JP2010171781A - インピーダンス調整回路 - Google Patents

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Abstract

【課題】回路規模が大きい。
【解決手段】本発明は、外付け抵抗器が接続される外部端子と、前記外部端子と第1の電源端子間に並列に接続され、第1の制御信号に応じてインピーダンスを調整することで前記外部端子の電圧を変化させる第1導電型の第1のトランジスタアレイと、前記外部端子と第2の電源端子間に並列に接続され、第2の制御信号に応じてインピーダンスを調整することで前記外部端子の電圧を変化させる第2導電型の第2のトランジスタアレイと、前記外部端子の電圧と基準電圧を比較した結果に応じて、前記第1の制御信号を設定し、前記第1の制御信号の設定する期間と異なる期間に前記第2の制御信号を設定する制御回路と、を有するインピーダンス調整回路である。
【選択図】図1

Description

本発明は、インピーダンス調整回路に関する。
図3に、半導体集積回路が有する出力バッファと、それに接続される伝送線路の模式図を示す。出力バッファは、Zaの出力インピーダンスを有する。伝送線路はZbの特性インピーダンスを有する。もしここで、出力インピーダンスZaと伝送線路のインピーダンスZbとの整合がとれていない場合、出力バッファからの出力信号の反射が生じる。そして、その反射により生じた反射波と出力信号との干渉により伝送されるべき信号の品質が劣化する。このため、半導体集積回路の出力バッファZaと伝送線路のインピーダンスZbを整合させる必要がある。
但し、通常、伝送線路の特性インピーダンスZbは固定である。よって、出力バッファの出力インピーダンスZaを調整し、Zbに近い値に調整する必要がある。図4に従来の出力インピーダンス調整回路1の構成を示す。図4に示すように、出力インピーダンス調整回路1は、レプリカバッファ回路11、21と、制御回路12、22と、コンパレータCMP1、CMP2と、外部端子P1、P2とを有する。
レプリカバッファ回路11は、複数のNMOSトランジスタを有している。これら複数のNMOSトランジスタは、外部端子P1と接地電圧端子VSS間に並列に接続されている。このレプリカバッファ回路11の構成は、出力バッファのプルダウン側回路と同一となっている。つまり、レプリカバッファ回路11は、出力バッファのプルダウン側回路(以下、プルダウンバッファ回路と称す)と同一の出力インピーダンスを有している。
レプリカバッファ回路21は、複数のPMOSトランジスタを有している。これら複数のPMOSトランジスタは、電源電圧端子VDDと外部端子P2間に並列に接続されている。このレプリカバッファ回路21の構成は、出力バッファのプルアップ側回路と同一となっている。つまり、レプリカバッファ回路21は、出力バッファのプルアップ側回路(以下、プルアップバッファ回路と称す)と同一の出力インピーダンスを有している。
コンパレータCMP1は、レプリカバッファ回路11が外部出力端子P1に出力する出力電圧レベルVp1を基準電圧Vrefと比較する。コンパレータCMP2は、レプリカバッファ回路21が外部出力端子P2に出力する出力電圧レベルVp2を基準電圧Vrefと比較する。
制御回路12は、例えばカウンタを有し、コンパレータCMP1の比較結果に応じてカウンタをカウントアップする。そして、そのカウント値に応じて、制御信号CNを出力する。制御回路12は、制御信号CNによりレプリカバッファ回路11が有するNMOSトランジスタを順にオン状態とするような制御を行う。制御回路22も同様に、カウンタを有し、コンパレータCMP2の比較結果に応じて、カウンタをカウントアップする。そして、そのカウント値に応じて、制御信号CPを出力する。制御回路22は、制御信号CPによりレプリカバッファ回路21が有するPMOSトランジスタを順にオン状態とするような制御を行う。
外部端子P1、P2は、それぞれ出力バッファが接続される伝送線路の特性インピーダンスと同じインピーダンスを有するレプリカ抵抗RrepU、RrepDが接続される。なお、レプリカ抵抗RrepUは、電源電圧端子VDDに接続される。レプリカ抵抗RrepDは、接地電圧端子VSSに接続される。
図4の出力インピーダンス調整回路1の動作例を以下に簡単に説明する。なお、基準電圧Vrefは1/2VDDとする。また、初期状態として、レプリカバッファ回路11、21が有するNMOSトランジスタ、PMOSトランジスタは全てオフ状態であるとする。
まず、コンパレータCMP1は、外部出力端子P1の電圧Vp1と、基準電圧Vrefを比較する。そして、電圧Vp1が基準電圧Vrefよりも高い場合、その比較結果を制御回路12へ送る。制御回路12は、比較結果に応じてカウンタをカウントアップし、NMOSトランジスタを順にオン状態にしていく。そして、電圧Vp1の電圧が低下し、電圧Vp1が基準電圧Vrefと同程度となると、コンパレータCMP1からの比較結果を受け、制御回路12は、NMOSトランジスタをオンさせていくのをストップする。この時点でオン状態になっているNMOSトランジスタの数に応じたレプリカバッファ回路11のインピーダンスが、レプリカ抵抗RrepUの抵抗値と同じ値となる。
同様に、コンパレータCMP2は、外部出力端子P2の電圧Vp2と、基準電圧Vrefを比較する。そして、電圧Vp2が基準電圧Vrefよりも低い場合、その比較結果を制御回路22へ送る。制御回路22は、比較結果に応じてカウンタをカウントアップし、PMOSトランジスタを順にオン状態にしていく。そして、電圧Vp2の電圧が上昇し、電圧Vp2が基準電圧Vrefと同程度となると、コンパレータCMP2からの比較結果を受け、制御回路22は、PMOSトランジスタをオンさせていくのをストップする。この時点でオン状態になっているPMOSトランジスタの数に応じたレプリカバッファ回路21のインピーダンスが、レプリカ抵抗RrepDの抵抗値と同じ値となる。
上述したが出力バッファ(不図示)は、レプリカバッファ回路11、12と同じ構成のプルダウンバッファ回路とプルアップバッファ回路を有している。出力インピーダンス調整回路1は、制御回路12、22が保持する制御信号CN、CPを、それぞれプルダウンバッファ回路とプルアップバッファ回路にも送る。よって、出力バッファが、この制御信号CN、CPに応じた、出力インピーダンスを生成することができる。結果として、出力バッファの出力インピーダンスと伝送線路の特性インピーダンスとの整合がとれる。
しかし、上記出力インピーダンス調整回路1には、プルダウン、プルアップ用のインピーダンス調整に端子数が2つ必要になる。近年、半導体集積回路のパッケージの縮小化の要求に応じて、外部端子の削減が求められている。このため、インピーダンス調整に用いられる端子数を削減した技術が特許文献1に記載されている。図5に特許文献1の出力インピーダンス調整回路2の回路構成を示す。
図5に示すように、出力インピーダンス調整回路2は、レプリカバッファ回路11、21a、12bと、制御回路12、22と、コンパレータCMP1、CMP2と、外部端子P2とを有する。なお、図に示された符号のうち、図4と同じ符号を付した構成は、図5と同じか又は類似の構成を示している。なお、レプリカバッファ回路21a、12bは、図4のレプリカバッファ回路21と同様の構成となっている。但し、レプリカバッファ回路21aは電源電圧端子VDDと外部端子P2間に接続され、レプリカバッファ回路21bは電源電圧端子VDDとノードA間に接続されている。また、レプリカバッファ回路21a、12bの両方に、制御回路22が出力する制御信号CPが入力される。一方、レプリカバッファ回路11は、ノードAと接地電圧端子VSS間に接続されている。そして、コンパレータCMP1は、基準電圧VrefとノードAの電圧レベルを比較する。
図5の出力インピーダンス調整回路2の動作例を以下に簡単に説明する。なお、基準電圧Vrefは1/2VDDとする。また、初期状態として、レプリカバッファ回路11、21a、21bが有するNMOSトランジスタ、PMOSトランジスタは全てオフ状態であるとする。
まず、出力インピーダンス調整回路1と同様に、コンパレータCMP2と制御回路22の動作により、レプリカバッファ回路21aのインピーダンスが、外部端子P2に接続されたレプリカ抵抗RrepDと同じ抵抗値となる。制御回路22の制御信号CPは、レプリカバッファ回路21bにも出力されているため、ノードAの電圧レベルが変化する。レプリカバッファ回路11は、コンパレータCMP1と制御回路12によりノードAと基準電圧Vrefの電位が釣り合うよう制御信号CNにより制御される。
そして、外部端子P2とノードAの電位が安定したときの制御信号CN、CPが出力インピーダンス調整回路2から出力バッファ(不図示)に送られ、制御信号CN、CPに応じた出力インピーダンスを出力バッファが生成することができる。
特開2000−59202号公報
しかし、出力インピーダンス調整回路2では、外部端子数の削減は行えたが、制御回路とコンパレータの数は、依然として2つずつ必要であり、回路規模が大きいままであった。
本発明の第1の態様は、外付け抵抗器が接続される外部端子と、前記外部端子と第1の電源端子間に並列に接続され、第1の制御信号に応じてインピーダンスを調整することで前記外部端子の電圧を変化させる第1導電型の第1のトランジスタアレイと、前記外部端子と第2の電源端子間に並列に接続され、第2の制御信号に応じてインピーダンスを調整することで前記外部端子の電圧を変化させる第2導電型の第2のトランジスタアレイと、前記外部端子の電圧と基準電圧を比較した結果に応じて、前記第1の制御信号を設定し、前記第1の制御信号の設定する期間と異なる期間に前記第2の制御信号を設定する制御回路と、を有するインピーダンス調整回路である。
本発明の第2の態様は、外付け抵抗器が接続される外部端子と、前記外部端子と第1の電源端子間に接続される第1導電型の第1のトランジスタアレイと、前記外部端子と第2の電源端子間に接続される第2導電型の第2のトランジスタアレイと、を有するインピーダンス調整回路の調整方法であって、前記外部端子の電圧と基準電圧を比較し、前記第1のトランジスタアレイのインピーダンスを調整し、その後、前記外部端子の電圧と基準電圧を比較し、前記第2のトランジスタアレイのインピーダンスを調整する
インピーダンス調整回路の調整方法である。
本発明のインピーダンス調整回路は、第1のトランジスタアレイと第2のトランジスタアレイのインピーダンスの設定を異なる期間に行う。このため、当該インピーダンス調整回路において、制御回路を複数個必要としない。
本発明の出力インピーダンス調整回路は、外部端子数を削減しつつ、回路規模も同時に削減できる。
実施の形態1にかかる出力インピーダンス調製回路の一例である。 実施の形態2にかかる出力インピーダンス調製回路の一例である。 出力バッファと伝送線路のインピーダンスの関係を説明する模式図である。 従来の出力インピーダンス調製回路である。 従来の出力インピーダンス調製回路である。
発明の実施の形態1
以下、本発明を適用した具体的な実施の形態1について、図面を参照しながら詳細に説明する。図1に本実施の形態1にかかる出力インピーダンス調製回路100の構成の一例を示す。図1に示すように、出力インピーダンス調製回路100は、レプリカバッファ回路110、120、130と、制御回路140と、コンパレータCMP101と、AND回路AND0〜ANDn(n:0もしくは正の整数)と、OR回路OR0〜ORm(m:0もしくは正の整数)と、外部端子P101とを有する。
レプリカバッファ回路110(第1のトランジスタアレイ)は、n+1個のNMOSトランジスタQN10〜QN1nを有している。これらNMOSトランジスタQN10〜QN1nは、外部端子P101と接地電圧端子VSS間に並列に接続されている。NMOSトランジスタQN10〜QN1nのゲート端子は、それぞれAND回路AND0〜ANDnの出力端子に接続されている。なお、このレプリカバッファ回路110の構成は、出力バッファ(不図示)のプルダウン側回路と同一となっている。つまり、レプリカバッファ回路110は、出力バッファのプルダウン側回路(以下、プルダウンバッファ回路と称す)と同一の出力インピーダンスを有している。
レプリカバッファ回路120(第3のトランジスタアレイ)は、レプリカバッファ回路110と同様、n+1個のNMOSトランジスタQN20〜QN2nを有している。これらNMOSトランジスタQN20〜QN2nは、外部端子P101と接地電圧端子VSS間に並列に接続されている。NMOSトランジスタQN20〜QN2nのゲート端子には、制御回路140からの制御信号CN[0:n]が入力される。より詳細に述べると、NMOSトランジスタQN20のゲートには制御信号CN[0]、NMOSトランジスタQN21のゲートには制御信号CN[1]、NMOSトランジスタQN22のゲートには制御信号CN[2]、・・・、NMOSトランジスタQN2nのゲートには制御信号CN[n]が入力される。なお、このレプリカバッファ回路120の構成は、レプリカバッファ回路110と同一となっている。
レプリカバッファ回路130(第2のトランジスタアレイ)は、m+1個のPMOSトランジスタQP0〜QPmを有している。これらPMOSトランジスタQP10〜QPmは、電源電圧端子VDDと外部端子P101間に並列に接続されている。PMOSトランジスタQP0〜QPmのゲート端子は、それぞれOR回路OR0〜ORmの出力端子に接続されている。なお、このレプリカバッファ回路130の構成は、出力バッファのプルアップ側回路と同一となっている。つまり、レプリカバッファ回路130は、出力バッファのプルアップ側回路(以下、プルアップバッファ回路と称す)と同一の出力インピーダンスを有している。
コンパレータCMP101は、一方の入力端子が外部端子P101に接続される。コンパレータCMP101の他方の端子には、基準電圧Vrefが印加されている。よって、コンパレータCMP101は、外部端子P101の電圧レベルVp101を基準電圧Vrefと比較する。そして、そして比較した結果を制御回路140へ送る。より詳細に述べると、コンパレータCMP101は、外部端子P101の電圧レベルが、基準電圧Vrefより低い場合、ハイレベルの信号を出力する。逆に、外部端子P101の電圧レベルが、基準電圧Vrefより高い場合、ロウレベルの信号を出力する。
制御回路140は、例えばカウンタ141を有する。そして、コンパレータCMP101の比較結果に応じてカウント値をカウントアップもしくはカウントダウンする。例えば、コンパレータCMP101からハイレベルの信号を入力すると、クロックCLKごとにカウンタ141のカウント値をアップさせ、逆に、ロウレベルの信号を入力するとクロックCLKごとにカウンタ141のカウント値をカウントダウン、もしくは、ストップさせる。そして、そのカウント値に応じた制御信号CN[0:n](第1の制御信号)またはCP[0:m](第2の制御信号)を出力する。なお、制御回路140は、コンパレータCMP101の比較結果に応じて各制御信号を出力することから、コンパレータCMP101と制御回路140とを1つの制御部CNTL101とみなすこともできる。更に、制御回路140は、イネーブル信号PENをAND回路AND0〜ANDn、インバータ回路IV101に出力する。また、イネーブル信号PENを出力する。なお、イネーブル信号PENは、出力インピーダンス調製回路100の外部の制御回路から入力してもよい。
AND回路AND0〜ANDnは、それぞれ一方の入力端子にイネーブル信号PENを入力する。更に、AND回路AND0〜ANDnは、それぞれ他方の入力端子に制御信号CN[0]〜CN[n]を入力する。AND回路AND0〜ANDnは、それぞれ出力端子がNMOSトランジスタQN10〜QN1nのゲートに接続される。
インバータ回路IV101は、入力端子にイネーブル信号PENを入力する。また、インバータ回路IV101は、出力端子がOR回路OR0〜ORmの一方の入力端子に接続される。インバータ回路IV101は、入力信号であるイネーブル信号PENを反転させた信号PENBを出力する。つまり、OR回路OR0〜ORmの一方の入力端子には、イネーブル信号PENの逆位相の信号PENBが入力されることになる。
OR回路OR0〜ORmは、それぞれ一方の入力端子がインバータ回路IV101の出力端子に接続される。更に、OR回路OR0〜ORmは、それぞれ他方の入力端子に制御信号CP[0]〜CP[m]を入力する。OR回路OR0〜ORmは、それぞれ出力端子がPMOSトランジスタQP0〜QPmのゲートに接続される。
外部端子P101は、出力バッファが接続される伝送線路の特性インピーダンスと同じインピーダンスを有するレプリカ抵抗RrepUが接続される。なお、レプリカ抵抗RrepUは、高精度抵抗である。また、レプリカ抵抗RrepUは、電源電圧端子VDDに接続され、プルアップ抵抗として利用される。なお、便宜上、符号「RrepU」は、抵抗名を示すと同時に、その抵抗値を示すものとする。
次に、以上のような出力インピーダンス調製回路100の動作について説明する。但し、基準電圧Vrefは1/2VDDとする。また、初期状態として、制御信号CN[0:n]、CP[0:m]は、全てハイレベルとする。また、イネーブル信号PENがロウレベルであるものとする。
まず、初期状態としてイネーブル信号PENがロウレベルである。このため、制御信号CN[0:n]のレベルに関わらず、AND回路AND0〜ANDnがNMOSトランジスタQN10〜QN1nのゲートに出力する信号も全てロウレベルとなる。また、イネーブル信号PENの反転信号である反転イネーブル信号PENBは、ハイレベルとなる。よって、制御信号CP[0:m]のレベルに関わらず、OR回路OR0〜ORmがPMOSトランジスタQP0〜QPmのゲートに出力する信号のレベルも全てハイレベルとなる。よって、NMOSトランジスタQN10〜QN1n、PMOSトランジスタQP0〜QPmは全てオフ状態である。
更に、制御信号CN[0:n]が全てハイレベルであるため、NMOSトランジスタQN20〜QN2nは、全てオン状態となっている。ここでレプリカバッファ回路120のインピーダンスは、並列接続されたNMOSトランジスタQN20〜QN2nのオン抵抗の合成抵抗である。よって、このような初期条件下のレプリカバッファ回路120のインピーダンスは非常に低い値となっている。このため、外部端子P101の電位レベルは基準電圧Vref以下に低下している。
外部端子P101の電位レベルは基準電圧Vref以下となっているため、コンパレータCMP101は、例えば、ハイレベルの信号を出力する。このコンパレータCMP101からのハイレベルの信号により、制御回路140のカウンタ141がクロックCLKに同期してカウント値を増加させる。このカウント値の上昇に応じて、制御信号CN[0]〜CN[n]が順にハイレベルからロウレベルに変化する。
更に詳細に説明すると、例えば、カウント値が「0」のときは、制御信号CN[0]〜CN[n]が全てハイレベルであるが、カウント値が「1」に変化すると、制御信号CN[0]がロウレベルとなる。更に、カウント値が「2」に変化すると、制御信号CN[0]、CN[1]がロウレベルとなる。更に、カウント値が「3」に変化すると、制御信号CN[0]〜CN[2]がロウレベルとなる。このように、カウント値がカウントアップするたびに、制御信号CN[0]〜CN[n]のロウレベルとなる信号数が増加する。
そして、このような制御信号CN[0:n]により、NMOSトランジスタQN20〜QN2nが順にオフ状態となる。オフ状態のトランジスタ数が増加することで、レプリカバッファ回路120のインピーダンスが増加する。そして、レプリカバッファ回路120のインピーダンスがレプリカ抵抗RrepUと同じ抵抗値RrepUとなったとき、外部端子P101の電圧Vp101が1/2VDDとなる。よって、電圧Vp101と基準電圧Vrefが釣り合う。そして、コンパレータCMP101の出力信号が反転してロウレベルとなる。制御回路140は、コンパレータCMP101からのロウレベルの信号により、カウンタ141のカウントアップを停止し、このときの制御信号CN[0:n]の値を固定する。なお、カウンタ141の値もリセットされる。
次に、制御回路140は、制御信号CN[0:n]の値を固定した後、イネーブル信号PENをハイレベルにする。イネーブル信号PENがハイレベルとなると、AND回路AND0〜ANDnのNMOSトランジスタQN10〜QN1nのゲートに出力する信号は、制御信号CN[0:n]と同じ値のものとなる。ここで、レプリカバッファ回路110と120は同一の回路構成となっている。よって、レプリカバッファ回路110のインピーダンスも抵抗値RrepUとなる。レプリカバッファ回路110、120のインピーダンスが同一の抵抗値RrepUとなるため、この合成抵抗値は1/2RrepUとなる。よって、再び外部端子P101の電圧Vp101が基準電圧Vrefよりも低下する。
一方、イネーブル信号PENがハイレベルとなると、インバータ回路IV101の出力する反転イネーブル信号PENBはロウレベルとなる。初期状態では制御信号CP[0:m]は、全てハイレベルとなっているため、反転イネーブル信号PENBがロウレベルとなっても、OR回路OR0〜ORmがPMOSトランジスタQP0〜QPmのゲートに出力する信号のレベルも全てハイレベルとなる。よって、NMOSトランジスタQN10〜QN1n、PMOSトランジスタQP0〜QPmは全てオフ状態である。
ここで、上述したように電圧Vp101が基準電圧Vrefよりも低下するため、再びコンパレータCMP101の出力信号がハイレベルとなる。よって、制御回路140のカウンタ141も、再びクロックCLKに同期してカウント値を増加させる。そして、このカウント値の上昇に応じて、制御信号CN[0]〜CN[n]の場合と同様、制御信号CP[0]〜CP[m]が順にハイレベルからロウレベルに変化する。
更に詳細に説明すると、例えば、カウント値が「0」のときは、制御信号CP[0]〜CP[m]が全てハイレベルであるが、カウント値が「1」に変化すると、制御信号CP[0]がロウレベルとなる。更に、カウント値が「2」に変化すると、制御信号CP[0]、CP[1]がロウレベルとなる。更に、カウント値が「3」に変化すると、制御信号CP[0]〜CP[2]がロウレベルとなる。このように、カウント値がカウントアップするたびに、制御信号CP[0]〜CP[m]のロウレベルとなる信号数が増加する。
そして、このような制御信号CP[0:m]により、PMOSトランジスタQP0〜QPmが順にオン状態となる。オン状態のトランジスタ数が増加することで、レプリカバッファ回路130のインピーダンスが減少する。そして、レプリカバッファ回路130のインピーダンスが、レプリカ抵抗RrepUと同じ抵抗値RrepUとなったとき、外部端子P101の電圧Vp101が1/2VDDとなる。これは、レプリカ抵抗RrepUと、レプリカバッファ回路130との合成抵抗が1/2RrepUとなり、レプリカバッファ回路110、120の合成抵抗と同じ値となるからである。よって、電圧Vp101と基準電圧Vrefが釣り合う。そして、コンパレータCMP101の出力信号が反転してロウレベルとなる。制御回路140は、コンパレータCMP101からのロウレベルの信号により、カウンタ141のカウントアップを停止し、このときの制御信号CP[0:m]の値を固定する。なお、カウンタ141の値もリセットされる。
この固定された制御信号CN[0:n]、CP[0:m]が、それぞれプルダウンバッファ回路とプルアップバッファ回路にも送る。よって、出力バッファが、この制御信号CN[0:n]、CP[0:m]に応じた、出力インピーダンスを生成することができる。結果として、出力バッファの出力インピーダンスと伝送線路の特性インピーダンスとの整合をとることが可能となる。
ここで、図4、図5の出力インピーダンス調製回路1、2では、コンパレータ及びカウンタを有する制御回路がそれぞれ2組必要であった。しかし、本実施の形態1の出力インピーダンス調製回路100は、コンパレータCMP101と制御回路140が1組で構成可能である。つまり、コンパレータ及び制御回路が1組でよいため、回路規模の削減が可能となる。更に、外部端子数は、出力インピーダンス調製回路2と同様、1つですむ。このため、外部端子の数も最低限で抑えることができる。
なお、上述した例では、基準電圧Vrefの電圧値を1/2VDDとしたが、これに限らず、例えば、1/3VDD、2/3VDD等であってもよい。また、上述した例では、レプリカバッファ回路110と120は同一構成としたが、それぞれが備えるトランジスタのサイズを異なるようにしてもよい。これにより、同じ制御信号CN[0:n]が入力されてもレプリカバッファ回路110と120で異なるインピーダンスを持つことになる。
発明の実施の形態2
以下、本発明を適用した具体的な実施の形態2について、図面を参照しながら詳細に説明する。図2に本実施の形態2にかかる出力インピーダンス調製回路200の構成の一例を示す。図2に示すように、出力インピーダンス調製回路200は、レプリカバッファ回路110、130と、制御回路140と、コンパレータCMP101と、基準電圧生成回路250と、外部端子P101とを有する。なお、図2に示された符号のうち、図1と同じ符号を付した構成は、図1と同じか又は類似の構成を示している。実施の形態1と異なるのは、コンパレータ101に供給する基準電圧を可変とする基準電圧生成回路250を備え、レプリカバッファ回路120、AND回路群、OR回路群を削除した点である。その他の構成は実施の形態1と同様であるため、本実施の形態2では、上記の異なる点を重点的に説明する。
基準電圧生成回路250は、PMOSトランジスタQP251、QP252と、NMOSトランジスタQN251、QN252と、抵抗R251〜R254と、インバータ回路IV251〜IV253とを有する。
PMOSトランジスタQP251は、ソースが電源電圧端子VDD、ドレインが抵抗R251の一方の端子、ゲートがノードBに接続される。PMOSトランジスタQP252は、ソースが電源電圧端子VDD、ドレインが抵抗R252の一方の端子、ゲートがインバータ回路IV252の出力端子に接続される。NMOSトランジスタQN251は、ドレインが抵抗R253の一方の端子、ソースが接地電圧端子VSS、ゲートがインバータ回路IV251の出力端子に接続される。NMOSトランジスタQN252は、ドレインが抵抗R254の一方の端子、ソースが接地電圧端子VSS、ゲートがインバータ回路IV253の出力端子に接続される。
抵抗R251は、一方の端子がPMOSトランジスタQP251のドレイン、他方の端子がノードAに接続される。抵抗R252は、一方の端子がPMOSトランジスタQP252のドレイン、他方の端子がノードAに接続される。抵抗R253は、一方の端子がNMOSトランジスタQN251のドレイン、他方の端子がノードAに接続される。抵抗R254は、一方の端子がNMOSトランジスタQN252のドレイン、他方の端子がノードAに接続される。抵抗R251と253の抵抗値の比率を1:2とする。抵抗R252と254の抵抗値の比率を2:1とする。
インバータ回路IV251は、入力端子がノードB、出力端子がNMOSトランジスタQN251のゲート及びインバータ回路IV253の入力端子に接続される。インバータ回路IV252は、入力端子がノードB、出力端子がPMOSトランジスタQP252のゲートに接続される。インバータ回路IV253は、入力端子がインバータ回路IV251の出力端子、出力端子がNMOSトランジスタQN252のゲートに接続される。
なお、ノードAは、コンパレータCMP101の他方の端子に接続されている。よって、コンパレータCMP101は、このノードAの電位Vaと、外部端子P101の電圧Vp101とを比較することになる。また、ノードBは、制御回路140からの制御信号PCNが印加される。このため、制御信号PCNがロウレベルの場合、PMOSトランジスタQP251、NMOSトランジスタQN251がオン状態、PMOSトランジスタQP252、NMOSトランジスタQN252がオフ状態となる。逆に、制御信号PCNがハイレベルの場合、PMOSトランジスタQP252、NMOSトランジスタQN252がオン状態、PMOSトランジスタQP251、NMOSトランジスタQN251がオフ状態となる。
レプリカバッファ回路110のNMOSトランジスタQN10〜QN1nは、それぞれのゲートに制御信号CN[0]〜CN[n]が直接入力される。また、レプリカバッファ回路113のPMOSトランジスタQP1〜QPmは、それぞれのゲートに制御信号CP[0]〜CP[m]が直接入力される。
制御回路140は、制御信号PCNをノードBに印加する。そして、制御信号PCNにより、基準電圧生成回路250の生成する基準電圧を制御する。また、実施の形態1と同様、コンパレータCMP101と制御回路140とを1つの制御部CNTL101とみなすことができる。
外部端子P101には、出力バッファが接続される伝送線路の特性インピーダンスと同じインピーダンスを有するレプリカ抵抗RrepU及びRrepDが接続される。レプリカ抵抗RrepU及びRrepDは、共に高精度抵抗である。また、レプリカ抵抗RrepUは電源電圧端子VDD、レプリカ抵抗RrepDは接地電圧端子VSSに接続される。よって、レプリカ抵抗RrepUはプルアップ抵抗、レプリカ抵抗RrepDはプルダウン抵抗として利用される。なお、レプリカ抵抗RrepU、RrepDは、同じ抵抗値を有するものとする。なお、便宜上、符号「R251」〜「R254」「RrepU」「RrepD」は、抵抗名を示すと同時に、その抵抗値を示すものとする。
次に、以上のような出力インピーダンス調製回路200の動作について説明する。なお、初期状態として、制御信号CN[0:n]、CP[0:m]は全てハイレベルとする。
まず、制御回路140は、制御信号PCNをハイレベルとする。制御信号PCNがハイレベルの場合、PMOSトランジスタQP252、NMOSトランジスタQN252がオン状態となる。ここで、R252:R254=2:1のため、ノードAの電位は、1/3VDDとなる。
一方、初期状態で制御信号CN[0:n]は全てハイレベルであるため、NMOSトランジスタQN0〜QNnが全てオン状態となっている。このような初期条件下のレプリカバッファ回路120のインピーダンスは非常に低い値となっている。このため、外部端子P101の電位Vp101は基準電圧である1/3VDD以下に低下している。
外部端子P101の電位レベルは基準電圧1/3VDD以下となっているため、コンパレータCMP101は、例えば、ハイレベルの信号を出力する。このコンパレータCMP101からのハイレベルの信号により、制御回路140のカウンタ141がクロックCLKに同期してカウント値を増加させる。そして、制御回路140は、実施の形態1と同様、カウント値の上昇に応じて、制御信号CN[0]〜CN[n]を順にハイレベルからロウレベルに変化させ、ロウレベルとなる信号数を増加させる。
そして、このような制御信号CN[0:n]により、NMOSトランジスタQN10〜QN1nが順にオフ状態となる。オフ状態のトランジスタ数が増加することで、レプリカバッファ回路110のインピーダンスが増加する。そして、レプリカバッファ回路110のインピーダンスがレプリカ抵抗RrepDと同じ抵抗値RrepDとなったとき、外部端子P101の電圧Vp101が1/3VDDとなる。これは、レプリカ抵抗RrepDとレプリカバッファ回路110との合成抵抗が1/2RrepDとなり、その合成抵抗とレプリカ抵抗RrepUとの抵抗比が2:1となるからである。よって、電圧Vp101とノードAの電圧が釣り合う。そして、コンパレータCMP101の出力信号が反転してロウレベルとなる。制御回路140は、コンパレータCMP101からのロウレベルの信号により、カウンタ141のカウントアップを停止し、このときの制御信号CN[0:n]の値を記憶する。なお、カウンタ141の値はリセットされる。
次に、制御回路140は、CN[0:n]を全てロウレベルとする。よって、外部端子P101の電圧Vp101は、1/2VDDとなる。同時に、制御信号PCNをロウレベルとする。制御信号PCNがロウレベルの場合、PMOSトランジスタQP251、NMOSトランジスタQN251がオン状態となる。ここで、R251:R253=1:2のため、ノードAの電位は、2/3VDDとなる。
一方、制御信号CP[0:m]は、初期状態のまま全てハイレベルであるため、PMOSトランジスタQP0〜QNnが全てオフ状態となっている。よって、電位Vp101(1/2VDD)が基準電圧(2/3VDD)より低い状態となる。このため、再び、コンパレータCMP101は、ハイレベルの信号を出力する。このコンパレータCMP101からのハイレベルの信号により、制御回路140のカウンタ141がクロックCLKに同期してカウント値を増加させる。そして、制御回路140は、実施の形態1と同様、カウント値の上昇に応じて、制御信号CP[0]〜CP[m]を順にハイレベルからロウレベルに変化させ、ロウレベルとなる信号数を増加させる。
そして、このような制御信号CP[0:m]により、PMOSトランジスタQP0〜QPmが順にオン状態となる。オン状態のトランジスタ数が増加することで、レプリカバッファ回路130のインピーダンスが低下する。そして、レプリカバッファ回路130のインピーダンスがレプリカ抵抗RrepUと同じ抵抗値RrepUとなったとき、外部端子P101の電圧Vp101が2/3VDDとなる。これは、レプリカバッファ回路130のインピーダンスとレプリカ抵抗RrepUとの合成抵抗と、その合成抵抗とレプリカ抵抗RrepDとの抵抗値比が1:2となるからである。よって、電圧Vp101とノードAの電圧が釣り合う。そして、コンパレータCMP101の出力信号が反転してロウレベルとなる。制御回路140は、コンパレータCMP101からのロウレベルの信号により、カウンタ141のカウントアップを停止し、このときの制御信号CP[0:m]の値を記憶する。なお、カウンタ141の値はリセットされる。
この記憶された制御信号CN[0:n]、CP[0:m]が、それぞれプルダウンバッファ回路とプルアップバッファ回路に送られる。よって、出力バッファが、この制御信号CN[0:n]、CP[0:m]に応じた、出力インピーダンスを生成することができる。結果として、出力バッファの出力インピーダンスと伝送線路の特性インピーダンスとの整合をとることが可能となる。
本実施の形態2の出力インピーダンス調製回路200は、実施の形態1の出力インピーダンス調製回路100のレプリカ回路120、AND回路AND0〜ANDn、OR回路OR0〜ORmを削減することができる。このため、従来の出力インピーダンス調製回路1、2に対して、更に回路規模を削減することができる利点を有する。
なお、本発明は上記実施の形態に限られたものでなく、趣旨を逸脱しない範囲で適宜変更することが可能である。例えば、実施の形態1、2では、カウンタ141のカウントアップに応じて制御信号CP[0:m]、CN[0:n]により、単にオン状態となるPMOSトランジスタQP0〜QPm、NMOSトランジスタQN0〜QNnの数を増加させるだけであった。しかし、他の実施の形態として、PMOSトランジスタQP0〜QPm、NMOSトランジスタQN0〜QNnの各トランジスタのオン抵抗に制御信号CP[0:m]、CN[0:n]の各桁に応じた桁重みを有するように構成してもよい。レプリカバッファ回路110を例にとると、NMOSトランジスタQN0のオン抵抗値が「R」、NMOSトランジスタQN1のオン抵抗値が「2×R」、NMOSトランジスタQN2のオン抵抗値が「3×R」、・・・、NMOSトランジスタQNnのオン抵抗値が「(n+1)×R」とする。このことにより、カウンタ141の(n+1)ビットのカウント値をそのままCN[0:n]で利用することができる。更に、カウンタ141のカウントアップに応じて単にオン状態となるNMOSトランジスタQN0〜QNnの数を増加させる実施の形態1、2に比べて、NMOSトランジスタQN0〜QNnの数を削減することができる。
100、200 出力インピーダンス調製回路
110、120、130 レプリカバッファ回路
140 制御回路
141 カウンタ
CMP101 コンパレータ
P101 外部端子
RrepU、RrepD レプリカ抵抗
AND0〜ANDn AND回路
OR0〜ORm OR回路
QP0〜QPm、QP251、QP252 PMOSトランジスタ
QN0〜QNn、QN251、QN252 NMOSトランジスタ
IV101、IV251〜IV253 インバータ回路
R251〜R254 抵抗

Claims (11)

  1. 外付け抵抗器が接続される外部端子と、
    前記外部端子と第1の電源端子間に接続され、第1の制御信号に応じてインピーダンスを調整することで前記外部端子の電圧を変化させる第1導電型の第1のトランジスタアレイと、
    前記外部端子と第2の電源端子間に接続され、第2の制御信号に応じてインピーダンスを調整することで前記外部端子の電圧を変化させる第2導電型の第2のトランジスタアレイと、
    前記外部端子の電圧と基準電圧を比較した結果に応じて、前記第1の制御信号を設定し、前記第1の制御信号の設定する期間と異なる期間に前記第2の制御信号を設定する制御部と、
    を有するインピーダンス調整回路。
  2. 前記第2の制御信号の設定は、前記第1の制御信号の設定後に行われる
    請求項1に記載のインピーダンス調整回路。
  3. 前記外部端子と第1の電源端子間に接続される第1導電型の第3のトランジスタアレイを更に有し、
    前記第3のトランジスタアレイは、前記第2の制御信号の設定前に、前記設定された第1の制御信号に応じてインピーダンスを調整する
    請求項2に記載のインピーダンス調整回路。
  4. 前記第3のトランジスタアレイは、前記第1のトランジスタアレイと同一構成である
    請求項3に記載のインピーダンス調整回路。
  5. 前記制御部は、
    前記基準電圧と、前記外部端子の電圧とを比較する比較回路と、
    前記比較回路の比較結果に応じて、前記第1及び第2の制御信号を設定する制御回路と、を有する
    請求項1〜請求項4のいずれか1項に記載のインピーダンス調整回路。
  6. 前記外付け抵抗器は、前記外部端子と前記第2の電源端子間に接続される
    請求項1〜請求項5のいずれか1項に記載のインピーダンス調整回路。
  7. 前記基準電圧を生成する基準電圧生成回路を有し、
    前記基準電圧生成回路は、前記第1の制御信号を設定する期間には、基準電圧を第1の電位とし、前記第2の制御信号を設定する期間には、基準電圧を第2の電位とする
    請求項1に記載のインピーダンス調整回路。
  8. 前記基準電圧生成回路は、前記第1、第2の電源端子間に直列接続される第1、第2の抵抗と、第3、第4の抵抗を有し、
    前記第1の電位は、前記第1、第2の抵抗の抵抗比に応じて生成され、
    前記第2の電位は、前記第3、第4の抵抗の抵抗比に応じて生成される
    請求項7に記載のインピーダンス調整回路。
  9. 前記制御部は、比較回路と制御回路と、を有し、
    前記比較回路は、前記第1の電圧もしくは前記第2の電圧と、前記外部端子の電圧とを比較し、
    前記制御回路は、前記比較回路の前記第1の電圧と前記外部端子の電圧との比較結果に応じて前記第1の制御信号を設定し、前記比較回路の前記第2の電圧と前記外部端子の電圧との比較結果に応じて前記第2の制御信号を設定する
    請求項7もしくは請求項8に記載のインピーダンス調整回路。
  10. 前記外付け抵抗器は、前記外部端子と前記第2の電源端子間に接続される第5の抵抗と、前記外部端子と前記第1の電源端子間に接続される第6の抵抗とを有する
    請求項6〜請求項9のいずれか1項に記載のインピーダンス調整回路。
  11. 外付け抵抗器が接続される外部端子と、
    前記外部端子と第1の電源端子間に接続される第1導電型の第1のトランジスタアレイと、
    前記外部端子と第2の電源端子間に接続される第2導電型の第2のトランジスタアレイと、を有するインピーダンス調整回路の調整方法であって、
    前記外部端子の電圧と基準電圧を比較し、前記第1のトランジスタアレイのインピーダンスを調整し、
    その後、前記外部端子の電圧と基準電圧を比較し、前記第2のトランジスタアレイのインピーダンスを調整する
    インピーダンス調整回路の調整方法。
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2014192592A (ja) * 2013-03-26 2014-10-06 Fujitsu Ltd 信号伝送回路、半導体集積回路、及び信号伝送回路の調整方法
JP2021185648A (ja) * 2020-05-25 2021-12-09 華邦電子股▲ふん▼有限公司Winbond Electronics Corp. インピーダンスキャリブレーション回路
JP2021185650A (ja) * 2020-05-25 2021-12-09 華邦電子股▲ふん▼有限公司Winbond Electronics Corp. インピーダンスキャリブレーション回路

Families Citing this family (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7771115B2 (en) * 2007-08-16 2010-08-10 Micron Technology, Inc. Temperature sensor circuit, device, system, and method
US8692609B2 (en) * 2011-02-25 2014-04-08 Peregrine Semiconductor Corporation Systems and methods for current sensing
US9048824B2 (en) * 2012-12-12 2015-06-02 Intel Corporation Programmable equalization with compensated impedance
CN105453435B (zh) * 2014-04-01 2020-05-05 京微雅格(北京)科技有限公司 一种集成电路芯片及其阻抗校准方法
CN105162329A (zh) * 2014-06-11 2015-12-16 华硕电脑股份有限公司 电子装置及其电源供应器的输出功率的识别方法
CN106158006B (zh) * 2015-04-14 2019-05-17 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 输出缓冲器
CN105786076B (zh) * 2016-05-17 2017-03-08 中国电子科技集团公司第二十四研究所 一种具有输出阻抗自调节功能的mos管共栅共源电流源偏置电路
US10892759B1 (en) * 2020-02-19 2021-01-12 Amazing Microelectronic Corp. Bus driver module with controlled circuit and transition controlled circuit thereof

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6064224A (en) * 1998-07-31 2000-05-16 Hewlett--Packard Company Calibration sharing for CMOS output driver
US7410293B1 (en) * 2006-03-27 2008-08-12 Altera Corporation Techniques for sensing temperature and automatic calibration on integrated circuits
US7423450B2 (en) * 2006-08-22 2008-09-09 Altera Corporation Techniques for providing calibrated on-chip termination impedance
US7486085B2 (en) * 2006-09-13 2009-02-03 Mediatek Inc. Calibration circuit for resistance component
KR100780646B1 (ko) * 2006-10-31 2007-11-30 주식회사 하이닉스반도체 온 다이 터미네이션 장치 및 이를 포함하는 반도체장치.
US7459930B2 (en) * 2006-11-14 2008-12-02 Micron Technology, Inc. Digital calibration circuits, devices and systems including same, and methods of operation
US7598817B2 (en) * 2006-12-27 2009-10-06 Fujitsu Media Devices Limited Oscillator for outputting different oscillation frequencies
US7443193B1 (en) * 2006-12-30 2008-10-28 Altera Corporation Techniques for providing calibrated parallel on-chip termination impedance
JP2008182516A (ja) * 2007-01-25 2008-08-07 Fujitsu Ltd インタフェース回路および半導体集積回路

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2014192592A (ja) * 2013-03-26 2014-10-06 Fujitsu Ltd 信号伝送回路、半導体集積回路、及び信号伝送回路の調整方法
JP2021185648A (ja) * 2020-05-25 2021-12-09 華邦電子股▲ふん▼有限公司Winbond Electronics Corp. インピーダンスキャリブレーション回路
JP2021185650A (ja) * 2020-05-25 2021-12-09 華邦電子股▲ふん▼有限公司Winbond Electronics Corp. インピーダンスキャリブレーション回路
US11296698B2 (en) 2020-05-25 2022-04-05 Winbond Electronics Corp. Impedance calibration circuit

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