JP2010122409A - フォトマスクブランク及びその製造方法並びにフォトマスクの製造方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】透光性基板上に、転写パターンを形成するための薄膜を成膜して薄膜付き基板を作製し、次いで該薄膜付き基板を加圧処理するフォトマスクブランクの製造方法である。上記加圧処理は、たとえば冷間等方圧加圧法により、1000〜10000気圧の範囲内で行う。
【選択図】図1
Description
また、近年では、モリブデンシリサイド化合物を含む材料を遮光膜として用いたバイナリマスクなども出現している。
一つは、フォトマスクブランクのレジスト膜の薄膜化を進める際、例えば遮光膜の加工時間が1つの大きな制限事項となっていることである。遮光膜の材料としては、一般にクロムが用いられ、クロムのドライエッチング加工では、エッチングガスに塩素ガスと酸素ガスの混合ガスが用いられている。レジストパターンをマスクにして遮光膜をドライエッチングでパターニングする際、レジストは有機膜でありその主成分は炭素であるので、ドライエッチング環境である酸素プラズマに対しては非常に弱い。遮光膜をドライエッチングでパターニングする間、その遮光膜上に形成されているレジストパターンは十分な膜厚で残っていなければならない。一つの指標として、マスクパターンの断面形状を良好にするために、ジャストエッチングタイムの2倍(100%オーバーエッチング)程度を行っても残存するようなレジスト膜厚にしなければならない。例えば、一般には、遮光膜の材料であるクロムと、レジスト膜とのエッチング選択比は1以下となっているので、レジスト膜の膜厚は、遮光膜の膜厚の2倍以上の膜厚が必要となることになる。従って、レジスト膜を薄膜化するためには、遮光膜の加工時間を短くする必要があるが、そのためには遮光膜の薄膜化が重要な課題である。
液浸露光は、ウェハと露光装置の最下レンズとの間を液体で満たすことで、屈折率が1の空気の場合に比べて、液体の屈折率倍にNAを高められるため、解像度を向上できる露光方法である。開口数(NA:NumericalAperture)は、NA=n×sinθで表される。θは露光装置の最下レンズの最も外側に入る光線と光軸とがなす角度、nはウェハと露光装置の最下レンズとの間における媒質の屈折率である。
このため、パターン側壁の高さを低くする必要がある、すなわち、遮光膜の薄膜化が必要となる。
本発明者の検討によれば、このような問題の背景は次のように推察される。従来は、例えばヘイズが発生するとヘイズを除去するための洗浄を行っていたが、洗浄による膜減り(溶出)は避けられず、いわば洗浄回数がマスク寿命を決定していた。しかし、近年のヘイズの改善によって洗浄回数が低減したため、マスクの繰返し使用期間が延び、その分露光時間も延びたため、特にArFエキシマレーザーなどの短波長光に対する耐光性の問題が新たに顕在化してきた。
本発明者は、繰返し使用によって透過率や位相差変化が生じた位相シフトマスクの位相シフト膜パターンを調べた結果、MoSi膜の表層側にSiO2を含む変質層が出来ており、これが透過率や位相差の変化、線幅の変化(太り)の主な原因のひとつであることが判明した。そして、このような変質層が生じる理由は次のように考えられる。すなわち、従来のスパッタ成膜されたMoSi膜(位相シフト膜)は構造的には隙間があり、成膜後にアニールしたとしてもMoSi膜の構造の変化が小さいため、フォトマスクの使用過程においてこの隙間にたとえば酸素や水等が入り込んで表層側に変質層が生成され、露光光(特にArFなどの短波長光)の照射によって変質層の厚みが次第に大きくなる(MoSi膜中での変質層の占める割合が大きくなる)ものと考えられる。この酸化変質層が発生する現象は、酸素をオゾンに変化させるのに必要なエネルギーを有するArFエキシマレーザ等の短波長の露光光の場合に顕著に確認される。
すなわち、上記課題を解決するため、本発明は以下の構成を有する。
(構成1)透光性基板上に、転写パターンを形成するための薄膜を有するフォトマスクブランクであって、前記薄膜を4000気圧で加圧したとき、加圧前後における薄膜の膜厚の減少率が2%以下であることを特徴とするフォトマスクブランクである。
(構成2)透光性基板上に、転写パターンを形成するための薄膜を有するフォトマスクブランクの製造方法であって、前記透光性基板上に前記薄膜を成膜して薄膜付き基板を作製し、次いで該薄膜付き基板を加圧処理することを特徴とするフォトマスクブランクの製造方法である。
(構成4)前記フォトマスクブランクは、波長200nm以下の露光光を露光光源とする露光装置に用いられるフォトマスクを製造するためのフォトマスクブランクであることを特徴とする構成2又は3に記載のフォトマスクブランクの製造方法である。
(構成6)前記薄膜は、遷移金属シリサイドの化合物を含む材料からなる遮光膜であることを特徴とする構成2乃至4のいずれか一項に記載のフォトマスクブランクの製造方法である。
(構成7)前記遷移金属シリサイドは、モリブデンシリサイドであることを特徴とする構成5又は6に記載のフォトマスクブランクの製造方法である。
(構成9)構成1乃至8のいずれかに記載のフォトマスクブランクにおける前記薄膜を、エッチングによりパターニングする工程を有することを特徴とするフォトマスクの製造方法である。
(構成10)透光性基板上に、転写パターンを有するフォトマスクの製造方法であって、前記透光性基板上に薄膜を形成してフォトマスクブランクを作製し、前記薄膜を、エッチングによりパターニングして転写パターンを作製し、次いで転写パターンを加圧処理することを特徴とするフォトマスクの製造方法である。
(構成11)冷間等方圧加圧法により、1000〜10000気圧の範囲内で加圧処理することを特徴とする構成10に記載のフォトマスクの製造方法である。
本発明によれば、透光性基板上に薄膜を成膜して作製した薄膜付き基板を加圧処理することによって、薄膜が押しつぶされて膜構造が密になる(膜密度が高まる)ため、上述の酸素や水等による攻撃を受け難くなり、従来のような変質層が生成されるのを抑制できる。そのため、ArFなどの短波長光を露光光源としてフォトマスクの繰返し使用を行っても、例えば位相シフト膜の透過率や位相差の変化、線幅変化などを抑えられる。また、耐薬性や耐温水性も向上する。
また、構成1にあるように、本発明に係る透光性基板上に転写パターンを形成するための薄膜を有するフォトマスクブランクは、前記薄膜を4000気圧で加圧したとき、加圧前後における薄膜の膜厚の減少率が2%以下である。透光性基板上に薄膜を成膜した薄膜付き基板に対して一旦加圧処理して得られるフォトマスクブランクの場合、その薄膜を4000気圧で再度加圧処理しても、加圧前後における薄膜の膜厚の減少率は2%以下と非常に小さくなる。
例えば、構成5にあるように、前記薄膜が遷移金属シリサイドの化合物を含む材料からなる位相シフト膜である位相シフトマスクブランクや、構成6にあるような、前記薄膜が遷移金属シリサイドの化合物を含む材料からなる遮光膜であるバイナリマスクブランクの製造に好適である。特に、遷移金属シリサイドの中でも、モリブデンシリサイドの化合物を含む材料からなる遮光膜を用いた位相シフトマスクブランクやバイナリマスクブランクの製造に好適である(構成7)。
また、構成8の、前記薄膜がクロムを含む材料からなる遮光膜であるバイナリマスクブランクの製造にも好適である。
また、構成10にあるように、透光性基板上に、転写パターンを有するフォトマスクの製造方法であって、前記透光性基板上に薄膜を形成してフォトマスクブランクを作製し、前記薄膜を、エッチングによりパターニングして転写パターンを作製し、次いで転写パターンを加圧処理するフォトマスクの製造方法によっても、上述の薄膜付き基板における薄膜を加圧処理することと同様の作用効果が得られる。
この場合の加圧処理においても、構成11にあるように、冷間等方圧加圧法により、1000〜10000気圧の範囲内で処理することが好適である。
本発明は、透光性基板上に、転写パターンを形成するための薄膜を有するフォトマスクブランクの製造方法であって、前記透光性基板上に前記薄膜を成膜して薄膜付き基板を作製し、次いで該薄膜付き基板を加圧処理することを特徴とする。そして、本実施の形態では、この加圧処理は、冷間等方圧加圧法(COLDISOSTATIC PRESSING:CIP法と呼ばれている)により、1000〜10000気圧の範囲内で処理する。
1は高圧円筒であり、その上下にそれぞれ上蓋2、下蓋3が配設されており、高圧円筒1の内部には圧力媒体4が封入されている。この圧力媒体4としては、水やアルコール等の液体が用いられるが、高圧円筒1内側の圧力媒体との接触部が鉄等の錆が発生しやすい(腐食しやすい)材質の場合には、防錆剤が添加されているとより好ましい。5は圧力媒体4中に設置された加圧処理するサンプルであり、本発明においては上記薄膜付き基板である。薄膜付き基板5は、圧力媒体4に直接触れないように、水等の接触圧媒7を満たした適当な弾性圧縮が可能な樹脂製の収納袋6の中に封入される。そして、上蓋2の移動によって所定の圧力が圧力媒体4に加わり、その圧力が収納袋6を介して接触圧媒7に伝わり、これによって上記薄膜付き基板5は接触圧媒7で加圧される。なお、接触圧媒7としては、薄膜に化学的変化を生じさせないものが好ましく、不純物を実質的に含まない超純水が挙げられるが、UF膜やMF膜等のろ過水程度であってもよい。加圧処理による膜の緻密さ(膜密度)を上げたい場合には、薄膜に化学的変化を生じさせない高分子化合物(高分子有機物、砂糖、イソプロピルアルコール等)が液中に存在する水、あるいは分子量が大きく水よりも沸点の高いアルコール、オイル、エチレングリコール、グリセリン等がより好ましい。
この場合の加圧は、本発明による効果が好適に得られるためには、例えば1000〜10000気圧の範囲内で実施するのが好ましい。また、加圧処理時間は、その際の加圧力によっても異なるが、概ね、所定圧力にまで到達するまでの昇圧に15分程度、所定圧力に保持した状態で30分程度、所定圧力から初期圧力まで降圧するのに5分程度が好ましい。なおこの場合に、一度に所定時間を加圧処理(例えば4000気圧、60分)してもよいし、比較的短時間の加圧処理を行った後、一旦加圧を解除してから再度加圧処理することを複数回繰り返す(例えば4000気圧、10分保持を5〜6回繰り返す)ように行ってもよい。また、これらの薄膜に対する加圧処理の前後のいずれか一方、あるいは前後両方で、薄膜に対して従来から行われている加熱処理を併用するとより好ましい。
本発明により製造される上記位相シフトマスクブランクは、これを用いて位相シフトマスクとしたときに、例えばArFエキシマレーザーなどの短波長光を露光光源としてフォトマスクの繰返し使用を行っても、位相シフト膜の透過率や位相差の変化、線幅変化などを抑えられ、耐薬性や耐温水性も向上するため、性能が劣化せず、フォトマスクの寿命を著しく改善できる。
上記位相シフト膜は、実質的に露光に寄与しない強度の光(例えば、露光波長に対して1%〜20%)を透過させるものであって、所定の位相差(例えば180度)を有するものであり、この位相シフト膜をパターニングした光半透過部と、位相シフト膜が形成されていない実質的に露光に寄与する強度の光を透過させる光透過部とによって、光半透過部を透過して光の位相が光透過部を透過した光の位相に対して実質的に反転した関係になるようにすることによって、光半透過部と光透過部との境界部近傍を通過し回折現象によって互いに相手の領域に回り込んだ光が互いに打ち消しあうようにし、境界部における光強度をほぼゼロとし境界部のコントラスト即ち解像度を向上させるものである。
本発明により製造される上記遮光膜が遷移金属シリサイド系のバイナリマスクブランクは、これを用いてバイナリマスクとしたときに、例えばArFエキシマレーザーなどの短波長光を露光光源としてフォトマスクの繰返し使用を行っても、遮光膜の遮光性の低下、線幅変化などを抑えられ、耐薬性や耐温水性も向上するため、性能が劣化せず、フォトマスクの寿命を著しく改善できる。
特に、遮光膜をモリブデンシリサイドの化合物で形成する場合であって、遮光層(MoSi等)と表面反射防止層(MoSiON等)の2層構造や、さらに遮光層と基板との間に裏面反射防止層(MoSiON等)を加えた3層構造とした場合、遮光層のモリブデンシリサイド化合物におけるMoとSiの含有比は、遮光性の観点からは、Moが9%以上40%以下(好ましくは、15%以上40%以下、さらに好ましくは20%以上40%以下)とするのが好ましい。
本発明により製造される上記遮光膜がクロム系のバイナリマスクブランクは、これを用いてバイナリマスクとしたときに、例えばArFエキシマレーザーなどの短波長光を露光光源としてフォトマスクの繰返し使用を行っても、遮光膜の遮光性の低下、線幅変化などを抑えられ、耐薬性や耐温水性も向上するため、性能が劣化せず、フォトマスクの寿命を著しく改善できる。
かかるフォトマスクの製造方法によれば、ArFエキシマレーザーなどの短波長の露光光源に対する耐光性、耐薬性、耐温水性を向上させ、フォトマスクを繰返し使用しても露光光照射による特性の劣化を抑えられ、フォトマスクの寿命を著しく改善したフォトマスクが得られる。
また、本発明は、透光性基板上に、転写パターンを有するフォトマスクの製造方法であって、前記透光性基板上に薄膜を形成してフォトマスクブランクを作製し、前記薄膜を、エッチングによりパターニングして転写パターンを作製し、次いで転写パターンを加圧処理するフォトマスクの製造方法についても提供する。この場合のエッチングは、微細パターンの形成に有効なドライエッチングが好適に用いられる。
かかるフォトマスクの製造方法によっても、上述の薄膜付き基板を作製した段階で該薄膜付き基板を加圧処理することと同様の作用効果が得られ、ArFエキシマレーザーなどの短波長の露光光源に対する耐光性、耐薬性、耐温水性を向上させ、フォトマスクを繰返し使用しても露光光照射による特性の劣化を抑えられ、フォトマスクの寿命を著しく改善したフォトマスクが得られる。なお、この場合の加圧処理においても、冷間等方圧加圧法により、1000〜10000気圧の範囲内で処理することが好適である。
(実施例1)
石英ガラスからなる透光性基板上に、枚葉式スパッタ装置を用いて、スパッタターゲットにモリブデン(Mo)とシリコン(Si)との混合ターゲット(原子%比 Mo:Si=10:90)を用い、アルゴン(Ar)と窒素(N2)との混合ガス雰囲気(ガス圧0.2Pa,ガス流量比 Ar:N2=10:90)で、DC電源の電力を3.0kWとし、反応性スパッタリング(DCスパッタリング)により、膜厚69nmのモリブデン、シリコン、及び窒素を主たる構成要素とする単層で構成されたArFエキシマレーザー(波長193nm)用位相シフト膜を形成した。なお、この位相シフト膜は、ArFエキシマレーザー(波長193nm)において、透過率は5.24%、位相差が173.85度となっていた。
また、基板上に同じ成膜条件で位相シフト膜のみ形成した位相シフトマスクブランクを別に製造し、これに対して、同じ加圧条件で加圧処理を行ったところ、加圧処理前の位相シフト膜の膜密度が3.23g/cm3であったのに対し、加圧処理後の膜密度が3.28g/cm3と1.5%上昇していることが確認できた。
次に、上記レジストパターンをマスクとして、遮光層と反射防止層とからなる遮光膜のドライエッチングを行って遮光膜パターンを形成した。ドライエッチングガスとして、Cl2とO2の混合ガス(Cl2:O2=4:1)を用いた。
次に、残存するレジストパターンを剥離後、再度上記と同じレジスト膜を塗布し、転写領域内の不要な遮光膜パターンを除去するためのパターン露光を行った後、該レジスト膜を現像してレジストパターンを形成した。次いで、ドライエッチングを用いて不要な遮光膜パターンを除去し、残存するレジストパターンを剥離して、位相シフトマスクを得た。なお、位相シフト膜の透過率、位相差は成膜時と殆ど変化はなかった。
上記照射後の位相シフト膜の透過率及び位相差を測定したところ、ArFエキシマレーザー(波長193nm)において、透過率は5.85%、位相差は172.83度となっていた。従って、照射前後の変化量は、透過率が0.61%(増加)、位相差が−1.02度であり、変化量は小さく抑えられており、この程度の変化量はフォトマスクの性能に影響はない。また、位相シフト膜パターンの断面をTEM(透過型電子顕微鏡)を用いて詳しく観察したところ、とくに変質層は確認されず、線幅の太り(CD変化量:1nm未満)はほとんど認められなかった。
石英ガラス基板からなる透光性基板上に、実施例1と同様の位相シフト膜を成膜後、280℃、60分の加熱処理を施し、実施例1と同様の遮光層と反射防止層の積層からなる遮光膜を成膜して位相シフトマスクブランク(薄膜付きマスクブランク)を得た。但し、実施例1の加圧処理は行わなかった。
上記のようにして加熱処理を行った位相シフトマスクブランクを用いて実施例1と同様に位相シフトマスクを作製した。なお、この位相シフト膜は、ArFエキシマレーザー(波長193nm)において、透過率は6.16%、位相差が177.2度となっていた。
実施例1と同様の条件で、透光性基板上に、位相シフト膜と遮光膜を有する位相シフトマスクブランク(薄膜付きマスクブランク)を製造し、前述の図1に示す装置を用いて実施例1と同様に加圧処理を行った。なお、加圧処理条件は、保持圧力を4000気圧としたことを除いて実施例1と全く同じである。加圧処理後、薄膜の総膜厚(位相シフト膜の膜厚+遮光膜の膜厚)を計測したところ、114.5nmであった。加圧処理前の薄膜の総膜厚が117nmであったのに対し、加圧処理によって、2.5nmの薄膜化(膜厚の減少率2.1%)が実現できていた。
また、基板上に同じ成膜条件で位相シフト膜のみ形成した位相シフトマスクブランクを別に製造し、これに対して、同じ加圧条件で加圧処理を行ったところ、加圧処理前の位相シフト膜の膜密度が3.23g/cm3であったのに対し、加圧処理後の膜密度が3.26g/cm3と0.9%上昇していることが確認できた。
また、同じ条件で、透光性基板上に位相シフト膜および遮光膜を成膜し、加圧処理を行った別の位相シフトマスクブランクに対し、40℃、4000気圧で、10分間保持を6回繰り返す加圧処理を再度行ってみたところ、膜厚の変動は、1nm未満であった。
得られた位相シフトマスクに対して、ArFエキシマレーザー(波長193nm)を総照射量30kJとなるように連続照射し、照射後の位相シフト膜の透過率及び位相差を測定したところ、ArFエキシマレーザー(波長193nm)において、透過率は6.51%、位相差は172.06度となっていた。従って、照射前後の変化量は、透過率が1.27%(増加)、位相差が−1.79度であり、変化量は小さく抑えられており、この程度の変化量はフォトマスクの性能に影響はない。また、位相シフト膜パターンの断面をTEM(透過型電子顕微鏡)を用いて詳しく観察したところ、とくに変質層は確認されず、線幅の太り(CD変化量:1nm未満)はほとんど認められなかった。
実施例1と同様の条件で、透光性基板上に、位相シフト膜と遮光膜を有する位相シフトマスクブランク(薄膜付きマスクブランク)を製造し、前述の図1に示す装置を用いて実施例1と同様に加圧処理を行った。なお、加圧処理条件は、接触圧媒にエチレングリコールではなくイソプロピルアルコールを用いたことを除いて実施例1と全く同じである。加圧処理後、薄膜の総膜厚(位相シフト膜の膜厚+遮光膜の膜厚)を計測したところ、113nmであった。加圧処理前の薄膜の総膜厚が117nmであったのに対し、加圧処理によって、4nmの薄膜化(膜厚の減少率3.4%)が実現できていた。また、基板上に同じ成膜条件で位相シフト膜のみ形成した位相シフトマスクブランクを別に製造し、これに対して、同じ加圧条件で加圧処理を行ったところ、加圧処理前の位相シフト膜の膜密度が3.23g/cm3であったのに対し、加圧処理後の膜密度が3.32g/cm3と2.8%上昇していることが確認できた。
また、同じ条件で、透光性基板上に位相シフト膜および遮光膜を成膜し、加圧処理を行った別の位相シフトマスクブランクに対し、40℃、4000気圧で、10分間保持を6回繰り返す加圧処理を再度行ってみたところ、膜厚の変動は、1nm未満であった。
得られた位相シフトマスクに対して、ArFエキシマレーザー(波長193nm)を総照射量30kJとなるように連続照射し、照射後の位相シフト膜の透過率及び位相差を測定したところ、ArFエキシマレーザー(波長193nm)において、透過率は6.11%、位相差は172.64度となっていた。従って、照射前後の変化量は、透過率が0.87%(増加)、位相差が−1.21度であり、変化量は小さく抑えられており、この程度の変化量はフォトマスクの性能に影響はない。また、位相シフト膜パターンの断面をTEM(透過型電子顕微鏡)を用いて詳しく観察したところ、とくに変質層は確認されず、線幅の太り(CD変化量:1nm未満)はほとんど認められなかった。
石英ガラスからなる透光性基板上に、枚葉式スパッタ装置を用いて、スパッタターゲットにモリブデン(Mo)とシリコン(Si)との混合ターゲット(原子%比 Mo:Si=21:79)を用い、アルゴン(Ar)と酸素と窒素とヘリウムとの混合ガス雰囲気(ガス圧0.2Pa,ガス流量比 Ar:O2:N2:He=5:4:49:42)で、DC電源の電力を3.0kWとし、反応性スパッタリング(DCスパッタリング)により、MoSiON膜(裏面反射防止層)を膜厚7nmで成膜し、引き続いて、同じ混合比率のMo/Siターゲットを用い、アルゴンガスとヘリウムとの混合ガス雰囲気(ガス圧0.3Pa,ガス流量比 Ar:He=20:120)で、DC電源の電力を2.0kWとし、MoSi膜(遮光層)を膜厚30nmで成膜し、引き続いて、Mo/Siターゲット(原子%比 Mo:Si=4:96)を用い、アルゴン(Ar)と酸素と窒素とヘリウムとの混合ガス雰囲気(ガス圧0.1Pa,ガス流量比 Ar:O2:N2:He=6:5:11:16)で、DC電源の電力を3.0kWとし、MoSiON膜(表面反射防止層)を膜厚15nmで成膜することにより、MoSiON膜とMoSi膜とMoSiON膜との積層からなるArFエキシマレーザー(波長193nm)用遮光膜(総膜厚52nm)を形成した。なお、この遮光膜は、ArFエキシマレーザー(波長193nm)において、光学濃度は3.0であった。
さらに、同じ条件で、透光性基板上に遮光膜を成膜し、加圧処理を行った別の位相シフトマスクブランクに対し、40℃、4000気圧で、10分間保持を6回繰り返す加圧処理を再度行ってみたところ、膜厚の変動は、1nm未満であった。
次に上記レジスト膜に対し、電子線描画装置を用いて所望のパターン描画を行った後、所定の現像液で現像してレジストパターンを形成した。
残存するレジストパターンを剥離して、バイナリフォトマスクを得た。なお、遮光膜の透過率は成膜時と殆ど変化はなかった。
石英ガラスからなる透光性基板上に、インライン型スパッタ装置を用いて、スパッタターゲットにクロムターゲットを使用し、アルゴンと窒素の混合ガス雰囲気(ガス圧0.3Pa,ガス流量比 Ar:N2=72:28)中で反応性スパッタリングを行ってCrN膜を形成し、次にアルゴンとメタン(ガス圧0.3Pa,ガス流量比 Ar:CH4=97:8)中で反応性スパッタリングを行ってCrC膜を形成し、引続き、アルゴンと一酸化窒素の混合雰囲気(ガス圧0.3Pa,ガス流量比 Ar:NO=97:3)中で反応性スパッタリングを行ってCrON膜を形成し総膜厚が73nmの遮光膜を形成した。なお、この遮光膜は、ArFエキシマレーザー(波長193nm)において、光学濃度は3.0であった。
また、同じ条件で、透光性基板上に遮光膜を成膜し、加圧処理を行った別の位相シフトマスクブランクに対し、40℃、4000気圧で、10分間保持を6回繰り返す加圧処理を再度行ってみたところ、膜厚の変動は、1nm未満であった。
次に上記レジスト膜に対し、電子線描画装置を用いて所望のパターン描画を行った後、所定の現像液で現像してレジストパターンを形成した。
残存するレジストパターンを剥離して、バイナリフォトマスクを得た。なお、遮光膜の透過率は成膜時と殆ど変化はなかった。
透光性基板上に、実施例1と同様の条件で位相シフト膜と遮光膜を成膜し、成膜後の加圧処理は行わずに、位相シフトマスクブランク(薄膜付きマスクブランク)を製造した。
次に、上記のようにして製造した位相シフトマスクブランクを用いて、実施例1と同様の手順で、位相シフトマスクを作製した。
次に、上記の位相シフトマスクを、前述の図1に示す装置を用いて加圧処理を行った。なお、加圧処理条件は、実施例1と全く同じである。加圧処理後、転写パターン(薄膜)の総膜厚(位相シフト膜の膜厚+遮光膜の膜厚)を計測したところ、113nmであった。加圧処理前の転写パターン(薄膜)の総膜厚が117nmであったのに対し、加圧処理によって、4nmの薄膜化(膜厚の減少率3.4%)が実現できていた。
また、基板上に同じ成膜条件で位相シフト膜のみ形成した位相シフトマスクブランクを別に製造し、次いでこの位相シフト膜をパターニングし、これに対して、同じ加圧条件で加圧処理を行ったところ、加圧処理前の位相シフト膜の膜密度が3.23g/cm3であったのに対し、加圧処理後の膜密度が3.26g/cm3と0.9%上昇していることが確認できた。
2 上蓋
3 下蓋
4 圧力媒体
5 薄膜付き基板
6 収納袋
7 接触圧媒
Claims (11)
- 透光性基板上に、転写パターンを形成するための薄膜を有するフォトマスクブランクであって、
前記薄膜を4000気圧で加圧したとき、加圧前後における薄膜の膜厚の減少率が2%以下であることを特徴とするフォトマスクブランク。 - 透光性基板上に、転写パターンを形成するための薄膜を有するフォトマスクブランクの製造方法であって、
前記透光性基板上に前記薄膜を成膜して薄膜付き基板を作製し、次いで該薄膜付き基板を加圧処理することを特徴とするフォトマスクブランクの製造方法。 - 冷間等方圧加圧法により、1000〜10000気圧の範囲内で加圧処理することを特徴とする請求項2に記載のフォトマスクブランクの製造方法。
- 前記フォトマスクブランクは、波長200nm以下の露光光を露光光源とする露光装置に用いられるフォトマスクを製造するためのフォトマスクブランクであることを特徴とする請求項2又は3に記載のフォトマスクブランクの製造方法。
- 前記薄膜は、遷移金属シリサイドの化合物を含む材料からなる位相シフト膜であることを特徴とする請求項2乃至4のいずれか一項に記載のフォトマスクブランクの製造方法。
- 前記薄膜は、遷移金属シリサイドの化合物を含む材料からなる遮光膜であることを特徴とする請求項2乃至4のいずれか一項に記載のフォトマスクブランクの製造方法。
- 前記遷移金属シリサイドは、モリブデンシリサイドであることを特徴とする請求項5又は6に記載のフォトマスクブランクの製造方法。
- 前記薄膜は、クロムを含む材料からなる遮光膜であることを特徴とする請求項21乃至4のいずれか一項に記載のフォトマスクブランクの製造方法。
- 請求項1乃至8のいずれかに記載のフォトマスクブランクにおける前記薄膜を、エッチングによりパターニングする工程を有することを特徴とするフォトマスクの製造方法。
- 透光性基板上に、転写パターンを有するフォトマスクの製造方法であって、
前記透光性基板上に薄膜を形成してフォトマスクブランクを作製し、
前記薄膜を、エッチングによりパターニングして転写パターンを作製し、
次いで転写パターンを加圧処理することを特徴とするフォトマスクの製造方法。 - 冷間等方圧加圧法により、1000〜10000気圧の範囲内で加圧処理することを特徴とする請求項10に記載のフォトマスクの製造方法。
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