライメトが終了する。
このようにアライナ装置1では、透過型センサ12,13を用いているので、半導体ウエハ10A,10Bのような不透明な基板だけでなく、ガラス基板のような透明な基板であってもアライメントすることができる。また、移動ユニット21により半導体ウエハ10Bを動かすことで、第1及び第2透過型センサ12,13における半導体ウエハ10A,10Bの外縁部10aの重なりを防いでいる。第1及び第2透過型センサ12,13における外縁部10aの重なりを無くすことで、半導体ウエハ10A,10Bの外縁形状を検出する際に他の半導体ウエハ10A,10Bの影響を受けることがなく、従来技術より正確な外縁形状を検出することができる。
このような作用効果は、本実施の形態のようなラインセンサに限らず、複数のレーザ素子から投光されたレーザ光をレンズ等の集光手段によって集光し、集光されたレーザ光の受光量を受光部で検出するような簡易の透過型センサであっても達成し得る。それ故、アライナ装置1に用いられる第1及び第2透過型センサは、ラインセンサに限られない。
もっとも、ラインセンサである第1及び第2透過型センサ12,13は、レーザ光を受光できる受光素子及び受光できない受光素子の位置に基づいて半導体ウエハ10A,10Bの外縁形状を検出するようになっているので、受光素子の受光の有無により外縁形状が検出でき、検出作業が容易である。これに対して、簡易化された透過型センサや従来技術の反射型センサの場合、受光部の受光量により半導体ウエハ10A,10Bの外縁形状がどのようになっているかを推定する。そのため、正確な外縁形状を検出することができない。それ故、半導体ウエハ10A,10Bを正確にアライメントするためには、本実施形態のようなラインセンサを用いることが好ましい。
このラインセンサは、簡易化された透過型センサや従来技術の反射型センサに比べて構成が複雑であり、投光部14及び受光部15の外形寸法が大きい。透過型センサを採用する場合、各半導体ウエハ10A,10Bを挟むように投光部14及び受光部15を配置しなければならない。搬送ロボット2で搬送される2つの半導体ウエハ10A,10Bの間隔d1は、約10mm程度であり、このように配置される2つの半導体ウエハの間に、第1及び第2透過型センサ12,13の投光部14又は受光部15を配置することは難しく、従来のアライメント装置では、第1及び第2透過型センサ12,13を採用することができない。これに対して、本実施形態のアライナ装置1では、移動ユニット21によって半導体ウエア10Bをずらすことで、各半導体ウエハ10A,10Bを投光部14及び受光部15で挟むことができるようになり、第1及び第2透過型センサ12,13を採用することができるようになる。
また、制御装置16が第1及び第2の回転駆動機構4,5を個別に動かすことができるので、半導体ウエハ10A,10Bを同時にアライメントすることができる。これにより、複数の半導体ウエハをアライメントするのに必要な時間が短縮され、半導体処理の時間を短縮することができる。
前述のように前記ノッチ10a(又はオリフラ)を半導体ウエハ10A,10Bの所定位置(所定角度位置)に配置すると、制御装置16は、再び昇降機構22を駆動してアーム25を上昇させ、載置部25bに半導体ウエハ10Bを載せる。制御装置16は、載せた後もアーム25を上昇させ、アーム25の下面を第2の回転駆動機構5の載置面より高く上げる。上げた後、制御装置16は、スプール31aを中立位置31Aから第2オフセット位置31Cに移動させて、アーム25を時計回りに回動させる。回動させてから暫くして半導体ウエハ10Bが第2透過型センサ12から完全に脱出すると、昇降機構22によりアーム25を下降させる。アーム25の上面と第1の回転駆動機構4の載置面との間隔d3が間隔d2になると、制御装置16は、昇降機構22の駆動を停止する。制御装置16は、下降させた後も、アーム25を回動させて半導体ウエハ10Bを第1の回転駆動機構4上へと移動させる。半導体ウエハ10Bが第1の回転駆動機構4上に達すると、制御装置16は、スプール31aを中立位置31Aに戻してアーム25の回動を止める。
このように半導体ウエハ10Bが第1の回転駆動機構4上に達すると、搬送ロボット2が2つの半導体ウエハ10A,10Bを取りに行く。その際、搬送ロボット2は、各ハンド46,47の規定位置に各半導体ウエハ10A,10Bの中心軸が配置されるように、第1及び第2アーム44,45により各ハンド46,47の姿勢を調整する。姿勢の調整は、ロボット用制御装置48により行われる。ロボット用制御装置48は、制御装置16に電気的に接続されており、制御装置16から検出された偏芯の度合いを取得するようになっている。ロボット用制御装置48は、各半導体ウエハ10A,10Bの度合いに基づいて各ハンド46,47の姿勢を決定し調整するようになっている。
このように半導体ウエハ10A,10Bとの位置を調整しながら半導体ウエハ10A,10Bを取りに行く2つのハンド46,47は、それらの間隔d1がアーム25の上面と第1の回転駆動機構4の載置面との間隔d2と異なっているので、ハンド46,47には、2つの半導体ウエハ10A,10Bが順番に載せられることになる。これにより、姿勢の調整は、ハンド46,47毎に別々に行うことができ、搬送ロボット2とアライナ装置1と協働させることで2つの半導体ウエハ10A,10Bの中心軸線を共に基準位置へと配置し、一致させることができる。
このようにアライナ装置1では、搬送ロボット2と協働することで、2つの半導体ウエハ10A,10Bの中心軸線を一致させることができ、2つの半導体ウエハ10A,10Bの偏芯を抑えることができる。これにより、アライナ装置1の後処理において、半導体ウエハ10A,10Bの位置ズレを抑えることができる。
<第2実施形態>
図7及び図8に示す第2実施形態のアライナ装置100は、第1実施形態のアライナ装置1と同様の構成を採用している部分がある。同様の構成については、同一の符号を付して説明を省略する場合がある。アライナ装置100は、基台101を備えている。基台101は、その幅方向に2つのブロック体101a,101bを有し、断面U字状に形成されている。これらブロック体101a,101bの間には、第1及び第2の回転駆動機構104,105が設けられている。
第1の回転駆動機構104は、電動モータと減速機とから成る駆動ユニット106を有し、この駆動ユニット106によりターンテーブル107をその中心軸線回りに回動させるようになっている。ターンテーブル107には、図示しないが第1実施形態と同様にカバー9及び管体11が設けられ、ターンテーブル107上に載置される半導体ウエハ10Aが吸着されるようになっている。このように構成される第1の回転駆動機構104は、移動ユニット108に載せられている。移動ユニット108は、2つのブロック体101a,101bの間に配置されている。
移動ユニット108は、ピストン109とシリンダ110とを有している。ピストン109の先端部は、ブロック体101bの壁面に固定されており、基端側は、シリンダ110に挿入されている。ピストン109の基端部には隔壁111があり、この隔壁111によりシリンダ110内の空間が第1空間110aと第2空間110bとに分断されている。また、ピストン109には、圧縮コイルばね112が外装され、圧縮コイルばね112は、シリンダ110を初期位置に戻すように付勢している。
このよう構成される移動ユニット108では、シリンダ110が切換弁31を介してエアポンプ32に接続されている。切換弁31は、制御装置16の指令に応じてスプール31aを移動させる。スプール31aが第1オフセット位置31Bに移動すると、ピストン109が伸長してシリンダ110がブロック体101bから離れるようにスライドする。逆に、スプール31aが第2オフセット位置31Cに移動すると、ピストン109が収縮してシリンダ110がブロック体101bの方へとスライドする。このようにスライドさせることできるシリンダ110に第1の回転駆動機構104は、載置されて固定されている。固定された第1の回転駆動機構104は、ターンテーブル107の上面、即ち載置面がブロック体101a,101bの上面より高くなっており、その載置面に半導体ウエハ10Aが載せられる。それ故、シリンダ110をスライドさせることで半導体ウエハ10Aを幅方向に移動させることができる。
第2の回転駆動機構105は、電動モータ113を備えている。電動モータ113は、図示しない減速機を介して第1のプーリー114に接続されており、この第1のプーリー114を回転させるようになっている。第1のプーリー114は、ベルト115を介して第2のプーリー116に接続されており、ベルト115を介して回動力を第2のプーリー116に伝達するようになっている。第2のプーリー116には、ターンテーブル117が設けられている。このようにして設けられたターンテーブル117は、第1の回転駆動機構104のターンテーブル107よりも高い位置に配置され、それら2つのターンテーブル107,117の間は、フープ49に格納される半導体ウエハの間隔d2と同じ間隔d3離されている。また、ターンテーブル117の中心軸線は、第2のプーリー116の中心軸線と一致しており、この中心軸線回りに回転するようになっている。さらに、この中心軸線は、シリンダ110が初期位置にあるときの第1の回転駆動機構4におけるターンテーブル107の中心軸線に一致している。
このように第1及び第2の回転駆動機構104,105が設けられる基台101の各ブロック体101a,101bの上部には、第1及び第2透過型センサ12,13が夫々設けられている。第1透過型センサ12は、第2の回転駆動機構105に載置された半導体ウエハ10Bの外縁部10aが入るように配置されている。そのため、シリンダ110が初期位置に配置されているとき、第2回転駆動機構105に載置された半導体ウエハ10Aの外縁部10aも第1透過型センサ12に入るようになっているが、移動ユニット108を駆動させてシリンダ110を初期位置から所定位置まで動かすと、前記半導体ウエハ10Aの外縁部10aは、第1透過型センサ12から脱出する。第2透過型センサ13は、第1透過型センサ12に対して幅方向に対向するように設けられ、移動ユニット108を駆動させてシリンダ110を初期位置から所定位置まで動かすと、前記半導体ウエハ10Aの外縁部10aが入るようになっている(図7の2点鎖線参照)。
このように移動ユニット108を駆動してシリンダ110を所定位置まで動かすと、半導体ウエハ10A,10Bの外縁部10aが他方の半導体ウエハ10A,10Bに重なることなく第1及び第2透過型センサ12,13に入ることになる。このようにして入れられた半導体ウエハ10A,10Bに関して、制御装置16は、第1及び第2の回転駆動機構104,105を回転させながら第1及び第2透過型センサ12,13により外縁形状を検出し、この検出された外縁形状に基づいて半導体ウエハ10A,10Bに形成されたノッチ10a(又はオリフラ)の位置を調整する、即ちアライメントする。位置を調整した後、制御装置16は、切換弁31のスプール31aを第1オフセット位置31Bに移動させて、シリンダ110を初期位置へと戻す。
このように初期位置に戻した後、半導体ウエハ10A,10Bの中心軸線を基準位置に合わせるために、アライナ装置100には、芯合わせ機構120が備わっている。芯合わせ機構120は、図9に示すように芯合わせ用シリンダ121を有する。芯合わせ用シリンダ121には、2つの芯合わせ用ピストン122が挿入されている。これら2つの芯合わせ用ピストン122は、それらの軸線が一致し、エアの給排気により互いに反対方向に伸縮できるようになっている。2つの芯合わせ用ピストン122の先端には、ガイドピン123が夫々設けられている。2つのガイドピン123は、垂直方向に延在しており、芯合わせ用ピストン122が収縮することで間隔が狭まるようになっている。
このように構成される2つの芯合わせ機構120は、例えば、基台101の上方に設けられ、それらの間に第1及び第2透過型センサ12,13が配置されるように幅方向の直交方向に間隔をあけて配置されている。芯合わせ機構120は、初期状態で芯合わせ用ピストン122が伸長しており、2つのガイドピン123の間が半導体ウエハ10A,10Bの外径よりも開いている。半導体ウエハ10A,10Bが第1及び第2の回転駆動機構104,105に載せられてアライメントされ、シリンダ110が初期位置へと戻されると、芯合わせ用ピストン122を収縮させる。これにより、図9の矢印で示すように2つのガイドピン123の間が狭くなっていく。2つの芯合わせ機構120に備わる4つのガイドピン123は、芯合わせ用ピストン122がストロークエンドに達した時に各々の基準位置からの距離が一致するようになっている。それ故、芯合わせ用ピストン122を収縮させてガイドピン123の間隔を狭くしていくと、半導体ウエハ10A,10Bの中心軸線が基準位置に合わせられる。こうして、中心軸線が合わせられた半導体ウエハ10A,10Bは、搬送ロボット2により取られて後続するプロセス処理へと搬送される。
このようにして構成されるアライナ装置100は、第1実施形態のアライナ装置100と同様の作用効果を奏する。
第1及び第2実施形態では、2枚の半導体ウエハ10A,10Bをアライメント可能なアライナ装置1,100について説明したが、3枚以上の半導体ウエハ10をアライメントできるように構成してもよい。その場合、移動ユニット21、108の個数を増やすことで実現できる。また、第1及び第2実施形態では、一枚の半導体ウエハ10A,10Bのうち一方の半導体ウエハ10Bだけが動くようになっているが、他方の半導体ウエハ10Aも動かすような構成であってもよい。
第1実施形態では、回動機構26がピストン29とシリンダ28とによって構成されているが、モータ等の電動機で構成してもよい。この場合、減速機やベルト等の伝動部材を介して電動機により基部23を回動させるようにすればよい。
なお、本発明は、実施の形態に限定されず、発明の趣旨を逸脱しない範囲で追加、削除、変更が可能である。
以上のように、本発明は、重ねて配置される複数の半導体ウエハを一緒にアライメントするアライナ装置、及びそれを備える半導体処理設備に適用することができる。
1 アライナ装置
2 搬送ロボット
4 第1の回転駆動機構
5 第2の回転駆動機構
10A 半導体ウエハ
10B 半導体ウエハ
10a 外縁部
12 第1透過型センサ
13 第2透過型センサ
16 制御装置
21 移動ユニット
25 アーム
25b 載置部
49 フープ
100 アライナ装置
104 第1の回転駆動機構
105 第2の回転駆動機構
108 移動ユニット

Claims (6)

  1. 重ねて配置される複数の基板をアライメントするアライナ装置であって、
    互いに異なる位置に配置される複数の透過型センサを有し、該複数の透過型センサを用いて前記複数の基板の外縁形状を検出する検出手段と、
    前記複数の基板の外縁部が前記互いに異なる透過型センサに夫々くるように、且つ前記各透過型センサの位置にて基板同士が重ならないように前記複数の基板のうち少なくとも一つを動かす移動手段とを備えることを特徴とするアライナ装置。
  2. 前記透過型センサは、投光部と受光部とを有し、
    前記投光部は、前記受光部に向かって帯状の光を投光し、
    前記受光部は、複数の受光領域を有し、前記複数の受光領域での前記帯状の光の受光を個別に認識でき、且つ前記投光部との間に基板が入れられるようになっており、
    前記検出手段は、前記基板により受光できなくなった前記受光領域に基づき前記基板の外縁形状を検出するようになっていることを特徴とする請求項1に記載のアライナ装置。
  3. 前記移動手段は、前記基板が載せられるアームと、該アームを回動させる回動機構とを有し、
    前記アームは、前記回動機構により回動することで、前記基板を何れかの前記検出手段に配置するようになっていることを特徴とする請求項1又は2に記載のアライナ装置。
  4. 前記複数の基板を個別に回転する複数の回転駆動手段と、
    前記複数の検出手段で夫々検出される前記各基板の外縁形状に基づいて前記複数の回転駆動手段の回転を個別に制御する回転制御手段を更に有することを特徴とする請求項1乃至3の何れか1つに記載のアライナ装置。
  5. 前記移動手段は、前記基板が載置される載置部を有し、
    前記載置部は、隣接する前記基板との間隔がフープ内の隣接する基板の間の間隔と略同じになるように構成されていることを特徴とする請求項1乃至4の何れか1つに記載のアライナ装置。
  6. 請求項1乃至5に記載のアライナ装置と、
    複数の基板を上下に並べた状態で前記アライナ装置の検出手段に搬送する搬送ロボットとを備え、
    前記搬送ロボットは、複数の基板が一枚ずつ載置される基板の複数のハンドと、前記複数のハンドを一体的に動かす駆動機構と、前記駆動機構の動きを制御する駆動制御装置とを有し、
    前記複数のハンドの各々の間隔は、駆動機構を上昇又は下降させたときにアライナ装置に上下に並べて配置される複数の基板が順に取れるようになっており、
    前記駆動制御装置は、前記複数の基板の中心軸線が一致するように前記駆動機構を動かしながら複数の基板を前記ハンドにより順番に取るように前記駆動機構を制御するようになっていることを特徴とする半導体処理設備。
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Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPWO2013088547A1 (ja) * 2011-12-15 2015-04-27 タツモ株式会社 ウエハ搬送装置
WO2015093035A1 (ja) * 2013-12-16 2015-06-25 川崎重工業株式会社 基板位置合わせ装置及び基板位置合わせ装置の制御方法
JP2018056328A (ja) * 2016-09-29 2018-04-05 平田機工株式会社 アライメント装置、同アライメント装置を備えた半導体ウエハ処理装置及びアライメント方法
CN113748498A (zh) * 2019-04-23 2021-12-03 应用材料公司 包含多个对准器的设备前端模块、组件及方法
WO2022163084A1 (ja) * 2021-01-26 2022-08-04 川崎重工業株式会社 アライナ装置及びアライメント方法

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP6568986B1 (ja) 2018-06-28 2019-08-28 平田機工株式会社 アライメント装置、半導体ウエハ処理装置、およびアライメント方法

Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH09293772A (ja) * 1996-04-24 1997-11-11 Tokyo Electron Ltd ウエハの位置合わせ装置
JPH10178085A (ja) * 1996-12-16 1998-06-30 Mecs:Kk 薄型基板用アラインメント装置
JPH10270530A (ja) * 1997-01-21 1998-10-09 Tokyo Electron Ltd 基板搬送処理装置
JPH1140652A (ja) * 1997-07-15 1999-02-12 Tokyo Electron Ltd 位置決め装置及び位置決め方法
JP2001267401A (ja) * 2000-01-13 2001-09-28 Applied Materials Inc 基板の方向を調整する方法及び装置
JP2002299421A (ja) * 2001-03-29 2002-10-11 Tokyo Electron Ltd ノッチ整列方法及びノッチ整列機構並びに半導体製造装置
WO2007126289A1 (en) * 2006-05-03 2007-11-08 New Power Plasma Co., Ltd. Substrate transfer equipment and high speed substrate processing system using the same
JP2008300609A (ja) * 2007-05-31 2008-12-11 Yaskawa Electric Corp ウェハのアライメント装置、それを備えた搬送装置、半導体製造装置
JP2009055046A (ja) * 2008-09-26 2009-03-12 Hitachi Kokusai Electric Inc 半導体製造方法及びその装置

Patent Citations (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH09293772A (ja) * 1996-04-24 1997-11-11 Tokyo Electron Ltd ウエハの位置合わせ装置
JPH10178085A (ja) * 1996-12-16 1998-06-30 Mecs:Kk 薄型基板用アラインメント装置
JPH10270530A (ja) * 1997-01-21 1998-10-09 Tokyo Electron Ltd 基板搬送処理装置
JPH1140652A (ja) * 1997-07-15 1999-02-12 Tokyo Electron Ltd 位置決め装置及び位置決め方法
JP2001267401A (ja) * 2000-01-13 2001-09-28 Applied Materials Inc 基板の方向を調整する方法及び装置
JP2002299421A (ja) * 2001-03-29 2002-10-11 Tokyo Electron Ltd ノッチ整列方法及びノッチ整列機構並びに半導体製造装置
WO2007126289A1 (en) * 2006-05-03 2007-11-08 New Power Plasma Co., Ltd. Substrate transfer equipment and high speed substrate processing system using the same
JP2010507221A (ja) * 2006-05-03 2010-03-04 ニュー パワー プラズマ カンパニー,リミティッド 基板搬送装置及びこれを用いた高速基板処理システム
JP2008300609A (ja) * 2007-05-31 2008-12-11 Yaskawa Electric Corp ウェハのアライメント装置、それを備えた搬送装置、半導体製造装置
JP2009055046A (ja) * 2008-09-26 2009-03-12 Hitachi Kokusai Electric Inc 半導体製造方法及びその装置

Cited By (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPWO2013088547A1 (ja) * 2011-12-15 2015-04-27 タツモ株式会社 ウエハ搬送装置
WO2015093035A1 (ja) * 2013-12-16 2015-06-25 川崎重工業株式会社 基板位置合わせ装置及び基板位置合わせ装置の制御方法
JP2018056328A (ja) * 2016-09-29 2018-04-05 平田機工株式会社 アライメント装置、同アライメント装置を備えた半導体ウエハ処理装置及びアライメント方法
CN113748498A (zh) * 2019-04-23 2021-12-03 应用材料公司 包含多个对准器的设备前端模块、组件及方法
US11610796B2 (en) 2019-04-23 2023-03-21 Applied Materials, Inc. Equipment front end modules including multiple aligners, assemblies, and methods
CN113748498B (zh) * 2019-04-23 2023-04-04 应用材料公司 包含多个对准器的设备前端模块、组件及方法
JP2023162195A (ja) * 2019-04-23 2023-11-08 アプライド マテリアルズ インコーポレイテッド 複数のアライナを含む装置フロントエンドモジュール、アセンブリ、及び方法
JP7498344B2 (ja) 2019-04-23 2024-06-11 アプライド マテリアルズ インコーポレイテッド 複数のアライナを含む装置フロントエンドモジュール、アセンブリ、及び方法
WO2022163084A1 (ja) * 2021-01-26 2022-08-04 川崎重工業株式会社 アライナ装置及びアライメント方法
JP7522236B2 (ja) 2021-01-26 2024-07-24 川崎重工業株式会社 アライナ装置及びアライメント方法

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