JP2010094785A - 研削装置 - Google Patents

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Abstract

【課題】吸着パッドの吸着面に偏磨耗を発生させることがないとともに、被加工物に貼着された保護テープを剥離することなく洗浄すること。
【解決手段】被加工物を研削する研削手段と、被加工物を吸引保持する吸着パッドを備えた被加工物搬出手段と、被加工物の被保持面および吸着パッドの吸着面を洗浄する洗浄機構8とを具備する研削装置であって、洗浄機構8は吸着パッドの吸着面に垂直な方向に配設された回転軸と、回転軸を回転駆動する回転駆動手段83と、回転軸の上端部に径方向に突出して配設され吸着パッドの吸着面を洗浄するための研削部材842を備えた第1の洗浄手段84と、被加工物の被保持面を洗浄ための柔軟部材を備えた第2の洗浄手段85と、第1の洗浄手段84と第2の洗浄手段85のいずれか一方を軸方向に進退し他方の洗浄手段の上面より高い洗浄位置と他方の洗浄手段の上面より低い退避位置に位置付ける位置付け手段86とを具備している。
【選択図】図4

Description

本発明は、チャックテーブル上に保持された状態で研削手段によって研削加工された被加工物の被保持面を洗浄するとともに、研削加工された被加工物の被研削面を吸引保持してチャックテーブルから搬出する被加工物搬出手段の吸着パッドの吸着面を洗浄するための洗浄機構を備えた研削装置に関する。
当業者には周知の如く、半導体デバイス製造工程においては、IC、LSI等のデバイスが複数個形成された半導体ウエーハは、個々のデバイスに分割される前にその裏面(被研削面)を研削装置によって研削して所定の厚さに形成されている。半導体ウエーハの裏面を研削する研削装置は、被加工物を吸引保持するチャックテーブルと、該チャックテーブル上に吸引保持された被加工物を研削する研削手段と、該チャックテーブル上で研削加工された被加工物を吸着パッドの吸着面に吸引保持して搬出する被加工物搬出手段とを具備している。
上述した研削装置を用いて半導体ウエーハの裏面(被研削面)を研削する際には、半導体ウエーハの表面側をチャックテーブル上に保持するので、半導体ウエーハの表面に形成されたデバイスの損傷を防止するために、半導体ウエーハの表面にポリ塩化ビニール等からなる保護テープを貼着している。しかるに、半導体ウエーハの表面に保護テープを貼着してチャックテーブル上に吸引保持した状態で半導体ウエーハの裏面を研削すると、研削によって発生する研削屑がチャックテーブルに吸引保持された保護テープの被保持面との間に侵入して保護テープの被保持面に付着する。保護テープの被保持面に研削屑が付着すると、半導体ウエーハから保護テープを剥がす際の妨げとなったり、以後の工程の汚染源となるという問題がある。
一方、研削加工された被加工物をチャックテーブル上から搬出する際には、被加工物の被研削面を被加工物搬出手段の吸着パッドの吸着面に吸引保持して搬送するので、吸着パッドの吸着面にも研削屑が付着する。このように吸着パッドの吸着面に研削屑が付着すると、半導体ウエーハのように薄く形成された被加工物は吸着されたとき割れるという問題がある。
上述した問題を解消するために、被加工物搬出手段を構成する吸着パッドの搬出経路に吸着パッドの吸着面を洗浄するとともに、該吸着パッドに吸引保持された被加工物の被保持面を洗浄するための洗浄機構を配設した研削装置が提案されている。(例えば、特許文献1参照)
特開2003−45841号公報
上記特許文献1に開示された洗浄手段は、被加工物搬出手段を構成する吸着パッドの吸着面を洗浄するための円柱状の洗浄ブラシと、吸着パッドの吸着面を研削して平坦にするための研削板と、洗浄ブラシを回転駆動するための回転駆動手段と、研削板を水平面内で往復動させる往復駆動手段と、洗浄ブラシおよび研削板による洗浄部に洗浄液を供給する洗浄液供給手段とを具備している。このように構成された洗浄機構は、洗浄ブラシを回転しつつ吸着パッドに吸引保持された被加工物に貼着された保護テープの下面(被保持面)に接触させることにより、被加工物に貼着された保護テープの下面(被保持面)を洗浄することも可能である。
而して、上記特許文献1に開示された洗浄機構は、洗浄ブラシを回転駆動するための回転駆動手段と研削板を水平面内で往復動させる往復駆動手段の2つの駆動手段が必要であるために洗浄機構全体が大型化し、設置場所が制限されるという問題がある。また、研削板を水平面内で往復動することにより吸着パッドの吸着面を研削するため、吸着面が偏磨耗するという問題もある。更に、洗浄ブラシを回転しつつ吸着パッドに吸引保持された被加工物に貼着された保護テープの下面(被保持面)に接触させると、保護テープが剥がれるという問題がある。
本発明は上記事実に鑑みてなされたものであり、その主たる技術課題は、洗浄機構全体を小型化することができ、吸着パッドの吸着面に偏磨耗を発生させることがないとともに、被加工物に貼着された保護テープを剥離することなく洗浄することができる洗浄機構を備えた研削装置を提供することにある。
上記主たる技術課題を解決するため、本発明によれば、被加工物を保持するチャックテーブルと、該チャックテーブル上に保持された被加工物を研削する研削手段と、該チャックテーブル上で研削された被加工物を吸引保持する吸着面を有する吸着パッドを備えた被加工物搬出手段と、該吸着パッドの搬出経路に配設され該吸着パッドに吸引保持された被加工物の被保持面および該吸着パッドの吸着面を洗浄する洗浄機構と、を具備する研削装置において、
該洗浄機構は、該吸着パッドの吸着面に垂直な方向に配設された回転軸と、該回転軸を回転駆動する回転駆動手段と、該回転軸の上端部に径方向に突出して配設され該吸着パッドの吸着面を洗浄するための研削部材を備えた第1の洗浄手段と、該回転軸の上端部に径方向に突出して配設され該吸着パッドに吸引保持された被加工物の被保持面を洗浄ための柔軟部材を備えた第2の洗浄手段と、該第1の洗浄手段と該第2の洗浄手段のいずれか一方を軸方向に進退し他方の洗浄手段の上面より高い洗浄位置と他方の洗浄手段の上面より低い退避位置に位置付ける位置付け手段と、該回転軸の上端部に径方向に突出して配設され洗浄水を噴射する洗浄水噴射ノズルと、を具備している、
ことを特徴とする研削装置が提供される。
本発明による研削装置に装備される洗浄機構は、被加工物搬出手段の吸着パッドの吸着面を洗浄するための研削部材を備えた第1の洗浄手段と、吸着パッドに吸引保持された被加工物の被保持面を洗浄するための柔軟部材を備えた第2の洗浄手段を回転軸に配設し、該回転軸を回転することにより第1の洗浄手段および第2の洗浄手段を回転するように構成したので、洗浄機構全体をコンパクトに構成することができるため、設置場所の制約を受けにくい。
また、本発明による研削装置に装備される洗浄機構は、第1の洗浄手段を構成する研削部材の回転によって吸着パッドの吸着面を洗浄するので、吸着パッドの吸着面が偏磨耗することはない。
更に、本発明による研削装置に装備される洗浄機構は、吸着パッドに吸引保持された被加工物の被保持面を洗浄するための第2の洗浄手段が柔軟部材を備え、この柔軟部材によって吸着パッドに吸引保持された被加工物の被保持面を洗浄するので、被加工物の下面に保護テープが貼着されている場合には保護テープの下面である被保持面をスポンジ等の柔軟部材によって洗浄するため、保護テープが剥離することはない。
以下、本発明に従って構成された研削装置の好適な実施形態について、添付図面を参照して詳細に説明する。
図1には本発明に従って構成された研削装置の斜視図が示されている。
図示の実施形態における研削装置は、略直方体状の装置ハウジング2を具備している。装置ハウジング2の図1において右上端には、静止支持板21が立設されている。この静止支持板21の内側面には、上下方向に延びる2対の案内レール22、22および23、23が設けられている。一方の案内レール22、22には荒研削手段としての荒研削ユニット3が上下方向に移動可能に装着されており、他方の案内レール23、23には仕上げ研削手段としての仕上げ研削ユニット4が上下方向に移動可能に装着されている。
荒研削ユニット3は、ユニットハウジング31と、該ユニットハウジング31の下端に回転自在に装着されたホイールマウント32に装着された荒研削ホイール33と、該ユニットハウジング31の上端に装着されホイールマウント32を矢印32aで示す方向に回転せしめる電動モータ34と、ユニットハウジング31を装着し上記案内レール22、22に沿って移動可能に配設された移動基台35とを具備している。
上記移動基台35には被案内レール351、351が設けられており、この被案内レール351、351を上記静止支持板21に設けられた案内レール22、22に移動可能に嵌合することにより、荒研削ユニット3が上下方向に移動可能に支持される。図示の形態における荒研削ユニット3は、上記移動基台35を案内レール22、22に沿って移動させ研削ホイール33を研削送りする研削送り機構36を具備している。研削送り機構36は、上記静止支持板21に案内レール22、22と平行に上下方向に配設され回転可能に支持された雄ねじロッド361と、該雄ねじロッド361を回転駆動するためのパルスモータ362と、上記移動基台35に装着され雄ねじロッド361と螺合する図示しない雌ねじブロックを具備しており、パルスモータ362によって雄ねじロッド361を正転および逆転駆動することにより、荒研削ユニット3を上下方向(後述するチャックテーブルの保持面に対して垂直な方向)に移動せしめる。
上記仕上げ研削ユニット4も荒研削ユニット3と同様に構成されており、ユニットハウジング41と、該ユニットハウジング41の下端に回転自在に装着されたホイールマウント42に装着された研削ホイール43と、該ユニットハウジング41の上端に装着されホイールマウント42を矢印42aで示す方向に回転せしめる電動モータ44と、ユニットハウジング41を装着し上記案内レール23、232に沿って移動可能に配設された移動基台45とを具備している。
上記移動基台45には被案内レール451、451が設けられており、この被案内レール451、451を上記静止支持板21に設けられた案内レール23、23に移動可能に嵌合することにより、仕上げ研削ユニット4が上下方向に移動可能に支持される。図示の形態における仕上げ研削ユニット4は、上記移動基台45を案内レール23、23に沿って移動させ研削ホイール43を研削送りする送り機構46を具備している。送り機構46は、上記静止支持板21に案内レール23、23と平行に上下方向に配設され回転可能に支持された雄ねじロッド461と、該雄ねじロッド461を回転駆動するためのパルスモータ462と、上記移動基台45に装着され雄ねじロッド461と螺合する図示しない雌ねじブロックを具備しており、パルスモータ462によって雄ねじロッド461を正転および逆転駆動することにより、仕上げ研削ユニット4を上下方向(後述するチャックテーブルの保持面に対して垂直な方向)に移動せしめる。
図示の実施形態における研削装置は、上記静止支持板21の前側において装置ハウジング2に回転可能に配設されたターンテーブル5を具備している。このターンテーブル5は、比較的大径の円盤状に形成されており、図示しない回転駆動機構によって矢印5aで示す方向に適宜回転せしめられる。ターンテーブル5には、図示の実施形態の場合それぞれ120度の位相角をもって3個のチャックテーブル6が水平面内で回転可能に配置されている。このチャックテーブル6は、円盤状の基台61とポーラスセラミック材によって円盤状に形成され吸着保持チャック62とからなっており、吸着保持チャック62の上面(保持面)に載置された被加工物を図示しない吸引手段を作動することにより吸引保持する。このように構成されたチャックテーブル6は、図1に示すように図示しない回転駆動機構によって矢印6aで示す方向に回転せしめられる。ターンテーブル5に配設された3個のチャックテーブル6は、ターンテーブル5が適宜回転することにより被加工物搬入・搬出域A、荒研削加工域B、および仕上げ研削加工域Cおよび被加工物搬入・搬出域Aに順次移動せしめられる。
図示の実施形態における研削装置は、被加工物搬入・搬出域Aに対して一方側に配設され研削加工前の被加工物である半導体ウエーハをストックする第1のカセット11と、被加工物搬入・搬出域Aに対して他方側に配設され研削加工後の被加工物である半導体ウエーハをストックする第2のカセット12と、第1のカセット11と被加工物搬入・搬出域Aとの間に配設され被加工物の中心合わせを行う中心合わせ手段13と、被加工物搬入・搬出域Aと第2のカセット12との間に配設されたスピンナー洗浄手段14と、第1のカセット7内に収納された被加工物である半導体ウエーハを中心合わせ手段13に搬出するとともにスピンナー洗浄手段14で洗浄された半導体ウエーハを第2のカセット12に搬送する被加工物搬送手段15と、中心合わせ手段13上に載置され中心合わせされた半導体ウエーハを被加工物搬入・搬出域Aに位置付けられたチャックテーブル6上に搬送する被加工物搬入手段16と、被加工物搬入・搬出域Aに位置付けられたチャックテーブル6上に載置されている研削加工後の半導体ウエーハをスピンナー洗浄手段14に搬送する被加工物搬出手段7を具備している。なお、上記第1のカセット11には、半導体ウエーハWが表面に保護テープTが貼着された状態で複数枚収容される。このとき、半導体ウエーハWは、裏面(被研削面)を上側にして収容される。
ここで、上記被加工物搬出手段7について、図2を参照して説明する。
図2に示す被加工物搬出手段7は、L字状の作動アーム71を備えている。このL字状の作動アーム71は垂直部711と水平部712とからなっており、垂直部711の下端が昇降機構72に連結されている。昇降機構72は例えばエアピストン等からなっており、作動アーム71を図2において矢印72aで示すように上下方向に作動せしめる。また、作動アーム71の垂直部711と連結した昇降機構72は、正転・逆転可能な電動モータを含む旋回機構73に連結されている。従って、旋回機構73を正転方向または逆転方向に駆動することにより、作動アーム71は垂直部711を中心として揺動せしめられる。この結果、作動アーム71の水平部712は水平面内で作動せしめられ、この水平部712の先端部に装着される吸着パッド74が水平面内で作動せしめられる。即ち、吸着パッド74は、チャックテーブル6とスピンナー洗浄手段14との間において垂直部711を中心とした円弧からなる吸着パッドの搬出経路に沿って移動せしめられる。
上記作動アーム71の水平部712の先端部に装着される吸着パッド74は、図2に示すように円盤状の基台741とパッド742とからなっている。基台741は適宜の金属材によって構成され、その上面中央部には支持軸部741aが突出して形成されており、この支持軸部741aが作動アーム71を構成する水平部712の先端部に装着される。支持軸部741aの上端には係止部741bが設けられており、この係止部741bが水平部712に形成された係合部712aと係合するようになっている。なお、基台741の上面と作動アーム71を構成する水平部712との間には圧縮コイルばね75が配設され、基台741を下方に向けて付勢している。
吸着パッド74を構成する基台741は、下方が開放された円形状の凹部741cを備えている。この凹部741cにポーラスなセラミックス部材によって円盤状に形成されたパッド742が嵌合されている。このようにして基台741の凹部741cに嵌合されたパッド742の下面は、被加工物を吸引保持する吸着面として機能する。吸着パッド74を構成する基台741に形成された円形状の凹部741cは、支持軸部741aに設けられた連通路741dを介して作動アーム71内に配設されたフレキシブルパイプ等の配管76に接続されている。なお、配管76は図示しない吸引手段に接続されている。従って、図示しない吸引手段が作動すると、配管76、連通路741d、基台741の凹部741cを介してパッド742の下面(吸着面)に負圧が作用せしめられ、該パッド742の下面(吸着面)に被加工物を吸引保持することができる。
図1に戻って説明を続けると、図示の実施形態における研削装置は、上記被加工物搬出手段7を構成する吸着パッド74の搬出経路上に配置され吸着パッド74に保持された被加工物の下面(被保持面)を洗浄するとともに吸着パッド74の下面(吸着面)を洗浄するための洗浄機構8を具備している。この洗浄機構8について、図3および図4を参照して説明する。
図3および図4に示す洗浄機構8は、装置ハウジング2の上板25に配設された円筒状の支持部材81と、該円筒状の支持部材81に回転可能に支持される回転軸82と、該回転軸82を回転駆動する回転駆動手段83と、回転軸82の上端部に径方向に突出して取り付けられ上記吸着パッド74の下面(吸着面)を洗浄するための第1の洗浄手段84と、回転軸82の上端部に径方向に突出して取り付けられ吸着パッド74の下面(吸着面)に吸引保持された被加工物の被保持面を洗浄するための第2の洗浄手段85と、第1の洗浄手段84に対して第2の洗浄手段85を軸方向に進退し洗浄位置と退避位置に位置付ける位置付け手段86と、回転軸82の上端部に径方向に突出して取り付けられ洗浄水を噴射する2個の洗浄水噴射ノズル87、87とを具備している。
上記円筒状の支持部材81は、同一径からなる貫通穴811を有しており、装置ハウジング2の上板25に軸方向が上記被加工物搬出手段7を構成する吸着パッド74の下面(吸着面)に垂直な方向に配設され適宜の固定手段によって取り付けられる。なお、装置ハウジング2の上板25における支持部材81の取り付け部には貫通穴811と同径の穴(図示せず)が設けられている。円筒状の支持部材81には、貫通穴811の内周面に開口する洗浄水供給穴812が設けられているとともに、貫通穴811の内周面に洗浄水供給穴812と連通する環状通路(図示せず)が形成されている。なお、上記洗浄水供給穴812は、図示しない洗浄水供給手段に接続されている。
上記回転軸82は、上記円筒状の支持部材81の貫通穴811の内径より僅かに小さい外径を有し、中心に軸方向に貫通する貫通穴821が設けられている。回転軸82の上端部には大径の取り付け部822が設けられており、下端部には被駆動プーリ823が設けられている。この回転軸82は、上記円筒状の支持部材81の貫通穴811に上側から嵌合し、取り付け部822が円筒状の支持部材81の上端に支持される。従って、円筒状の支持部材81の貫通穴811に嵌合された回転軸82は、軸方向が上記被加工物搬出手段7を構成する吸着パッド74の下面(吸着面)に垂直な方向に配設されることになる。このようにして、円筒状の支持部材81の貫通穴811に嵌合された回転軸82は、円筒状の支持部材81との間に配設された図示しない軸受けによって回転可能に支持される。なお、回転軸82が円筒状の支持部材81の貫通穴811に嵌合された状態において、図4に示すように回転軸82の下端部に設けられた被駆動プーリ823が円筒状の支持部材81の下端より下方に突出するように構成されている。また、回転軸82の外周面には回転軸82が円筒状の支持部材81の貫通穴811に嵌合された状態において、上記円筒状の支持部材81の内周面に形成された図示しない環状通路と連通する2個の連通穴824、824が設けられている。
上記回転軸82を回転駆動するための回転駆動手段83は、図4に示すように電動モータ831と、該電動モータ831の駆動軸に装着された駆動プーリ832と、該駆動プーリ832と上記回転軸82の下端部に設けられた被駆動プーリ823とを捲回する無端ベルト833とからなっている。このように構成された回転駆動手段83は、電動モータ831を駆動することにより駆動プーリ832、無端ベルト833および被駆動プーリ823を介して回転軸82を回転せしめる。
上記第1の洗浄手段84は、回転軸82の上端部に設けられた取り付け部822の上端に互いに180度の位相角をもって配設された2個の保持部材841、841と、該2個の保持部材841、841の上面にそれぞれ装着された研削部材842、842とからなっている。保持部材841、841は直方体状に形成されており、その長辺が径方向に向けて互いに所定の間隔を設けて配設されている。研削部材842、842はセラミックス材やオイルストーン等によって上記保持部材841、841の上面に対応する直方体状に形成されており、保持部材841、841の上面にそれぞれ適宜の接着剤によって装着されている。このように構成された第1の洗浄手段84の保持部材841、841の上面に装着された研削部材842、842は、回転軸82が回転することによって水平面内で回転せしめられる。
上記第2の洗浄手段85は、直方体状に形成された保持部材851と、該保持部材851の上面に装着された柔軟部材852と、該保持部材851の中央下面に装着された支持ロッド853と、該支持ロッド853の側方に180度の位相角をもって配設され保持部材851の下面に取り付けられた2個の被駆動ピン854、854とからなっている。保持部材851は、その幅が上記第1の洗浄手段84を構成する2個の保持部材841と841との間に入る寸法に形成されており、その長さが上記第1の洗浄手段84を構成する2個の保持部材841と841の外端間の距離に相当する寸法に形成されている。また、保持部材851の厚みは、上記第1の洗浄手段84を構成する2個の保持部材841、841の厚みより薄い寸法に形成されている。上記柔軟部材852はスポンジ材によって上記保持部材851の上面に対応する直方体状に形成されており、その厚みは上記第1の洗浄手段84を構成する研削部材842、842の厚みと略同じ寸法に形成されている。上記支持ロッド853は上記回転軸82に設けられた貫通穴821の内径より僅かに小さい外径を有し、貫通穴821に軸方向に摺動可能に嵌合される。上記2個の被駆動ピン854、854は、上記回転軸82の上端に貫通穴821を挟んで180度の位相角をもって開口する2個の駆動穴825、525にそれぞれ嵌合せしめられる。従って、回転軸82が回転すると駆動穴825、525および被駆動ピン854、854を介して第2の洗浄手段85は回転せしめられ、保持部材851の上面に装着された柔軟部材852が水平面内で回転せしめられる。このように構成された第2の洗浄手段85は、支持ロッド853が貫通穴821に嵌合するとともに駆動ピン854、854が駆動穴825、525にそれぞれ嵌合した状態においては、柔軟部材852の上面が上記第1の洗浄手段84を構成する研削部材842、842の上面より低い退避位置に位置付けられている。
上記位置付け手段86は、図示の実施形態においては上記回転軸82の下方に配設されたエアシリンダ861からなり、そのピストンロッド862が回転軸82の中心に設けられた貫通穴821に嵌合された支持ロッド853の下端面に当接するように構成されている。従って、エアシリンダ861が作動していない状態では、第2の洗浄手段85の柔軟部材852の上面が上記第1の洗浄手段84を構成する研削部材842、842の上面より低い退避位置に位置付けられており、エアシリンダ861が作動してピストンロッド862が上昇すると支持ロッド853が押し上げられ、第2の洗浄手段85を構成する柔軟部材852の上面が上記第1の洗浄手段84を構成する研削部材842、842の上面より高い洗浄位置に位置付けられるようになっている。
上記洗浄水噴射ノズル87、87は、図3に示すように回転軸82の上端部に設けられた取り付け部822の上端に互いに180度の位相角をもって径方向に突出して配設されている。この洗浄水噴射ノズル87、87は、上方に向けて開口する複数の噴出口871、871を備えており、上記回転軸82に設けられた連通穴824、824と図示しない連通路を介して連通されている。
図示の実施形態における研削装置は以上のように構成されており、以下その作用について説明する。
第1のカセット11に収容された研削加工前の被加工物である半導体ウエーハWは被加工物搬送手段15によって中心合わせ手段13に搬送され、ここで中心合わせされる。中心合わせ手段13で中心合わせされた半導体ウエーハWは、被加工物搬入手段16の旋回動作によって被加工物搬入・搬出域Aに位置付けられたチャックテーブル6の吸着保持チャック62上に載置される。そして、図示しない吸引手段を作動して、半導体ウエーハWを吸着保持チャック62上に吸引保持する。次に、ターンテーブル5を図示しない回転駆動機構によって矢印5aで示す方向に120度回動せしめて、半導体ウエーハWを載置したチャックテーブル6を荒研削加工域Bに位置付ける。
半導体ウエーハWを吸引保持したチャックテーブル6は、荒研削加工域Bに位置付けられると図示しない回転駆動機構によって矢印6aで示す方向に回転せしめられる。一方、荒研削ユニット3の研削ホイール33は、矢印32aで示す方向に回転せしめられつつ研削送り機構36によって所定量下降する。この結果、チャックテーブル6上の半導体ウエーハWの裏面(上面)である被研削面に荒研削加工が施される。なお、この間に被加工物搬入・搬出域Aに位置付けられた次のチャックテーブル6上には、上述したように研削加工前の半導体ウエーハWが載置される。そして、チャックテーブル6上に載置された半導体ウエーハWは、図示しない吸引手段を作動することによりチャックテーブル6上に吸引保持される。次に、ターンテーブル5を矢印5aで示す方向に120度回動せしめて、荒研削加工された半導体ウエーハWを保持しているチャックテーブル6を仕上げ研削加工域Cに位置付け、研削加工前の半導体ウエーハWを保持したチャックテーブル6を荒研削加工域Bに位置付ける。
このようにして、荒研削加工域Bに位置付けられたチャックテーブル6上に保持された荒研削加工前の半導体ウエーハWの裏面(上面)である被研削面には荒研削ユニット3によって荒研削加工が施され、仕上げ研削加工域Cに位置付けられたチャックテーブル6上に保持され荒研削加工された半導体ウエーハWの裏面(上面)である被研削面には仕上げ研削ユニット4によって仕上げ研削加工が施される。次に、ターンテーブル5を矢印5aで示す方向に120度回動せしめて、仕上げ研削加工された半導体ウエーハWを保持したチャックテーブル6を被加工物搬入・搬出域Aに位置付ける。なお、荒研削加工域Bにおいて荒研削加工された半導体ウエーハWを保持したチャックテーブル6は仕上げ研削加工域Cに、被加工物搬入・搬出域Aにおいて研削加工前の半導体ウエーハWを保持したチャックテーブル6は荒研削加工域Bにそれぞれ移動せしめられる。
上述したように、荒研削加工域Bおよび仕上げ研削加工域Cを経由して被加工物搬入・搬出域Aに戻ったチャックテーブル6は、ここで仕上げ研削加工された半導体ウエーハWの吸引保持を解除する。次に、被加工物搬出手段7を作動して被加工物搬入・搬出域Aに位置付けられたチャックテーブル6上において吸引保持が解除された研削加工後の半導体ウエーハWの裏面(上面)である被研削面を吸着パッド74のパッド742の下面である吸着面に吸引保持する。そして、被加工物搬出手段7の旋回機構73を作動して半導体ウエーハWを吸引保持した吸着パッド74を洗浄機構8の直上に位置付ける。次に、洗浄機構8の回転駆動手段83を作動して回転軸82を回転するとともに、位置付け手段86を構成するエアシリンダ861を作動して、図5に示すように第2の洗浄手段85の柔軟部材852の上面が第1の洗浄手段84を構成する研削部材842、842の上面より高い洗浄位置に位置付け、柔軟部材852を吸着パッド74に吸引保持された半導体ウエーハWの表面(下面)に貼着されている保護テープTの下面である被保持面に接触させる。このとき、洗浄機構8の図示しない洗浄水供給手段を作動して洗浄水噴射ノズル87、87の噴出口871、871から保護テープTの下面である被保持面に向けて洗浄水を噴射せしめる。回転軸82が回転すると、上述したように回転軸82に取り付けられた第1の洗浄手段84および第2の洗浄手段85が回転し、第2の洗浄手段85の柔軟部材852によって吸着パッド74に吸引保持された半導体ウエーハWの表面(下面)に貼着されている保護テープTの下面である被保持面に付着している研削屑が洗浄され除去される(保護テープ洗浄工程)。この保護テープ洗浄工程においては、被加工物搬出手段7の旋回機構73を作動して作動アーム71を垂直部711を中心として揺動し、作動アーム71に取り付けられた吸着パッド74を所定の範囲で揺動することが望ましい。以上のように保護テープ洗浄工程においては、半導体ウエーハWの表面(下面)に貼着されている保護テープTの下面である被保持面をスポンジ等の柔軟部材852によって洗浄するので、保護テープTが剥離することはない。
上述した保護テープ洗浄工程を実施したならば、図示しない洗浄水供給手段の作動を停止するとともに回転駆動手段83の作動を停止し、位置付け手段86を構成するエアシリンダ861を作動して第2の洗浄手段85を上記退避位置に位置付ける。次に、被加工物搬出手段7の旋回機構73を作動して吸着パッド74に吸引保持されている半導体ウエーハWをスピンナー洗浄手段14に搬送する。スピンナー洗浄手段14に搬送された半導体ウエーハWは、ここで裏面(上面)である被研削面および側面に付着している研削屑が洗浄され除去されるとともに、スピン乾燥される。このようにして洗浄およびスピン乾燥された研削加工後の半導体ウエーハWは、被加工物搬送手段15によって第2のカセット12に搬送され収納される。
一方、被加工物搬出手段7は、保護テープ洗浄工程が実施された半導体ウエーハWをスピンナー洗浄手段14に搬送したならば、旋回機構73を作動して吸着パッド74を再度洗浄機構8の直上に位置付ける。次に、洗浄機構8の回転駆動手段83を作動して回転軸82を回転するとともに、被加工物搬出手段7の昇降機構72を作動し吸着パッド74の下面である吸着面を図6に示すように第1の洗浄手段84を構成する研削部材842、842の上面に接触せしめる。このとき、洗浄機構8の図示しない洗浄水供給手段を作動して洗浄水噴射ノズル87、87の噴出口871、871から吸着パッド74の下面である吸着面に向けて洗浄水を噴射せしめる。なお、第2の洗浄手段85は、上記保護テープ洗浄工程が実施された後に上記退避位置に位置付けられている。回転軸82が回転すると、上述したように回転軸82に取り付けられた第1の洗浄手段84および第2の洗浄手段85が回転し、第1の洗浄手段84の研削部材842、842によって吸着パッド74の下面である吸着面に付着している研削屑が洗浄され除去される(吸着パッド洗浄工程)。この吸着パッド洗浄工程においては、被加工物搬出手段7の旋回機構73を作動して作動アーム71を垂直部711を中心として揺動し、作動アーム71に取り付けられた吸着パッド74を所定の範囲で揺動することが望ましい。以上のように吸着パッド洗浄工程においては、第1の洗浄手段85を構成する研削部材842、842の回転によって吸着パッド74の下面である吸着面が洗浄されるので、吸着パッド74の下面である吸着面は偏磨耗することはない。
以上のように、図示の実施形態における洗浄機構8は、被加工物搬出手段7の吸着パッド74の吸着面を洗浄するための研削部材842、842を備えた第1の洗浄手段84と、吸着パッド74に吸引保持された半導体ウエーハWの表面(下面)に貼着されている保護テープTの下面である被保持面を洗浄するための柔軟部材852を備えた第2の洗浄手段85を回転軸82に取り付け、該回転軸82を回転することにより第1の洗浄手段84および第2の洗浄手段85を回転するように構成したので、洗浄機構全体をコンパクトに構成することができるため、設置場所の制約を受けにくい。
以上、本発明を図示の実施形態に基づいて説明したが、本発明は実施形態のみに限定されるものではなく、本発明の趣旨の範囲で種々の変形は可能である。例えば、図示の実施形態においては洗浄機構8の位置付け手段86が第2の洗浄手段85を洗浄位置と退避位置に位置付けるように構成したが、第1の洗浄手段84を洗浄位置と退避位置に位置付けるように構成してもよい。
本発明によって構成された研削装置の斜視図。 図1に示す研削装置に装備される被加工物搬出手段の要部を破断して示す説明図。 図1に示す研削装置に装備される洗浄機構の構成部材を分解して示す斜視図。 図1に示す研削装置に装備される洗浄機構の斜視図。 図1に示す研削装置によって実施される保護テープ洗浄工程の説明図。 図1に示す研削装置によって実施される吸着パッド洗浄工程の説明図。
符号の説明
2:装置ハウジング
3:荒研削ユニット
33:研削ホイール
4:仕上げ研削ユニット
43:研削ホイール
5:ターンテーブル
6:チャックテーブル
7:被加工物搬出手段
71:作動アーム
72:昇降機構
73:旋回機構
74:吸着パッド
8:洗浄機構
81:円筒状の支持部材
82:回転軸
83:回転駆動手段
84:第1の洗浄手段
842:研削部材
85:第2の洗浄手段
852:研削部材
86:位置付け手段
87:洗浄水噴射ノズル
11:第1のカセット
12:第2のカセット
13:中心合わせ手段
14:スピンナー洗浄手段
15:被加工物搬送手段
16:被加工物搬入手段
W:半導体ウエーハ
T:保護テープ

Claims (1)

  1. 被加工物を保持するチャックテーブルと、該チャックテーブル上に保持された被加工物を研削する研削手段と、該チャックテーブル上で研削された被加工物を吸引保持する吸着面を有する吸着パッドを備えた被加工物搬出手段と、該吸着パッドの搬出経路に配設され該吸着パッドに吸引保持された被加工物の被保持面および該吸着パッドの吸着面を洗浄する洗浄機構と、を具備する研削装置において、
    該洗浄機構は、該吸着パッドの吸着面に垂直な方向に配設された回転軸と、該回転軸を回転駆動する回転駆動手段と、該回転軸の上端部に径方向に突出して配設さて該吸着パッドの吸着面を洗浄するための研削部材を備えた第1の洗浄手段と、該回転軸の上端部に径方向に突出して配設され該吸着パッドに吸引保持された被加工物の被保持面を洗浄ための柔軟部材を備えた第2の洗浄手段と、該第1の洗浄手段と該第2の洗浄手段のいずれか一方を軸方向に進退し他方の洗浄手段の上面より高い洗浄位置と他方の洗浄手段の上面より低い退避位置に位置付ける位置付け手段と、該回転軸の上端部に径方向に突出して配設され洗浄水を噴射する洗浄水噴射ノズルと、を具備している、
    ことを特徴とする研削装置。
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Cited By (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2013105828A (ja) * 2011-11-11 2013-05-30 Disco Abrasive Syst Ltd 研削装置及び円形板状ワークの洗浄方法
JP2015199158A (ja) * 2014-04-07 2015-11-12 株式会社ディスコ 研削装置
JP2016051872A (ja) * 2014-09-02 2016-04-11 株式会社ディスコ 研削装置
JP2017073457A (ja) * 2015-10-07 2017-04-13 株式会社ディスコ 洗浄装置
JP2018086692A (ja) * 2016-11-28 2018-06-07 株式会社ディスコ 研削装置
JP2020145256A (ja) * 2019-03-05 2020-09-10 株式会社ディスコ 加工装置及び洗浄方法
KR20220026483A (ko) 2020-08-25 2022-03-04 가부시기가이샤 디스코 피가공물의 세정 방법
WO2022201666A1 (ja) * 2021-03-26 2022-09-29 株式会社東京精密 ウエハ裏面洗浄装置
KR20230061244A (ko) 2021-10-28 2023-05-08 가부시기가이샤 디스코 연삭 장치

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01171762A (ja) * 1987-12-28 1989-07-06 Shibayama Kikai Kk 半導体のウエハ研削盤の吸着チャック洗浄装置
JP2000021828A (ja) * 1998-04-27 2000-01-21 Tokyo Seimitsu Co Ltd ウェ―ハの平面加工装置
JP2000049131A (ja) * 1998-07-29 2000-02-18 Shibaura Mechatronics Corp 洗浄ブラシ及び洗浄装置
JP2003045841A (ja) * 2001-08-02 2003-02-14 Disco Abrasive Syst Ltd 吸着パッド洗浄装置及び該装置を用いた吸着パッド洗浄方法
JP2003257919A (ja) * 2002-03-01 2003-09-12 Ebara Corp 液供給方法及び液供給装置
JP2006086240A (ja) * 2004-09-15 2006-03-30 Okamoto Machine Tool Works Ltd 半導体基板の平面研削・研磨装置および研削・研磨方法

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01171762A (ja) * 1987-12-28 1989-07-06 Shibayama Kikai Kk 半導体のウエハ研削盤の吸着チャック洗浄装置
JP2000021828A (ja) * 1998-04-27 2000-01-21 Tokyo Seimitsu Co Ltd ウェ―ハの平面加工装置
JP2000049131A (ja) * 1998-07-29 2000-02-18 Shibaura Mechatronics Corp 洗浄ブラシ及び洗浄装置
JP2003045841A (ja) * 2001-08-02 2003-02-14 Disco Abrasive Syst Ltd 吸着パッド洗浄装置及び該装置を用いた吸着パッド洗浄方法
JP2003257919A (ja) * 2002-03-01 2003-09-12 Ebara Corp 液供給方法及び液供給装置
JP2006086240A (ja) * 2004-09-15 2006-03-30 Okamoto Machine Tool Works Ltd 半導体基板の平面研削・研磨装置および研削・研磨方法

Cited By (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2013105828A (ja) * 2011-11-11 2013-05-30 Disco Abrasive Syst Ltd 研削装置及び円形板状ワークの洗浄方法
JP2015199158A (ja) * 2014-04-07 2015-11-12 株式会社ディスコ 研削装置
JP2016051872A (ja) * 2014-09-02 2016-04-11 株式会社ディスコ 研削装置
JP2017073457A (ja) * 2015-10-07 2017-04-13 株式会社ディスコ 洗浄装置
JP2018086692A (ja) * 2016-11-28 2018-06-07 株式会社ディスコ 研削装置
JP2020145256A (ja) * 2019-03-05 2020-09-10 株式会社ディスコ 加工装置及び洗浄方法
JP7320358B2 (ja) 2019-03-05 2023-08-03 株式会社ディスコ 加工装置及び洗浄方法
KR20220026483A (ko) 2020-08-25 2022-03-04 가부시기가이샤 디스코 피가공물의 세정 방법
WO2022201666A1 (ja) * 2021-03-26 2022-09-29 株式会社東京精密 ウエハ裏面洗浄装置
KR20230061244A (ko) 2021-10-28 2023-05-08 가부시기가이샤 디스코 연삭 장치

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