JP2016051872A - 研削装置 - Google Patents

研削装置 Download PDF

Info

Publication number
JP2016051872A
JP2016051872A JP2014177884A JP2014177884A JP2016051872A JP 2016051872 A JP2016051872 A JP 2016051872A JP 2014177884 A JP2014177884 A JP 2014177884A JP 2014177884 A JP2014177884 A JP 2014177884A JP 2016051872 A JP2016051872 A JP 2016051872A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
wafer
grinding
brush
nozzle
unit
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2014177884A
Other languages
English (en)
Other versions
JP6366431B2 (ja
Inventor
巨悟 三橋
Masasato Mihashi
巨悟 三橋
徹雄 久保
Tetsuo Kubo
徹雄 久保
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Disco Corp
Original Assignee
Disco Abrasive Systems Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Disco Abrasive Systems Ltd filed Critical Disco Abrasive Systems Ltd
Priority to JP2014177884A priority Critical patent/JP6366431B2/ja
Publication of JP2016051872A publication Critical patent/JP2016051872A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP6366431B2 publication Critical patent/JP6366431B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Landscapes

  • Grinding Of Cylindrical And Plane Surfaces (AREA)
  • Mechanical Treatment Of Semiconductor (AREA)
  • Cleaning Or Drying Semiconductors (AREA)

Abstract

【課題】ウェーハの下面を洗浄する際に周囲への洗浄液の飛散を抑制可能な研削装置を提供する。
【解決手段】下面洗浄手段(38)は、ウェーハ(11)の上面(11a)を吸引保持するウェーハ保持手段(36)と、ウェーハ保持手段に保持されたウェーハの径方向に延在し、ウェーハの下面(11b)に接触するブラシ(88)と、洗浄液(B)を上方に噴射するノズル(92)と、径方向と直交する回転軸でブラシ及びノズルを回転させる回動基台(90)と、を有し、ノズルは、ブラシの回転方向(A)前側に隣接し、回転方向後側に隣接するブラシの上端近傍に向けて洗浄液を噴射する構成とした。
【選択図】図6

Description

本発明は、ウェーハを洗浄する洗浄ユニットを備えた研削装置に関する。
ストリートと呼ばれる分割予定ラインで区画された表面側の複数の領域に、それぞれIC等のデバイスが形成されたウェーハは、例えば、裏面側を研削された後に、各デバイスに対応する複数のデバイスチップに分割され、電子機器等に組み込まれる。このように、ウェーハを研削によって薄く加工することで、小型軽量なデバイスチップを実現できる。
ウェーハの研削には、例えば、ウェーハを吸引保持するチャックテーブルと、チャックテーブルの上方に配置され、下面に研削砥石が固定された研削ホイールとを備える研削装置を使用する。チャックテーブルと研削ホイールとを相互に回転させながら、研削ホイールを下降させて研削砥石をウェーハに押し当てることで、ウェーハは研削される。
上述した研削装置には、研削の前又は後にウェーハの下面側を洗浄する洗浄ユニットを配置することがある(例えば、特許文献1,2参照)。この洗浄ユニットは、例えば、ウェーハの下面側で径方向に延在するブラシと、ウェーハの下面側に洗浄液を噴射するノズルと、ブラシ及びノズルを水平面内で回転させる回転駆動源とを含む。ブラシ及びノズルを水平面内で回転させながら、ウェーハの下面側にブラシを当接させて洗浄液を噴射することで、ウェーハの下面側を洗浄できる。
特開平10−284448号公報 特開2010−94785号公報
しかしながら、例えば、直径が300mm、450mm等の大口径のウェーハを上述した洗浄ユニットで洗浄すると、ウェーハの外周部分で作用する遠心力が特に大きくなって、ノズルから噴射された洗浄液が周囲に飛散し易くなってしまう。ブラシ及びノズルの回転数を高めた場合も同様である。
本発明はかかる問題点に鑑みてなされたものであり、その目的とするところは、ウェーハの下面を洗浄する際に周囲への洗浄液の飛散を抑制可能な研削装置を提供することである。
本発明によれば、ウェーハを保持するチャックテーブルと、該チャックテーブルに保持されたウェーハの上面を研削する研削手段と、該研削手段で研削する前又は後にウェーハの下面を洗浄する下面洗浄手段と、を備えた研削装置であって、該下面洗浄手段は、ウェーハの該上面を吸引保持するウェーハ保持手段と、該ウェーハ保持手段に保持されたウェーハの径方向に延在し、ウェーハの下面に接触するブラシと、洗浄液を上方に噴射するノズルと、該径方向と直交する回転軸で該ブラシ及び該ノズルを回転させる回動基台と、を有し、該ノズルは、該ブラシの回転方向前側に隣接し、該回転方向後側に隣接する該ブラシの上端近傍に向けて該洗浄液を噴射することを特徴とする研削装置が提供される。
本発明に係る研削装置では、ウェーハの下面を洗浄する下面洗浄手段のノズルが、回転方向後側に隣接するブラシの上端近傍に向けて洗浄液を噴射するように構成されているので、ノズルから噴射された洗浄液はブラシに取り込まれて周囲に飛散し難くなる。このように、本発明によれば、ウェーハの下面を洗浄する際に周囲への洗浄液の飛散を抑制可能な研削装置を提供できる。
研削装置を模式的に示す斜視図である。 研削装置を模式的に示す平面図である。 研削装置を模式的に示す側面図(右側面図)である。 下面洗浄ユニットを模式的に示す斜視図である。 下面洗浄ユニットを模式的に示す平面図である。 下面洗浄ユニットの一部を模式的に示す側面図である。
添付図面を参照して、本発明の実施形態について説明する。図1は、本実施形態に係る研削装置を模式的に示す斜視図であり、図2は、研削装置を模式的に示す平面図であり、図3は、研削装置を模式的に示す側面図(右側面図)である。図1から図3に示すように、本実施形態に係る研削装置2は、各ユニットが搭載される直方体状の基台4を備えている。基台4の上面4a側は、カバー6(図3参照)で覆われている。
基台4の前端には、カセット載置台8a,8bが設けられており、このカセット載置台8a,8bには、複数のウェーハ11(図4等参照)を収容するカセット10a,10bが載置される。ウェーハ11は、代表的には、シリコン等の半導体材料でなる円形の板状物である。ただし、ウェーハ11はこれに限定されない。
基台4の上面4aにおいて、カセット載置台8a,8bの後方には、所定の深さの開口4bが形成されている。この開口4b内には、研削前のウェーハ11をカセット10a(又は、カセット10b)から搬出し、研削後のウェーハ11をカセット10b(又は、カセット10a)へと搬入する第1の搬送ユニット12が設けられている。
第1の搬送ユニット12は、前後方向(X軸方向)、左右方向(Y軸方向)、及び上下方向(Z軸方向)に移動可能な搬送アーム14を含む。搬送アーム14の先端には、ウェーハ11を保持する保持ハンド16が取り付けられている。この保持ハンド16は、ウェーハ11を保持した状態で上下を反転できるように構成されている。
開口4bの後方において、上面4aから所定の高さの位置には、ウェーハ11の中心を検出する中心位置検出ユニット18が設けられている。第1の搬送ユニット12でカセット10a(又は、カセット10b)から搬出されたウェーハ11は、この中心位置検出ユニット18に搬入される。
中心位置検出ユニット18の側方(左側)には、各種の電装部品を収容する直方体状の電装系ボックス20が配置されている。中心位置検出ユニット18に面する電装系ボックス20の側壁(右側壁)20aには、中心の位置が検出されたウェーハ11を搬送する第2の搬送ユニット22が設けられている。
第2の搬送ユニット22は、電装系ボックス20の側壁20aに配置され前後方向に平行なガイドレール24を含む。ガイドレール24には、X軸移動プレート26がスライド可能に設置されている。X軸移動プレート26の裏面側には、前後方向に貫通するネジ穴が設けられており、このネジ穴には、ガイドレール24と平行なX軸ボールネジ28が螺合されている。
X軸ボールネジ28の一端部には、X軸パルスモータ(不図示)が連結されている。X軸パルスモータでX軸ボールネジ28を回転させると、X軸移動プレート26は、ガイドレール24に沿って前後方向に移動する。X軸移動プレート26の表面側には、Z軸移動プレート30が設置されている。
Z軸移動プレート30の裏面側には、上下方向に貫通するネジ穴が設けられており、このネジ穴には、上下方向に伸びるZ軸ボールネジ32が螺合されている。Z軸ボールネジ32の一端部には、Z軸パルスモータ(不図示)が連結されている。Z軸パルスモータでZ軸ボールネジ32を回転させると、Z軸移動プレート30は、上下方向に移動する。
Z軸移動プレート30には、搬送アーム34が連結されている。搬送アーム34の先端には、ウェーハ11を吸着する吸着パッド(ウェーハ保持手段)36が固定されている。この吸着パッド36は、X軸移動プレート26及びZ軸移動プレート30とともに前後方向及び上下方向に移動し、また、搬送アーム34の可動範囲内で左右方向を含む水平方向に移動する。
中心位置検出ユニット18の後方において、中心位置検出ユニット18と同程度の高さの位置には、ウェーハ11の下面11b側(図4等参照)を洗浄する下面洗浄ユニット(下面洗浄手段)38が設けられている。中心位置検出ユニット18で中心の位置が検出されたウェーハ11は、第2の搬送ユニット22で下面洗浄ユニット38に搬送され、下面11b側を洗浄される。
電装系ボックス20及び下面洗浄ユニット38の後方には、2個のチャックテーブル40を上面に備えたターンテーブル42が配置されている。ターンテーブル42は、モータ等の回転駆動源(不図示)と連結されており、水平面内において所定の角度間隔(例えば、180度の間隔)で間欠的に回動する。これにより、2個のチャックテーブル40は、ウェーハ11が搬入搬出される前方の搬入搬出位置と、ウェーハ11が研削される後方の研削位置との間で移動する。
2個のチャックテーブル40は、それぞれ、モータ等の回転駆動源(不図示)と連結されており、上下方向に伸びる回転軸の周りに回転する。チャックテーブル40の上面は、ウェーハ11の下面11b側を吸引保持する保持面となっている。この保持面は、チャックテーブル40の内部に形成された流路(不図示)を通じて吸引源(不図示)と接続されている。
下面洗浄ユニット38で洗浄されたウェーハ11は、第2の搬送ユニット22で搬送され、搬入搬出位置に位置付けたチャックテーブル40の保持面に載置される。保持面に載置されたウェーハ11は、吸引源の負圧でチャックテーブル40に吸引保持される。なお、保持面は、チャックテーブル40の内部に形成された流路を通じてエア供給源(不図示)と接続されており、上向きにエアを噴射することもできる。
基台4の後端部には、チャックテーブル40に吸引保持されたウェーハ11の上面11a側を研削する研削ユニット(研削手段)44が設けられている。研削ユニット44は、基台4の上面4aに立設された門型の支持構造46に支持されている。支持構造46の前面側には、円筒状のスピンドルハウジング48が昇降可能に設置されている。スピンドルハウジング48は、上述した研削位置の上方に位置付けられている。
スピンドルハウジング48には、上下方向に伸びる回転軸の周りに回転可能なスピンドル50(図3)が支持されている。スピンドル50の下端部には、円盤状のホイールマウント52が固定されており、ホイールマウント52の下面には、ホイールマウント52と略同径の研削ホイール54が装着されている。
研削ホイール54は、ステンレス等の金属材料で構成された円盤状のホイール基台56を含む。ホイール基台56の下面には、全周にわたって複数の研削砥石58が固定されている。スピンドル50の上端側には、モータ等の回転駆動源(不図示)が連結されており、研削ホイール54は、回転駆動源から伝達される回転力で回転する。
ウェーハ11をチャックテーブル40に吸引保持させた後には、ターンテーブル42を回動させてこのチャックテーブル40を研削位置に位置付ける。その後、チャックテーブル40及び研削ホイール54を相互に回転させて、スピンドルハウジング48を所定の研削送り速度で下降させることで、上面11a側に研削砥石58を接触させてウェーハ11を研削できる。なお、ウェーハ11の研削時には、研削ホイール54の近傍に配置された研削水供給ノズル(不図示)から研削砥石58に研削水を供給する。
ターンテーブル42と隣接する位置には、ウェーハ11等の厚みをリアルタイムに検出するハイトセンサー60(図1、図2)が設置されている。ターンテーブル42に面した電装系ボックス20の後壁20bには、研削後のウェーハ11の上面11a側を洗浄する上面洗浄ユニット62(図3)が設けられている。
第2の搬送ユニット22の下方には、研削後のウェーハ11を搬送する第3の搬送ユニット64(図3)が設けられている。第3の搬送ユニット64は、電装系ボックス20の側壁20aに配置され前後方向に平行なガイド構造66を含む。ガイド構造66には、X軸移動プレート68がスライド可能に設置されている。
X軸移動プレート68の裏面側には、前後方向に貫通するネジ穴が設けられており、このネジ穴には、ガイド構造66と平行なX軸ボールネジ70が螺合されている。X軸ボールネジ70の一端部には、X軸パルスモータ(不図示)が連結されている。X軸パルスモータでX軸ボールネジ70を回転させると、X軸移動プレート68は、ガイド構造66に沿って前後方向に移動する。
X軸移動プレート68の表面側には、Z軸移動プレート72が設置されている。Z軸移動プレート72の裏面側には、上下方向に貫通するネジ穴が設けられており、このネジ穴には、上下方向に伸びるZ軸ボールネジ74が螺合されている。Z軸ボールネジ74の一端部には、Z軸パルスモータ(不図示)が連結されている。Z軸パルスモータでZ軸ボールネジ74を回転させると、Z軸移動プレート72は、上下方向に移動する。
Z軸移動プレート72には、搬送アーム76が設けられている。搬送アーム76の先端には、ウェーハ11を保持する吸着パッド78が取り付けられている。この吸着パッド78は、中心位置検出ユニット18及び下面洗浄ユニット38の下方において、X軸移動プレート68及びZ軸移動プレート72とともに前後方向及び上下方向に移動し、また、搬送アーム76の可動範囲内で左右方向を含む水平方向に移動する。
中心位置検出ユニット18及び片面洗浄ユニット38の下方には、第3の搬送ユニット64で搬送されたウェーハ11の上面11a側、及び下面11b側を洗浄する両面洗浄ユニット80が配置されている。両面洗浄ユニット80で洗浄されたウェーハ11は、第1の搬送ユニット12でカセット10b(又は、カセット10a)に搬入される。
上面洗浄ユニット62の上方には、ドレッサーボード(不図示)を待機させるドレッサーボード待機台82、及びドレッサーボードを搬送するドレッサーボード搬送ユニット84が設けられている。ドレッサーボード待機台82から搬送したドレッサーボードをチャックテーブル40に吸引保持させて研削ユニット44で研削すれば、研削砥石58をドレッシングできる。
次に、下面洗浄ユニット38について詳細に説明する。図4は、下面洗浄ユニット38を模式的に示す斜視図であり、図5は、下面洗浄ユニット38を模式的に示す平面図であり、図6は、下面洗浄ユニット38の一部を模式的に示す側面図である。
図4に示すように、下面洗浄ユニット38は、中央に円形の開口を有する筐体86を備えている。筐体86の開口内には、水平面内で放射状に延びる複数のブラシ88が配置されている。
各ブラシ88は、モータ等の回転駆動源(不図示)と連結された回転基台90の上面に固定されており、図5及び図6に示すように、上下方向に伸びる回転軸の周りの方向Aに回転する。
各ブラシ88の回転方向前側(方向Aの前側)の位置には、純水等の洗浄液を上方に噴射するノズル92が配置されている。各ノズル92は、各ブラシ88と平行な直線状に形成されている。また、各ノズル92の基端側は回転基台90に固定されており、各ノズル92は、各ブラシ88とともに方向Aに回転する。
図6に示すように、各ノズル92は、回転方向後側(方向Aの後側)において隣接するブラシ88の上端近傍(上端を含む)に向けて洗浄液Bを噴射できるように構成されている。すなわち、洗浄液Bの噴射方向は、鉛直方向に対して回転方向後側に傾斜している。
下面洗浄ユニット38でウェーハ11の下面11b側を洗浄するには、まず、ウェーハ11の上面11aに吸着パッド36の吸着面(下面)36aを接触させて、図4に示すように、ウェーハ11を吸着パッド36で吸引保持する。ここで、吸着パッド36は、下面洗浄ユニット38の一部を構成している。
次に、この吸着パッド36を、第2の搬送ユニット22でブラシ88の上方に位置付け、ブラシ88及びノズル92を回転させる。なお、ウェーハ11を吸引保持した吸着パッド36をブラシ88の上方に位置付けると、ブラシ88は、ウェーハ11の径方向に延在した状態になる。
その後、ノズル92から洗浄液Bを噴射しながら、吸着パッド36を下降させてウェーハ11の下面11b側にブラシ88を当接させることで、ウェーハ11を洗浄できる。洗浄後のウェーハ11は、チャックテーブル40に搬入されて研削される。
以上のように、本実施形態の下面洗浄ユニット38では、ウェーハ11の下面11bを洗浄する下面洗浄ユニット(下面洗浄手段)38のノズルが、回転方向後側(方向Aの後側)に隣接するブラシ88の上端近傍に向けて洗浄液Bを噴射するように構成されているので、ノズル88から噴射された洗浄液Bはブラシ88に取り込まれて周囲に飛散し難くなる。
これにより、下面洗浄ユニット38の周りに洗浄液Bの飛散を防ぐ高い壁等を設ける必要がなくなるので、研削装置2の省スペース化に有利である。
なお、本発明は上記実施形態の記載に限定されず、種々変更して実施可能である。例えば、上記実施形態では、ウェーハ11を研削する前に下面洗浄ユニット(下面洗浄手段)38で下面11bを洗浄しているが、ウェーハ11の研削後に下面11bを洗浄しても良い。
その他、上記実施形態に係る構成、方法等は、本発明の目的の範囲を逸脱しない限りにおいて適宜変更して実施できる。
2 研削装置
4 基台
4a 上面
4b 開口
6 カバー
8a,8b カセット載置台
10a,10b カセット
12 第1の搬送ユニット
14 搬送アーム
16 保持ハンド
18 中心位置検出ユニット
20 電装系ボックス
20a 側壁(右側壁)
20b 後壁
22 第2の搬送ユニット
24 ガイドレール
26 X軸移動プレート
28 X軸ボールネジ
30 Z軸移動プレート
32 Z軸ボールネジ
34 搬送アーム
36 吸着パッド(ウェーハ保持手段)
36a 吸着面(下面)
38 下面洗浄ユニット(下面洗浄手段)
40 チャックテーブル
42 ターンテーブル
44 研削ユニット
46 支持構造
48 スピンドルハウジング
50 スピンドル
52 ホイールマウント
54 研削ホイール
56 ホイール基台
58 研削砥石
60 ハイトセンサー
62 上面洗浄ユニット
64 第3の搬送ユニット
66 ガイド構造
68 X軸移動プレート
70 X軸ボールネジ
72 Z軸移動プレート
74 Z軸ボールネジ
76 搬送アーム
78 吸着パッド
80 両面洗浄ユニット
82 ドレッサーボード待機台
84 ドレッサーボード搬送ユニット
86 筐体
88 ブラシ
90 回転基台
92 ノズル
A 方向(回転方向)
B 洗浄液

Claims (1)

  1. ウェーハを保持するチャックテーブルと、該チャックテーブルに保持されたウェーハの上面を研削する研削手段と、該研削手段で研削する前又は後にウェーハの下面を洗浄する下面洗浄手段と、を備えた研削装置であって、
    該下面洗浄手段は、
    ウェーハの該上面を吸引保持するウェーハ保持手段と、
    該ウェーハ保持手段に保持されたウェーハの径方向に延在し、ウェーハの下面に接触するブラシと、
    洗浄液を上方に噴射するノズルと、
    該径方向と直交する回転軸で該ブラシ及び該ノズルを回転させる回動基台と、を有し、
    該ノズルは、該ブラシの回転方向前側に隣接し、該回転方向後側に隣接する該ブラシの上端近傍に向けて該洗浄液を噴射することを特徴とする研削装置。
JP2014177884A 2014-09-02 2014-09-02 研削装置 Active JP6366431B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2014177884A JP6366431B2 (ja) 2014-09-02 2014-09-02 研削装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2014177884A JP6366431B2 (ja) 2014-09-02 2014-09-02 研削装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2016051872A true JP2016051872A (ja) 2016-04-11
JP6366431B2 JP6366431B2 (ja) 2018-08-01

Family

ID=55659141

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2014177884A Active JP6366431B2 (ja) 2014-09-02 2014-09-02 研削装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP6366431B2 (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2020039803A1 (ja) * 2018-08-23 2020-02-27 東京エレクトロン株式会社 基板処理システム

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5616069A (en) * 1995-12-19 1997-04-01 Micron Technology, Inc. Directional spray pad scrubber
JPH10163144A (ja) * 1996-11-29 1998-06-19 Shibaura Eng Works Co Ltd スピン洗浄方法およびその装置
JPH10284448A (ja) * 1997-04-04 1998-10-23 Disco Abrasive Syst Ltd 半導体ウェーハの研磨システム
JP2010094785A (ja) * 2008-10-17 2010-04-30 Disco Abrasive Syst Ltd 研削装置

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5616069A (en) * 1995-12-19 1997-04-01 Micron Technology, Inc. Directional spray pad scrubber
JPH10163144A (ja) * 1996-11-29 1998-06-19 Shibaura Eng Works Co Ltd スピン洗浄方法およびその装置
JPH10284448A (ja) * 1997-04-04 1998-10-23 Disco Abrasive Syst Ltd 半導体ウェーハの研磨システム
JP2010094785A (ja) * 2008-10-17 2010-04-30 Disco Abrasive Syst Ltd 研削装置

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2020039803A1 (ja) * 2018-08-23 2020-02-27 東京エレクトロン株式会社 基板処理システム
JPWO2020039803A1 (ja) * 2018-08-23 2021-08-26 東京エレクトロン株式会社 基板処理システム
JP7076557B2 (ja) 2018-08-23 2022-05-27 東京エレクトロン株式会社 基板処理システム

Also Published As

Publication number Publication date
JP6366431B2 (ja) 2018-08-01

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP6335596B2 (ja) 研削装置
TW201330148A (zh) 基板洗淨方法及基板洗淨裝置
JP5669518B2 (ja) ウエーハ搬送機構
JP2018086692A (ja) 研削装置
JP6397270B2 (ja) 切削装置
JP2010114353A (ja) 研削装置
JP5356776B2 (ja) 研削装置
JP2021185628A (ja) 超音波洗浄装置および洗浄具のクリーニング装置
JPWO2019102868A1 (ja) 基板搬送装置、基板処理システム、基板処理方法及びコンピュータ記憶媒体
JP6366431B2 (ja) 研削装置
JP2006054388A (ja) 被加工物搬送装置,スピンナー洗浄装置,研削装置,被加工物搬送方法
JP2012084792A (ja) スピンナ洗浄装置及びスピンナ洗浄方法
JP7068098B2 (ja) 研削装置
JP2018192546A (ja) 切削装置
JP2011018802A (ja) 研削装置
JP6305750B2 (ja) 静電気除去装置を備えた加工機
JP5389473B2 (ja) スピンナ洗浄装置
JP6351374B2 (ja) 洗浄装置及び加工装置
JP2010251524A (ja) 洗浄機構
JP5875224B2 (ja) 研削装置
JP2010123822A (ja) ウエーハの研削方法及び研削ホイール
JP2010087443A (ja) 搬送機構
JP2022157038A (ja) 加工装置
JP2011066198A (ja) 研削加工装置
JP2015082601A (ja) 洗浄装置及び洗浄方法

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20170713

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20180130

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20180328

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20180703

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20180703

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 6366431

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250