JP2010261918A - 光ファイバセンサ - Google Patents
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Abstract
【課題】 光干渉信号出力をセンサ信号とするセンサでは、光干渉信号方式として、ホモダイン干渉方式があり、構成は簡単であるが、その干渉信号出力が、直流信号出力となるため、その源信号の干渉させるべき光信号のレベル変動及び、干渉出力信号の伝送経路における損失変動などの変動分が出力誤差として加わり、長期、安定度を要するセンサ方式としては問題があった。
【解決手段】 ホモダイン干渉信号方式では、センサ部分における干渉入力となる、参照光と位相変動を受けた被参照光を干渉させて、干渉光出力を得て、従来はセンサ出力としたが、参照光、被参照光及び干渉光の3つのレベルの間には、参照光と被参照光との位相差の関数となる関係があり、本発明では、参照光、被参照光及び干渉光レベルの3つのレベルを検出し、前記関数の演算処理により、センサ出力を得ることで、従来問題となっていた光入出力のレベル変動、損失変動などの変動誤差を排除したホモダイン干渉方式による光ファイバセンサを提供する。
【選択図】図1
【解決手段】 ホモダイン干渉信号方式では、センサ部分における干渉入力となる、参照光と位相変動を受けた被参照光を干渉させて、干渉光出力を得て、従来はセンサ出力としたが、参照光、被参照光及び干渉光の3つのレベルの間には、参照光と被参照光との位相差の関数となる関係があり、本発明では、参照光、被参照光及び干渉光レベルの3つのレベルを検出し、前記関数の演算処理により、センサ出力を得ることで、従来問題となっていた光入出力のレベル変動、損失変動などの変動誤差を排除したホモダイン干渉方式による光ファイバセンサを提供する。
【選択図】図1
Description
本発明は、光ファイバが外圧により、そこを通過する光信号の位相に変化を及ぼす特性を利用した光ファイバセンサに関する。
光ファイバセンサは、電磁的影響を受けないことから、従来の電気信号センサに比べて、センサ信号を安定に長距離伝送することができる。
光センサに利用される光干渉方式としては、同じ周波数の光を干渉させるホモダイン方式と異なる周波数の光を干渉させるヘテロダイン方式がある。
干渉方式の構成では、ヘテロダイン方式に比べて、ホモダイン方式の方が簡単である。
ホモダイン方式は構成が簡単であることを特長とするが、従来のセンサ信号検出方式では、そのセンサ信号が干渉出力以外の光強度変動を受け易い欠点があった。
ホモダイン干渉方式では、1つの光を光分波器により、2つに分波して、その一方にセンサとして、取り込むべき外圧を与えて、光位相を変化させ、2つの分波を光合波器で干渉させ、その出力をセンサ信号とするため、センサ信号は光の強度信号となり、光センサ信号は、光入力強度変動、光分波器、光合波器における損失変動、光干渉信号出力の伝送路損失変動などが加わった光強度信号となるため、これらの変動分がセンサ信号の誤差分として受信したセンサ信号に含まれることにより、センサ精度を劣化させる要因となっていた。
ホモダイン干渉方式は、基準光位相信号を構成する参照光(r)及び、センサ入力となる外圧により、位相変化を受けた被参照光(s)との干渉出力(i)をセンサ信号とするが、干渉を起こす光合波器出力側から、参照光(r)、被参照光(s)、干渉出力(i)の関係を各電気信号レベルr,s,iとして求めると、r+scosθ=i・・・・(1)となる。
(ここでθは参照光と被参照光との位相差である。)
従来のセンサ信号出力は干渉出力(i)であるが、これに変えて、cosθをセンサ信号出力とすると、その関係は
(i−r)/s=cosθ・・・・(2)となる。
(ここでθは参照光と被参照光との位相差である。)
従来のセンサ信号出力は干渉出力(i)であるが、これに変えて、cosθをセンサ信号出力とすると、その関係は
(i−r)/s=cosθ・・・・(2)となる。
本発明では、干渉出力(i)の他に参照光(r)及び被参照光(s)を求めて、これらの値からcosθを演算して、センサ信号とすることにより、精度劣化の要因となっていた変動誤差分を排除する。
本発明の計測用光信号発生部では、パルス幅tの光パルスを、光分波器で2波に分波し、一方を光合波器に入力、他方をt時間遅らせて、前記光合波器に入力させることにより、2波を合波、光多重してパルス幅2tの計測用光パルスを発生させる。
本発明のセンサ部では、前記計測用光パルスを光分波器で2波に分波し、一方を参照光パルスとして光合波器に入力、他方をセンサ入力となる外圧により、位相変化を受ける被参照光パルスとし、t時間遅らせて、前記光合波器に入力させることにより、前記参照光パルスの後半のtと前記被参照光パルスの前半tとの重なる部分が、ホモダイン干渉する。
前記光合波器の出力は、前記参照光パルスの前半部分tと、前記参照光パルスの後半tと被参照光パルスの前半tの重なった出力、すなわちホモダイン干渉出力部分t及び前記被参照光パルスの後半部分tからなり、参照光部分t、干渉出力部分tおよび被参照光部分tの3t幅の時分割多重パルスとして、同一の光ファイバルートで信号処理部に送られる。
本発明の信号処理部では、前記時分割多重パルスを電気信号パルスに変換し、参照光部分の電気信号レベルr、干渉出力部分の電気信号レベルi、被参照光部分の電気信号レベルsを得て、r,i、sの演算によりcosθを求めセンサ出力とする。
本発明では、cosθを電気信号i、r、sの3値の除算で求める。この3値はセンサ部の光合波器出力が、同一の光ファイバルートを経て、信号処理部で電気信号に変換された値であり、前記時分割多重パルスのパルス幅3tが、経路の損失変動の時間に比して十分小さければ経路では、i、r、sは同率の損失変動を受けると見なせることにより、(i−r)/sの除算をすることによって、経路の損失変動の影響を除外できる。
本発明では、参照光部分の電気信号レベルr、被参照光部分の電気信号レベルsは、前記計測用光パルスの出力変動及び、前記光分波器、光合波器の損失変動、分波、合波の比率変動などを経た後のr、sのレベルであるため、変動分も演算に含まれ誤差とならない。
本発明により、r,i、sからcosθを求めることで、ホモダイン干渉方式の欠点である計測用光パルスの出力変動、光分、合波器の損失、比率変動及び伝送路の損失変動などの影響にともなう誤差分を改善することができる。
本発明によれば、計測用光パルスは、光パルスtを光多重して2t幅となり、前半のtと後半のtとの干渉出力を得る構成となるため、計測用信号発生部において、前半のパルスtと後半のパルスtとの光位相を変化させることにより、センサ部における、参照波と被参照波との相対光位相関係を制御することができる。
「図1」に本発明の光ファイバセンサのブロック図を示す。
「図2」に本発明の光ファイバセンサの動作タイムチャートを示す。
「図2」に本発明の光ファイバセンサの動作タイムチャートを示す。
N1は本発明の計測用信号発生部を示す。
Aパルス信号発生器においてパルス幅tの電気信号パルスaを発生、B電気ー光変換器で光パルス信号bに変換され、C1光分波器でc1、c1に分波される。
c1はF1光合波器に入力し、c1はG位相信号発生器からの位相駆動信号g1によりE1移相器で位相変化を受けe1として、遅延時間tのD1遅延ファイバを経て、d1としてF1光合波器に入る。F1光合波器出力f1、f1はc1、d1が連なる2tの計測用光パルスとして、N2センサ部及びN3信号処理部に送られる。
c1はF1光合波器に入力し、c1はG位相信号発生器からの位相駆動信号g1によりE1移相器で位相変化を受けe1として、遅延時間tのD1遅延ファイバを経て、d1としてF1光合波器に入る。F1光合波器出力f1、f1はc1、d1が連なる2tの計測用光パルスとして、N2センサ部及びN3信号処理部に送られる。
N2は本発明のセンサ部を示す。
計測用信号発生部からの計測用光パルスf1はC3光分波器において、c3、c3に分波され、c3は参照光としてF3光合波器に入力する。c3はE2移相器において、センサ入力となる外圧g2によって、光位相の変化を受けe2として、遅延時間tのD3遅延ファイバを経て、被参照光d3となってF3光合波器に入る。F3光合波器出力f3は、c3の参照光パルス2tの後半tとd3の被参照光パルス2tの前半tが重なる部分tがホモダイン干渉出力となる。
F3光合波器出力f3は参照光部分t、干渉出力部分t及び被参照光部分tからなる3t幅の光多重パルスとして、同一の光ファイバルートを経てN3信号処理部へ送られる。
N3は本発明の信号処理部を示す。
N1計測用信号発生部における、E1移相器において受けた位相変動分を検出するために、
N1計測用信号発生部からの計測用光パルスf1はC2光分波器において、c2、c2に分波され、c2は被参照光としてF2光合波器に入力する。c2は遅延時間tのD2遅延ファイバを経て参照光d2としてF2光合波器に入る。F2光合波器出力f2はc2被参照光パルス2tの後半tとd2参照光パルス2tの前半tが重なる部分tがホモダイン干渉出力となる。
N1計測用信号発生部からの計測用光パルスf1はC2光分波器において、c2、c2に分波され、c2は被参照光としてF2光合波器に入力する。c2は遅延時間tのD2遅延ファイバを経て参照光d2としてF2光合波器に入る。F2光合波器出力f2はc2被参照光パルス2tの後半tとd2参照光パルス2tの前半tが重なる部分tがホモダイン干渉出力となる。
F2光合波器出力f2は、被参照光部分t、干渉出力部分t及び参照光部分tからなる3t幅の光多重パルスとして、H1光ー電気変換器入る。
H1光ー電気変換器では、光多重パルスf2が電気信号h1に変換され、J1、J2、J3のサンプル・ホールド回路において、参照光部分、干渉出力部分、被参照光部分の電気信号レベルがサンプル・ホールドされて、参照光の電気レベル、干渉出力の電気レベル、被参照光の電気レベル、j1、j2、j3としてK1演算回路に入る。
演算回路K1では、j1、j2、j3を入力として、演算により干渉出力の位相差k1を求める。
位相差k1の変動分はN1計測用信号発生部のE1移相器において加えられた位相変動分を示す。
位相差k1の変動分はN1計測用信号発生部のE1移相器において加えられた位相変動分を示す。
H2光ー電気変換器では、光多重パルスf3が電気信号h2に変換され、J4、J5、J6のサンプル・ホールド回路において、参照光部分、干渉出力部分、被参照光部分の電気信号レベルがサンプル・ホールドされて、参照光の電気レベル、干渉出力の電気レベル、被参照光の電気レベル、j4、j5、j6として演算回路K2に入る。
演算回路K2では、j4、j5、j6を入力として、演算により干渉出力の位相差k2を求める。
位相差k2の変動分はN1計測用信号発生部のE1移相器において加えられた位相変動分及び、N2センサ部のE2移相器で加えられたセンサ入力に基づく位相変動分である。
位相差k2の変動分はN1計測用信号発生部のE1移相器において加えられた位相変動分及び、N2センサ部のE2移相器で加えられたセンサ入力に基づく位相変動分である。
M出力演算回路では、位相差データk1及びk2を入力とする演算により、N2センサ部のE2移相器で加えられたセンサ入力に基づく位相変動分を算出し、センサ出力m1として出力する。
本実施例のセンサ部における干渉計の構成は、マッハ・ツェンダー方式で説明したが、マイケルソン方式の干渉計で構成しても、同様の動作が可能である。
本発明は、海底地震観測など、離れた場所、電源供給ができない場所、電磁雑音の影響を受け易い場所、温度環境が厳しい場所などに設置するセンサシステムに適する。
A:パルス信号発生器
B:電気ー光変換器
C1,C2,C3:光分波器
D1,D2,D3:遅延ファイバ
E1,E2:移相器
F1,F2,F3:光合波器
G:位相信号発生器
H1,H2:光ー電気変換器
J1,J2,J3,J4,J5,J6:サンプル・ホールド回路
K1,K2:演算回路
M:出力演算回路
B:電気ー光変換器
C1,C2,C3:光分波器
D1,D2,D3:遅延ファイバ
E1,E2:移相器
F1,F2,F3:光合波器
G:位相信号発生器
H1,H2:光ー電気変換器
J1,J2,J3,J4,J5,J6:サンプル・ホールド回路
K1,K2:演算回路
M:出力演算回路
Claims (8)
- 光パルス幅tの光パルスを光分波器により2波に分波し、一方の分波に、光位相を変化させ、かつその光パルスをt時間遅延させる手段を備え、他方の分波との2波を光合波器で合波することにより、前方の光パルスと、後方に光位相を変化させたt時間遅れの光パルスとを光多重することにより、光パルス幅2tの多重光パルスを計測用光パルスとして、センサ部及び信号処理部に出力する計測用光信号発生部を備えることを特徴とする光ファイバセンサ。
- 「請求項1」で出力された計測用光パルスを、光分波器により、2波に分波し、一方の分波をt時間遅延させ、他方の分波とを光合波器により合波することにより、パルス幅3tの光多重信号とし、前方tを参照光部分、中間tをホモダイン干渉光部分、後方tを被参照光部分とする光信号を出力する、信号処理部を備えることを特徴とする光ファイバセンサ。
- 「請求項2」の光信号を光ー電気変換し、電気信号に変換された参照光部分、ホモダイン干渉光部分、被参照光部分の電気信号レベルをデジタル変換し、演算処理により、「請求項1」で加えられた光位相変動量を、「請求項2」のホモダイン干渉光における位相差の関数として出力する、信号処理部を備えることを特徴とする光ファイバセンサ。
- 「請求項1」の計測用光パルスを光分波器により、2波に分波し、一方の分波は、外圧により、光位相に変化を与える手段を備え、その出力をt時間遅延させて、他方の分波とを光合波器により合波して、パルス幅3tの光多重信号とし、前方tを参照光部分、中間tをホモダイン干渉光部分、後方tを被参照光部分とする光信号を出力する、センサ部を備えることを特徴とする光ファイバセンサ。
- 「請求項4」の光信号を光ー電気変換し、電気信号に変換された参照光部分、ホモダイン干渉光部分、被参照光部分の電気信号レベルをデジタル変換し、演算処理により、「請求項4」で加えられた外圧による光位相変動量と、「請求項1」で加えられた光位相変動量との合算光位相変動量を、「請求項4」のホモダイン干渉光における位相差の関数として出力する、信号処理部を備えることを特徴とする光ファイバセンサ。
- 「請求項5」で求めた位相差の関数と「請求項3」で求めた位相差の関数の演算処理により、「請求項5」で求めた位相差から「請求項3」で求めた位相差を差し引くことにより、「請求項4」におけるセンサ部の位相変動量を求め、センサ出力とする、信号処理部を備えることを特徴とする光ファイバセンサ。
- 「請求項1」で加える光位相変動により、「請求項4」における干渉する2波間の相対的位相を変化させ、干渉光の位相動作点を制御することを特徴とする光ファイバセンサ。
- 「請求項1」で加える位相変動成分を、「請求項6」において検出、監視することにより、「請求項4」のセンサ部の動作監視をすることを特徴とする光ファイバセンサ。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2009124675A JP2010261918A (ja) | 2009-04-28 | 2009-04-28 | 光ファイバセンサ |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2009124675A JP2010261918A (ja) | 2009-04-28 | 2009-04-28 | 光ファイバセンサ |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2010261918A true JP2010261918A (ja) | 2010-11-18 |
Family
ID=43360101
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2009124675A Pending JP2010261918A (ja) | 2009-04-28 | 2009-04-28 | 光ファイバセンサ |
Country Status (1)
Country | Link |
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JP (1) | JP2010261918A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2018036107A (ja) * | 2016-08-30 | 2018-03-08 | 沖電気工業株式会社 | 干渉型光ファイバセンサ |
-
2009
- 2009-04-28 JP JP2009124675A patent/JP2010261918A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JP2018036107A (ja) * | 2016-08-30 | 2018-03-08 | 沖電気工業株式会社 | 干渉型光ファイバセンサ |
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