JP2010032347A - 検出装置 - Google Patents

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Abstract

【課題】
高次成分による検出誤差を補正することにより高精度な検出装置を提供する。
【解決手段】
本発明の検出装置は、被検出物の位置を表すコサイン関数及びサイン関数で近似される二つの信号A、Bに含まれる誤差成分を検出する検出装置であって、二つの信号A、Bに基づいて被検出物の位置を表す位相θを算出する第1のアークタンジェント演算部5と、二つの信号A、B及び位相θの複数のサンプリング値を記憶する演算記憶装置9、10と、複数のサンプリング値を用いてフーリエ変換することにより、
A=α+αcosθ+βsinθ+ … +αcoskθ+βsinkθ
B=γ+γcosθ+δsinθ+ … +γcoskθ+δsinkθ
(A、B:二つの信号、θ:位相、k≧2)
で表される二つの式における各項の係数α、β、γ、δを求めるFFT演算器11、12とを有する。
【選択図】図1

Description

本発明は、被検出物の位置を表すコサイン関数及びサイン関数で近似される二つの位置信号に含まれる誤差成分を検出する検出装置に関する。
位置又は角度をコサイン関数及びサイン関数に近似される二つの位置信号に含まれる誤差成分を検出する検出装置は、エンコーダや干渉計等、幅広い分野で工業的に使用されている。これらの位置信号は、例えば、A=Gcosθ及びB=Gsinθの2式で近似される。
このような位置信号は、A/D変換器を用いてデジタル信号に変換され、マイクロプロセッサ(MPU)又はデジタル信号プロセッサ(DSP)を用いてアークタンジェント演算が施される。このような演算により、位置又は角度に比例する値(位相θ)を高い分解能で得ることができる。
検出器が出力する信号には、オフセット誤差や振幅誤差等が含まれている。これらの誤差を補正して高精度で検出を行う検出装置として、例えば特許文献1が知られている。また、その他の誤差を補正する技術として、例えば特許文献2が提案されている。特許文献2には、オフセット誤差や振幅誤差に加え、位相差誤差、二次歪及び三次歪による誤差の補正方法が開示されている。

米国特許第4,458,322号 米国特許第5,581,488号
ところで、検出器が出力する位置信号は、理想的なコサイン関数及びサイン関数とは異なり、種々の周波数成分からなる誤差成分を含む。例えば、検出器のヘッドから出力される二つの位置信号を振幅Gで除した信号は、式(1)及び(2)で表される。
A/G=cosθ+Z+gcosθ+hsinθ+ … +pcoskθ+qsinkθ … (1)
B/G=sinθ+Z−gsinθ+hcosθ+ … +rcoskθ+ssinkθ … (2)
この結果、得られる位置又は角度である位置信号(位相θ)には、種々の誤差成分が含まれていることがわかる。従来の検出装置(誤差補正技術)は、個々の誤差要因に対して個別に補正を行なっていた。このため、多数の誤差要因に対処するには、検出装置が非常に複雑になるという問題があった。
本発明の一側面としての検出装置は、被検出物の位置を表すコサイン関数及びサイン関数で近似される二つの信号に含まれる誤差成分を検出する検出装置であって、前記二つの信号に基づいて前記被検出物の位置を表す位相を算出する位相演算部と、前記二つの信号及び前記位相の複数のサンプリング値を記憶する記憶部と、前記複数のサンプリング値を用いてフーリエ変換することにより、
A=α+αcosθ+βsinθ+ … +αcoskθ+βsinkθ
B=γ+γcosθ+δsinθ+ … +γcoskθ+δsinkθ
(A、B:二つの信号、θ:位相、k≧2)
で表される二つの式における各項の係数α、β、γ、δを求めるフーリエ変換部とを有する。
本発明のその他の目的及び特徴は、以下の実施例において説明される。
本発明によれば、高次成分による検出誤差を補正することにより高精度な検出装置を提供することができる。
以下、本発明の実施例について、図面を参照しながら詳細に説明する。各図において、同一の部材については同一の参照番号を付し、重複する説明は省略する。
本実施例の検出装置は、被検出物の位置を表すコサイン関数及びサイン関数で近似される二つの信号に含まれる誤差成分を検出する検出装置である。本実施例の検出装置は、各位置信号に含まれる高次成分に起因する検出誤差を抑制する。
本実施例は、複雑な信号処理を含むため、デジタル演算器を用いて構成することが好ましい。このため、アナログ信号として出力される位置信号は、まず、A/D変換器によりデジタル信号に変換される。A/D変換器のビット幅は、要求される分解能に応じて選択可能であるが、一般には8ビットから18ビット幅のものが用いられる。
本実施例においては、検出器の位相θが0〜2πに変化する間に、多数の検出値が必要となる。このため、A/D変換器の変換速度(サンプリング周波数)は、充分に高速であることが好ましい。一般に、高精度の検出が要求されるのは、検出対象が低速で移動している期間である。このため、A/D変換が追従できない間は、誤差の補正を中止しても実用上は問題ない。
しかしながら、通常はより広い範囲で誤差補正を行なうことが好ましい。このため、本実施例の検出装置に用いられるA/D変換器としては、例えば、逐次比較型等の高速A/D変換器が用いられる。また、本実施例において、A/D変換周波数は100kHz以上に設定するのが好ましいが、これに限定されるものではない。
A/D変換器から出力されるデジタル信号は、マイクロプロセッサ(MPU)やデジタル信号プロセッサ(DSP)を用いて処理することが可能である。ただし、本実施例のような高速な処理は、ゲートアレイを用いたパイプライン処理によって実行するのが現実的である。
近年は、プログラム書き換えの可能なFPGA(フィールド・プログラマブル・ゲート・アレイ)も各種入手可能である。FPGAを用いれば、小ロットの生産に際しても、ゲートアレイを用いた高速のパイプラインデジタル信号処理装置を構成することが可能である。
デジタル化された位置信号は、信号処理に先立って、その中に含まれる誤差成分を除去することが好ましい。これは、フーリエ係数を用いた角度の補正は近似的であり、大きな誤差を含む場合、精度良く誤差を補正することは困難であることがその理由である。誤差の除去は、例えば式(3)及び(4)の演算を論理回路によって構成することによって実行される。
A*=A/G−ZA−gcosθ−hsinθ … (3)
B*=B/G−ZB−gsinθ−hcosθ … (4)
ここで、G,Z、Z、g及びhの初期値としては、適当な値を用いることができる。適当な値が未知の場合、これらの初期値を0とすることができる。これらの初期値は、後述の1次及び2次のフーリエ係数を用いて補正を施すことが可能である。
また、位相θは、前回に得られた位相θに、位相θの時間回帰係数の傾きを用いて、次のサンプリング時刻における位相θの値を予想することで与えられる。サイン関数とコサイン関数は、ROMを用いた表引きにより実現される。
次いで、位相θは、A*とB*とを用いてアークタンジェント演算を行なうことにより算出される。アークタンジェント演算は、0〜2πの範囲にわたって値を得る必要がある。
このようなアルゴリズムは、例えばC言語におけるATAN2関数等として広く知られている。その概要を述べれば、まず、それぞれの符号と大小関係を記憶し、双方を絶対値化した後、小さな信号を大きな信号で除す。この除算結果をインデックスとして、0〜π/4の範囲でアークタンジェントテーブルを引き、この間の角度を求める。先に記憶した符号と大小関係から、0〜2πの範囲に拡張するアルゴリズムを構成することができる。
A*及びB*は、フーリエ変換をFFTアルゴリズムで実行するため、信号1周期を2等分(M≧3)する点でサンプリングして算出されることが好ましい。A/D変換器が位置信号の変動周期に比べて充分に高速であれば、理想的な点に最も近い点の信号値を用いることが可能である。しかし、本実施例において、ノイズを確実に抑制するには、以下の手法を実行することが好ましい。
この手法は、A/D変換器が位置信号を一定時間でサンプリングしていることを利用して、位相θとA*及びB*をそれぞれ時間で回帰し、位相θの特定の点におけるA*及びB*の値を推定する。すなわち、位相θが特定の値を通過したことが検出された際、通過の時刻を位相θに対する回帰係数から逆算し、その時刻におけるA*及びB*の値を回帰係数から算出する。
回帰演算は、過去の多数の値を保持して実行することが可能である。しかし、回帰演算をより簡便に実行するには、カルマンフィルタを用いることが好ましい。カルマンフィルタによる手法は公知であるが、以下、そのアルゴリズムについて簡単に説明する。
独立変数θ、A*及びB*を以下ではxで表す。これらの値は、際限なく増加減少する可能性があるため、これらの値をそのまま使用したのでは、これらの値を保持するためのレジスタの幅が巨大となる。そこで、これらの値を最新の値xに対する差として取り扱うことが好ましい。
また、時刻についても、現在の時刻をゼロとし、過去のサンプリングインターバル毎に、一つずつ増加する値として表現することが好ましい。このような表現手法を採用したときの回帰式は、以下の式(5)で与えられる。ここで、c及びbは回帰係数である。
p(x−x)=c+bkp … (5)
ここで、pは2−N(N:自然数)であり、回帰に使用されるサンプルの大きさに対応する。サンプル数が大き過ぎる場合、回帰の前提としている直線から値が大きく異なり、回帰誤差が大きくなる。このような現象は、高速で移動した際に生じる。回帰演算は、個々の値に含まれるノイズを抑制する効果がある。しかし、pの値が大きくサンプル数が少ない場合、この効果が十分に発揮されない。pの異なる複数のカルマンフィルタを準備し、移動速度に応じて使用する回帰係数を切替える装置構成とすれば、常に最適のサンプルサイズで演算を実行することができる。
回帰係数は、新しいデータが得られる毎に、以下の式(6)〜(10)を用いて繰返し演算することで算出される。
q=f’−pΔx … (6)
b=V’x、k+pq … (7)
x,k=(1−p)b … (8)
=(1−p)q … (9)
c=f−Vx,k … (10)
ここで、qは作業用の信号線又はレジスタであり、f、Vx,kは内部で保持されるフィルター値であり、それぞれにダッシュ(’)を付したフィルター値は前回の演算結果であるフィルター値である。
式(6)〜(10)を用いた演算によりb及びcの値が得られれば、先の回帰式にこれらの係数をあてはめることにより、任意の時刻における位相θ、A及びBの値を算出することが可能となる。また、位相θが特定の値をとる時刻kも算出可能である(この場合のkは、小数点以下を含む。)。
本実施例では、位相θの0〜2πの範囲を2等分(M≧3)する点におけるA*及びB*のそれぞれの値A*及びB*が記憶される。このとき、以前に記憶された値を完全に書き換えることもできるが、次の式(11)、(12)を用いた演算により、その一部のみ変更することも可能である。このような処理を実行することにより、ノイズの影響を抑制した検出装置を提供することができる。
* =A’+r(A−A’) … (11)
* =B’+r(B−B’) … (12)
本実施例において、移動速度に応じてpの値を切替える検出装置の構成を採用した場合、pの切替えと同期してrの値を変えることが好ましい。すなわち、移動速度が遅く、大きなサンプルサイズが選択されている場合、A及びBに含まれるノイズは充分に抑制されていることが期待されるため、rを大きな値に設定することが可能である。このようにすることで、誤差の変動に対する追従性を改善することができる。
本実施例において、位相θは、0〜2πの範囲で蓄積すればよい。ただし、二回反射型レーザ干渉計の信号に見られるように、信号2周期あたり1周期の誤差成分が含まれる場合、位相θを0〜4πの範囲で蓄積することが好ましい。このようにすることにより、通常の高次成分以外に、1/2周期の誤差成分を分離観測することができ、この誤差成分についても上記と同様のアルゴリズムで補正することが可能となる。
上記手法により記憶されたA及びBに対してFFT(高速フーリエ変換)演算を施すことにより、次の式(13)、(14)におけるA*及びB*を表すためのフーリエ係数α、β、γ、δの組を得ることができる.
A* = α+αcosθ+βsinθ+αcos2θ+βsin2θ+ … +αcoskθ+βsinkθ … (13)
B* = γ+γcosθ+δsinθ+γcos2θ+δsin2θ+ … +γcoskθ+δsinkθ … (14)
これにより、A*及びB*に含まれる誤差を次の式(15)、(16)で補正することが可能となる。
A^ = (A*−α−β’sinθ−αcos2θ−βsin2θ− … −αcoskθ−βsinkθ)/α … (15)
B^ = (B*−γ−γ’sinθ−γcos2θ−δsin2θ− … −γcoskθ−δsinkθ)/δ … (16)
ここで、β’=γ’=(β+γ)/2とする。これは、β’− γ’がゼロでない場合、A^及びB^から演算される位相が変化してしまうためである。
入力段での誤差補正に用いられる係数G、g、Z、Zは、上記係数より次の式(17)〜(21)のように補正される。
G=G+q(α+δ) … (17)
g=g+q(α−δ) … (18)
=Z+qα … (19)
=Z+qγ … (20)
h=q(β+γ)/2 … (21)
ここで、qは緩和係数であり、0〜1の範囲における所定の定数である。緩和係数qの値を大きくすると、入力段での誤差補正係数の適正化が速やかに実行可能となる。ただし、ノイズ等の影響を受けやすくなる。信号歪は後段でも補正されるため、入力段での誤差補正は完全である必要はない。このため、本実施例において、緩和係数qの値は0.01〜0.1の範囲に設定することが好ましい。
次に、本実施例の検出装置における検出誤差補正方法について説明する。図1は、本実施例における検出装置の検出ブロック図である。
図1において、20は被検出物の位置を検出して二つの位置信号A、Bを出力する検出部である。検出部20は例えばエンコーダであり、位相が互いに90度異なる2相の位置信号を出力する。2相の位置信号A、Bは、理想的には、それぞれGcosθ、Gsinθ(G:振幅、θ:位相)で表される。
検出部20から出力された位置信号A、Bはアナログ信号であり、それぞれ、A/D変換器1、2に入力される。A/D変換器1、2は、アナログ信号である位置信号A、Bをデジタル信号に変換して出力する。
これらのデジタル信号は、それぞれ、演算器3、4に入力される。演算器3、4は、これらのデジタル信号に含まれる誤差成分を除去して、信号A*及びB*を出力する。
演算器3から出力された信号A*は、アークタンジェント演算器5及び回帰演算器7に入力される。また、演算器4から出力された信号B*は、第1のアークタンジェント演算器5(位相演算部)及び回帰演算器8に入力される。
第1のアークタンジェント演算器5(位相演算部)は、演算器3、4から入力された信号A*、B*(二つの位置信号)に基づいて、被検出物の位置を表す位相θを算出して出力する。第1のアークタンジェント演算器5から出力された位相θは、回帰演算器6に入力される。
回帰演算器6は、位相θの回帰係数を算出する一次回帰演算器である。また、回帰演算器7、8は、信号A*、B*それぞれの回帰係数を算出する二次回帰演算器である。回帰演算器6、7で算出された信号A*及び位相θの回帰係数は、演算記憶装置9(記憶部)に入力される。また、回帰演算器6、8で算出された信号B*及び位相θの回帰係数は、演算記憶装置10(記憶部)に入力される。
演算記憶装置9は、位相jπ/8(0≦j≦15)における信号A*及び位相θの値をサンプリングし、サンプリングにより得られた複数のサンプリング値の組を記憶する。同様に、演算記憶装置10は、位相jπ/8(0≦j≦15)における信号B*及び位相θの値をサンプリングし、サンプリングにより得られた複数のサンプリング値の組を記憶する。
なお、本実施例において、jは0〜15の範囲に設定されているが、これに限定されるものではない。要求される精度に応じて、jの最大値を15未満の値に設定することや、16以上の値に設定してもよい。本実施例では、後述のようにフーリエ変換を行うが、この場合、2πを2等分(M≧3)する位相においてサンプリングすることが好ましい。
演算記憶装置9、10は、サンプリングされた所定の位相における信号A*、B*を、それぞれ、FFT演算器11、12(フーリエ変換部)に出力する。
FFT演算器11は、演算記憶装置9から入力された信号A*(サンプリング値)を用いてフーリエ変換することにより、上記の式(13)における各次数の各項(コサイン及びサインの項)の係数α、βを算出する。同様に、FFT演算器12は、演算記憶装置10から入力された信号B*(サンプリング値)を用いてフーリエ変換することにより、上記の式(14)における各次数の各項(コサイン及びサインの項)の係数γ、δが算出される。
このように、FFT演算器11、12は、演算記憶装置9、10でサンプリングされた複数のサンプリング値を用いて、式(13)、(14)で表される二つの式にフーリエ変換し、二つの式における各項の係数α、β、γ、δを求める。
FFT演算器11で算出された係数は、補正演算器13(補正部)に入力される。また、補正演算器13には、演算器3の出力信号である信号A*が入力される。補正演算器13は、FFT演算器11で算出された各項の係数を用いて、信号A*に含まれる誤差を小さくするように信号A*を補正し、補正後の信号A^を出力する。
同様に、FFT演算器12で算出された係数は、補正演算器14(補正部)に入力される。また、補正演算器14には、演算器4の出力信号である信号B*が入力される。補正演算器14は、FFT演算器12で算出された各項の係数を用いて、信号B*に含まれる誤差を小さくするように信号B*を補正し、補正後の信号B^を出力する。
このように、補正演算器13、14は、係数α、β、γ、δを用いて、二つの信号A*、B*を補正する。
なお、FFT演算器11、12で算出された各次数のコサイン及びサインの項の係数は、各信号A*、B*に含まれる誤差の量に対応している。このため、本実施例の検出装置は、これらの係数を演算器3、4のそれぞれフィードバックし、これらの係数が小さくなるように制御する。
補正演算器13、14にて補正された信号A^、B^は、第2のアークタンジェント演算器15に入力され、第2のアークタンジェント演算器15により、位相θ*が算出される。第2のアークタンジェント演算器15にて算出された位相θ*は、検出誤差が補正された位相であり、本実施例の検出装置は、この補正された値を測定値として、被検出物の位置検出を行う。
本実施例の検出装置は、位置又は角度の検出に際し、位置信号に含まれる種々の誤差成分を効率よく予測し、これを補正することができる。このため、位置又は角度の検出及び制御の幅広い工業分野で利用可能である。
以上、本実施例によれば、高次成分による検出誤差を補正することにより高精度な検出装置を提供することができる。
また、本実施例によれば、コサイン関数及びサイン関数で近似される二つの位置信号に含まれる信号の歪を自動的に検出し、これによる位置又は角度に含まれる誤差を推定することが可能である。このため、この推定誤差を差し引くことにより、位置又は角度を高い精度で検出することができる。
本実施例で用いられるアルゴリズムはフーリエ変換であり、次数を選択することにより、産業界の幅広い目的に最適な装置を構成することができる。すなわち、高次の項まで使用することで高い精度を得ることができる一方、精度がさほど要求されない場合には低次の項のみを使用することで簡素な装置を構成することも可能である。
以上、本発明の実施例について具体的に説明した。ただし、本発明は上記実施例として記載された事項に限定されるものではなく、本発明の技術思想を逸脱しない範囲内で適宜変更が可能である。
例えば、本実施例では、二つの信号A*、B*を補正する補正演算器13、14を用いているが、これに限定されるものではない。これに代えて、位相θを補正する補正演算器を用いることもできる。この場合、第1のアークタンジェント演算器5から出力される位相θ、及び、FFT演算器11、12から出力される各係数を入力する別の補正演算器が用いられる。この補正演算器から出力される補正後の位相θ*を用いて被検出物の検出が可能である。
本実施例における検出装置の検出ブロック図である。
符号の説明
1、2:A/D変換器
3、4:演算器
5:第1のアークタンジェント演算器
6、7、8:回帰演算器
9、10:演算記憶装置
11、12:FFT演算器
13、14:補正演算器
15:第2のアークタンジェント演算器



Claims (3)

  1. 被検出物の位置を表すコサイン関数及びサイン関数で近似される二つの信号に含まれる誤差成分を検出する検出装置であって、
    前記二つの信号に基づいて前記被検出物の位置を表す位相を算出する位相演算部と、
    前記二つの信号及び前記位相の複数のサンプリング値を記憶する記憶部と、
    前記複数のサンプリング値を用いてフーリエ変換することにより、
    A=α+αcosθ+βsinθ+ … +αcoskθ+βsinkθ
    B=γ+γcosθ+δsinθ+ … +γcoskθ+δsinkθ
    (A、B:二つの信号、θ:位相、k≧2)
    で表される二つの式における各項の係数α、β、γ、δを求めるフーリエ変換部と、
    を有することを特徴とする検出装置。
  2. 前記記憶部は、2πを2等分(M≧3)する位相における前記複数のサンプリング値を記憶することを特徴とする請求項1記載の検出装置。
  3. 被検出物の位置を表すコサイン関数及びサイン関数で近似される二つの信号に含まれる誤差成分を検出する検出装置であって、
    前記被検出物の位置を検出して前記二つの信号を出力する検出部と、
    前記二つの信号に基づいて前記被検出物の位置を表す位相を算出する位相演算部と、
    前記二つの信号及び前記位相の複数のサンプリング値を記憶する記憶部と、
    前記複数のサンプリング値を用いてフーリエ変換することにより、
    A=α+αcosθ+βsinθ+ … +αcoskθ+βsinkθ
    B=γ+γcosθ+δsinθ+ … +γcoskθ+δsinkθ
    (A、B:二つの信号、θ:位相、k≧2)
    で表される二つの式における各項の係数α、β、γ、δを求めるフーリエ変換部と、
    前記各項の係数を用いて、前記二つの信号に含まれる誤差を小さくするように補正する補正部と、
    を有することを特徴とする検出装置。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2013088152A (ja) * 2011-10-14 2013-05-13 Canon Inc エンコーダおよびこれを備えた装置
JP5341267B1 (ja) * 2013-01-11 2013-11-13 捷利 壬生 変位量検出装置、およびその誤差・検出・評価方法

Families Citing this family (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5327656B2 (ja) * 2011-07-13 2013-10-30 株式会社デンソー 物理量検出装置、および物理量検出装置の検査方法
EP2615424B1 (en) * 2012-01-13 2014-01-08 SICK STEGMANN GmbH Method for supervising the correct function of a periodically modulated sensor controlling the position of a rotating system and controller device for performing this method
JP6215527B2 (ja) * 2012-02-02 2017-10-18 旭化成エレクトロニクス株式会社 物理量計測装置及び物理量計測方法
EP2674729B1 (en) * 2012-06-15 2016-07-13 SICK STEGMANN GmbH Position encoder
KR101335162B1 (ko) * 2012-11-19 2013-12-02 한밭대학교 산학협력단 레졸버를 위한 위치 오차 보정 장치 및 보정 방법
CN102944258A (zh) * 2012-11-26 2013-02-27 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 高精度编码器光电信号细分误差的检测方法
KR20170029608A (ko) * 2014-08-14 2017-03-15 콘티넨탈 오토모티브 게엠베하 2개의 센서 신호 간의 직교성 에러를 결정하는 방법
DE102017216536B4 (de) * 2017-09-19 2023-07-06 Vitesco Technologies GmbH Verfahren zur Kompensation von Störungen eines gemessenen Winkelsignals eines magnetischen Winkelsensors einer elektrischen Maschine und ein entsprechend ausgebildeter Mikrokontroller, eine elektrische Maschine, sowie ein Computerprogrammprodukt
SE542950C2 (en) * 2018-02-01 2020-09-22 Leine & Linde Ab Methods, computer programs, devices and encoders for signal error correction
CN110362365B (zh) * 2018-03-26 2024-02-13 吕纪竹 一种实时预测流数据变化趋势的方法
JP7246892B2 (ja) * 2018-10-29 2023-03-28 キヤノン株式会社 位置検出装置、レンズ装置、位置検出方法、および、プログラム
CN109855667B (zh) * 2018-12-21 2022-02-22 金卡智能集团股份有限公司 一种适用于不同表具的误差校准方法
CN110389745B (zh) * 2019-05-15 2023-10-13 广东工业大学 一种基于基尼回归的信号检测与估计电路及方法
CN110426071A (zh) * 2019-08-30 2019-11-08 新代科技(苏州)有限公司 旋转编码器精度估测装置及应用其的估测方法

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4458322A (en) * 1981-06-19 1984-07-03 Manhattan Engineering Co., Inc. Control of page storage among three media using a single channel processor program and a page transfer bus
JPH0371017A (ja) * 1989-08-10 1991-03-26 Mitsubishi Kasei Corp 信号校正装置
JPH0371016A (ja) * 1989-08-10 1991-03-26 Mitsubishi Kasei Corp 信号校正装置
JP2006112862A (ja) * 2004-10-13 2006-04-27 Mitsutoyo Corp エンコーダ出力信号補正装置及び方法
JP2006170837A (ja) * 2004-12-16 2006-06-29 Alps Electric Co Ltd 補償機能を備えた角度検出センサ
JP2008509414A (ja) * 2004-08-09 2008-03-27 シーメンス アクチエンゲゼルシヤフト 位置信号の決定方法

Family Cites Families (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0643892B2 (ja) 1984-02-15 1994-06-08 旭光学工業株式会社 測角誤差の補正装置
US5581488A (en) 1989-08-10 1996-12-03 Mitsubishi Chemical Corporation Apparatus and method for compensating for noise in signals
JP2543245B2 (ja) 1990-09-17 1996-10-16 オ−クマ株式会社 位置検出誤差補正装置
JPH07218288A (ja) * 1994-01-28 1995-08-18 Mitsubishi Electric Corp 絶対位置検出装置及びその誤差補正方法
US5949359A (en) * 1997-05-09 1999-09-07 Kollmorgen Corporation Variable reluctance resolver to digital converter
WO2003021717A1 (en) * 2001-08-31 2003-03-13 The Trustees Of Columbia University In The City Of New York Systems and methods for providing optimized patch antenna excitation for mutually coupled patches
JP4222892B2 (ja) * 2003-07-02 2009-02-12 日本電産サンキョー株式会社 誤差補正機能付エンコーダ
JP4713123B2 (ja) * 2004-10-13 2011-06-29 株式会社ミツトヨ エンコーダ出力信号補正装置
KR20070054735A (ko) * 2004-10-20 2007-05-29 가부시키가이샤 야스카와덴키 인코더 신호 처리 장치 및 그 신호 처리 방법
WO2007148461A1 (ja) * 2006-06-19 2007-12-27 Panasonic Corporation エンコーダ信号の位相補正回路
US8077821B2 (en) * 2006-09-25 2011-12-13 Zoran Corporation Optimized timing recovery device and method using linear predictor

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4458322A (en) * 1981-06-19 1984-07-03 Manhattan Engineering Co., Inc. Control of page storage among three media using a single channel processor program and a page transfer bus
JPH0371017A (ja) * 1989-08-10 1991-03-26 Mitsubishi Kasei Corp 信号校正装置
JPH0371016A (ja) * 1989-08-10 1991-03-26 Mitsubishi Kasei Corp 信号校正装置
JP2008509414A (ja) * 2004-08-09 2008-03-27 シーメンス アクチエンゲゼルシヤフト 位置信号の決定方法
JP2006112862A (ja) * 2004-10-13 2006-04-27 Mitsutoyo Corp エンコーダ出力信号補正装置及び方法
JP2006170837A (ja) * 2004-12-16 2006-06-29 Alps Electric Co Ltd 補償機能を備えた角度検出センサ

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2013088152A (ja) * 2011-10-14 2013-05-13 Canon Inc エンコーダおよびこれを備えた装置
JP5341267B1 (ja) * 2013-01-11 2013-11-13 捷利 壬生 変位量検出装置、およびその誤差・検出・評価方法

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