JP2010517279A - 光学システムの結像特性を改善する方法及び光学システム - Google Patents
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Abstract
【選択図】図1
Description
更に、本発明は、改善された結像特性を有する光学システムに関する。
この種類の光学システムは、例えば、様々な反射/屈折特性を有するレンズ、ミラー、又は平行平面板として形成することができる複数の光学要素を有する。
投影対物器械は、マスク構造又はパターン(レチクル)を感光基板上に結像するのに用いられる。この場合には、光学システムの対物面に配列された構造は、光源及びそれに関連付けられた照明光学アセンブリによって照らされる。この構造を通じて透過される光は、光学システムを通じて誘導され、光学システムの像平面に配列された感光基板を露光する。
光学システムの結像品質は、光学システム内で発生する結像収差、例えば、収差から生じる区域に依存する。そのような結像収差は、光学システムの少なくとも1つの光学要素が加熱されて光学システムの結像特性を変化させることにより、光学システムの作動中に熱的に誘起される場合がある。
熱的に誘起される結像収差は、光学要素の変形によって少なくとも部分的に補正することができることは公知である。一般的に、そのような変形は、光学要素の波面プロフィールにおいて特定の波形(方位角方向の周期性)を発生させ、この波形を用いて、波面収差プロフィールの対応する波形が少なくとも部分的に補正される。波面の波形(方位角方向の周期性)は、2πまでの角度の整数倍を意味し、それによって波面は、瞳の中心点回りの方位角方向の回転の後にそれ自体へと重なると理解すべきである。
更に、光学要素を位置決めし、すなわち、変位、傾斜、及び/又は回転させることによって結像収差を低減することができる。
更に、US2006/014662A1は、収差を補正するのに光学要素が機械的かつ熱的に変形される光学液浸システムを開示している。
従って、本発明の目的は、そのような方法を提供することである。
更に、本発明の目的は、結像特性に関して改善された光学システムを提供することである。
少なくとも第1及び/又は少なくとも第2の光学要素の機械的位置決め及び/又は変形、並びに熱的変形は、光学システムの波面プロフィール変化を誘導し、この手段により、少なくとも1つの結像収差を少なくとも部分的に補正することができる。
光学要素の機械的位置決めは、光軸に沿った又はそれを横断する変位、光軸回りの回転、及び/又は傾斜と理解されるものとする。
光学要素は、例えば、様々な屈折及び反射特性を有するレンズ、ミラー、又は平行平面板として形成することができる。
更に別の利点は、機械的変形が光学要素又はそのマウントに対する損傷を招くことになる時に、光学要素の熱的変形を用いることができるということに基づいている。従って、光学要素の熱的変形は、単純な機械的変形では可能にはならない結像収差の補正を可能にする。
更に、同時に実施される光学要素の機械的位置決め及び/又は変形、並びに熱的変形により、結像収差の補正に必要とされる時間が短縮される。
この対処法は、光学要素の複雑な波面収差プロフィールを光学要素の機械的に誘発される操作と熱的に誘発される操作との相互作用において最適に補正することができるという利点を有する。
この対処法は、機械的力作用を単純で容易に制御可能な方式でもたらすことができるという利点を有する。光学要素に対する時間的に一定の機械的力作用補正効果は十分に公知であり、従って、十分に予測することができる。更に、時間的に一定の機械的力作用を発生させる機械的マニピュレータに課せられる技術要件は、時間的に可変の機械的力作用を発生させるマニピュレータの場合におけるものよりも厳しくない。
この対処法は、熱的作用を光学システムの時間的に可変の波面収差プロフィールに最適に適応させることができるという利点を有する。光学システムの結像収差は、この手段によって特に良好に補正することができる。
この光学システムでは、少なくとも1つの機械的マニピュレータには、1秒よりも短く、好ましくは、500ミリ秒よりも短く、より好ましくは、100ミリ秒よりも短い継続時間内に機械的マニピュレータを作動させるコントローラが割り当てられる。そのような継続時間の各々の後には、マニピュレータは休止状態にある。
この構成は、第1の光学要素に対する機械的力作用時間間隔内での調節及び/又は変更の場合を表している。好ましくは、時間間隔Δtmechは、単一のダイの露光の時間間隔に適応される。
言い換えれば、機械的マニピュレータは、第1の光学要素の位置決め及び/又は変形をシステムの光学要素の加熱に起因して必要とされる結像補正に適応させるためにダイ毎にトリガされる。
この光学システムでは、上述のコントローラは、少なくとも1つの機械的マニピュレータを上記に応じて時間間隔Δtmechで作動させる。従って、機械的マニピュレータのトリガ又は作動の時間間隔Δtmechは、作動自体の継続時間よりも長く、各単一のダイの1回の露光の時間間隔に応じて平均で1秒から5秒の範囲にある。
機械的マニピュレータとは異なり、熱的マニピュレータは、揺動及び振動の問題の対象とはならない。従って、熱的マニピュレータは、熱時定数を短くするために連続的に作動させることができる。
しかし、熱的マニピュレータの場合であっても、第1及び/又は第2の光学要素に対する熱的作用を時間間隔Δtthermで実施することができれば好ましいものとすることができる。
好ましくは、機械的力作用及び熱的作用作動の時間間隔tthermΔ及びΔtmechは、比Δttherm/Δtmechが0から約10の範囲にくるように選択される。値0は、熱的マニピュレータの連続作動を意味し、約1の値は、例えば、ダイ毎に機械的マニピュレータ及び熱的マニピュレータの等しい時間間隔での作動を意味し、1よりも大きい値、例えば、7から10は、熱的マニピュレータが、ウェーハの完全露光の継続時間にわたって作動され、すなわち、熱的マニピュレータの作動が、単一のダイの各1回の露光の後に中断されず、機械的マニピュレータにおいても同様であることを意味する。
この対処法は、光学要素の回転対称の加熱に基づく光学システムの結像収差が、光学要素内に確立される回転対称の温度分布によって補正されるという利点を有する。
この対処法は、例えば、照明極によって達成されるもののような光学要素の非回転対称の加熱に基づく結像収差を光学要素内に誘発される非回転対称の温度分布によって補正することができるという利点を有する。
この対処法は、光学要素の光学的未使用領域内に温度変化が生じるという利点を有する。縁部領域から発し、誘発された温度変化を光学要素全体に拡大することができる。
この対処法は、光学要素の機械的にのみ誘発された変形、又は熱的にのみ誘発された変形に比較して大きい変形が達成されるという利点を有する。
更に好ましい構成では、機械的力作用及び熱的作用は、これらの作用が少なくとも1つの結像収差の実際の補正と望ましい補正との間の時間間隔を最小にするように実施される。
この対処法は、少なくとも1つの結像収差の少なくとも部分的な補正が迅速に実施されるという利点を有する。それによって光学システムの作動中の保守回数は有利に低減する。
この対処法は、単純な方式で実施することができる結像収差を判断するための更に別の可能性がもたらされるという利点を有する。基準光分散の結像収差は既知であるから、光学システムの少なくとも1つの結像収差を直接推定することができる。
この対処法は、単純な方式で実施することができる光学システムの結像収差を判断するための更に別の可能性をもたらす。好ましくは、光分散の測定は、基板の露光の前に実施され、例えば、CCDカメラのような検出器が用いられる。光分散は、例えば、瞳に近い平面、視野に近い平面、及び/又は中間平面である光学システムの平面において測定することができる。
この対処法は、将来発生する結像収差の情報に基づいて結像収差を最適に補正することを可能にする。
更に好ましい構成では、少なくとも1つの結像収差の時間的発達を判断するために、少なくとも1つの結像収差の情報が用いられる。
この対処法は、結像収差の将来の時間的発達を現在の結像収差に基づいて非常に正確に予測することができるという利点を有する。更に、上記に加えて、時間的発達をより一層正確に予測することができるように、少なくとも1つの結像収差の時間的発達の予測において過去の時点で既に発生した結像収差を考慮に入れることが可能である。
この対処法は、実施することができる全ての可能な補正を含めて、結像収差を最適に補正することを可能にする。
本発明による光学システムの場合に、特許請求の範囲で特定される光学システムの好ましい構成に従って、光学システムの結像特性を改善する上述の方法を適用することが可能である。
その都度説明しないが、上記に示した特徴及び下記に説明する特徴は、指定する組合せだけではなく、本発明の範囲から逸脱することなく他の組合せに又はそれら自体によって用いることができる。
添付図面に関連する一部の選択された例示的な実施形態に基づいて、下記に本発明をより詳細に説明かつ記述する。
この種類の光学システム10は、マイクロリソグラフィにおいて微細にパターン化された構成要素を加工するための投影対物器械として用いることができる。
照明光学アセンブリ25が割り当てられた光源24は、光学システム10の対物面26に配列された構造20を照明する。光ビーム28は、構造20の部分領域を通じて透過され、光学システム10上に当たる。光学システム10は、構造20を光学システム10の像平面30に配列された感光基板22上に縮小方式で結像する。
光学システム10の作動中に、1つ又はそれよりも多くの光学要素42〜48の加熱の結果として、少なくとも1つの結像収差が発生する可能性がある。この加熱に起因して、光学要素42〜48の材料特性は、放射線に影響される方式で不可逆に変化する可能性がある。一例として、光学要素42〜48の密度が変化する可能性があり(圧密化、希薄化)、その結果、光学要素42〜48の屈折率又は熱膨張係数が変化する。更に、光学要素42〜48の加熱は、幾何学形状及び材料特性の時間的な変化を招く可能性がある。
光学要素42〜48の加熱は、光学システム10の光軸Oに対して回転対称又は非回転対称で発生する可能性がある。非回転対称加熱の事例は、例えば、光学システムに対する照明極を発生させることができる照明光学アセンブリ25内のマスク又は格子によってもたらされる。
この目的のために、光学システム10は、複数の光学要素に割り当てられた複数のマニピュレータを有し、概略図では4つのマニピュレータ62〜68を有する。マニピュレータ62〜68は、機械的マニピュレータ62〜64又は熱的マニピュレータ66〜68として形成することができる。
マニピュレータ62〜68は、光学システム10の少なくとも1つの結像収差を少なくとも部分的に補正するという役割を達成する。各機械的マニピュレータ62、64は、光学要素42、44に対して作用して光学要素42、44に対して機械的力を発生させる1つ又はそれよりも多くのアクチュエータを有することができる。これらのアクチュエータによって光学要素42、44は位置決めされ、又は機械的に変形され、変形の場合には、その特性、特に幾何学形状、及び/又は例えば屈折率などのような材料特性に関して光学的に変更される。光学要素42、44の位置決めは、光学要素42、44の幾何学形状又は材料特性の変更をもたらさず、ここでの位置決めは、光軸Oの方向又はその方向を横断する方向の光学要素42、44の変位、光軸O回りの光学要素42、44の回転、及び/又は光軸Oに対する垂直軸回りの光学要素42、44の傾斜を意味する。
機械的マニピュレータ62、64は、2次の波形を有する結像収差を補正するための変形可能レンズ要素に対するアクチュエータ、又は光学要素42、44を位置決めするためのアクチュエータを含むことができる。
熱的マニピュレータ66、68は、光学要素42、46に対して熱的作用76、78を発生させる。光学要素42、46は、これらの熱的作用76、78によるその部分領域の加熱/冷却によって熱的に変形される。本発明によると、熱的に誘発される光学要素42、46の変形は、温度に依存するその特性の変化、特に、幾何学形状及び/又は例えば熱膨張係数及び屈折率のような材料特性変化を意味すると理解すべきである。
熱的マニピュレータ66、68にも同様にコントローラ67、69が割り当てられる。
更に各マニピュレータ62〜68は、各場合に個々に駆動することができる。同様に、全てのマニピュレータ62〜68を共同で又は互いに異なる組合せで駆動することができる。
光学システム10の少なくとも1つの結像収差の意図する望ましい補正84は、補正86及び補正88によって得られる。補正86は、機械的マニピュレータ62、64を用いた光学要素42、44の位置決め及び/又は変形から生じる。補正88は、熱的マニピュレータ66、68を用いた光学要素42、46の変形から生じる。
少なくとも1つの結像収差の少なくとも部分的な補正は、光学システム10の結像特性を改善する方法100中に実施される(図3を参照されたい)。方法100は、方法段階102〜108、すなわち、少なくとも1つの結像収差の判断、少なくとも1つの結像収差の時間的発達の判断、可能な最良の補正の判断、及び少なくとも1つの結像収差の少なくとも部分的な補正を有する。
少なくとも1つの結像収差の判断である方法段階102は、組合せでも用いることができる小段階110〜116によって実施することができる。小段階110は、少なくとも1つの結像収差の直接測定に基づいている。この目的のために、例えば、EP1、231、517A1、US5、978、085A1、US5、392、119A1、又はUS5、828、455A1に例示されているもののような波面検出器を用いることができる。
結像収差を判断するための小段階114は、光学システム内の視野及び回折角依存の光分散と基準測定値の視野及び回折角依存の光分散との比較によって実施される。
少なくとも1つの結像収差の判断である方法段階102の後に、少なくとも1つの結像収差の時間的発達の計算である方法段階104が実施される。この方法段階104は、少なくとも1つの結像収差の以前の時点での情報を含むことができる。好ましくは、少なくとも1つの結像収差の時間的発達は、予め数時間先まで計算することができる。
少なくとも1つの結像収差の少なくとも部分的な補正である方法段階108は、上述のように、機械的力作用72、74及び熱的作用76〜78を用いて実施することができる。
42 第1の光学要素
46 第2の光学要素
72 機械的力作用
76、78 熱的作用
Claims (39)
- 光学システム(10)の結像特性を改善する方法であって、
光学システム(10)が、複数の光学要素を有し、
少なくとも1つの結像収差を少なくとも部分的に補正するために、前記複数の光学要素からの少なくとも第1の光学要素(42)が、機械的力作用(72)によって及び熱的作用(76)によって位置決めされ及び/又は変形され、又は該少なくとも第1の光学要素(42)が、機械的力作用(72)によって位置決めされ及び/又は変形され、該複数の光学要素からの少なくとも第2の光学要素(46)が、熱的作用(78)によって変形される、
ことを特徴とする方法。 - 前記少なくとも第1の光学要素(42)は、時間的に重畳する方式で機械的力作用(72)によって及び熱的作用(76)によって位置決めされ及び/又は変形され、又は該少なくとも第1の光学要素(42)は、機械的力作用(72)によって位置決めされ及び/又は変形され、かつ時間的に重畳する方式で前記少なくとも第2の光学要素(46)が、熱的作用(74)によって変形されることを特徴とする請求項1に記載の方法。
- 前記少なくとも第1の光学要素(42)は、時間的に一定の機械的力作用(72、74)によって位置決めされ及び/又は変形されることを特徴とする請求項1又は請求項2に記載の方法。
- 前記少なくとも第1の光学要素(42)及び/又は前記少なくとも第2の光学要素(46)は、時間的に可変の熱的作用(76、78)によって、例えば、時間的に線形に立ち上がる熱的作用(76、78)によって変形されることを特徴とする請求項1から請求項3のいずれか1項に記載の方法。
- 前記少なくとも第1の光学要素(42)を位置決めし及び/又は変形させるための前記機械的力作用は、1秒よりも短く、好ましくは、500ミリ秒よりも短く、更に好ましくは、100ミリ秒よりも短い継続時間内で調節及び/又は変更されることを特徴とする請求項1から請求項4のいずれか1項に記載の方法。
- 前記第1の光学要素(42)を位置決めし及び/又は変形させるための前記機械的力作用は、時間間隔Δtmech内に適応されることを特徴とする請求項1から請求項5のいずれか1項に記載の方法。
- 前記第1及び/又は第2の光学要素(42、46)に対する前記熱的作用は、連続的に実施されることを特徴とする請求項1から請求項6のいずれか1項に記載の方法。
- 前記第1及び/又は前記第2の光学要素(42、46)に対する前記熱的作用は、時間間隔Δttherm内に作動されることを特徴とする請求項1から請求項7のいずれか1項に記載の方法。
- Δttherm/Δtmechが、0から約10の範囲にあることを特徴とする請求項6、及び請求項8又は請求項9のいずれか1項に記載の方法。
- 前記熱的作用(76、78)は、それが前記少なくとも第1の光学要素(42)及び/又は前記少なくとも第2の光学要素(46)に回転対称の温度分布を生成するような方法で実施されることを特徴とする請求項1から請求項9のいずれか1項に記載の方法。
- 前記熱的作用(76、78)は、それが前記少なくとも第1の光学要素(42)及び/又は前記少なくとも第2の光学要素(46)に非回転対称の温度分布を生成するような方法で実施されることを特徴とする請求項1から請求項9のいずれか1項に記載の方法。
- 前記熱的作用(76、78)は、それが前記少なくとも第1の光学要素(42)及び/又は前記少なくとも第2の光学要素(46)の縁部領域に温度変化を生成するような方法で実施されることを特徴とする請求項1から請求項11のいずれか1項に記載の方法。
- 前記機械的力作用(72、74)は、それが前記熱的作用(76、78)の効果の範囲を拡張するような方法で実施されることを特徴とする請求項1から請求項12のいずれか1項に記載の方法。
- 前記機械的力作用(72、74)及び前記熱的作用(76、78)は、それらが前記少なくとも1つの結像収差の実際と望ましい補正(84)の間の期間を最小にするような方法で実施されることを特徴とする請求項1から請求項13のいずれか1項に記載の方法。
- 前記少なくとも1つの結像収差は、該少なくとも1つの結像収差の前記少なくとも部分的な補正の前に判断されることを特徴とする請求項1から請求項14のいずれか1項に記載の方法。
- 前記少なくとも1つの結像収差は、波面プロフィールの直接測定によって判断されることを特徴とする請求項15に記載の方法。
- 前記少なくとも1つの結像収差は、前記光学システム(10)における視野及び回折角に依存する光分散の推定によって判断されることを特徴とする請求項15又は請求項16に記載の方法。
- 前記少なくとも1つの結像収差は、前記光学システム(10)における前記視野及び回折角依存の光分散と基準測定値の該視野及び回折角依存の光分散との比較によって判断されることを特徴とする請求項15から請求項17のいずれか1項に記載の方法。
- 前記少なくとも1つの結像収差は、検出器による前記光学システム(10)の少なくとも1つの平面における前記視野及び回折角依存の光分散の測定によって判断されることを特徴とする請求項15から請求項18のいずれか1項に記載の方法。
- 前記少なくとも1つの結像収差の時間的発達が、該少なくとも1つの結像収差が判断された後で、かつ該少なくとも1つの結像収差の前記少なくとも部分的な補正が実施される前に判断されることを特徴とする請求項1から請求項19のいずれか1項に記載の方法。
- 前記少なくとも1つの結像収差に関する知識が、該少なくとも1つの結像収差の前記時間的発達を判断するために用いられることを特徴とする請求項20に記載の方法。
- 達成することができる可能な最良の補正が、前記少なくとも1つの結像収差を少なくとも部分的に補正するために判断されることを特徴とする請求項1から請求項21のいずれか1項に記載の方法。
- 前記少なくとも1つの光学要素の前記位置決めは、該光学要素を変位させる段階、該光学要素を前記光学システム10の光軸Oに関して回転させる段階、及び/又は該光学要素を該光軸Oに対して傾斜させる段階を含むことを特徴とする請求項1から請求項22のいずれか1項に記載の方法。
- 改善された結像特性を有する光学システムであって、
光学システム(10)が、複数の光学要素を有し、
前記複数の光学要素には、該複数の光学要素を能動的に位置決めし及び/又は変形させるための複数のマニピュレータが割り当てられ、
前記複数のマニピュレータからの少なくとも1つの第1のマニピュレータ(62、64)が、機械的マニピュレータとして形成され、該複数のマニピュレータからの少なくとも1つの第2のマニピュレータ(66、68)が、熱的マニピュレータとして形成される、
ことを特徴とするシステム。 - 前記機械的マニピュレータ(62、64)及び前記熱的マニピュレータ(66、68)は、それらを時間的に重畳する方式で少なくとも1つの結像収差を少なくとも部分的に補正するのに用いることができるような方法で設計されることを特徴とする請求項24に記載の光学システム。
- 前記機械的マニピュレータ(62、64)は、光学要素に時間に無関係の一定の力作用(72、74)をもたらすことを特徴とする請求項24又は請求項25に記載の光学システム。
- 前記熱的マニピュレータ(66、68)は、前記複数の光学要素に対して時間的に可変の熱的作用(76、78)、例えば、時間的に線形に立ち上がる熱的作用(76、78)を有することを特徴とする請求項24から請求項26のいずれか1項に記載の光学システム。
- 前記少なくとも1つの機械的マニピュレータ(62、64)には、前記機械的力作用を調節及び/又は変更するために、1秒よりも短く、好ましくは、500ミリ秒よりも短く、更に好ましくは、100ミリ秒よりも短い継続時間内に該機械的マニピュレータ(62、64)を作動させるコントローラ(63、65)が割り当てられることを特徴とする請求項24から請求項27のいずれか1項に記載の光学システム。
- 前記コントローラ(63、65)は、前記機械的マニピュレータ(62、64)を時間間隔Δtmech内に作動させることを特徴とする請求項24から請求項28のいずれか1項に記載の光学システム。
- 前記少なくとも1つの熱的マニピュレータ(66、68)には、該熱的マニピュレータ(66、68)を連続的に又は時間間隔Δttherm内に作動させるコントローラ(67、69)が割り当てられることを特徴とする請求項24から請求項29のいずれか1項に記載の光学システム。
- 前記機械的マニピュレータ(62、64)及び前記熱的マニピュレータ(66、68)の前記時限作動は、Δttherm/Δtmechが0から約10の範囲にあるようなものであることを特徴とする請求項29及び請求項30のいずれか1項に記載の光学システム。
- 前記熱的マニピュレータ(66、68)により、前記複数の光学要素に回転対称の温度分布を生成することができることを特徴とする請求項24から請求項31のいずれか1項に記載の光学システム。
- 前記熱的マニピュレータ(66、68)により、前記複数の光学要素に非回転対称の温度分布を生成することができることを特徴とする請求項24から請求項31のいずれか1項に記載の光学システム。
- 前記複数の光学要素の縁部領域における温度分布は、前記熱的マニピュレータ(66、68)によって変化させることができることを特徴とする請求項24から請求項33のいずれか1項に記載の光学システム。
- 前記熱的マニピュレータ(66、68)は、熱源及び/又は熱シンクを用いて形成されることを特徴とする請求項24から請求項34のいずれか1項に記載の光学システム。
- 前記熱的マニピュレータ(66、68)は、熱ポンプとして形成されることを特徴とする請求項24から請求項35のいずれか1項に記載の光学システム。
- 前記熱的マニピュレータ(66、68)の効果の範囲は、前記機械的マニピュレータ(62、64)によって拡張することができることを特徴とする請求項24から請求項36のいずれか1項に記載の光学システム。
- 前記少なくとも1つの結像収差の実際と望ましい補正(84)の間の期間は、前記機械的マニピュレータ(62、64)及び熱的マニピュレータ(66、68)の前記時間的に重畳した使用によって最小にすることができることを特徴とする請求項24から請求項37のいずれか1項に記載の光学システム。
- マイクロリソグラフィのための投影対物器械であることを特徴とする請求項24から請求項38のいずれか1項に記載の光学システム。
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Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2014520399A (ja) * | 2011-06-20 | 2014-08-21 | カール・ツァイス・エスエムティー・ゲーエムベーハー | 投影機構 |
KR20150032870A (ko) * | 2012-07-20 | 2015-03-30 | 칼 짜이스 에스엠티 게엠베하 | 장기간으로부터의 시스템 교정 |
JP2017107179A (ja) * | 2015-10-21 | 2017-06-15 | カール・ツァイス・エスエムティー・ゲーエムベーハー | 少なくとも1つのマニピュレータを含む投影露光装置 |
Families Citing this family (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP5193227B2 (ja) * | 2007-01-22 | 2013-05-08 | カール・ツァイス・エスエムティー・ゲーエムベーハー | 半導体リソグラフィシステム及びその使用方法 |
DE102008042356A1 (de) | 2008-09-25 | 2010-04-08 | Carl Zeiss Smt Ag | Projektionsbelichtungsanlage mit optimierter Justagemöglichkeit |
DE102010044969A1 (de) * | 2010-09-10 | 2012-03-15 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Verfahren zum Betreiben einer Projektionsbelichtungsanlage sowie Steuervorrichtung |
KR101529807B1 (ko) | 2011-01-20 | 2015-06-17 | 칼 짜이스 에스엠티 게엠베하 | 투영 노광 도구를 조작하는 방법 |
WO2015036002A1 (en) * | 2013-09-14 | 2015-03-19 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Method of operating a microlithographic projection apparatus |
KR101398934B1 (ko) * | 2014-01-23 | 2014-05-27 | 국방과학연구소 | 불균일 보정 기능이 제공되는 다 구간 시계 영상 확보 방식 적외선 광각 카메라 |
US10282822B2 (en) * | 2016-12-01 | 2019-05-07 | Almalence Inc. | Digital correction of optical system aberrations |
CN115494639B (zh) * | 2022-11-04 | 2023-02-17 | 中国航天三江集团有限公司 | 高功率激光光束合成系统内通道热效应仿真方法 |
Citations (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH05291117A (ja) * | 1992-04-14 | 1993-11-05 | Hitachi Ltd | 投影露光方法およびその装置 |
JPH06267825A (ja) * | 1993-03-16 | 1994-09-22 | Nikon Corp | 投影露光装置 |
JPH088178A (ja) * | 1994-04-22 | 1996-01-12 | Canon Inc | 投影露光装置及びデバイスの製造方法 |
JPH08241861A (ja) * | 1996-04-08 | 1996-09-17 | Nikon Corp | Lsi素子製造方法、及びlsi素子製造装置 |
JP2001505366A (ja) * | 1996-12-04 | 2001-04-17 | アドバンスト・マイクロ・ディバイシズ・インコーポレイテッド | フォトリソグラフィックシステムにおけるレンズ誤差を補正するレチクル |
JP2004031958A (ja) * | 2002-06-21 | 2004-01-29 | Nikon Corp | 反射鏡の熱変形の制御システム及び露光装置 |
WO2005022614A1 (ja) * | 2003-08-28 | 2005-03-10 | Nikon Corporation | 露光方法及び装置、並びにデバイス製造方法 |
JP2005353968A (ja) * | 2004-06-14 | 2005-12-22 | Canon Inc | 閉ループ制御装置、光学素子駆動装置及び露光装置 |
JP2006157020A (ja) * | 2004-12-01 | 2006-06-15 | Asml Netherlands Bv | リソグラフィ投影装置及びそのようなリソグラフィ投影装置を使用したデバイス製造方法 |
JP2006189570A (ja) * | 2005-01-05 | 2006-07-20 | Canon Inc | 液浸光学系および光学装置 |
WO2007000984A1 (ja) * | 2005-06-28 | 2007-01-04 | Nikon Corporation | 露光方法及び露光装置、並びにデバイス製造方法 |
Family Cites Families (15)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4540251A (en) * | 1983-12-01 | 1985-09-10 | International Business Machines Corporation | Thermo-mechanical overlay signature tuning for Perkin-Elmer mask aligner |
US5392119A (en) * | 1993-07-13 | 1995-02-21 | Litel Instruments | Plate correction of imaging systems |
US5978085A (en) * | 1997-03-07 | 1999-11-02 | Litel Instruments | Apparatus method of measurement and method of data analysis for correction of optical system |
US5828455A (en) * | 1997-03-07 | 1998-10-27 | Litel Instruments | Apparatus, method of measurement, and method of data analysis for correction of optical system |
DE19827602A1 (de) * | 1998-06-20 | 1999-12-23 | Zeiss Carl Fa | Verfahren zur Korrektur nicht-rotationssymmetrischer Bildfehler |
DE19827603A1 (de) | 1998-06-20 | 1999-12-23 | Zeiss Carl Fa | Optisches System, insbesondere Projektions-Belichtungsanlage der Mikrolithographie |
DE10000191B8 (de) * | 2000-01-05 | 2005-10-06 | Carl Zeiss Smt Ag | Projektbelichtungsanlage der Mikrolithographie |
EP1231517A1 (en) | 2001-02-13 | 2002-08-14 | ASML Netherlands B.V. | Lithographic projection apparatus and method of measuring wave front aberrations |
KR101328356B1 (ko) * | 2004-02-13 | 2013-11-11 | 가부시키가이샤 니콘 | 노광 방법 및 장치, 그리고 디바이스 제조 방법 |
US7463367B2 (en) * | 2004-07-13 | 2008-12-09 | Micron Technology, Inc. | Estimating overlay error and optical aberrations |
TWI454731B (zh) * | 2005-05-27 | 2014-10-01 | Zeiss Carl Smt Gmbh | 用於改進投影物鏡的成像性質之方法以及該投影物鏡 |
US7671970B2 (en) * | 2005-07-13 | 2010-03-02 | Asml Netherlands B.V. | Stage apparatus with two patterning devices, lithographic apparatus and device manufacturing method skipping an exposure field pitch |
JP5069232B2 (ja) * | 2005-07-25 | 2012-11-07 | カール・ツァイス・エスエムティー・ゲーエムベーハー | マイクロリソグラフィ投影露光装置の投影対物レンズ |
JP5193227B2 (ja) * | 2007-01-22 | 2013-05-08 | カール・ツァイス・エスエムティー・ゲーエムベーハー | 半導体リソグラフィシステム及びその使用方法 |
JP5114992B2 (ja) | 2007-03-26 | 2013-01-09 | ヤマハ株式会社 | 電子楽器用の鍵盤装置 |
-
2008
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-
2009
- 2009-04-30 US US12/432,921 patent/US8462315B2/en active Active
-
2013
- 2013-05-13 US US13/893,322 patent/US8947633B2/en active Active
-
2015
- 2015-01-15 US US14/597,497 patent/US9823579B2/en active Active
Patent Citations (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH05291117A (ja) * | 1992-04-14 | 1993-11-05 | Hitachi Ltd | 投影露光方法およびその装置 |
JPH06267825A (ja) * | 1993-03-16 | 1994-09-22 | Nikon Corp | 投影露光装置 |
JPH088178A (ja) * | 1994-04-22 | 1996-01-12 | Canon Inc | 投影露光装置及びデバイスの製造方法 |
JPH08241861A (ja) * | 1996-04-08 | 1996-09-17 | Nikon Corp | Lsi素子製造方法、及びlsi素子製造装置 |
JP2001505366A (ja) * | 1996-12-04 | 2001-04-17 | アドバンスト・マイクロ・ディバイシズ・インコーポレイテッド | フォトリソグラフィックシステムにおけるレンズ誤差を補正するレチクル |
JP2004031958A (ja) * | 2002-06-21 | 2004-01-29 | Nikon Corp | 反射鏡の熱変形の制御システム及び露光装置 |
WO2005022614A1 (ja) * | 2003-08-28 | 2005-03-10 | Nikon Corporation | 露光方法及び装置、並びにデバイス製造方法 |
JP2005353968A (ja) * | 2004-06-14 | 2005-12-22 | Canon Inc | 閉ループ制御装置、光学素子駆動装置及び露光装置 |
JP2006157020A (ja) * | 2004-12-01 | 2006-06-15 | Asml Netherlands Bv | リソグラフィ投影装置及びそのようなリソグラフィ投影装置を使用したデバイス製造方法 |
JP2006189570A (ja) * | 2005-01-05 | 2006-07-20 | Canon Inc | 液浸光学系および光学装置 |
WO2007000984A1 (ja) * | 2005-06-28 | 2007-01-04 | Nikon Corporation | 露光方法及び露光装置、並びにデバイス製造方法 |
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2014520399A (ja) * | 2011-06-20 | 2014-08-21 | カール・ツァイス・エスエムティー・ゲーエムベーハー | 投影機構 |
KR20150032870A (ko) * | 2012-07-20 | 2015-03-30 | 칼 짜이스 에스엠티 게엠베하 | 장기간으로부터의 시스템 교정 |
JP2015524575A (ja) * | 2012-07-20 | 2015-08-24 | カール・ツァイス・エスエムティー・ゲーエムベーハー | 長時間スケールからの系補正 |
KR101653509B1 (ko) * | 2012-07-20 | 2016-09-01 | 칼 짜이스 에스엠티 게엠베하 | 장기간으로부터의 시스템 교정 |
US9829800B2 (en) | 2012-07-20 | 2017-11-28 | Carl Zeiss Smt Gmbh | System correction from long timescales |
JP2017107179A (ja) * | 2015-10-21 | 2017-06-15 | カール・ツァイス・エスエムティー・ゲーエムベーハー | 少なくとも1つのマニピュレータを含む投影露光装置 |
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