JP2010028424A - リセット信号生成回路 - Google Patents

リセット信号生成回路 Download PDF

Info

Publication number
JP2010028424A
JP2010028424A JP2008187082A JP2008187082A JP2010028424A JP 2010028424 A JP2010028424 A JP 2010028424A JP 2008187082 A JP2008187082 A JP 2008187082A JP 2008187082 A JP2008187082 A JP 2008187082A JP 2010028424 A JP2010028424 A JP 2010028424A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
circuit
reset signal
node
switch element
power supply
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2008187082A
Other languages
English (en)
Other versions
JP5133804B2 (ja
Inventor
Kenichi Kawakita
兼一 河北
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Electronics Corp
Original Assignee
NEC Electronics Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by NEC Electronics Corp filed Critical NEC Electronics Corp
Priority to JP2008187082A priority Critical patent/JP5133804B2/ja
Priority to US12/458,331 priority patent/US7825705B2/en
Publication of JP2010028424A publication Critical patent/JP2010028424A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5133804B2 publication Critical patent/JP5133804B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K17/00Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking
    • H03K17/22Modifications for ensuring a predetermined initial state when the supply voltage has been applied

Landscapes

  • Electronic Switches (AREA)

Abstract

【課題】電源電圧が変動したときに不完全な短いパルスのリセット信号が出力されることを防止するリセット信号生成回路を提供する。
【解決手段】ノードBはパワーオンリセット時にはハイレベル、動作時にはローレベルである。動作時に電源(Vcc)が変動してノードCが一瞬でもハイレベルになるとスイッチ素子MN50がオンし、ノードBをローレベルに引き下げ、安定したローレベルのリセット信号RST1を出力する。ノードBがローレベルになるとスイッチ素子MN51は遅延してオフになり、容量104と105は充電回路112により徐々に充電される。ノードBの電位がインバータ回路106のスレッシュホールドレベルを超えるとリセット信号RST1はハイレベルに戻りリセットが解除され、スイッチ素子MN50はオフ、スイッチ素子MN51はオン状態に戻る。
【選択図】図1

Description

本発明は、リセット信号生成回路に関する。特に、電源電圧の変化を検出して自動的にリセットパルスを出力するリセット信号生成回路に関する。
近年、携帯機器が普及したことでマイクロコンピュータ等の半導体集積回路に供給する電源もバッテリー駆動のものが多くなってきている。バッテリー駆動の場合、携帯機器の使用する時間に伴ってバッテリーの電荷を消費し半導体集積装置の電源電圧が十分長い時間をかけて下がっていく。このとき電源電圧がたとえ低下してもマイクロコンピュータが暴走しないことが求められている。この様な観点から、電源電圧の低下を検出してリセット信号を出力するリセット信号生成回路がマイクロコンピュータなどの半導体集積回路で用いられるようになって来ている。
図3は、特許文献1に記載の従来のリセット信号生成回路のブロック図である。この従来のリセット信号生成回路は、電源電圧Vccを抵抗R1と抵抗R2で分圧した電圧Vin1を基準電圧発生回路15から得た基準電圧Vrefとコンパレータ12で電圧比較を行う。コンパレータ12は、何らかの理由で、電源電圧Vccが瞬時でも低下し、分圧した電圧が基準電圧より低くなれば、NチャネルMOSトランジスタで構成されるスイッチSW0をオンさせ、容量C0に蓄積した電荷を放電し、シュミット回路14は、ローレベルのリセット信号RESを出力する。このリセット信号RESがローレベルである期間は、電源電圧Vccの電圧が復帰した後も、定電流回路IOにより容量COが徐々に充電され、シュミット回路14の論理しきい値電圧を超えるまで継続する。したがって、電源電圧が瞬時的に低下した場合にも一定の長さのリセット信号を生成することにより、システムが誤動作するのを回避することができると特許文献1には、記載されている。
特開2001−285046号公報
しかし、本発明者の検討によれば、ノイズにより電源電圧が変動すると、この従来のリセット信号生成回路によっても、なお、短いリセットパルスが出力される可能性があることがわかった。図3のリセット信号生成回路1において、電源電圧Vccが、一定の電圧より低下しない限り、スイッチSW0がオンすることはない。しかし、LSIが動作中に何らかの原因によるノイズにより電源電圧Vccが瞬時に上昇すると、電源電圧Vccで動作するシュミット回路14の論理しきい値電圧も瞬時に上昇する。しかし、シュミット回路14の入力電圧であるVin2はグランドに容量COを介して接続されているために、電源電圧Vccが瞬時に上昇してもVin2は前の電圧を維持する。従って、電源電圧Vccが瞬時に上昇しシュミット回路14の論理しきい値電圧もそれにつれて瞬時に上昇した場合には、入力電圧Vin2がシュミット回路14の論理しきい値電圧を下回ってしまう場合が考えられる。
特に、コンパレータ12が反転するぎりぎりの電圧まで電源電圧Vccが低下している場合、コンパレータ12の出力電圧は中間電位となり、NチャネルMOSトランジスタで構成されるスイッチSW0はハーフオンの状態になり、入力電圧Vin2がシュミット回路14の論理しきい値電圧よりわずかに高い電圧になる場合がある。この場合はわずかなノイズでも容易にシュミット回路14は反転する。
この場合、リセット信号RESがローレベルとなりリセット信号が出力されるが、スイッチSW0は完全にはオンしておらず、Vin2も以前の電圧を保ったままなので、電源電圧Vccの電圧が元に戻ると、シュミット回路14の論理しきい値電圧は元に戻り、リセット信号RESも元のハイレベルに戻ってしまう。この場合、定電流回路IOと容量C0で構成する時定数回路は働かないので、リセット信号RESは短いパルスになってしまう。この短いパルスのリセット信号では、半導体集積回路内の全回路をリセットするために必要なリセットパルス幅が得られず、不十分なリセット状態となり、半導体集積回路は誤動作を起こし暴走してしまう恐れもある。
本発明の1つのアスペクト(側面)に係るリセット信号生成回路は、電源の電圧を検出する電源電圧検出回路と、第1のノードと基準電位の間に接続された第1の容量と、前記第1のノードに接続され前記第1の容量を定電流で充電する充電回路と、前記第1のノードに接続され前記電源電圧検出回路が前記電源の電圧低下を検出したときに前記第1の容量の電荷を放電する第1のスイッチ素子と、前記第1のノードの電圧レベルを判定し第1のノードの電圧レベルが低いと判定したときにリセット信号を出力する波形生成回路と、を備えたリセット信号生成回路であって、前記波形生成回路が、一端が前記第1のノードに接続され前記第1のノードの電圧レベルが低いと判定したときにオンする第2のスイッチ素子と、前記第1の容量と前記第2のスイッチ素子を介して並列接続された第2の容量と、前記リセット信号を出力していないときに前記第2の容量を放電する第3のスイッチ素子と、を備えている。
本発明によれば、電源電圧がノイズ等により変動した場合であっても、不完全な短いパルス幅のリセット信号が出力されることを防止することができる。
本発明の実施形態の概要について、必要に応じて図面を参照して説明する。
図1に記載の本発明の一実施形態であるリセット信号生成回路は、電源Vccの電圧を検出する電源電圧検出回路150と、第1のノードBと基準電位(グランド)の間に接続された第1の容量104と、第1のノードBに接続され第1の容量104を定電流で充電する充電回路112と、第1のノードBに接続され電源電圧検出回路150が電源の電圧低下を検出したときに第1の容量104の電荷を放電する第1のスイッチ素子MN52と、第1のノードBの電圧レベルを判定し第1のノードBの電圧レベルが低いと判定したときにリセット信号RST1を出力する波形生成回路152と、を備えたリセット信号生成回路であって、波形生成回路152が、一端が第1のノードBに接続され第1のノードBの電圧レベルが低いと判定したときにオンする第2のスイッチ素子MN50と、第1の容量104と第2のスイッチ素子MN50を介して並列接続された第2の容量105と、リセット信号RST1を出力していないときに第2の容量105を放電する第3のスイッチ素子MN51と、を備えている。
上記構成によれば、波形生成回路152がB点の電位を低いと判定してリセット信号を出力するときには、第2のスイッチ素子MN50がオンして、B点に充電回路112から充電した電荷を容量105に移動させ、さらに第3のスイッチ素子MN51を介して放電する。従って、リセット信号を出力するときは、B点の電位が引き下げられるので、安定したパルスのリセット信号を出力することができる。
また、ノイズ等により電源電圧が大きく変動する場合はシステムが誤動作を生じる可能性が高いと言える。このような場合、上記構成によれば、フェイルセーフの考えに立って、確実にシステムをリセットすることができるので、致命的な誤動作を防ぐこともできる。
また、図1に記載の一実施形態のリセット信号生成回路において、波形生成回路152は、入力端子が第1のノードBに接続されたインバータ回路106を含み、インバータ回路106の出力信号に基づいて、リセット信号RST1を出力し、第2、第3のスイッチ素子(MN50、MN51)のオンオフを制御することができる。
インバータ回路106の出力信号に基づいて、リセット信号が出力され、第1のノードBの電圧を引き下げるスイッチ素子MN50、MN51のオンオフが制御されるようにすれば、リセット信号を出力するときは、必ず、一定幅のリセットパルスが得られることになる。
また、図1に記載の一実施形態のリセット信号生成回路は、インバータ回路106の出力信号がローレベルになったときに第3のスイッチ素子MN51をオンさせ、インバータ回路106の出力信号がハイレベルになったときに遅延して第3のスイッチ素子MN51をオフさせるスイッチ駆動回路(109、113)を含むことができる。
上記スイッチ駆動回路(109、113)を設け、インバータ回路106の出力信号がハイレベルになったときに第3のスイッチ素子MN51がオンしており、第2のスイッチ素子MN50、第3のスイッチ素子MN51を介して第1のノードBの電位を確実に基準電位(グランド)まで引き下げることができ、安定したリセット信号を出力することができる。また、インバータ回路106の出力信号がハイレベルになったときに遅延して第3のスイッチ素子MN51がオフするのであれば、リセット時にB点が基準電位(グランド)にショートしたままになることはないので、充電回路112が容量104、105を充電すれば、リセット状態は解除されることになる。
また、図1に記載の一実施形態のリセット信号生成回路は、スイッチ駆動回路(109、113)が、基準電位(グランド)に接続された定電流回路113と、電源Vccと定電流回路113とに接続され第3のスイッチ素子MN51を駆動する定電流駆動インバータ回路109と、を含むことができる。
また、図1に記載の一実施形態のリセット信号生成回路は、第1乃至第3のスイッチ素子(MN52、MN50、MN51)がNチャネルMOSトランジスタで構成され、前記インバータ回路106、及び定電流駆動インバータ回路109がCMOSインバータで構成され、第2のスイッチ素子MN50及び定電流駆動インバータ回路109がインバータ回路106の出力信号と同相信号108により駆動される。
また、図1に記載の一実施形態のリセット信号生成回路は、インバータ回路106を第1のインバータ回路106としたときに、第1のインバータ回路106の後段に直列接続された第2、第3のインバータ回路(107、108)と、第3のインバータ回路108の出力信号が接続されたシュミット回路110とを備え、リセット信号RST1は、シュミット回路110の出力信号に基づいて生成され、第3のインバータ回路108の出力信号が第2のスイッチ素子MN50のゲートと、定電流駆動インバータ回路109のゲートとに接続することができる。
また、図1に記載の一実施形態のリセット信号生成回路は、電源Vccと基準電位(グランド)との間に充電回路112と、第1の容量104と、が直列接続されている構成とすることができる。
また、図1に記載の一実施形態のリセット信号生成回路は、第1のスイッチ素子MN52が、第1の容量104と並列接続され、電源電圧検出回路150の出力信号によりオンオフが制御されるものとすることができる。
また、図1に記載の一実施形態のリセット信号生成回路は、第2の容量105は、第2のスイッチ素子MN50の他端と、基準電位との間に接続されているものとすることができる。
また、図1に記載の一実施形態のリセット信号生成回路は、第3のスイッチ素子MN51が第2の容量105と並列接続されているものとすることができる。
以下、実施形態に即し、図面を参照して詳しく説明する。
[実施形態1]
図1は、本発明の実施形態1のリセット信号生成回路のブロック図である。図1のリセット信号生成回路の構成について説明する。実施形態1のリセット信号生成回路50は、電源電圧が所定の電圧より低下しているか否かを検出する電源電圧検出回路150と、電源電圧検出回路150が電源電圧の低下を検出したときに第1のノードBの電位を一定の時間ローレベルにする時定数回路151と、リセット信号を出力するときにそのパルス幅を一定にする波形生成回路152とを備えている。
電源電圧検出回路150は、電源電圧Vccを分圧する抵抗100と101と、基準電源102と、分圧した電圧Vdがマイナス入力に、基準電源102が出力する電圧Veがプラス入力に入力され、両者の電圧を比較するコンパレータ103を備えている。コンパレータ103は、電圧Veが電圧Vdより低いときにローレベル、高いときにハイレベルの出力電圧をノードAに出力する。
また、時定数回路151は、コンパレータ103がハイレベルを出力するとオンする第1のスイッチ素子MN52と、第1のノードBを定電流で充電する充電回路112と、第1のノードBと基準電位(グランド電位)との間に接続された第1の容量104とを備えている。この第1のスイッチ素子MN52はNチャネルMOSトランジスタで構成されており、ゲートがコンパレータ103の出力に、ドレインソース端の一端が第1のノードBに、他端が基準電位に接続されている。図1では、基準電位はグランドにしているが、基準とする電位であれば、グランド以外の電位でもよい。
波形生成回路152は、第1のノードBとノードCとの間に縦続接続されたインバータ106、107、108と、ノードCを入力とするシュミット回路110、シュミット回路110の出力を反転してリセット信号RST1を出力するインバータ111を備えている。なお、リセット信号RSTは、リセット時にローレベルとなり、リセット時以外にハイレベルとなるリセット信号である。
また、波形生成回路152は、第2のスイッチ素子MN50と、第1のノードBと第2のスイッチ素子MN50を介して一端が接続され他端が基準電位(グランド)に接続された第2の容量105と、第2の容量105と並列接続された第3のスイッチMN51と、第3のスイッチ素子MN51を駆動するスイッチ駆動回路(109、113)を備えている。第2、第3のスイッチ素子MN50、MN51は共にNチャネルMOSトランジスタで構成され、第2のスイッチ素子MN50のゲートはインバータ108の出力に接続されている。また、スイッチ駆動回路(109、113)は、基準電位(グランド)に定電流を流し込む定電流回路113と、電源がVccと定電流回路113とに接続された定電流駆動インバータ回路109から構成されている。なお、定電流駆動インバータ回路109のゲートはインバータ108に接続されている。なお、インバータ106、107、108、111、定電流駆動インバータ回路109はCMOSインバータで構成されている。
第1のノードBとノードCとの間にインバータを3段縦続接続しているので、入力端子が第1のノードBに接続される第1のインバータ回路106の論理しきい値をノードBの電圧が少しでも超えれば、縦続接続された3段目のインバータである第3のインバータ回路108が出力するノードCの電圧は確実にVccレベルまたはグランドレベルまで振幅が得られるようにしている。また、第2のインバータ回路107の論理しきい値は第1のインバータ回路106の論理しきい値より低く、第3のインバータ回路108の論理しきい値は第2のインバータ回路107の論理しきい値より高い電圧に設定されている。従って、第1のノードBの電圧が少しでも第1のインバータ回路106の論理しきい値を下回った場合は、ノードCの電圧は迅速にVccまで上昇する。
次に、このリセット信号生成回路の動作について、図2の動作波形図を参照して説明する。
初期状態では、電源電圧Vccは、電源電圧検出回路が電源電圧の低下を検出する電圧よりわずかに高い電圧であるとする。すなわち、電源電圧Vccを抵抗100と101とで分圧した電圧Vdは、基準電源102の出力する基準電圧Veよりわずかに高電圧である。すると、コンパレータ103はVccレベル202よりグランドレベル201に近い中間電圧を出力し、ノードAはローレベルに近い中間電位となる。そのため、NチャネルMOSトランジスタで構成される第1のスイッチ素子MN52はハーフオンの状態となる。充電回路112から定電流で充電される電流は、ハーフオンの状態にある第1のスイッチ素子MN52を介して基準電位(グランド)へ流れるが、第1のスイッチ素子MN52のオン抵抗が十分大きいので、第1のノードBの電圧は、電源電圧Vcc202とグランド電位201の中間電位にある第1のインバータ回路106の論理しきい値200よりわずかに高い電位にある。従って第1、第2、第3のインバータ回路106、107、108でバッファリングしたノードCの電圧は、グランドレベルになる。このとき、ノードDの電位はVccレベルとなり、リセット信号RST1はVccレベル(非リセット状態)を出力する。また、第2のスイッチ素子MN50はオフ、第3のスイッチ素子MN51はオンとなるので、容量105の電荷はすべてグランドに放電され、第1の容量104は第2の容量105から切り離される。
次に、タイミングT10の期間、電源電圧Vccは1回目のノイズによる電圧変動203を受ける。なお、この図2の動作波形図では、電源電圧Vccがノイズによる電圧変動を受けた場合であっても電圧Vdが電圧Veより若干高電圧であることは変わらないので、ノードAの電圧は、ローレベルに近い中間電位を維持し、第1のスイッチ素子MN52はハーフオンの状態を保持するものとする。
タイミングT5で電源電圧Vccが急激に上昇すると、電源電圧Vccから電源の供給を受ける第1のインバータ回路106の論理しきい値も、電源電圧Vccの電圧上昇につれて電圧上昇する。一方、ノードBの電位は、基準電位(グランド)との間に第1の容量104があるため、急激には変化しない。それまで、ノードBの電位は、第1のインバータ回路106の論理しきい値を若干上回るだけであったので、この電源変動によって、容易にノードBの電位は、第1のインバータ回路106の論理しきい値を下回ることとなる。第1のインバータ回路106の論理しきい値を少しでも下回ると、前に説明したように、第2のインバータ回路107の論理しきい値は第1のインバータ回路106の論理しきい値より低く、第3のインバータ回路108の論理しきい値は第2のインバータ回路107の論理しきい値より高い電圧に設定されているので、迅速にノードCの電位はVccレベルまで上昇する。するとまず第1に、NチャンネルMOSトランジスタで構成される第2のスイッチ素子MN50がオンする。第3のスイッチ素子MN51はオン状態にあり、第2の容量105は放電状態にあるので、第1のノードBの電位はグランド電圧まで引き下げられる。従って、ノードCの電位は安定したVccレベルとなる。ノードCの電位がVccになると、シュミット回路110とインバータ111を介してリセット信号RST1はローレベルとなり、リセット信号を出力する。また、ノードCの電位がVccになると、定電流駆動インバータ回路109のNチャネルMOSトランジスタMN54が導通を開始するが、NチャネルMOSトランジスタMN54の電源は定電流回路113から供給されているので、ノードDの電位は徐々にしか低下しない。従って、第3のスイッチ素子MN51はオン状態をしばらく維持する。
次に、タイミングT6で、ノードDの電位がグランドレベルまで低下し、第3のスイッチ素子MN51がオフする。すると、充電回路112から供給される電流により、第1の容量104、第2の容量105が充電を開始するので、第1のノードBの電位は徐々に上昇を開始する。
次に、タイミングT11の期間、電源電圧Vccは2回目のノイズによる電圧変動203を受ける。タイミングT7の直前のタイミングでは、ノードBが第1のインバータ回路106の論理しきい値に近い電圧まで充電されているものとする。タイミングT7で電源電圧Vccが若干下降すると、第1のインバータ回路106の論理しきい値が電源電圧Vccの下降につれて電圧降下する。すると、ノードBは第1のインバータ回路106の論理しきい値を超え、ノードCの電位はグランドレベルまで低下する。すると、第2のスイッチ素子MN50はオフし、ノードDの電位もVccレベルに上昇するので、第3のスイッチ素子MN51がオンし、第2の容量105に蓄積された電荷はグランドへ放電される。しかし、ノードBの電位は充電回路112による充電を継続する。また、リセット端子RST1からは、ハイレベルが出力される。
次に、タイミングT8で、電源電圧Vccが上昇(またはタイミングT7での電圧下降から回復)すると、電源電圧Vccから電源の供給を受ける第1のインバータ回路106の論理しきい値も、電源電圧Vccの電圧上昇(電圧回復)につれて上昇(回復)する。一方、ノードBの電位は、急激には変化しない。タイミングT7以降、ノードBの電位は、第1のインバータ回路106の論理しきい値を若干上回っていたが、この電源変動(電圧の回復)によって、ノードBの電位は、第1のインバータ回路106の論理しきい値を下回ることとなる。第1のインバータ回路106の論理しきい値を少しでも下回ると、ノードCの電位は迅速にVccレベルまで上昇する。すると、NチャンネルMOSトランジスタで構成される第2のスイッチ素子MN50がオンする。第3のスイッチ素子MN51はオン状態にあり、第2の容量105は放電状態にあるので、第1のノードBの電位はグランド電圧まで引き下げられる。従って、ノードCの電位は安定したVccレベルとなる。ノードCの電位がVccになると、シュミット回路110とインバータ111を介してリセット信号RST1はローレベルとなり、リセット信号を再び出力する。また、ノードCの電位がVccになると、定電流駆動インバータ回路109のNチャネルMOSトランジスタMN54が導通を開始するが、NチャネルMOSトランジスタMN54の電源は定電流回路113から供給されているので、ノードDの電位は徐々にしか低下しない。従って、第3のスイッチ素子MN51はオン状態をしばらく維持する。
次に、タイミングT9で、ノードDの電位がグランドレベルまで低下し、第3のスイッチ素子MN51がオフする。すると、充電回路112から供給される電流により、第1の容量104、第2の容量105が充電を開始するので、第1のノードBの電位は再び上昇を開始する。
その後、タイミングT12で電源電圧Vccは、ノイズによる3回目の電圧変動203を受けているが、ノードBの電位が第1のインバータ回路106の論理しきい値200を常に下回っているため、リセット状態は解除されない。最終的に、ノードBの電位が電源変動を受けないときの第1のインバータ回路106の論理しきい値205を上回ってリセット状態は解除され、初期状態と同じ状態に戻る。以上述べた動作により、たとえ、電源電圧の変動があっても、少なくとも電源変動が収まり最後に出力されるリセットパルスは、半導体集積回路全体を初期化するに十分なパルス幅を得ることができる。
次に、本発明において十分なパルス幅のリセット信号は、以下の計算式に基づいて回路を設計することにより得られる。
第1の容量104と第2の容量105の容量値の合計をC1、充電回路112から充電する電流値をI1、NチャネルMOSトランジスタMN52の放電する電流値をI2、電源変動によるインバータの論理しきい値の変動の下限電圧をVthlとすると、リセットパルス幅T13は、以下の式(1)により求められる。
T13=(C1×Vthl)/(I1−I2)・・・・・・式(1)
上記式(1)により、半導体集積装置に必要なリセット期間を確保することができる。例えば、5uS以上のパルス幅を確保する場合、C1=1pF、Vthl=1V、I1−I2=0.2uAと設定すると、式(1)よりT13=(1pF×1V)/0.2uA=5uSとなり、5uS以上のリセットパルス幅を確保できる。
なお、上記の動作説明では、ノイズを受けないときの電源電圧Vccが基準電圧をわずかに上回る場合について説明した。このような場合は、わずかな電源変動によってもリセット信号生成回路が反転しやすいからである。しかし、本発明の効果はこのような場合に限られるものではない。電源電圧Vccが正常な電位にあり、コンパレータ103がはっきりとしたローレベルを出力し、第1のノードBの電位がほぼVccレベルにあるときでも、大きな電源ノイズにより、電源電圧Vccが2倍以上の電圧に急上昇する場合は、リセット信号生成回路は反転する。もちろんこのような大幅な電源変動があった場合、回路の正常動作は期待できない。本発明によれば、このような場合、確実なパルス幅のリセット信号を出力するのでフェイルセーフの考え方によって、誤動作を防ぐことができる。一方、図3のような従来のリセット信号生成回路では、このような場合、リセット回路が機能したとしても不完全なリセット信号しか出力されないので、誤動作を救済することはできない。
以上、本発明を実施例に即して説明したが、本発明は上記実施例の構成にのみ制限されるものでなく、本発明の範囲内で当業者であればなし得るであろう各種変形、修正を含むことは勿論である。
本発明の一実施形態によるリセット信号生成回路のブロック図である。 本発明の一実施形態によるリセット信号生成回路の動作波形図である。 従来のリセット信号生成回路のブロック図である。
符号の説明
1、50:リセット信号生成回路
11:抵抗分割回路
12、103:コンパレータ
13:時定数回路
14、110:シュミット回路
15:基準電圧発生回路
100、101、R1、R2:抵抗
102:基準電源
104、105、CO:容量
106:第1のインバータ回路
107:第2のインバータ回路(論理しきい値の低いインバータ)
108:第3のインバータ回路(論理しきい値の高いインバータ)
109:定電流駆動インバータ回路
111:インバータ
112:充電回路
113:定電流回路
150:電源電圧検出回路
151:時定数回路
152:波形生成回路
200:第1のインバータ回路106の論理しきい値
201:グランドレベル
202:Vccレベル
203:Vcc電源ノイズ
204:第1のインバータ回路106が電源変動を受けた場合の論理しきい値の下限値(200の下限値)
205:第1のインバータ回路106が電源変動を受けないときの論理しきい値
I0:定電流回路
SW0:スイッチ
Vref:基準電圧
MN50:第2のスイッチ素子(NチャネルMOSトランジスタ)
MN51:第3のスイッチ素子(NチャネルMOSトランジスタ)
MN52:第1のスイッチ素子(NチャネルMOSトランジスタ)
MP53:PチャネルMOSトランジスタ
MN54:NチャネルMOSトランジスタ
RST1:リセット信号

Claims (10)

  1. 電源の電圧を検出する電源電圧検出回路と、
    第1のノードと基準電位の間に接続された第1の容量と、
    前記第1のノードに接続され、前記第1の容量を定電流で充電する充電回路と、
    前記第1のノードに接続され、前記電源電圧検出回路が前記電源の電圧低下を検出したときに前記第1の容量の電荷を放電する第1のスイッチ素子と、
    前記第1のノードの電圧レベルを判定し、第1のノードの電圧レベルが低いと判定したときにリセット信号を出力する波形生成回路と、
    を備えたリセット信号生成回路であって、
    前記波形生成回路が、
    一端が前記第1のノードに接続され、前記第1のノードの電圧レベルが低いと判定したときにオンする第2のスイッチ素子と、
    前記第1の容量と前記第2のスイッチ素子を介して並列接続された第2の容量と、
    前記リセット信号を出力していないときに前記第2の容量を放電する第3のスイッチ素子と、を備えたリセット信号生成回路。
  2. 前記波形生成回路は、入力端子が第1のノードに接続されたインバータ回路を含み、前記インバータ回路の出力信号に基づいて、前記リセット信号を出力し、第2、第3のスイッチ素子のオンオフを制御する請求項1記載のリセット信号生成回路。
  3. 前記インバータ回路の出力信号がローレベルになったときに前記第3のスイッチ素子をオンさせ、前記インバータ回路の出力信号がハイレベルになったときに遅延して前記第3のスイッチをオフさせるスイッチ駆動回路を含む請求項2記載のリセット信号生成回路。
  4. 前記スイッチ駆動回路が、前記基準電位に接続された定電流回路と、前記電源と前記定電流回路とに接続され前記第3のスイッチ素子を駆動する定電流駆動インバータ回路と、を含む請求項3記載のリセット信号生成回路。
  5. 前記第1乃至第3のスイッチ素子がNチャネルMOSトランジスタで構成され、前記インバータ回路、及び定電流駆動インバータがCMOSインバータで構成され、前記第2のスイッチ素子及び前記定電流駆動インバータ回路が前記インバータ回路の出力信号と同相信号により駆動される請求項4記載のリセット信号生成回路。
  6. 前記インバータ回路を第1のインバータ回路としたときに、前記第1のインバータ回路の後段に直列接続された第2、第3のインバータ回路と、第3のインバータ回路の出力信号が接続されたシュミット回路とを備え、前記リセット信号は、前記シュミット回路の出力信号に基づいて生成され、前記第3のインバータ回路の出力信号が前記第2のスイッチ素子のゲートと、前記定電流駆動インバータ回路のゲートとに接続されている請求項5記載のリセット信号生成回路。
  7. 前記電源と前記基準電位との間に前記充電回路と、前記第1の容量と、が直列接続されている請求項1乃至6いずれか1項記載のリセット信号生成回路。
  8. 前記第1のスイッチ素子が、前記第1の容量と並列接続され、前記電源電圧検出回路の出力信号によりオンオフが制御される請求項1乃至7いずれか1項記載のリセット信号生成回路。
  9. 前記第2の容量は、前記第2のスイッチ素子の他端と、前記基準電位との間に接続されている請求項1乃至8いずれか1項記載のリセット信号生成回路。
  10. 前記第3のスイッチ素子が前記第2の容量と並列接続されている請求項1乃至9いずれか1項記載のリセット信号生成回路。
JP2008187082A 2008-07-18 2008-07-18 リセット信号生成回路 Expired - Fee Related JP5133804B2 (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2008187082A JP5133804B2 (ja) 2008-07-18 2008-07-18 リセット信号生成回路
US12/458,331 US7825705B2 (en) 2008-07-18 2009-07-08 Reset signal generating circuit

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2008187082A JP5133804B2 (ja) 2008-07-18 2008-07-18 リセット信号生成回路

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2010028424A true JP2010028424A (ja) 2010-02-04
JP5133804B2 JP5133804B2 (ja) 2013-01-30

Family

ID=41529784

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2008187082A Expired - Fee Related JP5133804B2 (ja) 2008-07-18 2008-07-18 リセット信号生成回路

Country Status (2)

Country Link
US (1) US7825705B2 (ja)
JP (1) JP5133804B2 (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012205310A (ja) * 2011-03-24 2012-10-22 Freescale Semiconductor Inc 選択可能閾値リセット回路
JP2014003558A (ja) * 2012-06-20 2014-01-09 Fuji Electric Co Ltd 異常電圧検出装置
CN106325449A (zh) * 2016-08-31 2017-01-11 中国科学院上海高等研究院 一种低功耗上电复位电路

Families Citing this family (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102009015840B3 (de) * 2009-04-01 2010-09-02 Austriamicrosystems Ag Schaltungsanordnung zur Betriebsspannungsdetektion
CN102200819A (zh) * 2010-03-26 2011-09-28 宏碁股份有限公司 全局重置电路、具有全局重置电路的计算机系统及方法
JP5754343B2 (ja) * 2011-10-25 2015-07-29 ミツミ電機株式会社 低電圧検出回路
KR101891165B1 (ko) * 2012-06-20 2018-08-24 에스케이하이닉스 주식회사 리셋 신호 생성장치
DE102013219543A1 (de) * 2013-09-27 2015-04-02 Siemens Aktiengesellschaft Kommunikationsgerät und Verfahren zur Kommunikation zwischen einem Kommunikationsgerät und einer zentralen Einrichtung
US9473114B1 (en) * 2015-04-15 2016-10-18 Arm Limited Power-on-reset detector
CN104778933B (zh) * 2015-04-15 2017-04-19 昆山龙腾光电有限公司 电源管理电路
CN104953992B (zh) * 2015-06-03 2017-08-08 广东欧珀移动通信有限公司 一种复位电路及电子设备
CN113841327B (zh) * 2018-10-29 2024-01-05 德州仪器公司 切换模式电力供应器控制器
KR20210067685A (ko) * 2019-11-29 2021-06-08 에스케이하이닉스 주식회사 파워 온 리셋 신호 생성 장치
CN117792361A (zh) * 2024-02-28 2024-03-29 芯聚威科技(成都)有限公司 一种上电复位电路及电子设备

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0535367A (ja) * 1991-07-26 1993-02-12 Tokyo Electric Co Ltd 電子回路のリセツト信号発生装置
JPH05206811A (ja) * 1992-01-24 1993-08-13 Nec Corp リセット制御回路
JPH10207580A (ja) * 1997-01-17 1998-08-07 Hitachi Ltd パワーオンリセット発生回路および半導体集積回路並びにicカード
JP2001285046A (ja) * 2000-03-31 2001-10-12 Hitachi Ltd リセット信号生成回路および半導体集積回路
JP2007104210A (ja) * 2005-10-03 2007-04-19 Fujitsu Ten Ltd リセット回路

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4462743B2 (ja) * 2000-03-29 2010-05-12 株式会社ルネサステクノロジ パワーオンリセット回路
JP4119784B2 (ja) * 2003-04-23 2008-07-16 シャープ株式会社 パワーオンリセット回路
KR100908550B1 (ko) * 2006-10-31 2009-07-20 주식회사 하이닉스반도체 파워 온 리셋 회로

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0535367A (ja) * 1991-07-26 1993-02-12 Tokyo Electric Co Ltd 電子回路のリセツト信号発生装置
JPH05206811A (ja) * 1992-01-24 1993-08-13 Nec Corp リセット制御回路
JPH10207580A (ja) * 1997-01-17 1998-08-07 Hitachi Ltd パワーオンリセット発生回路および半導体集積回路並びにicカード
JP2001285046A (ja) * 2000-03-31 2001-10-12 Hitachi Ltd リセット信号生成回路および半導体集積回路
JP2007104210A (ja) * 2005-10-03 2007-04-19 Fujitsu Ten Ltd リセット回路

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012205310A (ja) * 2011-03-24 2012-10-22 Freescale Semiconductor Inc 選択可能閾値リセット回路
JP2014003558A (ja) * 2012-06-20 2014-01-09 Fuji Electric Co Ltd 異常電圧検出装置
CN106325449A (zh) * 2016-08-31 2017-01-11 中国科学院上海高等研究院 一种低功耗上电复位电路
CN106325449B (zh) * 2016-08-31 2019-08-23 中国科学院上海高等研究院 一种低功耗上电复位电路

Also Published As

Publication number Publication date
JP5133804B2 (ja) 2013-01-30
US20100013529A1 (en) 2010-01-21
US7825705B2 (en) 2010-11-02

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5133804B2 (ja) リセット信号生成回路
KR101106813B1 (ko) 과전류 보호 회로
JP4540610B2 (ja) 半導体集積回路装置及びそれを用いた電源電圧監視システム
US8482891B2 (en) Electrostatic discharge protection circuit
CN108702149B (zh) 信号输出电路
JP2007243922A (ja) 発振回路
US7164300B2 (en) Power-low reset circuit
US10401399B2 (en) Low-power voltage detection circuit
JP6335069B2 (ja) パワーオンリセット回路
JP2004260730A (ja) パルス発生回路及びそれを用いたハイサイドドライバ回路
US10116299B2 (en) Power-on reset circuit
JP5163211B2 (ja) リセット回路および電源制御用半導体集積回路
JP2007104210A (ja) リセット回路
JP2010016435A (ja) パワーオンリセット回路
JP5979162B2 (ja) パワーオンリセット回路
US9042066B2 (en) Output stage with short-circuit protection
JP5434896B2 (ja) 低電圧保護回路
JP2007306351A (ja) パワーオンリセット回路
JP5350995B2 (ja) 半導体集積回路
JP5181761B2 (ja) リセット回路および電源制御用半導体集積回路
JP2007249777A (ja) マイクロコンピュータリセット回路
JP2000332586A (ja) パワーオンリセット回路
JP2002100973A (ja) パワーオンリセット回路
WO2013128802A1 (ja) 電圧検出回路
JP5453800B2 (ja) 電圧検知回路

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20110225

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20120803

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20120828

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20121015

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20121106

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20121108

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20151116

Year of fee payment: 3

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

S531 Written request for registration of change of domicile

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees