JP2010175415A - 自動分析装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】光電子増倍管の感度を印加高電圧で調節するにあたり同一試料を複数の高電圧条件で測定し、高電圧の対数と、信号量の対数から得られる直線関係から、所定の回数の測定で最適な設定値を設定し、当該直線関係を特定する情報を記録する手段を備え、それを評価することによって、光電子増倍管の健全性を評価する。
【選択図】 図8
Description
傾き561=(Log(1050Vでの発光量)−Log(750Vでの発光量))
/(Log(1050V)−Log(750V))
となる。
112 検体容器
113 サンプリング機構
114 サンプリングチップ
121 試薬分注機構
122 試薬
123 試薬容器
131,157 反応容器
132 反応容器搬送機能
141 磁気分離装置
151 酸性過酸化水素溶液
152 水酸化ナトリウム溶液
153 酸性過酸化水素溶液A(以下A)を吐出するポンプ
154 水酸化ナトリウム溶液B(以下B)を吐出するポンプ
155 ノズルA
156 ノズルB
158 混合後の液体
161 光電子増倍管
171 高電圧発生装置
172 D/A変換器
181 対数変換器
182 A/D変換器
191 主制御装置
301 Y軸 信号量
321 X軸 時刻(秒)
322 中和点を通過したタイミング
331 出力信号
332 注入前の発光レベル
410,651 調整の開始
511 X軸高電圧
521 Y軸信号量
531 750Vの測定によって得られる点のX座標
532 調整したい発光量に対する高電圧
533 1050Vにて測定した点のX座標
541 750Vの測定によって得られる点のY座標
542 調整したい発光量
543 1050Vにて測定した点のY座量
561 システム製造時の調製用試料による傾き<K1>
652 調整値を得るプロセス
653 過去データとの比較を行うプロセス
654 警告情報の生成プロセス
655 調整結果の報告プロセス
660 過去データの記憶領域
701 時間ないしは、測光回数,メンテナンス回数などを示すX軸
711 警告レベルの上限
712 注意レベルの上限
713 注意レベルの下限
714 警告レベルの下限
721 傾きの値を示すY軸
731 システムの製造時に得られた値
732 利用先に据付時に得た値
736 メンテナンスを実施した場合に確認した値
738 次の確認時点で想定される結果
852 切片のことなる平行移動した形態の直線
853 感度が低下した場合の直線
862 低発光量のサンプルによる傾き<K2>
863 感度が低下した場合の傾き<K3>
933,934,935 校正用試料を用いて一ヶ月おきに実施した結果
937 次の校正で行った結果
Claims (10)
- 検出器として光電子増倍管と、
前記光電子増倍管を駆動するための印加電圧を発生する高電圧発生装置と、
前記高電圧発生装置の出力を制御する制御回路と、
前記光電子増倍管の印加電圧と計測値を対数変換する対数変換部と、
前記対数変換した印加電圧と計測値とから所望の光電子増倍管の感度を得るための印加電圧値を決定する演算部と、を備えた自動分析装置において、
前記演算部は光電子増倍管の感度用評価試薬に対して、複数の印加電圧値のもとにおける計測値を記憶する記憶手段と、
前記記憶手段に記憶された印加電圧と計測値の関係から光電子増倍管に印加する印加電圧を決定する決定手段と、
前記決定した印加電圧を前記制御回路へフィードバックする機構と、を備えたことを特徴とする自動分析装置。 - 請求項1記載の自動分析装置において、
前記決定手段によって決定された印加電圧値における光電子増倍管の計測値の標準偏差,測定誤差の少なくともいずれか一方が規定値内であることを確認する手段を備え、
前記手段において規定値外であると判定された場合には光電子増倍管の感度評価測定をやり直すことを特徴とする自動分析装置。 - 請求項1記載の自動分析装置において、
演算部に入力される前記複数の印加電圧値は、前記光電子増倍管の実用的な印加電圧値の最大値よりも大きい値と実用的な印加電圧の最小値よりも小さい値であることを特徴とする自動分析装置。 - 請求項1記載の自動分析装置において、
前記複数の印加電圧値に対する計測値の変化率をゲインとして算出する算出部を備え、
前記算出部で算出されたゲインと予め定められた閾値を比較する比較手段と、
前記比較手段においてゲインが閾値の範囲外であると判定された場合にはシステムにおいて警告を出力する警告手段と、を備えたことを特徴とする自動分析装置。 - 請求項4記載の自動分析装置において、
前記算出手段において算出したゲインを時系列に記憶する記憶手段を備え、
前記予め定められた閾値範囲は前記記憶手段に記憶された時系列ゲインデータから決定されることを特徴とする自動分析装置。 - 請求項1記載の自動分析装置において、
前記光電子増倍管の劣化を監視する劣化監視手段と、
前記複数の印加電圧値に対する計測値の変化率をゲインとして算出する算出部と、を備え、
前記劣化監視手段は光電子増倍管の劣化要因、すなわち光電子増倍管が光に暴露された累積時間,光電子増倍管の累積計測回数,光電子増倍管の累積メンテナンス回数の少なくともいずれか一つを記憶し、
前記劣化要因に対するゲインの変化率を監視して、予め定められた許容範囲内にあるか否かを判定する判定手段を備え、
前記判定手段が、ゲインが許容範囲を外れたと判定した場合にはシステムにおいて警告を出力することを特徴とする自動分析装置。 - 請求項4記載の自動分析装置において、
前記決定手段が印加電圧値を決定する際の測定試薬として当該分析システムが日常的に使用する試薬を用いることを特徴とする分析システム。 - 請求項7記載の自動分析装置において、
前記日常的に使用する試薬とは、精度管理試料または標準液であることを特徴とする分析システム。 - 請求項6記載の自動分析装置において、
前記劣化監視手段はネットワークでサービスセンタに接続されており、
前記劣化監視手段内に記憶されている情報を遠隔でサービスセンタに収集することを特徴とする自動分析装置。 - 請求項7記載の自動分析装置において、
前記試薬に対して前記算出手段が算出したゲインを時系列に記憶する記憶手段を備え、
前記警告手段は前記記憶手段に記憶されているゲインが予め定められた閾値の範囲を外れた場合に警告を発することを特徴とする自動分析装置。
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