JP2010253946A - 記録装置及び記録方法 - Google Patents

Abstract

【課題】各記録走査の記録許容率に偏りを持たせることなく、突発的な搬送ずれが発生しても、記録媒体全域において一様で滑らか画像を出力することが可能な記録装置および記録方法を提供する。
【解決手段】２Ｍパスのマルチパス記録を行う際に、Ｍパス目とＭ＋１パス目の間を跨ぐ記録許容エリア重複率が、他の２つの連続するパス間を跨ぐ記録許容エリア重複率よりも高く設定されたマスクを用いる。これにより、突発的な搬送ずれ等によってドットの補完関係が崩れ、濃度低下が懸念される場合であっても、重複ドットが分離することによって濃度の上昇が促進され、上記濃度低下を緩和することが可能となる。
【選択図】図１２

Description

本発明は、シリアル型のインクジェット記録装置を用いてマルチパス記録を実行する際に、記録走査単位の記録位置ずれに起因して生ずる画質劣化を低減するためのインクジェット記録方法に関する。

ドットを記録するための複数の記録素子を備えた記録ヘッドを用いる記録方式の一例として、記録素子からインクを吐出して記録媒体にドットを記録するインクジェット記録方式が知られている。インクジェット記録装置では、複数の記録素子が配列された記録ヘッドを用いるが、当該記録ヘッドにおいては、記録素子間で吐出量や吐出方向にばらつきが生じ、このようなばらつきが原因で、画像に濃度むらやスジが発生することがある。

このような濃度ムラやスジを軽減するための技術として、マルチパス記録方式が知られている。マルチパス記録方式では、記録媒体の単位領域に記録すべき画像データを記録ヘッドによる複数回の記録を伴う移動（以下記録走査と称す）の夫々で記録する画像データに分割する。そして、搬送動作を介在させた複数回の記録走査によって上記分割した画像データを順次記録する。こうすることで、個々の記録素子の吐出特性にばらつきが含まれていたとしても、１つの記録素子によって記録されるドットが走査方向に連続することはなく、個々の記録素子の影響を広い範囲に分散されることが出来る。その結果、一様で滑らかな画像を得ることが出来る。

以上説明したようなマルチパス記録を行う際、個々の記録走査に対して、画像データを分割する必要が生じる。一般に、このような分割には、ドットの記録を許容する記録許容エリア（１）とドットの記録を許容しない非記録許容エリア（０）とが予め配列されたマスクパターンが用いられることが多い。この場合、記録媒体の単位領域に記録すべき２値の画像データと上記マスクマスクパターンとの間で論理積演算を行うことにより、２値の画像データが各記録走査で記録すべき２値の画像データに分割される。

マスクパターン（以下、単にマスクとも言う）においては、記録許容エリア（１）の配置が、複数の記録走査（あるいは複数の記録ヘッド）の間で互いに補完の関係になるように定められているのが一般である。すなわち、２値の画像データで記録（１）と定められた画素には、いずれか１回の記録走査によって１つのドットが記録されるように構成されている。こうすることで、分割前の画像情報が分割後でも保存されるようになっている。

しかしながら、近年では、上記マルチパス記録を行うことによって、記録走査単位あるいは記録ヘッド（ノズル列）単位の記録位置（レジストレーション）のずれに起因する濃度変化や濃度むらが、新たに問題視されるようになってきている。ここで、記録走査単位あるいはノズル列単位の記録位置のずれとは、例えば１回目の記録走査（ノズル列）で記録されるドット群と２回目の記録走査（別のノズル列）で記録されるドット群とのずれのように、ドット群（プレーン）間のずれを意味している。これらプレーン間のずれは、記録媒体と吐出口面の距離（紙間距離）の変動、記録媒体の搬送量の変動などによって引き起こされる。そして、プレーン間のずれが発生すると、記録媒体に対するドットの被覆率が変動し、画像の濃度変動や濃度むらを招く。以下、上述のように、同じ手段（例えば、同種のインクを吐出するノズル列）の同じ記録走査によって記録されるドット群や画素群を、プレーンと称することとする。

通常記録媒体は、搬送の上流側に位置する搬送ローラ対と下流側に位置する排紙ローラ対の２つのローラ対によって搬送されるが、上述したような濃度むらや濃度変動は、これらローラの偏心や記録媒体の挟持状態の変化によって、影響を受けることが知られている。以下に、具体的な例を挙げる。

（１）ローラの偏芯やローラと記録媒体の間のすべりなどにより、ローラの回転量が一定であっても記録媒体の搬送量が一定でない場合、上記プレーン間のずれが周期的に発生する。

（２）記録媒体の先端部や後端部を記録する状況においては、片方のローラ対による挟持になってしまう。よって、毎回の搬送が不安定になったり紙間の変動が起こりやすくなったりして、上記プレーン間のずれが起こる。

（３）記録媒体が搬送ローラ対のみによって挟持されている状態から、搬送ローラ対と排紙ローラ対の２対のローラ対によって挟持される状態に移行する際に、搬送力や紙間の変動が突発的に起こる。よって、記録媒体を所定の搬送量よりも多くもしくは少なく送ってしまう箇所が突発的に発生し、上記プレーン間のずれが起こる。

（４）記録媒体が搬送ローラ対と排紙ローラ対の２対のローラ対によって挟持される状態から、排紙ローラ対のみによって挟持されている状態に移行する際に、搬送力や紙間の変動が突発的に起こる。よって、記録媒体を所定の搬送量よりも多くもしくは少なく送ってしまう箇所が突発的に発生し、上記プレーン間のずれが起こる。

このような問題に対し、例えば特許文献１には、記録媒体の先端部や後端部のように、特にプレーン間の記録位置ずれが発生しやすい箇所では、マルチパス記録における記録率すなわち使用するマスクの記録許容画素の割合を減らす技術が開示されている。使用するマスクの記録許容画素の割合を減らすことにより、当該箇所における実質的なドットの記録数すなわちずれて記録されるドット数を減少させることが出来るので、これらドットの記録位置ずれが画像上目立ち難くなるのである。

特開２００２−１４４６３７号公報

しかしながら、特許文献１のように、一部の記録走査に対応した記録許容画素の割合を減らしたマスクを用いた場合、そもそものマルチパス記録の効果、すなわち個々の記録素子の影響を分散させて滑らかな画像を得るという効果、が損なわれる恐れが生じる。既に説明したように、一般に記録許容画素の配置は複数の記録走査の間で互いに補完の関係にあるので、一部の記録走査の記録率を低減させると他の記録走査の記録許容画素の割合が増え、この走査に対応する記録素子の影響が画像に現れやすくなるからである。また、記録媒体の単位領域に対し複数回の記録走査によってインクが付与されるタイミングや量が、単位領域ごとに異なることになるので、これに伴う濃度むらも招致される。さらに、記録ヘッドの一部分の記録率を高めることは、記録ヘッドの寿命を短くしてしまう原因にもなる。

また、特許文献１では、特に記録媒体の先端部や後端部に対してのみ上記特別なマスクを用いているので、記録媒体の中央部で突発的に生じる搬送ずれなどに対応することは出来ない。

すなわち、複数の記録走査間の記録位置ずれが突発的に発生する場合であっても、記録媒体の全領域において一様で滑らかな画像を記録することは困難な状況であった。

本発明は、上記問題点を解決するためになされたものである。よってその目的とするところは、各記録走査の記録許容率に偏りを持たせることなく、突発的な搬送ずれが発生しても、記録媒体全域において一様で滑らか画像を出力することが可能な記録装置および記録方法を提供することである。

上記課題を解決するため、本発明は、記録ヘッドを記録媒体の単位領域に対し２Ｍ回（Ｍは２以上の整数）走査させて記録を行う記録装置であって、前記単位領域に含まれる複数のエリアそれぞれについて、前記２Ｍ回の走査のうち同系色のドットの記録を許容する少なくとも２回の走査を定めたマスクを用いて、前記単位領域に記録すべき画像データを２Ｍ回の走査に分割するための分割手段と、前記分割された画像データに基づいて、前記複数のエリアに記録を許容された走査でドットを記録するための記録部とを備え、前記マスクは、Ｍ回目の走査以前の走査およびＭ＋１回目の走査以降の走査においてドットの記録を許容するエリアの割合は、Ｎ（ＮはＭとは異なる正の整数で、且つ２Ｍ−１以下）回目の走査以前の走査およびＮ＋１回目の走査以降の走査においてドットの記録を許容するエリアの割合よりも大きく、Ｍ−Ｌ回目（ＬはＭより小さい正の整数）の走査以前の走査およびＭ−Ｌ＋１回目の走査以降の走査においてドットの記録を許容するエリアの割合がＭ−Ｌ＋１回目の走査以前の走査およびＭ−Ｌ＋２回目の走査以降の走査においてドットの記録を許容するエリアの割合よりも小さく、Ｍ＋Ｌ回目の走査以前の走査およびＭ＋Ｌ＋１回目の走査以降の走査においてドットの記録を許容するエリアの割合が、Ｍ＋Ｌ＋１回目の走査以前の走査およびＭ＋Ｌ＋２回目の走査以降の走査においてドットの記録を許容するエリアの割合よりも大きく、少なくとも１つのＳとTの組み合わせにおいて、Ｓ回目（Ｓは２Ｍより小さい正の整数）の走査以前の走査およびＳ＋１回目の走査以降の走査においてドットの記録を許容するエリアの割合とＳ＋１回目の走査以前の走査およびＳ＋２回目の走査以降の走査においてドットの記録を許容するエリアの割合との差が、Ｔ回目（Ｔはとは異なる２Ｍより小さい正の整数）の走査以前の走査およびＴ＋１回目の走査以降の走査においてドットの記録を許容するエリアの割合とＴ＋１回目の走査以前の走査およびＴ＋２回目の走査以降の走査においてドットの記録を許容するエリアの割合との差と異なることを特徴とする。

また、記録ヘッドを記録媒体の単位領域に対し２Ｍ＋１回（Ｍは２以上の整数）走査させて記録を行う記録装置であって、前記単位領域に含まれる複数のエリアそれぞれについて、前記２Ｍ＋１回の走査のうち同系色のドットの記録を許容する少なくとも２回の走査を定めたマスクを用いて、前記単位領域に記録すべき画像データを２Ｍ＋１回の走査に分割するための分割手段と、前記分割された画像データに基づいて、前記複数のエリアに記録を許容された走査でドットを記録するための記録部とを備え、前記マスクは、ｉ） Ｍ回目の走査以前の走査およびＭ＋１回目の走査以降の走査においてドットの記録を許容するエリアの割合とＭ＋１回目の走査以前の走査およびＭ＋２回目の走査以降の走査においてドットの記録を許容するエリアの割合は、Ｎ（ＮはＭおよびＭ＋１とは異なる（２Ｍ）以下の正の整数）回目の走査以前の走査およびＮ＋１回目の走査以降の走査においてドットの記録を許容するエリアの割合よりも大きく、ｉｉ）少なくとも１つのＳとTの組み合わせにおいて、Ｓ回目（Ｓは２Ｍより小さい正の整数）の走査以前の走査およびＳ＋１回目の走査以降の走査においてドットの記録を許容するエリアの割合とＳ＋１回目の走査以前の走査およびＳ＋２回目の走査以降の走査においてドットの記録を許容するエリアの割合との差が、Ｔ回目（ＴはＳとは異なる２Ｍより小さい正の整数）の走査以前の走査およびＴ＋１回目の走査以降の走査においてドットの記録を許容するエリアの割合とＴ＋１回目の走査以前の走査およびＴ＋２回目の走査以降の走査においてドットの記録を許容するエリアの割合との差と異なることを特徴とする。

さらに、記録ヘッドを記録媒体の単位領域に対し２Ｍ回（Ｍは２以上の整数）走査させて記録を行う記録方法であって、前記単位領域に含まれる複数のエリアそれぞれについて、前記２Ｍ回の走査のうち同系色のドットの記録を許容する少なくとも２回の走査を定めたマスクを用いて、前記単位領域に記録すべき画像データを２Ｍ回の走査に分割するステップと前記分割された画像データに基づいて、前記複数のエリアに記録を許容された走査でドットを記録するステップとを有し、前記マスクは、Ｍ回目の走査以前の走査およびＭ＋１回目の走査以降の走査においてドットの記録を許容するエリアの割合は、Ｎ（ＮはＭとは異なる２Ｍ−１以下の正の整数）回目の走査以前の走査およびＮ＋１回目の走査以降の走査においてドットの記録を許容するエリアの割合よりも大きく、Ｍ−Ｌ回目（ＬはＭより小さい正の整数）の走査以前の走査およびＭ−Ｌ＋１回目の走査以降の走査においてドットの記録を許容するエリアの割合がＭ−Ｌ＋１回目の走査以前の走査およびＭ−Ｌ＋２回目の走査以降の走査においてドットの記録を許容するエリアの割合よりも小さく、Ｍ＋Ｌ回目の走査以前の走査およびＭ＋Ｌ＋１回目の走査以降の走査においてドットの記録を許容するエリアの割合が、Ｍ＋Ｌ＋１回目の走査以前の走査およびＭ＋Ｌ＋２回目の走査以降の走査においてドットの記録を許容するエリアの割合よりも大きく、少なくとも１つのＳとＬの組み合わせにおいて、Ｓ回目（Ｓは２Ｍより小さい正の整数）の走査以前の走査およびＳ＋１回目の走査以降の走査においてドットの記録を許容するエリアの割合とＳ＋１回目の走査以前の走査およびＳ＋２回目の走査以降の走査においてドットの記録を許容するエリアの割合との差が、Ｔ回目（ＴはＳとは異なる２Ｍより小さい正の整数）の走査以前の走査およびＴ＋１回目の走査以降の走査においてドットの記録を許容するエリアの割合とＴ＋１回目の走査以前の走査およびＴ＋２回目の走査以降の走査においてドットの記録を許容するエリアの割合との差と異なることを特徴とする。

さらにまた、記録ヘッドを記録媒体の単位領域に対し２Ｍ＋１回（Ｍは２以上の整数）走査させて記録を行う記録方法であって、前記単位領域に含まれる複数のエリアそれぞれについて、前記２Ｍ＋１回の走査のうち同系色のドットの記録を許容する少なくとも２回の走査を定めたマスクを用いて、前記単位領域に記録すべき画像データを２Ｍ＋１回の走査に分割するステップと、前記分割された画像データに基づいて、前記複数のエリアに記録を許容された走査でドットを記録するステップとを有し、前記マスクは、Ｍ回目の走査以前の走査およびＭ＋１回目の走査以降の走査においてドットの記録を許容するエリアの割合とＭ＋１回目の走査以前の走査およびＭ＋２回目の走査以降の走査においてドットの記録を許容するエリアの割合は、Ｎ（ＮはＭおよびＭ＋１とは異なる（２Ｍ）以下の正の整数）回目の走査以前の走査およびＮ＋１回目の走査以降の走査においてドットの記録を許容するエリアの割合よりも大きく、少なくとも１つのＳとＬの組み合わせにおいて、Ｓ回目（Ｓは２Ｍより小さい正の整数）の走査以前の走査およびＳ＋１回目の走査以降の走査においてドットの記録を許容するエリアの割合とＳ＋１回目の走査以前の走査およびＳ＋２回目の走査以降の走査においてドットの記録を許容するエリアの割合との差が、Ｔ回目（ＴはＳとは異なる２Ｍより小さい正の整数）の走査以前の走査およびＴ＋１回目の走査以降の走査においてドットの記録を許容するエリアの割合とＴ＋１回目の走査以前の走査およびＴ＋２回目の走査以降の走査においてドットの記録を許容するエリアの割合との差と異なることを特徴とする。

本発明によれば、複数のプレーンそれぞれの多値の画像データの相関に応じたパラメータを取得し、これを用いて量子化処理を実行することにより、記録媒体において所望のドット重複率を有する画像を出力することが可能となる。結果、ロバスト性に優れ粒状感も低減された高品位な画像が得られる。

本発明を適用可能なインクジェット記録装置の主用な機構部の基本構成を示す図である。 記録ヘッド２０１の吐出口（ノズル）の配列構成を説明する為の図である。 本発明の実施形態に適用可能な記録装置の制御構成を示すブロック図である ホスト装置が実行するデータ処理を説明するためのブロック図である。 制御部においてホスト装置から受信した多値量子化データの変換および格納状態を説明するためのブロック図である。 本発明の実施形態における制御部が実行するドットマトリクス割り付け処理を説明するためのフローチャートである。 （ａ）および（ｂ）は、９段階のレベルを有する多値量子化データと、各レベルに対応するドットマトリクスパターンを説明するための模式図である。 選択された１つのドットマトリクスパターンと、展開バッファへの展開方法を説明するための模式図である。 ２つの展開バッファとマルチパス記録の記録走査を対応付けて説明するための図である。 （ａ）〜（ｆ）は、重複のドットを記録する２回の記録走査の組み合わせに応じて、濃度変動が異なる例を説明するための模式図である。 従来の一般的なマルチパス記録方法を説明するための模式図である。 本発明の実施形態で適用するマルチパス記録方法を、図１１と比較しながら説明するための模式図である。 偶数パスにおける第３ブロック〜第６ブロックに宛がわれるマスクのように、２種類のマスクＢおよびマスクＣから合成される新たなマスクを説明するための図である。 図１１で説明した従来の一般的なマスクを用いた場合に、ある１回の搬送動作で搬送ずれが発生した場合の、濃度変動の発生状態を説明するための図である。 搬送ずれの影響が及ぶ７つの領域について、それぞれのドットの重複および分離の状態を図１０（ａ）〜（ｃ）に照らし合わせて説明するための図である。 第１実施形態のマスクを用いた場合に、ある１回の搬送動作で搬送ずれが発生した場合の、濃度変化の状態を説明するための図である。 １パス目が奇数カラムデータのための記録走査であった場合を示す図である。 １パス目が偶数カラムデータのための記録走査であった場合を示す図である。 ４パス目と５パス目の間において１００％の記録許容エリア重複率を実現される例を図１７や図１８と同様に示す図である。 記録許容エリア重複率が必要以上に高い値に設定された場合の画像弊害を説明するための図である。 本発明の第２〜第３の実施形態の記録ヘッドの吐出口（ノズル）の配列構成を説明する為の図である。 本発明の第２〜第３の実施形態の制御部においてホスト装置から受信した多値データの変換および格納状態を説明するためのブロック図である。 展開バッファの２つの領域Ｃ１およびＣ２と、それぞれに展開された２値データを記録するノズル列と、マルチパス記録の記録走査を対応付けて説明するための図である。 本発明の第２の実施形態で適用するマルチパス記録方法を説明するための模式図である。 本発明の第２の実施形態のマスクを用いた場合に、ある１回の搬送動作で搬送ずれが発生した場合の、濃度変動の発生状態を説明するための図である。 第２の実施形態において、搬送ずれの影響が及ぶ３つの領域（単位領域２〜４）について、それぞれのドットの重複あるいは分離の状態を説明するための図である。 本発明の第３の実施形態で適用するマルチパス記録方法を説明するための模式図である。 第３の実施形態において、搬送ずれの影響が及ぶ１５の領域（単位領域２〜１６）について、それぞれのドットの重複あるいは分離の状態を説明するための図である。 本発明の第４の実施形態で適用するマルチパス記録方法を説明するための模式図である。 第４の実施形態において、搬送ずれの影響が及ぶ４つの領域（単位領域２〜５）について、それぞれのドットの重複あるいは分離の状態を説明するための図である。

以下に図面を参照して本発明における実施形態を詳細に説明する。

（第１の実施形態）
図１は、本発明を適用可能なインクジェット記録装置の主用な機構部の基本構成を示す図である。ヘッドカートリッジ１は、記録ヘッド２０１、インクタンク部、および、記録ヘッドを駆動するための信号などを授受するためのコネクタにより構成される（不図示）。また、ヘッドカートリッジ１は、キャリッジ２に交換可能に搭載されており、キャリッジ２には、上記コネクタを介してヘッドカートリッジ１に駆動信号等を伝達するためのコネクタホルダ（電気接続部）が設けられている。

キャリッジ２は、主走査方向に延在して装置本体に設置されたガイドシャフト３によって往復移動可能に案内支持されている。そして、キャリッジ２は主走査モータ４によりモータプーリ５、従動プーリ６およびタイミングベルト７等の駆動機構を介して駆動されるとともに、その位置および移動が制御される。また、ホームポジションセンサ３０がキャリッジ２に設けられている。これにより遮蔽板３６の位置をキャリッジ２上のホームポジションセンサ３０が通過した際に、キャリッジがホームポジションに到達したことを知ることが可能となる。

紙やプラスチック薄板等の記録媒体８は、給紙モータ３５からギアを介してピックアップローラ３１を回転させることによりオートシートフィーダ（以下、ＡＳＦともいう）３２から１枚ずつ分離給紙される。そして記録媒体８は、搬送ローラ９の回転により、ヘッドカートリッジ１に備えられた記録ヘッド２０１の吐出口面と対向する位置（記録部）を通って搬送（副走査）される。搬送ローラ９の回転は、ＬＦモータ３４の回転によりギアを介して行われる。その際、給紙されたかどうかの判定と給紙時の頭出し位置の確定は、ペーパエンドセンサ３３を記録媒体８が通過した時点で行われる。更に、記録媒体８の後端が実際に何処に有り、実際の後端から現在の記録位置を最終的に割り出すためにもペーパエンドセンサ３３は使用されている。

なお、記録媒体８は、記録部において平坦な記録面を形成するように、その裏面をプラテン（不図示）により支持されている。この際、キャリッジ２に搭載されたヘッドカートリッジ１は、記録ヘッド２０１の吐出口面が記録媒体８と平行になるように保持されている。

図２は、記録ヘッド２０１の吐出口（ノズル）の配列構成を説明する為の図である。図において、８０１はブラックインク（Ｋ）用のノズル列、８０２はシアンインク（Ｃ）用のノズル列、８０３はマゼンタインク（Ｍ）用のノズル列、８０４はイエローインク用（Ｙ）のノズル列である。４色のノズル列は、それぞれＥｖｅｎノズル列とＯｄｄノズル列によって構成されており、ブラックインクにおいては、８０１ａおよび８０１ｂがこれに相当する。以下、ブラックインクのノズル列８０１を例に、吐出口の配列構成を詳細に説明する。

Ｅｖｅｎノズル列８０１ａ及びＯｄｄノズル列８０１ｂのそれぞれには、６００ｄｐｉのピッチで１２８個の吐出口が副走査方向に配列されている。さらに、Ｅｖｅｎノズル列８０１ａ及びＯｄｄノズル列８０１ｂは、互いにＹ方向（副走査方向）に１２００ｄｐｉだけずれて配置されている。すなわち、記録ヘッドがＸ方向（主走査方向）に走査しながらインクを吐出することにより、副走査方向には１２００ｄｐｉの解像度で、約５．４２ｍｍ幅の画像を記録することが出来る。

他色のノズル列も、ブラックのノズル列８０１と同様な構成を備えており、これら４色は図に示すように主走査方向に並列されている。

記録ヘッド２０１の個々のノズルには、例えば熱エネルギを利用してインクを吐出するための電気熱変換体が備えられている。電気熱変換体は電力が供給されると発熱し、接触するインク内に膜沸騰を生じさせる。そして、この膜沸騰により生じる気泡の成長エネルギによって吐出口よりインクが吐出される仕組みになっている。ここでは吐出エネルギを得るために電気変換体を備える構成を示したが、本発明や本実施形態はこのような構成に限定されるものではない。個々の記録素子に圧電素子を備え、電力を供給された圧電素子の圧力によって吐出口よりインクを吐出する構成であっても構わない。

図３は、本実施形態の記録装置７００の制御構成を示すブロック図である。図において、記録制御部（単に制御部とも言う）５００には、外部に接続されたホスト装置６００からインターフェイス４００を介して記録開始信号や量子化データが入力される。この記録開始信号の入力に伴って、ＲＯＭ４０２に格納されている制御プラグラムがＭＰＵ４０１により実行される。制御プログラムとしては、例えば、後述するドットマトリクス割付処理などが含まれる。

ゲートアレイ４０４は、記録ヘッド２０１に対する画像データの供給制御を行い、また、インターフェイス４００、ＭＰＵ４０１、ＤＲＡＭ４０３間のデータの転送制御も行う。ＤＲＡＭ４０３は、各種データ（記録開始信号や記録ヘッド４１０に供給される画像データ等）を保存しておくダイナミック型のメモリであり、記録ドット数や、記録ヘッドの交換回数等も記憶できる。ＤＲＡＭ４０３は、後述する受信バッファ１００１や展開バッファ１００４、１００５、ドットマトリクス格納ユニット１００２（図５参照）としての役割も担う。

モータドライバ４０７、４０８は、記録ヘッド２０１が備えられたヘッドカートリッジ１を搬送する主走査モータ４と、ＬＦモータ３４を駆動する。またヘッドドライバ４０９は、記録ヘッド２０１を駆動する。

図４は、ホスト装置６００が実行するデータ処理を説明するためのブロック図である。ホスト装置６００は、色変換処処理６０１および量子化処理６０２を実行する。

色変換処理６０１では、アプリケーションなどから受信したＲＧＢ各８ビットの画像データを、記録装置で使用するインクすなわちシアン（Ｃ）、マゼンタ（Ｍ）およびイエロー（Ｙ）に対応した多値データに変換する。ここでは、各色につき２５６階調を有する８ｂｉｔデータに変換する。また、画素の解像度は６００ｄｐｉ（ドット／インチ）とする。

続く量子化処理６０２では、受信した多値データを、より低レベルのＮ値（Ｎ＜２５６）に量子化する。詳しくは、Ｃ、ＭおよびＹの２５６値データを、それぞれ、６００ｄｐｉの４ビット９値データに量子化する。量子化処理は、一般的な多値誤差拡散法を用いてもよいしディザマトリクス法を用いても良い。このようにして量子化されたＮ値の画像データのことを、本明細書では以後「量子化データ」あるいは「多値量子化データ」と称する。６００ｄｐｉの多値量子化データはインターフェイス４００を介して記録装置の制御部５００に送信される。

図５は、制御部５００においてホスト装置６００から受信した多値量子化データの変換および格納状態を説明するためのブロック図である。受信バッファ１００１は、受信した多値量子化データを一度格納するためのバッファである。ドットマトリクス割り付けモジュール１００３は、受信バッファ１００１に格納された６００ｄｐｉの多値量子化データを１画素分呼び出し、当該データに対応するドットマトリクスパターンをドットマトリクス格納ユニット１００２から選択する。選択されたドットマトリクスパターンは、１２００ｄｐｉの２値データとなり、２つの展開バッファ１００４および１００５に格納される。本実施形態において、ドットマトリクス割り付けモジュール１００３と展開バッファ１００４および１００５が、２値化処理を行うための２値化処理部として機能する。なお、ドットマトリクス割り付けモジュール１００３は、ＲＯＭ４０２に予め格納されＭＰＵ４０１にて実行されるソフトウエアモジュールである。また、受信バッファ１００１、ドットマトリクス格納ユニット１００２、並びに展開バッファ１００４および１００５は、図３に示すＤＲＡＭ４０３の所定のアドレス領域に格納されている。

図６は、本実施形態の制御部５００が実行するドットマトリクス割り付け処理を説明するためのフローチャートである。

まず、ステップＳ１において制御部５００は、ホスト装置６００より受信した６００ｄｐｉ４ビットの多値量子化データを、受信バッファ１００１に格納する。続くステップＳ２において、受信バッファ１００１内に格納したデータの中から、１画素分の量子化データを読み出し、ドットマトリクス割り付けモジュール１００３に転送する。

ステップＳ３において、制御部５００は、ドットマトリクスモジュール１００３に転送した多値量子化データに対応するドットマトリクスパターンをドットマトリクス格納ユニット１００２から選択する。

図７は、９段階のレベルを有する多値量子化データと、各レベルに対応するドットマトリクスパターンを説明するための模式図である。左列は、多値量子化データの１画素分（６００ｄｐｉ）が有するレベル０からレベル８までの階調を示し、Ａ列およびＢ列は各レベルに対応する２種類のドットマトリクスパターン示している。１つのドットマトリクスパターンは４エリア×２エリアの領域を有し、個々の四角は１つのドットを記録することが可能なエリアに相当している。黒丸を示したエリアはドットを記録（１）するエリア、空欄はドットを記録しない（０）エリアをそれぞれ示している。図によれば、多値量子化データのレベルが上がるにつれて、４エリア×２エリア内のドットを記録するエリアが増えていることがわかる。制御部５００では、このようにエリア単位で記録（１）または非記録（０）が定められた２値データで構成されるドットマトリクスパターンが、多値量子化データの各レベルに対応付けられる形態で、ドットマトリクス格納ユニット１００２に格納されている。制御部５００は、１つの多値量子化データに対しＡ列に示したドットマトリクスパターンとＢ列に示したドットマトリクスパターンとを、主走査方向に交互に選択する。

再び図６のフローチャートに戻る。ステップＳ３にてドットマトリクスパターンを選択すると、制御部はこれら２つのマトリクスパターンを分配し、ステップＳ４にて展開バッファ１００４および１００５に展開する。

図８は、選択された１つのドットマトリクスパターンと、展開バッファへの展開方法を説明するための模式図である。４エリア×２エリアのドットパターンは、主走査方向に対し奇数番目のエリアと偶数番目のエリアに分類され、奇数カラムデータＣ１および偶数カラムデータＣ２として、展開バッファ１００４および展開バッファ１００５にそれぞれ展開される。すなわち、展開バッファ１００４にはドットマトリクスパターンの奇数列目のエリアに対応する２値データ（１又は０）が、展開バッファ１００５にはドットマトリクスパターンの偶数列目のエリアに対応する２値データ（１又は０）が、それぞれ記憶される。

再度図６を参照するに、ステップ５において制御部５００は、受信バッファ１００１に格納された全ての画素について、ドットマトリクスパターンの展開処理が終了したか否かを判断する。まだ、展開すべき画素が残っていると判断した場合はステップＳ２へ戻り、次の画素に対するドットマトリクスパターンの割り付け処理を行う。一方、受信バッファ１００２に格納された全ての画素についてドットマトリクスパターンの展開処理が終了したと判断した場合は、本処理を終了する。

図９は、２つの展開バッファ１００４および１００５とマルチパス記録の記録走査を対応付けて説明するための図である。本実施形態において、展開バッファ１００４に格納された奇数カラムデータＣ１は、その後、互いに補完の関係にある４種類のマスクとの間で論理積が取られ、４つの記録走査（奇数パス目）に対応する画像データに分配される。一方、展開バッファ１００５に格納された偶数カラムデータＣ２も、互いに補完の関係にある４種類のマスクとの間で論理積が取られ、４つの記録走査（偶数パス目）に対応する画像データに分配される。そして、奇数カラムデータＣ１と偶数カラムデータＣ２は、互いに異なる記録走査（１〜８パス目）で重ねて記録される。具体的には、１カラム目と２カラム目のデータが互いに重複するように、また３カラム目と４カラム目のデータが互いに重複するように記録される。

以上の構成により、記録媒体の単位領域は、ドットマトリクスパターンで定められた全てのドットが、記録ヘッドの８回の記録走査（１パス目〜８パス目）によって、段階的に記録され、個々のエリアには２つのドットが記録可能となる。以下、このように１つのエリアに重ねて記録されるドットを重複ドットと称する。

本発明者らは、このような重複ドットを構成する２つのドットを記録する走査を適切に割り振ることによって、記録位置ずれが発生した場合の濃度変動を抑えることが可能であると判断した。

図１０（ａ）〜（ｆ）は、重複のドットを記録する２回の記録走査の組み合わせに応じて、濃度変動が異なる例を説明するための模式図である。ここでは、４パスのマルチパス記録によって、５０％のエリアに重複ドットを記録する例を示している。図１０（ａ）〜（ｃ）は縦横共に１つおきのエリアに重複ドットが記録されている例を示している。ドットの上に示した番号は、そこに重複されたドットがこの領域に対し何番目の記録走査（パス）によって記録されたかを示している。すなわち、図１０（ａ）の左上のエリアは１回目の記録走査（１パス）と２回目の記録走査（２パス）によってドットが記録されたことを示し、図１０（ｂ）の同じエリアは１パスと４パスで記録されたことを示している。

図によれば、図１０（ａ）〜（ｃ）のドットの配置は等しくなっているが、ドットを記録するパスが互いに異なっていることが判る。具体的には、図１０（ａ）では、全てのドットが１パスと２パスで重複されるか、３パスと４パスで重複されるかのどちらか一方になっている。図１０（ｂ）では、全てのドットが１パスと４パスで重複されるか、２パスと３パスで重複されるかのどちらか一方になっている。これに対し、図１０（ｃ）では、１パスと２パスで重複されるドット、１パスと４パスで重複されるドット、２パスと３パスで重複されるドット、さらに３パスと４パスで重複されるドット、が混在している。

図１０（ｄ）〜（ｆ）は、図１０（ａ）〜（ｃ）のそれぞれに対し、２パスと３パスの間に行われる搬送が、正規の位置より１エリア分だけずれてしまった場合のドット配置状態を示している。この場合、１パスで記録されるドット群と２パスで記録されるドット群との間、および、３パスで記録されるドット群と４パスで記録されるドット群との間にはずれは生じない。

よって、図１０（ａ）のように、１パスと２パスで重複されるドットと、３パスと４パスで重複されるドットしか存在しない状態においては、搬送ずれが発生しても、ドットの重複関係に変化はない。しかし、重複ドット同士の補完関係（位置関係）は変わり、縦横共に１つおきのエリアに配置していたドットが隣接したり、部分的に重なり合ったりして、図１０（ａ）に比べ記録媒体の被覆率が低下し、白紙領域が目立つようになる（図１０（ｄ）参照）。ここでは、全てのドットが重複ドットである場合を説明したが、このような現象は単独ドットであっても同じである。すなわち、分散性が高く一様性に優れた配列状態から、突発的な搬送ずれが発生してドット同士の配列関係が崩れると、このように白紙領域が目立ち易くなり、その領域の濃度は低下する傾向にある。

一方、図１０（ｂ）のように、１パスと４パスで重複されるドットと、２パスと３パスで重複されるドットしか存在しない状態においては、２パスと３パスの間で搬送ずれが発生すると、全ての重複ドットが離れ離れになる（図１０（ｅ）参照）。よって、縦横共に１つおきのエリアにドットが記録されていた図１０（ｂ）の場合に比べ、白紙領域が減少する。すなわち、図１０（ｂ）のようなドット配置の場合、突発的な搬送ずれが発生すると、重複ドットが分離することによる濃度上昇が起こる。このように、全ての重複ドットが分離される状態においては、ドット同士の補完関係が変わることによる濃度低下よりも重複ドットが分離することによる濃度上昇のほうが上回る。

これに対し、図１０（ｃ）のように、様々なパスの組み合わせで重複ドットが記録されている状態においては、２パスと３パスの間で搬送ずれが発生しても、重複されたままのドットと、離れ離れになるドットとが混在する（図１０（ｆ）参照）。結果、図１０（ｄ）ほどの濃度低下は起こらないし、図１０（ｅ）ほどの濃度上昇も起こらず、 図１０（ｄ）〜（ｆ）の中で、最もオリジナルに近い濃度を維持することが期待できる。

以上より、重複ドットを含んで画像を記録する構成においては、重複する２つのドットを記録する走査（パス）の組み合わせを適度に割り振ることが、濃度変動を抑えるために有効と言える。以下に、重複ドットを記録する走査（パス）を、様々な組み合わせに割り振るためのマルチパス記録方法を、従来の一般的なマルチパス記録方法と比較しながら説明する。

図１１は、従来の一般的なマルチパス記録方法を説明するための模式図である。ここでは、８パスのマルチパス記録を例に、シアンのノズル列８０２に対するマスクの割り当て状態と、８回の記録走査によって単位領域の画像が記録されていく際の、ノズル列８０２と単位領域の位置関係が示されている。

シアンのノズル列８０２は、Ｅｖｅｎノズル列とＯｄｄノズル列を合わせた２５６個のノズルが副走査方向に１２００ｄｐｉのピッチで配置していると考えることが出来る。８パスのマルチパス記録において、これらノズル列は３２個ずつの８個のブロックに分割され、それぞれのノズルブロックには、Ａ〜Ｄのうち１つのマスクが宛がわれるようになっている。Ａ〜Ｄのマスクは、複数のエリアそれぞれに対する記録の許容（１）あるいは非許容（０）が、互いに排他且つ補完の関係になるように定められており、各マスクの記録許容率（全エリアに対する記録許容エリアの割合）は、いずれも約２５％になっている。本例において、第１ブロックと第２ブロックにはマスクＡが、第３ブロックと第４ブロックにはマスクＢが、第５ブロックと第６ブロックにはマスクＣが、第７ブロックと第８ブロックにはマスクＤが、それぞれ宛がわれている。

個々の記録走査が終了するたび、記録媒体は副走査方向に１ブロック分（３２ノズル分）だけ搬送される。よって、３２ノズル分の幅を有する単位領域では、１パス目でマスクＡによる奇数カラムデータが、２パス目でマスクＡによる偶数カラムデータが、３パス目でマスクＢによる奇数カラムデータが、４パス目でマスクＢによる偶数カラムデータが記録される。また、５パス目でマスクＣによる奇数カラムデータが、６パス目でマスクＣによる偶数カラムデータが、７パス目でマスクＤによる奇数カラムデータが、８パス目でマスクＤによる偶数カラムデータが、記録される。本明細書では、このように個々のブロックの幅（３２ノズル幅）に対応する記録媒体の領域であって、同じノズル列の同じ記録走査で記録が行われていく領域を、単位領域と称している。

本例では、連続する２つのブロックで同じマスクを使用しているので、重複ドットを構成する２つのドットは連続する２回の記録走査で記録される。また、Ａ〜Ｄのマスクは互いに排他且つ補完の関係を有しているので、奇数カラムデータについては、Ａ〜Ｄのマスクを用いた４回の奇数パスによって、その全てが記録される。さらに、偶数カラムデータについては、Ａ〜Ｄのマスクを用いた４回の偶数パスによって、その全てが記録される。

なお、奇数カラムデータのための記録走査と偶数カラムデータのための記録走査は交互に行われているので、１パス目で奇数カラムデータが記録される単位領域もあれば、１パス目で偶数カラムデータが記録される単位領域もある。

図１４は、図１１で説明した従来の一般的なマスクを用いた場合に、ある１回の搬送動作で搬送ずれが発生した場合の、濃度変動の発生状態を説明するための図である。ここでは、矢印で示した記録走査の直前に行われた搬送動作において、搬送ずれが発生した場合を想定する。単位領域１〜９は、上記搬送ずれをはさんで記録走査（パス）が行われる単位領域と、これに隣接する単位領域を示している。

ここで、単位領域１は、搬送ずれが発生した搬送動作を挟まないで記録走査が行われた領域（通常領域）である。

単位領域２は、当該領域に対する７パス目と８パス目の間で搬送ずれが発生し、１〜７パス目の記録位置に対し８パス目の記録位置がずれた領域である（１／８パスの記録位置ずれ）。

単位領域３は、当該領域に対する６パス目と７パス目の間で搬送ずれが発生し、１〜６パス目の記録位置に対し７および８パス目の記録位置がずれた領域である（２／８パスの記録位置ずれ）。

単位領域４は、当該領域に対する５パス目と６パス目の間で搬送ずれが発生し、１〜５パス目の記録位置に対し６〜８パス目の記録位置がずれた領域である（３／８パスの記録位置ずれ）。

単位領域５は、当該領域に対する４パス目と５パス目の間で搬送ずれが発生し、１〜４パス目の記録位置に対し５〜８パス目の記録位置がずれた領域である（４／８パスの記録位置ずれ）。

単位領域６は、当該領域に対する３パス目と４パス目の間で搬送ずれが発生し、１〜３パス目の記録位置に対し４〜８パス目の記録位置がずれた領域である（５／８パスすなわち３／８パスの記録位置ずれ）。

単位領域７は、当該領域に対する２パス目と３パス目の間で搬送ずれが発生し、１および２パス目の記録位置に対し３〜８パス目の記録位置がずれた領域である（６／８パスすなわち２／８パスの記録位置ずれ）。

単位領域８は、当該領域に対する１パス目と２パス目の間で搬送ずれが発生し、１パス目の記録位置に対し２〜８パス目の記録位置がずれた領域である（７／８パスすなわち１／８パスの記録位置ずれ）。

単位領域９は、搬送ずれが発生した搬送動作を挟まないで記録走査が行われた領域（通常領域）である。

すなわち、搬送ずれが発生した搬送動作が１回あると、その影響は８パスのマルチパス記録の場合７つの単位領域に及び、２Ｍパス（Ｍは２以上の整数）のマルチパス記録の場合は（２Ｍ−１）個の単位領域に及ぶことになる。

図１５は、上記搬送ずれの影響が及ぶ７つの領域（単位領域２〜８）について、それぞれのドットの重複および分離の状態を図１０（ａ）〜（ｃ）に照らし合わせて説明するための図である。まず、単位領域２については、７パスと８パスの間に発生した搬送ずれによって、マスクＤで記録される２５％の重複ドットが、図１０（ｅ）のように分離する。単位領域８についても同様である。

単位領域３については、６パスと７パスの間に発生した搬送ずれによって、重複ドットが分離することはない。その一方で、マスクＤによって記録された重複ドットが、マスクＡ、ＢおよびＣによって記録された重複ドットに対しずれてしまうので、これらの補完関係が崩れ、図１０（ｄ）に示すように白紙領域が現れ、濃度低下が懸念される。単位領域７についても同様である。

単位領域４については、５パスと６パスの間に発生した搬送ずれによって、マスクＣによって記録される２５％の重複ドットが、図１０（ｅ）のように分離する。その一方で、マスクＡおよびマスクＢで記録されたドットと、マスクＤで記録されたドットの補完関係が崩れるので、濃度低下も懸念される。単位領域６についても同様である。

単位領域５については、４パスと５パスの間に発生した搬送ずれによって、重複ドットが分離することはない。その一方で、マスクＣとマスクＤによって記録された５０％の重複ドットが、マスクＡとマスクＢによって記録された５０％の重複ドットに対しずれてしまう。このときの補完関係の崩れは、重複ドットのうちの２５％がずれる単位領域３や単位領域７よりも大きなものとなる。従って、単位領域５は、搬送ずれの影響が及ぶ全単位領域２から８の中で、最も濃度低下が懸念される単位領域となる。

ここでは８パスのマルチパス記録を例に説明しているが、一般的に２Ｍパスのマルチパス記録を行う場合、搬送ずれが起こった搬送動作をＭ回目の記録走査とＭ＋１回目記録走査の間に持つ単位領域が、最も濃度低下が懸念される単位領域となる。本明細書では、このようなＭパス目とＭ＋１パス目の間のことを中央パス間と称する。

このような状況を改善するためには、最も濃度低下が懸念される単位領域（単位領域５）において、同じエリアの奇数カラムデータのドットと偶数カラムデータのドットが、なるべく搬送ずれが生じる搬送動作を挟んで記録されるようにすればよい。言い換えれば、全ての単位領域に対し、なるべく多くの重複ドットが、Ｍパス目とＭ＋１パス目の間に行われる搬送動作を挟んで記録されるようにすれば、どのタイミングで搬送ずれが発生しても、濃度低下を緩和することが期待できる。そして、そのためには、Ｍパス目とＭ＋１パス目の間を跨ぐマスクにおいて、同位置への記録を許容するエリアの割合（記録許容エリア重複率）が高く設定されていればよいことになる。

図１１で示した従来のマスクを使用した場合には、図１５の単位領域５に見るように、８パス（２Ｍ）のマルチパス記録において、４パス目と５パス目（Ｍパス目とＭ＋１パス目）の間を跨ぐ記録許容エリア重複率が０％となってしまっていた。このため、４パス目と５パス目の間で搬送ずれが生じた場合に、当該単位領域に大きな濃度低下が招致されてしまっていたのである。

図１２は、上記条件を満たすように作成された本実施形態のマスクを用いたマルチパス記録方法を、図１１と比較しながら説明するための模式図である。本実施形態においても、マスクとしては、その記録許容率がほぼ２５％であり、互いに排他且つ補完の関係にあるＡ〜Ｄの４つが用意されている。

本実施形態では、奇数カラムデータを記録するための記録走査と、偶数カラムデータを記録するための記録走査において、それぞれのブロックに宛がうマスクを異ならせている。

奇数カラムデータを記録するための記録走査（図では奇数パス）については、第１ブロックと第２ブロックにはマスクＡが、第３ブロックと第４ブロックにはマスクＢが宛がわれている。また、第５ブロックと第６ブロックにはマスクＣが、第７ブロックと第８ブロックにはマスクＤが、それぞれ宛がわれている。図において、マスクＡ＿２５とは、マスクの種類と記録許容率を同時に示した表現方法であり、これは図１１で示したマスクＡと同じものを示す。また、マスクＢ＿１５やＢ＿１０は、それぞれ図１１で示したマスクＢの一部を示している。例えば第２ブロックは、記録許容率が１５％のマスクＢ＿１５と記録許容率が１０％のマスクＢ＿１０を合わせた記録率２５％のマスクＢ＿２５が宛がわれていることになり、これは図１１で示したマスクＢと同じものとなる。マスクＣおよびＤについても同様である。

これに対し、偶数カラムデータを記録するための記録走査（図では偶数パス）については、第１ブロックと第２ブロックにはマスクＤ＿２５が、第３ブロックと第４ブロックにはマスクＢ＿１０とマスクＣ＿１５が、宛がわれている。また、第５ブロックと第６ブロックにはマスクＢ＿１５とマスクＣ＿１０が、第７ブロックと第８ブロックにはマスクＤ＿２５が、それぞれ宛がわれている。

図１３は、偶数パスにおける第３ブロック〜第６ブロックに宛がわれるマスクのように、２種類のマスクＢおよびマスクＣから合成される新たなマスクを説明するための図である。図において、１３１はマスクＢ＿２５の一領域（１６×１６エリア）を示した図である。この図において、黒く塗りつぶしたエリアは記録許容エリアを示している。マスクＢ＿２５において、記録許容エリアは全エリアの２５％に相当している。一方、１３２は、上記１３１と同じ領域に対応するマスクＣ＿２５を示している。１３２においても、記録許容エリアは全エリアの２５％に相当している。

これに対し、１３３は、マスクＣ＿２５の２５％の記録許容エリアのうち１０％の記録許容エリアをマスクＢ＿２５の１０％の記録許容エリアと入れ替えた状態を示している。マスクＢ＿２５とマスクＣ＿２５は、互いに排他なマスクであるので、記録許容エリアの入れ替えを行っても、記録許容エリアが重複することはない。この新たなマスク１３３が、偶数パスにおける第３ブロックおよび第４ブロックに宛がわれている。

また、１３４は、マスクＢ＿２５の２５％の記録許容エリアのうち１０％の記録許容エリアをマスクＣ＿２５の１０％の記録許容エリアと入れ替えた状態を示している。この新たなマスク１３４が、偶数パスにおける第５ブロックおよび第６ブロックに宛がわれている。１３３に示したマスクと１３４に示したマスクは、マスクＢ＿２５とマスクＣ＿２５の一部を互いに入れ替えて生成されているので、これら２つの間にも排他の関係は成り立つ。そして、これらを足し合わせた記録許容率５０％のマスクは、１３１に示したマスクＢ＿２５と１３２に示したマスクＣ＿２５を足し合わせた結果と一致する。

図１６は、図１２で説明した本実施形態のマスクを用いた場合に、ある１回の搬送動作で搬送ずれが発生した場合の、濃度変化の状態を説明するための図である。矢印で示したパス（記録走査）の直前に行われた搬送動作において、搬送ずれが発生した場合を示している。単位領域１〜９は、上記搬送ずれをはさんで記録走査（パス）が行われる領域と、これに隣接する単位領域を示している。

図１７および図１８は、上記搬送ずれの影響が及ぶ７つの領域（単位領域２〜８）について、それぞれのドットの重複あるいは分離の状態を図１０（ａ）〜（ｃ）に照らし合わせて説明するための図である。図１７は１パス目が奇数カラムデータのための記録走査である場合を示し、図１８は１パス目が偶数カラムデータのための記録走査である場合を示している。

図１７において、単位領域２は、７パスと８パスの間に発生した搬送ずれによって、マスクＡによって記録される重複ドットが分離する。すなわち、７パス目と８パス目の間を跨ぐ記録許容エリア重複率が２５％であるので、全体の２５％の重複ドットが分離する。単位領域８についても同様である。

単位領域３については、６パスと７パスの間に発生した搬送ずれによって、マスクＡによって記録される重複ドットとマスクＤによって記録された重複ドットが分離する。すなわち、６パス目と７パス目の間を跨ぐ記録許容エリア重複率が２５％＋２５％＝５０％であるので、全体の５０％の重複ドットが分離する。単位領域７についても同様である。

単位領域４では、５パスと６パスの間に発生した搬送ずれによって、マスクＡによって記録された重複ドット、マスクＤによって記録された重複ドット、マスクＢ＿１５によって記録された重複ドット、マスクＣ＿１０によって記録された重複ドットが分離する。すなわち、５パス目と６パス目の間を跨ぐ記録許容エリア重複率が２５％＋２５％＋１５％＋１０％＝７５％であるので、全体の７５％の重複ドットが分離する。単位領域６についても同様である。

更に、単位領域５については、４パスと５パスの間の搬送ずれによって、マスクＡによって記録された重複ドット、マスクＤによって記録された重複ドット、マスクＢ＿１５によって記録された重複ドット、マスクＣ＿１５によって記録された重複ドットが分離する。すなわち、４パス目と５パス目の間を跨ぐ記録許容エリア重複率が２５％＋２５％＋１５％＋１５％＝８０％であるので、全体の８０％の重複ドットが分離する。

このように、本実施形態のマスクは、４パス目と５パス目の間を跨ぐ記録許容エリア重複率が８０％となっており、これは、図１５で説明した従来法の０％に比べ、十分に高い値になっている。よって、４パス目と５パス目の間に搬送ずれが発生した場合に最も濃度低下が懸念される単位領域であっても、濃度低下を緩和することが出来る。また、本実施形態では、４パス目と５パス目の間を跨ぐ記録許容エリア重複率を高く設定しながらも、他の連続するパス間を跨ぐ記録許容エリア重複率についても、上記４パス目と５パス目の間から段階的に少なくなるように設定している。このような構成にしておくことにより、搬送ずれによる濃度低下を全単位領域に対し、適量に抑えることが可能となる。

ところで、４パス目と５パス目の間を跨ぐ記録許容エリア重複率は、図１３で説明したマスクの作り方を調整することによって、変動させることも出来る。例えば、図１３ではマスクＢ＿２５とマスクＣ＿２５のうち、互いの１０％の記録許容エリアを入れ替える構成としたが、これを例えば５％とすることによって、４パス目と５パス目の間を跨ぐ記録許容エリア重複率を９０％とすることが可能となる。また、以下のようなマスクの割り当てにすれば、４パス目と５パス目の間を跨ぐ記録許容エリア重複率を１００％とすることも可能となる。

図１９は、４パス目と５パス目の間を跨ぐ記録許容エリア重複率を１００％にする例を図１７や図１８と同様に示す図である。

この図において、単位領域２は、７パスと８パスの間に発生した搬送ずれによって、マスクＡによって記録される重複ドットが分離する。すなわち、７パス目と８パス目の間を跨ぐ記録許容エリア重複率が２５％であるので、全体の２５％の重複ドットが分離する。単位領域８についても同様である。

単位領域３については、６パスと７パスの間に発生した搬送ずれによって、マスクＡによって記録される重複ドットとマスクＤによって記録される重複ドットが分離する。すなわち、７パス目と８パス目の間を跨ぐ記録許容エリア重複率が２５％＋２５％＝５０％であるので、全体の５０％の重複ドットが分離する。

単位領域４では、５パスと６パスの間に発生した搬送ずれによって、マスクＡによって記録される重複ドット、マスクＤによって記録される重複ドット、およびマスクＢによって記録される重複ドットが分離する。すなわち、５パス目と６パス目の間を跨ぐ記録許容エリア重複率が２５％＋２５％＋２５％＝７５％であるので、全体の７５％の重複ドットが分離する。単位領域６についても同様である。

更に、単位領域５については、４パスと５パスの間の搬送ずれによって、マスクＡによって記録される重複ドット、マスクＤによって記録される重複ドット、マスクＢによって記録される重複ドット、マスクＣによって記録される重複ドットが分離する。すなわち、４パス目と５パス目の間を跨ぐ記録許容エリア重複率が２５％＋２５％＋２５％＋２５％＝１００％であるので、１００％の重複ドットが分離する。

このように、図１９に示すマスクの割り振りを採用するにすることによって、４パスと５パスの間では１００％の記録許容エリア重複率を実現することが出来る。但し、記録許容エリア重複率は、搬送ずれによる濃度低下を抑える程度であれば良く、必要以上に高い値であると、図２０に示すように濃度が通常領域よりも高くなってしまう恐れも生じる。よって、本実施形態においては、新たなマスクの作り方やマスクの割り振りを調整することによって、連続する２つのパス間を跨ぐ記録許容エリア重複率を適切に調整することが望まれる。

以上説明したように、本実施形態によれば、２Ｍパスのマルチパス記録を行う際に、Ｍパス目とＭ＋１パス目の間を跨ぐ記録許容エリア重複率が、他の２つの連続するパス間を跨ぐ記録許容エリア重複率よりも高く設定されたマスクを用いている。これにより、突発的な搬送ずれ等によってドットの補完関係が崩れ、濃度低下が懸念される場合であっても、第１カラムデータのドットと第２カラムデータのドットが分離することによって濃度の上昇が促進され、上記濃度低下を緩和することが可能となる。また、上記記録許容エリア重複率を調整することにより、懸念される濃度低下の程度に適したドットの分離を実現することも可能である。

なお、本実施形態において、Ｍパス目とＭ＋１パス目の間を跨ぐ記録許容エリア重複率とは、Ｍを２以上の整数とするとき、M回目の走査以前の走査とM＋１回目の走査以降の走査の両方で記録が許容されるエリアの割合である。また、他の２つの連続するパス間を跨ぐ記録許容エリア重複率とは、ＮをＭとは異なる２Ｍ−１以下の整数とするとき、Ｎ回目の走査以前の走査とＮ＋１回目の走査以降の走査の両方で記録が許容されるエリアの割合である。

例えば、図１９の場合、Ｍの値は４となる。そして、１パス目でマスクＡにより記録が許容されるエリアは８パス目でもマスクＡにより記録が許容され、２パス目でマスクＤにより記録が許容されるエリアは７パス目でもマスクＤにより記録が許容される。同様にして、３パス目でマスクＢにより記録が許容されるエリアは６パス目でもマスクＢにより記録が許容され、４パス目でマスクＣにより記録が許容されるエリアは5パス目でもマスクＣにより記録が許容される。つまり、図１９の場合、全てのエリアに対して、４パス目以前のパスと５パス目以降のパスの両方で記録が許容されるため、４パス目以前のパスと５パス目以降のパスの両方で記録が許容されるエリアの割合は１００％である。

また、同図において例えばＮ＝３の場合を考える。３パス目以前のパスである１パス目でマスクＡにより記録が許容されるエリアは、４パス目以降のパスである８パス目でもマスクＡにより記録が許容される。また、３パス目以前のパスである２パス目でマスクＤにより記録が許容されるエリアは、４パス目以降のパスである７パス目でもマスクＤにより記録が許容される。また、３パス目以前のパスである３パス目でマスクＢにより記録が許容されるエリアは、４パス目以降のパスである６パス目でもマスクＢにより記録が許容される。ただし、４パス目および７パス目でマスクＣにより記録が許容されるエリアは、共に４パス目以降のパスで記録が許容されるエリアであるので、このエリアはＮパス目以前のパスとＮ＋１パス目以降のパスの両方で記録が許容されるエリアには該当しない。そのため、Ｎ＝３の場合のとき、Ｎパス目以前のパスとＮ＋１パス目以降のパスの両方で記録が許容されるエリアの割合は７５％である。その他のＮの値の場合でも、Ｎパス目以前のパスとＮ＋１パス目以降のパスの両方で記録が許容されるエリアの割合は１００％よりも小さい。

この様に本実施形態のマスクは、Ｍ回目のパス以前のパスおよびＭ＋１回目のパス以降のパスにおいてドットの記録を許容するエリアの割合が、Ｎ回目のパス以前のパスおよびＮ＋１回目のパス以降のパスにおいてドットの記録を許容するエリアの割合よりも大きい。これによって、突発的な搬送ずれ等によってドットの補完関係が崩れた場合にも、重複ドットが分離することによって濃度の低下を緩和することが可能となる。

また、本実施形態の他の特徴の１つとして、記録許容エリア重複率を中央のパス間から段階的に少なくする際に、中央のパス間に近いほどその重複率の差が小さくなるようにしている。図１７、図１８では、３パス目と４パス目の間および５パス目と６パス目の間の記録許容エリア重複率が７５％、４パス目と５パス目の間の記録許容エリア重複率が８０％であり、その差は５％である。一方、１パス目と２パス目の間の記録許容エリア重複率が２５％、２パス目と３パス目の間の記録許容エリア重複率が５０％であり、その差は２５％となる。このように、本実施形態では、記録許容エリア重複率を中央のパス間から段階的に少なくする際に、中央のパス間に近いほどその重複率の差が小さくなるようにしている。これによって、突発的な搬送ずれによる濃度変動の影響が大きい単位領域、例えば図１７の単位領域４〜６において、急な濃度変動を緩和することができる。

このような形態は、特に中央のパス間ほど記録許容エリア重複率の差が小さくなるように、徐々にその差を小さくするのが好適な形態である。ただし、図１７では、１パス目と２パス目の間の記録許容エリア重複率と２パス目と３パス目の間の記録許容エリア重複率の差（２５％）と、２パス目と３パス目の間の記録許容エリア重複率と４パス目と５パス目の間の記録許容エリア重複率の差（２５％）は等しい。このように、一部で差がゼロとなっていてもよく、必ずしも全てのパス間で記録許容エリア重複率の差が異なっている必要はない。

なお、以上では、シアンのノズル列８０２に対するマスクを例に説明してきたが、上記説明したマスクは各色で共通に用いることが出来る。また、各色で異なるマスクを用意することも出来る。例えば、インク色によって、濃度低下の弊害の目立ち方が異なる場合などは、Ｍパス目とＭ＋１パス目の間を跨ぐ記録許容エリア重複率をインク色毎に異ならせても良い。

（第２の実施形態）
本実施形態においても、図１で示した第１の実施形態と同様の記録装置を用いる。また、制御構成についても図２で示したブロック図を適用可能とする。本実施形態では、記録ヘッド２０１における各色のノズル列の配列構成が第１の実施形態とは異なっている。

図２１は、本実施形態の記録ヘッド２０１の吐出口（ノズル）の配列構成を説明する為の図である。図において、２１１と２１８はブラックインク（Ｋ）用のノズル列、２１２と２１７はシアンインク（Ｃ）用のノズル列、２１３と２１６はマゼンタインク（Ｍ）用のノズル列、２１４と２１５はイエローインク用（Ｙ）のノズル列である。本実施形態では、このように各色２列ずつのノズル列を有し、これら８つのノズル列は主走査方向に対称的な色関係になるように配置されている。このような構成であれば、往路方向で記録を行った場合でも、復路方向に記録を行った場合でも、記録媒体に対するインクの付与順序をＫ→Ｃ→Ｍ→Ｙ→Ｙ→Ｍ→Ｃ→Ｋに統一することが出来る。その結果、往復の記録走査を行っても、インクの付与順序の違いによって招致される色むらを回避することが可能となる。また、１つのノズル列が１回の記録走査で吐出可能な回数や駆動周波数には上限があるが、本実施形態のように各色のノズル列を２列ずつ用意しておけば、これら２列で吐出を補い合うことが出来る。このため、第１の実施形態の構成に比べて、より速いスピードや、より少ないマルチパス数で画像を出力することが可能となる。

図２２は、本実施形態の制御部５００においてホスト装置６００から受信した多値データの変換および格納状態を説明するためのブロック図である。第１の実施形態と同じ機能を有する構成は、第１の実施形態と同じ符号で示している。第１の実施形態と異なる構成は展開バッファ１００６のみである。

本実施形態においても、ドットマトリクス割付モジュール１００３によって、ドットマトリクス格納ユニット１００２に格納されたドットマトリクスパターンが６００ｄｐｉの各画素に対応して選択される。そして、図８に示すように奇数カラムデータと偶数カラムデータに分類される。本実施形態において、これら奇数カラムデータと偶数カラムデータは、展開バッファ１００６の異なる領域にそれぞれ展開される。たとえば、シアンインクの奇数カラムデータはＣ１に、偶数カラムデータはＣ２にそれぞれ展開される。他のインク色についても同様である。

図２３は、展開バッファ１００６の２つの領域Ｃ１およびＣ２と、それぞれに展開された２値データを記録するノズル列と、マルチパス記録の記録走査を対応付けて説明するための図である。本実施形態において、展開バッファ１００６のＣ１に格納された奇数カラムデータは、ノズル列２１２によって４回の記録走査で記録される。また、展開バッファ１００６のＣ２に格納された偶数カラムデータは、ノズル列２１７によって４回の記録走査で記録される。他のインク色についいても、同様の関係を有している。このような記録方法を採用することにより、展開バッファ１００６のＣ１に格納された奇数カラムデータとＣ２に格納された偶数カラムデータは、記録媒体で重ねて記録され、重複ドットを形成する。

図２４は、本実施形態で適用するマルチパス記録方法を説明するための模式図である。ここでは簡単のため、シアンのノズル列２１２および２１７についてのマスクを例に説明する。本実施形態においても、マスクとしては、その記録許容率がほぼ２５％であり、互いに排他且つ補完の関係にあるＡ〜Ｄの４つが用意されている。

本実施形態では、奇数カラムデータを記録するためのノズル列２１２と、偶数カラムデータを記録するためのノズル列２１７において、それぞれのブロックに宛がうマスクパターンを異ならせている。

奇数カラムデータを記録するためのノズル列２１２については、第１ブロックと第２ブロックにはマスクＡ＿２５が、第３ブロックと第４ブロックには２つのマスクＢ＿１２．５が宛がわれている。また、第５ブロックと第６ブロックには２つのマスクＣ＿１２．５が、第７ブロックと第８ブロックにはマスクＤ＿２５が、それぞれ宛がわれている。第１の実施形態と同様、個々のマスクの記号は、マスクの種類と記録許容率を同時に示している。例えば第３ブロックは、記録許容率が１２．５％で互いに排他の関係にある２つのマスクＢ＿１２．５を合わせて生成される、記録率２５％のマスクＢ＿２５が宛がわれていることになる。マスクＣおよびＤについても同様である。

これに対し、偶数カラムデータを記録するためのノズル列２１７については、第１ブロックと第２ブロックにはマスクＤ＿２５が、第３ブロックと第４ブロックにはマスクＢ＿１２．５とマスクＣ＿１２．５が宛がわれている。また、第５ブロックと第６ブロックには、第３ブロックのマスクとは排他の関係にあるマスクＢ＿１２．５とマスクＣ＿１２．５が、宛がわれている。更に、第７ブロックと第８ブロックにはマスクＡ＿２５が宛がわれている。

本実施形態では、このようなマスクを用いることによって、４パス双方向のマルチパス記録を実行する。そして、個々の記録走査が終了するたび、記録媒体は副走査方向に２ブロック分（６４ノズル分）だけ搬送される。よって、６４ノズル分の幅を有する単位領域では、１パス目でマスクＡ＿２５による奇数カラムデータとマスクＤ＿２５による偶数カラムデータが記録される。２パス目では、２つのマスクＢ＿１２．５（マスクＢ＿２５）による奇数カラムデータとＢ＿１２．５およびＣ＿１２．５による偶数カラムデータが記録される。また、３パス目では、２つのマスクＣ＿１２．５（マスクＣ＿２５）による奇数カラムデータとＢ＿１２．５およびＣ＿１２．５による偶数カラムデータが記録される。更に、４パス目では、マスクＤ＿２５による奇数カラムデータとマスクＡ＿２５による偶数カラムデータが記録される。Ａ〜Ｄのマスクは互いに排他且つ補完の関係を有しているので、奇数カラムデータについては、ノズル列２１２によって、Ａ〜Ｄのマスクを用いた４回の記録走査で、その全てが記録される。また、偶数カラムデータについては、ノズル列２１７によって、Ａ〜Ｄのマスクを用いた４回の記録走査で、その全てが記録される。既に説明したように、奇数カラムデータによって記録されるドットと、偶数カラムデータによって記録されるドットは、互いに同じ位置に重複して記録される。

図２５は、本実施形態のマスクを用いた場合に、ある１回の搬送動作で搬送ずれが発生した場合の、濃度変動の発生状態を説明するための図である。ここでは、矢印で示したパス（記録走査）の直前に行われた搬送動作において、搬送ずれが発生した場合を想定する。単位領域１〜５は、上記搬送ずれをはさんで記録走査（パス）が行われる領域と、これに隣接する単位領域を示している。

単位領域１は、搬送ずれが発生した搬送動作を挟まないで記録走査が行われた領域（通常領域）である。

単位領域２は、３パス目と４パス目の間で搬送ずれが発生し、１〜３パス目の記録位置に対し４パス目の記録位置がずれた領域である（１／４パスの記録位置ずれ）。

単位領域３は、２パス目と３パス目の間で搬送ずれが発生し、１および２パス目の記録位置に対し３および４パス目の記録位置がずれた領域である（２／４パスの記録位置ずれ）。

単位領域４は、１パス目と２パス目の間で搬送ずれが発生し、１パス目の記録位置に対し２〜４パス目の記録位置がずれた領域である（３／４パスすなわち１／４の記録位置ずれ）。

単位領域５は、搬送ずれが発生した搬送動作を挟まないで記録走査が行われた領域（通常領域）である。

図２６は、上記搬送ずれの影響が及ぶ３つの領域（単位領域２〜４）について、それぞれのドットの重複あるいは分離の状態を説明するための図である。図において、単位領域２は、３パスと４パスの間に発生した搬送ずれによって、マスクＡによって記録される重複ドットとマスクＤによって記録される重複ドットが分離する。すなわち、３パス目と４パス目の間を跨ぐ記録許容エリア重複率が２５％＋２５％＝５０％であるので、全体の５０％の重複ドットが分離する。単位領域４についても同様である。

単位領域３では、２パスと３パスの間に発生した搬送ずれによって、マスクＡで記録される重複ドット、マスクＤで記録される重複ドット、マスクＢ＿１２．５で記録される重複ドット、およびマスクＣ＿１２．５で記録される重複ドットが分離する。すなわち、２パス目と３パス目の間を跨ぐ記録許容エリア重複率が２５％＋２５％＋１２．５％＋１２．５％＝７５％であるので、全体の７５％の重複ドットが分離する。

本実施形態のような４パス記録においては、単位領域３のように、２パス目と３パス目の間で搬送ずれがおこった場合に、濃度低下が最も懸念される。本実施形態においては、２パス目と３パス目の間を跨ぐ記録許容エリア重複率を７５％とするマスクを使用することで、搬送ずれによる濃度低下を適量に抑えることが可能となる。

なお、以上説明したマスクパターン構成はシアンのノズル列を例に説明を行ってきたが、他のインク色に対応するノズル列については、シアンと同様の構成を採用することも出来るし、各色それぞれがシアンとは異なるマスクパターンを使用することも出来る。

また、以上では、同一色のインクを吐出する２列のノズル列で１組の重複ドットを記録する構成で説明したが、本実施形態は、同系色でありながら濃度あるいは彩度の異なる２つのインクによって重複ドットを記録する構成にも応用することが出来る。濃度あるいは彩度の異なる２つのインクで記録される重複ドットであっても、ドットの補完関係が崩れることによる濃度低下や、これらドットが分離することによる濃度上昇は、程度の差こそあるが同じように発生する。よって、連続する２つのパス間を跨ぐ記録許容エリア重複率を濃度変動の程度に応じて調整することにより、以上説明した本実施形態と同様の効果を取得することが出来る。

（第３の実施形態）
本実施形態においても、記録装置および制御の構成、および使用する記録ヘッドのノズル構成やドットマトリクスパターンの処理および格納構成については上述した第２の実施形態と同様である。但し、本実施形態では、より大きなマルチパス数である１６パスのマルチパス記録を前提に、最も濃度低下が懸念される単位領域を中心に、他の単位領域についても、重複ドットがそれぞれ適量に分離されるような記録方法について説明する。

図２７は、本実施形態で適用するマルチパス記録方法を説明するための模式図である。ここでも簡単のため、シアンのノズル列２１２および２１７についてのマスクを例に説明する。本実施形態のマスクとしては、その記録許容率がほぼ６．２５％であり、互いに排他且つ補完の関係にあるＡ〜Ｐの１６種類が用意されている。

本実施形態においても、第２の実施形態と同様、奇数カラムデータを記録するためのノズル列２１２と、偶数カラムデータを記録するためのノズル列２１７において、それぞれのブロックに宛がうマスクパターンを異ならせている。

奇数カラムデータを記録するためのノズル列２１２については、第１ブロック〜第１６ブロックまでマスクＡ〜マスクＰがこの順番で宛がわれている。また、偶数カラムデータを記録するためのノズル列２１７については、第１ブロックのマスクＡと第１６ブロックのマスクＰはノズル列２１２と同様である。しかし、第２ブロック〜第１５ブロックについては、マスクＢ〜マスクＯがノズル列２１２とは逆の順番で宛がわれている。

本実施形態では、このようなマスクを用いることによって、１６パス双方向のマルチパス記録を実行する。そして、個々の記録走査が終了するたび、記録媒体は副走査方向に１ブロック分（１６ノズル分）だけ搬送される。このような構成において、突発的な搬送ずれが発生した場合、（１６−１）＝１５の単位領域で濃度低下が懸念される。

以下に、本実施形態における濃度低下が懸念される単位領域とこれに隣接する単位領域１〜１７での記録位置のずれの状態を上記実施形態と同様に説明する。

単位領域１は、搬送ずれが発生した搬送動作を挟まないで記録走査が行われた領域（通常領域）である。

単位領域２は、１５パス目と１６パス目の間で搬送ずれが発生し、１〜１５パス目の記録位置に対し１６パス目の記録位置がずれた領域である（１／１６パスの記録位置ずれ）。

単位領域３は、１４パス目と１５パス目の間で搬送ずれが発生し、１〜１４パス目の記録位置に対し１５および１６パス目の記録位置がずれた領域である（２／１６パスの記録位置ずれ）。

単位領域４は、１３パス目と１４パス目の間で搬送ずれが発生し、１〜１３パス目の記録位置に対し１４〜１６パス目の記録位置がずれた領域である（３／１６パスの記録位置ずれ）。

単位領域５は、１２パス目と１３パス目の間で搬送ずれが発生し、１〜１２パス目の記録位置に対し１３〜１６パス目の記録位置がずれた領域である（４／１６パスの記録位置ずれ）。

単位領域６は、１１パス目と１２パス目の間で搬送ずれが発生し、１〜１１パス目の記録位置に対し１２〜１６パス目の記録位置がずれた領域である（５／１６パスの記録位置ずれ）。

単位領域７は、１０パス目と１１パス目の間で搬送ずれが発生し、１〜１０パス目の記録位置に対し１１〜１６パス目の記録位置がずれた領域である（６／１６パスの記録位置ずれ）。

単位領域８は、９パス目と１０パス目の間で搬送ずれが発生し、１〜９パス目の記録位置に対し１０〜１６パス目の記録位置がずれた領域である（７／１６パスの記録位置ずれ）。

単位領域９は、８パス目と９パス目の間で搬送ずれが発生し、１〜８パス目の記録位置に対し９〜１６パス目の記録位置がずれた領域である（８／１６パスの記録位置ずれ）。

単位領域１０は、７パス目と８パス目の間で搬送ずれが発生し、１〜7パス目の記録位置に対し8〜１６パス目の記録位置がずれた領域である（９／１６パスすなわち７／１６の記録位置ずれ）。

単位領域１１は、６パス目と７パス目の間で搬送ずれが発生し、１〜６パス目の記録位置に対し７〜１６パス目の記録位置がずれた領域である（１０／１６パスすなわち６／１６の記録位置ずれ）。

単位領域１２は、５パス目と６パス目の間で搬送ずれが発生し、１〜５パス目の記録位置に対し６〜１６パス目の記録位置がずれた領域である（１１／１６パスすなわち５／１６の記録位置ずれ）。

単位領域１３は、４パス目と５パス目の間で搬送ずれが発生し、１〜４パス目の記録位置に対し５〜１６パス目の記録位置がずれた領域である（１２／１６パスすなわち４／１６の記録位置ずれ）。

単位領域１４は、３パス目と４パス目の間で搬送ずれが発生し、１〜３パス目の記録位置に対し４〜１６パス目の記録位置がずれた領域である（１３／１６パスすなわち３／１６の記録位置ずれ）。

単位領域１５は、２パス目と３パス目の間で搬送ずれが発生し、１および２パス目の記録位置に対し３〜１６パス目の記録位置がずれた領域である（１４／１６パスすなわち２／１６の記録位置ずれ）。

単位領域１６は、１パス目と２パス目の間で搬送ずれが発生し、１パス目の記録位置に対し２〜１６パス目の記録位置がずれた領域である（１５／１６すなわち１／１６パスの記録位置ずれ）。

単位領域１７は、搬送ずれが発生した搬送動作を挟まないで記録走査が行われた領域（通常領域）である。

以上より、本実施形態のような１６パスのマルチパス記録では、８パス目と９パス目の間に搬送位置ずれが起こる単位領域９の濃度低下が最も懸念され、次いでその両側に位置する単位領域７と単位領域１０の濃度低下が懸念される。そして、濃度低下の懸念の度合いとなる記録位置ずれは、中心に位置する単位領域９から離れるほど徐々に小さくなっていく。このような状況に対応するため、本実施形態では、８パス目と９パス目の間を跨ぐ記録許容エリア重複率を高く設定しながらも、他の連続するパス間を跨ぐ記録許容エリア重複率についても、上記８パス目と９パス目の間から段階的に少なくなるように設定している。

図２８は、上記搬送ずれの影響が及ぶ１５の領域（単位領域２〜１６）について、それぞれのドットの重複あるいは分離の状態を説明するための図である。

図において、単位領域２は、１５パスと１６パスの間に発生した搬送ずれによって、マスクＰによって記録される重複ドットが他のドットに対して移動する。しかし、１５パス目と１６パス目の間を跨ぐ記録許容エリア重複率は０％であるので、重複ドットが分離することはない。単位領域１６についても同様である。

単位領域３では、１４パスと１５パスの間に発生した搬送ずれによって、マスクＢで記録される重複ドットとマスクＯで記録される重複ドットが分離する。すなわち、１４パス目と１５パス目の間を跨ぐ記録許容エリア重複率が６．２５％＋６．２５％＝１２．５％であるので、全体の１２．５％の重複ドットが分離する。単位領域１５についても同様である。

単位領域４では、１３パスと１４パスの間に発生した搬送ずれによって、マスクＢ、マスクＣ、マスクＮおよびマスクＯで記録される重複ドットが分離する。すなわち、１３パス目と１４パス目の間を跨ぐ記録許容エリア重複率が６．２５％×４＝２５％であるので、全体の２５％の重複ドットが分離する。単位領域１４についても同様である。

単位領域５では、１２パスと１３パスの間に発生した搬送ずれによって、マスクＢ、マスクＣ、マスクＤ、マスクＭ、マスクＮおよびマスクＯで記録される重複ドットが分離する。すなわち、１２パス目と１３パス目の間を跨ぐ記録許容エリア重複率が６．２５％×６＝３７．５％であるので、全体の３７．５％の重複ドットが分離する。単位領域１３についても同様である。

単位領域６では、１１パスと１２パスの間に発生した搬送ずれによって、マスクＢ、マスクＣ、マスクＤ、マスクＥ、マスクＬ、マスクＭ、マスクＮおよびマスクＯで記録される重複ドットが分離する。すなわち、１１パス目と１２パス目の間を跨ぐ記録許容エリア重複率が６．２５％×８＝５０％であるので、全体の５０％の重複ドットが分離する。単位領域１２についても同様である。

単位領域７では、１０パスと１１パスの間に発生した搬送ずれによって、マスクＢ、マスクＣ、マスクＤ、マスクＥ、マスクＦ、マスクＫ、マスクＬ、マスクＭ、マスクＮおよびマスクＯで記録される重複ドットが分離する。すなわち、１０パス目と１１パス目の間を跨ぐ記録許容エリア重複率が６．２５％×１０＝６２．５％であるので、全体の６２．５％の重複ドットが分離する。単位領域１１についても同様である。

単位領域８では、９パスと１０パスの間に発生した搬送ずれによって、マスクＢ、マスクＣ、マスクＤ、マスクＥ、マスクＦ、マスクＧ、マスクＪ、マスクＫ、マスクＬ、マスクＭ、マスクＮおよびマスクＯで記録される重複ドットが分離する。すなわち、９パス目と１０パス目の間を跨ぐ記録許容エリア重複率が６．２５％×１２＝７５％であるので、全体の７５％の重複ドットが分離する。単位領域１０についても同様である。

単位領域９では、８パスと９パスの間に発生した搬送ずれによって、マスクＢ、マスクＣ、マスクＤ、マスクＥ、マスクＦ、マスクＧ、マスクＨ、マスクＩ、マスクＪ、マスクＫ、マスクＬ、マスクＭ、マスクＮおよびマスクＯで記録される重複ドットが分離する。すなわち、８パス目と９パス目の間を跨ぐ記録許容エリア重複率が６．２５％×１４＝８７．５％であるので、全体の８７．５％の重複ドットが分離する。

このように、本実施形態のマスクは、８パス目と９パス目の間を跨ぐ記録許容エリア重複率が８７．５％と十分に高い値になっている。よって、最も濃度低下が懸念される単位領域９であっても、濃度低下を緩和することが出来る。また、本実施形態では、８パス目と９パス目の間を跨ぐ記録許容エリア重複率を高く設定しながらも、他の連続する２つのパス間を跨ぐ記録許容エリア重複率についても、上記８パス目と９パス目の間から段階的に少なくなるように設定している。このような構成にしておくことにより、搬送ずれによる濃度低下を全単位領域に対し、適量に抑えることが可能となる。

以下、このような状態を実現するための条件を、一般的に２Ｍパスの（２Ｍ回の走査による）マルチパス記録を行う場合を例に、ＬをＭよりも小さな整数として、Ｍ±Ｌ回目の記録走査（Ｍ±Ｌパス目）に注目して具体的に示す。まず第１の条件は、Ｍパス目の走査とＭ＋１パス目の走査の間を跨ぐ記録許容エリア重複率が他の連続する２回の記録走査の間を跨ぐ記録許容エリア重複率よりも大きいことである。第２の条件は、Ｍ−Ｌパス目とＭ−Ｌ＋１パス目を跨ぐ記録許容エリア重複率が、Ｍ−Ｌ＋１パス目とＭ−Ｌ＋２パス目を跨ぐ記録許容エリア重複率よりも小さく、Ｍ−Ｌ−１パス目とＭ−Ｌパス目を跨ぐ記録許容エリア重複率よりも大きいことである。第３の条件は、Ｍ＋Ｌパス目とＭ＋Ｌ＋１パス目を跨ぐ記録許容エリア重複率が、Ｍ＋Ｌ＋１パス目とＭ＋Ｌ＋２パス目を跨ぐ記録許容エリア重複率よりも大きく、Ｍ＋Ｌ−１パス目とＭ＋Ｌパス目を跨ぐ記録許容エリア重複率よりも小さいことである。以上３つの条件を満たしていれば、２Ｍパスのマルチパス記録において、搬送ずれによる濃度低下を全単位領域に対し、適量に抑えることが可能となる。

なお、本実施形態では、１パス目と２パス目の間および１５パス目と１６パス目の間を跨ぐ記録許容エリア重複率を０％としたが、本実施形態はこれに限定されるものではない。一般に、マルチパス数の多い記録の場合、単位領域２や単位領域１６のような端部のパス間で搬送ずれが起こる領域では、ドットがずれる割合も６．２５％と小さく濃度低下も目立ちにくい。よって本実施形態では、このようなパス間を跨ぐ記録許容エリア重複率を０％とした。しかし、記録媒体の種類やドットの大きさによっては、このような領域でも濃度低下が目立つ場合もある。このような場合には、端部の単位領域であっても適量の重複ドットの分離が行われ、且つ全ての単位領域についてバランスの取れた状態で濃度低下を緩和できるように、記録許容エリア重複率が調整されていればよい。

（第４の実施形態）
本実施形態においても、記録装置と制御の構成、使用する記録ヘッドのノズル構成やドットマトリクスパターンの処理および格納構成については上述した第２および第３の実施形態と同様である。但し、本実施形態では、図２１に示した記録ヘッド２０１の吐出口（ノズル）の配列構成が上記実施形態とは異なり、Ｅｖｅｎノズル列及びＯｄｄノズル列のそれぞれには、６００ｄｐｉのピッチで１６０個の吐出口が副走査方向に配列されているものとする。すなわち、各色のノズル列は、Ｅｖｅｎノズル列とＯｄｄノズル列を合わせた３２０個のノズルが副走査方向に１２００ｄｐｉのピッチで配置していると考えることが出来る。このようなノズル列を備えた記録ヘッドを用い、本実施形態では奇数パスである５パスのマルチパス記録を実行する。そして、上記第３の実施形態と同様、連続する２つのパス間を跨ぐ記録許容エリア重複率が調整されたマスクを使用する。

図２９は、本実施形態で適用するマルチパス記録方法を説明するための模式図である。ここでも簡単のため、シアンのノズル列２１２および２１７についてのマスクを例に説明する。本実施形態のマスクとしては、その記録許容率がほぼ２０％であり、互いに排他且つ補完の関係にあるＡ〜Ｅの５種類が用意されている。

本実施形態においても、第２や第３の実施形態と同様、奇数カラムデータを記録するためのノズル列２１２と、偶数カラムデータを記録するためのノズル列２１７において、それぞれのブロックに宛がうマスクパターンを異ならせている。

奇数カラムデータを記録するためのノズル列２１２については、第１ブロック〜第５ブロックまでマスクＡ〜マスクＥがこの順番で宛がわれている。また、偶数カラムデータを記録するためのノズル列２１７については、マスクＡ〜マスクＥがノズル列２１２とは逆の順番で宛がわれている。

本実施形態では、このようなマスクを用いることによって、５パス双方向のマルチパス記録を実行する。そして、個々の記録走査が終了するたび、記録媒体は副走査方向に１ブロック分（６４ノズル分）だけ搬送される。このような構成において、突発的な搬送ずれが発生した場合、（５−１）＝４の単位領域で濃度低下が懸念される。

以下に、本実施形態における濃度低下が懸念される単位領域とこれに隣接する単位領域１〜６での記録位置のずれの状態を上記実施形態と同様に説明する。

単位領域１は、搬送ずれが発生した搬送動作を挟まないで記録走査が行われた領域（通常領域）である。

単位領域２は、４パス目と５パス目の間で搬送ずれが発生し、１〜４パス目の記録位置に対し５パス目の記録位置がずれた領域である（１／５パスの記録位置ずれ）。

単位領域３は、３パス目と４パス目の間で搬送ずれが発生し、１〜３パス目の記録位置に対し４および５パス目の記録位置がずれた領域である（２／５パスの記録位置ずれ）。

単位領域４は、２パス目と３パス目の間で搬送ずれが発生し、１および２パス目の記録位置に対し３〜５パス目の記録位置がずれた領域である（３／５パスすなわち２／５パスの記録位置ずれ）。

単位領域５は、１パス目と２パス目の間で搬送ずれが発生し、１パス目の記録位置に対し２〜５パス目の記録位置がずれた領域である（４／５パスすなわち１／５パスの記録位置ずれ）。

単位領域６は、搬送ずれが発生した搬送動作を挟まないで記録走査が行われた領域（通常領域）である。

以上より、本実施形態のような５パスのマルチパス記録では、２／５パスの記録位置ずれとなる単位領域３および単位領域４での濃度低下が最も懸念される。次いで１／５パスの記録位置ずれとなる単位領域２および単位領域５での濃度低下が懸念される。

図３０は、上記搬送ずれの影響が及ぶ４つの領域（単位領域２〜５）について、それぞれのドットの重複あるいは分離の状態を説明するための図である。

図において、単位領域２は、４パスと５パスの間に発生した搬送ずれによって、マスクＡで記録される重複ドットとマスクＥで記録される重複ドットが分離する。すなわち、４パス目と５パス目の間を跨ぐ記録許容エリア重複率が２０％＋２０％＝４０％であるので、全体の４０％の重複ドットが分離する。単位領域５についても同様である。

単位領域３では、３パスと４パスの間に発生した搬送ずれによって、マスクＡ、マスクＢ、マスクＤおよびマスクＥで記録される重複ドットが分離する。すなわち、３パス目と４パス目の間を跨ぐ記録許容エリア重複率が２０％×４＝８０％であるので、全体の８０％の重複ドットが分離する。単位領域４についても同様である。

このように、本実施形態のマスクは、２パス目と３パス目の間および３パス目と４パス目の間における記録許容エリア重複率が同率に８０％と十分に高い値になっている。よって、最も濃度低下が懸念される単位領域３および単位領域４であっても、濃度低下を同等に緩和することが出来る。また本実施形態では、これらパス間を跨ぐ記録許容エリア重複率を高く設定しながらも、１パス目と２パス目の間及び４パス目と５パス目の間を跨ぐ記録許容エリア重複率も、上記パス間を跨ぐ記録許容エリア重複率から段階的に少なくなるように設定している。このような構成にしておくことにより、奇数パスのマルチパス記録を行う場合であっても、全単位領域における濃度低下を適量に緩和することが可能となる。

本実施形態によれば、２Ｍ＋１パスのマルチパス記録を行う際、Ｍパス目とＭ＋１パス目およびＭ＋１パス目とＭ＋２パス目の間を跨ぐ記録許容エリア重複率が、他の２つの連続するパス間を跨ぐ記録許容エリア重複率よりも高く設定されたマスクを用いている。これにより、突発的な搬送ずれ等によってドットの補完関係が崩れ、濃度低下が懸念される場合であっても、第１カラムデータのドットと第２カラムデータのドットが分離することによって濃度の上昇が促進され、上記濃度低下を緩和することが可能となる。また、上記記録許容エリア重複率を調整することにより、懸念される濃度低下の程度に適したドットの分離を実現することも可能である。

５００ 制御部
１００１ 受信バッファ
１００２ ドットマトリクス格納ユニット
１００３ ドットマトリクス割り付けモジュール
１００４ 展開バッファ
１００５ 展開バッファ
１００６ 展開バッファ

Claims (9)

1. 記録ヘッドを記録媒体の単位領域に対し２Ｍ回（Ｍは２以上の整数）走査させて記録を行う記録装置であって、
   前記単位領域に含まれる複数のエリアそれぞれについて、前記２Ｍ回の走査のうち同系色のドットの記録を許容する少なくとも２回の走査を定めたマスクを用いて、前記単位領域に記録すべき画像データを２Ｍ回の走査に分割するための分割手段と、
   前記分割された画像データに基づいて、前記複数のエリアに記録を許容された走査でドットを記録するための記録部と
   を備え、
   前記マスクは、
   Ｍ回目の走査以前の走査およびＭ＋１回目の走査以降の走査においてドットの記録を許容するエリアの割合は、Ｎ（ＮはＭとは異なる正の整数で、且つ２Ｍ−１以下）回目の走査以前の走査およびＮ＋１回目の走査以降の走査においてドットの記録を許容するエリアの割合よりも大きく、
   Ｍ−Ｌ回目（ＬはＭより小さい正の整数）の走査以前の走査およびＭ−Ｌ＋１回目の走査以降の走査においてドットの記録を許容するエリアの割合がＭ−Ｌ＋１回目の走査以前の走査およびＭ−Ｌ＋２回目の走査以降の走査においてドットの記録を許容するエリアの割合よりも小さく、Ｍ＋Ｌ回目の走査以前の走査およびＭ＋Ｌ＋１回目の走査以降の走査においてドットの記録を許容するエリアの割合が、Ｍ＋Ｌ＋１回目の走査以前の走査およびＭ＋Ｌ＋２回目の走査以降の走査においてドットの記録を許容するエリアの割合よりも大きく、
   少なくとも１つのＳとTの組み合わせにおいて、Ｓ回目（Ｓは２Ｍより小さい正の整数）の走査以前の走査およびＳ＋１回目の走査以降の走査においてドットの記録を許容するエリアの割合とＳ＋１回目の走査以前の走査およびＳ＋２回目の走査以降の走査においてドットの記録を許容するエリアの割合との差が、Ｔ回目（Ｔはとは異なる２Ｍより小さい正の整数）の走査以前の走査およびＴ＋１回目の走査以降の走査においてドットの記録を許容するエリアの割合とＴ＋１回目の走査以前の走査およびＴ＋２回目の走査以降の走査においてドットの記録を許容するエリアの割合との差と異なる
   ことを特徴とする記録装置。
2. 記録ヘッドを記録媒体の単位領域に対し２Ｍ＋１回（Ｍは２以上の整数）走査させて記録を行う記録装置であって、
   前記単位領域に含まれる複数のエリアそれぞれについて、前記２Ｍ＋１回の走査のうち同系色のドットの記録を許容する少なくとも２回の走査を定めたマスクを用いて、前記単位領域に記録すべき画像データを２Ｍ＋１回の走査に分割するための分割手段と、
   前記分割された画像データに基づいて、前記複数のエリアに記録を許容された走査でドットを記録するための記録部と
   を備え、
   前記マスクは、
   ｉ） Ｍ回目の走査以前の走査およびＭ＋１回目の走査以降の走査においてドットの記録を許容するエリアの割合とＭ＋１回目の走査以前の走査およびＭ＋２回目の走査以降の走査においてドットの記録を許容するエリアの割合は、Ｎ（ＮはＭおよびＭ＋１とは異なる（２Ｍ）以下の正の整数）回目の走査以前の走査およびＮ＋１回目の走査以降の走査においてドットの記録を許容するエリアの割合よりも大きく、
   ｉｉ）少なくとも１つのＳとTの組み合わせにおいて、Ｓ回目（Ｓは２Ｍより小さい正の整数）の走査以前の走査およびＳ＋１回目の走査以降の走査においてドットの記録を許容するエリアの割合とＳ＋１回目の走査以前の走査およびＳ＋２回目の走査以降の走査においてドットの記録を許容するエリアの割合との差が、Ｔ回目（ＴはＳとは異なる２Ｍより小さい正の整数）の走査以前の走査およびＴ＋１回目の走査以降の走査においてドットの記録を許容するエリアの割合とＴ＋１回目の走査以前の走査およびＴ＋２回目の走査以降の走査においてドットの記録を許容するエリアの割合との差と異なる
   ことを特徴とする記録装置。
3. Ｍ回目の走査以前の走査およびＭ＋１回目の走査以降の走査においてドットの記録を許容するエリアの割合は１００％より小さいことを特徴とする請求項１または２に記載の記録装置。
4. Ｎ回目の走査以前の走査およびＮ＋１回目の走査以降の走査においてドットの記録を許容するエリアの割合は０％より大きいことを特徴とする請求項１または２に記載の記録装置。
5. 前記記録ヘッドは、前記同系色の２つのドットを記録するための２つのノズル列を備えることを特徴とする請求項１または２に記載の記録装置。
6. 前記マスクは、ＳとＬの全ての組み合わせにおいて、Ｓ回目の走査以前の走査およびＳ＋１回目の走査以降の走査においてドットの記録を許容するエリアの割合とＳ＋１回目の走査以前の走査およびＳ＋２回目の走査以降の走査においてドットの記録を許容するエリアの割合との差が、Ｔ回目の走査以前の走査およびＴ＋１回目の走査以降の走査においてドットの記録を許容するエリアの割合とＴ＋１回目の走査以前の走査およびＴ＋２回目の走査以降の走査においてドットの記録を許容するエリアの割合との差と異なることを特徴とする請求項１または２に記載の記録装置。
7. 前記マスクは、Ｍ回目の走査以前の走査およびＭ＋１回目の走査以降の走査で補完関係にあるマスクと、Ｍ回目の走査以前の走査およびＭ＋１回目の走査以降の走査で一部が補完関係にあるマスクを含むことを特徴とする請求項１または２に記載の記録装置。
8. 記録ヘッドを記録媒体の単位領域に対し２Ｍ回（Ｍは２以上の整数）走査させて記録を行う記録方法であって、
   前記単位領域に含まれる複数のエリアそれぞれについて、前記２Ｍ回の走査のうち同系色のドットの記録を許容する少なくとも２回の走査を定めたマスクを用いて、前記単位領域に記録すべき画像データを２Ｍ回の走査に分割するステップと
   前記分割された画像データに基づいて、前記複数のエリアに記録を許容された走査でドットを記録するステップと
   を有し、前記マスクは、
   Ｍ回目の走査以前の走査およびＭ＋１回目の走査以降の走査においてドットの記録を許容するエリアの割合は、Ｎ（ＮはＭとは異なる２Ｍ−１以下の正の整数）回目の走査以前の走査およびＮ＋１回目の走査以降の走査においてドットの記録を許容するエリアの割合よりも大きく、
   Ｍ−Ｌ回目（ＬはＭより小さい正の整数）の走査以前の走査およびＭ−Ｌ＋１回目の走査以降の走査においてドットの記録を許容するエリアの割合がＭ−Ｌ＋１回目の走査以前の走査およびＭ−Ｌ＋２回目の走査以降の走査においてドットの記録を許容するエリアの割合よりも小さく、Ｍ＋Ｌ回目の走査以前の走査およびＭ＋Ｌ＋１回目の走査以降の走査においてドットの記録を許容するエリアの割合が、Ｍ＋Ｌ＋１回目の走査以前の走査およびＭ＋Ｌ＋２回目の走査以降の走査においてドットの記録を許容するエリアの割合よりも大きく、
   少なくとも１つのＳとＬの組み合わせにおいて、Ｓ回目（Ｓは２Ｍより小さい正の整数）の走査以前の走査およびＳ＋１回目の走査以降の走査においてドットの記録を許容するエリアの割合とＳ＋１回目の走査以前の走査およびＳ＋２回目の走査以降の走査においてドットの記録を許容するエリアの割合との差が、Ｔ回目（ＴはＳとは異なる２Ｍより小さい正の整数）の走査以前の走査およびＴ＋１回目の走査以降の走査においてドットの記録を許容するエリアの割合とＴ＋１回目の走査以前の走査およびＴ＋２回目の走査以降の走査においてドットの記録を許容するエリアの割合との差と異なる
   ことを特徴とする記録方法。
9. 記録ヘッドを記録媒体の単位領域に対し２Ｍ＋１回（Ｍは２以上の整数）走査させて記録を行う記録方法であって、
   前記単位領域に含まれる複数のエリアそれぞれについて、前記２Ｍ＋１回の走査のうち同系色のドットの記録を許容する少なくとも２回の走査を定めたマスクを用いて、前記単位領域に記録すべき画像データを２Ｍ＋１回の走査に分割するステップと、
   前記分割された画像データに基づいて、前記複数のエリアに記録を許容された走査でドットを記録するステップと
   を有し、前記マスクは、
   Ｍ回目の走査以前の走査およびＭ＋１回目の走査以降の走査においてドットの記録を許容するエリアの割合とＭ＋１回目の走査以前の走査およびＭ＋２回目の走査以降の走査においてドットの記録を許容するエリアの割合は、Ｎ（ＮはＭおよびＭ＋１とは異なる（２Ｍ）以下の正の整数）回目の走査以前の走査およびＮ＋１回目の走査以降の走査においてドットの記録を許容するエリアの割合よりも大きく、
   少なくとも１つのＳとＬの組み合わせにおいて、Ｓ回目（Ｓは２Ｍより小さい正の整数）の走査以前の走査およびＳ＋１回目の走査以降の走査においてドットの記録を許容するエリアの割合とＳ＋１回目の走査以前の走査およびＳ＋２回目の走査以降の走査においてドットの記録を許容するエリアの割合との差が、Ｔ回目（ＴはＳとは異なる２Ｍより小さい正の整数）の走査以前の走査およびＴ＋１回目の走査以降の走査においてドットの記録を許容するエリアの割合とＴ＋１回目の走査以前の走査およびＴ＋２回目の走査以降の走査においてドットの記録を許容するエリアの割合との差と異なる
   ことを特徴とする記録方法。

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