JP2010529625A - カメラセンサ上のダスト検出用のルーペ及び照明アセンブリ - Google Patents

カメラセンサ上のダスト検出用のルーペ及び照明アセンブリ Download PDF

Info

Publication number
JP2010529625A
JP2010529625A JP2010511455A JP2010511455A JP2010529625A JP 2010529625 A JP2010529625 A JP 2010529625A JP 2010511455 A JP2010511455 A JP 2010511455A JP 2010511455 A JP2010511455 A JP 2010511455A JP 2010529625 A JP2010529625 A JP 2010529625A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
loupe
main frame
frame body
assembly according
lighting assembly
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2010511455A
Other languages
English (en)
Inventor
ラバーデガン、ファリボルズ
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
1317442 アルバータ・リミテッド
1317442 Alberta Ltd
Original Assignee
1317442 アルバータ・リミテッド
1317442 Alberta Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 1317442 アルバータ・リミテッド, 1317442 Alberta Ltd filed Critical 1317442 アルバータ・リミテッド
Publication of JP2010529625A publication Critical patent/JP2010529625A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/94Investigating contamination, e.g. dust
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B25/00Eyepieces; Magnifying glasses
    • G02B25/02Eyepieces; Magnifying glasses with means for illuminating object viewed
    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03BAPPARATUS OR ARRANGEMENTS FOR TAKING PHOTOGRAPHS OR FOR PROJECTING OR VIEWING THEM; APPARATUS OR ARRANGEMENTS EMPLOYING ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ACCESSORIES THEREFOR
    • G03B43/00Testing correct operation of photographic apparatus or parts thereof
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N17/00Diagnosis, testing or measuring for television systems or their details
    • H04N17/002Diagnosis, testing or measuring for television systems or their details for television cameras

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • Multimedia (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Biomedical Technology (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Signal Processing (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Studio Devices (AREA)
  • Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
  • Non-Portable Lighting Devices Or Systems Thereof (AREA)
  • Lens Barrels (AREA)
  • Camera Bodies And Camera Details Or Accessories (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)

Abstract

【課題】平面上の粒子状汚染物の検出を向上させるためのルーペ及び照明アセンブリを提供する。
【解決手段】本発明のルーペ及び照明アセンブリは、電源と、メインフレーム体と、前記メインフレーム体に設置され、前記電源に作動可能に接続された光線照射手段(LED)22と、前記メインフレーム体に設置されたルーペレンズ28とを含み、前記光線照射手段が、平面(センサ表面)42上の前記粒子状汚染物(ダスト粒子)43に対する3次元効果を生成するための構成を有することにより、前記粒子状汚染物の検出及び特徴付けの向上を達成するようにしたことを特徴とする。
【選択図】図6

Description

(関連出願の相互参照)
本出願は、2007年6月12日に出願された米国仮特許出願第60/934、263号に基づくパリ条約優先権を主張する。
(本発明の技術分野)
本発明は、デジタルカメラのセンサ上に存在するダスト粒子の検出を向上させるのに使用することができる、ルーペ手段及び照明手段のアセンブリに関する。
デジタルカメラは、そのセンサチャンバー内に、カメラのレンズを通して見た像がその上に投影される例えば電荷結合素子(CCD)センサまたは相補型金属酸化膜半導体(CMOS)センサなどの電子センサを備えている。このセンサは、センサ上に投影された像を取得して電子データに変換することができ、電子データはその後デジタルカメラが備えるデータ処理手段に送られる。データ処理手段は、この電子データをJPEG、TIFFまたはRAWフォーマットなどの既知のフォーマットの画像ファイルに変換し、画像ファイルはカメラのメモリカードに保存される。センサの表面上に付着した不純物は、望ましくないことに、カメラが取得した最終像を改変してしまうことがあるため、当然のことながら、このセンサはできる限りクリーンな状態に保つべきである。
デジタルカメラの通常の使用時に、そのセンサが空気及び空気中の浮遊不純物(例えば、空中に浮遊する微小なダスト粒子)に曝されることは避けられない。より具体的には、デジタル一眼レフカメラ(DSLR)などのレンズ交換式デジタルカメラでは、例えばレンズ交換時にカメラ本体からレンズを取り外したときに、センサは必然的に空気及び空気中の不純物に曝されることになる。
デジタルカメラの所有者は、デジタルカメラセンサのクリーニングを行う前に、センサに不純物が付着しているか否かを検出するための様々な方法を考え出してきた。それらの方法の1つに、F22テストと呼ばれるものがあり、そのテストでは、カメラを最長焦点長さ及び最小絞り値に設定して、均一色の背景を有しそれに調和した照明を用いて照らされた背景に狙いをつけて撮影する。センサ表面の不純物は、写真上に、画像を改変するぼけ点として現れる。そのため、この方法は、写真上のぼけ点のコントラストを浮き彫りにするために、数枚の写真の撮影及びコンピュータアプリケーションの作業を必要とする。
カメラセンサはカメラ筐体内の奥深くに位置し、この位置までは定常光はわずかにしか届かないので、集中光線を用いない拡大方法はカメラセンサ表面の検査の役に立たないことに留意されたい。また、検査光をセンサに直接的に照射すると、センサに回復不能なダメージをもたらす可能性がある。
PCT国際特許出願第W2007/112550A1公報
本発明の第1の目的は、デジタルカメラのセンサにダスト粒子が付着しているか否かを検査するための改善された手段を提供することにある。
本発明の第2の目的は、デジタルカメラセンサの表面に対して光線を垂直方向から照射するのではなく、光線を様々な角度から照射することにより、デジタルカメラセンサの表面上に付着しているダスト粒子の形状及び/またはサイズの良好な特徴付けを提供することにある。
前述した問題点は、デジタルカメラセンサの表面上に付着しているダスト粒子を検出するために光線をセンサ表面に対して垂直に入射させるのではなく比較的鋭角に入射させる照明構造体により得られる光線反射特性と、ルーペによる拡大とを組み合わせた本発明により解決することができる。
さらに、前記照明構造体は、好ましくは、カメラセンサ表面に付着している粒子に対する3次元効果を生成するために意図的に配置された偶数個の電球を含み、このことにより、ダスト粒子の検出及び特徴付けを向上させることができる。換言すれば、物体に対して光線を垂直方向から照射すると結局は陰影部のハロを拡散させてしまうが、以下に説明するように、物体に対して光線を様々な角度から照射すると、より実際的な形状を生成することができる。本発明は、そのようなタスクを、上述したF22試験などの同様のタスクを達成するための従来の方法よりも、より素早く及びよりユーザフレンドリーに行うことを意図している。
本発明は、平面上の粒子状汚染物の検出を向上させるためのルーペ及び照明アセンブリであって、電源と、メインフレーム体と、前記メインフレーム体に設置され、前記電源に作動可能に接続された光線照射手段と、前記メインフレーム体に設置されたルーペレンズとを含み、前記光線照射手段が、前記平面上の前記粒子状汚染物に対する3次元効果を生成するための構成を有することにより、前記粒子状汚染物の検出及び特徴付けの向上を達成するようにしたことを特徴とするアセンブリに関する。
ある実施形態では、前記光線照射手段は、前記メインフレーム体の周縁部に配置された複数の発光ダイオードから構成される。
好ましくは、前記3次元効果を生成するための構成は、該アセンブリの前方空間に位置する共通点において前記各ダイオードの焦点を結ぶように、前記メインフレーム体の平面に垂直な軸線(すなわち前記ルーペレンズの光軸)に対して小角度の鋭角をなして配置された前記複数の発光ダイオードから構成される。
前記メインフレーム体の形状は、円柱形及び矩形から成る群より選択される。
前記メインフレーム体は円柱形であり得、前記発光ダイオードは前記円柱形のメインフレーム体の周縁部に等間隔で配置される。
前記発光ダイオードが前記メインフレーム体の平面に垂直な軸(すなわち前記ルーペレンズの光軸)に対してなす鋭角は30度ないし45度の範囲であり、より好ましくは約30度である。
他の実施形態では、前記発光ダイオードは、前記円柱形のメインフレーム体内に互いに半径方向に離間して設けられた第1及び第2の列に配置され、前記第1の列に配置される発光ダイオードは第1の鋭角を有し、前記第2の列に配置される発光ダイオードは前記第1の鋭角とは異なる第2の鋭角を有する。
この実施形態では、前記第1の鋭角は好ましくは約30度であり、前記第2の鋭角は好ましくは約45度である。
前記第1の列及び前記第2の列の各々は、前記円柱形のメインフレーム体の内側の周縁部に等間隔に配置された6個の発光ダイオードを有する。
前記円柱形のメインフレーム体の底部は、その内部にデジタルカメラセンサ部と隣接して嵌合することができるような、前記デジタルカメラセンサ部と適合可能な形状及び大きさを有する。
ある実施形態では、前記発光ダイオードの個数は偶数である。
前記電源は、好ましくは、前記ルーペ及び照明アセンブリに電力を供給すべく前記メインフレーム体に作動可能に接続された電池であり、前記メインフレーム体は、前記電池を覆い前記電池が所定位置に保持されることを確実にするスライド式カバーを有する。
前記ルーペレンズは、5倍ないし10倍、好ましくは5倍ないし7倍の拡大能力を有する。
他の実施形態では、前記発光ダイオードから放射される電磁スペクトルは、紫外線領域の波長及び赤外線領域の波長から成る群より選択される。
他の実施形態では、前記ルーペレンズは、反射防止コーティングをさらに有する。前記反射防止コーティングは、MgFで形成されることが好ましい。
他の実施形態では、前記電源及び前記光線照射手段に作動可能に接続され、前記電源の不必要な使用を防ぐためにユーザが該ルーペ及び照明アセンブリを必要時にのみ選択的に作動させる手動トリガースイッチが、前記メインフレーム体に設けられる。
また、本発明は、電源と、メインフレーム体と、前記メインフレーム体に設置され、前記電源に作動可能に接続された光線照射手段と、前記メインフレーム体に設置されたルーペレンズとを含み、前記光線照射手段が、前記平面上の前記粒子状汚染物に対する3次元効果を生成するための構成を有し、それにより、前記粒子状汚染物の検出及び特徴付けの向上を達成するようにしたルーペ及び照明アセンブリを使用する方法であって、(a)交換可能レンズを取り外した状態のカメラを、レンズソケット部を上にしてテーブル上に載置するステップと、(b)前記ルーペ及び照明アセンブリを、前記レンズソケット部と離間して対向させるステップと、(c)前記電源から電力供給するステップと、(d)前記ルーペ及び照明アセンブリの向き及び位置を、前記カメラのセンサ上に存在するダスト汚染物質の検出及び特徴付けの向上を可能にするように決定するステップを含む方法に関する。
前記方法は、前記ステップ(b)と前記ステップ(c)との間に行われる、(bb)前記ルーペ及び照明アセンブリを前記レンズソケット部に対して隣接させるステップをさらに含む。
本発明によるルーペ及び照明アセンブリの好適な実施形態の側面図である。 図1の実施形態の拡大断面図である。 図1の実施形態の底面図である。 図1の実施形態の他方の側面図である。 図1及び図4の実施形態のさらに他方の側面図である。 図2に類似するより小さい尺度の部分破断概略断面図であり、ルーペ及び照明アセンブリから離間して配置された平面センサの縁部をさらに示す。平面センサには、本発明により検出及び特徴付けされるダスト粒子が付着している。 図1のルーペ及び照明アセンブリの斜視図である。 図1のルーペ及び照明アセンブリの別の斜視図である。 ルーペ及び照明アセンブリの分解斜視図である。
図1、図3、図4、図5、図7a及び図7bは、カメラセンサ上の粒子状汚染物の検出及び特徴付けを向上させるために使用される、本発明によるカメラセンサダスト検出用ルーペ及び照明アセンブリ10を概略的に示す。このルーペ及び照明アセンブリは、中空状の円柱形メインフレーム体12を含む。メインフレーム体12は、本発明の光源に電力供給するために必要な電池17を収容する電池ハウジング14を備える。電池ハウジング17は、指が滑りにくくし開閉を容易にするためのエンボス加工されたノッチを有するスライド式カバー18で覆われている。メインフレーム体12には、指が滑りにくくするためのエンボス加工されたノッチを有する手動トリガースイッチ16も一体的に設けられている。手動トリガースイッチ16は、ルーペ及び照明アセンブリへの選択的な電力供給を可能にし、それ故に、本発明の不使用時における電池17の消耗が防止される。円柱形メインフレーム体12の内部には(半径方向内側に)、円錐形フランジを有する中空状円柱形体13(メインフレーム体12よりも小型である)が固定されている(図2、図6及び図7cに良く見える)。中空状円柱形体13には、複数の発光ダイオード(LED)が組み込まれ、好ましくは図3に示すように6個(22,22’,22”,22’”,22””及び22’””)のLEDが組み込まれる。複数の発光ダイオードは互いに離間して中空状円柱形体13の周縁部に配置されており、LEDアレイを構成している。各ダイオード22,22’,22”,22’”,22””及び22’””は、後述するレンズ28の光軸に対して鋭角(好ましくは30度ないし45度、最も好ましくは30度)をなして配置されている。
好ましい実施形態では、カメラセンサダスト検出用ルーペ及び照明アセンブリ10をデジタル一眼レフ(DSLR)カメラのデジタルカメラセンサ部に隣接して対向させることを可能にするために、デジタルカメラセンサ部に対して凹状となる円筒状エンボス加工形状体24がメインフレーム体12に設置される。なお、このルーペ及び照明アセンブリ10は、デジタルカメラセンサ部と離間させた状態で、対向させて使用することもできる。また、ルーペ及び照明アセンブリ10は、最新式デジタルカメラなどの他のタイプのカメラのレンズ、または、光学顕微鏡、光学及びデジタル望遠鏡、めがね用レンズなどを含む他の用途のレンズの表面上の粒子状汚染物の検出及び特徴付けを向上させるために使用することもできる。ルーペ及び照明アセンブリ10の使用分野は、不純物の検出に限定されるものではなく、意図する主目的ではないが、任意の平面にも広げることも含む。
図2に示すように、中空状円柱形メインフレーム体12の後側延在部30は、メインフレーム体12の円周面から半径方向内側に延在し、かつ、前側円錐形フランジを有する中空状円柱形体13と同一平面をなすように内側に向かって曲折して形成されており、両凸ルーペレンズ28のテーパー状の周縁部を中空状円柱形体13に対して所定位置に固定するのに使用される。後側延在部30及び中空状円柱形体13の両部品は、それらの間にルーペレンズ28を前側から(13)及び後側から(30)挟持する。前記両部品の端部は、それらの間にルーペレンズ28を摩擦的に固定するために若干傾斜している。中空状円柱形メインフレーム体12の別の横延在部25は、ルーペ及び照明アセンブリ10の内側に延在し、ループレンズ28の意図しない横方向の移動を防止するための、ループレンズ28の端部を当接支持するためのストッパーをさらに構成する。円錐形フランジを有する中空状円柱形体13の前面側において半径方向外側に延びる突出部29は、中空状円柱形体13をメインフレーム体12に固定するのに使用され、メインフレーム体12の円周面の半径方向内側に溝状に形成された環状ノッチ29aに突出部29を挿入することにより前記固定がなされる。
前述したように電池ハウジング14の内部には電池17が収容されるが、電池ハウジング14内には2つの円盤状電池17が収容されることが好ましい。これらの電池17は、電極20及び21と接触させられる(図2参照)。電極20及び21の導線20a及び21aは、メインフレーム体12の壁部を通って半径方向内側に突出し、中空状円柱形体13と延在部30とメインフレーム体12との間に形成された環状中空部の内部へ至る。電極20及び21は、導線20a及び21aを通って電流が流れることを可能にする。導線20a及び21aは、手動トリガースイッチ16の金属製接触部23に接続され、その後、LEDの22,22’,22”,22’”,22””及び22’””と対応する電極19,19’,19”,19’”,19””及び19’””に接続され直列回路を形成する。このことにより、カメラセンサダスト検出用ルーペ及び照明アセンブリ10への電力供給が可能となる。また、ダイオードは並列回路とすることもでき、その場合は、或るダイオードが切れたときに、切れたダイオードを特定して交換することが容易になる。前記直列回路に電力を供給するのに使用される2つの電池17は、CR2025リチウム電池であり得、好ましくは、最新のCR2032リチウム電池であり得る。
手動トリガースイッチ16は、図7cに示すように本体12内に形成された対応する半径方向開口部16a内に入れ子にされ保持されており、メインフレーム体12の円周面に沿って円周接線方向へ摺動することできる。手動トリガースイッチ16は、開回路に対応し、カメラセンサダスト検出用ルーペ及び照明アセンブリ10に電力を供給しない電源オフ位置と、閉回路に対応し、カメラセンサダスト検出用ルーペ及び照明アセンブリ10の正常動作を可能にする電源オン位置とを有する。
図6は、手動トリガースイッチ16を電源オフ位置から電源オン位置へ移動させることによりルーペ及び照明アセンブリ10を作動させた場合の、ダイオード22,22’,22”,22’”,22””及び22’””から構成されるLEDアレイから照射された光線40,40’及び40”を示す。入射光線40,40’及び40”は、センサ表面42上に存在し、かつ、ダイオード22,22’及び22”から構成されるLEDアレイ及びルーペレンズ28の両方の焦点上に位置するダスト粒子43に吸収される。ダスト粒子43で反射された光線41及び41’はルーペレンズ28を通過して互いに平行に出射し、カメラセンサダスト検出用ルーペ及び照明アセンブリを通して見ている観察者はこのダスト粒子の拡大像を視認することができる。ルーペレンズ28は、拡大鏡のように作用する厚い両凸の収束レンズであり、観察者が物体(この場合はダスト粒子43)を見るときの見かけ上の角度を増大させることにより、ルーペレンズ28を通して見えるレンズ焦点とレンズ自身との間に存在する物体を拡大する。このことにより形成された像(仮想的な像)の大きさは物体の元の大きさよりも大きいため、物体が拡大されたという印象を観察者に与える。物体がルーペレンズ28の焦点面(焦点を含む面)上に位置する場合、物体で反射され、レンズを通過した光線は、その後、互いに平行になり、無限遠において拡大された(最大ではない)虚像を形成する。このような状況では、拡大された物体を見るのに接眼レンズを調節する必要がないので、観察者は疲労することなく前記物体を長時間に渡って観察することができる。ルーペレンズ28を通して見る場合の前記像によって規定された角度の、光学装置を使用せずに所定の距離(近点)で見た場合の物体によって規定された角度に対する割合は、角倍率または拡大率と呼ばれる。この値は、ルーペレンズ28を通して見たときに、前記物体がどれくらい大きく見えるかを決定することを可能にする。ルーペレンズ28のような拡大鏡の場合、角倍率は、目の近点(約25cmと推定される)のレンズの焦点長さに対する比率に簡略化される。
図3に示すようなLEDアレイのダイオード22,22’,22”,22’”,22””及び22’””の特殊な配置は、センサ表面42上に存在する粒子に対して3次元効果を与えることを可能にする。ダスト粒子43に対して光線を照射するこの方法は、ダスト粒子43の周囲に陰影部のハロを投影すること、及び粒子表面のより広い領域に光線を照射することにより良好なコントラストを与える。このことにより、観察者が観察しやすくなるように、粒子を強調して3次元効果を実現し、ダスト粒子43の検出及び特徴付け(サイズ及び輪郭形状)を可能にする。
ルーペ及び照明アセンブリ10内でルーペレンズ28を本体12に対して平らに配置するのではなく、ルーペレンズ28を円柱形メインフレーム体12の平面及び円錐形フランジを有する円柱形体13の平面に対して小角度の鋭角をなして配置することもできる。しかし、このことは、ダイオードの焦点をルーペレンズ28の焦点と一致させるために、ダイオードを様々な角度及び方向に設定する複雑な調節が必要となる。そのような理由で、図7Cに示すように、軸IIに対する或る円対称性を装置に持たせるために、レンズ28は円柱形メインフレーム体12に対して平らに配置することが好ましい。この場合、ダイオードの焦点をルーペレンズ28の焦点と一致させるためにダイオード22,22’,22”,22’”,22””及び22’””の方向を設定する作業は不要である。
好ましい実施形態では、ルーペレンズ28は、ルーペ及び照明アセンブリ10を通してセンサ表面42全体を見ることができるように配置される。しかし、拡大率を大きくするためには、焦点距離をより短くする必要がある。上記の2つの条件に適合させるために、ルーペ及び照明アセンブリ10に含まれるルーペレンズ28の拡大率の使用可能範囲は5倍ないし10倍であることが分かった。最も好ましい実施形態でのルーペレンズ28は、センサの位置とセンサ表面上の粒子状汚染物の検出及び特徴付けを可能にする倍率とを考慮に入れた場合に良好な焦点長さを可能にする、5倍ないし7倍の光学拡大率を有する。また、レンズと焦点との距離を短くするほどレンズをより湾曲させる必要がある。その場合、本来は避けるべきの球面収差が大きくなるため、単一レンズによる高倍率用のルーペレンズ28を通して見る像がゆがむ。
ルーペレンズ28は、好ましくはK9光学ガラスで作られ、約50mmの直径を有し得、ルーペレンズ28に反射防止能力を持たせるためのMgFコーティングを有し得る。このコーティングによりルーペレンズ28を通過する光線の量が多くなるので、電池電流をより多く必要とするより強力な発光ダイオードを使用することなくユーザの目に届く光の強度が増大するため、ルーペ及び照明アセンブリ10の効率が向上させることができる。また、コーティングは、観察者によって観察される像に影響を及ぼしダスト粒子43の特徴付け及び検出の信頼性を低下させ得る、色収差、レンズ表面上のカビ成長及びルーペレンズ28表面の望ましくない反射を防止する。発光ダイオード22,22’,22”,22’”,22””及び22’””は、5mmの幅、無色透明の色、約18000ないし20000mcd(ミリカンデラ)の光度を有することが好ましい。好ましい実施形態では、メインフレーム体12、円錐形フランジを有する円柱形体13(メインフレーム体12よりも小型である)、電池ハウジング14、スライド式カバー18、及び手動トリガースイッチ16は、アクリロニトリル・ブタジエン・スチレン(ABS)プラスチックから作られている(ABSプラスチックの品質(剛性、成形性、入手可能性、靱性、及び低コスト)の理由で)。センサ表面上でダスト粒子が検出されると、本出願人による2007年10月11日に公開されたPCT国際特許出願第WO2007/112550A1公報(特許文献1)に開示されている、有孔ブレードを有する擦らない方式の洗浄スワブなどのスワブを使用して、センサのフィルタコーティングを傷つけることなくダスト粒子を除去することができる。

Claims (20)

  1. 平面上の粒子状汚染物の検出を向上させるためのルーペ及び照明アセンブリであって、
    電源と、
    メインフレーム体と、
    前記メインフレーム体に設置され、前記電源に作動可能に接続された光線照射手段と、
    前記メインフレーム体に設置されたルーペレンズとを含み、
    前記光線照射手段が、前記平面上の前記粒子状汚染物に対する3次元効果を生成するための構成を有することにより、前記粒子状汚染物の検出及び特徴付けの向上を達成するようにしたことを特徴とするアセンブリ。
  2. 請求項1に記載のルーペ及び照明アセンブリであって、
    前記光線照射手段は、前記メインフレーム体の周縁部に配置された複数の発光ダイオードから構成されることを特徴とするアセンブリ。
  3. 請求項2に記載のルーペ及び照明アセンブリであって、
    前記3次元効果を生成するための構成は、該アセンブリの前方空間に位置する共通点において前記各ダイオードの焦点を結ぶように前記メインフレーム体の平面に垂直な軸線に対して小角度の鋭角をなして配置された前記複数の発光ダイオードから構成されることを特徴とするアセンブリ。
  4. 請求項1に記載のルーペ及び照明アセンブリであって、
    前記メインフレーム体の形状は、円柱形及び矩形から成る群より選択されることを特徴とするアセンブリ。
  5. 請求項3に記載のルーペ及び照明アセンブリであって、
    前記メインフレーム体は円柱形であり、前記発光ダイオードは前記円柱形のメインフレーム体の周縁部に等間隔で配置されたことを特徴とするアセンブリ。
  6. 請求項5に記載のルーペ及び照明アセンブリであって、
    前記発光ダイオードが前記メインフレーム体の平面に垂直な軸線に対してなす鋭角は、30度ないし45度の範囲であることを特徴とするアセンブリ。
  7. 請求項6に記載のルーペ及び照明アセンブリであって、
    前記発光ダイオードが前記ルーペレンズの光軸に対してなす鋭角は、30度であることを特徴とするアセンブリ。
  8. 請求項5に記載のルーペ及び照明アセンブリであって、
    前記発光ダイオードは、前記円柱形のメインフレーム体内に互いに半径方向に離間して設けられた第1及び第2の列に配置され、
    前記第1の列に配置される発光ダイオードは第1の鋭角を有し、
    前記第2の列に配置される発光ダイオードは前記第1の鋭角とは異なる第2の鋭角を有することを特徴とするアセンブリ。
  9. 請求項8に記載のルーペ及び照明アセンブリであって、
    前記第1の鋭角は30度であり、前記第2の鋭角は45度であることを特徴とするアセンブリ。
  10. 請求項8に記載のルーペ及び照明アセンブリであって、
    前記第1の列及び前記第2の列の各々は、前記円柱形のメインフレーム体の内側の周縁部に等間隔に配置された6個の発光ダイオードを有することを特徴とするアセンブリ。
  11. 請求項7に記載のルーペ及び照明アセンブリであって、
    前記円柱形のメインフレーム体の底部は、その内部にデジタルカメラセンサ部と隣接して嵌合ことができるような、前記デジタルカメラセンサ部と適合可能な形状及び大きさを有することを特徴とするアセンブリ。
  12. 請求項2に記載のルーペ及び照明アセンブリであって、
    前記発光ダイオードの個数が偶数であることを特徴とするアセンブリ。
  13. 請求項1に記載のルーペ及び照明アセンブリであって、
    前記電源は、該ルーペ及び照明アセンブリに電力を供給すべく前記メインフレーム体に作動可能に接続された電池であり、
    前記メインフレーム体は、前記電池を覆い前記電池が所定位置に保持されることを確実にするスライド式カバーを有することを特徴とするアセンブリ。
  14. 請求項1に記載のルーペ及び照明アセンブリであって、
    前記ルーペレンズが、5倍ないし10倍、好ましくは5倍ないし7倍の拡大能力を有することを特徴とするアセンブリ。
  15. 請求項2に記載のルーペ及び照明アセンブリであって、
    前記発光ダイオードから放射される電磁スペクトルが、紫外線領域の波長及び赤外線領域の波長から成る群より選択されることを特徴とするアセンブリ。
  16. 請求項1に記載のルーペ及び照明アセンブリであって、
    前記ルーペレンズが、反射防止コーティングをさらに有することを特徴とするアセンブリ。
  17. 請求項16に記載のルーペ及び照明アセンブリであって、
    前記反射防止コーティングがMgFで形成されることを特徴とするアセンブリ。
  18. 請求項1に記載のルーペ及び照明アセンブリであって、
    前記電源及び前記光線照射手段に作動可能に接続され、前記電源の不必要な使用を防ぐためにユーザが該ルーペ及び照明アセンブリを必要時にのみ選択的に作動させる手動トリガースイッチが、前記メインフレーム体に設けられたことを特徴とするアセンブリ。
  19. 電源と、メインフレーム体と、前記メインフレーム体に設置され、前記電源に作動可能に接続された光線照射手段と、前記メインフレーム体に設置されたルーペレンズとを含み、前記光線照射手段が、前記平面上の前記粒子状汚染物に対する3次元効果を生成するための構成を有し、それにより、前記粒子状汚染物の検出及び特徴付けの向上を達成するようにしたルーペ及び照明アセンブリを使用する方法であって、
    (a)交換可能レンズを取り外した状態のカメラを、レンズソケット部を上にしてテーブル上に載置するステップと、
    (b)前記ルーペ及び照明アセンブリを、前記レンズソケット部と離間して対向させるステップと、
    (c)前記電源から電力供給するステップと、
    (d)前記ルーペ及び照明アセンブリの向き及び位置を、前記カメラのセンサ上に存在するダスト汚染物質の検出及び特徴付けの向上を可能にするように決定するステップを含む方法。
  20. 請求項19に記載の方法であって、
    前記ステップ(b)と前記ステップ(c)との間に行われる、
    (bb)前記ルーペ及び照明アセンブリを前記レンズソケット部に対して隣接させるステップをさらに含むことを特徴とする方法。
JP2010511455A 2007-06-12 2008-06-05 カメラセンサ上のダスト検出用のルーペ及び照明アセンブリ Pending JP2010529625A (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US93426307P 2007-06-12 2007-06-12
PCT/CA2008/001068 WO2008151414A1 (en) 2007-06-12 2008-06-05 Loupe and lighting assembly for camera sensor dust detection

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2010529625A true JP2010529625A (ja) 2010-08-26

Family

ID=40129167

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2010511455A Pending JP2010529625A (ja) 2007-06-12 2008-06-05 カメラセンサ上のダスト検出用のルーペ及び照明アセンブリ

Country Status (8)

Country Link
US (1) US8342710B2 (ja)
EP (1) EP2160595A4 (ja)
JP (1) JP2010529625A (ja)
CN (1) CN101711353A (ja)
AU (1) AU2008261567B2 (ja)
CA (1) CA2690020C (ja)
MX (1) MX2009013578A (ja)
WO (1) WO2008151414A1 (ja)

Families Citing this family (24)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8059194B2 (en) * 2008-09-22 2011-11-15 Parkside Optical Inc. Image sensor inspection and cleaning device
DE102009049203B4 (de) * 2009-10-13 2016-10-13 Arnold & Richter Cine Technik Gmbh & Co. Betriebs Kg Diagnoseeinheit für eine elektronische Kamera und Kamerasystem
US20120170274A1 (en) * 2010-12-29 2012-07-05 James Lu Magnifying lamp with detection function
ITMI20110838A1 (it) * 2011-05-13 2012-11-14 Andrea Benedetti Dispositivo di ausilio per la pulizia del sensore di una fotocamera digitale ad obiettivi intercambiabili
KR101748622B1 (ko) * 2012-03-21 2017-06-20 한화테크윈 주식회사 칩마운터의 사이드 조명 장치 및 이를 이용한 칩마운터의 조명 장치
US9285081B2 (en) * 2012-06-13 2016-03-15 Q Technology, Inc. LED high bay lighting source
US20140130365A1 (en) * 2012-11-13 2014-05-15 Kristine M. Dineen Multiple purpose hair dryer
HK1200267A2 (en) * 2015-03-11 2015-07-31 Alberto Schileo Lighting attachment
US9948842B2 (en) 2015-06-26 2018-04-17 Kodak Alaris Inc. Camera subassembly dust and defect detection system and method
US10180248B2 (en) 2015-09-02 2019-01-15 ProPhotonix Limited LED lamp with sensing capabilities
DE102016113887A1 (de) 2016-07-27 2018-02-01 Arnold & Richter Cine Technik Gmbh & Co. Betriebs Kg Objektsimulationsgerät zum Prüfen eines Kameraobjektivs und Diagnosesystem
CN106427783B (zh) * 2016-11-11 2019-12-10 北京汽车股份有限公司 车载摄像头和具有它的车辆
USD869430S1 (en) * 2018-01-29 2019-12-10 Amazon Technologies, Inc. Headphones
CN108758399A (zh) * 2018-05-03 2018-11-06 中国科学院武汉岩土力学研究所 一种剪切设备用剪切过程辅助照明装置
CN108917818A (zh) * 2018-06-29 2018-11-30 深圳市同泰怡信息技术有限公司 服务器机箱灰尘检测方法及系统
JP7161905B2 (ja) * 2018-10-15 2022-10-27 アルテミラ株式会社 缶蓋検査機並びにカメラ位置調整方法
USD898967S1 (en) * 2018-10-22 2020-10-13 Etekcity Corporation Combined salt lamp and speaker
JP1628031S (ja) * 2018-10-25 2019-04-01
JP1628038S (ja) 2018-10-31 2019-04-01
JP7175002B2 (ja) 2019-01-23 2022-11-18 株式会社オーディオテクニカ マイクロホン
US11523722B2 (en) 2019-05-28 2022-12-13 Pixart Imaging Inc. Dirtiness level determining method and electronic device applying the dirtiness level determining method
US11493336B2 (en) 2020-06-22 2022-11-08 Pixart Imaging Inc. Optical navigation device which can determine dirtiness level of cover or fix multi light pattern issue
CN115202133A (zh) * 2022-08-15 2022-10-18 哈尔滨瞬态加载试验设备技术开发有限公司 用于与高速相机同轴配套的高亮度环形聚光led光源
US20240069414A1 (en) * 2022-08-23 2024-02-29 Gopro, Inc. Bayonet accessory ring light

Family Cites Families (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3908119A (en) * 1974-06-10 1975-09-23 Nerses J Zeytoonian Inspection devices
DE3906555A1 (de) 1989-03-02 1989-07-06 Zeiss Carl Fa Auflicht-objektbeleuchtungseinrichtung
CA2234515C (fr) 1995-10-09 2006-08-01 Agence Spatiale Europeenne Appareil de mesure de retombees de particules sur une surface, utilisant une plaque temoin
US5926557A (en) 1997-02-26 1999-07-20 Acuity Imaging, Llc Inspection method
EP1082854A4 (en) 1998-05-29 2004-04-14 Robotic Vision Systems MINIATURIZED INSPECTION SYSTEM
US6322226B1 (en) * 2000-01-24 2001-11-27 Daniel Dickson Adjustable illumination apparatus having pre-focused led and magnification lens
US6547409B2 (en) * 2001-01-12 2003-04-15 Electroglas, Inc. Method and apparatus for illuminating projecting features on the surface of a semiconductor wafer
DE10122313A1 (de) 2001-05-08 2002-11-21 Wolfgang P Weinhold Verfahren und Vorrichtung zur berührungsfreien Untersuchung eines Gegenstandes, insbesondere hinsichtlich dessen Oberflächengestalt
US6739738B1 (en) * 2003-01-28 2004-05-25 Whelen Engineering Company, Inc. Method and apparatus for light redistribution by internal reflection
JP2005024905A (ja) 2003-07-02 2005-01-27 Nikon Corp デジタルカメラの清掃装置およびカメラシステム
US7122819B2 (en) 2004-05-06 2006-10-17 Micron Technology, Inc. Method and apparatus for imager die package quality testing
CN2779215Y (zh) 2004-11-12 2006-05-10 王锦峰 检测元件的led光源发生器
US7430311B2 (en) * 2005-01-13 2008-09-30 Applied Vision Company, Llc System and method for inside can inspection
US7805070B2 (en) * 2006-09-27 2010-09-28 Apical Industries, Inc. Image sensor inspection device

Also Published As

Publication number Publication date
CA2690020C (en) 2011-10-18
EP2160595A1 (en) 2010-03-10
US20100188841A1 (en) 2010-07-29
CN101711353A (zh) 2010-05-19
WO2008151414A1 (en) 2008-12-18
AU2008261567A1 (en) 2008-12-18
US8342710B2 (en) 2013-01-01
CA2690020A1 (en) 2008-12-18
EP2160595A4 (en) 2012-03-14
MX2009013578A (es) 2010-03-18
AU2008261567B2 (en) 2013-05-02

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2010529625A (ja) カメラセンサ上のダスト検出用のルーペ及び照明アセンブリ
JP4293857B2 (ja) フレネルレンズを用いた照明装置
US8594495B2 (en) Short-range photographic light source module for use in image capture device and image capture device provided with same
WO2016158780A1 (ja) 観察装置および観察方法
US20160147057A1 (en) Lens unit and transmission compound microscope
CN201373941Y (zh) 明/暗视场正置金相数码显微镜
TW201312192A (zh) 光學影像擷取裝置用濾鏡光源模組及該影像擷取裝置
US9772540B2 (en) Autofocus for imaging system
KR20160091909A (ko) 텔레센트릭 렌즈
JP2012059584A (ja) 照明装置
KR101986749B1 (ko) 휴대폰 조명용 집광 및 색광 장치
JP7310856B2 (ja) 照明装置、及び撮像装置
JP2017504071A (ja) 可変焦点距離を有するハンドヘルド拡大機カメラ
CN114222045A (zh) 摄像头模组及电子设备
CN101631194A (zh) 摄像装置
WO2011119372A1 (en) Refraction assisted illumination for imaging
US20160298823A1 (en) Light emitting module and image surveillance device thereof
JP2007017901A (ja) 照明装置および顕微鏡
CN110622055B (zh) 显微镜和显微镜照明方法
US20200233281A1 (en) Evidence capturing
JP7510657B2 (ja) 発光ダイオード照明装置
CN215340525U (zh) 芯片的氧化孔径的观察装置
JP3217259U (ja) スマートデバイス用レンズユニット及び透過型複式顕微鏡装置
JP2017003898A (ja) レンズアタッチメント
JP3170226U (ja) 光モジュール