JP2010199160A5 - 基板処理装置、半導体装置の製造方法及び基板処理方法 - Google Patents
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Description
本発明は、基板を処理する基板処理装置、半導体装置の製造方法及び基板処理方法に関する。
本発明の一態様によれば、基板を収容する処理室内に少なくとも1種の処理ガスを導入するガス導入手段を有し、前記ガス導入手段は、前記処理室内に配設されるガス導入ノズルと、
前記ガス導入ノズルの先端に接続され、前記処理室内に処理ガスを導入するガス導入口を有するガス整流ノズルと、前記ガス整流ノズルの内部に配置されたフィルタと、を有し、前記処理ガスは、前記ガス導入ノズルから前記フィルタを介して前記ガス整流ノズルへ導入され、前記ガス導入口から前記処理室内に導入されることを特徴とする基板処理装置が提供される。
また、本発明の他の態様によれば、処理室内に基板を搬入する工程と、内部にフィルタが配置されておりガス導入口を有するガス整流ノズルが先端に接続されたガス導入ノズルから、前記処理室内に処理ガスを供給して基板を処理する工程と、前記処理室から基板を搬出する工程と、を有する半導体装置の製造方法が提供される。
さらに、本発明の他の態様によれば、処理室内に基板を搬入する工程と、内部にフィルタが配置されておりガス導入口を有するガス整流ノズルが先端に接続されたガス導入ノズルから、前記処理室内に処理ガスを供給して基板を処理する工程と、前記処理室から基板を搬出する工程と、を有する基板処理方法が提供される。
前記ガス導入ノズルの先端に接続され、前記処理室内に処理ガスを導入するガス導入口を有するガス整流ノズルと、前記ガス整流ノズルの内部に配置されたフィルタと、を有し、前記処理ガスは、前記ガス導入ノズルから前記フィルタを介して前記ガス整流ノズルへ導入され、前記ガス導入口から前記処理室内に導入されることを特徴とする基板処理装置が提供される。
また、本発明の他の態様によれば、処理室内に基板を搬入する工程と、内部にフィルタが配置されておりガス導入口を有するガス整流ノズルが先端に接続されたガス導入ノズルから、前記処理室内に処理ガスを供給して基板を処理する工程と、前記処理室から基板を搬出する工程と、を有する半導体装置の製造方法が提供される。
さらに、本発明の他の態様によれば、処理室内に基板を搬入する工程と、内部にフィルタが配置されておりガス導入口を有するガス整流ノズルが先端に接続されたガス導入ノズルから、前記処理室内に処理ガスを供給して基板を処理する工程と、前記処理室から基板を搬出する工程と、を有する基板処理方法が提供される。
Claims (3)
- 基板を収容する処理室内に少なくとも1種の処理ガスを導入するガス導入手段を有し、
前記ガス導入手段は、
前記処理室内に配設されるガス導入ノズルと、
前記ガス導入ノズルの先端に接続され、前記処理室内に処理ガスを導入するガス導入口を有するガス整流ノズルと、
前記ガス整流ノズルの内部に配置されたフィルタと、を有し、
前記処理ガスは、前記ガス導入ノズルから前記フィルタを介して前記ガス整流ノズルへ導入され、前記ガス導入口から前記処理室内に導入される
ことを特徴とする基板処理装置。 - 処理室内に基板を搬入する工程と、
内部にフィルタが配置されておりガス導入口を有するガス整流ノズルが先端に接続されたガス導入ノズルから、前記処理室内に処理ガスを供給して基板を処理する工程と、
前記処理室から基板を搬出する工程と、
を有する半導体装置の製造方法。 - 処理室内に基板を搬入する工程と、
内部にフィルタが配置されておりガス導入口を有するガス整流ノズルが先端に接続されたガス導入ノズルから、前記処理室内に処理ガスを供給して基板を処理する工程と、
前記処理室から基板を搬出する工程と、
を有する基板処理方法。
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KR102126146B1 (ko) * | 2016-03-28 | 2020-06-23 | 가부시키가이샤 코쿠사이 엘렉트릭 | 기판 처리 장치, 반도체 장치의 제조 방법 및 기록 매체 |
KR102553629B1 (ko) * | 2016-06-17 | 2023-07-11 | 삼성전자주식회사 | 플라즈마 처리 장치 |
JP6550029B2 (ja) * | 2016-09-28 | 2019-07-24 | 株式会社Kokusai Electric | 基板処理装置、ノズル基部および半導体装置の製造方法 |
CN109791097B (zh) * | 2017-07-18 | 2022-01-04 | 埃耶士株式会社 | 基板分析用管嘴及基板分析方法 |
CN109917153B (zh) * | 2017-12-12 | 2021-04-27 | 航天科工惯性技术有限公司 | 加速度计参数标定装置及使用其的参数标定方法 |
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Family Cites Families (19)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS63133617A (ja) * | 1986-11-26 | 1988-06-06 | Sumitomo Metal Ind Ltd | プラズマプロセス装置 |
US5307568A (en) * | 1991-09-09 | 1994-05-03 | Tokyo Electron Limited | Gas supply system |
JPH0568865A (ja) * | 1991-09-09 | 1993-03-23 | Tokyo Electron Ltd | ガス供給システム |
JPH0897154A (ja) * | 1994-09-26 | 1996-04-12 | Sony Corp | 真空成膜装置 |
US5863467A (en) * | 1996-05-03 | 1999-01-26 | Advanced Ceramics Corporation | High thermal conductivity composite and method |
JP2000144432A (ja) * | 1998-11-04 | 2000-05-26 | Ebara Corp | ガス噴射ヘッド |
JP4684408B2 (ja) * | 2000-01-14 | 2011-05-18 | 東京エレクトロン株式会社 | 処理装置 |
KR100407507B1 (ko) * | 2001-05-18 | 2003-12-01 | 주식회사 피에스티 | 원자층 증착장치의 가스 분사장치 |
JP4033757B2 (ja) * | 2002-11-06 | 2008-01-16 | 大日本スクリーン製造株式会社 | 基板処理装置 |
JP2005197081A (ja) * | 2004-01-07 | 2005-07-21 | Komatsu Ltd | 光源装置及びそれを用いた露光装置 |
JP2005327815A (ja) * | 2004-05-12 | 2005-11-24 | Miraial Kk | 収納容器のガス置換装置およびそれを用いたガス置換方法 |
CN2760753Y (zh) * | 2004-12-09 | 2006-02-22 | 中国科学院合肥物质科学研究院 | 超高真空气体离化装置 |
JP4251157B2 (ja) * | 2005-06-24 | 2009-04-08 | パナソニック株式会社 | 吸排気切替装置および電子部品の搭載装置 |
JP2007067119A (ja) * | 2005-08-30 | 2007-03-15 | Elpida Memory Inc | 半導体製造装置 |
US7704887B2 (en) * | 2005-11-22 | 2010-04-27 | Applied Materials, Inc. | Remote plasma pre-clean with low hydrogen pressure |
JP4973071B2 (ja) * | 2006-08-31 | 2012-07-11 | 東京エレクトロン株式会社 | 成膜装置 |
JP5004271B2 (ja) * | 2006-09-29 | 2012-08-22 | 東京エレクトロン株式会社 | マイクロ波プラズマ処理装置、誘電体窓の製造方法およびマイクロ波プラズマ処理方法 |
KR20090011467A (ko) * | 2007-07-26 | 2009-02-02 | 칸켄 테크노 가부시키가이샤 | 반도체 배기 가스 처리 장치 |
JP5247528B2 (ja) * | 2009-02-23 | 2013-07-24 | 株式会社日立国際電気 | 基板処理装置、半導体装置の製造方法、基板処理方法及びガス導入手段 |
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