JP2010515942A - 試料位置決めステージおよび動作方法 - Google Patents
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- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 38
- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims abstract description 29
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims abstract description 23
- 230000008859 change Effects 0.000 claims description 30
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 11
- 230000004044 response Effects 0.000 claims description 8
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 claims description 3
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 23
- 230000008569 process Effects 0.000 description 10
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 3
- 230000000737 periodic effect Effects 0.000 description 3
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 3
- 238000004590 computer program Methods 0.000 description 1
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 1
- 230000003993 interaction Effects 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 238000011017 operating method Methods 0.000 description 1
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 1
- 230000036316 preload Effects 0.000 description 1
- 210000003813 thumb Anatomy 0.000 description 1
- 230000009466 transformation Effects 0.000 description 1
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- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
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Abstract
Description
i.前記駆動システムを第1のモードで動作させるステップであって、前記第1のモードにおいて、前記駆動システムが、電子的な位置入力装置から受け取った要求相対位置に向けて、前記第1および第2の本体を前記第1の平面で互いに対して相対的に駆動するよう動作可能であり、前記駆動システムが、前記第1の平面で前記第1および第2の本体の一方に作用された外力による、前記第1および第2の本体の前記第1の平面での相対移動に、第1のレベルの抵抗を与えるステップと、
ii.前記ステージにて受け取られた入力に応答して、前記駆動システムを第2のモードで動作させるステップであって、前記第2のモードにおいて、前記駆動システムが、前記第1および第2の本体の一方に作用された外力による、前記第1および第2の本体の少なくとも1自由度の相対移動に、第2のレベルの抵抗を与え、前記第2のレベルの抵抗が前記第1のレベルの抵抗より小さいステップと、
を備え、
前記駆動システムが、前記第1および第2のモードの両方で係合される、方法が提供される。
添付図面を参照しつつ、本発明の実施形態が以下に説明される。
0<PositionError0<PositionError1<PositionError2
これらの条件は、プレート18がその要求位置から引き離されているときに成立する。もしこれらの条件のいずれかが成立していれば、プロセスはステップ518に進む。もしこれらの条件のいずれも成立していなければ、プロセスはステップ502に戻る。
Claims (31)
- 検査される試料を光学検査装置に対して位置決めするための試料位置決めステージであって、
検査される試料を支持可能な略平坦な第1の本体と、
前記第1の本体に複数の軸受を介して直接的に接続された第2の本体であって、前記複数の軸受は、前記第1の本体と前記第2の本体との間に延び、前記第2の本体に対する前記第1の本体の移動を、前記第1の本体の平面と実質的に平行な第1の平面に制限する第2の本体と、
第1のモードおよび第2のモードで選択的に動作可能な駆動システムであって、前記第1のモードは、電子的な位置入力装置から受け取った要求相対位置に向けて、前記第1および第2の本体を互いに対して前記第1の平面内で駆動するためのモードであり、前記第2のモードにおいて、前記駆動システムは、前記第1の本体に加わる外力による前記第1および第2の本体の前記第1の平面内での相対移動に対して、前記第1のモードのときより少ない抵抗を与え、前記駆動システムは前記第1および第2のモードの両方で係合されている、駆動システムと、
前記ステージが受けた入力に応答して、動作モードを前記第1のモードから前記第2のモードに変更するよう動作可能なセレクタと、
を備えた試料位置決めステージ。 - 前記駆動システムが、前記第2のモードにおいて、少なくとも前記一平面で前記第1および第2の本体の少なくとも一方に作用される外力に起因した前記第1および第2の本体の相対移動により、手動で逆駆動されるように構成される、請求項1に記載の試料位置決めステージ。
- 前記セレクタが、少なくとも前記一平面で前記第1および第2の本体の一方に作用される外力の付加の検出時に、前記駆動システムの動作モードを前記第1のモードから前記第2のモードに変更するよう構成される、請求項1または2に記載の試料位置決めステージ。
- 前記セレクタが、前記第1および第2の本体の相対移動を検出するよう構成されたセンサを備える、請求項3に記載の試料位置決めステージ。
- 前記セレクタが、前記第1および第2の本体の予想される相対移動を示すデータを、前記第1および第2の本体の実際の相対移動を示す前記センサからのデータと比較し、前記実際の相対移動が前記予想される相対移動と異なるとき、前記逆駆動可能な駆動システムの動作モードを前記第1のモードから前記第2のモードに変更するように構成される、請求項4に記載の試料位置決めステージ。
- 前記駆動システムが、前記第2のモードにおける手動の逆駆動に逆らわないように構成される、請求項2〜5のいずれか一項に記載の試料位置決めステージ。
- 前記駆動システムがモータと動力源を備え、前記動力源を介して前記モータによって付与される正味の力が、外力による前記第1および第2の本体の相対移動に対する抵抗を与えるように制御される、請求項1〜6のいずれか一項に記載の試料位置決めステージ。
- 前記第2のモードにおいて、正味の力が前記モータにより付与されない、請求項7に記載の試料位置決めステージ。
- 前記第1のモードにおいて、前記第1および第2の本体の前記実際の相対移動が前記予想される相対移動と異なるとき、前記モータによって付与される正味の力を最大の正味の力まで増大するように、前記電源が構成される、請求項7または8に記載の試料位置決めステージ。
- 前記セレクタが、前記モータによって付与される正味の力をモニターすると共に、前記付与される正味の力が前記最大の正味の力であり且つ前記実際の相対移動が前記予想される相対移動と所定時間の間異なると判断されたとき、前記駆動システムの動作モードを前記第1のモードから前記第2のモードに変更するように構成される、請求項9に記載の試料位置決めステージ。
- 前記セレクタが、前記外力の除去を検出したとき、前記駆動システムの動作モードを前記第2のモードから前記第1のモードに変更するように構成される、請求項3〜10のいずれか一項に記載の試料位置決めステージ。
- 前記外力の除去時、前記位置入力装置から第2の要求相対位置を受けたときに限り、前記第1および第2の本体が前記駆動システムによって互いに相対移動されるように、前記駆動システムが構成される、請求項1〜11のいずれか一項に記載の試料位置決めステージ。
- 前記動作モードが前記第2のモードから前記第1のモードに変更されたとき、前記要求相対位置(ここに向けて前記第1および第2の本体を駆動するように前記駆動システムが構成される)が、前記第1および第2の本体の現在の相対位置であるとしてセットされる、請求項1〜12のいずれか一項に記載の試料位置決めステージ。
- 前記動作モードを前記第1のモードから前記第2のモードに変更すべく、前記第1および第2の本体に対しユーザーによって移動可能なスイッチを前記セレクタが備える、請求項1に記載の試料位置決めステージ。
- 前記第1および第2の本体の少なくとも一方が、前記第1および第2の本体の手動操作を容易とするためのハンドルを備える、請求項1〜14のいずれか一項に記載の試料位置決めステージ。
- 前記第1の本体がプレートであり、前記第2の本体がキャリッジである、請求項1〜15のいずれか一項に記載の試料位置決めステージ。
- 前記第1および第2の本体が、直線方向に互いに相対移動可能である、請求項1〜16のいずれか一項に記載の試料位置決めステージ。
- 光学検査装置と、検査される試料を前記光学検査装置に対して位置決めするための請求項1〜17のいずれか一項に記載の試料位置決めステージとを備えた、光学検査機器。
- 検査される試料を支持可能な略平坦な第1の本体と、前記第1の本体に複数の軸受を介して直接的に接続された第2の本体であって、前記複数の軸受は、前記第1の本体と前記第2の本体との間に延び、前記第2の本体に対する前記第1の本体の移動を、略水平で且つ前記第1の本体の平面と実質的に平行な第1の平面に制限する第2の本体と、位置入力装置から受け取った第1の要求相対位置に向けて、前記第1および第2の本体を互いに対して相対的に移動するよう動作可能な駆動システムと、を有する試料位置決めステージを動作させる方法であって、
i.前記駆動システムを第1のモードで動作させるステップであって、前記第1のモードにおいて、前記駆動システムが、電子的な位置入力装置から受け取った要求相対位置に向けて、前記第1および第2の本体を前記第1の平面で互いに対して相対的に駆動するよう動作可能であり、前記駆動システムが、前記第1の平面で前記第1および第2の本体の一方に作用された外力による、前記第1および第2の本体の前記第1の平面での相対移動に、第1のレベルの抵抗を与えるステップと、
ii.前記ステージにて受け取られた入力に応答して、前記駆動システムを第2のモードで動作させるステップであって、前記第2のモードにおいて、前記駆動システムが、前記第1および第2の本体の一方に作用された外力による、前記第1および第2の本体の少なくとも1自由度の相対移動に、第2のレベルの抵抗を与え、前記第2のレベルの抵抗が前記第1のレベルの抵抗より小さいステップと、
を備え、
前記駆動システムが、前記第1および第2のモードの両方で係合される、方法。 - 前記駆動システムが、前記第2のモードにおいて、前記第1および第2の本体の一方に作用される外力に起因した前記第1および第2の本体の相対移動により、手動で逆駆動される、請求項19に記載の方法。
- 前記少なくとも1自由度の、前記第1および第2の本体の一方に作用された外力の付加を検出するステップをさらに備える、請求項19または20に記載の方法。
- 前記外力の付加の検出時、前記駆動システムの動作モードを前記第1のモードから前記第2のモードに自動的に変更するステップをさらに備える、請求項21に記載の方法。
- 前記外力の付加を検出するステップが、前記第1および第2の本体の予想される相対移動を示すデータを、前記第1および第2の本体の実際の相対移動を示す前記センサからのデータと比較することを含む、請求項21または22に記載の方法。
- 前記実際の相対移動が前記予想される相対移動と所定時間の間異なるとき、前記駆動システムの動作モードを前記第1のモードから前記第2のモードに変更するステップをさらに備える、請求項23に記載の方法。
- 前記駆動システムを前記第1のモードで動作させるステップが、前記駆動システムに最大の正味の電圧まで正味の電圧を印加することを含む、請求項19〜24のいずれか一項に記載の方法。
- 前記駆動システムを前記第2のモードで動作させるステップが、前記駆動システムに正味の電圧を印加しないことを含む、請求項25に記載の方法。
- 印加された正味の電圧をモニタするステップと、前記印加された正味の電圧がその最大の正味の電圧であり、前記実際の相対移動が所定時間の間、予定されていた相対移動と異なるとき、前記駆動システムの動作モードを前記第1のモードから前記第2のモードに変更するステップと、をさらに備える、請求項24または25に記載の方法。
- 前記外力の除去が検出されたとき、前記駆動システムの動作モードを前記第2のモードから前記第1のモードに変更するステップをさらに備える、請求項19〜27のいずれか一項に記載の方法。
- 前記位置入力装置から第2の要求相対位置を受けたとき、前記駆動システムを連続的に動作させて前記第1および第2の本体を相対的に移動させるステップをさらに備える、請求項19〜27のいずれか一項に記載の方法。
- 前記動作モードが前記第2のモードから前記第1のモードに変更されたとき、前記要求相対位置(ここに向けて前記第1および第2の本体を駆動するように前記駆動システムが構成される)を、前記第1および第2の本体の現在の相対位置であるとしてセットするステップをさらに備える、請求項19〜29のいずれか一項に記載の方法。
- 検査される試料を光学検査装置に対して位置決めするための試料位置決めステージであって、
検査される試料を支持可能な略平坦な第1の本体と、
前記第1の本体に複数の軸受を介して直接的に接続された第2の本体であって、前記複数の軸受は、前記第1の本体と前記第2の本体との間に延び、前記第2の本体に対する前記第1の本体の移動を、前記第1の本体の平面と実質的に平行な第1の平面に制限する第2の本体と、
第1のモードで動作可能な駆動システムであって、前記第1のモードは、電子的な位置入力装置から受け取った要求相対位置に向けて、前記第1および第2の本体を相対的に移動するためのモードである駆動システムと、
前記第1の平面内で前記第1の本体に作用される外力の付加を検出し、この外力の付加の検出時、前記駆動システムの動作モードを前記第1のモードから第2のモードに変更するよう構成されたセレクタであって、前記第2のモードにおいて、前記駆動システムは、前記第1の本体に作用される外力による前記第1および第2の本体の相対移動に対して、前記第1のモードのときより少ない抵抗を与えるセレクタと、
を備えた試料位置決めステージ。
Applications Claiming Priority (7)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
GB0700507A GB0700507D0 (en) | 2007-01-11 | 2007-01-11 | A Movement Apparatus |
GB0700506.9 | 2007-01-11 | ||
GB0700519A GB0700519D0 (en) | 2007-01-11 | 2007-01-11 | A stage apparatus and method of operation |
GB0700506A GB0700506D0 (en) | 2007-01-11 | 2007-01-11 | A stage kit |
GB0700507.7 | 2007-01-11 | ||
GB0700519.2 | 2007-01-11 | ||
PCT/GB2008/000089 WO2008084242A1 (en) | 2007-01-11 | 2008-01-11 | A sample positioning stage and method of operation |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2010515942A true JP2010515942A (ja) | 2010-05-13 |
JP5244819B2 JP5244819B2 (ja) | 2013-07-24 |
Family
ID=39259547
Family Applications (2)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2009545235A Withdrawn JP2010515943A (ja) | 2007-01-11 | 2008-01-11 | サンプル位置決め装置 |
JP2009545232A Active JP5244819B2 (ja) | 2007-01-11 | 2008-01-11 | 試料位置決めステージおよび動作方法 |
Family Applications Before (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2009545235A Withdrawn JP2010515943A (ja) | 2007-01-11 | 2008-01-11 | サンプル位置決め装置 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (2) | US8254022B2 (ja) |
EP (2) | EP2115516B1 (ja) |
JP (2) | JP2010515943A (ja) |
AT (1) | ATE553408T1 (ja) |
WO (2) | WO2008084246A1 (ja) |
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WO2008084246A1 (en) | 2007-01-11 | 2008-07-17 | Renishaw Plc | A sample positioning apparatus |
-
2008
- 2008-01-11 WO PCT/GB2008/000096 patent/WO2008084246A1/en active Application Filing
- 2008-01-11 EP EP08701772A patent/EP2115516B1/en active Active
- 2008-01-11 JP JP2009545235A patent/JP2010515943A/ja not_active Withdrawn
- 2008-01-11 EP EP08701776A patent/EP2115517A1/en not_active Withdrawn
- 2008-01-11 US US12/448,737 patent/US8254022B2/en active Active
- 2008-01-11 JP JP2009545232A patent/JP5244819B2/ja active Active
- 2008-01-11 AT AT08701772T patent/ATE553408T1/de active
- 2008-01-11 US US12/448,679 patent/US20090310215A1/en not_active Abandoned
- 2008-01-11 WO PCT/GB2008/000089 patent/WO2008084242A1/en active Application Filing
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Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP2115516B1 (en) | 2012-04-11 |
JP5244819B2 (ja) | 2013-07-24 |
ATE553408T1 (de) | 2012-04-15 |
US20090310215A1 (en) | 2009-12-17 |
WO2008084246A1 (en) | 2008-07-17 |
US20100073672A1 (en) | 2010-03-25 |
US8254022B2 (en) | 2012-08-28 |
JP2010515943A (ja) | 2010-05-13 |
WO2008084242A1 (en) | 2008-07-17 |
EP2115516A1 (en) | 2009-11-11 |
EP2115517A1 (en) | 2009-11-11 |
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A977 | Report on retrieval |
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A131 | Notification of reasons for refusal |
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A602 | Written permission of extension of time |
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