JP2010167643A - 微細構造転写装置 - Google Patents

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Abstract

【課題】スタンパや被転写体を破損することなく、同一のスタンパで繰り返し転写を可能とする微細構造転写装置を提供する。
【解決手段】微細な凹凸パターン6が形成されたスタンパ2を被転写体1に接触させ、前記被転写体1の表面に前記スタンパ2の微細な凹凸パターンPを転写する微細構造転写装置A1において、前記被転写体1の外周部の全周を保持する保持機構3を備え、前記被転写体1と前記スタンパ2との距離に対して、前記保持機構3と前記スタンパ2との距離が略等しくなるか、又は前記保持機構3よりも前記被転写体1の方が前記スタンパ2寄りに位置するように、前記保持機構3が前記被転写体1を保持している。
【選択図】図1

Description

本発明は、本発明は、被転写体の表面にスタンパの微細な凹凸形状を転写する微細構造転写装置に関する。
近年、半導体集積回路は微細化が進んでおり、その微細加工を実現するために、例えばフォトリソグラフィ技術によって半導体集積回路のパターンを形成する際にその高精度化が図られている。その一方で、微細加工のオーダが露光光源の波長に近づき、パターンの形成の高精度化は限界を迎えつつある。そのため、さらなる高精度化のために、フォトリソグラフィ技術に代えて荷電粒子線装置の一種である電子線描画技術が用いられるようになった。
しかしながら、電子線描画技術によるパターンの形成は、i線、エキシマレーザ等の光源を使用した一括露光方法によるものと異なって、電子線で描画するパターンが多いほど露光(描画)時間がかかってしまう。したがって、半導体集積回路の集積化が進むにつれてパターンの形成に要する時間が長くなり、スループットが著しく劣ることとなる。
そこで、電子線描画装置によるパターンの形成の高速化を図るために、各種形状のマスクを組み合わせて、それらに一括して電子線を照射する一括図形照射法の開発が進められている。しかしながら、一括図形照射法を使用する電子線描画装置は大型化するとともに、マスクの位置をより高精度に制御する機構がさらに必要となって装置自体のコストが高くなるという問題がある。
また、他のパターンの形成技術として、所定のスタンパを型押ししてその表面形状を転写するインプリント技術が知られている。このインプリント技術は、形成しようとするパターンの凹凸に対応する凹凸が形成されたスタンパを、例えば所定の基板上に樹脂層を形成して得られる被転写体に型押しするものであり、凹凸幅が25nm以下の微細構造を被転写体の樹脂層に形成することができる。ちなみに、このようなパターンが形成された樹脂層(以下「パターン形成層」ということがある)は、基板上に形成される薄膜層と、この薄膜層上に形成される凸部からなるパターンとで構成されている。そして、このインプリント技術は、大容量記録媒体における記録ビットのパターンの形成や、半導体集積回路のパターンの形成への応用が検討されている。例えば、大容量記録媒体用基板や半導体集積回路用基板は、インプリント技術で形成したパターン形成層の凸部をマスクとして、パターン形成層の凹部で露出する薄膜層部分、及びこの薄膜層部分に接する基板部分をエッチングすることで製造することができる。
前記の通り、インプリント技術では、スタンパを被転写体表面の樹脂層に型押しした後、スタンパを剥離することで、被転写体の樹脂層に微細構造が転写する。その際、スタンパ表面やディスク端部を破損させずに、同一スタンパで繰り返し転写を可能とする加圧・剥離機構が必要である。
そこで、下記特許文献1ではスタンパの一部を吸着してスタンパを被転写体の一部から引っ張り上げる方法が提案されている。さらに、特許文献2及び特許文献3では、スタンパと被転写体の隙間に楔を押し込んで隙間を押し広げた後、その後圧縮空気を流入させて、剥離する方法が提案されている。
特開2004−335012号明細書 特開2002−197731号明細書 特開2005−166241号明細書
しかしながら、前記した従来の方法では、スタンパ又は被転写体の一部に局所的に負荷がかかることになり、負荷部がひずんだり破損したりしやすいという問題がある。そのため、従来の方法は、大容量記録媒体用基板のように、同一のスタンパで繰り返し転写を必要とする応用製品の量産に適していないという課題がある。
そこで、本発明は、スタンパや被転写体を破損することなく、同一のスタンパで繰り返し転写を可能とする微細構造転写装置を提供することを課題とする。
前記課題を解決する本発明の微細構造転写装置は、微細な凹凸パターンが形成されたスタンパを被転写体に接触させ、前記被転写体の表面に前記スタンパの微細な凹凸パターンを転写する微細構造転写装置において、前記被転写体の外周部の全周を保持する保持機構を備え、前記被転写体と前記スタンパとの距離に対して、前記保持機構と前記スタンパとの距離が略等しくなるか、又は前記保持機構よりも前記被転写体の方が前記スタンパ寄りに位置するように、前記保持機構が前記被転写体を保持していることを特徴とする。
本発明によれば、スタンパや被転写体を破損することなく、同一のスタンパで繰り返し転写を可能とする微細構造転写装置を提供することができる。
(a)は、第1実施形態に係る微細構造転写装置の構成説明図、(b)は、第1実施形態に係る微細構造転写装置を構成するスタンパを下方から見た模式図、(c)は、第1実施形態に係る微細構造転写装置を構成する保持機構と被転写体の位置関係を上方から見た模式図、(d)は、(a)中のId部の部分拡大図である。 第1実施形態に係る微細構造転写装置のプレートを構成する透明板の平面図であり、(a)は下部透明板の平面図、(b)は上部透明板の平面図である。(c)は、第1実施形態に係る微細構造転写装置を構成する上部ステージの平面図であり、(d)は、第1実施形態に係る微細構造転写装置を構成する下部ステージの平面図である。 (a)から(e)は、第1実施形態に係る微細構造転写装置A1を用いた微細構造転写方法を説明する工程図である。 (a)は、第2実施形態に係る微細構造転写装置の構成説明図、(b)は、(a)中のIVb部の部分拡大図、(c)は、第2実施形態に係る微細構造転写装置を構成する保持機構と被転写体の位置関係を上方から見た模式図である。 (a)から(e)は、第2実施形態に係る微細構造転写装置A2を用いた微細構造転写方法を説明する工程図である。 保持機構を機械的手段で固定した微細構造転写装置の構成説明図である。 被転写体を保持機構で保持する態様を示す模式図である。 実施例1で被転写体の表面に転写した凹凸パターンのSEM写真である。 (a)から(d)は、実施例6で行ったディスクリートトラックメディアの製造方法の工程説明図である。 (a)から(e)は、実施例7で行ったディスクリートトラックメディアの製造方法の工程説明図である。 (a)から(e)は、実施例8で行ったディスクリートトラックメディア用ディスクの製造方法の工程説明図である。 (a)から(e)は、実施例9で行ったディスクリートトラックメディア用ディスクの製造方法の工程説明図である。
(第1実施形態)
次に、本発明の第1実施形態について適宜図面を参照しながら詳細に説明する。ここで参照する図面において、図1(a)は、第1実施形態に係る微細構造転写装置の構成説明図、図1(b)は、第1実施形態に係る微細構造転写装置を構成するスタンパを下方から見た模式図、図1(c)は、第1実施形態に係る微細構造転写装置を構成する保持機構と被転写体の位置関係を上方から見た模式図、図1(d)は、図1(a)中のId部の部分拡大図である。図2(a)及び(b)は、第1実施形態に係る微細構造転写装置のプレートを構成する透明板の平面図であり、(a)は下部透明板の平面図、(b)は上部透明板の平面図である。図2(c)は、第1実施形態に係る微細構造転写装置を構成する上部ステージの平面図であり、図2(d)は、第1実施形態に係る微細構造転写装置を構成する下部ステージの平面図である。なお、以下の説明における上下の方向は、図1(a)に示す上下の方向を基準とする。
図1(a)に示すように、微細構造転写装置A1は、スタンパ2を被転写体1に接触させて、被転写体1の表面にスタンパ2の微細な凹凸パターンPを転写するように構成されている。ちなみに、本実施形態での凹凸パターンPは、ナノメートルのオーダで形成されている。以下の説明において、凹凸パターンの符号Pは省略する。
スタンパ2は、図1(a)に示すように、被転写体1の上方に配置されている。このスタンパ2の被転写体1に面する側には、図1(b)に示すように、パターン形成領域2aが規定されており、このパターン形成領域2aに前記した微細な凹凸パターンが形成されている。
微細な凹凸パターンの形成方法としては、例えば、フォトリソグラフィ、集束イオンビームリソグラフィ、電子ビーム描画法、ナノプリント法等が挙げられる。これらの方法は、形成する凹凸パターンの加工精度に応じて適宜に選択することができる。
本実施形態でのスタンパ2は、円盤状であるが、スタンパ2の形状はこれに限定されるものではなく、平面視で円形、楕円形、多角形等の形状であってもよい。また、スタンパ2には、中心穴が加工されていてもよい。なお、スタンパ2は、被転写体1の所定の領域に微細な凹凸パターンを転写することができれば、被転写体1の形状、表面積と異なった形状、表面積のものであってもよい。
また、スタンパ2の表面には、スタンパ2と後記する光硬化性樹脂7(図3(d)参照)との剥離を促進するために、フッ素系、シリコーン系などの離型処理を施すこともできる。また金属化合物など薄膜を離型層として形成することもできる。
プレート6は、図1(a)に示すように、スタンパ2を保持している。このプレート6は、円盤状の上部透明板6bと、この上部透明板6bと略同径の下部透明板6aとで構成されている。
下部透明板6aには、図2(a)に示すように、環状の真空吸着口5が形成されている。上部透明板6bには、図2(b)に示すように、上部透明板6bを貫通する孔によって真空吸着口5が形成されている。これらの上部透明板6b及び下部透明板6aは、図1(a)に示すように、重ね合わせられることで、相互の真空吸着口5は連通することとなる。そして、図示しない真空ポンプ等の排気手段が真空吸着口5に接続されることで、スタンパ2は、プレート6(下部透明板6a)に真空吸着されて保持されることとなる。
また、本実施形態に係る微細構造転写装置A1を用いた微細構造転写方法では、後記するように、被転写体1に滴下した光硬化性樹脂7にスタンパ2及びプレート6を介して紫外光等の電磁波を照射する必要があることから(図3(d)参照)、スタンパ2及びプレート6の材料として、透明性を有する石英、ガラス及び樹脂等が使用される。
被転写体1は、図1(a)に示すように、スタンパ2と対向するようにスタンパ2の下方に配置されている。被転写体1の材料としては、例えば、シリコン、各種金属材料、ガラス、石英、セラミック、樹脂等が挙げられる。また、被転写体1は、その表面に金属層、樹脂層、酸化膜層等が形成された多層構造体であってもよい。
本実施形態における被転写体1は円盤状であるが、本発明はこれに限定されるものではなく、その形状は、多角形、楕円等であってもよい。また、被転写体1は、中心穴が加工されたものであってもよい。
この被転写体1の表面には、スタンパ2の前記した微細な凹凸パターンが転写される樹脂(例えば、後記する光硬化性樹脂7(図3参照))が付与されることとなる。
被転写体1の外周部には、図1(a)に示すように、外側になるほどスタンパ2から遠ざかるように傾斜部1aが形成されている。具体的には、この傾斜部1aは、被転写体1の外周の角縁が面取りされることで被転写体1の外周部の全周に亘って形成されている。
この被転写体1は、次に説明する保持機構3によって、その傾斜部1aが全周に亘って係止されることで保持されることとなる。
保持機構3は、図1(c)に示すように、被転写体1を囲い込むリング状の部材で形成されている。この保持機構3は、図1(d)に示すように、その内周面3cが被転写体1の傾斜部1aに当接するように傾斜部1aと同じ角度で傾斜して形成されている。
そして、保持機構3の内周面3cは、図1(c)及び(d)に示すように、被転写体1の傾斜部1aと被転写体1の全周に亘って当接することで被転写体1の外周部の全周を保持している。なお、被転写体1に対する保持機構3の当接部分3a(図1(d)参照)は、特許請求の範囲にいう「保持部」に相当する。
また、本実施形態でのリング状の保持機構3は、図1(d)に示す当接部分3aの外側、つまり当接部分3aの周囲に平面部3bが形成されている。この平面部3bは、図1(a)に示すように、スタンパ2と対向している。
このような保持機構3は、図1(a)に示すように、被転写体1とスタンパ2の距離に対して、保持機構3とスタンパ2の距離が略等しくなるように被転写体1を保持している。
また、図示しないが、保持機構3は、被転写体1の方が保持機構3よりもスタンパ2寄りに位置するように、被転写体1を保持していてもよい。この場合、被転写体1と保持機構3の段差は、0.1mm以内程度に設定することができる。なお、段差は、この値に限定されずに、スタンパ2の材料のヤング率に応じて適宜に設定してもよい。
保持機構3に用いる材料としては、例えば、金属、樹脂、弾性体(例えば、ゴム)等が挙げられる。
そして、微細構造転写装置A1は、図1(a)に示すように、保持機構3をステージ4上に保持している。
ステージ4は、被転写体1を載置すると共に、この被転写体1を保持する保持機構3を真空吸着している。ステージ4は、被転写体1を載置する上部ステージ4aと、この上部ステージ4aの下方に配置される下部ステージ4bとを備えている。
上部ステージ4aには、図2(c)に示すように、環状の真空吸着口5が形成されている。下部ステージ4bには、図2(d)に示すように、下部ステージ4bを貫通する孔によって真空吸着口5が形成されている。これらの上部ステージ4a及び下部ステージ4bは、図1(a)に示すように、重ね合わせられることで、相互の真空吸着口5が連通することとなる。そして、図示しない真空ポンプ等の排気手段が真空吸着口5に接続されることで、保持機構3は、ステージ4(上部ステージ4a)に真空吸着されて、被転写体1は、この保持機構3を介してステージ4(上部ステージ4a)上に真空吸着されて保持されることとなる。
このようなステージ4は、プレート6との平行状態を保つように設計されている。そして、ステージ4は、被転写体1とスタンパ2とを平行に加圧、剥離させるために、ステージ4を上下移動可能に構成された昇降機構(図示省略)を備えている。
なお、本実施形態に係る微細構造転写装置A1においては、図1(a)に示すように、スタンパ2の外周部が被転写体1の外周部よりも外側に位置するようになっている。
また、保持機構3の外周部は、スタンパ2のパターン形成領域2aよりも外側に位置するようになっている。
次に、本実施形態に係る微細構造転写装置A1を用いた微細構造転写方法について説明する。ここで参照する図3(a)から(e)は、微細構造転写装置A1を用いた微細構造転写方法を説明する工程図である。
この転写方法では、図3(a)に示すように、予め光硬化性樹脂7を塗布した被転写体1をステージ4上に配置する。
次に、図3(b)に示すように、被転写体1の外側には保持機構3が設置され、この保持機構3がステージ4上に真空吸着口5を介して真空吸着される。
そして、ステージ4が図示しない昇降機構によって上昇すると、図3(c)に示すように、被転写体1がスタンパ2に押し付けられて、光硬化性樹脂7が押し広げられる。なお、スタンパ2と被転写体1とを接触させる際には、スタンパ2と被転写体1の表面とを減圧下又は窒素等のガス雰囲気中にさらした後、スタンパ2と被転写体1とを接触させてもよい。このような条件でスタンパ2と被転写体1とを接触させると、光硬化性樹脂7の硬化が促進される。
光硬化性樹脂7としては、公知のものでよく、樹脂材料に感光性物質を添加したものが挙げられる。この樹脂材料としては、例えば、シクロオレフィンポリマー、ポリメチルメタクリレート、ポリスチレンポリカーボネート、ポリエチレンテレフタレート(PET)、ポリ乳酸、ポリプロピレン、ポリエチレン、ポリビニルアルコール等が挙げられる。
光硬化性樹脂7の塗布方法としては、ディスペンス法や、スピンコート法を使用することができる。ディスペンス法では、光硬化性樹脂7が被転写体1の表面に滴下される。そして、滴下された光硬化性樹脂7は、スタンパ2が被転写体1に接触することで被転写体1の表面に広がる。この際、光硬化性樹脂7の滴下位置が複数の場合、滴下位置の中心間の距離は、液滴の直径よりも広く設定することが望ましい。そして、光硬化性樹脂7を滴下する位置は、形成しようとする微細な凹凸パターンに対応する光硬化性樹脂7の広がりを予め評価しておき、この評価結果に基づいて定めるとよい。光硬化性樹脂7の塗布量は、微細な凹凸パターンが転写されるパターン形成層を形成するのに必要な量と同じか、又は多くなるように調整される。
次いで、図3(d)に示すように、紫外線がプレート6の上方から照射されると、光硬化性樹脂7が硬化する。
そして、図3(e)に示すように、光硬化性樹脂7が硬化した後に、ステージ4が図示しない昇降機構によって降下すると、スタンパ2が被転写体1から剥離される。その結果、被転写体1の表面には、硬化した光硬化性樹脂7からなる層に微細な凹凸パターンが転写される。
次に、本実施形態に係る微細構造転写装置A1の作用効果について説明する。
この微細構造転写装置A1では、従来の転写装置や転写方法(例えば、特許文献1参照)と異なって、被転写体1の外周部の全周を保持機構3が保持すると共に、被転写体1とスタンパ2との距離に対して、保持機構3とスタンパ2との距離が略等しくなっているので、スタンパ2で被転写体1を加圧する際に、被転写体1やスタンパ2への負荷を抑制できる。そして、この微細構造転写装置A1は、被転写体1からスタンパ2を剥離する際に、被転写体1やスタンパ2を破損することなく剥離できる。
また、微細構造転写装置A1は、被転写体1の方が保持機構3よりもスタンパ2寄りに位置するように、保持機構3が被転写体1を保持していても同様の作用効果を奏することができる。
そして、微細構造転写装置A1は、スタンパ2や被転写体1の破損を防止することができるので、同一のスタンパ2で繰り返して転写を行うことが可能となる。
(第2実施形態)
次に、本発明の第2実施形態について適宜図面を参照しながら詳細に説明する。ここで参照する図面において、図4(a)は、第2実施形態に係る微細構造転写装置の構成説明図、図4(b)は、図4(a)中のIVb部の部分拡大図、図4(c)は、第2実施形態に係る微細構造転写装置を構成する保持機構と被転写体の位置関係を上方から見た模式図である。なお、この第2実施形態において、前記第1実施形態と同様の構成要素については同一の符号を付してその詳細な説明は省略する。
図4(a)に示すように、第2実施形態に係る微細構造転写装置A2は、スタンパ2を被転写体1の表裏両面にそれぞれ接触させて、被転写体1の表裏両面にスタンパ2の微細な凹凸パターンを転写するように構成されている。つまり、この微細構造転写装置A2では、被転写体1を挟むように1対のスタンパ2,2が配置されている。これらのスタンパ2,2をそれぞれ保持するための真空吸着口5,5が設けられたプレート6,6が、前記実施形態と同様に配置されている。ちなみに、各プレート6,6は、被転写体1に対してスタンパ2,2のそれぞれを押し付け、または離反させる駆動装置(図示省略)を備えている。また、プレート6,6のそれぞれは、相互に平行移動させる駆動装置(図示省略)を備えていてもよい。このように平行移動させる駆動装置は、スタンパ2,2同士の相対的な位置合わせを可能にする。
また、被転写体1の外周部には、図4(a)及び(b)に示すように、その表裏両面のいずれの側においても、外側になるほどスタンパ2,2から遠ざかるように傾斜部1a,1aが形成されている。言い換えれば、これらの傾斜部1a,1aは、被転写体1の外周の表裏の両角縁が面取りされることで被転写体1の外周部の全周に亘って形成されている。
この被転写体1は、次に説明する一対の保持機構3,3によって、その傾斜部1a,1aが全周に亘って係止されることで保持されることとなる。
微細構造転写装置A2は、図4(a)及び(b)に示すように、リング状の保持機構3を1対備えている。
それぞれの保持機構3は、図4(b)に示すように、その内周面3cが被転写体1の傾斜部1aに当接するように傾斜部1aと同じ角度で傾斜して形成されている。
そして、一対の保持機構3,3は向き合わせに重ね合わせられることで、それらの内周面3c,3cは、図4(a)及び(c)に示すように、被転写体1の表裏の傾斜部1a,1aと、被転写体1の外周部の全周に亘って当接することで被転写体1の全周を保持している。
また、図4(a)に示す保持機構3の平面図3bは、第1の実施形態における保持機構3の平面図3b(図1(a)参照)と同様に、スタンパ2と対向している。
このような保持機構3は、図4(a)に示すように、被転写体1の表裏両面のいずれの側においても、被転写体1とスタンパ2の距離に対して、保持機構3とスタンパ2の距離が略等しくなるように被転写体1を保持している。また、図示しないが、保持機構3は、第1実施形態と同様に、被転写体1の方が保持機構3よりもスタンパ2寄りに位置するように、被転写体1を保持していてもよい。
そして、被転写体1を保持した一対の保持機構3,3は、図4(a)及び(c)に示すように、リング状の保持機構3,3の外周部を上下から挟み込む固定機構9,9で固定されている。ちなみに、本実施形態での保持機構3,3は、ゴム、樹脂等の弾性体で形成されている。なお、本実施形態での固定機構9は、平面視で半円弧状の部材であって、その内周面に保持機構3,3の外周部を受け入れる溝が形成されているが、保持機構3,3同士を重ね合わせた状態を維持することができれば、固定機構9の構造や材料に制限はない。
次に、本実施形態に係る微細構造転写装置A2を用いた微細構造転写方法について説明する。ここで参照する図5(a)から(e)は、微細構造転写装置A2を用いた微細構造転写方法を説明する工程図である。
この転写方法では、図5(a)に示すように、一対の保持機構3,3で保持された被転写体1の両面に光硬化性樹脂7が滴下される。そして、被転写体1を保持した保持機構3,3の外周部が固定機構9,9で固定される。
次に、図5(b)に示すように、保持機構3,3で保持された被転写体1が、一対のプレート6,6のそれぞれに固定されたスタンパ2,2の間に位置するように搬送される。
そして、図5(c)に示すように、スタンパ2,2のそれぞれが、被転写体1の表裏両面に押し当てられることで、光硬化性樹脂7が被転写体1の表裏両面に押し広げられる。
この転写方法では、図5(d)に示すように、プレート6,6のそれぞれの裏面より紫外線が照射されることで、光硬化性樹脂7が硬化する。
そして、光硬化性樹脂7が硬化した後、図5(e)に示すように、2枚のスタンパ2,2が被転写体1から剥離されると、被転写体1の表裏両面には、硬化した光硬化性樹脂7からなる層に微細な凹凸パターンが転写される。
このような微細構造転写装置A2によれば、前記した微細構造転写装置A1と同様の作用効果を奏すると共に、被転写体1の両面に微細な凹凸パターンを転写することができる。そして、微細構造転写装置A2では、被転写体1の表裏両面のそれぞれからスタンパ2,2が押し当てられるので、被転写体1及びスタンパ2,2の破損を更に確実に防止することができる。
以上、本発明の第1実施形態及び第2実施形態について説明したが、本発明は前記実施形態に限定されず、種々の形態で実施することができる。なお、以下の他の実施形態において、前記した第1実施形態及び第2実施形態と同様の構成要素については同一の符号を付してその詳細な説明は省略する。
前記第1実施形態では、保持機構3を真空吸着によってステージ4に固定しているが、本発明はこの固定方法に制限はない。ここで参照する図6は、保持機構を機械的手段で固定した微細構造転写装置の構成説明図である。
図6に示すように、この微細構造転写装置A3は、保持機構3を上下移動可能に構成された昇降機構8を備えている。なお、図6中、符号4は、ステージであり、符号4aは、上部ステージであり、符号4bは、下部ステージであり、符号5は、真空吸着口であり、符号6は、プレートであり、符号6aは、上部透明板であり、符号6bは、下部透明板である。
また、本発明では、静電チャックや磁力等の他の手段で保持機構3を固定するものであってもよい。
また、前記第1実施形態及び前記第2実施形態では、被転写体1を直に保持機構3で保持しているが、本発明は被転写体1と保持機構3との間に他の部材を配置してもよい。ここで参照する図7は、被転写体を保持機構で保持する態様を示す模式図である。
図7に示すように、被転写体1は、保持機構3よりもヤング率の低い弾性部材10を介して保持機構3に保持されている。この弾性部材10は、保持機構3よりもヤング率の低い、ゴム、樹脂等で形成することができる。ちなみに、図7中の符号11は、被転写体1の搬送時に使用する搬送治具である。
また、図7に示す弾性部材に限らず、他の部材は、熱膨張率の高い材料であってもよい。この部材によれば、これを被転写体と保持機構3との間に配置し、加熱によって膨張させることで、被転写体1を保持機構3に固定することができ、逆に、冷却によって収縮させることで被転写体1を保持機構3から取り外すことができる。
また、前記第1実施形態では、被転写体1に付与する樹脂として光硬化性樹脂7を使用したが、本発明はこれに限定されるものではなく、光硬化性樹脂7が熱硬化性樹脂や熱可塑性樹脂等の他の樹脂であってもよい。
ちなみに、熱可塑性樹脂を使用する場合には、被転写体1にスタンパ2を押し付ける前における被転写体1の温度は、熱可塑性樹脂のガラス転移温度以上とする。そして、スタンパ2を押し付けた後に被転写体1とスタンパ2とを冷却することで、硬化した熱可塑性樹脂からなる層に微細な凹凸パターンが転写される。
また、熱硬化性樹脂を使用する場合には、被転写体1とスタンパ2との間に熱硬化性樹脂を挟み込んだ後に、これを重合温度条件にて保持することで、硬化した熱硬化性樹脂からなる層に微細な凹凸パターンが転写される。
また、前記第1実施形態及び前記第2実施形態では、スタンパ2を保持するプレート6を下部透明板6aと上部透明板6bとで構成したが、本発明は単数の透明板で構成してもよい。この際、紫外光が被転写体1の表面に照射されることを妨げないように、その配置に注意する必要がある。また、真空吸着口5を切削で加工する際に、加工面が透明となるよう研磨処理を施すことが望ましい。
また、前記第1実施形態及び前記第2実施形態では、被転写体1として非透明性部材を使用することを想定して微細構造転写装置A1,A2を構成しているが、本発明は被転写体1が光透過性を有するものであってもよい。このような被転写体1を使用した微細構造転写装置は、ステージ4の材料を、光透過性を有するものにすることで、ステージ4の下方から紫外光を照射することによって、光硬化性樹脂7を硬化することができる。
また、前記第1実施形態及び前記第2実施形態では、スタンパ2及びプレート6の材料が光透過性を有するものであることを想定しているが、被転写体1に付与する樹脂に熱硬化性樹脂や熱可塑性樹脂等を使用する場合には、スタンパ2及びプレート6の材料は、例えば、シリコンやニッケル等のように光透過性を有しないものであってもよい。
また、前記第2実施形態では、スタンパ2,2のそれぞれが、被転写体1を上下から挟み込むように配置されているが、本発明は被転写体1を立てて配置すると共に、スタンパ2,2のそれぞれが左右から被転写体1を挟み込む構成であってもよい。
以上のような本実施形態に係る微細構造転写装置A1,A2,A3によって微細構造体(微細な凹凸パターン)が転写された被転写体1は、磁気記録媒体や光記録媒体等の情報記録媒体に適用可能である。また、この被転写体1は、大規模集積回路部品や、レンズ、偏光板、波長フィルタ、発光素子、光集積回路等の光学部品、免疫分析、DNA分離、細胞培養等のバイオデバイスへの適用が可能である。
次に、実施例を示しながら本発明をさらに具体的に説明する。
(実施例1)
実施例1では、図1に示す微細構造転写装置A1を使用した。
プレート6は、直径200mm、厚さ50mmの石英製の2枚の下部透明板6a及び上部透明板6bで構成した。
スタンパ2は、直径150mm、厚さ0.5mmの石英基板を使用した。スタンパ2の表面の直径110mmのパターン形成領域2aには、周知の電子線直接描画法によって、幅50nm、深さ80nmの溝がピッチ100nmで同心円状に連続する微細な凹凸パターンを形成した。
被転写体1は、直径100mm、厚さ0.7mmのガラス基板を使用した。被転写体1の外周部には、幅0.15mm、傾斜角45度の傾斜部1aが形成された。
保持機構3は、厚さ0.69mm、外径150mm、内径99.9mmとなるように加工したステンレス製のリング状の部材を使用した。そして、内周面3cは、傾斜部1aと当接するように、傾斜角45度の傾斜面とした。被転写体1の傾斜部1aと保持機構3の内周面3cとを合わせて固定し、保持機構3をステンレス製のステージ4上に真空吸着で固定した。
被転写体1の表面に付与した光硬化性樹脂7は、感光性物質を添加したアクリレート系樹脂であり、粘度が4mPa・sになるように調合した。光硬化性樹脂7は、ノズルが512(256×2列)個配列されたピエゾ方式のヘッドで被転写体1の表面に滴下した。ヘッドのノズル間隔は、列方向に70μm、列間140μmであった。
各ノズルの光硬化性樹脂7の吐出される液滴を約5pLとなるように制御した。滴下ピッチは、半径方向に140μm、周回方向に280μmとなるように設定した。
被転写体1に光硬化性樹脂7を滴下した後、これに対してスタンパ2を0.2MPaで5秒間加圧した。さらにプレート6の裏面から200mJ/cmの紫外光を照射した。そして、硬化した光硬化性樹脂7を有する被転写体1からスタンパ2を剥離した。
微細構造転写装置A1から取り出した被転写体1の表面をSEMにて観察した。その結果、被転写体1の表面には、厚さ10nmの樹脂層上に、スタンパ2の微細な凹凸パターンに対応する、幅50nm、深さ80nm、ピッチ100nmの溝パターンが確認された。図8は、実施例1で被転写体の表面に転写した凹凸パターンのSEM写真である。
そして、この微細構造転写装置A1を使用してさらに同様の条件で、100回連続して転写が繰り返されたが、被転写体1とスタンパ2は、共に破損しなかった。
(実施例2)
実施例2では、図6に示す微細構造転写装置A3を使用した他は、実施例1と同様に、被転写体1にスタンパ2の微細な凹凸パターンを転写した。
実施例1と同様の条件で、100回連続して転写を繰り返したが、被転写体1とスタンパ2は、共に破損しなかった。
(実施例3)
実施例3では、図4(a)に示す微細構造転写装置A2を使用して被転写体1の表裏両面にスタンパ2,2のそれぞれの微細な凹凸パターンを転写した。
被転写体1には、直径65 mm、厚さ0.6 mmのガラス基板が使用された。被転写体1の外周部における表裏両面のいずれ側にも、幅0.15 mm、傾斜角45度の傾斜部1aを形成した。
保持機構3,3には、外径100mm、厚さ0.29mmのステンレス製のものを使用した。また、保持機構3,3は、その中心から内径64.7mmの範囲で中心孔を形成し、内周面3c,3cを45度で傾斜するように形成した。
固定機構9は、ゴム製のものを使用した。
このような微細構造転写装置A2を用いて被転写体1の両面に、実施例1と同様の微細な凹凸パターンを転写した。その結果、被転写体1の表裏両面には、厚さ10nmの樹脂層上に、スタンパ2の微細な凹凸パターンに対応する、幅50nm、深さ80nm、ピッチ100nmの溝パターンが形成された。
実施例1と同様の条件で、100回連続して転写を繰り返したが、被転写体1とスタンパ2,2は、共に破損しなかった。
(実施例4)
実施例4では、図7に示す弾性部材10を介して保持機構3で保持された被転写体1を使用した。
被転写体1には、実施例3で使用した被転写体1と同様のものを使用した。
保持機構3は、内径66mm、外径100mm、厚さ0.59mmとなるように加工したリング状のステンレス製のものを使用した。
弾性部材10は、厚さ0.59mm、外径66mm、内径64mmとなるように加工したリング状のゴム製のものを使用した。その内周部には、被転写体1の外周部を嵌め込む溝を形成した。
そして、実施例4では、図7に示す弾性部材10を介して保持機構3で保持された被転写体1を使用した以外は、実施例3と同様に、微細構造転写装置A2を用いて被転写体1の両面に、実施例1と同様の微細な凹凸パターンを転写した。その結果、被転写体1の表裏両面には、厚さ10nmの樹脂層上に、スタンパ2の微細な凹凸パターンに対応する、幅50nm、深さ80nm、ピッチ100nmの溝パターンが形成された。
実施例3と同様の条件で、100回連続して転写を繰り返したが、被転写体1とスタンパ2,2は、共に破損しなかった。
(実施例5)
実施例5では、実施例1の微細構造転写装置A1を使用して大容量記磁気録媒体(ディスクリートトラックメディア)用の微細パターンを転写したものを作製した。
ここでは、被転写体1として直径65mm、厚さ0.63mm、中心穴径20mmの磁気記録媒体用ガラス基板を使用した。
被転写体1の表面には、実施例1と同様に、スタンパ2の微細パターンに対応する、幅50nm、深さ80nm、ピッチ100nmの溝パターンが形成された。
さらに同様の条件で、100回連続して転写を繰り返したところ、被転写体1とスタンパ2とは共に破損しなかった。
(実施例6)
実施例6では、実施例1の微細構造転写装置A1を使用したディスクリートトラックメディアの製造方法について適宜図面を参照しながら説明する。参照する図面において、図9(a)から(d)は、実施例6で行ったディスクリートトラックメディアの製造方法の工程説明図である。
図9(a)に示すように、ガラス製の基板22上に、スタンパ2の表面形状が転写された光硬化性樹脂からなるパターン形成層21を有するものを準備した。
次に、パターン形成層21をマスクとして、周知のドライエッチング法でガラス製の基板22の表面を加工した。その結果、図9(b)に示すように、ガラス製の基板22の表面には、パターン形成層21のパターンに対応する凹凸が削り出された。なお、ここでのドライエッチングにはフッ素系ガスを用いた。また、ドライエッチングは、パターン形成層21の薄層部分を酸素プラズマエッチングで除去した後、フッ素系ガスで露出したガラス製の基板22をエッチングするように行ってもよい。
次に、図9(c)に示すように、凹凸が形成されたガラス製の基板22には、プリコート層、磁区制御層、軟磁性下地層、中間層、垂直記録層及び保護層からなる磁気記録媒体形成層23がDCマグネトロンスパッタリング法(例えば、特開2005−038596号公報参照)により形成された。なお、ここでの磁区制御層は非磁性層及び反強磁性層で形成されている。
次に、図9(d)に示すように、磁気記録媒体形成層23上には、非磁性体27を付与することで、ガラス製の基板22の表面を平坦化した。その結果、面記録密度200GbPsi相当のディスクリートトラックメディアM1が得られた。
(実施例7)
実施例7では、本発明の微細構造転写方法を使用したディスクリートトラックメディアの製造方法について適宜図面を参照しながら説明する。ここで参照する図面において、図10(a)から(e)は、実施例7で行ったディスクリートトラックメディアの製造方法の工程説明図である。
実施例7では実施例4で得られたパターン形成層21を有するガラス製の基板22に代えて、次のような基板を準備した。
図10(a)に示すように、ガラス製の基板22上に軟磁性下地層25が形成されたものである。
そして、図10(b)に示すように、軟磁性下地層25上には、実施例1と同様にしてスタンパ2の表面形状が転写された光硬化性樹脂からなるパターン形成層21を形成した。
次に、パターン形成層21をマスクとして、周知のドライエッチング法で軟磁性下地層25の表面を加工した。その結果、図10(c)に示すように、軟磁性下地層25の表面にはパターン形成層21のパターンに対応する凹凸が削り出された。なお、ここでのドライエッチングにはフッ素系ガスを用いた。
次に、図10(d)に示すように、凹凸が形成された軟磁性下地層25の表面には、プリコート層、磁区制御層、軟磁性下地層、中間層、垂直記録層及び保護層からなる磁気記録媒体形成層23が、DCマグネトロンスパッタリング法(例えば、特開2005−038596号公報参照)により形成された。なお、ここでの磁区制御層は非磁性層及び反強磁性層で形成されている。
次に、図10(e)に示すように、磁気記録媒体形成層23上には、非磁性体27を付与することで軟磁性下地層25の表面を平坦化した。その結果、面記録密度200GbPsi相当のディスクリートトラックメディアM2が得られた。
(実施例8)
実施例8では、本発明の微細構造転写方法を使用したディスクリートトラックメディア用ディスクの製造方法について適宜図面を参照しながら説明する。ここで参照する図面において、図11(a)から(e)は、実施例8で行ったディスクリートトラックメディア用ディスクの製造方法の工程説明図である。
図11(a)に示すように、ガラス製の基板22の表面に、予めノボラック系の樹脂材料を塗布して平坦層26を形成した。この平坦層26は、スピンコート法や平板で樹脂を押し当てる方法が挙げられる。
次に、図11(b)に示すように、平坦層26上にパターン形成層21を形成した。このパターン形成層21は、平坦層26上にシリコンを含有させた樹脂材料を塗布し、本発明の微細構造転写方法によって形成したものである。
そして、図11(c)に示すように、パターン形成層21の薄層部分を、フッ素系ガスを使用したドライエッチングで除去した。
次に、図11(d)に示すように、残されたパターン形成層21部分をマスクとして酸素プラズマエッチングで平坦層26を除去した。
そして、フッ素系ガスでガラス製の基板22の表面をエッチングして残されたパターン形成層21を取り除くことで、図11(e)に示すように、面記録密度200GbPsi相当のディスクリートトラックメディアに使用されるディスクM3が得られた。
(実施例9)
実施例9では、本発明の微細構造転写方法を使用したディスクリートトラックメディア用ディスクの製造方法について適宜図面を参照しながら説明する。ここで参照する図面において、図12(a)から(e)は、実施例9で行ったディスクリートトラックメディア用ディスクの製造方法の工程説明図である。
図12(a)に示すように、ガラス製の基板22の表面に感光性物質を添加したアクリレート系樹脂を塗布するとともに、本発明の微細構造転写方法を使用してガラス製の基板22上にパターン形成層21を形成した。本実施例では、形成しようとするパターンと凹凸が反転した凹凸を有するパターンをガラス製の基板22上に形成した。
次に、図12(b)に示すように、パターン形成層21の表面には、シリコン及び感光性物質を含む樹脂材料を塗布して平坦層26を形成した。平坦層26の形成方法としては、スピンコート法や平板で樹脂を押し当てる方法が挙げられる。
そして、図12(c)に示すように、平坦層26の表面がフッ素系ガスでエッチングされると、パターン形成層21の最上面が露出する。
次いで、図12(d)に示すように、残った平坦層26をマスクとしてパターン形成層21を酸素プラズマエッチングで除去してガラス製の基板22の表面を露出させた。
そして、図12(e)に示すように、露出したガラス製の基板22の表面をフッ素系ガスでエッチングすることで面記録密度200GbPsi相当のディスクリートトラックメディアに使用されるディスクM4が得られた。
(比較例1)
比較例1では、保持機構3を有しない以外は実施例1での微細構造転写装置A1と同様の装置を使用して実施例1と同様の方法で転写を行った。しかしながら、転写20回目でスタンパ2の表面が破損した。
(比較例2)
比較例2では、被転写体の外周部の全周ではなく、その3割程度を保持機構で保持するようにした以外は実施例1での微細構造転写装置A1と同様の装置を使用して実施例1と同様の方法で転写を行った。しかしながら、転写1回目の剥離時に被転写体1の端部が破損した。
1 被転写体
1a 傾斜部
2 スタンパ
2a パターン形成領域
3 保持機構
3a 当接部分(保持部)
3b 平面部
4 ステージ
4a 上部ステージ
4b 下部ステージ
6 プレート
6a 下部透明板
6b 上部透明板
7 光硬化性樹脂
8 昇降機構
9 固定機構
10 弾性部材
21 パターン形成層
22 基板
A1 微細構造転写装置
A2 微細構造転写装置
A3 微細構造転写装置

Claims (7)

  1. 微細な凹凸パターンが形成されたスタンパを被転写体に接触させ、前記被転写体の表面に前記スタンパの微細な凹凸パターンを転写する微細構造転写装置において、
    前記被転写体の外周部の全周を保持する保持機構を備え、
    前記被転写体と前記スタンパとの距離に対して、前記保持機構と前記スタンパとの距離が略等しくなるか、又は前記保持機構よりも前記被転写体の方が前記スタンパ寄りに位置するように、前記保持機構が前記被転写体を保持していることを特徴とする微細構造転写装置。
  2. 請求項1に記載の微細構造転写装置において、
    前記保持機構は、前記被転写体の外周部を保持する保持部と、この保持部の周囲に形成されて前記スタンパと対向する平面部とを備えることを特徴とする微細構造転写装置。
  3. 請求項1に記載の微細構造転写装置において、
    前記スタンパの外周部が前記被転写体の外周部よりも外側にあることを特徴とする微細構造転写装置。
  4. 請求項1に記載の微細構造転写装置において、
    前記保持機構の外周部が前記スタンパのパターン形成領域よりも外側にあることを特徴とする微細構造転写装置。
  5. 請求項1に記載の微細構造転写装置において、
    前記被転写体の外周部には、外側になるほど前記スタンパから遠ざかるように傾斜部が形成されており、
    前記保持機構は、前記傾斜部を係止することで前記被転写体を保持することを特徴とする微細構造転写装置。
  6. 請求項1に記載の微細構造転写装置において、
    前記被転写体は、前記被転写体及び前記保持機構よりもヤング率の低い弾性部材を介して前記保持機構に保持されていることを特徴とする微細構造転写装置。
  7. 微細な凹凸パターンが形成されたスタンパを被転写体の表裏両面にそれぞれ接触させ、前記被転写体の表裏両面に前記スタンパの微細な凹凸パターンを転写する微細構造転写装置において、
    前記被転写体の外周部の全周を保持する保持機構を備え、
    前記表裏両面のいずれの側においても、前記被転写体と前記スタンパの距離と、前記保持機構と前記スタンパの距離とが略等しくなるか、又は前記保持機構よりも前記被転写体の方が各スタンパ寄りに位置するように、前記保持機構が前記被転写体を保持していることを特徴とする微細構造転写装置。
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