CN111373267B - 自动分析装置和自动分析装置的控制方法 - Google Patents

自动分析装置和自动分析装置的控制方法 Download PDF

Info

Publication number
CN111373267B
CN111373267B CN201880075912.1A CN201880075912A CN111373267B CN 111373267 B CN111373267 B CN 111373267B CN 201880075912 A CN201880075912 A CN 201880075912A CN 111373267 B CN111373267 B CN 111373267B
Authority
CN
China
Prior art keywords
light
photomultiplier tube
automatic analyzer
sensitivity
irradiated
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
CN201880075912.1A
Other languages
English (en)
Other versions
CN111373267A (zh
Inventor
信木俊一郎
滨崎孝伸
坂诘卓
山下善宽
田上英嗣
高仓树
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi High Tech Corp
Original Assignee
Hitachi High Technologies Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi High Technologies Corp filed Critical Hitachi High Technologies Corp
Publication of CN111373267A publication Critical patent/CN111373267A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN111373267B publication Critical patent/CN111373267B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N35/00Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor
    • G01N35/00584Control arrangements for automatic analysers
    • G01N35/00594Quality control, including calibration or testing of components of the analyser
    • G01N35/00613Quality control
    • G01N35/00623Quality control of instruments
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J1/00Photometry, e.g. photographic exposure meter
    • G01J1/02Details
    • G01J1/0228Control of working procedures; Failure detection; Spectral bandwidth calculation
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J1/00Photometry, e.g. photographic exposure meter
    • G01J1/02Details
    • G01J1/0295Constructional arrangements for removing other types of optical noise or for performing calibration
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J1/00Photometry, e.g. photographic exposure meter
    • G01J1/02Details
    • G01J1/04Optical or mechanical part supplementary adjustable parts
    • G01J1/0407Optical elements not provided otherwise, e.g. manifolds, windows, holograms, gratings
    • G01J1/0418Optical elements not provided otherwise, e.g. manifolds, windows, holograms, gratings using attenuators
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J1/00Photometry, e.g. photographic exposure meter
    • G01J1/02Details
    • G01J1/04Optical or mechanical part supplementary adjustable parts
    • G01J1/0407Optical elements not provided otherwise, e.g. manifolds, windows, holograms, gratings
    • G01J1/044Optical elements not provided otherwise, e.g. manifolds, windows, holograms, gratings using shutters
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J1/00Photometry, e.g. photographic exposure meter
    • G01J1/02Details
    • G01J1/08Arrangements of light sources specially adapted for photometry standard sources, also using luminescent or radioactive material
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J1/00Photometry, e.g. photographic exposure meter
    • G01J1/42Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/75Systems in which material is subjected to a chemical reaction, the progress or the result of the reaction being investigated
    • G01N21/76Chemiluminescence; Bioluminescence
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J1/00Photometry, e.g. photographic exposure meter
    • G01J1/02Details
    • G01J1/08Arrangements of light sources specially adapted for photometry standard sources, also using luminescent or radioactive material
    • G01J2001/086Calibrating drift correction
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J1/00Photometry, e.g. photographic exposure meter
    • G01J1/42Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors
    • G01J1/44Electric circuits
    • G01J2001/4406Plural ranges in circuit, e.g. switchable ranges; Adjusting sensitivity selecting gain values
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J1/00Photometry, e.g. photographic exposure meter
    • G01J1/42Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors
    • G01J1/44Electric circuits
    • G01J2001/444Compensating; Calibrating, e.g. dark current, temperature drift, noise reduction or baseline correction; Adjusting
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J1/00Photometry, e.g. photographic exposure meter
    • G01J1/42Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors
    • G01J1/44Electric circuits
    • G01J2001/4446Type of detector
    • G01J2001/4453PMT
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N35/00Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor
    • G01N35/02Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor using a plurality of sample containers moved by a conveyor system past one or more treatment or analysis stations
    • G01N35/04Details of the conveyor system
    • G01N2035/0439Rotary sample carriers, i.e. carousels
    • G01N2035/0444Rotary sample carriers, i.e. carousels for cuvettes or reaction vessels
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/25Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
    • G01N21/27Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands using photo-electric detection ; circuits for computing concentration
    • G01N21/274Calibration, base line adjustment, drift correction
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2201/00Features of devices classified in G01N21/00
    • G01N2201/06Illumination; Optics
    • G01N2201/062LED's
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2201/00Features of devices classified in G01N21/00
    • G01N2201/06Illumination; Optics
    • G01N2201/067Electro-optic, magneto-optic, acousto-optic elements

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Quality & Reliability (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • Plasma & Fusion (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By The Use Of Chemical Reactions (AREA)
  • Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)
  • Automatic Analysis And Handling Materials Therefor (AREA)

Abstract

在使用了光电倍增管的自动分析装置中,不利用高电压值的调整就能够控制光电倍增管的灵敏度。本发明的自动分析装置的特征在于,具备:光电倍增管,其检测来自反应容器的光;判定部,其判定向上述光电倍增管照射了第一光的情况下的上述光电倍增管的输出信号;控制部,其根据上述判定部的判定结果,向上述光电倍增管照射第二光而使上述光电倍增管的灵敏度下降。

Description

自动分析装置和自动分析装置的控制方法
技术领域
本发明涉及分析来自生物体的样本的自动分析装置和自动分析装置的控制方法。
背景技术
临床上会对血液、尿等体液成分所包含的蛋白质、脂类、糖、离子以及构成它们的各种成分等化学物质的浓度进行定量测定。用于使该测定所必需的步骤(例如检测体样本的定量采集、与试剂的混合、反应结果的判定、试剂所包含的物质的变化的测定等)自动化的装置被称为自动分析装置。
在这样的自动分析装置中,要求检测从发光标记等发出的微弱的光,作为光检测器,使用所谓的光电倍增管。光电倍增管是一种真空管,在真空管的内部接受光,并向将其变换为电子的阴极和取出最终信号的阳极之间施加700~1000V左右的高电压。利用该电位差,将在光电倍增管的阴极产生的电子放大为10的6次方左右。
光电倍增管的灵敏度由于使用所伴随的电源、电路的异常等,而有时随着时间提高。作为例子,考虑决定施加到光电倍增管的高电压值的可变电阻值随着时间变化的情况。对于光电倍增管的灵敏度的控制方法,已知调整施加到光电倍增管的高电压值的方法。例如,如专利文献1所示,已知以下的方法,即利用在施加到供电倍增管的高电压值的对数与测定同一对象时的信号量的对数之间具有固定的关系的情况,而最终调整高电压值。但是,在这样的调整高电压值的方法中,存在在调整高电压值的电路中脱离调整范围的风险。
现有技术文献
专利文献
专利文献1:日本特开2010-175415号公报
发明内容
发明要解决的问题
本发明提供一种自动分析装置,其在使用了光电倍增管的自动分析装置中,不利用高电压值的调整就能够控制光电倍增管的灵敏度。
解决问题的方案
本发明的自动分析装置的特征在于,具备:光电倍增管,其检测来自反应容器的光;判定部,其判定向上述光电倍增管照射了第一光的情况下的上述光电倍增管的输出信号;控制部,其根据上述判定部的判定结果,向上述光电倍增管照射第二光而使上述光电倍增管的灵敏度降低。
另外,本发明的自动分析装置的控制方法的特征在于:向上述光电倍增管照射第一光,判定向上述光电倍增管照射了上述第一光的情况下的上述光电倍增管的输出信号,根据上述判定的结果,向上述光电倍增管照射第二光而使上述光电倍增管的灵敏度降低。
发明效果
根据本发明,提供一种自动分析装置,其在使用了光电倍增管的自动分析装置中,不利用高电压值的调整就能够控制光电倍增管的灵敏度。
附图说明
图1是表示第一实施方式的自动分析装置的整体结构的概要图。
图2是更详细地说明图1的检测部160的结构的结构图。
图3是说明在第一实施方式的自动分析装置中进行光电倍增管162的检查并根据需要控制其灵敏度的步骤的流程图。
图4是说明通过照射控制光而降低光电倍增管的灵敏度的原理的附图。
图5是表示伴随着控制光的开/关的光电倍增管162的灵敏度的提高与降低的关系的例子的图表。
图6是表示在第二实施方式的自动分析装置中进行光电倍增管162的输出的检查并根据需要控制其灵敏度的步骤的流程图。
图7是表示在第二实施方式的自动分析装置中进行光电倍增管162的灵敏度的控制的情况下的光电倍增管162的灵敏度的时间性变化的例子的概念图(图表)。
图8是表示第三实施方式的自动分析装置的概要图。
图9是表示在第三实施方式的自动分析装置中进行光电倍增管162的检查并根据需要控制其灵敏度的步骤的流程图。
图10是表示第三实施方式的变形例的流程图。
图11表示显示器179的显示例。
图12表示显示器179的显示例。
具体实施方式
以下,参照附图详细说明本发明的实施方式。在用于说明本实施方式的全部图中,对具有相同功能的部分附加相同的附图标记,并尽量省略其重复的说明。实施方式记载的设备构造和材料是用于实现本发明的思想的一个例子,并不严格地确定材料和尺寸等,并不是为了限制本发明的范围而公开的。另外,应该注意实施方式所记载的具体的电压值、电流值、电压施加时间、电压脉冲时间宽度也是用于实现本发明的思想的一个例子,并不严格地确定它们,并不是以限制其范围的意图而公开的。
[第一实施方式]
首先,参照图1等说明本发明的第一实施方式的自动分析装置。
在该第一实施方式中,将以下的自动分析装置作为例子进行说明,即将光电倍增管作为检测器,在检测部中使用利用吖啶酯作为发光标记的化学发光法,但吖啶酯只不过是一个例子,并不限于此。
图1是表示第一实施方式的自动分析装置的整体结构的概要图。本装置具备容器架111,构成为能够将检查材料容器112架设到该容器架111上。另外,本装置具备经由采样片114吸引检查材料容器112内的检查材料的采样机构113。通过未图示的搬运机构依次将容器架111搬运到用于通过采样机构113进行吸引的位置。通过采样机构113吸引到采样片114的检查材料被注入反应容器131。被注入了检查材料的反应容器131被搬运到具有温度控制功能的反应容器搬运器CC的预定的位置。
另外,本装置具备试剂容器132~134、试剂分注机构135、磁分离装置136、酸性过氧化氢溶液容器137、氢氧化钠溶液容器138、以及溶液注入机构139、140。
试剂分注机构135具有将贮存在试剂容器132~134中的试剂向反应容器131分注的功能。通过采样机构113向反应容器131分注预定量的检查材料,进而进行试剂分注机构135的吸引喷出动作,由此能够混合反应容器131内的试剂和检查材料。在混合后,例如将反应容器131保持在反应容器搬运器CC上9分钟左右的时间,由此能够使得进行反应。进而,通过试剂分注机构135,从试剂容器134向反应容器131分注一定量的磁性粒子的悬浊液,进而使得进行9分钟左右的反应。通过磁分离装置136使该反应容器131分离为磁性粒子和上清液。然后,将反应容器131载置到检测部160,成为分析的对象。
检测部160如图1所示,在其内部具备作为光源的LED161、光电倍增管(PMT)162。检测部160具备配置为一列而相互相邻的第一~第三反应室R1~R3。LED161被配置在第一反应室R1内,光电倍增管162被配置在第三反应室R3内,成为分析的对象的反应容器131被配置在中间的第二反应室R2内。
另外,检测部160通过溶液注入机构139、140,将贮存在酸性过氧化氢溶液容器137中的酸性过氧化氢溶液、和贮存在氢氧化钠溶液容器138中的氢氧化钠溶液注入到反应容器131。由此,使得在反应容器131内产生化学发光。从反应容器131发出的化学发光被相邻的第三反应室R3内的光电倍增管162受光/检测,并进行分析。第一~第三反应室R1~R3构成为除了连接它们的开口部以外,被遮光壁覆盖,以避免来自外部的光侵入。
作为用于控制包括上述检测部160的装置整体的结构,本装置具备主控制装置171、DA变换器172、高电压产生装置173、对数变换器174、AD变换器175、发光条件变更部176、恒流源177、存储部178、以及显示器179。
主控制装置171负责装置整体的控制,进行与所得到的数据一致的运算,并且进行与该运算结果一致的数据存储动作、指示等。另外,主控制装置171还作为进行与光电倍增管162的输出信号有关的判定的判定部而发挥功能。进而,主控制装置171负责在预定的情况下向光电倍增管162照射光(控制光)而使其灵敏度降低的控制。
DA变换器172将从主控制装置171输出的控制数据变换为模拟信号并将其供给到高电压产生装置173。高电压产生装置173产生具有与所提供的模拟信号对应的电压值的电压并将其供给到光电倍增管162。
对数变换器174对与在光电倍增管162中受光的光的光量对应地输出的电流信号进行对数变换,并作为电压信号输出。该电压值(模拟值)在AD变换器175中被变换为数字信号,并被传递到主控制装置171。
另外,发光条件变更部176根据来自主控制装置171的控制信号,使LED161的发光条件变化。恒流源177构成为能够根据通过发光条件变更部176设定的发光条件,使流过LED161的电流(恒流)的值变化。
存储部178构成为除了能够存储预定主控制装置171的动作的计算机程序以外,还能够存储通过分析得到的分析结果、其他的控制数据。另外,显示器179除了能够显示所得到的分析结果以外,还能够显示应该向操作者传达的各种消息等。
图2是更详细地说明图1的检测部160的结构的结构图。检测部160如上述那样,具备沿着一个方向串联地连接的3个反应室、第一~第三反应室R1、R2、R3。第二反应室R2被配置在第一反应室R1与第三反应室R3之间的位置。
第一~第三反应室R1~R3为由遮光壁形成整体的中空容器,成为防止干扰光的侵入、各反应室R1~R3之间的光的泄漏那样的结构。避免来自外部的光到达内部。其中,在第一~第三反应室R1~R3之间,设置有光的路径使得能够进行光的收发。即,在容纳LED161的第一反应室R1与容纳反应容器131的第二反应室R2之间,设置有作为光的通路的窗口W1。将LED161配置得LED161的光出射面朝向该窗口W1。来自LED161的光能够经由该窗口W1到达反应容器131。另外,在第二反应室R2与容纳光电倍增管162的第三反应室R3之间,设置有窗口W2。从反应容器131发出的光能够经由该窗口W2被光电倍增管162受光。
另外,在第二反应室R2中,设置有用于插入或拔出反应容器131的窗口W3。
在窗口W1~W3上,分别设置有用于遮挡窗口W1~W3的挡板26、27、29。挡板26、27在检测光电倍增管162的情况下使窗口W1和W2开口,使得LED161的光到达光电倍增管162。另外,挡板29在第二反应室R2中装载/退出反应容器131的情况下、或在通过溶液注入机构139、140向反应容器131注入溶液时打开,在检查等的开始时关闭。各挡板26、27、29与步进电动机(未图示)连接,根据来自主控制装置171的控制信号分别独立地开闭。
另外,在窗口W1上,除了挡板27以外,还配置有ND过滤器34。该ND过滤器34与主控制装置171连接,能够任意地使ND过滤器34的光透射率变化。由此,能够对来自LED161的出射光量进行调整,以防止因过大的光入射到光电倍增管162而导致的破损。
在第三反应室R3中,光电倍增管162经由光电倍增管支架163而被固定在第三反应室R3的内部。进而,光电倍增管162被配置得其受光面朝向窗口W2。光电倍增管162连接有电缆164,电缆164被导出到第三反应室R3的外部。另外,光电倍增管162经由电缆164而与上述的高电压产生装置173和对数变换器174连接。进而,高电压产生装置173连接有恒压电源(未图示)。此外,在电缆164与第三反应室R3之间,设置有用于防止干扰光的侵入的密封件(未图示)。此外,在第二反应室R2中,设置有用于将反应容器131保持为装卸自由的反应容器支架165。此外,在反应容器支架165上,可以具备用于检测反应容器131的有无的反应容器传感器(未图示)。根据用于免疫测定的反应容器131来决定反应容器支架165的形状、构造。另外,作为反应容器131,能够采用试管、方形单元、滑动板、微板、流通池等普通的各种类型。
此外,LED161的端子被导出到第一反应室R1的外部,且被第一反应室R1的壁面保持。该LED161经由前置的恒流源177与外部电源(未图示)连接,并通过恒流源177调节LED161的发光量。此外,在该LED161的端子与第一反应室R1之间,还设置有用于防止干扰光的侵入的密封件(未图示)。作为LED161,能够采用普通的各种类型。优选地,LED161至少具有与用于在反应容器131内进行与样本的发光反应的发光物质的发光波长近似的发光波长,但也可以构成为通过与LED161分体的滤波器(未图示)进行波长选择。另外,如果构成为预先使发光物质的发光波长与LED161的发光成分的光学条件关联起来,则不需要针对每个测定项目、发光物质等来替换LED161。
通过反应容器转送部(未图示)将反应容器131转送到第二反应室R2并安装到反应容器支架165上。在运出反应容器131时,也同样通过反应容器转送部,将反应容器131转送到第二反应室R2以外。在此,作为反应容器转送部,能够利用普通的单元装载器、转送臂等。
此外,虽然未图示,但可以在第二反应室R2内组装注入部,该注入部构成为在适当的定时向反应容器支架165所保持的反应容器131注入用于引起发光反应的基质溶液等。
接着,参照图3的流程图说明以下的步骤(控制方法),即在具有上述结构的自动分析装置中,进行光电倍增管162的检查,并根据需要控制其灵敏度。
首先,根据图3的流程图的步骤S1~S9,进行光电倍增管162的检查。具体地说,向光电倍增管162照射来自LED161的基准光(第一光),根据该光电倍增管162的输出信号,判定光电倍增管162的灵敏度是否提高得超过基准值(判定上限值)。在超过基准值的情况下,根据步骤S10~S21,执行将光电倍增管162的灵敏度控制为恰当的范围的步骤。具体地说,通过在一定时间内向光电倍增管162照射来自LED161的控制光(第二光),而降低光电倍增管162的灵敏度,在成为适当的值(判定下限值以下的值)的阶段,停止控制光的照射。通过采用这样的方法,能够不受驱动电路或因暗电流的产生原因造成的调整范围的制约(不利用高电压值的调整),而将光电倍增管162的灵敏度控制为恰当的范围。
根据实施顺序说明该流程的各步骤。
首先,在步骤S1中,主控制装置171根据反应容器传感器(未图示)的输出,检测在第二反应室R2的反应容器支架165上没有设置反应容器131的情况(步骤S1)。在设置了反应容器131的情况下,使用未图示的反应容器搬运机构,使反应容器131从第二反应室R2退出(步骤S2)。
如果反应容器131的退出完成,则主控制装置171关闭挡板29(步骤S3)。然后,打开挡板26,向光电倍增管162施加预定的高电压,成为能够进行光电倍增管162的动作的状态(步骤S4)。
发光条件变更部176设定用于从LED161出射基准光的电流值,点亮LED161(步骤S5)。在此,基准光是指成为用于评价光电倍增管162的灵敏度变动的基准的固定强度的光。根据在发光条件变更部176中决定的发光条件,设定预定的LED电流,由此得到基准光的强度。为了设定LED161的电流量,可以考虑在恒流源177中设置构成为能够切换多个电阻值的双列开关等。在本实施方式中,将用于出射基准光的电流值设为x(A)。x例如是0.1(mA)~100(mA)左右的值。在此,作为一个例子,设为x=3(mA)。
在该第一实施方式的自动分析装置中,光电倍增管162检测该基准光。在预先确定的一定时间(例如0.4(s)~1.0(s))内对通过检测而流过光电倍增管162的电流即检测电流进行积分,与该积分值成正比的量为光电倍增管162的检出光量。检出光量的维数相当于光子的个数。以下将检出光量的单位称为“计数单位”。
基准光的检出光量的初始值为X(计数单位)。在本实施方式中,例如X=10万(计数单位)。初始值是指任意确定的某时刻的检出光量的值。例如,可以在紧接着制造装置后、或紧接着新安装了光电倍增管162后、或在其他定时,测定基准光的光量。主控制装置171在存储部178中存储该基准光的检出光量的初始值X。
如果在步骤S5中开始LED161的发光,则主控制装置171打开挡板27,将从LED161发出的基准光导向光电倍增管162(步骤S6)。然后,通过光电倍增管162检测来自LED161的基准光,并获取其检出光量Z(计数单位)(步骤S7)。
主控制装置171对该检出光量Z(计数单位)和预先确定的光电倍增管162的灵敏度提高的基准值即判定上限值(U(计数单位))进行比较,判定是否是Z>U(步骤S8)。可以将判定上限值U设定为上述初始值X的常数倍的值。作为一个例子,判定上限值U可以设为比初始值X大3%的103000(计数单位)。
在基准光的检出光量(Z(计数单位))为判定上限值U以下的情况下(Z≤U),例如在101500(计数单位)的情况下,光电倍增管162的灵敏度提高不是零,但看作为能够允许、或是实验误差的范围内,不执行光电倍增管162的灵敏度的降低动作(步骤S10以后)而结束本流程(步骤S9)。
另一方面,在基准光的检出光量(Z(计数单位))比判定上限值U大的情况下(Z>U),例如在Z=104000(计数单位)的情况下,为了降低光电倍增管162的提高了的灵敏度,执行步骤S10以后的步骤。
在此,使用图4说明通过照射控制光而降低光电倍增管的灵敏度的原理。这时的光电倍增管的阳极电流为70(μA)。图4是表示光电倍增管的典型的光照射时间与灵敏度的关系的例子的图。如图4所示,光电倍增管的灵敏度具有个体差,但一般随着合计的光照射时间增加而降低。这一般也被称为寿命特性。
在本实施方式中,利用这样的光电倍增管的性质,通过进行光照射来降低光电倍增管162的灵敏度。灵敏度的降低量是光电倍增管的输出电流(阳极电流)的函数,根据光电倍增管的种类而变化。
在图4的例子中,从初始的状态开始,因一小时的光照射造成的光电倍增管的灵敏度的下降率是-2(%/hrs.)。这时的光电倍增管的阳极电流是70(μA),因此根据时间与电流的单位的关系,也可以将灵敏度下降率表示为-7.9(%/C)。即,通过确定从LED161的控制光的强度,进行一定时间的照射,使得光电倍增管的输出(阳极)电流量相对于预定的入射光成为固定,从而能够实现希望的灵敏度下降。
在步骤S8中判定为Z>U的情况下,转移到步骤S10,开始用于降低光电倍增管162的提高了的灵敏度的动作。
首先,在步骤S10中,主控制装置171根据基准光的检出光量Z,确定来自LED161的控制光的目标光量(步骤S10)。可以通过在目标照射时间ty(s)内对光电倍增管162的输出电流(阳极电流)Ip(A)进行积分时的目标电荷量Y(C)(=Ip×ty),来定义控制光的目标光量。例如,在希望将具有图4那样的特性的光电倍增管162的灵敏度降低4%的情况下,在7200(s)即2小时的期间内,向光电倍增管162照射光电倍增管162的阳极电流成为70(μA)那样的控制光即可。由此,目标电荷量成为0.504(C)。即,通过向光电倍增管162照射与0.504(C)的目标电荷量相当的目标光量的控制光,能够降低目标灵敏度。
为了使LED161的阳极电流成为预定值,适当地设定流过LED161的电流值y(A)、ND过滤器34的透射率、LED161与光电倍增管162的距离等即可。能够通过发光条件变更部176调整流过LED161的电流值。通过能够主控制装置171调整ND过滤器34的透射率。在本实施方式中,假设设定为流过LED161的电流值y=30(mA)、ND过滤器的透射率T=1%,能够得到约70(μA)的阳极电流值。此外,假设相当于该阳极电流值的检出光量大致是100万(计数单位)。
主控制装置171设定目标照射时间以使得成为所确定的控制光的目标光量。发光条件变更部176设定用于从LED161出射控制光的电流值y(A),在主控制装置171确定的时间的期间内,点亮LED161(步骤S11)。这时,主控制装置171针对所设定的目标电荷量Y(C),适当地存储到此时为止照射控制光的合计时间t`(sec)。
只要是在进行反应容器131的分析的定时以外即可,可以在任意的定时进行控制光的照射。例如,能够灵活利用装置的启动动作时、装置的结束动作时、以及进行化学发光分析的准备动作(例如试剂分注、或试剂的培养)的时间。
在该图3的例子中,在通过照射控制光而控制光电倍增管162的灵敏度的过程中,能够根据用户的指示(中断指令(步骤S12))中止控制光的照射。例如,是有对自动分析装置关机、或关断电源的指示时、或发出了将检查材料容器导入本自动分析装置而进行化学发光分析的指示时等。这时,主控制装置171将LED161关断,中断控制光的照射,并且停止高电压向光电倍增管162的施加而关断光电倍增管162,另外为了避免不必要的外部光入射到光电倍增管162,而关闭挡板26和27(步骤S13)。
然后,主控制装置171等待发出控制光的照射再开始指令。在无法照射控制光的状态解除时、即再接通装置的电源而装置的启动动作开始时、或化学发光分析的准备动作(例如试剂分注、或试剂的培养)开始时等,向主控制装置171发出再开始指令(步骤S14)。然后,主控制装置171再开始向光电倍增管162施加高电压,另外打开挡板26、27(步骤S15)。然后,再次由主控制装置171调整LED161的光以使得成为所确定的控制光的光量,发光条件变更部176设定用于从LED161出射控制光的电流值,点亮LED161(步骤S11)。
在照射用于降低光电倍增管162的灵敏度的控制光的合计时间t`(sec)达到了目标值ty(sec)时(步骤S16),主控制装置171停止来自LED161的控制光的照射(步骤S17)。然后,主控制装置171为了确认光电倍增管162的灵敏度,再次执行上述的基准光的照射。即,与步骤S5同样地,发光条件变更部176设定用于从LED161出射基准光的电流值,点亮LED161(步骤S18)。
接着,主控制装置171获取从LED161照射了基准光的情况下的光电倍增管162的检出光量(步骤S19)。根据光子的个数将该检出光量的值定义为Z`(计数单位)。主控制装置171对该检出光量Z`和作为光电倍增管162的灵敏度降低的基准值(目标值)的判定下限值(L(计数单位))进行比较(步骤S20)。在图示的例子中,例如为L=X=10万(计数单位)。即,将上述的初始值X设定为判定下限值L。
在基准光的检出光量Z`为判定下限值L以下的情况下(Z`≤L),例如在Z`=99000(计数单位)的情况下,光电倍增管162的灵敏度低于初始值,而看作为能够允许的恢复为实验误差的范围内,结束本流程(步骤S21)。
另一方面,在基准光的检出光量(Z`(计数单位))比判定下限值L大的情况下,例如在Z`=102000(计数单位)的情况下,为了降低光电倍增管162的提高了的灵敏度,而返回到步骤S10,另外确定必要的控制光的光量,进行控制光的照射。在Z`=102000计数单位、L=10万计数单位的情况下,判断为需要再降低2%的灵敏度,确定控制光的光量和合计的照射时间。
这样,在上述实施方式中,在结束了一定量的控制光的照射后,再次通过基准光确认光电倍增管162的灵敏度,在灵敏度没有降低到目标值的情况下,再次照射控制光。这样的动作在以下所述那样的情况下也能够使灵敏度恢复为适当的范围,因此是适合的。即,已知光电倍增管162的灵敏度相对于光照射的降低率不仅存在个体差,在同一个体内还与光照射量对应地变化。另外,在进行控制光的照射的过程中,还有可能由于其他任意的因素而灵敏度相反地提高。对于设想的控制光的照射量的照射,灵敏度有可能有时不如设想的那样降低。
图5是表示伴随着控制光的开/关的光电倍增管162的灵敏度的提高与降低的关系的例子的图表。图表中的黑圈的点表示照射了基准光的情况下的光电倍增管162的检出光量。在没有照射控制光的期间(控制光关断),光电倍增管162的灵敏度具有提高趋势,灵敏度也有时超过判定上限值U。在光电倍增管162的灵敏度超过了判定上限值U的情况下,如在图3的步骤S8中说明的那样,开始照射控制光(接通),在该照射期间内,光电倍增管162的灵敏度逐渐下降。在该照射期间内,在照射了预定光量的控制光后,还使用基准光确认光电倍增管162的灵敏度(步骤S20),如果光电倍增管162的输出信号成为判定下限值L以下,则控制光的照射结束,如果输出信号大于判定下限值L,则继续进行控制光的照射。
此外,在上述第一实施方式中,将在检测部中使用利用吖啶酯作为发光标记的化学发光法的装置作为例子进行了说明,但吖啶酯只不过是一个例子,也可以使用其他公知的方法、例如利用发光氨的化学发光酶免疫测定法、利用钌络合物的电化学发光法、或利用荧光素的生物发光酶免疫测定法等,它们也可以包含在本发明的范围内。
在此,在第一实施方式中,如图3所示,设定控制光的光量,使得通过控制光的照射,将光电倍增管162的灵敏度控制为判定下限值U以下。通过这样进行将光电倍增管162的灵敏度维持为判定下限值U附近的控制,而将光电倍增管162的灵敏度(的绝对值)维持为与初始值同等。由此,能够维持自动分析装置原本作为数据表保存在装置内部的信号量与浓度的关系、即校正曲线的精度。即,能够根据光电倍增管162的输出信号,正确地计算出样本中的分析对象物质的浓度。在该意义上,第一实施方式中的通过控制光的光照射对光电倍增管162的灵敏度的控制与以下的技术不同,即在测定前事先进行光照射,由此通过受光面的老化效应,将受光传感器的灵敏度保持为固定,缩短测定的预热时间。具体地说,在以下点上不同:与照射了基准光的情况下的光电倍增管的检出光量对应地,适当地判定有无实施向光电倍增管照射控制光。由此,能够将光电倍增管的灵敏度控制为根据基准值确定的一定的范围内,维持测定系统的定量性。另外,同样第一实施方式中的通过控制光的光照射对光电倍增管162的灵敏度的控制与以下的技术不同,即通过在使用前进行数小时~数十小时的连续动作,而降低光电倍增管的输出的“变化量”。具体地说,在以下点上不同:本发明将光电倍增管的灵敏度控制为根据基准值确定的一定的范围内。由此,能够维持测定系统的定量性。
以下说明在步骤S5中照射的基准光与在步骤S10中照射的控制光的光量的关系。在本实施方式中,作为一个例子,可以将照射基准光的情况下的光电倍增管162的输出(阳极)电流设为1(μA),另一方面,将照射控制光的情况下的光电倍增管162的输出(阳极)电流设为50(μA)。这样通过基准光(第一光)和控制光(第二光)使输出电流以及LED161的发光光量不同,由此能够挑选符合各个目的的光量。例如,可以将基准光的光量设为在普通的血液样本的分析中使用的平均值,另一方面,为了促进灵敏度下降,而设为更大的值。特别在检出光量高的区域中,有时光量与灵敏度的关系不是线性的。即使是这样的区域,促进灵敏度下降也没有问题,但在用作基准光的情况下,难以适当地检测出灵敏度的变化。通过分为第一光量和第二光量,能够避免这样的问题。
控制光的每单位时间的光量(输出电流或阳极电流)优选为基准光的每单位时间的光量(输出电流或阳极电流)的10倍以上。在如上述的例子那样,出射控制光时的LED161的输出电流是50μA,出射基准光时的LED161的输出电流是1μA的情况下,控制光的每单位时间的光量为基准光的每单位时间的光量的50倍。由此,能够兼顾基准光的稳定性和控制光对灵敏度降低的促进。
此外,在第一实施方式中,通过一个LED161产生基准光和控制光这两者,LED161兼作基准光的光源和控制光的光源。由此,能够节约光源的个数/控制电路用元件的个数,并且谋求节省空间。但是,也可以实施分别设置出射基准光用的光源和出射控制光用的光源的变形例,这样的变形例也包含在本发明的范围内。通过对基准光和控制光分别设置光源,从各个光源出射的光量的调整变得容易。例如,可以将出射基准光的LED设为具有3(mA)左右的额定电流的LED,另一方面,将出射控制光的LED设为额定电流为30(mA)左右的高输出LED。由此,能够降低由于电流值从额定值偏离造成的输出的不稳定性、因元件的温度上升造成的风险。
但是,如第一实施方式那样,即使对基准光和控制光兼用一个LED161,只要能够将输出电流维持为固定,则出射光的光量在实用上也没有问题,能够成为可以忽视的程度的变动量。
[第二实施方式]
接着,参照图6和图7说明第二实施方式的自动分析装置。装置的结构的外观与第一实施方式(图1)相同,因此省略重复的说明。但是,本第二实施方式的光电倍增管162的灵敏度的控制的动作与第一实施方式不同。具体地说,在本第二实施方式中,在以下点上与第一实施方式不同:除了通过照射控制光而进行的光电倍增管162的灵敏度的控制以外,还执行通过修正电信号而进行的光电倍增管162的灵敏度的控制。
图6是表示在第二实施方式的自动分析装置中进行光电倍增管162的检查并根据需要控制其灵敏度的步骤的流程图。另外,图7是表示进行该控制的情况下的光电倍增管162的灵敏度的时间性变化的例子的概念图(图表)。在图6中,对与第一实施方式的步骤(图3)相同的步骤附加相同的参照编号(S1、S2、S3……),因此以下省略重复的说明,只说明不同点。另外,图7的图表的白圈的点表示照射了基准光的情况下的光电倍增管162的检出光量,黑圈的点表示修正电信号后的光电倍增管162的检出光量。
对于S1~S9,本第二实施方式的自动分析装置的光电倍增管162的灵敏度的控制的步骤与第一实施方式大致相同。但是,在步骤S8中判断为Z≤UL的情况下(否),在结束本流程之前,与Z的值对应地进行电信号的修正,以使得光电倍增管162的检出光量接近判定下限值L(步骤S22)。
对于S10~S19,向光电倍增管162照射控制光的步骤也大致相同。但是,在本第二实施方式中,在步骤S20中判定为光电倍增管162的检出光量Z`比判定下限值L大的情况下(Z`>L),除了再次照射控制光以外(或代替它),而修正所得到的检出光量Z`作为电信号(步骤S23)。由此,对光电倍增管162的灵敏度进行电修正,使其成为与判定下限值L相当的灵敏度。如果进行了这样的修正,则能够在更高的状态下维持自动分析装置保存在内部的信号量与浓度的关系、即校正曲线(master curve)的精度。此外,在步骤S20中判定为Z`≤L的情况下,即在判定为光电倍增管162的灵敏度低于判定下限值的情况下,在执行相反地使灵敏度上升那样的修正后(步骤S24),结束本流程。
参照图7说明该动作。图7是表示伴随着控制光的开/关的光电倍增管162的灵敏度的提高与降低的关系、以及装置内部的电修正的示意图。在图7中,白圈的点表示照射了基准光的情况下的光电倍增管162的检出光量。
另外,黑圈的点是根据该检出光量修正电信号使得检出光量与初始值同等的值即修正后的检出光量。通过这样得到与初始值同等那样的修正值,能够维持校正曲线(mastercurve)的精度,能够正确地计算出反应容器131中的样本的分析对象物质的浓度。
此外,对于步骤S22、S23、S24中的数值(电信号的)修正,在光电倍增管162的检出光量超过了比判定上限值U更大的数值修正上限值CU(>U)的情况下,信号饱和,有时难以正确地修正饱和后的信号。因此,省略图6和图7中的图示,但在光电倍增管162的检出光量Z超过了数值修正上限值CU的情况下,优选不进行步骤S22的修正,而只执行与第一实施方式同样的基于控制光的灵敏度的降低动作。
[第三实施方式]
接着,参照图8说明第三实施方式的自动分析装置。装置的结构的外观与第一实施方式(图1)相同,因此省略重复的说明。但是,本第三实施方式的光电倍增管162的灵敏度的控制的动作与第一实施方式不同。具体地说,在本第三实施方式中,构成为使用来自预定的试剂的光作为用于判定光电倍增管162的灵敏度的基准光,该点与构成为从LED161发出基准光的第一实施方式不同。具体地说,如图8所示,将发出基准光的试剂注入反应容器131T,将该反应容器131T载置到第二反应室R2,使其向光电倍增管162发出基准光。此外,与第一实施方式同样地使得从LED161发出控制光。
图9是表示在第三实施方式的自动分析装置中进行光电倍增管162的检查并根据需要控制其灵敏度的步骤的流程图。对与第一实施方式相同的步骤附加与图3相同的附图标记,因此以下省略重复的说明。
与图3的不同点之一是:在步骤S1`中,主控制装置171通过任意的传感器(未图示)确认是否设置了包含发出基准光用的试剂的反应容器131T。如果没有设置,则将反应容器131T设置到反应容器支架165(步骤S2`)。在确认了反应容器131T`的设置的情况下,前进到下一个步骤(步骤S3)。在步骤S5`、S6、S7`中,代替来自LED161的发光,而向光电倍增管162照射来自反应容器131T包含的试剂的光。另外,同样还使用来自反应容器131T内的试剂的光,进行照射控制光后的检出光量的确认(步骤S18`、S19`)。此外,除了该来自反应容器131T的试剂的基准光以外,还可以同时向光电倍增管162照射LED161的基准光。
作为贮存在反应容器131T中的用于发出基准光的试剂,优选使用在自动分析装置的外部根据重量、容量预先调制好的校正用样本即标准样本、被称为精度管理样本的试剂。标准样本、精度管理样本例如是血中甲状腺激素那样的为了在该系统中实际进行测定而针对分析对象准备并由以临床检查为目的的使用者日常使用的样本。一般对标准样本和精度管理样本设定了信号量与浓度的关系。在标准样本的情况下,一般由提供临床检查药品的供应商与临床检查药品一起提供。特别在试剂的批次之间高灵敏度地存在差的高灵敏度免疫分析法中,由向该系统提供临床检查药品的提供商提供。因此,在其制造阶段,例如在提供2个点的低浓度侧和高浓度侧的标准液时,必须预先知道各个标准样本具有怎样程度的信号。另外,精度管理样本是具有预先允许的浓度的样本,如果是根据适当的标准样本校正后的装置,则能够预测输出的信号量。以上,根据本第三实施方式,能够根据自动分析装置的用户日常使用的校正用样本的分析结果,得到与光电倍增管的灵敏度有关的信息。另外,通过直接使用用于校正校正曲线的样本的测定结果,能够不使用追加的试剂就获取信息,经济效率好。
在此,在上述实施方式中,使用来自预定的试剂的光作为基准光,但除了使用来自该试剂的光判定光电倍增管的灵敏度以外,还能够同时执行以下操作,即从LED161照射基准光,判定光电倍增管的灵敏度。
例如如图10所示,在使用来自LED161的基准光执行光电倍增管162的灵敏度的判定而得到检出光量Z1后(步骤S31),使用来自贮存在反应容器131T中的试剂的基准光执行光电倍增管162的灵敏度的判定,得到检出光量Z2(步骤S32)。然后,针对在步骤S31中得到的检出光量Z1、以及在步骤S32中得到的检出光量Z2,分别进行与判定上限值U的比较判定,判定2个判定结果是否不同(步骤S33)。
如果2个判定结果一致(在任意一个判定中都超过了(或没有超过)判定上限值),则转移到步骤S34,判定Z1、Z2是否都大于判定上限值U。如果Z1、Z2都大于判定上限值U,则转移到图9的步骤S10,进行与上述实施方式同样的通过照射控制光进行的光电倍增管162的灵敏度的控制。
与此相对地,在S31和S32的2个比较结果不同的情况下,经由显示器179等输出警告信息(步骤S35)。例如,在尽管对来自LED161的基准光没有确认出大的变动,但对使用来自反应容器131T内的试剂的基准光测定的检出光量输出了任意的异常值的情况下,可以怀疑不是光电倍增管162的灵敏度的变动,而是反应容器131、试剂、或试剂的混合过程等的异常。在该情况下,也可以在该自动分析装置的显示器179、其他显示单元中,显示与该异常有关的信息。
[其他]
能够在不进行反应容器131的发光量测定的任意的定时开始控制光的照射步骤。例如特别适合在启动自动分析装置后的执行预热动作时、有自动分析装置的关机指示后的执行结束处理动作时、或等待将分析对象的检查材料容器投入到装置的待机状态时,进行控制光的照射步骤。由此,能够在反应容器131的发光量测定的步骤与控制光的照射步骤之间赋予一定的时间差。通过赋予时间差,特别在敏感的光电倍增管中进行了阳极电流量有可能变得比较大的控制光的照射后,能够暂时激活光电倍增管的光电面,对化学发光的发光量测定产生影响。
另外,在进行上述那样的光电倍增管的灵敏度的控制时,优选在该自动分析装置的显示器179、其他显示单元中,显示与灵敏度的控制有关的信息。与灵敏度的控制有关的信息例如是指以下信息等:
(1)确认了光电倍增管162的灵敏度收敛于恰当的范围内;
(2)在进行光电倍增管162的灵敏度的控制时检测到异常;
(3)伴随着光电倍增管162的灵敏度的控制,超出了适当设定的上限值。
此外,“(2)在进行光电倍增管162的灵敏度的控制时检测到异常”例如可以列举以下的情况,即在照射了基准光的情况下确认了光电倍增管162的检出光量的时刻,检测到异常的值、例如初始值的3倍以上的检出光量等,而检测到比通常设想更大的变动。或者,作为其他例是以下的情况,即在为了提高光电倍增管162的检出光量的精度而进行多次的测定时,检测到其标准方差异常的值、例如检出光量相对于平均值的比例超过10%的值等,而检测到比通常设想更大的变动。另外,作为其他的例子,可以列举在照射控制光后检出光量大幅提高的情况。在这样的情况下,能够判断为只通过控制光的照射、数值修正难以优化灵敏度,而催促用户进行装置维护负责人的维护、或适当的部件更换。
另外,“(3)伴随着光电倍增管162的灵敏度的控制,超出了适当设定的上限值”例如可以列举将光电倍增管162设置到自动分析装置后的全部期间中的总检出光量(检出光量的合计值)超过所确定的上限值的情况。本实施方式的自动分析装置通过控制光抑制光电倍增管162的灵敏度的提高而优化。因此,总检出光量超过某上限值意味着与之对应地持续发生了光电倍增管162的灵敏度的提高。对于这样的自动分析装置,从预防保护而防止将来的故障的观点出发,优选在总检出光量超过了一定的上限值的阶段,进行装置维护负责人的维护,确认装置的状态,并且适当地进行部件更换。
图11是实施方式的自动分析装置的灵敏度的控制处理后的显示器179的显示画面的一个例子。在该例子中,显示出表示检测部的状态适当的信息(Appropriate detectioncondition.:适当的检测状态)。由此,本实施方式的自动分析装置的用户能够在识别出检测部的状态适当的基础上进行分析工作。
图12是在本实施方式的自动分析装置中进行光电倍增管162的灵敏度的控制处理后的显示器179的显示画面的另一个例子。本例子是向用户报告在光电倍增管162的灵敏度的控制时在检测部中检测到异常、以及进行自动分析装置的维护的显示(Abnormaldetection condition.Please check status of instrument.:异常的检测状态,请检查设备状态)的例子。由此,装置的用户能够识别自动分析装置的检测部发生异常、以及必须确认状态。
以上说明了本发明的几个实施方式,但作为例子提示提示了这些实施方式,并不是要限定发明的范围。这些新的实施方式能够以其他各种形式实施,在不脱离本发明的主要内容的范围内,能够进行各种省略、置换、变更。这些实施方式、其变形包含在发明的范围、主要内容内,并且包含在技术方案记载的发明及其等价的范围内。
附图标记说明
26、27、29:挡板;111:容器架;112:检查材料容器;113:采样机构;114:采样片;131:反应容器;131T:反应容器;CC:反应容器搬运器;132~134:试剂容器;135:试剂分注机构;136:磁分离装置;137:酸性过氧化氢溶液容器;138:氢氧化钠溶液容器;139、140:溶液注入机构;160:检测部;161:LED;162:光电倍增管(PMT);163:光电倍增管支架;164:电缆;165:反应容器支架;171:主控制装置;172:DA变换器;173:高电压产生装置;174:对数变换器;175:AD变换器;176:发光条件变更部;177:恒流源;178:存储部;179:显示器;R1~R3:反应室;W1~W3:窗口。

Claims (14)

1.一种自动分析装置,其特征在于,
上述自动分析装置具备:
光电倍增管,其检测来自反应容器的光;
判定部,其判定向上述光电倍增管照射第一光的情况下的上述光电倍增管的输出信号,上述第一光是成为用于评价上述光电倍增管的灵敏度变动的基准的固定强度的光;以及
控制部,其根据上述判定部的判定结果,计算目标光量,向上述光电倍增管照射该目标光量的第二光而使上述光电倍增管的灵敏度下降,且在上述光电倍增管的灵敏度达到目标值之前持续向上述光电倍增管照射上述第二光。
2.根据权利要求1所述的自动分析装置,其特征在于,
上述判定部在向上述光电倍增管照射了上述第二光后,对上述光电倍增管的输出信号和上述目标值进行比较,在上述输出信号比上述目标值大时,继续向上述光电倍增管照射上述第二光,在上述输出信号是上述目标值以下的情况下,结束向上述光电倍增管照射上述第二光。
3.根据权利要求1所述的自动分析装置,其特征在于,
上述第二光的每单位时间的光量比上述第一光的每单位时间的光量大10倍以上。
4.根据权利要求1所述的自动分析装置,其特征在于,
从同一光源照射上述第一光和上述第二光。
5.根据权利要求1所述的自动分析装置,其特征在于,
上述自动分析装置还具备:第一反应室,其包含光源;第二反应室,其构成为与上述第一反应室相邻且能够配置反应容器;第三反应室,其与上述第二反应室相邻且包含上述光电倍增管,
上述判定部构成为,在使上述反应容器从上述第二反应室退出后,从上述第一反应室内的上述光源经由上述第二反应室向上述第三反应室内的上述光电倍增管照射上述第一光而进行判定。
6.根据权利要求5所述的自动分析装置,其特征在于,
上述自动分析装置还具备ND过滤器,该ND过滤器配置在上述光源与上述第二反应室之间,且使来自上述光源的光的透射率变化。
7.根据权利要求1所述的自动分析装置,其特征在于,
上述控制部构成为修正上述光电倍增管的测量值。
8.根据权利要求1所述的自动分析装置,其特征在于,
上述第一光是从试剂发出的光。
9.根据权利要求1所述的自动分析装置,其特征在于,
上述自动分析装置还具备警告部,在照射了上述第一光后的光电倍增管的灵敏度比照射上述第一光之前的光电倍增管的灵敏度大时,该警告部发出警告。
10.根据权利要求1所述的自动分析装置,其特征在于,
上述自动分析装置还具备警告部,在向上述光电倍增管照射上述第二光的照射量的合计值超过了一定的值时,该警告部发出警告。
11.根据权利要求1所述的自动分析装置,其特征在于,
上述控制部在有使上述光电倍增管的灵敏度下降的控制的中断指令的情况下,中断上述第二光的照射。
12.根据权利要求1所述的自动分析装置,其特征在于,
上述自动分析装置还具备存储部,该存储部存储向上述光电倍增管照射上述第二光的照射量。
13.一种自动分析装置的控制方法,该自动分析装置具备光电倍增管,
其特征在于,
向上述光电倍增管照射第一光,该第一光是成为用于评价上述光电倍增管的灵敏度变动的基准的固定强度的光,
判定向上述光电倍增管照射了上述第一光的情况下的上述光电倍增管的输出信号,
根据上述判定的结果,计算目标光量,向上述光电倍增管照射该目标光量的第二光而使上述光电倍增管的灵敏度下降,且在上述光电倍增管的灵敏度达到目标值之前,持续向上述光电倍增管照射上述第二光。
14.根据权利要求13所述的自动分析装置的控制方法,其特征在于,
在向上述光电倍增管照射了上述第二光后,对上述光电倍增管的输出信号和上述目标值进行比较,在上述输出信号比上述目标值大时,继续向上述光电倍增管照射上述第二光,在上述输出信号为上述目标值以下的情况下,结束向上述光电倍增管照射上述第二光。
CN201880075912.1A 2018-01-26 2018-11-19 自动分析装置和自动分析装置的控制方法 Active CN111373267B (zh)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2018011947A JP6836522B2 (ja) 2018-01-26 2018-01-26 自動分析装置、及び自動分析装置の制御方法
JP2018-011947 2018-01-26
PCT/JP2018/042686 WO2019146227A1 (ja) 2018-01-26 2018-11-19 自動分析装置、及び自動分析装置の制御方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN111373267A CN111373267A (zh) 2020-07-03
CN111373267B true CN111373267B (zh) 2023-10-24

Family

ID=67395377

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201880075912.1A Active CN111373267B (zh) 2018-01-26 2018-11-19 自动分析装置和自动分析装置的控制方法

Country Status (5)

Country Link
US (1) US11499983B2 (zh)
EP (1) EP3745138B1 (zh)
JP (1) JP6836522B2 (zh)
CN (1) CN111373267B (zh)
WO (1) WO2019146227A1 (zh)

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2022009577A1 (ja) * 2020-07-06 2022-01-13 Look Tec株式会社 血液測定装置
JP7417117B2 (ja) 2021-06-21 2024-01-18 東亜ディーケーケー株式会社 発光分析装置及び発光分析装置の感度調整方法

Citations (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4523091A (en) * 1982-03-22 1985-06-11 Siemens Gammasonics, Inc. Radiation detecting apparatus with reduced magnetic field sensitivity
JPH03120445A (ja) * 1989-10-04 1991-05-22 Hitachi Ltd 自動蛍光光度測定装置
JPH03132644A (ja) * 1989-10-18 1991-06-06 Fuji Photo Film Co Ltd 放射線画像読取装置の受光感度較正用ランプ光量調整方法および受光感度較正方法
JPH04168348A (ja) * 1990-10-31 1992-06-16 Shimadzu Corp 発光分光分析装置
JPH09243572A (ja) * 1996-03-12 1997-09-19 Hitachi Denshi Ltd 支持体表面検査装置
JPH10311789A (ja) * 1997-05-13 1998-11-24 Nikon Corp 測光装置
JP2000046734A (ja) * 1998-07-28 2000-02-18 Olympus Optical Co Ltd 微量光測定装置
JP2001059939A (ja) * 1999-06-14 2001-03-06 Olympus Optical Co Ltd フォトマルチプライヤの感度調整方法、該感度調整方法を採用した走査型レーザ顕微鏡および感度調整プログラムを記録した記録媒体
JP2001153799A (ja) * 1999-11-29 2001-06-08 Shimadzu Corp 定量分析方法及び定量分析装置
JP2008251460A (ja) * 2007-03-30 2008-10-16 Sony Corp バックライト装置、バックライト制御方法、および液晶表示装置
JP2010175415A (ja) * 2009-01-30 2010-08-12 Hitachi High-Technologies Corp 自動分析装置
JP2010203776A (ja) * 2009-02-27 2010-09-16 Hitachi High-Technologies Corp 表面検査装置及びその校正方法
JP2011058984A (ja) * 2009-09-11 2011-03-24 Hitachi High-Technologies Corp 異物検査装置,検査方法及びプログラム
JP2011137678A (ja) * 2009-12-28 2011-07-14 Hitachi High-Technologies Corp 検査方法及び検査装置
CN104641256A (zh) * 2012-07-31 2015-05-20 西门子公司 X射线辐射的检测和x射线检测器系统
JP6171775B2 (ja) * 2013-09-18 2017-08-02 コニカミノルタ株式会社 イムノアッセイ分析方法およびイムノアッセイ分析装置

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2538338B2 (ja) * 1989-05-30 1996-09-25 キヤノン株式会社 異物検査装置
JPH07159405A (ja) * 1993-12-06 1995-06-23 Olympus Optical Co Ltd 光学的免疫測定方法及びこれに用いられる免疫測定装置
AU5667499A (en) * 1998-07-27 2000-02-21 Ljl Biosystems, Inc. Apparatus and methods for identifying quenching effects in luminescence assays
JP4223186B2 (ja) * 2000-11-17 2009-02-12 富士フイルム株式会社 放射線画像読取方法および装置
US20190346364A1 (en) * 2016-11-18 2019-11-14 Siemens Healthcare Diagnostics Inc. Multiple sequential wavelength measurement of a liquid assay

Patent Citations (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4523091A (en) * 1982-03-22 1985-06-11 Siemens Gammasonics, Inc. Radiation detecting apparatus with reduced magnetic field sensitivity
JPH03120445A (ja) * 1989-10-04 1991-05-22 Hitachi Ltd 自動蛍光光度測定装置
JPH03132644A (ja) * 1989-10-18 1991-06-06 Fuji Photo Film Co Ltd 放射線画像読取装置の受光感度較正用ランプ光量調整方法および受光感度較正方法
JPH04168348A (ja) * 1990-10-31 1992-06-16 Shimadzu Corp 発光分光分析装置
JPH09243572A (ja) * 1996-03-12 1997-09-19 Hitachi Denshi Ltd 支持体表面検査装置
JPH10311789A (ja) * 1997-05-13 1998-11-24 Nikon Corp 測光装置
JP2000046734A (ja) * 1998-07-28 2000-02-18 Olympus Optical Co Ltd 微量光測定装置
JP2001059939A (ja) * 1999-06-14 2001-03-06 Olympus Optical Co Ltd フォトマルチプライヤの感度調整方法、該感度調整方法を採用した走査型レーザ顕微鏡および感度調整プログラムを記録した記録媒体
JP2001153799A (ja) * 1999-11-29 2001-06-08 Shimadzu Corp 定量分析方法及び定量分析装置
JP2008251460A (ja) * 2007-03-30 2008-10-16 Sony Corp バックライト装置、バックライト制御方法、および液晶表示装置
JP2010175415A (ja) * 2009-01-30 2010-08-12 Hitachi High-Technologies Corp 自動分析装置
JP2010203776A (ja) * 2009-02-27 2010-09-16 Hitachi High-Technologies Corp 表面検査装置及びその校正方法
JP2011058984A (ja) * 2009-09-11 2011-03-24 Hitachi High-Technologies Corp 異物検査装置,検査方法及びプログラム
JP2011137678A (ja) * 2009-12-28 2011-07-14 Hitachi High-Technologies Corp 検査方法及び検査装置
CN104641256A (zh) * 2012-07-31 2015-05-20 西门子公司 X射线辐射的检测和x射线检测器系统
JP6171775B2 (ja) * 2013-09-18 2017-08-02 コニカミノルタ株式会社 イムノアッセイ分析方法およびイムノアッセイ分析装置

Also Published As

Publication number Publication date
WO2019146227A1 (ja) 2019-08-01
EP3745138A1 (en) 2020-12-02
EP3745138A4 (en) 2021-09-22
US11499983B2 (en) 2022-11-15
CN111373267A (zh) 2020-07-03
JP2019128330A (ja) 2019-08-01
EP3745138B1 (en) 2024-03-13
JP6836522B2 (ja) 2021-03-03
US20200319218A1 (en) 2020-10-08

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US8628720B2 (en) Automatic analyzer
EP3279624B1 (en) Light quantity detection device, and immunoanalysis device and charged particle beam device using same
CN111373267B (zh) 自动分析装置和自动分析装置的控制方法
EP3182096B1 (en) Calibration and/or error detection in an optical measurement device for biological samples
EP0607941A2 (en) Method and apparatus for detecting fluorescence in sterilization monitors
KR20160087359A (ko) 플라즈마 분광 분석 방법 및 플라즈마 분광 분석 장치
CN108572250B (zh) 确定分析物浓度的方法
JPH03120445A (ja) 自動蛍光光度測定装置
JP2000046734A (ja) 微量光測定装置
EP2103923B1 (en) Automatic analyzer and analysis system using photomultiplier tube
EP1748291B1 (en) Microchip measurement device
CN109946323B (zh) X射线分析装置以及异常检测方法
CN113311014A (zh) 荧光x射线分析装置
JP2020091185A (ja) 分析装置及び分析方法
Harvey A simple stopped-flow photometer
JP2007085804A (ja) 積分型データ演算法におけるチェック機能を備えたデータ処理方法
US11493430B2 (en) Automatic analyzer and optical measurement method
JPH07159405A (ja) 光学的免疫測定方法及びこれに用いられる免疫測定装置
JP7219119B2 (ja) 自動分析装置
JP4221282B2 (ja) 光分析装置及びそれを用いた自動分析装置
CN113252630A (zh) 一种细胞内预定离子的浓度检测方法和系统
WO2024064700A1 (en) Photometric detection of analytes
CN115575319A (zh) 发光分析装置以及发光分析装置的灵敏度调整方法
CN114137234A (zh) 血液细胞分析仪的质量控制方法和血液细胞分析仪
CN114324934A (zh) 自动分析装置、夹具及自动分析装置的校正方法

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant