JP2011054998A - 真空処理装置及び真空処理方法並びに記憶媒体 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】予備真空室21(22)内にウエハを載置して温度調整するための温調プレート4を設け、この温調プレート4に突没自在な回転ステージ5を設ける。ラインセンサ6を構成する発光部61を回転ステージ5の上方側又は下方側の一方に設け、受光部62を他方に設ける。前記温調プレートにおける、発光部61の光軸に対応する位置に光透過部43を形成する。回転ステージ5にウエハを載置し、ラインセンサ6を用いて、大気雰囲気と真空雰囲気の切り替え時にウエハの向きを合わせる。
【選択図】図2
Description
前記予備真空室は、
ウエハを載置して温度調整するための温調プレートと、
ウエハを載置して鉛直軸まわりに回転自在に設けられ、ウエハを温調プレートから浮上した位置に保持する上昇位置と、前記温調プレートに埋没して、この温調プレートにウエハを載置する下降位置との間で昇降すると共に、前記第1の搬送アーム及び第2の搬送アームに対してウエハの受け渡しが行われる回転ステージと、
前記回転ステージに載置されたウエハの周縁の位置データを取得するための位置データ取得部と、
前記位置データ取得部にて取得した位置データに基づいてウエハの中心位置とウエハの向きとを演算する手段と、
この手段の演算結果に基づいて、ウエハの向きを合わせるために前記回転ステージの回転を制御すると共に、ウエハの中心と真空処理室のウエハの載置部の中心とが一致した状態で、当該ウエハを前記載置部に受け渡すように前記第2の搬送アームを制御する手段と、を備えることを特徴とする真空処理装置。
前記予備真空室に、前記ウエハを前記第1の搬送アームにより搬入し、温調プレートの上方側に設けられた回転ステージに載置する工程と、
前記回転ステージによりウエハを回転させながら、位置データ取得部により前記ウエハの周縁の位置データを取得する工程と、
次いで前記ウエハの周縁の位置データに基づいて、ウエハの向きを演算し、この向きを合わせるために前記回転ステージの回転を制御する工程と、
前記ウエハの周縁の位置データに基づいて、このウエハの中心位置を演算し、このウエハの中心と真空処理室のウエハの載置部の中心とが一致した状態で、当該ウエハを前記載置部に受け渡すように前記第2の搬送アームを制御する工程と、を含むことを特徴とする。
前記コンピュータプログラムは、前記真空処理方法を実施するようにステップが組まれていることを特徴とする。
21 第1の搬送室
22,23 予備真空室
24 第2の搬送室
25〜28 真空処理室
30 チャンバ
4 温調プレート
41 凹部
43 光透過部
5 回転ステージ
51 駆動軸
52〜54 保持アーム
55 駆動機構
6、6A〜6C ラインセンサ
61 発光部
62 受光部
7 制御手段
W 半導体ウエハ
A1 第1の搬送アーム
A2 第2の搬送アーム
Claims (9)
- 半導体基板であるウエハを、常圧雰囲気に設けられた第1の搬送アームにより、常圧雰囲気と真空雰囲気との間で切替可能に構成された予備真空室に対して受け渡すと共に、前記ウエハを真空搬送室に設けられた第2の搬送アームにより、前記予備真空室と真空処理室との間で搬送し、この真空処理室において前記ウエハに対して真空処理を施す真空処理装置において、
前記予備真空室は、
ウエハを載置して温度調整するための温調プレートと、
ウエハを載置して鉛直軸まわりに回転自在に設けられ、ウエハを温調プレートから浮上した位置に保持する上昇位置と、前記温調プレートに埋没して、この温調プレートにウエハを載置する下降位置との間で昇降すると共に、前記第1の搬送アーム及び第2の搬送アームに対してウエハの受け渡しが行われる回転ステージと、
前記回転ステージに載置されたウエハの周縁の位置データを取得するための位置データ取得部と、
前記位置データ取得部にて取得した位置データに基づいてウエハの向きを演算する手段と、
この手段の演算結果に基づいて、ウエハの向きを合わせるために前記回転ステージの回転を制御する手段と、を備え、
前記位置データ取得部は、前記回転ステージの上方側及び温調プレートの下方側のうち一方に設けられた発光部と、前記回転ステージの上方側及び温調プレートの下方側のうち他方にて、前記発光部の光軸上に設けられた受光部と、を備えており、前記温調プレートには、前記発光部からの光を透過させるための光透過部が形成されていることを特徴とする真空処理装置。 - 前記温調プレートは、その上に載置された真空処理後のウエハを冷却するための冷却プレートであることを特徴とする請求項1記載の真空処理装置。
- 前記位置データ取得部は、前記回転ステージにより回転される真空処理前のウエハの周縁の位置を検出するためのものであり、前記位置データは、ウエハの回転方向の位置とウエハの周縁の位置とを対応づけたデータであることを特徴とする請求項1又は2記載の真空処理装置。
- 前記回転ステージは、回転中心部から放射状に伸びる複数の棒状部を備えることを特徴とする請求項1ないし3のいずれか一項に記載の真空処理装置。
- 前記温調プレートは、その上に載置された真空処理前のウエハを予備加熱する加熱プレートであることを特徴とする請求項1に記載の真空処理装置。
- 半導体基板であるウエハを、常圧雰囲気に設けられた第1の搬送アームにより、常圧雰囲気と真空雰囲気との間で切替可能に構成された予備真空室に対して受け渡すと共に、前記ウエハを真空搬送室に設けられた第2の搬送アームにより、前記予備真空室と真空処理室との間で搬送し、この真空処理室において前記ウエハに対して真空処理を施す真空処理方法において、
前記予備真空室に、前記ウエハを前記第1の搬送アームにより搬入し、温調プレートの上方側に設けられた回転ステージに載置する工程と、
前記回転ステージによりウエハを回転させながら、位置データ取得部により前記ウエハの周縁の位置データを取得する工程と、
次いで前記ウエハの周縁の位置データに基づいて、ウエハの向きを演算し、この向きを合わせるために前記回転ステージの回転を制御する工程と、を含み、
前記位置データを取得する工程は、
前記回転ステージの上方側及び温調プレートの下方側のうち一方に設けられた発光部が、前記回転ステージの上方側及び温調プレートの下方側のうち他方に設けられた受光部に向かって、前記温調プレートに形成された光透過部を透過するように光を出力する工程を含むことを特徴とする真空処理方法。 - 前記ウエハの周縁の位置データを取得する工程は、予備真空室を減圧しながら行われることを特徴とする請求項6記載の真空処理方法。
- 前記予備真空室に、真空処理後のウエハを前記第2の搬送アームにより搬入し、温調プレートの上方側に設けられた回転ステージに載置する工程と、
前記回転ステージを下降させて、前記真空処理後のウエハを温調プレートの上に受け渡し、このウエハを温調プレートに載置して冷却する工程と、を含むことを特徴とする請求項6又は7記載の真空処理方法。 - 半導体基板であるウエハを、常圧雰囲気と真空雰囲気との間で切替可能に構成された予備真空室と、真空搬送室とを介して真空処理室に搬送し、この真空処理室において前記ウエハに対して真空処理を施す真空処理装置に用いられ、コンピュータ上で動作するコンピュータプログラムを格納した記憶媒体であって、
前記コンピュータプログラムは、請求項6ないし8のいずれか一項に記載の真空処理方法を実施するようにステップが組まれていることを特徴とする記憶媒体。
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