JP2010048884A - 光ビーム走査装置と画像形成装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】 BD124が、1つの画素を構成する各光ビームのスポット位置を検出し、主走査位置情報演算部6が、その検出された各光ビームのスポット位置に基づいて、上記各光ビームの内の基準となる光ビームのスポットに対する他の各光ビームのスポットの主走査位置情報を算出し、主走査位置情報記憶部7が、その主走査位置情報を記憶し、画像処理部1が、上記主走査位置情報に基づいて、基準となる光ビームのスポットに対して他の各光ビームのスポットがそれぞれずれないように半導体レーザ駆動部2へ供給する画像データを補正する処理を行う。
【選択図】 図1
Description
従来は、1つの半導体素子から1本〜4本、多くて8本程度のレーザビームを照射する半導体レーザ光源を用いたものが多く、1光源からのレーザビームで1画素を形成していた。
この面発光レーザ光源では、複数の光源からのレーザビームで1画素を形成している。
これは、面発光レーザ光源のレーザビームの出力は、従来の半導体レーザ光源のレーザビームに比べて光量が少ない(出力が弱い)ため、1光源からのレーザビームの照射では現像に十分な光量を得られない可能性があり、現像に必要な十分な光量を得るために1画素の形成には複数の光源からのレーザビームを照射するのが適しているためである。
そのため、1画素内に照射される各レーザビーム間で発振波長に差があると、波長依存性をもつ光学系の影響により、各レーザビームのビームスポット位置が所望の位置からずれてしまい、1画素(1ドット)の形状が崩れてしまって、画像品質の劣化を引き起こす可能性がある。
また、上述した従来の光ビーム走査装置のように、1画素を構成する複数のレーザビームの駆動制御を行うことにより、副走査方向における各レーザビームのスポット位置(照射位置)の補正を行っているが、主走査方向のスポット位置の補正はできないという問題があった。
この発明は上記の点に鑑みてなされたものであり、複数のレーザビームを共通の画素クロックに基づいて発光させた照射光によって1画素を形成する際、各レーザビームの波長差によって主走査方向の照射位置がずれないようにすることを目的とする。
また、上記位置検出手段を、光ビームのスポットの走査位置を検出するフォトディテクタにするとよい。
さらに、上述のような光ビーム走査装置を搭載した画像形成装置も提供する。
〔実施例〕
図2は、この発明の実施例の画像形成装置の機能構成を示すブロック図である。
画像形成装置100は、半導体レーザ光源、ポリゴンミラーなどの光学要素を含む光学装置101と、例えばドラム状の感光体、帯電装置、現像装置などを含む像形成部102と、中間転写ベルトなどを含む転写部103を含んで構成されるカラー複写機である。
光学装置101は、半導体レーザ光源(図示省略)などの光源から放出された光ビームアを、ポリゴンミラー110により偏向させ、fθレンズなどの走査レンズ111a,111bに入射させている。
例えば、ブラックの光ビームは走査レンズ111aを透過して反射ミラー112kで反射されてWTLレンズ113kへ入射される。イエロー,シアン,マゼンタの各色の光ビームについても同様なので説明を省略する。
WTLレンズ113k〜113mは、それぞれ入射された光ビームを整形した後、反射ミラー114k〜114mへと光ビームを偏向させ、その各光ビームはさらに反射ミラー115k〜115mで反射され、それぞれ露光のために使用される光ビームK〜Mとして感光体120k〜120mへと像状照射される。
以下、感光体120k〜120mに対する主走査方向を、光ビームの走査方向として定義し、副走査方向を、主走査方向に対して直交する方向、すなわち、感光体120k〜120mの回転する方向として定義する。
感光体120k〜120mは、アルミニウムなどの導電性ドラム上に、少なくとも電荷発生層と電荷輸送層とを含む光導電層を備えている。
上記光導電層は、それぞれ感光体120k〜120mに対応して配設され、コロトロン、スコロトロン、または帯電ローラなどを含んで構成される帯電器122k〜122mにより表面電荷が付与される。
感光体120k〜120mの被走査面上にそれぞれ形成された静電潜像は、現像スリーブ、現像剤供給ローラ、規制ブレードなどを含む現像器121k〜121mによりそれぞれ現像され、感光体120k〜120mの被走査面上に現像剤像が形成される。
感光体120k〜120mの被走査面上に担持された各現像剤は、搬送ローラ131a〜131cにより矢示イの方向に移動する中間転写ベルト130上に転写される。132k〜132mは、それぞれ感光体120k〜120mに対する1次転写ローラである。
2次転写部は、2次転写ベルト133と、搬送ローラ134a,134bとを含んで構成される。
2次転写ベルト133は、搬送ローラ134a,134bにより矢示ウの方向に搬送される。
上記2次転写部には、給紙カセットなどの受像材収容部Tから上質紙、プラスチックシートなどの受像材Pが搬送ローラ135により供給される。
上記2次転写部は、2次転写バイアスを印加して、中間転写ベルト130上に担持された多色現像剤像を、2次転写ベルト133上に吸着保持された受像材Pに転写する。
上記定着装置136は、シリコーンゴム、フッソゴムなどを含む定着ローラなどの定着部材137を含んで構成されていて、受像材Pと多色現像剤像とを加圧加熱し、排紙ローラ138によって受像材Pを印刷物P′として画像形成装置100の外部へと排出する。
上記多色現像剤像を転写した後の中間転写ベルト130は、クリーニングブレードを含むクリーニング部139により転写残現像剤が除去された後、次の像形成プロセスへと供給されている。
なお、各感光体120k〜120mの主走査方向の終点付近には、それぞれ副走査検出装置(図示を省略)が配設されていて、副走査方向のずれを検出している。
この書込部は、上記各感光体120k〜120mのそれぞれに共通するので、感光体120と走査レンズ111として説明する。
書込部は、光ビームを発生させる半導体レーザ光源を備えた半導体レーザユニット3を有する。
この半導体レーザユニット3は、複数の光源を有し、その各光源からそれぞれ光ビームを発生する光ビーム発生手段である。
半導体レーザ駆動部2は、画像処理部1から供給される画像データに基づいて半導体レーザユニット3の各光源の点灯を制御する点灯制御手段である。
半導体レーザユニット3から発光されたレーザ光を、回転するポリゴンミラー110により偏向走査(スキャン)し、走査レンズ(fθレンズ)111を介して被走査媒体である感光体120上に光スポットを形成し、その感光体120を露光して静電潜像を形成する。これらのポリゴンミラー110,走査レンズ111は、感光体120上の被走査面に各光源からの複数の光ビームのスポットを集光して1つの画素を構成して走査する光学手段である。
位相同期部4は、クロック生成部5により生成された変調信号を、ポリゴンミラー110により偏向走査された半導体レーザの光ビームを検出するフォトディテクタ(PD)123に同期した位相に設定する。
この書込部は、画像処理部1により生成された画像データと位相同期部4により1ライン毎に位相が設定された画素クロックに従い、半導体レーザ駆動部2を介して半導体レーザユニット3の各光源の発光時間をコントロールすることにより、被走査媒体である感光体120上に形成する静電潜像をコントロールする。
また、光ビーム検出部(BD)124は、1つの画素を構成する各光ビームのスポット位置を検出する位置検出手段である。
主走査位置情報記憶部7は、主走査位置情報演算部6によって算出された主走査位置情報を記憶し、画像処理部1へ供給する。
そして、画像処理部1は、上記主走査位置情報に基づいて前記基準となる光ビームのスポットに対して他の各光ビームのスポットがそれぞれずれないように半導体レーザ駆動部2へ供給する画像データを補正する処理も行う。
上記画像処理部1,上記位相同期部4,上記クロック生成部5,上記主走査位置情報演算部6は、CPUによって実現され、上記主走査位置情報記憶部7は、例えば、RAMによって実現される。
半導体レーザユニット3は、例えば、VCSEL(Vertical−Cavity Surface−Emitting Laser)であり、図3に示すように、例えば、3×4のビームを有するVCSELを想定した場合、12個の各光源Da〜Dlがそれぞれ等間隔(各光源の中心点の間隔がa)に配置されており、VCSELを、主走査方向に所定の角度に傾けており、4個の光源からの光ビームのスポットによって1つの画素を形成する。
例えば、光源Da〜Dd、光源De〜Dh、光源Di〜Dlでそれぞれ1200dpiの直径の1画素を形成する場合、光源Da〜Dd、光源De〜Dh、光源Di〜Dlのそれぞれの中心点の副走査方向の間隔を4800dpiになるようにVCSELを傾けている。
画像処理部1は、同図の(a)に示すように、位相同期部4からの画素クロックに基づいて、同図の(b)に示すように、各光源Da〜Ddの発光開始時間と発光時間を示す波形の山をそれぞれ11a〜11dに設定した画像データを作成する。
各波形の山は、基準となる光ビームを発生させる光源Daについて、画素クロックに基づいて発光開始時間を決め、発光時間dtの山11aを設定すると、それに基づいて、光源Daの光ビームのスポットの照射位置と照射幅に揃えるように、その他の光源Db〜Ddの発光開始時間と発光時間を示す波形の山11b〜11dを設定する。図中atは、図3に示す間隔aの走査時間に相当する。
また、各光源の発振波長は、素子の特性によるばらつきもあるが、温度変化などによって波長が変わってしまう場合もある。
通常、複数の光源からの光ビームのスポットで1画素を形成する場合は各光源の光ビームのスポットが受像材Pの搬送方向に対して一直線になるようにするが、波長差によって1画素中の各光ビームのスポット位置の中心位置がずれてしまうと、1つの画素が不均一なドット形状となってしまう。
例えば、光源Daからの光ビームのスポットspの中心位置aに対して、光源Dbからの光ビームのスポットspの中心位置b,光源Dcからの光ビームのスポットspの中心位置c,光源Ddからの光ビームのスポットspの中心位置dが、図示のようにずれてしまい、それぞれのスポットspのスポット幅(照射幅)も同じにならないと、この4つのスポットspによって構成される画素10のドット形状が、例えば、円にならず、このように1つの画素が不均一なドット形状となってしまうと、そのような画素によって形成される画像全体の画像品質が劣化してしまうおそれがある。
まず、1つの画素を構成する各光ビームのスポット位置を検出し、その検出した各スポット位置に基づいて各光ビームの内の基準となる光ビームのスポットに対する他の各光ビームのスポットの主走査方向のずれ量と主走査方向のスポット幅のずれ量の主走査位置情報を算出する処理について説明する。
上記BD124として、CCDを使用した場合の処理について説明する。
図6の(a)に示すように、CCD125によって、1画素を構成する光源Da〜Ddの各光ビームのスポットspa〜spdのスポット位置を観測する。同図で、wa〜wdは、光源Da〜Ddの各光ビームのスポットspa〜spdの幅を示し、a〜dは、光源Da〜Ddの各光ビームのスポットspa〜spdの中心位置を示し、z1は、スポットspaの中心位置とスポットspbの中心位置のずれ量を、z2は、スポットspbの中心位置とスポットspcの中心位置のずれ量を、z3は、スポットspcの中心位置とスポットspdの中心位置のずれ量を、それぞれ示している。
図6の(b)は、CCD125で計測された各光ビームのビーム強度の変化の波形の一例を示している。なお、図6の(b)では、各波形の形状を重ならないように図示しており、各波形のビーム強度はそれぞれ波形の下辺を基準にして同じ値の変化幅を示している。主走査位置情報演算部6は、この得られた各光ビームのビーム強度の変化の波形から、基準となる光ビームDaに対する他の光ビームDb〜Ddの各ずれ量を算出する。
光ビームDaとDbの主走査位置のずれ量z1は、光ビームDaのビーム強度が最大値になる主走査位置(スポットの中心位置aに相当)と、光ビームDbのビーム強度が最大値になる主走査位置(スポットの中心位置bに相当)との差から得られる。
さらに、光ビームDcとDdの主走査位置のずれ量z3は、光ビームDcのビーム強度が最大値になる主走査位置と、光ビームDdのビーム強度が最大値になる主走査位置(スポットの中心位置dに相当)との差から得られる。
また、各スポットのスポット幅wa,wb,wc,wdもそれぞれの波形の主走査位置に基づいて求めることができる。
主走査位置情報演算部6は、上述のようにして求めた各光ビームの主走査方向のスポット位置及びビーム幅の主走査位置情報を主走査位置情報記憶部7に記憶する。
そして、主走査位置情報記憶部7に記憶された主走査位置情報に基づいて、画像処理部1が画像データを補正する。
同期検知板とは、光ビームの走査位置を検出するフォトダイオードであり、この同期検知板上を走査することで発生する同期信号に基づいて各スポット同士のずれ量を求めることができる。
したがって、この同期検知板を用いた場合、画像処理部1における画像データの補正処理では、スポット幅の補正と位相の補正は行わずにスポットの位置の補正のみ行うことになる。
図7は、同期検知板を用いて光ビームのスポットのずれ量を算出する処理の説明図である。
すると、受光部127は各スポットspa〜spdの入射光量に応じて低下した電圧値を出力する。
まず、受光部127は、光ビームの入射前は電圧値V0を出力している。ここで、光源Ddの光ビームのスポットspdを検知すると、スポットspdの入射光量に応じて電圧値をV0からVdに低下させて出力し、光源Dcの光ビームのスポットspcを検知すると、スポットspcの入射光量に応じてさらに電圧値をVdからVcに低下させて出力する。さらに、光源Dbの光ビームのスポットspbを検知すると、スポットspbの入射光量に応じてさらにまた電圧値をVcからVbに低下させて出力し、光源Daの光ビームのスポットspaを検知すると、スポットspaの入射光量に応じてさらにまた電圧値をVbからVaに低下させて出力する。
そして、主走査位置情報演算部6では、上述のような受光部127から出力される電圧値の変化と経過時間とにより、図7の(b)のta=(ta−in)−(tb−in)を演算し、その演算で得られた時間taと光ビームの主走査方向への単位時間当たりの移動距離(移動速度)に基づいて、スポットspaとspbとのスポット位置のずれ量を求める。同様にして、tbからスポットspaとspcとのスポット位置のずれ量を、tcからスポットspaとspdとのスポット位置のずれ量をそれぞれ求めて、その各ずれ量を主走査位置情報として主走査位置情報記憶部7に記憶する。
このようにして、1つの画素を構成する複数の光源のビームスポット位置を検出する手段として、同期検知板を使用すれば、新たに計測手段を追加する必要がなく、コストの増加を抑制することができる。
まず、1画素を構成する各光源の点灯開始時間を補正して各光ビームのスポット位置の主走査方向のずれを補正する処理について説明する。
図8は、各光源の点灯開始時間を補正する場合の説明に供する波形図である。
このように、光源Daの画像データ信号を基準とし、その他の光源Db〜Ddの画像データの書き出しタイミング(点灯開始時間に相当する)を前後させることにより、各光源Da〜Ddから出力された光ビームのスポット位置が主走査方向について揃うように補正している。
そこで、その書き出し位置を、上述したような画像データの補正により、実際の光ビームのスポット位置のずれが考慮された各光ビームのスポットの間隔に補正し、各スポットの照射位置を1画素を構成するのにずれがないように補正する。
この補正処理では、画素クロック単位、つまり1ドットを最小補正量として行われる。
このようにして、1つの画素を構成する複数光源のビームスポットの主走査位置を補正する手段として、各光源のデータ点灯開始時間を制御しているので、画素クロック単位での補正を行うことができる。
図9は、各光源の光ビームのスポットの位相を補正する場合の説明に供する波形図である。
このようにして、画像処理部1は、基準となる光ビームのスポットの位相に対して他の各光ビームのスポットの位相を補正する。
このように、画像データの点灯位相を制御することにより、各光ビームのスポットの照射範囲も揃えることができ、光ビームのスポット位置を高精度に補正することができる。
図10は各光源の光ビームのスポット幅を補正する場合の説明に供する波形図である。
例えば、光源Daの光ビームを基準となる光ビームに決め、点灯時間を画素クロック1周期よりも短い時間dt1にした山14aを、画素クロック1周期に対して位相を中央に配置するように設定した場合、その光源Daの波形の山14aに対して、上述した主走査位置情報のずれ量とスポット幅に基づいて、例えば、光源Dbについては、補正前の山14bの幅をずれ量とスポット幅に応じて山14b′の幅dt2まで広げるように補正し、光源Dcについては、補正前の山14cの幅をずれ量とスポット幅に応じて山14c′の幅dt3まで狭めるように補正し、光源Ddについては、補正前の山14dの幅をずれ量とスポット幅に応じて山14d′の幅dt4まで狭めるように補正する。この場合は、dt2>dt1>dt3>dt4の場合を示す。
このようにして、波長の違いによる各光ビームの主走査方向のスポット形状を補正することができる。
図11は、図2に示した書込部の他の構成を示す機能ブロック図であり、図1と共通する部分は同一符号を付して、その説明を省略する。
この書込部では、新たに設けた補正方法判断部8が、主走査位置情報記憶部7に記憶された主走査位置情報に基づいて、基準となる光ビームの光源の点灯開始時間に対して他の各光ビームの各光源の点灯開始時間の補正と、基準となる光ビームのスポットの位相に対して他の各光ビームのスポットの位相の補正と、基準となる光ビームのスポット幅に対して他の各光ビームのスポット幅の補正とのいずれにするかを判断し、その判断結果を画像処理部1へ通知する。
そして、画像処理部1は、補正方法判断部8の判断結果に基づいて、上述した基準となる光ビームの光源の点灯開始時間に対して他の各光ビームの各光源の点灯開始時間の補正と、基準となる光ビームのスポットの位相に対して他の各光ビームのスポットの位相の補正と、基準となる光ビームのスポット幅に対して他の各光ビームのスポット幅の補正とのいずれかにより、基準となる光ビームのスポットに対して他の各光ビームのスポットがそれぞれずれないように画像データを補正する処理を行う。
このようにして、主走査位置情報記憶部7に記憶された主走査位置情報に基づいて、最適な補正方法を選択して実行することができるので、自動補正を行うことができる。
しかし、VCSELのように複数の光源によって1画素を構成する場合、同一画素内の各光源に対する画素クロックは共通であり、従来の画素クロックを制御する補正方法では、1画素内の各光ビームのスポット位置とスポット幅を個別に補正することができない。
そこで、この実施形態の画像形成装置では、上述のようにして各光源毎に出力する画像データを補正することにより、共通の画素クロックを使用する光源間でも、その各光源からの光ビームの主走査方向のスポット位置が揃うように補正し、画像劣化を低減することができる。
Claims (9)
- 複数の光源を有し、前記各光源からそれぞれ光ビームを発生する光ビーム発生手段と、前記光ビーム発生手段の各光源の点灯を画像データに基づいて制御する点灯制御手段と、前記画像データを生成して前記点灯制御手段に転送する画像データ処理手段と、被走査面に前記各光源からの複数の光ビームのスポットを集光して1つの画素を構成して走査する光学手段とを備えた光ビーム走査装置において、
前記1つの画素を構成する各光ビームのスポット位置を検出する位置検出手段と、前記位置検出手段によって検出した各スポット位置に基づいて前記各光ビームの内の基準となる光ビームのスポットに対する他の各光ビームのスポットのずれ量を算出するずれ量算出手段とを設け、前記画像データ処理手段が、前記ずれ量算出手段によって算出されたずれ量に基づいて前記基準となる光ビームのスポットに対して他の各光ビームのスポットがそれぞれずれないように前記画像データを補正するようにしたことを特徴とする光ビーム走査装置。 - 請求項1記載の光ビーム走査装置において、前記画像データ処理手段の前記画像データの補正は、前記基準となる光ビームの光源の点灯開始時間に対して他の各光ビームの各光源の点灯開始時間を補正することを特徴とする光ビーム走査装置。
- 請求項1記載の光ビーム走査装置において、前記画像データ処理手段の前記画像データの補正は、前記基準となる光ビームのスポットの位相に対して他の各光ビームのスポットの位相を補正することを特徴とする光ビーム走査装置。
- 請求項1記載の光ビーム走査装置において、前記画像データ処理手段の前記画像データの補正は、前記基準となる光ビームのスポット幅に対して他の各光ビームのスポット幅を補正することを特徴とする光ビーム走査装置。
- 請求項1記載の光ビーム走査装置において、前記ずれ量算出手段によって算出されたずれ量を記憶するずれ量記憶手段と、前記ずれ量記憶手段に記憶されたずれ量に基づいて、前記基準となる光ビームの光源の点灯開始時間に対して他の各光ビームの各光源の点灯開始時間の補正と、前記基準となる光ビームのスポットの位相に対して他の各光ビームのスポットの位相の補正と、前記基準となる光ビームのスポット幅に対して他の各光ビームのスポット幅の補正とのいずれにするかを判断する判断手段とを設け、前記画像データ処理手段が、前記判断手段の判断結果に基づいて、前記基準となる光ビームの光源の点灯開始時間に対して他の各光ビームの各光源の点灯開始時間の補正と、前記基準となる光ビームのスポットの位相に対して他の各光ビームのスポットの位相の補正と、前記基準となる光ビームのスポット幅に対して他の各光ビームのスポット幅の補正とのいずれかにより、前記基準となる光ビームのスポットに対して他の各光ビームのスポットがそれぞれずれないように前記画像データを補正するようにしたことを特徴とする光ビーム走査装置。
- 請求項1記載の光ビーム走査装置において、前記画像データ処理手段の前記画像データの補正は、前記基準となる光ビームの光源の点灯開始時間に対して他の各光ビームの各光源の点灯開始時間の補正と、前記基準となる光ビームのスポットの位相に対して他の各光ビームのスポットの位相の補正と、前記基準となる光ビームのスポット幅に対して他の各光ビームのスポット幅の補正とのいずれか2つ又は全てを組み合わせて補正することを特徴とする光ビーム走査装置。
- 請求項1乃至6のいずれか一項に記載の光ビーム走査装置において、前記画像データ処理手段の前記画像データの補正を、画像印刷ジョブ毎に実行することを特徴とする光ビーム走査装置。
- 請求項1乃至7のいずれか一項に記載の光ビーム走査装置において、前記位置検出手段は、光ビームのスポットの走査位置を検出するフォトディテクタであることを特徴とする光ビーム走査装置。
- 請求項1乃至8のいずれか一項に記載の光ビーム走査装置を搭載したことを特徴とする画像形成装置。
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