JP2009541254A - オキシムスルホネート及び潜酸としてのその使用 - Google Patents

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Abstract

式(I)、(II)又は(III)〔式中、Rは、例えば、C〜C18アルキルスルホニル、C〜C10ハロアルキルスルホニル、カンホリルスルホニル、フェニル−C〜Cアルキルスルホニル、フェニルスルホニル、ナフチルスルホニル、アントリルスルホニル、フェナントリルスルホニル又はヘテロアリールスルホニルであり、R′は、例えば、フェニレンジスルホニルであり、Rは、例えば、CN、C〜C10ハロアルキル又は(IV)で置換されているC〜C10ハロアルキルであり;Arは、例えば、式(IV)の基で場合により置換されているフェニルであり;Ar′は、例えば、式(IV)の基で場合により置換されているフェニレンであり; A、A及びAは、互いに独立して、例えば、水素、ハロゲン、CN又はC〜C18アルキルであり;Dは、例えば、直接結合、O、(CO)O、(CO)S、SO、OSO又はC〜C18アルキレンであるか;或いはA及びDは、一緒になって、C〜C30シクロアルケニルを形成するか;或いはA及びDは、それらが結合しているエチレン性不飽和二重結合の炭素と一緒になって、C〜C30シクロアルキルを形成し;D及びDは、例えば、互いに独立して、直接結合、O、S、C〜C18アルキレン又はC〜C30シクロアルキレンであるが、但し、少なくとも1つのラジカルR、Ar又はAr′は、式(IV)の基を含む〕で示される化合物は、光潜在性の酸供与体として、及び化学的に増幅されたフォトレジストに用いられる対応するポリマーの調製のために適している。

Description

本発明は、重合可能なエチレン性不飽和基を有する新規オキシムスルホネート、前記化合物から誘導される反復単位を含むポリマー、前記化合物及び/又は前記ポリマーを含む化学的に増幅されたフォトレジスト組成物、並びに化学電磁放射線及び電子ビームを用いる照射により活性化されうる潜酸としての化合物及び/又はポリマーの使用に関する。
US4540598では、感光性オキシムスルホネート化合物、例えば4−クロロ−α−トリフルオロアセトフェノンオキシムベンゼンスルホネート及び慣用の酸硬化性樹脂を含む表面コーティング組成物が開示されている。US5627011及びUS5759740では、α−(4−トルエン−スルホニルオキシイミノ)−4−メトキシベンジルシアニド及びα−(4−トルエンスルホニルオキシイミノ)−3−チエニルメチルシアニドの、波長340〜390nmの化学的に増幅されたポジティブ及びネガティブフォトレジストにおける、特に水銀i線の照射領域(365nm)のものにおける潜酸触媒としての使用が記載されている。GB2306958では、波長180〜600nmのポジティブ及びネガティブフォトレジストにおける、特に390nmを越える照射領域のものにおける、潜酸供与体としてのオキシムスルホネートの使用が報告されている。US5714625では、非芳香族α−(アルキルスルホニルオキシイミノ)−1−シクロヘキセニルアセトニトリル及びα−(アルキルスルホニルオキシイミノ)−1−シクロペンテニルアセトニトリルが開示されている。EP241423では、オキシルスルホネート化合物は、非化学的に増幅されたポジティブレジストにおいて、光潜在性の酸発生剤として約25%の濃度で用いられている。US6261738及びWO02/025376では、オキシムスルホネート化合物は、深UV領域での用途に特に適切であるポジティブ及びネガティブフォトレジストにおける潜酸供与体として記載されている。EP199672(US4736055)では、重合可能な不飽和基を有するオキシムスルホネート及び前記オキシムスルホネートを含むポリマーが、フォトレジストの成分として記載されている。US5213946、JP10−221852−A、JP11−218926−Aでは、化学的に増幅された組成物のための、結合オキシムスルホネート基を有するポリマーが開示されており、前記オキシムスルホネート基は、スルホネート部分を介してポリマー鎖に固定されている。JP05−19477−Aでは、発色団を介して結合している、結合オキシムスルホネート基を有するポリマーが、非化学的に増幅された組成物のために記載されている。
当該技術において、熱的及び化学的に安定であり、光、UV線、X線照射又は電子ビームにより活性化した後、重縮合反応、酸触媒解重合反応、酸触媒求電子置換反応又は保護基の酸触媒除去のような多様な酸触媒反応に触媒として使用することができる、反応性で非イオン性の潜酸供与体の必要性が存在する。深UV範囲のみならず、例えばg線(436nm)、i線(365nm)、KrF(248nm)、ArF(193nm)及びEUV(13.5nm)のような広範囲の波長においても高い安定性、高い感受性及び高い解像度を有する潜酸触媒の特別な必要性が存在する。加えて、特にフォトレジスト層が暴露の際に水に浸漬される浸漬リソグラフィーにおいて、水媒質に対して非浸出特性を有する潜酸触媒の新たな必要性が生じている。
驚くべきことに、下記に記載されるように、特定のオキシムスルホネート及びオキシムスルホネートが発色団を介して結合しているポリマーは、安定しており、広範囲の光源に対して極めて活性であることが現在見出されている。本発明のオキシムスルホネート及びオキシムスルホネートが発色団を介して結合しているポリマーは、化学的に増幅されたフォトレジストの用途において、前記の酸触媒反応のための触媒として特に適切である。加えて、本発明のオキシムスルホネート及び発色団を介して結合しているオキシムスルホネートを有するポリマーは、水媒質に対するその非浸出特性のために浸漬リソグラフィーにおいて適切である。更に、本発明のオキシムスルホネート及び発色団を介して結合しているオキシムスルホネートを有するポリマーを含む化学的に増幅されたフォトレジスト組成物は、加工の際の高い焼付け温度に対しても熱的に安定しており、高い写真感度を提供する。
本発明の主題は、式I、II又はIII:
Figure 2009541254
〔式中、
は、C〜C18アルキルスルホニル、C〜C10ハロアルキルスルホニル、C〜C12アルケニルスルホニル、C〜C12アルキニルスルホニル、C〜C30シクロアルキルスルホニル、1つ以上のOで割り込まれているC〜C18アルキルスルホニル、又は1つ以上のOで割り込まれているC〜C10ハロアルキルスルホニルであり;
ここで、基C〜C18アルキルスルホニル、C〜C10ハロアルキルスルホニル、C〜C12アルケニルスルホニル、C〜C12アルキニルスルホニル、C〜C30シクロアルキルスルホニル、割り込まれたC〜C18アルキルスルホニル及び割り込まれたC〜C10ハロアルキルスルホニルは、場合により、1つ以上の、C〜C30シクロアルキル、C〜C30シクロアルケニル、1つ以上のO、S、NR、CO、SO及び/若しくはSOで割り込まれているC〜C30シクロアルキル、1つ以上のO、S、NR、CO、SO及び/若しくはSOで割り込まれているC〜C30シクロアルケニル、1つ以上のO、S、NR、CO、SO及び/若しくはSOで割り込まれているC〜C12アルケニルにより置換されているか;又は
NO、CN、Ar、(CO)R、(CO)OR′、(CO)NR、O(CO)R、O(CO)OR′、O(CO)NR、NR(CO)R、NR(CO)OR′、OR′、NR、SR、SOR、SO及び/若しくはOSOにより置換されているか;或いは
は、カンホリルスルホニル、フェニル−C〜Cアルキルスルホニル、フェニルスルホニル、ナフチルスルホニル、アントリルスルホニル、フェナントリルスルホニル又はヘテロアリールスルホニルであり、
ここで、基カンホリルスルホニル、フェニル−C〜Cアルキルスルホニル、フェニルスルホニル、ナフチルスルホニル、アントリルスルホニル、フェナントリルスルホニル及びヘテロアリールスルホニルは、場合により、1つ以上の、C〜C30シクロアルキル、C〜C18アルキル、C〜C10ハロアルキル、C〜C12アルケニル、C〜C30シクロアルケニル、フェニル−C〜Cアルキル、1つ以上のO、S、NR、CO、SO及び/若しくはSOで割り込まれているC〜C18アルキル、1つ以上のO、S、NR、CO、SO及び/若しくはSOで割り込まれているC〜C30シクロアルキル、1つ以上のO、S、NR、CO、SO及び/若しくはSOで割り込まれているC〜C30シクロアルケニル、1つ以上のO、S、NR、CO、SO及び/若しくはSOで割り込まれているC〜C12アルケニルにより置換されているか;又は
ハロゲン、NO、CN、Ar、(CO)R、(CO)OR′、(CO)NR、O(CO)R、O(CO)OR′、O(CO)NR、NR(CO)R、NR(CO)OR′、OR′、NR、SR、SOR、SO及び/若しくはOSOにより置換されており;
ここで全てのラジカルRは、場合により、追加的に、酸の作用で切断される−O−C−結合又は−O−Si−結合を有する基により置換されており;
R′は、フェニレンジスルホニル、ナフチレンジスルホニル、下記:
Figure 2009541254
ジフェニレンジスルホニル又はオキシジフェニレンジスルホニルであり、
ここで、基フェニレンジスルホニル、ナフチレンジスルホニル、下記:
Figure 2009541254
ジフェニレンジスルホニル及びオキシジフェニレンジスルホニルは、場合により、1つ以上の、C〜C30シクロアルキル、C〜C18アルキル、C〜C10ハロアルキル、C〜C12アルケニル、C〜C30シクロアルケニル、フェニル−C〜Cアルキル、1つ以上のO、S、NR、CO、SO及び/若しくはSOで割り込まれているC〜C18アルキル、1つ以上のO、S、NR、CO、SO及び/若しくはSOで割り込まれているC〜C30シクロアルキル、1つ以上のO、S、NR、CO、SO及び/若しくはSOで割り込まれているC〜C30シクロアルケニル、1つ以上のO、S、NR、CO、SO及び/若しくはSOで割り込まれているC〜C12アルケニルにより置換されているか;又は
ハロゲン、NO、CN、Ar、(CO)R、(CO)OR′、(CO)NR、O(CO)R、O(CO)OR′、O(CO)NR、NR(CO)R、NR(CO)OR′、OR′、NR、SR、SOR、SO及び/若しくはOSOにより置換されているか;或いは
R′は、C〜C12アルキレンジスルホニル又はC〜C10ハロアルキレンジスルホニルであり;
ここで全てのラジカルR′は、場合により、追加的に、酸の作用で切断される−O−C−結合又は−O−Si−結合を有する基により置換されており;
は、CN、C〜C10ハロアルキル、又はNO、CN、Ar、(CO)R、(CO)OR、(CO)NR、O(CO)R、O(CO)OR、O(CO)NR、NR(CO)R、NR(CO)OR、OR、NR、SR、SOR、SO、OSO及び/若しくは式IV:
Figure 2009541254
の基により置換されているC〜C10ハロアルキルであり;
Arは、フェニル、ビフェニリル、フルオレニル、ナフチル、アントリル、フェナントリル又はヘテロアリールであり、
ここで、基フェニル、ビフェニリル、フルオレニル、ナフチル、アントリル、フェナントリル及びヘテロアリールは、場合により、1つ以上の、C〜C30シクロアルキル、C〜C18アルキル、C〜C10ハロアルキル、C〜C12アルケニル、C〜C30シクロアルケニル、フェニル−C〜Cアルキル、1つ以上のO、S、NR、CO、SO及び/若しくはSOで割り込まれているC〜C18アルキル、1つ以上のO、S、NR、CO、SO及び/若しくはSOで割り込まれているC〜C30シクロアルキル、1つ以上のO、S、NR、CO、SO及び/若しくはSOで割り込まれているC〜C30シクロアルケニル、1つ以上のO、S、NR、CO、SO及び/若しくはSOで割り込まれているC〜C12アルケニルにより置換されているか;又は
式IV:
Figure 2009541254
の基、ハロゲン、NO、CN、Ar、(CO)R、(CO)OR、(CO)NR、O(CO)R、O(CO)OR、O(CO)NR、NR(CO)R、NR(CO)OR、OR、NR、SR、SOR、SO及び/若しくはOSOにより置換されており;
場合により、置換基C〜C18アルキル、C〜C12アルケニル、(CO)R、(CO)OR、(CO)NR、O(CO)R、O(CO)OR、O(CO)NR、NR(CO)R、NR(CO)OR、OR、NR、SR、SOR、SO及び/又はOSOは、フェニル、ビフェニリル、ナフチル、アントリル、フェナントリル若しくはヘテロアリール環の更なる置換基と又はフェニル、ビフェニリル、ナフチル、アントリル、フェナントリル若しくはヘテロアリール環の炭素原子のうちの1個と、ラジカルC〜C18アルキル、C〜C12アルケニル、R、R、R、R及び/又はRを介して5員、6員又は7員環を形成し;
ここで全てのラジカルArは、場合により、追加的に、酸の作用で切断される−O−C−結合又は−O−Si−結合を有する基により置換されており;
Ar′は、フェニレン、ビフェニレン、ナフチレン、下記:
Figure 2009541254
ヘテロアリーレン、オキシジフェニレン又は下記:
Figure 2009541254
であり;
ここで、基フェニレン、ビフェニレン、ナフチレン、下記:
Figure 2009541254
ヘテロアリーレン、オキシジフェニレン及び下記:
Figure 2009541254
は、場合により、1つ以上の、C〜C30シクロアルキル、C〜C18アルキル、C〜C10ハロアルキル、C〜C12アルケニル、C〜C30シクロアルケニル、フェニル−C〜Cアルキル、1つ以上のO、S、NR、CO、SO及び/若しくはSOで割り込まれているC〜C18アルキル、1つ以上のO、S、NR、CO、SO及び/若しくはSOで割り込まれているC〜C30シクロアルキル、1つ以上のO、S、NR、CO、SO及び/若しくはSOで割り込まれているC〜C30シクロアルケニル、1つ以上のO、S、NR、CO、SO及び/若しくはSOで割り込まれているC〜C12アルケニルにより置換されているか;又は
式IV:
Figure 2009541254
の基により置換されているか;又は
ハロゲン、NO、CN、Ar、(CO)R、(CO)OR、(CO)NR、O(CO)R、O(CO)OR、O(CO)NR、NR(CO)R、NR(CO)OR、OR、NR、SR、SOR、SO及び/若しくはOSOにより置換されており、
場合により、置換基C〜C18アルキル、C〜C12アルケニル、(CO)R、(CO)OR、(CO)NR、O(CO)R、O(CO)OR、O(CO)NR、NR(CO)R、NR(CO)OR、OR、NR、SR、SOR、SO及び/又はOSOは、フェニレン、ビフェニレン、ナフチレン、下記:
Figure 2009541254
ヘテロアリーレン、下記:
Figure 2009541254
若しくはオキシジフェニレン環の更なる置換基と又はフェニレン、ビフェニレン、ナフチレン、下記
Figure 2009541254
ヘテロアリーレン、下記:
Figure 2009541254
若しくはオキシジフェニレン環の炭素原子のうちの1個と、ラジカルC〜C18アルキル、C〜C12アルケニル、R、R、R、R及び/又はRを介して5員、6員又は7員環を形成するか;或いは
Ar′は、−Ar″−X−Y−X−Ar″−であり;
ここで全てのラジカルAr′は、場合により、追加的に、酸の作用で切断される−O−C−結合又は−O−Si−結合を有する基により置換されており、
Ar″は、フェニレン、ビフェニレン、ナフチレン、ヘテロアリーレンであり:
ここで、基フェニレン、ビフェニレン、ナフチレン、ヘテロアリーレンは、場合により、1つ以上の、C〜C30シクロアルキル、C〜C18アルキル、C〜C10ハロアルキル、C〜C12アルケニル、C〜C30シクロアルケニル、フェニル−C〜Cアルキル、1つ以上のO、S、NR、CO、SO及び/若しくはSOで割り込まれているC〜C18アルキル、1つ以上のO、S、NR、CO、SO及び/若しくはSOで割り込まれているC〜C30シクロアルキル、1つ以上のO、S、NR、CO、SO及び/若しくはSOで割り込まれているC〜C30シクロアルケニル、1つ以上のO、S、NR、CO、SO及び/若しくはSOで割り込まれているC〜C12アルケニルにより置換されているか;又は
ハロゲン、NO、CN、Ar、(CO)R、(CO)OR、(CO)NR、O(CO)R、O(CO)OR、O(CO)NR、NR(CO)R、NR(CO)OR、OR、NR、SR、SOR、SO及び/若しくはOSOにより置換されており、
場合により、置換基C〜C18アルキル、C〜C12アルケニル、(CO)R、(CO)OR、(CO)NR、O(CO)R、O(CO)OR、O(CO)NR、NR(CO)R、NR(CO)OR、OR、NR、SR、SOR、SO及び/又はOSOは、フェニレン、ビフェニレン、ナフチレン、ヘテロアリーレン環の更なる置換基と又はフェニレン、ビフェニレン、ナフチレン、ヘテロアリーレン環の炭素原子のうちの1個と、ラジカルC〜C18アルキル、C〜C12アルケニル、R、R、R、R及び/又はRを介して5員、6員又は7員環を形成し;
ここで全てのラジカルAr″は、場合により、追加的に、酸の作用で切断される−O−C−結合又は−O−Si−結合を有する基により置換されており;
は、直接結合、O、S、NR、CO、O(CO)、S(CO)、NR(CO)、SO、SO又はOSOであるか;或いは
は、C〜C18アルキレン又はフェニレンであり、ここでこれらのラジカルは、非置換であるか又は1つ以上のC〜C18アルキル、C〜Cハロアルキル、ハロゲン、OR及び/若しくはSRにより置換されており;
は、場合により、OR、SR、ハロゲン、フェニル及び/又は式IV:
Figure 2009541254
の基により置換されているC〜C18アルキレンであるか;或いは
は、1つ以上のO、S、NR、CO、SO及び/又はSOで割り込まれ、場合により、式IV:
Figure 2009541254
の基により置換されている、C〜C18アルキレンであり;
R′は、水素、C〜C30シクロアルキル、C〜C18アルキル、C〜C10ハロアルキル、C〜C12アルケニル、C〜C30シクロアルケニル、フェニル−C〜Cアルキルであるか;或いは
R′は、1つ以上のO、S、NR、CO、SO及び/又はSOで割り込まれているC〜C18アルキル、1つ以上のO、S、NR、CO、SO及び/又はSOで割り込まれているC〜C30シクロアルキル、1つ以上のO、S、NR、CO、SO及び/又はSOで割り込まれているC〜C30シクロアルケニル、1つ以上のO、S、NR、CO、SO及び/又はSOで割り込まれているC〜C12アルケニルであるか;或いは
R′は、フェニル、ナフチル、C〜C18アルカノイル、ベンゾイル、C〜C18アルキルスルホニル、フェニルスルホニル、ナフチルスルホニル、アントリルスルホニル又はフェナントリルスルホニルであり;
ここで、基フェニル、ナフチル、C〜C18アルカノイル、ベンゾイル、C〜C18アルキルスルホニル、フェニルスルホニル、ナフチルスルホニル、アントリルスルホニル及びフェナントリルスルホニルは、場合により、1つ以上の、Ar、OH、C〜C18アルキル、C〜C10ハロアルキル、ハロゲン、NO、CN、C〜C18アルコキシ、フェノキシ、NR、C〜C12アルキルチオ、C〜C18アルキルスルホニルオキシ、フェニルスルホニルオキシ、(4−メチルフェニル)スルホニルオキシ、C〜C18アルカノイルオキシ及び/又はベンゾイルオキシにより置換されており;
は、C〜C30シクロアルキル、C〜C18アルキル、C〜C10ハロアルキル、C〜C12アルケニル、C〜C30シクロアルケニル、フェニル−C〜Cアルキルであり;これらは全て、場合により、式IV:
Figure 2009541254
の基により置換されているか;或いは
は、1つ以上のO、S、NR、CO、SO及び/又はSOで割り込まれているC〜C18アルキル、1つ以上のO、S、NR、CO、SO及び/又はSOで割り込まれているC〜C30シクロアルキル、1つ以上のO、S、NR、CO、SO及び/又はSOで割り込まれているC〜C30シクロアルケニル、1つ以上のO、S、NR、CO、SO及び/又はSOで割り込まれているC〜C12アルケニルであるか;或いは
は、フェニル、ナフチル、C〜C18アルカノイル、ベンゾイル、C〜C18アルキルスルホニル、フェニルスルホニル、ナフチルスルホニル、アントリルスルホニル又はフェナントリルスルホニルであり;
ここで、基フェニル、ナフチル、C〜C18アルカノイル、ベンゾイル、C〜C18アルキルスルホニル、フェニルスルホニル、ナフチルスルホニル、アントリルスルホニル及びフェナントリルスルホニルは、場合により、1つ以上の、Ar、OH、C〜C18アルキル、C〜C10ハロアルキル、ハロゲン、NO、CN、C〜C18アルコキシ、フェノキシ、NR、C〜C12アルキルチオ、C〜C18アルキルスルホニルオキシ、フェニルスルホニルオキシ、(4−メチルフェニル)スルホニルオキシ、C〜C18アルカノイルオキシ、ベンゾイルオキシ及び/又は式IV:
Figure 2009541254
の基により置換されているか;或いは
は、水素であり;
及びRは、互いに独立して、水素、C〜C30シクロアルキル、C〜C18アルキル、C〜C10ハロアルキル、C〜C12アルケニル、C〜C30シクロアルケニル、フェニル−C〜Cアルキル、1つ以上のO、S、NR、CO、SO及び/又はSOで割り込まれているC〜C18アルキル、1つ以上のO、S、NR、CO、SO及び/又はSOで割り込まれているC〜C30シクロアルキル、1つ以上のO、S、NR、CO、SO及び/又はSOで割り込まれているC〜C30シクロアルケニル、1つ以上のO、S、NR、CO、SO及び/又はSOで割り込まれているC〜C12アルケニルであるか;或いは
及びRは、互いに独立して、フェニル、ナフチル、C〜C18アルカノイル、ベンゾイル、C〜C18アルキルスルホニル、フェニルスルホニル、ナフチルスルホニル、アントリルスルホニル又はフェナントリルスルホニルであり;
ここで、基フェニル、ナフチル、C〜C18アルカノイル、ベンゾイル、C〜C18アルキルスルホニル、フェニルスルホニル、ナフチルスルホニル、アントリルスルホニル及びフェナントリルスルホニルは、場合により、1つ以上の、Ar、OH、C〜C18アルキル、C〜C10ハロアルキル、ハロゲン、NO、CN、C〜C18アルコキシ、フェノキシ、C〜C18アルキルアミノ、C〜C18ジアルキルアミノ、C〜C12アルキルチオ、C〜C18アルキルスルホニルオキシ、フェニルスルホニルオキシ、(4−メチルフェニル)スルホニルオキシ、C〜C18アルカノイルオキシ及び/又はベンゾイルオキシにより置換されているか;或いは
及びRは、それらが結合している窒素原子と一緒になって、場合により、1つ以上のO、NR又はCOで割り込まれている5員、6員又は7員環を形成し;
は、水素、C〜C30シクロアルキル、C〜C18アルキル、C〜C10ハロアルキル、C〜C12アルケニル、C〜C30シクロアルケニル、フェニル−C〜Cアルキル、1つ以上のO、S、NR、CO、SO及び/又はSOで割り込まれているC〜C18アルキル、1つ以上のO、S、NR、CO、SO及び/又はSOで割り込まれているC〜C30シクロアルキル、1つ以上のO、S、NR、CO、SO及び/又はSOで割り込まれているC〜C30シクロアルケニル、1つ以上のO、S、NR、CO、SO及び/又はSOで割り込まれているC〜C12アルケニルであるか;或いは
は、フェニル、ナフチル、C〜C18アルカノイル、ベンゾイル、C〜C18アルキルスルホニル、フェニルスルホニル、ナフチルスルホニル、アントリルスルホニル又はフェナントリルスルホニルであり;
ここで、基フェニル、ナフチル、C〜C18アルカノイル、ベンゾイル、C〜C18アルキルスルホニル、フェニルスルホニル、ナフチルスルホニル、アントリルスルホニル及びフェナントリルスルホニルは、場合により、1つ以上のAr、OH、C〜C18アルキル、C〜C10ハロアルキル、ハロゲン、NO、CN、C〜C18アルコキシ、フェノキシ、NR、C〜C12アルキルチオ、C〜C18アルキルスルホニルオキシ、フェニルスルホニルオキシ、(4−メチルフェニル)スルホニルオキシ、C〜C18アルカノイルオキシ及び/又はベンゾイルオキシにより置換されており;
は、水素、C〜C30シクロアルキル、C〜C18アルキル、C〜C10ハロアルキル、C〜C12アルケニル、C〜C30シクロアルケニル、フェニル−C〜Cアルキル、1つ以上のO、S、NR、CO、SO及び/又はSOで割り込まれているC〜C18アルキル、1つ以上のO、S、NR、CO、SO及び/又はSOで割り込まれているC〜C30シクロアルキル、1つ以上のO、S、NR、CO、SO及び/又はSOで割り込まれているC〜C30シクロアルケニル、1つ以上のO、S、NR、CO、SO及び/又はSOで割り込まれているC〜C12アルケニルであるか;或いは
は、フェニル又はナフチルであり、両方とも、場合により、1つ以上のAr、OH、C〜C18アルキル、C〜C10ハロアルキル、ハロゲン、NO、CN、C〜C18アルコキシ、フェノキシ、NR、C〜C12アルキルチオ、C〜C18アルキルスルホニルオキシ、フェニルスルホニルオキシ、(4−メチルフェニル)スルホニルオキシ、C〜C18アルカノイルオキシ及び/又はベンゾイルオキシにより置換されており;
は、C〜C30シクロアルキル、C〜C18アルキル、C〜C10ハロアルキル、C〜C12アルケニル、C〜C30シクロアルケニル又はフェニル−C〜Cアルキルであり;
Arは、フェニル、ビフェニリル又はナフチルであり、
ここで、基フェニル、ビフェニリル及びナフチルは、場合により、1つ以上のOH、C〜C18アルキル、C〜C10ハロアルキル、ハロゲン、NO、CN、C〜C18アルコキシ、フェノキシ、NR、C〜C12アルキルチオ、C〜C18アルキルスルホニルオキシ、フェニルスルホニルオキシ、(4−メチルフェニル)スルホニルオキシ、C〜C18アルカノイルオキシ及び/又はベンゾイルオキシにより置換されており;
、A及びAは、互いに独立して、水素、ハロゲン、CN、C〜C18アルキル、ORにより置換されているC〜C18アルキルであるか;或いはA、A及びAは、互いに独立して、C〜C10ハロアルキル、(CO)R、(CO)OR又は(CO)NRであり;
は、直接結合、O、(CO)O、(CO)S、(CO)NR、SO、OSO, Ar′、C〜C18アルキレンであるか;或いは
及びDは、それらが結合しているエチレン性不飽和二重結合と一緒になって、場合により、1つ以上のO、S、N、NR、CO、SO及び/又はSOで割り込まれているC〜C30シクロアルケニルを形成するか;或いは
及びDは、それらが結合しているエチレン性不飽和二重結合の炭素と一緒になって、場合により、1つ以上のO、S、N、NR、CO、SO及び/又はSOで割り込まれているC〜C30シクロアルキルを形成し;
及びDは、互いに独立して、直接結合、O、S、NR、CO、O(CO)、(CO)O、(CO)S、(CO)NR、SO、SO、OSO、Ar′、下記:
Figure 2009541254
〜C18アルキレン、C〜C30シクロアルキレン、C〜C12アルケニレン、C〜C30シクロアルケニレン、1つ以上のO、S、NR、CO、SO及び/又はSOで割り込まれているC〜C18アルキレン、1つ以上のO、S、NR、CO、SO及び/又はSOで割り込まれているC〜C30シクロアルキレン、1つ以上のO、S、NR、CO、SO及び/又はSOで割り込まれているC〜C30シクロアルケニレン、1つ以上のO、S、NR、CO、SO及び/又はSOで割り込まれているC〜C12アルケニレンであり;
ここで、基C〜C18アルキレン、C〜C30シクロアルキレン、C〜C12アルケニレン、C〜C30シクロアルケニレン、割り込まれたC〜C18アルキレン、割り込まれたC〜C30シクロアルキレン、割り込まれたC〜C30シクロアルケニレン及び割り込まれたC〜C12アルケニレンは、場合により、1つ以上のAr、OH、ハロゲン、NO、CN、C〜C18アルコキシ、フェノキシ、NR、C〜C12アルキルチオ、C〜C18アルキルスルホニルオキシ、フェニルスルホニルオキシ、(4−メチルフェニル)スルホニルオキシ、C〜C18アルカノイルオキシ及び/又はベンゾイルオキシにより置換されており;
ここで、全てのラジカルD及びDは、場合により、追加的に、酸の作用で切断される−O−C−結合又は−O−Si−結合を有する基により置換されており;
Ar′2は、フェニレン、ビフェニレン、ナフチレン又はヘテロアリーレンであり:
ここで、基フェニレン、ビフェニレン、ナフチレン及びヘテロアリーレンは、場合により、1つ以上のOH、C〜C18アルキル、C〜C10ハロアルキル、ハロゲン、NO、CN、C〜C18アルコキシ、フェノキシ、NR、C〜C12アルキルチオ、C〜C18アルキルスルホニルオキシ、フェニルスルホニルオキシ、(4−メチルフェニル)スルホニルオキシ、C〜C18アルカノイルオキシ及び/又はベンゾイルオキシにより置換されており;
2aは、Rにおいて提示された意味のうちの1つを有するが;
但し、ラジカルR、R、Ar又はAr′のうちの少なくとも1つは、式IVの基を含む〕
で示される化合物である。
式I、II及びIIIの化合物は、オキシム部分に隣接するハロアルキル基又はニトリル基を含有すること、並びに発色団部分、すなわちR、Ar及び/又はAr′に少なくとも1つの重合可能なエチレン性不飽和基を有することを特徴とする。
興味深いものは、特に、
が、C〜C18アルキルスルホニル、C〜C10ハロアルキルスルホニルであるか;或いは
が、場合により、1つ以上のC〜C18アルキル、C〜C10ハロアルキル、ハロゲン又はNOで置換されているフェニルスルホニルであり:
R′が、フェニレンジスルホニル又はC〜C10ハロアルキレンジスルホニルであり;
が、CN又はC〜C10ハロアルキルであり;
Arが、フェニル、フルオレニル、ナフチル又はヘテロアリールであり、
これらが全て、場合より、1つ以上のOR、NR、SR又は式IV:
Figure 2009541254
の基により置換されており;
2aが、Rにおいて提示された意味のうちの1つを有し;
Ar′が、場合により、式IV:
Figure 2009541254
の基により置換されているフェニレン又はヘテロアリーレンであるか;或いは
Ar′が、−Ar″−X−Y−X−Ar″−であり;
Ar″が、フェニレン又はナフチレンであり;
が、O、NR又はSであり;
が、場合により、式IV:
Figure 2009541254
の基により置換されているC〜C18アルキレンであり;
が、場合により、式IV:
Figure 2009541254
の基により置換されているC〜C18アルキルであり;
及びRが、互いに独立して、水素、場合により式IV:
Figure 2009541254
の基により置換されているC〜C18アルキルであり;
、A及びAが、互いに独立して、水素又はC〜C18アルキルであり;
が、(CO)O、Ar′、C〜C18アルキレンであるか;或いは
及びDが、それらが結合しているエチレン性不飽和二重結合と一緒になって、場合により、1つ以上のN又はCOで割り込まれているC〜C30シクロアルケニルを形成するか;或いは
及びDが、それらが結合しているエチレン性不飽和二重結合の炭素と一緒になって、場合により、1つ以上のN又はCOで割り込まれているC〜C30シクロアルキルを形成し;
及びDが、互いに独立して、直接結合、O、S、CO、O(CO)、(CO)O、Ar′、下記:
Figure 2009541254
〜C30シクロアルキレン、C〜C18アルキレン、1つ以上のO、CO、NR及び/又はSOで割り込まれているC〜C18アルキレンであり;
が、水素であり;そして
A′が、フェニレンである
式I、II及びIIIの化合物である。
特に興味深いものは、
が、C〜C10ハロアルキルスルホニルであるか;或いはRが、場合によりC〜C10ハロアルキル又はNOにより置換されているフェニルスルホニルであり:
が、C〜C10ハロアルキルであり;
Arが、フェニル、フルオレニル、ナフチル又はヘテロアリールであり、これらが全て、式IV:
Figure 2009541254
の基により置換されており;
、A及びAが、互いに独立して、水素又はC〜Cアルキルであり;
が、(CO)Oであり;
及びDが、互いに独立して、直接結合、(CO)O、O、下記:
Figure 2009541254
〜C18アルキレン、又は1つ以上のCO若しくはNRで割り込まれているC〜C18アルキレンであり;
2aが、CNであり;そして
が、水素である
上記に記載された式I、II及びIIIの化合物である。
式I、II及びIIIの化合物は、互いに、又はエチレン性不飽和重合性基を含む他の成分と重合することができる。
したがって、本発明の主題は、また、上記に記載された式I、II及び/又はIIIの化合物から誘導される少なくとも1つの反復単位を含むポリマーである。
興味深いポリマーは、式I、II及び/又はIIIの化合物から誘導される少なくとも1つの反復単位に加えて、式V:
Figure 2009541254
〔式中、
、A及びAは、互いに独立して、水素、ハロゲン、CN、C〜C18アルキル、ORにより置換されているC〜C18アルキルであるか;或いはA、A及びAは、互いに独立して、C〜C10ハロアルキル、(CO)R、(CO)OR又は(CO)NRであり;
は、C〜C18アルキル、1つ以上のO、S、NR、CO、SO及び/又はSOで割り込まれているC〜C18アルキル、
〜C30シクロアルキル、1つ以上のO、S、NR、CO、SO及び/又はSOで割り込まれているC〜C30シクロアルキル、
〜C12アルケニル、1つ以上のO、S、NR、CO、SO及び/又はSOで割り込まれているC〜C12アルケニル、
〜C30シクロアルケニル、1つ以上のO、S、NR、CO、SO及び/又はSOで割り込まれているC〜C30シクロアルケニルであり、
ここで、基C〜C18アルキル、割り込まれたC〜C18アルキル、C〜C30シクロアルキル、割り込まれたC〜C30シクロアルキル、C〜C12アルケニル、割り込まれたC〜C12アルケニル、C〜C30シクロアルケニル及び割り込まれたC〜C30シクロアルケニルは、場合により、1つ以上のAr、OR、(CO)OR、O(CO)R、ハロゲン、NO、CN、NR、C〜C12アルキルチオ、C〜C18アルキルスルホニルオキシ、フェニルスルホニルオキシ及び/又は(4−メチルフェニル)スルホニルオキシにより置換されているか;或いは
は、水素、ハロゲン、NO、CN、Ar、(CO)R、(CO)OR、(CO)NR、O(CO)R、O(CO)OR、O(CO)NR、NR(CO)R、NR(CO)OR、OR、NR、SR、SOR、SO及び/又はOSOであり;
は、直接結合、O、CO、(CO)O、(CO)S、(CO)NR、SO又はOSOであるか;或いは
は、C〜C18アルキレンであるか;或いは
は、基Ar′であり;
場合により、ラジカルA及びDは、それらが結合しているエチレン性不飽和二重結合と一緒になって、場合により、1つ以上のO、S、NR、CO、SO及び/又はSOで割り込まれているC〜C30シクロアルケニルを形成するか;或いは
場合により、ラジカルA及びDは、それらが結合しているエチレン性不飽和二重結合の炭素と一緒になって、場合により、1つ以上のO、S、N、NR、CO、SO及び/又はSOで割り込まれているC〜C30シクロアルキルを形成し;
、R、R、R、R、Ar′及びArは、上記で定義されたとおりである〕
で示される群から選択されるエチレン性不飽和化合物から誘導される、1つ以上の同一又は異なる反復単位を含むものである。
本発明の更なる主題は、
、A及びAが、互いに独立して、水素又はC〜C18アルキルであり;
が、水素、C〜C30シクロアルキル、1つ以上のO及び/又はCOで割り込まれているC〜C30シクロアルキル、C〜C18アルキル、1つ以上のO及び/又はCOで割り込まれているC〜C18アルキル、1つ以上のO及び/又はCOで割り込まれているC〜C30シクロアルケニルであり;
ここで、基C〜C30シクロアルキル、割り込まれたC〜C30シクロアルキル、C〜C18アルキル、割り込まれたC〜C18アルキル及び割り込まれたC〜C30シクロアルケニルが、場合により、1つ以上のOR、(CO)OR又はO(CO)Rで置換されており;
が、(CO)Oであり;
が、C〜C18アルキル、1つ以上のO及び/若しくはCOで割り込まれているC〜C18アルキル、
〜C30シクロアルキル、1つ以上のO及び/若しくはCOで割り込まれているC〜C30シクロアルキル、又は
1つ以上のO及び/若しくはCOで割り込まれているC〜C30シクロアルケニルであるか;或いは
が、水素であり;
が、C〜C30シクロアルキル、C〜C18アルキル、1つ以上のO及び/又はCOで割り込まれているC〜C18アルキル、1つ以上のO及び/又はCOで割り込まれているC〜C30シクロアルキル、1つ以上のO及び/又はCOで割り込まれているC〜C30シクロアルケニルであるか;或いは
が、水素である
ポリマーである。
特に興味深いものは、実施例1〜11及び12〜31に提示されている化合物、並びに以下の式(a)〜(s)
Figure 2009541254
で示される化合物である。
〜C18アルキルは、直鎖又は分岐鎖であり、例えば、C〜C16−、C〜C12−、C〜C−、C〜C−又はC〜Cアルキルである。例は、メチル、エチル、プロピル、イソプロピル、n−ブチル、sec−ブチル、イソブチル、tert−ブチル、ペンチル、ヘキシル、ヘプチル、2,4,4−トリメチルペンチル、2−エチルヘキシル、オクチル、ノニル、デシル、ウンデシル、ドデシル、テトラデシル、ペンタデシル、ヘキサデシル、ヘプタデシル及びオクタデシルであり、好ましくは、メチル、イソプロピル又はブチルのようなC〜Cアルキルである。
1つ以上のO、S、NR及び/若しくはCO、又はNRにより割り込まれているC〜C18アルキルは、例えば、非連続O、S、NR及び/若しくはCO、又はNRにより1〜5回、例えば1〜3回、又は1回若しくは2回割り込まれている。したがって、得られる構造単位は、例えば、O(CHOH、O(CHOCH、O(CHCHO)CHCH、CH−O−CH、CHCH−O−CHCH、〔CHCHO〕−CH(ここで、y=1〜5)、(CHCHO)CHCH、CH−CH(CH)−O−CH−CHCH、CH−CH(CH)−O−CH−CH、S(CHSCH、(CHNHCH、(CHO(CO)CH、(CH(CO)OCH又は(CHNH(CO)CHである。
本発明の文脈において、基、例えばアルキル又はアルキレンが1つ以上の定義されたラジカル、例えばO、S、NR、SO、SOO及び/又はCOにより割り込まれている場合、「割り込まれている」ラジカルは、割り込まれている基、例えばアルキル又はアルキレンの間に位置することが意図されるばかりでなく、末端にあることも意図される。
〜C30シクロアルキルは、単環式又は多環式脂肪族環、例えば、単、二又は三環式脂肪族環であり、例は、C〜C20−、C〜C18−、C〜C12−、C〜C10シクロアルキルである。本出願の文脈において、C〜C30シクロアルキルは、少なくとも1つの環を含むアルキルとして理解されるべきであり、すなわち、アルキルで置換されている炭素環式脂肪族環もこの定義に包含されている。単環式環の例は、シクロプロピル、シクロブチル、シクロペンチル、シクロヘキシル又はシクロヘプチルであり、特にシクロペンチル及びシクロヘキシルである。更なる例は、下記:
Figure 2009541254
のような構造である。多環式環の例は、ペルヒドロアントラシル、ペルヒドロフェニアトリル、ペルヒドロナフチル、ペルヒドロフルオレニル、ペルヒドロクリセニル、ペルヒドロピセニル、アダマンチル、ビシクロ〔1.1.1〕ペンチル、ビシクロ〔4.2.2〕デシル、ビシクロ〔2.2.2〕オクチル、ビシクロ〔3.3.2〕デシル、ビシクロ〔4.3.2〕ウンデシル、ビシクロ〔4.3.3〕ドデシル、ビシクロ〔3.3.3〕ウンデシル、ビシクロ〔4.3.1〕デシル、ビシクロ〔4.2.1〕ノニル、ビシクロ〔3.3.1〕ノニル、ビシクロ〔3.2.1〕オクチル、下記:
Figure 2009541254
などである。また、アルキル置換多環式架橋環は、本発明の文脈において、定義「シクロアルキル」に包含されることが意図され、例えば、下記:
Figure 2009541254
などである。
また、「スピロ」シクロアルキル化合物は、本発明の文脈において、定義C〜C30シクロアルキルに包含され、例えば、スピロ〔5.2〕オクチル、スピロ〔5.4〕デシル、スピロ〔5.5〕ウンデシルである。本発明の化合物におけるそれぞれの定義の対象となる多環式シクロアルキル基の更なる例は、EP878738、第11及び12頁に示されており、ここで、式(1)〜(46)に、結合を達成するために「イル(yl)」を加えなければならない。当業者はこの事実を認識している。
一般に脂環式環は、反復構造単位を形成することができる。
1つ以上のO、S、NR及び/又はCOにより割り込まれているC〜C30シクロアルキルは、1つ以上のO、S、NR及び/又はCOにより割り込まれている単又は多環式脂肪族環であり、例えば下記:
Figure 2009541254
である。
〜C12アルケニルラジカルは、例えば、単又は多不飽和、直鎖又は分岐鎖であり、例えば、C〜C−、C〜C−又はC〜Cアルケニルである。例は、アリル、メタリル、ビニル、1,1−ジメチルアリル、1−ブテニル、3−ブテニル、2−ブテニル、1,3−ペンタジエニル、5−ヘキセニル又は7−オクテニル、特にアリル又はビニルである。
〜C30シクロアルケニルは、単環式又は多環式の単又は多不飽和環、例えば、単環式、二環式、三環式又は四環式の単又は多不飽和環であり、例は、C〜C20−、C〜C18−、C〜C12−、C〜C10シクロアルケニルである。シクロアルケニルの例は、シクロブテニル、シクロペンテニル、シクロヘキセニル、シクロヘプテニルである。架橋アルケニル基も上記の定義に包含されており、例えば下記:
Figure 2009541254
など、特にシクロペンテニル、シクロヘキセニル、下記:
Figure 2009541254
である。1つ以上のO、S、NR及び/又はCOにより割り込まれているC〜C30シクロアルケニルは、1つ以上のO、S、NR及び/又はCOにより割り込まれている単環式又は多環式の単又は多不飽和環であり、例えば下記:
Figure 2009541254
である。
〜C18アルキレンは、直鎖又は分岐鎖アルキレンである。例は、エチレン、プロピレン、ブチレン、ペンチレン、ヘキシレンである。
1つ以上のO、S、NR、O(CO)、S(CO)、NR(CO)、SO、SO及び/又はOSOにより割り込まれているC〜C18アルキレンは、例えば、「非連続O」により、S、NR、O(CO)、S(CO)、NR(CO)、SO、SO及び/又はOSOにより1〜5回、例えば1〜3回、又は1回若しくは2回割り込まれている。本出願の文脈において、この定義「割り込まれている」は、アルキル鎖の一端又は両端に結合している前記の定義された基を1つ以上有するC〜C18アルキレンを含むことも意図される。したがって、得られる構造単位は、例えば、−O(CH−、−O(CHOCH−、−O(CHCHO)−、−S(CH−、−(CHNH−、−(CHO(CO)CH−、−(CHO(SO)CH−、−CHCHNHCO−である。
〜C30シクロアルキレンは、単環式又は多環式脂肪族環、例えば、単環式、二環式又は三環式脂肪族環であり、例は、C〜C20−、C〜C18−、C〜C12−、C〜C10シクロアルキレンである。単環式環の例は、シクロプロピレン、シクロブチレン、シクロペンチレン、シクロヘキシレン又はシクロヘプチレンである。多環式環の例は、ペルヒドロアントラシレン、ペルヒドロフェニアトリレン、ペルヒドロナフチレン、ペルヒドロフルオレニレン、ペルヒドロクリセニレン、ペルヒドロピセニレン、アダマンチレン、ビシクロ〔1.1.1〕ペンチレン、ビシクロ〔4.2.2〕デシレン、ビシクロ〔2.2.2〕オクチレン、ビシクロ〔3.3.2〕デシレン、ビシクロ〔4.3.2〕ウンデシレン、ビシクロ〔4.3.3〕ドデシレン、ビシクロ〔3.3.3〕ウンデシレン、ビシクロ〔4.3.1〕デシレン、ビシクロ〔4.2.1〕ノニレン、ビシクロ〔3.3.1〕ノニレン、ビシクロ〔3.2.1〕オクチレン、下記:
Figure 2009541254
などである。「スピロ」シクロアルキレン化合物も、本発明の文脈における定義C〜C30シクロアルキレンに包含され、例えば、スピロ〔5.2〕オクチレン、スピロ〔5.4〕デシレン、スピロ〔5.5〕ウンデシレンである。本発明の化合物それぞれの定義の対象となる多環式シクロアルキレン基の更なる例は、EP878738、第11及び12頁に示されており、ここで、式(1)〜(46)に、2つの結合を達成するために「イレン(ylene)」を加えなければならない。当業者はこの事実を認識している。
1つ以上のO、S、NR、O(CO)、NRCOにより割り込まれているC〜C30シクロアルキレンは、1つ以上のO、S、NR、O(CO)、SCO、NRCOにより割り込まれている単環式又は多環式脂肪族環であり、例えば下記:
Figure 2009541254
である。
〜C12アルケニレンラジカルは、例えば、単又は多不飽和、直鎖又は分岐鎖であり、例えば、C〜C−、C〜C−又はC〜Cアルケニレンである。例は、−CH=CHCH−、−CH=C(CH)CH−、−CH=C(CH)−、下記:
Figure 2009541254
である。
〜C30シクロアルケニレンは、単環式又は多環式の単又は多不飽和環、例えば、単環式、二環式、三環式又は四環式の単又は多不飽和環であり、例は、C〜C20−、C〜C18−、C〜C12−、C〜C10シクロアルケニレンである。例は、下記:
Figure 2009541254
などである。
1つ以上のO、S、NR、O(CO)及び/又はNR(CO)により割り込まれているC〜C30シクロアルケニレンは、1つ以上のO、S、NR、O(CO)、SCO、NR(CO)により割り込まれている環式又は多環式の単又は多不飽和環であり、例えば下記:
Figure 2009541254
などである。
置換されているフェニルは、フェニル環において、1〜5つ、例えば1、2又は3つ、特に1又は2つの置換基を有する。置換は、好ましくはフェニル環の4−、3,4−、3,5−又は3,4,5位においてである。
ラジカルのフェニル、ビフェニル、ナフチル、フルオレニル、フェナントリル、アントラシル及びヘテロアリールが1つ以上のラジカルにより置換されている場合、これらは、例えば一置換から五置換、例えば一置換、二置換又は三置換、特に一置換又は二置換されている。
Arが、1つ以上のC〜C18アルキル、C〜C12アルケニル、(CO)R、(CO)OR、(CO)NR、O(CO)R、O(CO)OR、O(CO)NR、NR(CO)R、NR(CO)OR、OR、NR、SR、SOR、SO及び/又はOSOにより置換されているフェニル、ビフェニル、フルオレニル、ナフチル、アントラシル、フェナントリル又はヘテロアリールであり、置換基C〜C18アルキル、C〜C12アルケニル、(CO)R、(CO)OR、(CO)NR、O(CO)R、O(CO)OR、O(CO)NR、NR(CO)R、NR(CO)OR、OR、NR、SR、SOR、SO及び/又はOSOが、フェニル、ビフェニル、ナフチル、アントラシル、フェナントリル若しくはヘテロアリール環の更なる置換基と又はフェニル、ビフェニル、ナフチル、アントラシル、フェナントリル若しくはヘテロアリール環の炭素原子のうちの1個と、ラジカルC〜C18アルキル、C〜C12アルケニル、R、R、R、R及び/又はRを介して5員、6員又は7員環を形成する場合、例えば、以下の構造単位:
Figure 2009541254
などが得られる。
Arにおいて、置換基C〜C18アルキルが、ビフェニル、ナフチル又はフルオレニルの炭素原子のうちの1個と前記環の別の炭素原子とのアルキレン架橋を形成する場合、特にエチレン、プロピレン及びブチレン架橋を形成し、例えば以下の構造:
Figure 2009541254
などが得られる。これに関する本出願の定義も、分岐アルキレン架橋:
Figure 2009541254
を包含することが意図される。前記アルキレン架橋が更なるフェニル環と縮合している場合、以下の構造が提示される。
Figure 2009541254
Ar′が、フェニレン、ビフェニレン、ナフチレン、下記:
Figure 2009541254
ヘテロアリーレン、オキシジフェニレン又は下記:
Figure 2009541254
であり、これらが全て、1つ以上のC〜C18アルキル、C〜C12アルケニル、(CO)R、(CO)OR、(CO)NR、O(CO)R、O(CO)OR、O(CO)NR、NR(CO)R、NR(CO)OR、OR、NR、SR、SOR、SO及び/又はOSOにより置換され、置換基C〜C18アルキル、C〜C12アルケニル、(CO)R、(CO)OR、(CO)NR、O(CO)R、O(CO)OR、O(CO)NR、NR(CO)R、NR(CO)OR、OR、NR、SR、SOR、SO及び/又はOSOが、フェニレン、ビフェニレン、ナフチレン、下記:
Figure 2009541254
ヘテロアリーレン、オキシジフェニレン若しくは下記:
Figure 2009541254
の環の更なる置換基と又はフェニレン、ビフェニレン、ナフチレン、下記
Figure 2009541254
ヘテロアリーレン、下記:
Figure 2009541254
若しくはオキシジフェニレン環の炭素原子のうちの1個と、ラジカルC〜C18アルキル、C〜C12アルケニル、R、R、R、R及び/又はRを介して5員、6員又は7員環を形成する場合、例えば、以下の構造単位
Figure 2009541254
などが得られる。
カンホリル、10−カンホリルは、カンファー−10−イル、すなわち下記:
Figure 2009541254
である。
〜C18アルカノイルは、例えば、C〜C12、C〜C−、C〜C−又はC〜Cアルカノイルであり、ここでアルキル部分は、直鎖又は分岐鎖である。例は、アセチル、プロピオニル、ブタノイル又はヘキサノイルであり、特にアセチルである。
〜C18アルコキシは、例えば、C〜C12−、C〜C−、C〜C−、C〜Cアルコキシであり、直鎖は分岐鎖である。例は、メトキシ、エトキシ、プロポキシ、n−ブトキシ、t−ブトキシ、オクチルオキシ及びドデシルオキシである。
〜C12アルキルチオにおいて、アルキル部分は、例えば、直鎖又は分岐鎖である。例は、メチルチオ、エチルチオ、プロピルチオ又はブチルチオである。
〜C18アルコキシカルボニルは、(C〜C17アルキル)−O−C(O)−であり、ここでC〜C17アルキルは、直鎖は分岐鎖であり、適した数の炭素原子まで上記で定義されたとおりである。例は、メトキシカルボニル、エトキシカルボニル、プロポキシカルボニル、ブトキシカルボニル又はペントキシカルボニルのような、C〜C10−、C〜C−、C〜C−又はC〜Cアルコキシカルボニルである。
〜C10ハロアルキルは、例えば、ハロゲンで一置換又は多置換されているC〜C−、C〜C−又はC〜Cアルキルであり、アルキル部分は、例えば、上記で定義されたものである。例えば、アルキルラジカルにおいて1〜23個のハロゲン置換基が存在する。例は、クロロメチル、トリクロロメチル、トリフルオロメチル、ノナフルオロブチル又は2−ブロモプロピルであり、特にトリフルオロメチル又はトリクロロメチルである。好ましいものは、C〜C10フルオロアルキルである。
〜C10ハロアルキレンは、ハロゲンにより一置換又は多置換されている直鎖又は分岐鎖アルキレンであり、アルキレン部分は、例えば、上記で定義されたものである。例は、テトラフルオロエチレン、ヘキサフルオロプロピレン、ジブロモメチレンである。
〜C10ハロアルカノイルは、(C〜Cハロアルキル)−O−C(O)−であり、ここでC〜Cハロアルキルは、適した数の炭素原子まで上記で定義されたとおりである。例は、クロロアセチル、トリクロロアセチル、トリフルオロアセチル、ペンタフルオロプロピオニル、ペルフルオロオクタノイル又は2−ブロモプロピオニルであり、特にトリフルオロアセチル又はトリクロロアセチルである。
ハロベンゾイルは、ハロゲン及び/又はC〜Cハロアルキルにより一置換又は多置換されているベンゾイルであり、C〜Cハロアルキルは上記で定義されたとおりである。例は、ペンタフルオロベンゾイル、トリクロロベンゾイル、トリフルオロメチルベンゾイルであり、特にペンタフルオロベンゾイルである。
ハロゲンは、フッ素、塩素、臭素又はヨウ素であり、特に塩素又はフッ素であり、好ましくはフッ素である。
フェニル−C〜Cアルキルは、例えば、ベンジル、2−フェニルエチル、3−フェニルプロピル、α−メチルベンジル又はα,α−ジメチルベンジルであり、特にベンジルである。
及びRが、それらが結合している窒素原子と一緒になって、場合により、O、NR又はCO−で割り込まれている5員、6員又は7員環を形成する場合、例えば以下の構造:
Figure 2009541254
などが得られる。
定義C〜C18アルキルスルホニル、カンホリルスルホニル、フェニル−C〜Cアルキルスルホニル及びC〜C30シクロアルキルスルホニルは、スルホニル基(−SO−)に結合している、上記で詳細に記載された対応するラジカルC〜C18アルキル、カンホリル、フェニル−C〜Cアルキル及びC〜C30シクロアルキルを意味する。したがって、フェニルスルホニル、ナフチルスルホニル、アントラニルスルホニル及びフェナントリルスルホニルも、スルホニル基に結合している対応するラジカルを意味する。
〜C18アルカノイルオキシは、(C〜C17アルキル)−C(O)−O−であり、ここでC〜C17アルキルは、直鎖は分岐鎖であり、適した数の炭素原子まで上記で定義されたとおりである。例は、アセチルオキシ、エタノイルオキシ、プロパノイルオキシ、ブタノイルオキシ又はヘキサノイルオキシのような、C〜C10−、C〜C−、C〜C−又はC〜Cアルカノイルオキシである。
〜C18アルキルスルホニルオキシは、(C〜C18アルキル)−S(O)−O−であり、ここでC〜C18アルキルは、直鎖は分岐鎖であり、適した数の炭素原子まで上記で定義されたとおりである。例は、メタンスルホニルオキシ、プロパンスルホニルオキシ又はヘキサンスルホニルオキシのような、C〜C10−、C〜C−、C〜C−又はC〜Cアルキルスルホニルオキシである。
したがって、フェニルスルホニルオキシ及び(4−メチルフェニル)スルホニルオキシは、−S(O)−O−基に結合している対応するラジカルを意味する。
本出願において、用語「ヘテロアリール」は、非置換及び置換されているラジカルを意味し、例えば、3−チエニル、2−チエニル、下記:
Figure 2009541254
(ここで、R及びRは、上記で定義されたとおりである)、チアントレニル、イソベンゾフラニル、キサンテニル、フェノキサンチイニル、下記:
Figure 2009541254
(ここで、Yは、S、O又はNRであり、そしてRは、上記で定義されたとおりである)である。その例は、ピラゾリル、チアゾリル、オキサゾリル、イソチアゾリル又はイソキサゾリルである。また含まれるものは、例えば、フリル、ピロリル、1,2,4−トリアゾリル、下記:
Figure 2009541254
又は縮合芳香族基を有する5員環の複素環であり、例えば、ベンゾイミダゾリル、ベンゾチエニル、ベンゾフラニル、ベンゾオキサゾリル及びベンゾチアゾリルである。
「ヘテロアリール」の他の例は、ピリジル、特に3−ピリジル、下記:
Figure 2009541254
(ここでRは、上記で定義されたとおりである)、ピリミジニル、ピラジニル、1,3,5−トリアジニル、2,4−、2,2−若しくは2,3−ジアジニル、インドリジニル、イソインドリル、インドリル、インダゾリル、プリニル、イソキノリル、キノリル、フェノキサジニル又はフェナジニルである。本出願において、用語「ヘテロアリール」は、また、ラジカルのチオキサンチル、キサンチル、下記:
Figure 2009541254
(ここで、mは、0又は1であり、そしてR、R、Rは、上記で定義されたとおりである)、下記:
Figure 2009541254
アントラキノニルも意味する。ヘテロアリールは、それぞれ、上記又は請求項1で示された置換基を有することができる。
フェニレンは、下記:
Figure 2009541254
である。ナフチレンは下記:
Figure 2009541254
である、ジフェニレンは、下記:
Figure 2009541254
である オキシジフェニレンは、下記:
Figure 2009541254
である、ヘテロアリーレンは、上記に記載されたヘテロアリール環の二価ラジカルであり、例えば下記:
Figure 2009541254
である。
ラジカルA及びDが、それらが結合しているエチレン性不飽和二重結合と一緒になって、場合により、1つ以上のO、S、N、NR又はCOで割り込まれているC〜C30シクロアルケニルを形成する場合、例えば、以下の構造:
Figure 2009541254
などが得られる。
酸の作用で切断される−O−C−結合又は−O−Si−結合を有し、ラジカルAr及びAr′の置換基である基は、酸と反応した後、アルカリ性現像液において式I、II又はIIIの化合物の溶解度を増加させる酸開裂基である。この効果は、例えば、US4883740に記載されている。
そのような置換基として適切な基の例は、既知のオルトエステル、トリチル及びベンジル基、カルボン酸のtert−ブチルエステル、フェノールのtert−ブチルカーボネート又はフェノールのシリルエーテルであり、例えば、−OSi(CH、−CH(CO)OC(CH、−(CO)OC(CH、−O−(CO)OC(CH又は下記:
Figure 2009541254
であり、ここで、Z及びZは、互いに独立して、水素、C〜Cアルキル、C〜Cシクロアルキル、フェニル−C〜Cアルキルであるか、又はZ及びZは、一緒になってC〜Cアルキレンであり、そして
は、非置換若しくはハロゲン置換C〜Cアルキル、非置換若しくはハロゲン置換C〜Cシクロアルキル、又はフェニル−C〜Cアルキルであるか、或いはZ及びZが一緒になってC〜Cアルキレンではない場合、Z及びZは、一緒になって、C〜Cアルキレンであることができ、これは、−O−原子又は−S−原子で割り込まれていることができる。
請求項及び明細書全体における用語「及び/又は」或いは「又は/及び」は、定義された代替物(置換基)のうちの1つが存在しうるばかりでなく、定義された代替物(置換基)の幾つかが一緒に存在しうる、すなわち異なる代替物(置換基)の混合物も存在しうることを表すことが意図される。
用語「場合により置換されている」は、非置換であるか又は置換されていることを意味する。
用語「少なくとも」は、1つ又は1つを超える、例えば、1又は2又は3つ、好ましくは1又は2つを定義することが意図される。
式I、II及びIIIのオキシムスルホネートは、一般に、文献に記載されている方法により、例えば式I″又はII″の適切な遊離オキシム(R=H)を、所望の(例えば、スルホン基を含む)酸ハロゲン化物、又は式V若しくはVIの酸無水物(例えば、RCl、RF又はR−O−R)と反応させることにより調製することができる。
Figure 2009541254
1、R、Ar1及びAr′は、上記で定義されたとおりである。
これらの反応は、通常、例えばトルエン、塩化メチレン、テトラヒドロフラン(THF)若しくはジメチルホルムアミド(DMF)のような不活性溶媒において、塩基、例えばピリジン、トリエチルアミンのような第三級アミンの存在下で実施されるか、又はオキシムの塩を所望の酸塩化物と反応させることにより実施される。これらの方法は、例えばEP48615に開示されている。オキシムのナトリウム塩は、例えば、該当のオキシムをジメチルホルムアミド中のナトリウムアルコラートと反応させて得ることができる。そのような反応は当業者に周知であり、一般に、−15〜+50℃、好ましくは0〜20℃の範囲の温度で実施される。
出発材料として必要なオキシムは、標準的な化学の教科書(例えば、J. March, Advanced Organic Chemistry, 4th Edition, Wiley Interscience, 1992)又は専門的な研究論文、例えば、S.R. Sandler & W. Karo, Organic functional group preparations, Vol. 3, Academic Pressに記載されている多様な方法により得ることができる。
最も都合の良い方法の1つは、例えば、ケトンをヒドロキシアミン又はその塩と、エタノール又はエタノール水溶液のような極性溶媒で反応させることである。この場合、酢酸ナトリウムのような塩基を加えて、反応混合物のpHを制御する。反応速度がpH依存性であることは周知であり、塩基は、反応の始まりに又は反応の間に連続して加えることができる。ピリジンのような塩基性溶媒を、塩基及び/又は溶媒若しくは共溶媒として使用することもできる。反応温度は、一般的に混合物の還流温度であり、通常約60〜120℃である。
オキシムの別の都合の良い合成は、亜硝酸又は亜硝酸アルキルによる「活性」メチレン基のニトロソ化である。例えば、Organic Syntheses coll. Vol. VI (J. Wiley & Sons, New York, 1988), pp 199 and 840に記載されているアルカリ条件と、例えば、Organic Synthesis coll. vol V, pp 32 and 373, coll. vol. III, pp 191 and 513, coll. vol.II, pp. 202, 204 and 363に記載されている酸性条件の両方が、本発明の化合物の出発材料として使用されるオキシムの調製に適している。亜硝酸は、通常、亜硝酸ナトリウムから生じる。亜硝酸アルキルは、例えば、亜硝酸メチル、亜硝酸エチル、亜硝酸イソプロピル、亜硝酸ブチル、亜硝酸イソアミルであることができる。
記載されている合成によって、式I、II及びIIIの化合物の異性体形態の形成をもたらすことができる。オキシイミノ基の二重結合は、シン(シス、Z)及びアンチ(トランス、E)形の両方で、又は2つの幾何異性体の混合物として存在することができる。本発明において、個別の幾何異性体及び2つの幾何異性体の任意の混合物の両方を使用することができる。したがって、本発明は、式I、II及びIIIの化合物の異性体形態の混合物にも関する。
式I、II及びIIIの化合物の個別の幾何異性体(Z及びE形)及び2つの幾何異性体の任意の混合物を使用することができるが、式I、II及びIIIの特定の配座(仮にE形とする)の化合物が、他の配座(仮にZ形とする)の化合物よりも熱的に安定していることが見出されている。したがって、本発明の化合物の好ましい使用は、式I、II及びIIIの化合物の単一の熱的により安定している異性体(仮にE形とする)の使用である。
出発材料として必要なオキシムの合成によって、異性体形態の混合物の形成をもたらすことができる。驚くべきことに、出発材料として必要なオキシムの異性体形態の混合物は、酸を用いる処理により、単一の異性体形態(仮にE形とする)に変換されることが見出されている。出発材料としてこれらのオキシムの単一異性体(E形)を使用して、式I、II及びIIIの化合物の熱的により安定している単一の異性体が得られる。したがって、本発明は、また、1)オキシムの対応する異性体混合物を酸で処理することによりオキシムの単一の異性体形態へ変換すること、及び2)オキシムの単一の異性体形態を所望の酸ハロゲン化物又は酸無水物と反応させることによって、式I、II及びIIIの化合物の熱的により安定している異性体を合成するプロセスに関する。
オキシムの異性体混合物の、所望の単一異性体への変換反応は、通常、塩化メチレン、酢酸エチル、トルエン、テトラヒドロフラン、ジメチルホルムアミド又は無水酢酸のような不活性溶媒において、塩酸、硫酸、酢酸、硝酸、トリフルオロ酢酸又はトリフルオロメタンスルホン酸のような酸の存在下で実施される。変換反応は、酸性溶媒、例えばギ酸、酢酸において、場合により塩酸、硫酸、硝酸、トリフルオロ酢酸又はトリフルオロメタンスルホン酸のような他の酸の存在下で実施することもできる。そのような反応は、通常、−15℃〜+120℃、好ましくは0℃〜80℃、より好ましくは5℃〜40℃の範囲の温度で実施される。化合物は当業者に既知の方法、例えば、蒸留、再結晶、クロマトグラフ法により単離される。
出発材料として式I′及びII′の化合物のオキシムを得る従来の方法の例は、上記に提示されている。
式I、II及びIIIのオキシムスルホネートは、少なくとも1つの式IVの重合可能なエチレン性不飽和二重結合基を有する。したがって、ポリマーは、式I、II及び/又はIIIのオキシムスルホネートを用いて、文献に記載されている方法により、例えばフリーラジカル重合、アニオン重合、カチオン重合、制御フリーラジカル重合などにより調製することができる。
フリーラジカル重合は、通常、例えば水、メタノール、2−プロパノール、1,4−ジオキサン、1,4−ジオキサン、アセトン、メチルイソブチルケトン、トルエン、テトラヒドロフラン(THF)、プロピレングリコールモノメチルエーテルアセテート(PGMEA)、ピロピレングリコールモノメチルエーテル(PGME)、乳酸エチル(EL)のような不活性溶媒、又は溶媒なしで、酸素無含有雰囲気下で実施される。例えば、過酸化ジベンゾイル、過酸化ジアセチル、ジ−t−ブチルペルオキサレート及び過酸化ジクミルのような過酸化物;例えば、アゾビス(イソブチロニトリル)(AIBN)、1,1′−アゾビス(1−シクロヘキサンニトリル)、2,2−アゾビス(2−アミジノプロパン)二塩酸塩、ジメチル2,2′−アゾビス(イソブチレート)及び2,2′−アゾビス〔2−メチル−N−(2−ヒドロキシエチル)プロピオンアミド〕のようなアゾ化合物;並びに例えば、Fe2+/H及び過酸化ジベンゾイル/ジメチルアニリンのようなレドックス系が、フリーラジカル重合の開始剤として使用される。そのような反応は当業者に周知であり、一般に、−10℃〜150℃、好ましくは、40℃〜120℃の範囲の温度で実施される。更に、フリーラジカル重合では、アニオン性界面活性剤、カチオン性界面活性剤又は非イオン性界面活性剤を加えることができ、すなわち乳化重合である。
アニオン重合は、通常、例えばトルエン、ヘキサン、シクロヘキサン、テトラヒドロフラン(THF)、1,4−ジオキサン、1,2−ジメトキシエタン、ピリジン、ジメチルスルホキシドのような不活性溶媒において、水−及び酸素無含有雰囲気下で実施される。例えば、Li、Na及びKのようなアルカリ金属;並びに例えば、ブチルリチウム、ベンジルリチウム、トリメチルシリルメチルリチウム、フェニルマグネシウムブロミドのような有機金属化合物が、アニオン重合において開始剤として使用される。そのような反応は当業者に周知であり、一般に、−100℃〜80℃、好ましくは、−80℃〜50℃の範囲の温度で実施される。
カチオン重合は、通常、例えばトルエン、ヘキサン、シクロヘキサン、ジクロロメタン、ジオキサンのような不活性溶媒において実施される。例えば、HCl、硫酸、メタンスルホン酸、トリフルオロメタンスルホン酸、フルオロスルホン酸のようなブレンステッド酸;及び例えばBF、AlCl、TiCl、SnCl、FeClのようなルイス酸と、例えばHCl、HO、トリフルオロ酢酸、メタノールのような助触媒が、カチオン重合において開始剤として使用される。そのような反応は当業者に周知であり、一般に、−100℃〜80℃、好ましくは、−80℃〜50℃の範囲の温度で実施される。
ラジカル、アニオン及びカチオン重合によるポリマーの調製は、標準的な化学の教科書、例えばG. Allen and J. C. Bevington, Comprehensive Polymer Science, Vol 3, Pergamon Press, 1989に記載されている。
式I、II及び/又はIIIの化合物から誘導される反復単位を含むポリマーは、例えばC. J. Hawker, A. W. Bosman, E. Harth, Chem. Rev. 101, 3661 (2001)に記載されているニトロ−酸化物仲介ラジカル重合(NOR)のような制御されたフリーラジカル重合、K. Matyjaszewski, J. Xia, Chem. Rev. 101, 2921 (2001)に記載されている原子移動ラジカル重合(ATRP)、G. Moad, Y. K. Chong, A. Postma, E. Rizzardo, S. H. Thang, Polymer 46 8458 (2005)に記載されているラジカル連鎖移動で仲介された重合などによって合成することもできる。
式I、II又はIIIの化合物から誘導される1つの反復単位を含むホモポリマー、並びに式I、II及び/又はIIIの化合物から誘導される少なくとも1つの反復単位及び場合により式Vの群から選択されるエチレン性不飽和化合物から誘導される反復単位を含むコポリマーを、上記に記載された重合方法により調製することができる。
式I、II及びIIIの化合物、並びに式I、II及び/又はIIIの化合物から誘導される反復単位を含むポリマーを、感光性酸供与体として使用することができる。
したがって、本発明の主題は、下記:
(b)請求項1記載の式I、II及び/又はIIIの化合物から誘導される少なくとも1つの反復単位及び上記に記載された式Vの群から選択されるエチレン性不飽和化合物から誘導される反復単位を含む少なくとも1つのポリマー
を含む組成物、並びに、下記:
(a)酸の作用で硬化する化合物、又はその溶解度が酸の作用で増加する化合物;及び
(b)請求項1記載の式I、II及び/又はIIIの少なくとも1つの化合物;及び/又は請求項1記載の式I、II及び/又はIIIの化合物から誘導される少なくとも1つの反復単位、及び場合により、上記に記載された式Vの群から選択されるエチレン性不飽和化合物から誘導される反復単位を含むポリマー
を含む組成物である。
式I、II及びIIIの化合物、並びに式I、II及び/又はIIIの化合物から誘導される反復単位を含むポリマーを、フォトレジストにおける感光性酸供与体として使用することができる。レジスト系は、式I、II及びIIIの化合物、並びに/或いは、式I、II及び/又はIIIの化合物から誘導される反復単位を含むポリマーを含む系の、現像工程の後の像様の照射により調製することができる。
したがって、本発明は、下記:
(a)酸の作用で硬化する化合物、又はその溶解度が酸の作用で増加する化合物、並びに/或いは
(b)請求項1記載の式I、II及び/又はIIIの少なくとも1つの化合物、及び/又は上記に記載されたポリマー
を含む、化学的に増幅されたフォトレジスト組成物に関する。
一般に、
(i)本発明の化合物は、成分(a)として、酸の作用により硬化する化合物又はその溶解度が酸の作用により増加する化合物、及び成分(b)として、式I、II及び/又はIIIの光潜在性の酸発生化合物を含むか;或いは
(ii)組成物は、上記に記載された成分(a)、及び酸不安定基を含有しない、式I、II及び/又はIIIの化合物を重合又は共重合することにより調製されるポリマーを含むか;或いは
(iii)組成物は、上記に記載された成分(a)、及び酸不安定基を含有する、式I、II及び/又はIIIの化合物を重合又は共重合することにより調製されるポリマーを含むか;或いは
(iv)組成物は、酸不安定基を含有する、式I、II及び/又はIIIの化合物を重合又は共重合することにより調製されるポリマーを含む。
後者の(iv)の場合において、ポリマーは、また、成分(a)と成分(b)の両方を構成する。
化学的に増幅されたフォトレジストは、放射線感受性成分が触媒量の酸を供給し、それが次にレジストの少なくとも1つの酸感受性成分の化学反応に触媒作用を及ぼすレジスト組成物であることが理解される。結果として、レジストの照射領域と非照射領域との間に溶解度の差が誘導される。この方法の触媒特性のため、1つの酸分子が、あらゆる二次反応により捕捉又は破壊されない限り、反応性ポリマーマトリックスを通して拡散して、1つの反応部位から次の反応部位へと複数の部位で反応を誘発することができる。したがって、レジストの暴露領域と非暴露領域との間に溶解度における高い差を誘導するために、少ない酸濃度で十分である。そのため、潜酸化合物を少ない濃度でしか必要としない。その結果、光学画像化の暴露波長において高いコントラスト及び高い透明度を有するレジストが配合され、それは、次に、高い感光性をもつ急勾配の垂直な像プロフィールを作り出す。しかし、この触媒処理の結果、レジストを保管する間、又は処理の間に酸が発生しないように、潜酸触媒が化学的及び熱的に非常に安定であること(照射されない限り)が必要であり、ほとんどの場合、触媒反応を開始させる又は完了させるために、後暴露焼付け工程が必要となり、溶解度に差をもたらすことになる。また、マイクロエレクトロニクス製造工程におけるこれらのレジストの適用を妨害するあらゆる粒子の発生を防ぐため、液体レジスト配合物及び固体レジストフィルム中の潜触媒が良好な溶解度を有することが必要である。
対照的に、化学的に増幅された機構に基づかないポジティブレジスト材料は、高濃度の潜酸を含有しなければならず、それは、アルカリ性現像液において暴露領域の溶解度の増加に寄与するのは、暴露下で潜酸から生じる酸濃度のみだからである。少ない酸濃度は、そのようなレジストの溶解速度の変化に対して僅かな効果しかなく、反応は、ここでは典型的には後暴露焼付けなしで進行するので、潜酸の化学及び熱安定性に関する要件は、化学的に増幅されたポジティブレジストよりも厳しくない。これらのレジストは、また、暴露領域においてアルカリ性現像液中で十分な溶解度を達成するのに十分な酸を生じるため、より高い暴露量を必要とし、また、比較的低い光透過性(高濃度の潜酸が必要なため)、またそのために低い解像度及び傾斜像という難点がある。したがって非化学的に増幅する技術に基づくレジスト組成物は、化学的に増幅されたレジストと比較して、感光性、解像度及び画質において劣っている。
上記から、潜触媒の化学及び熱安定性は、化学的に増幅されたレジストにとって極めて重要であり、非化学的に増幅されたレジストで作用しうる潜酸は、異なる酸拡散要件、酸強度要件、並びに熱及び化学安定性要件のため、化学的に増幅されたレジストに適用できるとは限らないことが明らかになる。
レジストの照射の間又は後で、レジスト材料の酸触媒反応の結果として起こるレジストの照射部分と非照射部分の溶解度の差は、どのような更なる構成成分がレジストに存在するかによって2つの種類が存在しうる。本発明の組成物が、照射後に現像液中で組成物の溶解度を増加させる成分を含む場合、レジストはポジティブである。
したがって、本発明は化学的に増幅されたポジティブフォトレジストに関する。
他方では、配合物の成分が、照射後に組成物の溶解度を減少させる場合、レジストはネガティブである。
したがって、本発明は化学的に増幅されたネガティブフォトレジストにも関する。
興味深いものは、上記に記載された式I、II及び/又はIIIの化合物から誘導される反復単位を含むポリマーを成分(b)として含む、上記に記載された化学的に増幅されたポジティブフォトレジスト組成物である。
特に興味深いものは、成分(b)が、請求項1記載の式I、II及び/又はIIIの化合物から誘導される少なくとも1つの反復単位と、
上記に記載された式Vの群から選択されるエチレン性不飽和化合物から誘導される少なくとも1つの反復単位と、
式VI:
Figure 2009541254
〔式中、
、A、A、A及びAr′は、上記で定義されたとおりである〕
の群から選択されるエチレン性不飽和化合物から誘導される少なくとも1つの反復単位と
を含む少なくとも1つのポリマーである、化学的増幅されたポジティブフォトレジスト組成物である。
レジスト配合物に追加的に存在するアルカリ可溶性結合剤樹脂の溶解速度を非照射領域において減速させ、そして非照射領域において実質的にアルカリ不溶性であるため、アルカリ溶液で現像した後で非照射領域にレジストフィルムが残留するが、酸の存在下で開裂するか、又は反応生成物がアルカリ性現像液中で可溶性になるように転位されうるモノマー又はポリマー化合物は、以降、溶解抑制剤と呼ぶ。
本発明は、特別の実施態様として、下記:
(a1)酸の存在下で分解し、かつ照射領域においてアルカリ性現像水溶液中でレジストフィルムの溶解度を増加させる酸不安定基を有する、少なくとも1つのポリマー、並びに/或いは
(b)式I、II又はIIIの少なくとも1つの化合物、及び/又は、式I、II及び/又はIIIの化合物から誘導される反復単位を含むポリマー
を含む、化学的に増幅されたポジティブアルカリ現像性フォトレジスト組成物を含む。
本発明の更なる実施態様は、下記:
(a2)酸の存在下で分解し、かつアルカリ性現像水溶液中で溶解度を増加させる少なくとも1つの酸不安定基を有する、少なくとも1つのモノマー又はオリゴマー溶解抑制剤、及び少なくとも1つのアルカリ可溶性ポリマー、並びに/或いは
(b)式I、II又はIIIの少なくとも1つの化合物、及び/又は、式I、II及び/又はIIIの化合物から誘導される反復単位を含むポリマー
を含む、化学的に増幅されたポジティブアルカリ現像性フォトレジスト組成物である。
本発明の別の特別の実施態様は、下記:
(a1)酸の存在下で分解し、かつ照射領域においてアルカリ性現像液中で溶解度を増加させる酸不安定基を有する、少なくとも1つのポリマー;
(a2)酸の存在下で分解し、かつ照射領域においてアルカリ性溶解度を増加させる少なくとも1つの酸不安定基を有する、少なくとも1つのモノマー又はオリゴマー溶解抑制剤;、
(a3)アルカリ性現像液において実質的に不溶性である非照射領域にレジストフィルムを依然として保持する濃度での、少なくとも1つのアルカリ可溶性モノマー、オリゴマー又はポリマー化合物、並びに/或いは
(b)式I、II又はIIIの少なくとも1つの化合物、及び/又は、式I、II及び/又はIIIの化合物から誘導される反復単位を含むポリマー
を含む、化学的に増幅されたポジティブアルカリ現像性フォトレジスト組成物である。
したがって、本発明は、下記:
(a1)酸の存在下で分解し、かつアルカリ性現像水溶液において溶解度を増加させる酸不安定基を有する、少なくとも1つのポリマー、及び/又は
(a2)酸の存在下で分解し、かつアルカリ性現像水溶液において溶解度を増加させる酸不安定基を有する、少なくとも1つのモノマ−又はオリゴマー溶解抑制剤、及び/又は
(a3)少なくとも1つのアルカリ可溶性モノマー、オリゴマー又はポリマー化合物;並びに
(b)感光性酸供与体として、式I、II又はIIIの少なくとも1つの化合物、及び/又は、式I、II及び/又はIIIの化合物から誘導される反復単位を含むポリマー
を含む、化学的に増幅されたフォトレジスト組成物に関する。
好ましくは、組成物は、下記:
(a1)酸の存在下で分解して、アルカリ性現像水溶液において溶解度を増加させる酸不安定基を有する少なくとも1種のポリマー;及び/又は
(a2)酸の存在下で分解して、アルカリ性現像水溶液において溶解度を増加させる酸不安定基を有する少なくとも1種のモノマ−又はオリゴマー溶解抑制剤;及び/又は
(a3)少なくとも1つのアルカリ可溶性モノマー、オリゴマー又はポリマー化合物;並びに
(b)式I、II及び/又はIIIの少なくとも1つの化合物、及び/又は、式I、II及び/又はIIIの化合物から誘導される少なくとも1つの反復単位、上記に記載された式VIの群から選択されるエチレン性不飽和化合物から誘導される少なくとも1つの反復単位、及び場合により上記に記載された式Vの群から選択されるエチレン性不飽和化合物から誘導される反復単位を含むポリマー
を含む、化学的に増幅されたポジティブフォトレジスト組成物である。
組成物は、成分(b)に加えて、他の感光性酸供与体及び/又は(c)他の添加剤を含むことができる。
酸の存在下で分解し、かつアルカリ現像液において溶解度を増加させる酸不安定基を有するポリマーは、感光性酸供与体基をポリマー中に含むことができる。そのようなポリマーは、化学的に増幅されたポジティブフォトレジスト組成物において、感光性酸供与体として、そして酸の作用によって溶解度を増加させるポリマーとして、同時に作動することができる。
本発明は、下記:
(b)感光性酸供与体として、そして酸の作用によって溶解度を増加させる化合物として、式I、II及び/又はIIIの少なくとも1つの化合物、並びに/或いは、式I、II及び/又はIIIの化合物から誘導される少なくとも1つの反復単位及び上記に記載された式Vの群から選択されるエチレン性不飽和化合物から誘導される反復単位を含むポリマー
を含む、化学的に増幅されたポジティブフォトレジスト組成物に関する。
化学的に増幅されたポジティブレジスト系は、例えば、E. Reichmanis, F. M. Houlihan, O. Nalamasu, T. X. Neenan, Chem. Mater. 1991, 3, 394;又はC. G. Willson, Introduction to Microlithography, 2nd. Ed.; L. S. Thompson, C. G. Willson, M. J. Bowden, Eds., Amer. Chem. Soc., Washington DC, 1994, p. 139に記載されている。
酸の存在下で分解して芳香族ヒドロキシ基、カルボン酸基、ケト基及びアルデヒド基を生じ、アルカリ性現像水溶液において溶解度を増加させる酸不安定基の適切な例は、例えば、アルコキシアルキルエーテル基、テトラヒドロフラニルエーテル基、テトラヒドロピラニルエーテル基、tert−アルキルエステル基、トリチルエーテル基、シリルエーテル基、アルキルカーボネート基、例としてはtert−ブチルオキシカルボニルオキシ−、トリチルエステル基、シリルエステル基、アルコキシメチルエステル基、クミルエステル基、アセタール基、ケタール基、テトラヒドロピラニルエステル基、テトラフラニルエステル基、第三級アルキルエーテル基、第三級アルキルエステル基などである。そのような基の例には、メチルエステル及びtert−ブチルエステルのようなアルキルエステル、メトキシメチルエスエル、エトキシメチルエステル、1−エトキシエチルエステル、1−イソブトキシエチルエステル、1−イソプロポキシエチルエステル、1−エトキシプロピルエステル、1−(2−メトキシエトキシ)エチルエステル、1−(2−アセトキシエトキシ)エチルエステル、1−〔2−(1−アダマンチルオキシ)エトキシ〕エチルエステル、1−〔2−(1−アダマンチルカルボニルオキシ)エトキシ〕エチルエステル、テトラヒドロ−2−フリルエステル及びテトラヒドロ−2−ピラニルエステルのようなアセタール型エステル、並びにイソボルニルエステルのような脂環式エステルが挙げられる。
酸の作用より分解して、このポリマーを含むレジストフィルムの溶解度をアルカリ性現像液中で増強することができる官能基を有するポリマーは、本発明のポジティブレジストに組み込むことができ、その主鎖及び/又は側鎖、好ましくはその側鎖に酸不安定基を有ししてもよい。
本発明における使用に適切な酸不安定基を有するポリマーは、アルカリ可溶性基を部分的に若しくは完全に対応する酸不安定基に変換するか、又は予め酸不安定基が結合しているモノマーを直接(共)重合する、例えば、EP254853、EP878738、EP877293、JP−A−2−25850、JP−A−3−223860及びJP−A−4−251259に開示されているものと同様のポリマー反応により得ることができる。
本発明における、ポリマー主鎖に酸不安定側基を有するポリマーは、好ましくは、例えば、相対的に低い後暴露焼付け温度(典型的には室温から110℃)で完全に開裂するシリルエーテル、アセタール、ケタール及びアルコキシアルキルエステル基(「低活性化エネルギー保護基」と呼ぶ)を有するポリマー、並びに、例えば、酸の存在下で脱保護反応を完了させるためにより高い焼付け温度(典型的には>110℃)を必要とする、エステル結合の酸素原子に隣接して第二級又は第三級炭素原子を含むtert−ブチルエステル基、又はtert−ブチルオキシカルボニル(TBOC)基、又は他のエステル基(「高活性化エネルギー保護基」と呼ぶ)を有するポリマーである。ハイブリッド系も適用することができ、ここでは、高活性化エネルギー保護基、並びに低活性化エネルギー保護基の両方が、1つのポリマー内に存在する。あるいは、それぞれ化学的に異なる保護基を利用するポリマーのポリマーブレンドを、本発明の感光性ポジティブレジスト組成物に使用することができる。
酸不安定基を有する好ましいポリマーは、下記の特定のモノマー型を含むポリマー及びコポリマーである:
1)酸の存在下で分解し、かつアルカリ性現像水溶液において溶解度を増加させる酸不安定基を含む、モノマー、及び
2)酸不安定基を含まず、アルカリ性溶解度に寄与する基を含まないモノマー、及び/又は
3)ポリマーのアルカリ性水溶液における溶解度に寄与するモノマー。
1)型のモノマーの例は下記である:
t−ブチルアクリレートを含むブチルアクリレート、t−ブチルメタクリレートを含むブチルメタクリレート、3−オキシシクロヘキシル(メタ)アクリレート、テトラヒドロピラニル(メタ)アクリレート、2−メチル−アダマンチル(メタ)アクリレート、シクロヘキシル(メタ)アクリレート、ノルボルニル(メタ)アクリレート、(2−テトラヒドロピラニル)オキシノルボルニルアルコールアクリレート、(2−テトラヒドロピラニル)オキシメチルトリシクロドデカンメタノールメタクリレート、トリメチルシリルメチル(メタ)アクリレート、(2−テトラヒドロピラニル)オキシノルボニルアルコールアクリレート、(2−テトラヒドロピラニル)オキシメチルトリシクロドデカンメタノールメタクリレート、トリメチルシリルメチル(メタ)アクリレート、o−/m−/p−(3−オキソシクロヘキシルオキシ)スチレン、o−/m−/p−(1−メチル−1−フェニルエトキシ)スチレン、o−/m−/p−テトラヒドロピラニルオキシスチレン、o−/m−/p−アダマンチルオキシスチレン、o−/m−/p−シクロヘキシルオキシスチレン、o−/m−/p−ノルボルニルオキシスチレンのような非環状又は環状第二級及び第三級アルキル(メタ)アクリレート、p−t−ブトキシカルボニルスチレンを含むo−/m−/p−ブトキシカルボニルスチレン、o−/m−/p−(3−オキソシクロヘキシルオキシカルボニル)スチレン、o−/m−/p−(1−メチル−1−フェニルエトキシカルボニル)スチレン、o−/m−/p−テトラヒドロピラニルオキシカルボニルスチレン、o−/m−/p−アダマンチルオキシカルボニルスチレン、o−/m−/p−シクロヘキシルオキシカルボニルスチレン、o−/m−/p−ノルボルニルオキシカルボニルスチレンのような非環状又は環状アルコキシカルボニルスチレン、p−t−ブトキシカルボニルオキシスチレンを含むo−/m−/p−ブトキシカルボニルオキシスチレン、o−/m−/p−(3−オキソシクロヘキシルオキシカルボニルオキシ)スチレン、o−/m−/p−(1−メチル−1−フェニルエトキシカルボニルオキシ)スチレン、o−/m−/p−テトラヒドロピラニルオキシカルボニルオキシスチレン、o−/m−/p−アダマンチルオキシカルボニルオキシスチレン、o−/m−/p−シクロヘキシルオキシカルボニルオキシスチレン、o−/m−/p−ノルボルニルオキシカルボニルオキシスチレンのような非環状又は環状アルコキシカルボニルオキシスチレン、o−/m−/p−ブトキシカルボニルメトキシスチレン、p−t−ブトキシカルボニルメトキシスチレン、o−/m−/p−(3−オキソシクロヘキシルオキシカルボニルメトキシ)スチレン、o−/m−/p−(1−メチル−1−フェニルエトキシカルボニルメトキシ)スチレン、o−/m−/p−テトラヒドロピラニルオキシカルボニルメトキシスチレン、o−/m−/p−アダマンチルオキシカルボニルメトキシスチレン、o−/m−/p−シクロヘキシルオキシカルボニルメトキシスチレン、o−/m−/p−ノルボルニルオキシカルボニルメトキシスチレン、トリメチルシロキシスチレン、ジメチル(ブチル)シロキシスチレンのような非環状又は環状アルコキシカルボニルアルコキシスチレン、イソプロペニルアセテートのような不飽和アルキルアセテート、及びこれらの誘導体。
低活性化エネルギー酸不安定基を有する1)型のモノマーには、例えば、p−又はm−(1−メトキシ−1−メチルエトキシ)−スチレン、p−又はm−(1−メトキシ−1−メチルエトキシ)−メチルスチレン、p−又はm−(1−メトキシ−1−メチルプロポキシ)スチレン、p−又はm−(1−メトキシ−1−メチルプロポキシ)メチルスチレン、p−又はm−(1−メトキシエトキシ)−スチレン、p−又はm−(1−メトキシエトキシ)−メチルスチレン、p−又はm−(1−エトキシ−1−メチルエトキシ)スチレン、p−又はm−(1−エトキシ−1−メチルエトキシ)−メチルスチレン、p−又はm−(1−エトキシ−1−メチルプロポキシ)スチレン、p−又はm−(1−エトキシ−1−メチルプロポキシ)−メチルスチレン、p−又はm−(1−エトキシエトキシ)スチレン、p−又はm−(1−エトキシエトキシ)−メチルスチレン、p−(1−エトキシフェニル−エトキシ)スチレン、p−又はm−(1−n−プロポキシ−1−メチルエトキシ)スチレン、p−又はm−(1−n−プロポキシ−1−メチルエトキシ)−メチルスチレン、p−又はm−(1−n−プロポキシエトキシ)スチレン、p−又はm−(1−n−プロポキシエトキシ)―メチルスチレン、p−又はm−(1−イソプロポキシ−1−メチルエトキシ)スチレン、p−又はm−(1−イソプロポキシ−1−メチルエトキシ)−メチルスチレン、p−又はm−(1−イソプロポキシエトキシ)スチレン、p−又はm−(1−イソプロポキシエトキシ)−メチルスチレン、p−又はm−(1−イソプロポキシ−1−メチルプロポキシ)スチレン、p−又はm−(1−イソプロポキシ−1−メチルプロポキシ)−メチルスチレン、p−又はm−(1−イソプロポキシプロポキシ)スチレン、p−又はm−(1−イソプロポキシプロポキシ)−メチルスチレン、p−又はm−(1−n−ブトキシ−1−メチルエトキシ)スチレン、p−又はm−(1−n−ブトキシエトキシ)スチレン、p−又はm−(1−イソブトキシ−1−メチルエトキシ)スチレン、p−又はm−(1−tert−ブトキシ−1−メチルエトキシ)スチレン、p−又はm−(1−n−ペントキシ−1−メチルエトキシ)スチレン、p−又はm−(1−イソアミルオキシ−1−メチルエトキシ)スチレン、p−又はm−(1−n−ヘキシルオキシ−1−メチルエトキシ)スチレン、p−又はm−(1−シクロヘキシルオキシ−1−メチルエトキシ)スチレン、p−又はm−(1−トリメチルシリルオキシ−1−メチルエトキシ)スチレン、p−又はm−(1−トリメチルシリルオキシ−1−メチルエトキシ)−メチルスチレン、p−又はm−(1−ベンジルオキシ−1−メチルエトキシ)スチレン、p−又はm−(1−ベンジルオキシ−1−メチルエトキシ)−メチルスチレン、p−又はm−(1−メトキシ−1−メチルエトキシ)スチレン、p−又はm−(1−メトキシ−1−メチルエトキシ)−メチルスチレン、p−又はm−(1−トリメチルシリルオキシ−1−メチルエトキシ)スチレン、p−又はm−(1−トリメチルシリルオキシ−1−メチルエトキシ)−メチルスチレンが挙げられる。アルコキシアルキルエステル酸不安定基を有するポリマーの他の例は、US5225316及びEP829766において提示されている。アセタール保護基を有するポリマーの例は、US5670299、EP780732、US5627006、US5558976、US5558971、US5468589、EP704762、EP762206、EP342498、EP553737に提示され、ACS Symp. Ser. 614, Microelectronics Technology, pp. 35-55 (1995)及びJ. Photopolymer Sci. Technol. Vol. 10, No. 4 (1997), pp. 571-578に記載されている。本発明において使用されるポリマーはこれらに限定されない。
酸不安定基としてアセタール基を有するポリマーに関して、例えば、H.-T. Schacht, P. Falcigno, N. Muenzel, R. Schulz, and A. Medina, ACS Symp. Ser. 706 (Micro- and Nanopatterning Polymers), p. 78-94, 1997; H.-T. Schacht, N. Muenzel, P. Falcigno, H. Holzwarth, and J. Schneider, J. Photopolymer Science and Technology, Vol.9, (1996), 573-586において記載されているように、酸不安定架橋を組み込むことが可能である。この架橋系は、レジストパターンの耐熱性の観点から好ましい。
高活性化エネルギー酸不安定基を有するモノマーは、例えば、p−tert−ブトキシカルボニルオキシスチレン、tert−ブチル−アクリレート、tert−ブチル−メタクリレート、2−メチル−2−アダマンチル−メタクリレート、イソボルニル−メタクリレートである。
特にArFレジスト技術に適切な1)型のモノマーには、例えば、2−メチル−2−アダマンチルアクリレート、2−エチル−2−アダマンチルアクリレート、2−n−ブチル−2−アダマンチルアクリレート、2−n−ブチル−2−アダマンチルメタクリレート、2−メチル−2−アダマンチルメタクリレート、2−エチル−2−アダマンチルメタクリレート、2−(1−アダマンチル)イソプロピルメタクリレート、2−(1−アダマンチル)イソプロピルアクリレート、2−(1−アダマンチル)イソブチルメタクリレート、2−(1−アダマンチル)イソブチルアクリレート、t−ブチルメタクリレート、t−ブチルアクリレート、1−メチルシクロヘキシルメタクリレート、1−メチルシクロヘキシルアクリレート、1−エチルシクロヘキシルメタクリレート、1−エチルシクロヘキシルアクリレート、1−(n−プロピル)シクロヘキシルメタクリレート、1−(n−プロピル)シクロヘキシルアクリレート、テトラヒドロ−2−メタクリロイルオキシ−2H−ピラン及びテトラヒドロ−2−アクリロイルオキシ−2H−ピランが含まれる。酸不安定アダマンチル部分を含む他のモノマーは、JP−A−2002−1265530、JP−A−2002−338627、JP−A−2002−169290、JP−A−2002−241442、JP−A−2002−145954、JP−A−2002−275215、JP−A−2002−156750、JP−A−2002−268222、JP−A−2002−169292、JP−A−2002−162745、JP−A−2002−301161、WO02/06901A2、JP−A−2002−311590、JP−A−2002−182393、JP−A−2002−371114、JP−A−2002−162745に開示されている。
酸不安定基を有する特定のオレフィンも、例えば、JP−A−2002−308938、JP−A−2002−308869、P−A−2002−206009、JP−A−2002−179624、JP−A−2002−161116に示されているように、ArFレジスト技術において適している。
2)型のコモノマーの例は下記である:
スチレン、α−メチルスチレン、アセトキシスチレン、α−メチルナフチレン、アセナフチレンのような芳香族ビニルモノマー、ビニルノルボルナン、ビニルアダマンタン、ビニルシクロヘキサンのようなビニル脂環式化合物、メチルメタクリレート、アクリロニトリル、ビニルシクロヘキサン、ビニルシクロヘキサノールのようなアルキル(メタ)アクリレート、イタコン酸無水物、並びに無水マレイン酸。
特にArFレジスト技術に適切な2)型コモノマーには、例えば、アルファ−アクリロイルオキシ−ガンマ−ブチロラクトン、アルファ−メタクリロイルオキシ−ガンマ−ブチロラクトン、アルファ−アクリロイルオキシ−ベータ、ベータ−ジメチル−ガンマ−ブチロ−ラクトン、アルファ−メタクリロイルオキシ−ベータ、ベータ−ジメチル−ガンマ−ブチロラクトン、アルファ−アクリロイルオキシ−アルファ−メチル−ガンマ−ブチロラクトン、アルファ−メタクリロイルオキシ−アルファ−メチル−ガンマ−ブチロラクトン、ベータ−アクリロイルオキシ−ガンマ、ベータ−メタクリロイルオキシ−アルファ−メチル−ガンマ−ブチロラクトン、5−アクリロイルオキシ−2,6−ノルボルナンカルボラクトン、5−メタクリロイルオキシ−2,6−ノルボルナンカルボラクトン、2−ノルボルネン、メチル5−ノルボルネン−2−カルボキシレート、tert−ブチル5−ノルボルネン−2−カルボキシレート、1−シクロヘキシル−1−メチルエチル5−ノルボルネン−2−カルボキシレート、1−(4−メチルシクロヘキシル)−1−メチルエチル5−ノルボルネン−2−カルボキシレート、1−メチル−1−(4−オキソシクロヘキシル)エチル5−ノルボルネン−2−カルボキシレート、1−(1−アダマンチル)−1−メチルエチル5−ノルボルネン−2−カルボキシレート、1−メチルシクロヘキシル5−ノルボルネン−2−カルボキシレート、2−メチル−2−アダマンチル5−ノルボルネン−2−カルボキシレート、2−エチル−2−アダマンチル5−ノルボルネン−2−カルボキシレート、5−ノルボルネン−2,3−ジカルボン酸無水物、2(5H)−フラノン、3−ビニル−ガンマ−ブチロラクトン、3−メタクリロイルオキシビシクロ〔4,3,0〕ノナン、3−アクリロイルオキシビシクロ〔4,3,0〕ノナン、1−アダマンチルメタクリレート、1−アダマンチルアクリレート、3−メタクリロイルオキシメチルテトラシクロ〔4,4,0,12,5,17,10〕ドデカン、3−アクリロイルオキシメチルテトラシクロ〔4,4,0,12,5,17,10〕ドデカン、2−メタクリロイルオキシノルボルナン、2−アクリロイルオキシノルボルナン、2−メタクリロイルオキシイソボルナン、2−アクリロイルオキシイソボルナン、2−メタクリロイルオキシメチルノルボルナン、2−アクリロイルオキシメチルノルボルナンが含まれる。
3)型のコモノマーの例は下記である:
ヒドロキシスチレンのようなビニル芳香族化合物、メタクリル酸、エチルカルボニルオキシスチレンのようなアクリル酸化合物、及びこれらの誘導体。これらのポリマーは、例えば、US5827634、US5625020、US5492793、US5372912、EP660187、US5679495、EP813113及びEP831369に記載されている。更なる例は、クロトン酸、イソクロトン酸、3−ブテン酸、アクリル酸、4−ペンテン酸、プロピオン酸、2−ブチン酸、マレイン酸、フマル酸及びアセチレンカルボン酸である。本発明において使用されるポリマーはこれらに限定されない。
特にArFレジスト技術に適切な3)型のコモノマーには、例えば、3−ヒドロキシ−1−アダマンチルアクリレート、3−ヒドロキシ−1−アダマンチルメタクリレート、3,5−ジヒドロキシ−1−アダマンチルアクリレート、3,5−ジヒドロキシ−1−アダマンチルメタクリレート、2−ヒドロキシ−5−ノルボルネン、5−ノルボルネン−2−カルボン酸、1−(4−ヒドロキシシクロヘキシル)−1−メチルエチル5−ノルボルネン−2−カルボキシレート、2−ヒドロキシ−1−エチル5−ノルボルネン−2−カルボキシレート、5−ノルボルネン−2−メタノール、8−ヒドロキシメチル−4−メタクリロイルオキシメチルトリシクロ〔5.2.1.02.6〕デカン、8−ヒドロキシメチル−4−アクリロイルオキシメチルトリシクロ〔5.2.1.02.6〕デカン、4−ヒドロキシメチル−8−メタクリロイルオキシメチルトリシクロ〔5.2.1.02.6〕デカン、4−ヒドロキシメチル−8−アクリロイルオキシメチルトリシクロ〔5.2.1.02.6〕デカンが含まれる。
ArF技術に適切なラクトン部分を含む他のモノマーは、例えば、JP−A−2002−6502、JP−A−2002−145955、EP1127870A1、JP−A−2002−357905、JP−A−2002−296783に開示されている。ArF技術に適切な他のオレフィンは、例えば、JP−A−2002−351078、JP−A−2002−234918、JP−A−2002−251009、EP1127870A1、JP−A−2002−328475、JP−A−2002−278069、JP−A−2003−43689、JP−A−2002−202604、WO01/86353、JP−A−2002−23371、JP−A−2002−72484、JP−A−2002−202604、JP−A−2001−330959、JP−A−2002−3537、JP−A−2002−30114、JP−A−2002−278071、JP−A−2002−251011、JP−A−2003−122010、JP−A−2002−139837、JP−A−2003−195504、JP−A−2001−264984、JP−A−2002−278069、JP−A−2002−328475、US6379861、US6599677、US2002/119391、US6277538、US2003/78354において公表されている。
ポリマー中の酸不安定モノマーの含有量は、広範囲に変わることができ、他のコモノマーの量及び脱保護ポリマーのアルカリ性溶解度に左右される。典型的には、ポリマーにおける酸不安定基を有するモノマーの含有量は5〜60mol%である。含有量が少なすぎると、現像速度が遅くなりすぎ、照射領域でのレジストの残留物に終わる。酸不安定モノマーの含有量が多すぎると、現像後のレジストパターンは不十分にしか画定されず(浸食されている)、細密な造形はもはや解像できなくなり、及び/又はレジストは現像の際に基材への接着力を失う。好ましくは、酸不安定基を有するコポリマーは、約3,000〜約200,000、より好ましくは約5,000〜約50,000のMWを有し、約3以下の分子量分布、より好ましくは約2以下の分子量分布を有する。非フェノール性ポリマー、例えば、t−ブチルアクリレート又はt−ブチル−メタクリレートのようなアルキルアクリレートと、ビニルノルボナニル又はビニルシクロヘキサノール化合物のようなビニル脂環式化合物とのコポリマーも、そのようなフリーラジカル重合又は他の既知の手順により調製することができ、適切には、約8,000〜約50,000のMWを有し、約3以下の分子量分布を有する。
適切には他のコモノマーを、ポリマーなどのガラス移転点を制御する目的で適当な量で加えることができる。
本発明において、酸不安定基を有する2つ以上のポリマーの混合物を使用することができる。例えば、アセタール基又はテトラヒドロピラニルオキシ基のような極めて容易に開裂される酸不安定基を有するポリマーと、例えば第三級アルキルエステル基のようなあまり容易には開裂しない酸開裂性基を有するポリマーとの混合物を使用することができる。また、tert−ブチルエステル基と2−メチル−アダマンチル基、又は1−エトキシ−エトキシ基とテトラヒドロピラニルオキシ基のような異なる酸開裂性基を有する2つ以上のポリマーをブレンドすることにより、異なる大きさの酸開裂性基を組み合わせることができる。非架橋樹脂と架橋樹脂の混合物も使用することができる。本発明におけるこれらのポリマーの量は、固体成分の総量に基づいて、好ましくは30〜99重量%、より好ましくは50〜98重量%である。酸不安定基を有さないアルカリ可溶性樹脂又はモノマー若しくはオリゴマー化合物を、アルカリ溶解度を制御するために組成物に更に組み込むことができる。
異なる酸不安定基を有するポリマーのポリマーブレンドの例は、EP780732、EP679951及びUS5817444に提示されている。
好ましくは、モノマー及びオリゴマー溶解抑制剤(a2)が本発明において使用される。
本発明に使用される酸不安定基を有するモノマー又はオリゴマー溶解抑制剤は、分子構造に、酸の存在下で分解して、アルカリ性現像水溶液において溶解度を増加させる少なくとも1つの酸不安定基を有する化合物である。例は、アルコキシメチルエーテル基、テトラヒドロフラニルエーテル基、テトラヒドロピラニルエーテル基、アルコキシエチルエーテル基、トリチルエーテル基、シリルエーテル基、アルキルカーボネート基、トリチルエステル基、シリルエステル基、アルコキシメチルエステル基、ビニルカルバメート基、第三級アルキルカルバメート基、トリチルアミノ基、クミルエステル基、アセタール基、ケタール基、テトラヒドロピラニルエステル基、テトラフラニルエステル基、第三級アルキルエーテル基、第三級アルキルエステル基などである。本発明に使用される酸分解性溶解抑制化合物の分子量は、3,000以下、好ましくは100〜3,000、より好ましくは200〜2,500である。
酸不安定基を有するモノマー及びオリゴマー溶解抑制剤の例は、EP0831369において式(I)〜(XVI)として記載されている。酸不安定基を有する他の適切な溶解抑制剤は、US5356752、US5037721、US5015554、JP−A−1−289946、JP−A−1−289947、JP−A−2−2560、JP−A−3−128959、JP−A−3−158855、JP−A−3−179353、JP−A−3−191351、JP−A−3−200251、JP−A−3−200252、JP−A−3−200253、JP−A−3−200254、JP−A−3−200255、JP−A−3−259149、JP−A−3−279958、JP−A−3−279959、JP−A−4−1650、JP−A−4−1651、JP−A−11260、JP−A−4−12356、JP−A−4−123567、JP−A−1−289946、JP−A−3−128959、JP−A−3−158855、JP−A−3−179353、JP−A−3−191351、JP−A−3−200251、JP−A−3−200252、JP−A−3−200253、JP−A−3−200254、JP−A−3−200255、JP−A−3−259149、JA−3−279958、JP−A−3−279959、JP−A−4−1650、JP−A−4−1651、JP−A−11260、JP−A−4−12356、JP−A−4−12357、並びに日本国特許出願番号3−33229、3−230790、3−320438、4−254157、4−52732、4−103215、4−104542、4−107885、4−107889、4−152195、4−254157、4−103215、4−104542、4−107885、4−107889及び4−152195に示されている。
組成物は、また、ポリマー溶解抑制剤、例えばUS5354643に記載されているポリアセタール又は例えばUS5498506に記載されているポリ−N,O−アセタールを、アルカリ可溶性ポリマーと組み合わせて、又は曝露後に現像液においてレジストフィルムの溶解度を増加させる酸不安定基を含有するポリマーと組み合わせて、又は両方の種類のポリマーと組み合わせて含有することができる。
酸不安定基を有する溶解抑制剤が、式I、II又はIIIのスルホネート誘導体、アルカリ可溶性ポリマー及び/又は酸不安定基を有するポリマーと組み合わせて本発明において使用される場合、溶解抑制剤の量は、感光性組成物の全固体成分の総量に基づいて、3〜55重量%、好ましくは5〜45重量%、最も好ましくは10〜35重量%である。
アルカリ水溶液に可溶性のポリマー(a3)は、本発明において好ましく使用される。これらのポリマーの例には、ノボラック樹脂、水素化ノボラック樹脂、アセトン−ピロガロール樹脂、ポリ(o−ヒドロキシスチレン)、ポリ(m−ヒドロキシスチレン)、ポリ(p−ヒドロキシスチレン)、水素化ポリ(ヒドロキシスチレン)、ハロゲン−又はアルキル置換ポリ(ヒドロキシスチレン)、ヒドロキシスチレン/N置換マレイミドコポリマー、o/p−及びm/p−ヒドロキシスチレンコポリマー、部分的o−アルキル化ポリ(ヒドロキシスチレン)〔例えば、5〜30mol%のヒドロキシル基の置換度を有するo−メチル化、o−(1−メトキシ)エチル化、o−(1−エトキシ)エチル化、o−2−テトラヒドロピラニル化及びo−(t−ブトキシカルボニル)メチル化ポリ(ヒドロキシスチレン)〕、o−アシル化ポリ(ヒドロキシスチレン)〔例えば、5〜30mol%のヒドロキシル基の置換度を有するo−アセチル化及びo−(t−ブトキシ)カルボニル化ポリ(ヒドロキシスチレン)〕、スチレン/無水マレイン酸コポリマー、スチレン/ヒドロキシスチレンコポリマー、α−メチルスチレン/ヒドロキシスチレンコポリマー、カルボキシル化メタクリル樹脂、並びにこれらの誘導体が挙げられる。更に適切なものは、ポリ(メタ)アクリル酸〔例えば、ポリ(アクリル酸)〕、(メタ)アクリル酸/(メタ)アクリレートコポリマー〔例えば、アクリル酸/メチルアクリレートコポリマー、メタクリル酸/メチルメタクリレートコポリマー又はメタクリル酸/メチルメタクリレート/t−ブチルメタクリレートコポリマー〕、(メタ)アクリル酸/アルケンコポリマー〔例えば、アクリル酸/エチレンコポリマー〕、(メタ)アクリル酸/(メタ)アクリルアミドコポリマー〔例えば、アクリル酸/アクリルアミドコポリマー〕、(メタ)アクリル酸/塩化ビニルコポリマー〔例えば、アクリル酸/塩化ビニルコポリマー〕、(メタ)アクリル酸/酢酸ビニルコポリマー〔例えば、アクリル酸/酢酸ビニルコポリマー〕、マレイン酸/ビニルエーテルコポリマー〔例えば、マレイン酸/メチルビニルエーテルコポリマー〕、マレイン酸モノエステル/メチルビニルエステルコポリマー〔例えば、マレイン酸モノメチルエステル/メチルビニルエーテルコポリマー〕、マレイン酸/(メタ)アクリル酸コポリマー〔例えば、マレイン酸/アクリル酸コポリマー又はマレイン酸/メタクリル酸コポリマー〕、マレイン酸/(メタ)アクリレートコポリマー〔例えば、マレイン酸/メチルアクリレートコポリマー〕、マレイン酸/塩化ビニルコポリマー、マレイン酸/酢酸ビニルコポリマー及びマレイン酸/アルケンコポリマー〔例えば、マレイン酸/エチレンコポリマー及びマレイン酸/1−クロロプロペンコポリマー〕である。
しかし、本発明に使用されるアルカリ可溶性ポリマーは、これらの例に限定されると解釈されるべきではない。
特に好ましいアルカリ可溶性ポリマー(a3)は、ノボラック樹脂、ポリ(o−ヒドロキシスチレン)、ポリ(m−ヒドロキシスチレン)、ポリ(p−ヒドロキシスチレン)、それぞれのヒドロキシスチレンモノマーと、例えば、p−ビニルシクロヘキサノール、アルキ置換ポリ(ヒドロキシスチレン)、部分的o−又はm−アルキル化及びo−又はm−アシル化ポリ(ヒドロキシスチレン)とのコポリマー、スチレン/ヒドロキシスチレンコポリマー、並びにα−メチルスチレン/ヒドロキシスチレンコポリマーである。ノボラック樹脂は、主成分として1つ以上の所定のモノマーを、1つ以上のアルデヒドと、酸触媒の存在下で付加縮合することにより得られる。
アルカリ可溶性樹脂の調製に有用なモノマーの例には、フェノール、クレゾール、すなわちm−クレゾール、p−クレゾール及びo−クレゾール、キシレノール、例えば2,5−キシレノール、3,5−キシレノール、3,4−キシレノール及び2,3−キシレノール、アルコキシフェノール、例えばp−メトキシフェノール、m−メトキシフェノール、3,5−ジメトキシフェノール、2−メトキシ−4−メチルフェノール、m−エトキシフェノール、p−エトキシフェノール、m−プロポキシフェノール、p−プロポキシフェノール、m−ブトキシフェノール及びp−ブトキシフェノール、ジアルキルフェノール、例えば2−メチル−4−イソプロピルフェノール、並びにm−クロロフェノール、p−クロロフェノール、o−クロロフェノール、ジヒドロキシビフェニル、ビスフェノールA、フェニルフェノール、レゾルシノール及びナフトールを含む他のヒドロキシル化芳香族化合物のような、ヒドロキシル化芳香族化合物が挙げられる。これらの化合物は、単独で又は2つ以上の混合物として使用することができる。ノボラック樹脂の主要なモノマーは、上記の例に限定されると解釈されるべきではない。
ノボラックを得るためにフェノール化合物と重縮合するアルデヒドの例には、ホルムアルデヒド、p−ホルムアルデヒド、アセトアルデヒド、プロピオンアルデヒド、ベンズアルデヒド、フェニルアセトアルデヒド、α−フェニルプロピオンアルデヒド、β−フェニルプロピオンアルデヒド、o−ヒドロキシベンズアルデヒド、m−ヒドロキシベンズアルデヒド、p−ヒドロキシベンズアルデヒド、o−クロロベンズアルデヒド、m−クロロベンズアルデヒド、p−クロロベンズアルデヒド、o−ニトロベンズアルデヒド、m−ニトロベンズアルデヒド、o−メチルベンズアルデヒド、m−メチルベンズアルデヒド、p−メチルベンズアルデヒド、p−エチルベンズアルデヒド,p−n−ブチルベンズアルデヒド、フルフラール、クロロアセトアルデヒド、及びクロロアセトアルデヒドジエチルアセタールのようなこれらから誘導されるアセタールが挙げられる。これらのうち好ましいものは、ホルムアルデヒドである。
これらのアルデヒドは、単独で又は2つ以上を組み合わせて使用することができる。酸触媒の例には,塩酸、硫酸、ギ酸、酢酸及びシュウ酸が挙げられる。
このようにして得られるノボラック樹脂の重量平均分子量は、適切には1,000〜30,000である。重量平均分子量が1,000より低い場合、現像の際に非照射領域において膜の減少が大きくなる傾向がある。重量平均分子量が50,000を超える場合、現像速度が遅くなりすぎる。ノボラック樹脂の分子量の特に好ましい範囲は、2,000〜20,000である。
ノボラック樹脂以外のアルカリ可溶性ポリマーとして上記に示されたポリ(ヒドロキシスチレン)、並びにその誘導体及びコポリマーは、それぞれ2,000以上、好ましくは4,000〜200,000、より好ましくは5,000〜50,000の重量平均分子量を有する。改善された耐熱性を有するポリマーフィルムを得る観点から、重量平均分子量は、望ましくは、少なくとも5,000以上である。
本発明の文脈における重量平均分子量は、ゲル浸透クロマトグラフィーにより決定され、ポリスチレン基準を用いて検量されるものが意図される。
本発明において、アルカリ可溶性ポリマーを2つ以上の混合物として使用することができる。アルカリ可溶性ポリマーと、酸の作用で分解して、アルカリ性現像溶液において溶解度を増強させる基を有するポリマーとの混合物が使用される場合、アルカリ可溶性ポリマーの添加量は、感光性組成物の総量(溶媒を除く)に基づいて、好ましくは80重量%まで、より好ましくは60重量%まで、最も好ましくは40重量%までである。80重量%を超える量は、レジストパターンが厚さの著しい減少を被り、劣った画像及び低い解像度をもたらすため望ましくない。
アルカリ可溶性ポリマーを、酸の作用で分解してアルカリ性現像溶液において溶解度を増強させる基を有するポリマーを用いることなく、溶解抑制剤と一緒に使用する場合、アルカリ可溶性ポリマーの量は、好ましくは40〜90重量%、より好ましくは50〜85重量%、最も好ましくは60〜80重量%である。その量が40重量%より少ない場合、感受性の低減のような望ましくない結果が引き起こされる。一方、90重量%を超えると、レジストパターンが膜厚の著しい減少を被り、劣った解像度及び画像再生をもたらす。
化学的に増幅された系における本発明のスルホネート誘導体の使用は、ポリマーから保護基を除去する原則により機能し、一般にポジティブレジストを生じる。ポジティブレジストは、多くの用途において、特にその高い解像度のためネガティブレジストよりも好まれる。しかし、ポジティブレジストの高度な解像度という利点をネガティブレジストの特性と組み合わせるため、ポジティブレジスト構造を使用してネガティブ像を生成することも興味深い。これは、例えばEP361906に記載されている、いわゆる画像反転工程を導入して達成することができる。このために、像様式に照射されたレジスト材料を、現像工程の前に、例えば気体塩基で処理し、それにより、生じた酸を像様式に中和する。次に全領域にわたって2回目の照射及び熱後処理を実施し、次にネガ像を慣用の方法により現像する。
本発明の、式I、II及びIIIの化合物、並びに式I、II及び/又はIIIの化合物から誘導される反復単位を含むポリマーは、ArFレジスト技術において、すなわち、画像化工程においてArFエキシマーレーザー(193nm)を使用する技術において、光潜在性の酸として特に適している。この技術は、特定のポリマー/コポリマーの使用を必要とする。適切な配合物及び適切なポリマー/コポリマーの調製は、例えば、下記において公表されている:
Proceeding of SPIE 2438, 474 (1995);Proceeding of SPIE 3049, 44 (1997);Proceeding of SPIE 3333, 144 (1998);J. Photopolym. Sci. Technol. 14, 631 (2001);Proceeding of SPIE 3333, 546 (1998);J. Photopolym. Sci. Technol. 13, 601 (2000);JP2001−242627A;JP2001−290274A;JP2001−235863A;JP2001−228612A;Proceeding of SPIE 3333, 144 (1998);JP2001−5184A、三菱レイヨンから市販されているLithomax alpha-7K;JP2001−272783A;米国特許出願09/413763(1999年10月7日出願);EP1091249;JP2000−292917A;JP2003−241385A;J. Photopolym. Sci. Technol. 14, 631 (2001);Proceeding of SPIE 3333, 11 (1998);ACS 1998 (University of Texas);JP2001−290274A;JP2001−235863A;JP2001−228612A;Proceeding of SPIE 3999, 13 (2000);JP2001−296663A;米国特許出願09/567814(2000年5月9日出願);EP1128213;Proceeding of SPIE 3049, 104 (1997);J. Photopolym. Sci. Technol. 10, 521 (1997);JP2001−290274A;JP2001−235863A;JP2001−228612A;Proceeding of SPIE 4345, 680 (2001);J. Vac. Sci. Technol. B 16(6), p. 3716, 1998;Proceeding of SPIE 2724, 356 (1996);Proceeding of SPIE 4345, 67 (2001);Proceeding of SPIE 3333, 546 (1998);Proceeding of SPIE 4345, 87 (2001);Proceeding of SPIE 4345, 159 (2001);Proceeding of SPIE 3049, 92 (1997);Proceeding of SPIE 3049, 92 (1997);Proceeding of SPIE 3049, 92 (1997);Proceeding of SPIE 3999, 2 (2000);Proceeding of SPIE 3999, 23 (2000);Proceeding of SPIE 3999, 54 (2000);Proceeding of SPIE 4345, 119 (2001)。
前記の公報に開示されている配合物は、参照として本明細書に組み込まれる。本発明の化合物は、これらの引用された公報に記載されている全てのポリマー/コポリマー及び組成物において光潜在性の酸として使用するのに特に適していることが理解される。
本発明の、式I、II及びIIIの化合物、並びに式I、II及び/又はIIIの化合物から誘導される反復単位を含むポリマーは、二層レジストにおいて光潜在性の酸として適している。この技術は、特定のポリマー/コポリマーの使用を必要とする。適切な配合物及び適切なポリマー/コポリマーの調製は、例えば、Proc. SPIE 4345, 361-370 (2001)、Proc. SPIE 4345, 406-416 (2001)、JP−A−2002−278073、JP−A−2002−30116、JP−A−2002−30118、JP−A−2002−72477、JP−A−2002−348332、JP−A−2003−207896、JP−A−2002−82437、US2003/65101、US2003/64321において公表されている。
本発明の、式I、II及びIIIの化合物、並びに式I、II及び/又はIIIの化合物から誘導される反復単位を含むポリマーは、多層レジストにおいて光潜在性の酸として適している。この技術は、特定のポリマー/コポリマーの使用を必要とする。適切な配合物及び適切なポリマー/コポリマーの調製は、例えば、JP−A−2003−177540、JP−A−2003−280207、JP−A−2003−149822、JP−A−2003−177544において公表されている。
微細孔パターンを作製するために、熱流処理(thermal flow process)又は化学収縮技術(chemical shrink technology)、いわゆるRELACS(化学収縮補助解像度増強リソグラフィー(resolution enhancement lithography assisted by chemical shrink))プロセスを、化学的に増幅されたレジストに適用する。本発明の、式I、II及びIIIの化合物、並びに式I、II及び/又はIIIの化合物から誘導される反復単位を含むポリマーは、熱流処理又はRELACSプロセスのためのレジストにおいて光潜在性の酸として適している。これらの技術は、特定のポリマー/コポリマーの使用を必要とする。適切な配合物及び適切なポリマー/コポリマーの調製は、例えば、JP−A−2003−167357、JP−A−2001−337457、JP−A−2003−66626、US2001/53496、Proceeding of SPIE 5039, 789 (2003)、IEDM98, Dig., 333 (1998)、Proceeding Silicon Technology 11, 12 (1999)において公表されている。
本発明の、式I、II及びIIIの化合物、並びに式I、II及び/又はIIIの化合物から誘導される反復単位を含むポリマーは、Fレジスト技術において、すなわち、画像化工程においてFエキシマーレーザー(157nm)を使用する技術において、光潜在性の酸として適している。この技術は、157nmで高い透明度を有する特定のポリマー/コポリマーの使用を必要とする。この用途に適切なポリマーの例は、例えば、Proc. SPIE 3999, 330-334 (2000)、Proc. SPIE 3999, 357-364 (2000)、Proc. SPIE 4345, 273-284 (2001)、Proc. SPIE 4345, 285-295 (2001)、Proc. SPIE 4345, 296-307 (2001)、Proc. SPIE 4345, 327-334 (2001)、Proc. SPIE 4345, 350-360 (2001)、Proc. SPIE 4345, 379-384 (2001)、Proc. SPIE 4345, 385-395 (2001)、Proc. SPIE 4345, 417-427 (2001)、Proc. SPIE 4345, 428-438 (2001)、Proc. SPIE 4345, 439-447 (2001)、Proc. SPIE 4345, 1048-1055 (2001)、Proc. SPIE 4345, 1066-1072 (2001)、Proc. SPIE 4690, 191-199 (2002)、Proc. SPIE 4690, 200-211 (2002)、Proc. SPIE 4690, 486-496 (2002)、Proc. SPIE 4690, 497-503 (2002)、Proc. SPIE 4690, 504-511 (2002)、Proc. SPIE 4690, 522-532 (2002)、US20020031718、US20020051938、US20020055060、US20020058199、US20020102490、US20020146639、US20030003379、US20030017404、WO2002021212、WO2002073316、WO2003006413、JP−A−2001−296662、JP−A−2001−350263、JP−A−2001−350264、JP−A−2001−350265、JP−A−2001−356480、JP−A−2002−60475、JP−A−2002−90996、JP−A−2002−90997、JP−A−2002−155112、JP−A−2002−155118、JP−A−2002−155119、JP−A−2002−303982、JP−A−2002−327013、JP−A−2002−363222、JP−A−2003−2925、JP−A−2003−15301、JP−A−2003−2925、JP−A−2003−177539、JP−A−2003−192735、JP−A−2002−155115、JP−A−2003−241386、JP−A−2003−255544、US2003/36016、US2002/81499に記載されているフルオロポリマーである。Fレジストに適切な他のポリマーは、例えば、Proc. SPIE 3999, 365-374 (2000)、Proc. SPIE 3999, 423-430 (2000)、Proc. SPIE 4345, 319-326 (2001)、US20020025495、JP−A−2001−296664、JP−A−2002−179795、JP−A−2003−20335、JP−A−2002−278073、JP−A−2002−55456、JP−A−2002−34833に記載されているケイ素含有ポリマーである。例えばJP−A−2002−196495に記載されている(メタ)アクリロニトリルモノマー単位を含有するポリマーも、Fレジストに適している。
本発明の、式I、II及びIIIの化合物、並びに式I、II及び/又はIIIの化合物から誘導される反復単位を含むポリマーは、EUVレジスト技術において、すなわち、画像化工程において極紫外(13nm)の光源を使用する技術において、光潜在性の酸として適している。この技術は、特定のポリマー/コポリマーの使用を必要とする。適切な配合物及び適切なポリマー/コポリマーの調製は、例えば、JP−A−2002−55452、JP−A−2003−177537、JP−A−2003−280199、JP−A−2002−323758、US2002/51932において公表されている。
本発明の、式I、II及びIIIの化合物、並びに式I、II及び/又はIIIの化合物から誘導される反復単位を含むポリマーは、EB(電子ビーム)又はX線レジストにおいて、すなわち、画像化工程においてEB又はX線を使用する技術において、光潜在性の酸として適している。これらの技術は、特定のポリマー/コポリマーの使用を必要とする。適切な配合物及び適切なポリマー/コポリマーの調製は、例えば、JP−A−2002−99088、JP−A−2002−99089、JP−A−2002−99090、JP−A−2002−244297、JP−A−2003−5355、JP−A−2003−5356、JP−A−2003−162051、JP−A−2002−278068、JP−A−2002−333713、JP−A−2002−31892において公表されている。
本発明の、式I、II及びIIIの化合物、並びに式I、II及び/又はIIIの化合物から誘導される反復単位を含むポリマーは、浸漬リソグラフィーのための化学的に増幅されたレジストにおいて光潜在性の酸として適している。この技術は、Proceeding of SPIE 5040, 667 (2003)、Proceeding of SPIE 5040, 679 (2003)、Proceeding of SPIE 5040, 690 (2003)、Proceeding of SPIE 5040, 724 (2003)に記載されているように、光源とレジストの間に液体媒質を使用してレジストパターンの最小形状を低減する。
本発明の、式I、II及びIIIの化合物、並びに式I、II及び/又はIIIの化合物から誘導される反復単位を含むポリマーは、ポジティブ及びネガティブ感光性ポリイミドにおいて光潜在性の酸として適している。この技術は、特定のポリマー/コポリマーの使用を必要とする。適切な配合物及び適切なポリマー/コポリマーの調製は、例えば、JP−A−9−127697、JP−A−10−307393、JP−A−10−228110、JP−A−10−186664、JP−A−11−338154、JP−A−11−315141、JP−A−11−202489、JP−A−11−153866、JP−A−11−84653、JP−A−2000−241974、JP−A−2000−221681、JP−A−2000−34348、JP−A−2000−34347、JP−A−2000−34346、JP−A−2000−26603、JP−A−2001−290270、JP−A−2001−281440、JP−A−2001−264980、JP−A−2001−255657、JP−A−2001−214056、JP−A−2001−214055、JP−A−2001−166484、JP−A−2001−147533、JP−A−2001−125267、JP−A−2001−83704、JP−A−2001−66781、JP−A−2001−56559、JP−A−2001−33963、JP−A−2002−356555、JP−A−2002−356554、JP−A−2002−303977、JP−A−2002−284875、JP−A−2002−268221、JP−A−2002−162743、JP−A−2002−122993、JP−A−2002−99084、JP−A−2002−40658、JP−A−2002−37885、JP−A−2003−26919において公表されている。
前記の公報に開示されている配合物は、参照として本明細書に組み込まれる。本発明の化合物は、これらの引用された公報に記載されている全てのポリマー/コポリマー及び組成物において光潜在性の酸として使用するのに特に適していることが理解される。
ネガティブレジストを生成する酸感受性成分は、特に、酸(例えば、式I、II若しくはIIIの化合物、又は式I、II及び/若しくはIIIの化合物から誘導される反復単位を含むポリマーの照射の際に形成される酸)により触媒作用を受ける場合、それ自体で、及び/又は組成物の1つ以上の更なる成分と架橋反応を起こすことができる化合物であることを特徴とする。例えばこの種類の化合物は、例えばアクリル、ポリエステル、アルキド、メラミン、尿素、エポキシ及びフェノール樹脂又はこれらの混合物のような既知の酸硬化性樹脂である。アミノ樹脂、フェノール樹脂及びエポキシ樹脂が極めて適している。この種類の酸硬化性樹脂は一般に既知であり、例えば、Ullmann's Encyclopaedie der technischen Chemie" [Ullmanns Enceclopedia of Technical Chemistry], 4th Edition, Vol. 15 (1978), p. 613-628に記載されている。架橋剤成分は、ネガティブレジスト組成物の全固形分に基づいて、2〜40重量%、好ましくは5〜30重量%の濃度で存在するべきである。
本発明の主題は、また、化学的に増幅されたネガティブフォトレジスト組成物である。
本発明は、また、下記:
(a5)酸の触媒作用を受けると、それ自体で、及び/又は他の成分と架橋反応を起こす成分;並びに
(b)感光性酸供与体として、式I、II及び/又はIIIの少なくとも1つの化合物;及び/又は、式I、II及び/又はIIIの化合物から誘導される少なくとも1つの反復単位、及び場合により式Vの群から選択されるエチレン性不飽和化合物から誘導される反復単位を含むポリマー
を含む、化学的に増幅されたネガティブフォトレジスト組成物に関する。
本発明は、特別の実施態様として、下記:
(a4)結合剤としてアルカリ可溶性樹脂、
(a5)酸の触媒作用を受けると、それ自体で、及び/又は結合剤と架橋反応を起こす成分、並びに
(b)感光性酸供与体として、式I、II及び/又はIIIの少なくとも1つの化合物、及び/又は、式I、II及び/又はIIIの化合物から誘導される少なくとも1つの反復単位及び場合により式Vの群から選択されるエチレン性不飽和化合物から誘導される反復単位を含むポリマー
を含む、化学的に増幅されたネガティブアルカリ現像性フォトレジストを含む。
組成物は、成分(b)に加えて、他の感光性酸供与体(b1)、他の光開始剤(d)及び/又は他の添加剤(c)を含むことができる。
酸硬化性樹脂(a5)として特に好ましいものは、非エーテル化又はエーテル化メラミンのようなアミノ樹脂、尿素、グアニジン又はビウレット樹脂、特にメチル化メラミン樹脂又はブチル化メラミン樹脂、対応するグリコールウリル及びウロンである。この文脈において「樹脂」とは、一般にオリゴマーも含む慣用の技術的な混合物と、純粋であり高純度の化合物の両方であることが理解される。N−ヘキサ(メトキシメチル)メラミン及びテトラメトキシメチルグリコリル並びにN,N′−ジメトキシメチルウロンは、最も好ましい酸硬化性樹脂である。
ネガティブレジストにおける式I、II又はIIIの化合物の濃度は、一般に、組成物の全固形分に基づいて、0.1〜30重量%、好ましくは20重量%までである。1〜15重量%が特に好ましい。
適切であれば、ネガティブ組成物は、皮膜形成ポリマー結合剤(a4)を含むことができる。この結合剤は、好ましくはアルカリ可溶性フェノール樹脂である。このために好適なものは、例えば、アルデヒド、例えばアセトアルデヒド又はフルフルアルデヒド、特にホルムアルデヒドから、及びフェノール、例えば非置換フェノール、p−クロロフェノールのようなモノ−若しくはジクロロ置換フェノール、o−、m−若しくはp−クレゾールのようなC〜Cアルキルでモノ−若しくはジ置換されているフェノール、種々のキシレノール、p−tert−ブチルフェノール、p−ノニルフェノール、p−フェニルフェノール、レゾルシノール、ビス(4−ヒドロキシフェニル)メタン又は2,2−ビス(4−ヒドロキシフェニル)プロパンから誘導されるノボラックである。また適切なものは、エチレン性不飽和フェノールに基づいたホモ−及びコポリマーであり、例えば、p−ビニルフェノール若しくはp−(1−プロペニル)フェノールのようなビニル−及び1−プロペニル置換フェノールのホモポリマー、又はこれらのフェノールと、1つ以上のエチレン性不飽和物質、例えばスチレンとのコポリマーである。結合剤の量は、一般に30〜95重量%、又は好ましくは40〜80重量%であるべきである。
スルホネート誘導体を酸発生剤として使用することもでき、例えば、ネガティブレジスト系においてポリ(グリシジル)メタクリレートの酸触媒架橋において光化学的に活性化することができる。そのような架橋反応は、例えば、Chae et al. in Pollimo 1993, 17(3), 292に記載されている。
本発明の、適切な配合物、並びに式I、II及びIIIの化合物と、式I、II及び/又はIIIの化合物から誘導される反復単位を含むポリマーとを使用するネガティブレジストに適切なポリマー/コポリマーの調製は、例えば、JP−A−2003−43688、JP−A−2003−114531、JP−A−2002−287359、JP−A−2001−255656、JP−A−2001−305727、JP−A−2003−233185、JP−A−2003−186195、US6576394において公表されている。
ポジティブ及びネガティブレジスト組成物は、式I、II若しくはIIIの感光性酸供与体化合物、又は式I、II及び/若しくはIIIの化合物から誘導される反復単位を含むポリマーに加えて、更なる感光性酸供与体化合物(b1)、更なる添加剤(c)、他の光開始剤(d)及び/又は増感剤(e)を含むことができる。
したがって、本発明の主題は、また、成分(a)及び(b)、又は成分(a1)、(a2)、(a3)及び(b)、又は成分(a4)、(a5)及び(b)に加えて、更なる添加剤(c)、更なる感光性酸供与体化合物(b1)、他の光開始剤(d)及び/又は増感剤(e)を含む、上記に記載された化学的に増幅されたレジスト組成物である。
ポジティブ及びネガティブレジストにおける本発明のスルホネート誘導体は、他の既知の光潜在性の酸(b1)、例えば、オニウム塩、6−ニトロベンジルスルホネート、ビス−スルホニルジアゾメタン化合物、シアノ基含有オキシムスルホネート化合物などと一緒に使用することもできる。化学的に増幅されたレジストのための既知の光潜在性の酸の例は、US5731364、US5800964、EP704762、US5468589、US5558971、US5558976、US6004724、GB2348644、特にEP794457及びEP795786に記載されている。
光潜在性の酸の混合物が本発明のレジスト組成物に使用される場合、式I、II若しくはIIIのスルホネート誘導体又は式I、II及び/若しくはIIIの化合物から誘導される反復単位を含むポリマーと他の光潜在性の酸(b1)の、混合物における重量比は、好ましくは1:99〜99:1である。
式I、II若しくはIIIの化合物又はI、II及び/若しくはIIIの化合物から誘導される反復単位を含むポリマーとの混合に使用されることが適切である光潜在性の酸の例は、下記である:
(1)オニウム塩化合物、例えば、
ヨードニウム塩、スルホニウム塩、ホスホニウム塩、ジアゾニウム塩、ピリジニウム塩。好ましいものは、ジフェニルヨードニウムトリフレート、ジフェニルヨードニウムピレンスルホネート、ジフェニルヨードニウムドデシルベンゼンスルホネート、トリフェニルスルホニウムトリフレート、トリフェニルスルホニウムヘキサフルオロアンチモネート、ジフェニルヨードニウムヘキサフルオロアンチモネート、トリフェニルスルホニウムナフタレンスルホネート、(ヒドロキシフェニル)ベンジルメチルスルホニウムトルエンスルホネート、ビス(4−tert−ブチルフェニル)ヨードニウム、ビス(ノナフルオロブタンスルホニル)イミド、ビス(4−tert−ブチルフェニル)ヨードニウム、トリス(トリフルオロメタンスルホニル)メチド、トリフェニルスルホニウムビス(トリフルオロメタンスルホニル)イミド、トリフェニルスルホニウム(オクタフルオロブタン−1,4−ジスルホニル)イミド、トリフェニルスルホニウムトリス(トリフルオロメタンスルホニル)メチドなどであり、ヨードニウムカチオンは、4−メチルフェニル−4′−イソブチルフェニルヨードニウム又は4−メチルフェニル−4′−イソプロピルフェニルヨードニウムであることもできる。特に好ましいものは、トリフェニルスルホニウムトリフレート、ジフェニルヨードニウムヘキサフルオロアンチモネートである。他の例は、JP−A−2002−229192、JP−A−2003−140332、JP−A−2002−128755、JP−A−2003−35948、JP−A−2003−149800、JP−A−2002−6480、JP−A−2002−116546、JP−A−2002−156750、US6458506、US2003/27061、US5554664に記載されている。
(2)ハロゲン含有化合物、
ハロアルキル基含有複素環式化合物、ハロアルキル基含有炭化水素化合物など。好ましいものは、フェニル−ビス(トリクロロメチル)−s−トリアジン、メトキシフェニル−ビス(トリクロロメチル)−s−トリアジン、ナフチル−ビス(トリクロロメチル)−s−トリアジンなどのような(トリクロロメチル)−s−トリアジン誘導体;1,1−ビス(4−クロロフェニル)2,2,2−トリクロロエタンなどである。
(3)例えば下記式:
Figure 2009541254
のスルホン化合物であり、ここでR及びRは、互いに独立して、アルキル、シクロアルキル又はアリールであり、それぞれ少なくとも1つの置換基を有することができ、例えば下記:
Figure 2009541254
である。そのような化合物は、例えば、US2002/0172886−A、JP−A−2003−192665、US2002/9663に開示されている。更なる例は、β−ケトスルホン、β−スルホニルスルホン及びそれらのα−ジアゾ誘導体などである。好ましいものは、フェナシルフェニルスルホン、メシチルフェナシルスルホン、ビス(フェニルスルホニル)メタン、ビス(フェニルスルホニル)ジアゾメタンである。
(4)スルホネート化合物、例えば、
アルキルスルホン酸エステル、ハロアルキルスルホン酸エステル、アリールスルホン酸エステル、イミノスルホネート、イミドスルホネートなど。好ましいイミドスルホネート化合物は、例えば、N−(トリフルオロメチルスルホニルオキシ)スクシンイミド、N−(トリフルオロメチルスルホニルオキシ)フタルイミド、N−(トリフルオロメチルスルホニルオキシ)ナフチルイミド、N−(トリフルオロメチルスルホニルオキシ)ジフェニルマレイミド、N−(トリフルオロメチルスルホニルオキシ)−ビシクロ−〔2,2,1〕−ヘプタ−5−エン−2,3−ジカルボキシイミド、N−(トリフルオロメチルスルホニルオキシ)−7−オキサビシクロ−〔2,2,1〕−ヘプタ−5−エン−2,3−ジカルボキシイミド、N−(トリフルオロメチルスルホニルオキシ)−7−オキサビシクロ−〔2,2,1〕−ヘプタ−5−エン−2,3−ジカルボキシイミド、N−(トリフルオロメチルスルホニルオキシ)−ビシクロ−〔2,2,1〕−ヘプタン−5,6−オキシ−2,3−ジカルボキシイミド、N−(カンファニルスルホニルオキシ)スクシンイミド、N−(カンファニルスルホニルオキシ)フタルイミド、N−(カンファニルスルホニルオキシ)ナフチルイミド、N−(カンファニルスルホニルオキシ)ジフェニルマレイミド、N−(カンファニルスルホニルオキシ)ビシクロ−〔2,2,1〕−ヘプタ−5−エン−2,3−ジカルボキシイミド、N−(カンファニルスルホニルオキシ)−7−オキサビシクロ−〔2,2,1〕−ヘプタ−5−エン−2,3−ジカルボキシイミド、N−(カンファニルスルホニルオキシ)−7−オキサビシクロ−〔2,2,1〕ヘプタ−5−エン−2,3−ジカルボキシイミド、N−(カンファニルスルホニルオキシ)−ビシクロ−〔2,2,1〕−ヘプタン−5,6−オキシ−2,3−ジカルボキシイミド、N−(4−メチルフェニルスルホニルオキシ)スクシンイミド、N−(4−メチルフェニルスルホニルオキシ)フタルイミド、N−(4−メチルフェニルスルホニルオキシ)ナフチルイミド、N−(4−メチルフェニルスルホニルオキシ)ナフチルイミド、N−(4−メチルフェニルスルホニルオキシ)ジフェニルマレイミド、N−(4−メチルフェニルスルホニルオキシ)−ビシクロ−〔2,2,1〕−ヘプタ−5−エン−2,3−ジカルボキシイミド、N−(4−メチルフェニルスルホニルオキシ)−7−オキサビシクロ−〔2,2,1〕−ヘプタ−5−エン−2,3−ジカルボキシイミド、N−(4−メチルフェニルスルホニルオキシ)−ビシクロ−〔2,2,1〕−ヘプタン−5,6−オキシ−2,3−ジカルボキシイミド、N−(2−トリフルオロメチルフェニルスルホニルオキシ)スクシンイミド、N−(2−トリフルオロメチルフェニルスルホニルオキシ)ナフチルイミド、N−(2−トリフルオロメチルフェニルスルホニルオキシ)ジフェニルマレイミド、N−(2−トリフルオロメチルフェニルスルホニルオキシ)−ビシクロ−〔2,2,1〕−ヘプタ−5−エン−2,3−ジカルボキシイミド、N−(2−トリフルオロメチルフェニルスルホニルオキシ)−7−オキサビシクロ−〔2,2,1〕−ヘプタ−5−エン−2,3−ジカルボキシイミド、N−(2−トリフルオロメチルフェニルスルホニルオキシ)−ビシクロ−〔2,2,1〕−ヘプタン−5,6−オキシ−2,3−ジカルボキシイミドなどである。
他の適切なスルホネート化合物は、好ましくは、例えば、ベンゾイントシレート、ピロガロールトリストリフレート、ピロガロールメタンスルホン酸トリエステル、ニトロベンジル−9,10−ジエトキシアントラセン−2−スルホネート、α−(4−トルエン−スルホニルオキシイミノ)−ベンジルシアニド、α−(4−トルエン−スルホニルオキシイミノ)−4−メトキシベンジルシアニド、α−(4−トルエン−スルホニルオキシイミノ)−2−チエニルメチルシアニド、α−(メタンスルホニルオキシイミノ)−1−シクロヘキセニルアセトニトリル、α−(ブチルスルホニルオキシイミノ)−1−シクロペンテニルアセトニトリル、(4−メチルスルホニルオキシイミノ−シクロヘキサ−2,5−ジエニリデン)−フェニル−アセトニトリル、(5−メチルスルホニルオキシイミノ−5H−チオフェン−2−イリデン)−フェニル−アセトニトリル、(5−メチルスルホニルオキシイミノ−5H−チオフェン−2−イリデン)−(2−メチルフェニル)−アセトニトリル、(5−プロピルスルホニルオキシイミノ−5H−チオフェン−2−イリデン)−(2−メチルフェニル)−アセトニトリル、(5−(p−トルエンスルホニルオキシイミノ)−5H−チオフェン−2−イリデン)−(2−メチルフェニル)−アセトニトリル、(5−(10−カンホスルホニルオキシイミノ)−5H−チオフェン−2−イリデン)−(2−メチルフェニル)−アセトニトリル、(5−メチルスルホニルオキシイミノ−5H−チオフェン−2−イリデン)−(2−クロロフェニル)−アセトニトリル、2,2,2−トリフルオロ−1−{4−(3−〔4−{2,2,2−トリフルオロ−1−(1−プロパンスルホニルオキシイミノ)−エチル}−フェノキシ〕−プロポキシ)−フェニル}−エタノンオキシム1−プロパンスルホネート、2,2,2−トリフルオロ−1−{4−(3−〔4−{2,2,2−トリフルオロ−1−(1−p−トルエンスルホニルオキシイミノ)−エチル}−フェノキシ〕−プロポキシ)−フェニル}−エタノンオキシム1−p−トルエンスルホネート、2−〔2,2,3,3,4,4,5,5,6,6,7,7−ドデカフルオロ−1−(ノナフルオロブチルスルホニルオキシイミノ)−ヘプチル〕−フルオレン、2−〔2,2,3,3,4,4,4−ヘプタフルオロ−1−(ノナフルオロブチルスルホニルオキシイミノ)−ブチル〕−フルオレン、2−〔2,2,3,3,4,4,5,5−オクタフルオロ−1−(ノナフルオロブチルスルホニルオキシイミノ)−ペンチル〕−フルオレンなどである。
本発明の放射線感受性組成物において、特に好ましいスルホネート化合物には、ピロガロールメタンスルホン酸トリエステル、N−(トリフルオロメチルスルホニルオキシ)ビシクロ−〔2,2,1〕−ヘプタ−5−エン−2,3−ジカルボキシイミド、N−(カンファニルスルホニルオキシ)ナフチルイミド、N−(2−トリフルオロメチルフェニルスルホニルオキシ)フタルイミド、N−(トリフルオロメチルスルホニルオキシ)−ビシクロ−〔2,2,1〕−ヘプタ−5−エン−2,3−ジカルボキシイミド、N−(カンファニルスルホニルオキシ)ナフチルイミド、N−(2−トリフルオロメチルフェニルスルホニルオキシ)フタルイミドなどが含まれる。
(5)キノンジアジド化合物、例えば、
ポリヒドロキシ化合物の1,2−キノンジアジドスルホン酸エステル化合物。好ましいものは、1,2−キノンジアジドスルホニル基、例えば、1,2−ベンゾキノンジアジド−4−スルホニル基、1,2−ナフトキノンジアジド−4−スルホニル基、1,2−ナフトキノンジアジド−5−スルホニル基、1,2−ナフトキノンジアジド−6−スルホニル基などを有する化合物である。特に好ましいものは、1,2−ナフトキノンジアジド−4−スルホニル基又は1,2−ナフトキノンジアジド−5−スルホニル基を有する化合物である。特に適切なものは、2,3,4−トリヒドロキシベンゾフェノン、2,4,6−トリヒドロキシベンゾフェノン、2,3,4,4′−テトラヒドロキシベンゾフェノン、2,2′,3,4−テトラヒドロキシベンゾフェノン、2,3,4,4′−テトラヒドロキシベンゾフェノン、2,2′,4,4′−テトラヒドロキシベンゾフェノン、2,2′,3,4,4′−ペンタヒドロキシベンゾフェノン、2,2′,3,2,6′−ペンタヒドロキシベンゾフェノン、2,3,3′,4,4′,5′−ヘキサヒドロキシベンゾフェノン、2,3′,4,4′,5′,6−ヘキサヒドロキシベンゾフェノンなどのような(ポリ)ヒドロキシフェニルアリールケトンの1,2−キノンジアジドスルホン酸エステル;ビス(4−ヒドロキシフェニル)エタン、ビス(2,4−ジヒドロキシフェニル)エタン、2,2−ビス(4−ヒドロキシフェニル)プロパン、2、2−ビス(2,4−ジヒドロキシフェニル)プロパン、2、2−ビス−(2,3,4−トリドロキシフェニル)プロパンなどのようなビス〔(ポリ)ヒドロキシフェニル〕アルカンの1,2−キノンジアジドスルホン酸エステル;4,4′−ジヒドロキシトリフェニルメタン、4,4′,4"−トリヒドロキシトリフェニルメタン、4,4′,5,5′−テトラメチル−2,2′,2"−トリヒドロキシトリフェニルメタン、2,2,5,5′−テトラメチル−4,4′,4"−トリヒドロキシトリフェニルメタン、1,1,1−トリス(4−ヒドロキシフェニル)エタン、1,1−ビス(4−ヒドロキシフェニル)−1−フェニルエタン、1,1−ビス(4−ヒドロキシフェニル)−1−(4−〔1−(ヒドロキシフェニル)−1−メチルエチル〕フェニル)エタンなどのような(ポリ)ヒドロキシフェニルアルカンの1,2−キノンジアジドスルホン酸エステル;2,4,4−トリメチル−2′,4′,7−トリヒドロキシ−2−フェニルフラバン、2,4,4−トリメチル−2′,4′,5′,6,7−ペンタヒドロキシ−2−フェニルフラバンなどのような(ポリ)ヒドロキシフェニルフラバンの1,2−キノンジアジゾスルホン酸エステルである。
本発明の化合物との混合に使用するのに適切である光潜在性の酸の他の例は、JP−A−2003−43678、JP−A−2003−5372、JP−A−2003−43677、JP−A−2002−357904、JP−A−2002−229192に記載されている。
本発明のポジティブ及びネガティブフォトレジスト組成物は、場合により、フォトレジストに慣用的に使用される1つ以上の添加剤(c)を当業者に既知の慣用の量で含有することができ、例えば、染料、顔料、可塑剤、界面活性剤、流動性向上剤、湿潤剤、定着剤、チキソトロープ剤、着色剤、充填剤、溶解促進剤、酸増幅剤、光増感剤及び有機塩基性化合物である。
本発明のレジスト組成物に使用できる有機塩基性化合物の更なる例は、フェノールよりも強力な塩基の化合物であり、特に窒素含有塩基性化合物である。これらの化合物は、例えばテトラアルキルアンモニウム塩のようなイオン性であるか、又は非イオン性であることができる。好ましい有機塩基性化合物は、異なる化学環境を有する窒素原子を、1分子当たり2個以上有する窒素含有塩基性化合物である。特に好ましくは、少なくとも1つの置換又は非置換アミノ基及び少なくとも1つの窒素含有環構造の両方を含有する化合物、並びに少なくとも1つのアルキルアミノ基を有する化合物である。そのような好ましい化合物の例には、グアニジン、アミノピリジン、アミノアルキルピリジン、アミノピロリジン、インダゾール、イミダゾール、ピラゾール、ピラジン、ピリミジン、プリン、イミダゾリン、ピラゾリン、ピペラジン、アミノモルホリン及びアミノアルキルモルホリンが挙げられる。適切なものは、非置換の化合物又は置換されているその誘導体の両方である。好ましい置換基には、アミノ、アミノアルキル基、アルキルアミノ基、アミノアリール基、アリールアミノ基、アルキル基、アルコキシ基、アシル基、アシルオキシ基、アリール基、アリールオキシ基、ニトロ、ヒドロキシ及びシアノが含まれる。特に好ましい有機塩基性化合物の特定の例には、グアニジン、1,1−ジメチルグアニジン、1,1,3,3−テトラメチルグアニジン、2−アミノピリジン、3−アミノピリジン、4−アミノピリジン、2−ジメチルアミノピリジン、4−ジメチルアミノピリジン、2−ジエチルアミノピリジン、2−(アミノメチル)ピリジン、2−アミノ−3−メチルピリジン、2−アミノ−4−メチルピリジン、2−アミノ−5−メチルピリジン、2−アミノ−6−メチルピリジン、3−アミノエチルピリジン、4−アミノエチルピリジン、3−アミノピロリジン、ピペラジン、N−(2−アミノエチル)ピペラジン、N−(2−アミノエチル)ピペリジン、4−アミノ−2,2,6,6−テトラメチルピペリジン、4−ピペリジノピペリジン、2−イミノピペリジン、1−(2−アミノエチル)ピロリジン、ピラゾール、3−アミノ−5−メチルピラゾール、5−アミノ−3−メチル−1−p−トリルピラゾール、ピラジン、2−(アミノメチル)−5−メチルピラジン、ピリミジン、2,4−ジアミノピリミジン、4,6−ジヒドロキシピリミジン、2−ピラゾリン、3−ピラゾリン、N−アミノモルホリン及びN−(2−アミノエチル)モルホリンが挙げられる。
適切な有機塩基化合物の他の例は、DE4408318、US5609989、US5556734、EP762207、DE4306069、EP611998、EP813113、EP611998及びUS5498506、JP−A−2003−43677、JP−A−2003−43678、JP−A−2002−226470、JP−A−2002−363146、JP−A−2002−363148、JP−A−2002−363152、JP−A−2003−98672、JP−A−2003−122013、JP−A−2002−341522に記載されている。しかし、本発明に適切な有機塩基性化合物は、これらの例に限定されない。
窒素含有塩基性化合物は、単独で、又はそれらの2つ以上を組み合わせて使用することができる。窒素含有塩基性化合物の添加量は、感光性樹脂組成物(溶媒を除く)の100重量部当たり、通常0.001〜10重量部、好ましくは0.01〜5重量部である。その量が0.001重量部よりも少ない場合、本発明の効果を得ることができない。一方、10重量部を超える場合、感受性の減少及び非暴露部分の現像性に障害が起きやすくなる。
組成物は、例えば、EP710885、US5663035、US5595855、US5525453及びEP611998に記載されているような、化学線で分解する塩基性有機化合物(「自殺塩基」)を更に含有することができる。
本発明の組成物に適切な染料(c)の例は、油溶性染料及び塩基性染料、例えば、Oil Yellow #101、Oil Yellow #103、Oil Pink #312、Oil Green BG、Oil Blue BOS、Oil Blue #603、Oil Black BY、Oil Black BS、Oil Black T-505(全てOrient Chemical Industries Ltd., Japanの製造)、クリスタルバイオレット(CI42555)、メチルバイオレット、(CI42535)、ローダミンB(CI45170B)、マラカイトグリーン(CI42000)及びメチレンブルー(CI52015)である。
スペクトル増感剤(e)を更に加えて、遠紫外線よりも長い波長の領域において吸収を示すように光潜在性の酸を増感することができ、それにより、本発明の感光性組成物を、例えば、i線又はg線放射線に敏感にすることができる。適切なスペクトル増感剤の例には、ベンゾフェノン、p,p′−テトラメチルジアミノベンゾフェノン、p,p′−テトラエチルエチルアミノベンゾフェノン、チオキサントン、2−クロロチオキアントン、アントロン、ピレン、ペリレン、フェノチアジン、ベンジル、アクリジンオレンジ、ベンゾフラビン、セトフラビンT、9,10−ジフェニルアントラセン、9−フロオレノン、アセトフェノン、フェナントレン、2−ニトロフロオレン、5−ニトロアセナフテン、ベンゾキノン、2−クロロ−4−ニトロアニリン、N−アセチル−p−ニトロアニリン、p−ニトロアニリン、N−アセチル−4−ニトロ−1−ナフチルアミン、ピクラミド、アントラキノン、2−エチルアントラキノン、2−tert−ブチルアントラキノン、1,2、−ベンゾアントラキノン、3−メチル−1,3−ジアザ−1,9−ベンゾアントロン、ジベンザルアセトン、1,2−ナフトキノン、3−アシルクマリン誘導体、3,3′−カルボニル−ビス(5,7−ジメトキシカルボニルクマリン)、3−(アロイルメチレン)チアゾリン、エオシン、ローダミン、エリトロシン及びコロネンが挙げられる。しかし、適切なスペクトル増感剤は、これらの例に限定されない。
これらのスペクトル増感剤は、光源から放射される遠紫外線を吸収する光吸収剤として使用することもできる。この場合、光吸収剤は、基材からの光の反射を減少させ、レジストフィルム内の多重反射の影響を軽減し、それにより、定常波の影響を減少させる。
そのような化合物の特定の例は、下記である:
1.チオキサントン類
チオキサントン、2−イソプロピルチオキサントン、2−クロロチオキサントン、1−クロロ−4−プロポキシチオキサントン、2−ドデシルチオキサントン、2,4−ジエチルチオキサントン、2,4−ジメチルチオキサントン、1−メトキシカルボニルチオキサントン、2−エトキシカルボニルチオキサントン、3−(2−メトキシエトキシカルボニル)−チオキサントン、4−ブトキシカルボニルチオキサントン、3−ブトキシカルボニル−7−メチルチオキサントン、1−シアノ−3−クロロチオキサントン、1−エトキシカルボニル−3−クロロチオキサントン、1−エトキシカルボニル−3−エトキシチオキサントン、1−エトキシカルボニル−3−アミノチオキサントン、1−エトキシカルボニル−3−フェニルスルフリルチオキサントン、3,4−ジ−〔2−(2−メトキシエトキシ)エトキシカルボニル〕−チオキサントン、1,3−ジメチル−2−ヒドロキシ−9H−チオキサンテン−9−オン2−エチルヘキシルエーテル、1−エトキシカルボニル−3−(1−メチル−1−モルホリノエチル)−チオキサントン、2−メチル−6−ジメトキシメチル−チオキサントン、2−メチル−6−(1,1−ジメトキシベンジル)−チオキサントン、2−モルホリノメチルチオキサントン、2−メチル−6−モルホリノメチルチオキサントン、N−アリルチオキサントン−3,4−ジカルボキシイミド、N−オクチルチオキサントン−3,4−ジカルボキシイミド、N−(1,1,3,3−テトラメチルブチル)−チオキサントン−3,4−ジカルボキシイミド、1−フェノキシチオキサントン、6−エトキシカルボニル−2−メトキシチオキサントン、6−エトキシカルボニル−2−メチルチオキサントン、チオキサントン−2−カルボン酸ポリエチレングリコールエステル、2−ヒドロキシ−3−(3,4−ジメチル−9−オキソ−9H−チオキサントン−2−イルオキシ)−N,N,N−トリメチル−1−プロパンアミウムクロリド;
2.ベンゾフェノン類
ベンゾフェノン、4−フェニルベンゾフェノン、4−メトキシベンゾフェノン、4,4′−ジメトキシベンゾフェノン、4,4′−ジメチルベンゾフェノン、4,4′−ジクロロベンゾフェノン、4,4′−ビス(ジメチルアミノ)ベンゾフェノン、4,4′−ビス(ジエチルアミノ)ベンゾフェノン、4,4′−ビス(メチルエチルアミノ)ベンゾフェノン、4,4′−ビス(p−イソプロピルフェノキシ)ベンゾフェノン、4−メチルベンゾフェノン、2,4,6−トリメチルベンゾフェノン、3−メチル−4′−フェニル−ベンゾフェノン、2,4,6−トリメチル−4′−フェニル−ベンゾフェノン、4−(4−メチルチオフェニル)−ベンゾフェノン、3,3′−ジメチル−4−メトキシベンゾフェノン、メチル−2−ベンゾイルベンゾエート、4−(2−ヒドロキシエチルチオ)−ベンゾフェノン、4−(4−トリルチオ)ベンゾフェノン、1−〔4−(4−ベンゾイル−フェニルスルファニル)−フェニル〕−2−メチル−2−(トルエン−4−スルホニル)−プロパン−1−オン、4−ベンゾイル−N,N,N−トリメチルベンゼンメタンアミニウムクロリド、2−ヒドロキシ−3−(4−ベンゾイルフェノキシ)−N,N,N−トリメチル−1−プロパンアミニウムクロリド一水和物、4−(13−アクリロイル−1,4,7,10,13−ペンタオキサチリデシル)−ベンゾフェノン、4−ベンゾイル−N,N−ジメチル−N−〔2−(1−オキソ−2−プロペニル)オキシ〕エチル−ベンゼンメタンアミニウムクロリド;
3.クマリン類
Coumarin 1、Coumarin 2、Coumarin 6、Coumarin 7、Coumarin 30、Coumarin 102、Coumarin 106、Coumarin 138、Coumarin 152、Coumarin 153、Coumarin 307、Coumarin 314、Coumarin 314T、Coumarin 334、Coumarin 337、Coumarin 500、3−ベンゾイルクマリン、3−ベンゾイル−7−メトキシクマリン、3−ベンゾイル−5,7−ジメトキシクマリン、3−ベンゾイル−5,7−ジプロポキシクマリン、3−ベンゾイル−6,8−ジクロロクマリン、3−ベンゾイル−6−クロロ−クマリン、3,3′−カルボニル−ビス〔5,7−ジ(プロポキシ)−クマリン〕、3,3′−カルボニル−ビス(7−メトキシクマリン)、3,3′−カルボニル−ビス(7−ジエチルアミノ−クマリン)、3−イソブチロイルクマリン、3−ベンゾイル−5,7−ジメトキシ−クマリン、3−ベンゾイル−5,7−ジエトキシ−クマリン、3−ベンゾイル−5,7−ジブトキシクマリン、3−ベンゾイル−5,7−ジ(メトキシエトキシ)−クマリン、3−ベンゾイル−5,7−ジ(アリルオキシ)クマリン、3−ベンゾイル−7−ジメチルアミノクマリン、3−ベンゾイル−7−ジエチルアミノクマリン、3−イソブチロイル−7−ジメチルアミノクマリン、5,7−ジメトキシ−3−(1−ナフトイル)−クマリン、5,7−ジエトキシ−3−(1−ナフトイル)−クマリン、3−ベンゾイルベンゾ〔f〕クマリン、7−ジエチルアミノ−3−チエノイルクマリン、3−(4−シアノベンゾイル)−5,7−ジメトキシクマリン、3−(4−シアノベンゾイル)−5,7−ジプロポキシクマリン、7−ジメチルアミノ−3−フェニルクマリン、7−ジエチルアミノ−3−フェニルクマリン、JP09−179299−A及びJP09−325209−Aに開示されているクマリン誘導体、例えば7−〔{4−クロロ−6−(ジエチルアミノ)−S−トリアジン−2−イル}アミノ〕−3−フェニルクマリン;
4.3−(アロイルメチレン)−チアゾリン類
3−メチル−2−ベンゾイルメチレン−β−ナフトチアゾリン、3−メチル−2−ベンゾイルメチレン−ベンゾチアゾリン、3−エチル−2−プロピオニルメチレン−β−ナフトチアゾリン;
5.ローダニン類
4−ジメチルアミノベンザルローダニン、4−ジエチルアミノベンザルローダニン、3−エチル−5−(3−オクチル−2−ベンゾチアゾリニリデン)−ローダニン、JP08−305019Aに開示されている式〔1〕、〔2〕、〔7〕のローダニン誘導体;
6.他の化合物
アセトフェノン、3−メトキシアセトフェノン、4−フェニルアセトフェノン、ベンジル、4,4′−ビス(ジメチルアミノ)ベンジル、2−アセチルナフタレン、2−ナフトアルデヒド、ダンシル酸誘導体、9,10−アントラキノン、アントラセン、ピレン、アミノピレン、ペリレン、フェナントレン、フェナントレンキノン、9−フルオレノン、ジベンゾスベロン、クルクミン、キサントン、チオミヒラーケトン、α−(4−ジメチルアミノベンジリデン)ケトン、例えば2,5−ビス(4−ジエチルアミノベンジリデン)シクロペンタノン、2−(4−ジメチルアミノ−ベンジリデン)−インダン−1−オン、3−(4−ジメチルアミノ−フェニル)−1−インダン−5−イル−プロペノン、3−フェニルチオフタルイミド、N−メチル−3,5−ジ(エチルチオ)−フタルイミド、N−メチル−3,5−ジ(エチルチオ)フタルイミド、フェノチアジン、メチルフェノチアジン、アミン、例えばN−フェニルグリシン、エチル4−ジメチルアミノベンゾエート、ブトキシエチル4−ジメチルアミノベンゾエート、4−ジメチルアミノアセトフェノン、トリエタノールアミン、メチルジエタノールアミン、ジメチルアミノエタノール、2−(ジメチルアミノ)エチルベンゾエート、ポリ(プロピレングリコール)−4−(ジメチルアミノ)ベンゾエート、ピロメテン、例えば1,3,5,7,9−ペンタメチルピロメテンBF錯体、2,8−ジエチル−1,3,5,7,9−ペンタメチルピロメテンBF錯体、2,8−ジエチル−5−フェニル−1,3,7,9−テトラメチルピロメテンBF錯体、9,10−ビス(フェニルエチニル)−1,8−ジメトキシアントラセン、ベンゾ〔1,2,3−kl:4,5,6−k′l′〕ジオキサンテン。
更なる適切な添加剤(c)は、「酸増幅剤」であり、それは酸形成を加速させるか、又は酸濃度を上昇させる化合物である。そのような化合物を、本発明の、式I、II若しくはIIIのスルホネート誘導体又は式I、II及び/若しくはIIIの化合物から誘導される反復単位を含むポリマーと組み合わせて、ポジティブ若しくはネガティブレジストにおいて又は画像化系において、並びに全てのコーティング用途において使用することもできる。そのような酸増幅剤は、例えば、Arimitsu, K. et al. J. Photopolym. Sci. Technol. 1995, 8, pp 43; Kudo, K. et al. J. Photopolym. Sci. Technol. 1995, 8, pp 45; Ichimura, K. et al. Chem: Letters 1995, pp 551に記載されている。
解像度、パターンプロフィール、プロセス寛容度、ラインエッジの粗さ、安定性のようなレジスト機能を改善する他の添加剤(c)は、JP−A−2002−122992、JP−A−2002−303986、JP−A−2002−278071、JP−A−2003−57827、JP−A−2003−140348、JP−A−2002−6495、JP−A−2002−23374、JP−A−2002−90987、JP−A−2002−91004、JP−A−2002−131913、JP−A−2002−131916、JP−A−2002−214768、JP−A−2001−318464、JP−A−2001−330947、JP−A−2003−57815、JP−A−2003−280200、JP−A−2002−287362、JP−A−2001−343750に記載されている。そのような化合物を、本発明の、式I、II若しくはIIIのスルホネート誘導体又は式I、II及び/若しくはIIIの化合物から誘導される反復単位を含むポリマーと組み合わせて、ポジティブ又はネガティブレジストにおいて使用することもできる。
通常、本発明の感光性組成物を基材に適用するには、組成物を適した溶媒に溶解する。これらの溶媒の好ましい例には、二塩化エチレン、シクロヘキサノン、シクロペンタノン、2−ヘプタノン、γ−ブチロラクトン、メチルエチルケトン、エチレングリコールモノメチルエーテル、エチレングリコールモノエチルエーテル、2−メトキシエチルアセテート、2−エトキシエチルアセテート、2−エトキシエタノール、ジエチルグリコールジメチルエーテル、エチレングリコールモノエチルエーテルアセテート、プロピレングリコールモノメチルエーテル、プロピレングリコールモノメチルエーテルアセテート、トルエン、酢酸エチル、酢酸ブチル、乳酸メチル、乳酸エチル、メチルメトキシプロピオネート、エチルエトキシプロピオネート、ピルビン酸メチル、ピルビン酸エチル、ピルビン酸プロピル、N,N−ジメチルホルムアミド、ジメチルスルホキシド、N−メチルピロリドン及びテトラヒドロフランが挙げられる。これらの溶媒は、単独で、又は混合物として使用することができる。溶媒の好ましい例は、2−メトキシエチルアセテート、エチレングリコールモノエチルエーテルアセテート、プロピレングリコールモノメチルエーテルアセテート、メチルメトキシプロピオネート、エチルエトキシプロピオネート及び乳酸エチルのようなエステルである。そのような溶媒の使用は、本発明の、式I、II若しくはIIIにより表されるスルホネート誘導体又は式I、II及び/若しくはIIIの化合物から誘導される反復単位を含むポリマーが、それらと良好な相溶性を有し、それらにおいてより良好な溶解性を有するので有益である。
界面活性剤を溶媒に加えることができる。適切な界面活性剤の例には、ポリオキシエチレンアルキルエーテル、例えばポリオキシエチレンラウリルエーテル、ポリオキシエチレンステアリルエーテル、ポリオキシエチレンアセチルエーテル及びポリオキシエチレンオレイルエーテル;ポリオキシエチレンアルキルアリールエーテル、例えばポリオキシエチレン、オクチルフェノールエーテル及びポリオキシエチレンノニルフェノールエーテル;ポリオキシエチレン/ポリオキシプロピレンブロックコポリマー、ソルビタン/脂肪酸エステル、例えばソルビタンモノラウレート、ソルビタンモノーパルミテート、ソルビタンモノステアレート、ソルビタンモノオレエート、ソルビタントリオレエートのような非イオン性界面活性剤;F-top EF301、EF303及びEF352(New Akita Chemical Company, Japan製造)、Megafac F171及びF17.3(Dainippon Ink & Chemicals, Inc,. Japan製造), Fluorad FC430及びFC431(Sumitomo 3M Ltd., Japan製造)、Asahi Guard AG710及びSurflon S-382、SC101、SC102、SC103、SC104、SC105及びSC106 (Asahi Grass Col, Ltd., Japan製造);オルガノシロキサンポリマーKP341 (Shin-Etsu Chemical Co., Ltd., Japan製造); 並びにアクリル又はメタクリル(コ)ポリマーPoly-flow Now.75及びNO.95 (Kyoeisha Chemical Co., Ltd., Japan製造)のようなフルオロケミカル界面活性剤が挙げられる。他の例は、JP−A−2001−318459、JP−A−2002−6483に記載されている。界面活性剤の添加量は、通常、本発明の組成物の固体成分100重量部当たり、2重量%以下、望ましくは0.5重量部以下である。界面活性剤を、単独で、又はそれらの2つ以上を組み合わせて添加することができる。
溶液は既知の被覆方法、例えば、スピンコート、浸漬、ナイフコート、流し塗り技術、はけ塗り、噴霧及びロールコートにより基材に均一に適用される。感光層を仮の軟質支持体に適用し、次に被膜移転(積層)により最終基材を被覆することも可能である。適用される量(コーティング厚)及び基材の性質(コーティング基材)は、所望の適用分野により左右される。コーティング厚の範囲は、原則的に、およそ0.01μmから100μmを超える値を含むことができる。
被覆操作の後、一般に溶媒を加熱により除去し、基材上にフォトレジストの層をもたらす。乾燥温度は、当然のことながら、レジストの特定の成分が反応又は分解する温度よりも低くなければならない。一般に、乾燥温度は60〜160℃の範囲である。
次にレジストコーティングを、像様式に照射する。表現「像様式に照射する(image-wise irradiation)」は、化学線を使用する所定のパターンによる照射、すなわち、所定のパターンを含むマスク、例えば、透明マスク、クロムマスク又はレチクルを通す照射、及び例えばコンピューター制御によりレジスト表面に直接書き込みを行い、それにより画像を生成する、レーザー光線及び電子ビームを使用する照射の両方を含む。パターンを生成する他の方法は、例えばホログラフ用途において使用されるように、2つのビーム又は画像を干渉させることによる。例えば、A. Bertsch; J.Y. Jezequel; J.C. AndreによりJournal of Photochemistry and Photobiology A: Chemistry 1997, 107 pp. 275-28において及びK. P. NicolayによりOffset Printing 1997, 6, pp. 34-37において記載されているように、画素を1個ずつアドレスしてデジタル画像を生成することができる、液晶製のマスクを使用することも可能である。
照射、そして必要であれば熱処理の後、組成物の照射された部位(ポジティブレジストの場合)又は非照射部位(ネガティブレジストの場合)を、現像液を使用するそれ自体既知の方法により除去する。
触媒反応を加速させ、したがって現像液中でレジストコーティングの照射部分と非照射部分の溶解度に十分な差を発生させるため、好ましくはコーティングを現像する前に加熱する。加熱は、照射の際に実施又は開始することもできる。60〜160℃の温度が好ましく使用される。時間の長さは加熱方法により左右され、必要であれば最適な長さは、数回の日常的な実験によって当業者により容易に決定することができる。一般に数秒から数分である。例えば、ホットプレートを使用する場合、10〜300秒の長さが極めて適切であり、対流式オーブンを使用する場合、1〜30分の長さが極めて適切である。レジストの非照射部位において、本発明の潜酸供与体がこれらの加工条件下で安定であることが重要である。
次にコーティングを現像し、照射後、現像液においてより可溶になったコーティング部分を、除去する。必要であれば、加工物を僅かに撹拌する、現像液浴中で被膜を穏やかにはけ塗りする、又は噴霧現像すると、この加工工程を加速することができる。レジスト技術に慣用のアルカリ性現像水溶液を、例えば現像に使用することができる。そのような現像液は、例えば、水酸化ナトリウム又はカリウム、対応する炭酸塩、炭酸水素塩、ケイ酸塩又はメタケイ酸塩を含むが、好ましくは、アンモニア又はアミン、例えばエチルアミン、n−プロピルアミン、ジエチルアミン、ジ−n−プロピルアミン、トリエチルアミン、メチルジエチルアミン、アルカノールアミン、例えばジメチルエタノールアミン、トリエタノールアミン、第四級水酸化アンモニウム、例えば水酸化テトラメチルアンモニウム又は水酸化テトラエチルアンモニウムのような金属非含有塩基を含む。現像液は、一般に0.5Nまでであるが、通常、使用前に適切な方法で希釈される。
例えば、およそ0.1〜0.3の規定度を有する溶液が好適である。現像液の選択は、光硬化性表面コーティングの性質、特に使用される結合剤又は得られる光分解生成物の性質に左右される。現像水溶液は、必要であれば比較的少量の湿潤剤及び/又は有機溶媒を含むこともできる。現像液に添加することができる典型的な有機溶媒は、例えば、シクロヘキサノン、2−エトキシエタノール、トルエン、アセトン、イソプロパノール、また、これらの溶媒の2つ以上の混合物である。典型的な水性/有機現像液系は、Butylcellosolve(登録商標)/水に基づいている。
本発明の主題は、また、
(1)上記に記載された組成物を基材に適用すること;
(2)組成物を60℃〜160℃の温度で適用後焼き付けすること;
(3)10nm〜1500nmの波長の光を用いて像様式に照射すること;
(4)場合により、組成物を60℃〜160℃の温度で曝露後焼き付けすること;及び
(5)溶媒又はアルカリ性現像水溶液で現像すること
による、フォトレジストの調製プロセスである。
好ましくは、像様の照射が150〜450nmの範囲、特に190〜260nmの範囲の波長の単色又は多色放射線を用いて実施されるプロセスである。
フォトレジスト組成物は、全ての基材に、当業者に既知の全ての暴露技術を用いて使用することができる。例えば、ケイ素、ヒ化ガリウム、ゲルマニウム、アンチモン化インジウムのような半導体基板、更に、二酸化ケイ素、窒化ケイ素、窒化チタン、シロキサンのような酸化物又は窒化物層で覆われた基板、並びに、金属基板及びアルミニウム、銅、タングステンなどのような金属による金属コーティング基板を使用することができる。基材を、フォトレジストによるコーティングの前に、ポリマー材料、例えばポリマー材料の有機反射防止被膜、絶縁層及び誘電被膜により被覆することもできる。
フォトレジスト層は、直接書き込み、すなわちステップアンドリピートモード若しくはスキャンモードによるレーザー光線若しくは投影リソグラフィー、又はマスクを介した密着焼付けのような全ての慣用の技術により暴露することができる。
投射リソグラフィーの場合、干渉性、部分的な干渉性又は非干渉性照射のような広範囲の光学的条件を使用できる。これには、軸外照明技術、例えば、レンズの中心を除く、レンズの特定の領域のみに放射線を通過させる環状照明及び四極照明が含まれる。
パターンを複製するのに使用されるマスクは、硬質マスク又は軟質マスクであることができる。マスクは、透明、半透明及び不透明のパターンを含むことができる。パターンのサイズは、投射光学の解像限度又はそれより小さく、マスクを通過した後の照射の空中像、強度及び位相変調を変更するような特定の方向でマスク上に設けられたパターンを含むこともできる。これには、位相シフトマスク及びハーフトーン位相シフトマスクが含まれる。
フォトレジスト組成物のパターン加工は、あらゆる所望の幾何学様式及び形状、例えば、密集及び分離線、接触孔、溝、点などのパターンを発生させるために使用することができる。
本発明のフォトレジストは、優れたリソグラフ特性、特に、高い感受性及び画像化放射のための高いレジスト透明性を有する。
本発明の組成物の使用が可能な領域は次である:エッチングレジスト、イオン注入レジスト、電気めっきレジスト又は半田レジストのような電子工学用フォトレジストとしての使用、集積回路又は薄膜トランジスタ(TFT)レジストの製造、オフセット印刷版又はスクリーン印刷ステンシルのような印刷版の製造、成形品のエッチング又はステレオリソグラフィー若しくはホログラフ技術における使用であり、これらは、多様な用途、例えば、J. Photochem. Photobio.A, 158, 163 (2003), Chem. Mater. 14, 3656 (2002)に記載されている3D光学式情報記憶に用いられている。
本発明の組成物は、半導体デバイスの金属間誘電層、緩衝層、不動態化コーティングの作製に適しており、オプトエレクトロニクスの導波管の作製に適している。MEMS(微小電気機械系)用途では、本発明の組成物を、エッチングレジスト、材料付着用の成形型、及びデバイス自体の三次元物体として使用することができる。コーティング基材及び加工条件は適宜変更される。そのような例は、US6391523に記載されている。
上記に記載された増感剤化合物と組み合わせた、本発明の、式I、II及びIIIの化合物、並びに式I、II及び/又はIIIの化合物から誘導される反復単位を含むポリマーを、例えばWO03/021358に記載されているホログラフデータ記憶(HDS)系に使用することもできる。
本発明の組成物は、また、木材、織物、紙、セラミック、ガラス、特に膜の形態のポリエステル、ポリエチレンテレフタレート、ポリオレフィン又は酢酸セルロースのようなプラスチックを含む全種類の基材のコーティング組成物として適しているが、特にNi、Fe、Zn、Mg、Co又は特にCu及びAl、また、Si、酸化ケイ素及び窒化ケイ素のような金属のコーティングに極めて適しており、画像が像様の照射によりこれらに適用される。
本発明は、また、酸の作用下で架橋されうる組成物における光潜在性の酸供与体として及び/又は溶解度が酸の作用下で増加される組成物における溶解増強剤としての、式I、II若しくはIIIの化合物、又は式I、II及び/若しくはIIIの化合物から誘導される反復単位を含むポリマーの使用に関する。
本発明の主題は、更に、酸の作用下で架橋されうる化合物を架橋するプロセスであり、この方法は、式I、II若しくはIIIの化合物、又は式I、II及び/若しくはIIIの化合物から誘導される反復単位を含むポリマーを上記の組成物に加え、10〜1500nmの波長を有する光により像様式に又は全領域を照射することを含む。
本発明は、また、着色及び非着色表面コーティング、接着剤、積層接着剤、構造接着剤、感圧接着剤、印刷インク、印刷版、レリーフ印刷版、平版印刷版、凹版印刷版、プロセスレス印刷版、スクリーン印刷ステンシル、歯科組成物、カラーフィルター、スペーサー、エレクトロルミネセンスディスプレー及び液晶ディスプレー(LCD)、導波管、光スイッチ、カラー校正刷り系、レジスト、電子機器用フォトレジスト、電気めっきレジスト、液体及び乾燥膜の両方のためのエッチレジスト、はんだレジスト、UV及び可視レーザー直接画像化系のためのフォトレジスト材料、プリント回路基板の連続堆積層における誘電層の形成のためのフォトレジスト材料、画像記録材料、ホログラフ画像を記録するための画像記録材料、光学情報記憶又はホログラフデータ記憶、脱色材料、画像記録材料のための脱色材料、マイクロカプセルを使用する画像記録材料、磁気記録材料、マイクロメカニカル部品、めっきマスク、エッチマスク、ガラスファイバーケーブルコーティング、マイクロエレクトロニクス回路の調製における、感光性酸供与体としての、式I、II若しくはIIIの化合物又は式I、II及び/若しくはIIIの化合物から誘導される反復単位を含むポリマーの使用、特に、表面コーティング、印刷インク、印刷版、歯科組成物、カラーフィルター、レジスト又は画像記録材料若しくはホログラフ画像を記録するための画像記録材料の調製における、感光性酸供与体としての、式I、II若しくはIIIの化合物、又は式I、II及び/若しくはIIIの化合物から誘導される少なくとも1つの反復単位及び場合により式Vの群から選択されるエチレン性不飽和化合物から誘導される反復単位を含むポリマーの使用、並びに、着色及び非着色表面コーティング、接着剤、積層接着剤、構造接着剤、感圧接着剤、印刷インク、印刷版、レリーフ印刷版、平版印刷版、凹版印刷版、プロセスレス印刷版、スクリーン印刷ステンシル、歯科組成物、カラーフィルター、スペーサー、エレクトロルミネセンスディスプレー及び液晶ディスプレー(LCD)、導波管、光スイッチ、カラー校正刷り系、レジスト、電子機器用フォトレジスト、電気めっきレジスト、液体及び乾燥膜の両方のためのエッチレジスト、はんだレジスト、UV及び可視レーザー直接画像化系のためのフォトレジスト材料、プリント回路基板の連続堆積層における誘電層の形成のためのフォトレジスト材料、画像記録材料、ホログラフ画像を記録するための画像記録材料、光学情報記憶又はホログラフデータ記憶、脱色材料、画像記録材料のための脱色材料、マイクロカプセルを使用する画像記録材料、磁気記録材料、マイクロメカニカル部品、めっきマスク、エッチマスク、ガラスファイバーケーブルコーティング、マイクロエレクトロニクス回路の調製プロセス、特に、表面コーティング、印刷インク、印刷版、歯科組成物、カラーフィルター、レジスト又は画像記録材料若しくはホログラフ画像を記録するための画像記録材料の調製プロセスに関する。
本発明の主題は、また、カラーフィルター又は化学的に増幅されたレジスト材料の調製における、感光性酸供与体としての、式I、II若しくはIII又は式I、II及び/若しくはIIIの化合物から誘導される反復単位を含むポリマーの使用、並びにカラーフィルター又は化学的に増幅されたレジスト材料の調製プロセスである。
本発明は、更に、全て、感光性樹脂、及び顔料及び/又は染料を含む、赤色、緑色及び青色の画素及び黒色のマトリックスを透明な基材上に提供すること、並びに基材の表面又はカラーフィルター層の表面のいずれかに透明な電極を提供することにより調製され、前記感光性樹脂が、式I、II若しくはIIIの化合物又は式I、II及び/若しくはIIIの化合物から誘導される反復単位を含むポリマーを、感光性酸供与体として含む、カラーフィルターに関する。
当業者は、例えば、JP−A−9−203806、JP−A−10−282650、JP−A−10−333334、JP−A−11−194494、JP−A−10−203037、JP−A−2003−5371に示されているような、有色画素を提供するのに適切な顔料又は染料、並びに黒色マトリックス、及び対応する適切な樹脂について認識している。
既に上記に記載されているように、光架橋性組成物において、スルホネート誘導体が潜硬化触媒として作用する。光で照射されると酸を放出し、それは架橋反応を触媒する。加えて、放射により放出された酸は、例えば、ポリマー構造からの適切な酸感受性保護基の除去、又はポリマー主鎖に酸感受性基を含有するポリマーの開裂を触媒することができる。他の用途は、例えば、酸感受性保護基で保護されている顔料のpH又は溶解度の変化に基づいた、例えば、変色系である。
本発明のスルホネート誘導体は、例えば、JP−A−H4−328552又はUS5237059に記載されているように、化合物が、pHが変化すると色彩が変化する着色剤と一緒に使用される場合、いわゆる「プリントアウト(print out)」画像の生成に使用することもできる。そのような変色系は、熱又は放射線に感受性のある製品を監視するために、EP199672に従って使用することもできる。
変色に加えて、(EP648770、EP648817及びEP742255に記載されている)可溶性顔料分子の酸触媒脱保護の際に顔料結晶を沈殿させることが可能であり、これは、潜顔料前駆体の色彩が、沈殿した顔料結晶の色彩と異なる場合、例えばEP654711に記載のカラーフィルターの製造に使用することができるか、又はプリントアウト画像及び表示器の用途に使用することができる。
pH感受性染料又は潜顔料をスルホネート誘導体と組み合わせて使用する組成物は、ガンマ線、電子ビーム、UV若しくは可視光線のような電磁線の指示器、又は簡単な使い捨て線量計として使用することができる。特に、UV又はIR光のようなヒトの目に不可視の光では、そのような線量計が興味深い。
最後に、アルカリ性現像水溶液において可溶性が乏しいスルホネート誘導体は、光誘導変換により遊離酸にして現像液に可溶性にすることができ、それにより、これらを適切な皮膜形成樹脂と組み合わせて溶解度増強剤として使用することができる。
酸触媒により、したがって、本発明の、式I、II若しくはIIIの光潜在性の酸又は式I、II及び/若しくはIIIの化合物から誘導される反復単位を含むポリマーにより架橋することができる樹脂は、例えば、多官能価アルコール、又はヒドロキシ基含有アクリル及びポリエステル樹脂、又は部分的に加水分解されているポリビニルアセタール若しくはポリビニルアルコールと多官能価アセタール誘導体との混合物である。特定の条件下において、例えば、アセタール官能化樹脂の酸触媒自己縮合も可能である。
適切な酸硬化性樹脂は、一般に、その硬化を酸触媒により加速することができる全ての樹脂、例えばアミノプラスト又はフェノールレゾール樹脂である。これらの樹脂は、例えば、メラミン、尿素、エポキシ、フェノール、アクリル、ポリエステル及びアルキド樹脂であるが、特にアクリル、ポリエステル又はアルキド樹脂とメラミン樹脂との混合物である。また、含まれるものは、改質された表面コーティング樹脂、例えば、アクリル改質ポリエステル及びアルキド樹脂である。アクリル、ポリエステル及びアルキド樹脂という表現に網羅される樹脂の個別の種類の例は、例えば、Wagner, Sarx, Lackkunstharze (Munich, 1971), pp. 86-123 and pp. 229-238又はUllmann, Encyclopaedie der techn. Chemie, 4th Ed., Vol. 15 (1978), pp. 613-628又はUllmann’s Encyclopedia of Industrial Chemistry, Verlag Chemie, 1991, Vol. 18, p. 360 ff., Vol. A19, p. 371 ff.に記載されている。
コーティング用途において、表面コーティングは、好ましくはアミノ樹脂を含む。その例は、エーテル化または非エーテル化メラミン、尿素、グアニジン又はビウレット樹脂である。酸触媒は、メチル化又はブチル化メラミン樹脂(N−メトキシメチル−若しくはN−ブトキシメチル−メラミン)又はメチル化/ブチル化グリコールウリルのようなエーテル化アミノ樹脂を含む表面コーティングの硬化において特に重要である。他の樹脂組成物の例は、多官能価アルコール、又はヒドロキシ基含有アクリル及びポリエステル樹脂、又は部分的に加水分解されているポリビニルアセテート若しくはポリビニルアルコールと、3,4−ジヒドロ−2H−ピラン−2−カルボン酸の誘導体のような多官能価ジヒドロプロパニル誘導体との混合物である。ポリシロキサンも、酸触媒を使用して架橋することができる。これらのシロキサン基含有樹脂は、例えば、酸触媒加水分解により自己縮合することができるか、又は多官能価アルコール、ヒドロキシ基含有アクリル若しくはポリエステル樹脂、部分的に加水分解されているポリビニルアセタート、又はポリビニルアルコールのような樹脂の第二の成分と架橋できるかのいずれかである。この種類のポリシロキサンの重縮合は、例えば、J.J. Lebrun, H. Pode, Comprehensive Polymer Science, Vol. 5, p. 593, Pergamon Press, Oxford, 1989に記載されている。表面コーティングの調製に適切な他のカチオン重合性材料は、カチオン機構により重合されうるエチレン性不飽和化合物であり、例としては、ビニルエーテル、例えばメチルビニルエーテル、イソブチルビニルエーテル、トリメチロールプロパントリビニルエーテル、エチレングリコールジビニルエーテル;環状ビニルエーテル、例えば3,4−ジヒドロ−2−ホルミル−2H−ピラン(二量体アクロレイン)又は2−ヒドロキシメチル−3,4−ジヒドロ−2H−ピランの3,4−ジヒドロ−2H−ピラン−2−カルボン酸エステル;ビニルエステル、例としては酢酸ビニル及びステアリン酸ビニル;モノ−及びジオレフィン、例としてはa−メチルスチレン、N−ビニルピロリドン又はN−ビニルカルバゾールである。
特定の目的のため、重合性不飽和基を含むモノマー又はオリゴマー構成成分を有する樹脂混合物が使用される。そのような表面コーティングは、式I、II若しくはIIIの化合物、又は式I、II及び/若しくはIIIの化合物から誘導される反復単位を含むポリマーを使用して硬化することもできる。そのプロセスにおいて、ラジカル重合開始剤又は光開始剤を追加的に使用することができる。前者は加熱処理の際に不飽和基の重合を開始させ、後者はUV照射の際に重合を開始させる。
本発明は、また、下記:
(b)感光性酸供与体として、そして酸の作用によって溶解度を増加させる化合物として、式I、II及び/又はIIIの少なくとも1つの化合物、並びに/或いは、式I、II及び/又はIIIの化合物から誘導される少なくとも1つの反復単位及び式Vの群から選択されるエチレン性不飽和化合物から誘導される反復単位を含むポリマー
を含む組成物に関する。
本発明は、更に、下記:
(a)酸の作用で硬化する化合物、又はその溶解度が酸の作用で増加する化合物;並びに
(b)感光性酸供与体として、式I、II及び/又はIIIの少なくとも1つの化合物、及び/又は、式I、II及び/又はIIIの化合物から誘導される少なくとも1つの反復単位及び式Vの群から選択されるエチレン性不飽和化合物から誘導される反復単位を含むポリマー
を含む組成物に関する。
本発明によると、式I、II若しくはIIIの化合物又は式I、II及び/若しくはIIIの化合物から誘導される反復単位を含むポリマーは、更なる感光性酸供与体化合物(b1)、更なる光開始剤(d)、増感剤(e)及び/又は添加剤(c)と一緒に使用することができる。
適切な感光性酸供与体化合物(b1)、増感剤(e)及び添加剤(c)は上記に記載されている。
追加の光開始剤(d)の例は、ラジカル光開始剤、例としてはベンゾフェノン、アセトフェノン誘導体の種類からのものであり、例としては、α−ヒドロキシシクロアルキルフェニルケトン、ジアルコキシアセトフェノン、α−ヒドロキシ−若しくはα−アミノ−アセトフェノン、4−アロイル−1,3−ジオキソラン、ベンゾインアルキルエーテル及びベンジルケタール、フェニルグリオキサレート、二量体フェニルグリオキサレート、モノアシルホスフィンオキシド、ビスアシルホスフィンオキシド又はチタノセンである。特に適切な追加の光開始剤の例は、1−(4−ドデシルベンゾイル)−1−ヒドロキシ−1−メチル−エタン、1−(4−イソプロピルベンゾイル)−1−ヒドロキシ−1−メチル−エタン、1−ベンゾイル−1−ヒドロキシ−1−メチル−エタン、1−〔4−(2−ヒドロキシエトキシ)−ベンゾイル〕−1−ヒドロキシ−1−メチル−エタン、1−〔4−(アクリロイルオキシエトキシ)−ベンゾイル〕−1−ヒドロキシ−1−メチル−エタン、ジフェニルケトン、フェニル−1−ヒドロキシ−シクロヘキシルケトン、(4−モルホリノベンゾイル)−1−ベンジル−1−ジメチルアミノ−プロパン、(4−モルホリノベンゾイル)−1−(4−メチルベンジル)−1−ジメチルアミノ−プロパン、1−(3,4−ジメトキシフェニル)−2−ベンジル−2−ジメチルアミノ−ブタン−1−オン、(4−メチルチオベンゾイル)−1−メチル−1−モルホリノ−エタン、ベンジルジメチルケタール、ビス(シクロペンタジエニル)−ビス(2,6−ジフルオロ−3−ピリル−フェニル)チタン、オキソ−フェニル酢酸2−(2−ヒドロキシ−エトキシ)−エチルエステルオキソ−フェニル酢酸1−メチル−2−〔2−(2−オキソ−2−フェニル−アセトキシ)−プロポキシ〕−エチルエステル、トリメチルベンゾイルジフェニルホスフィンオキシド、トリメチルベンゾイルフェニルエトキシ−ホスフィンオキシドビス(2,6−ジメトキシ−ベンゾイル)−(2,4,4−トリメチル−ペンチル)−ホスフィンオキシド、ビス(2,4,6−トリメチルベンゾイル)−2,4−ジペンチルオキシフェニル−ホスフィンオキシド又はビス(2,4,6−トリメチルベンゾイル)フェニル−ホスフィンオキシドである。更なる適切な追加の光開始剤は、US4950581、第20欄、35行目から第21欄、35行目において見出される。他の例は、トリハロメチルトリアジン誘導体又はヘキサアリールビスイミダゾリル化合物である。追加の光開始剤の更なる例は、例えば、US4772530、EP775706、GB2307474、GB2307473及びGB2304472に記載されているホウ酸塩化合物である。ホウ酸塩化合物は、好ましくは、例えば染料カチオンのような電子受容体化合物又はチオキサントン誘導体と組み合わせて使用される。
追加の光開始剤の更なる例は、過酸化物化合物、例えば、過酸化ベンゾイル(他の適切な過酸化物はUS4950581、第19欄、17行目から25行目に記載されている)、又はカチオン性光開始剤、例えば、芳香族スルホニウム若しくはヨードニウム塩、例えば、US4950581、第18欄、60行目から第19欄、10行目に見られるもの、又はシクロペンタジエニル−アレーン−鉄(II)錯体塩、例えば、(η6−イソプロピルベンゼン)(η5−シクロペンタジエニル)−鉄(II)ヘキサフルオロホスフェートである。
表面コーティングは、有機溶媒又は水中の表面コーティング樹脂の溶液又は分散体であることができるが、溶媒なしであることもできる。特に興味深いものは、低溶媒含有量を有する表面コーティング、いわゆる「ハイソリッド表面コーティング」及び粉末コーティング組成物である。表面コーティングは、例えば、多層コーティング用の仕上ラッカーとして自動車産業において使用されるクリアラッカーであることができる。これらは、無機又は有機化合物であることができる顔料及び/又は充填剤、並びに金属効果仕上用の金属粉末を含むこともできる。
表面コーティングは、比較的少量の表面コーティング技術に慣用の特化された添加剤、例えば、流動性向上剤、チキソトロープ剤、均展剤、消泡剤、湿潤剤、定着剤、光安定剤、酸化防止剤又は増感剤を含むこともできる。
UV吸収剤、例えば、ヒドロキシフェニル−ベンゾトリアゾール、ヒドロキシフェニル−ベンゾフェノン、シュウ酸アミド又はヒドロキシフェニル−s−トリアジン型のものを、本発明の組成物に光安定剤として加えることができる。個別の化合物又はそれらの化合物の混合物は、立体障害アミン(HALS)を加えて、又は加えないで使用することができる。
そのようなUV吸収剤及び光安定剤の例は下記である:
1.2−(2′−ヒドロキシフェニル)−ベンゾトリアゾール類、例えば、2−(2′−ヒドロキシ−5′−メチルフェニル)−ベンゾトリアゾール、2−(3′,5′−ジ−tert−ブチル−2′−ヒドロキシフェニル)−ベンゾトリアゾール、2−(5′−tert−ブチル−2′−ヒドロキシフェニル)−ベンゾトリアゾール、2−(2′−ヒドロキシ−5′−(1,1,3,3−テトラメチルブチル)フェニル)−ベンゾトリアゾール、2−(3′,5′−ジ−t−ブチル−2′−ヒドロキシフェニル)−5−クロロ−ベンゾトリアゾール、2−(3′−tert−ブチル−2′−ヒドロキシ−5′−メチルフェニル)−5−クロロ−ベンゾトリアゾール、2−(3′−sec−ブチル−5′−tert−ブチル−2′−ヒドロキシフェニル)−ベンゾトリアゾール、2−(2′−ヒドロキシ−4′−オクチルオキシフェニル)−ベンゾトリアゾール、2−(3′,5′−ジ−tert−アミル−2′−ヒドロキシフェニル)−ベンゾトリアゾール、2−(3′,5′−ビス(a,a―ジメチルベンジル)−2′−ヒドロキシフェニル)−ベンゾトリアゾール、2−(3′−tert−ブチル−2′−ヒドロキシ−5′−(2−オクチロオキシカルボニルエチル)フェニル)−5−クロロ−ベンゾトリアゾールと、2−(3′−tert−ブチル−5′−〔2−(2−エチル−ヘキシルオキシ)−カルボニルエチル〕−2′−ヒドロキシフェニル)−5−クロロ−ベンゾトリアゾールと、2−(3′−tert−ブチル−2′−ヒドロキシ−5′−(2−メトキシカルボニルエチル)フェニル)−5−クロロ−ベンゾトリアゾールと、2−(3′−tert−ブチル−2′−ヒドロキシ−5′−(2−メトキシカルボニルエチル)フェニル)−ベンゾトリアゾールと、2−(3′−tert−ブチル−2′−ヒドロキシ−5′−(2−オクチルオキシカルボニルエチル)フェニル)−ベンゾトリアゾールと、2−(3′−tert−ブチル−5′−〔2−(2−エチルヘキシルオキシ)カルボニルエチル〕−2′−ヒドロキシフェニル)−ベンゾトリアゾールと、2−(3′−ドデシル−2′−ヒドロキシ−5′−メチルフェニル)−ベンゾトリアゾールと、2−(3′−tert−ブチル−2′−ヒドロキシ−5′−(2−イソオクチルオキシカルボニルエチル)フェニル−ベンゾトリアゾールとの混合物、2,2′−メチレン−ビス〔4−(1,1,3,3−テトラメチルブチル)−6−ベンゾトリアゾール−2−イル−フェノール〕;2−〔3′−tert−ブチル−5′−(2−メトキシカルボニルエチル)−2′−ヒドロキシ−フェニル〕−ベンゾトリアゾールとポリエチレングリコール300とのエステル交換生成物;〔R−CHCH−COO(CH−(ここで、R=3′−tert−ブチル−4′−ヒドロキシ−5′−2H−ベンゾトリアゾール−2−イルフェニル)。
2.2−ヒドロキシベンゾフェノン類、例えば、4−ヒドロキシ、4−メトキシ、4−オクチルオキシ、4−デシルオキシ、4−ドデシルオキシ、4−ベンジルオキシ、4,2′,4′−トリヒドロキシ又は2′−ヒドロキシ−4,4′−ジメトキシ誘導体。
3.非置換か又は置換されている安息香酸のエステル類、例えば、4−tert−ブチル−フェニルサリチレート、フェニルサリチレート、オクチルフェニルサリチレート、ジベンゾイルレゾルシノール、ビス(4−tert−ブチルベンゾイル)レゾルシノール、ベンゾイルレゾルシノール、3,5−ジ−tert−ブチル−4−ヒドロキシ安息香酸2,4−ジ−tert−ブチルフェニルエステル、3,5−ジ−tert−ブチル−4−ヒドロキシ安息香酸ヘキサデシルエステル、3,5−ジ−tert−ブチル−4−ヒドロキシ安息香酸オクタデシルエステル、3,5−ジ−tert−ブチル−4−ヒドロキシ安息香酸2−メチル−4,6−ジ−tert−ブチルフェニルエステル。
4.アクリレート類、例えば、a−シアノ−b,b−ジフェニルアクリル酸エチルエステル又はイソオクチルエステル、a−カルボメトキシ−ケイ皮酸メチルエステル、a−シアノ−b−メチル−p−メトキシ−ケイ皮酸メチルエステル又はブチルエステル、a−カルボメトキシ−p−メトキシ−ケイ皮酸メチルエステル、N−(b−カルボメトキシ−b−シアノビニル)−2−メチル−インドリン。
5.立体障害アミン類、例えば、ビス(2,2,6,6−テトラメチル−ピペリジル)セバケート、ビス(2,2,6,6−テトラメチル−ピペリジル)スクシネート、ビス(1,2,2,6,6−ペンタメチルピペリジル)セバケート、n−ブチル−3,5−ジ−tert−ブチル−4−ヒドロキシベンジル−マロン酸ビス(1,2,2,6,6−ペンタメチルピペリジル)エステル、1−ヒドロキシエチル−2,2,6,6−テトラメチル−4−ヒドロキシピペリジンとコハク酸の縮合物、N,N′−ビス(2,2,6,6−テトラメチル−4−ピペリジル)ヘキサメチレンジアミンと4−tert−オクチルアミノ−2,6−ジクロロ−1,3,5−s−トリアジンの縮合物、トリス(2,2,6,6−テトラメチル−4−ピペリジル)ニトリロトリアセテート、テトラキス(2,2,6,6−テトラメチル−4−ピペリジル)−1,2,3,4−ブタンテトラオエート、1,1′−(1,2−エタンジイル)−ビス(3,3,5,5−テトラメチル−ピペラジノン)、4−ベンゾイル−2,2,6,6−テトラメチルピペリジン、4−ステアリルオキシ−2,2,6,6−テトラメチルピペリジン、ビス(1,2,2,6,6−ペンタメチルピペリジル)−2−n−ブチル−2−(2−ヒドロキシ−3,5−ジ−tert−ブチルベンジル)マロネート、3−n−オクチル−7,7,9,9−テトラメチル−1,3,8−トリアザスピロ〔4.5〕デカン−2,4−ジオン、ビス(1−オクチルオキシ−2,2,6,6−テトラメチルピペリジル)セバケート、ビス(1−オクチルオキシ−2,2,6,6−テトラメチルピペリジル)スクシネート、N,N′−ビス(2,2,6,6−テトラ−メチル−4−ピペリジル)ヘキサメチレンジアミンと4−モルホリノ−2,6−ジクロロ−1,3,5−トリアジンの縮合物、2−クロロ−4,6−ジ(4−n−ブチルアミノ−2,2,6,6−テトラメチルピペリジル)−1,3,5−トリアジンと1,2−ビス(3−アミノプロピルアミノ)エタンの縮合物、2−クロロ−4,6−ジ(4−n−ブチルアミノ−1,2,2,6,6−ペンタメチルピペリジル)−1,3,5−トリアジンと1,2−ビス(3−アミノプロピルアミノ)エタンの縮合物、8−アセチル−3−ドデシル−7,7,9,9−テトラメチル−1,3,8−トリアザスピロ〔4.5〕デカン−2,4−ジオン、3−ドデシル−1−(2,2,6,6−テトラメチル−4−ピペリジル)ピロリジン−2,5−ジオン、3−ドデシル−1−(1,2,2,6,6−ペンタメチル−4−ピペリジル)−ピロリジン−2,5−ジオン。
6.シュウ酸ジアミド類、例えば、4,4′−ジオクチルオキシ−オキサニリド、2,2′−ジエトキシ−オキサニリド、2,2′−ジ−オクチルオキシ−5,5′−ジ−tert−ブチル−オキサニリド、2,2′−ジドデシルオキシ−5,5′−ジ−tert−ブチル−オキサニリド、2−エトキシ−2′−エチル−オキサニリド、N,N′−ビス(3−ジメチルアミノプロピル)オキサルアミド、2−エトキシ−5−tert−ブチル−2′−エチルオキサニリド及びこれと2−エトキシ−2′−エチル−5,4′−ジ−tert−ブチル−オキサニリドとの混合物、o−とp−メトキシ−ジ−置換オキサニリドの混合物及びo−とp−エトキシ−ジ−置換オキサニリドの混合物。
7.2−(2−ヒドロキシフェニル)−1,3,5−トリアジン類、例えば、2,4,6−トリス(2−ヒドロキシ−4−オクチルオキシフェニル)−1,3,5−トリアジン、2−(2−ヒドロキシ−4−オクチルオキシフェニル)−4,6−ビス(2,4−ジメチルフェニル)−1,3,5−トリアジン、2−(2,4−ジヒドロキシフェニル)−4,6−ビス(2,4−ジメチルフェニル)−1,3,5−トリアジン、2,4−ビス(2−ヒドロキシ−4−プロピルオキシ−フェニル)−6−(2,4−ジメチルフェニル)−1,3,5−トリアジン、2−(2−ヒドロキシ−4−オクチルオキシフェニル)−4,6−ビス(4−メチルフェニル)−1,3,5−トリアジン、2−(2−ヒドロキシ−4−ドデシルオキシフェニル)−4,6−ビス(2,4−ジメチルフェニル)−1,3,5−トリアジン、2−〔2−ヒドロキシ−4−(2−ヒドロキシ−3−ブチルオキシ−プロピルオキシ)フェニル〕−4,6−ビス(2,4−ジメチル−フェニル)−1,3,5−トリアジン、2−〔2−ヒドロキシ−4−(2−ヒドロキシ−3−オクチルオキシ−プロピルオキシ)フェニル〕−4,6−ビス(2,4−ジメチルフェニル)−1,3,5−トリアジン、2−〔4−ドデシル−/トリデシル−オキシ−(2−ヒドロキシプロピル)オキシ−2−ヒドロキシ−フェニル〕−4,6−ビス(2,4−ジメチルフェニル)−1,3,5−トリアジン。
8.ホスファイト類及びホスホナイト類、例えば、トリフェニルホスファイト、ジフェニルアルキルホスファイト、フェニルジアルキルホスファイト、トリス(ノニルフェニル)ホスファイト、トリラウリルホスファイト、トリオクタデシルホスファイト、ジステアリル−ペンタエリトリトールジホスファイト、トリス(2,4−ジ−tert−ブチルフェニル)ホスファイト、ジイソデシルペンタエリトリトールジホスファイト、ビス(2,4−ジ−tert−ブチルフェニル)ペンタエリトリトールジホスファイト、ビス(2,6−ジ−tert−ブチル−4−メチルフェニル)ペンタエリトリトールジホスファイト、ビス−イソデシルオキシ−ペンタエリトリトールジホスファイト、ビス(2,4−ジ−tert−ブチル−6−メチルフェニル)ペンタエリトリトールジホスファイト、ビス−(2,4,6−トリ−tert−ブチルフェニル)ペンタエリトリトールジホスファイト、トリステアリル−ソルビトールトリホスファイト、テトラキス(2,4−ジ−tert−ブチルフェニル)−4,4′−ビフェニレンジホスファイト、6−イソオクチルオキシ−2,4,8,10−テトラ−tert−ブチル−12H−ジベンゾ〔d,g〕−1,3,2−ジオキサホスホシン、6−フルオロ−2,4,8,10−テトラ−tert−ブチル−12−メチル−ジベンゾ〔d、g〕−1,3,2−ジオキサホスホシン、ビス(2,4−ジ−tert−ブチル−6−メチルフェニル)メチルホスファイト、ビス(2,4−ジ−tert−ブチル−6−メチルフェニル)エチルホスファイト。
このような光安定剤を、例えば、隣接する表面コーティング層に加えることができ、そこから、保護される焼付ラッカーの層に徐々に拡散する。隣接する表面コーティング層は、焼付ラッカーの下の下塗り又は焼付ラッカーの上の仕上ラッカーであることができる。
例えば、スペクトル感受性をシフト又は増加させ、照射時間を短縮することができる、及び/又は他の光源を使用できるようにする光増感剤を樹脂に加えることも可能である。光増感剤の例は、芳香族ケトン又は芳香族アルデヒド(例えば、US4017652に記載されている)、3−アシル−クマリン(例えば、US4366228、EP738928、EP22188に記載されている)、ケト−クマリン(例えば、US5534633、EP538997、JP8272095−Aに記載されている)、スチリル−クマリン(例えば、EP624580に記載されている)、3−(アロイルメチレン)−チアゾリン、チオキサントン、ペリレンのような縮合芳香族化合物、芳香族アミン(例えば、US4069954又はWO96/41237に記載されている)、又はカチオン性及び塩基性の着色剤(例えば、US4026705に記載されている)、例えばエオシン、ローダニン及びエリトロシン着色剤、ならびに例えば、JP8320551−A、EP747771、JP7036179−A、EP619520、JP6161109−A、JP6043641、JP6035198−A、WO93/15440、EP568993、JP5005005−A、JP5027432−A、JP5301910−A、JP4014083−A、JP4294148−A、EP359431、EP103294、US4282309、EP39025、EP5274、EP727713、EP726497又はDE2027467に記載されている染料及び顔料である。
他の慣用の添加剤は、意図される使用に応じて、蛍光増白剤、充填剤、顔料、着色剤、湿潤剤又は流動性向上剤及び定着剤である。
厚みがあり、着色されたコーティングを硬化するには、US5013768に記載されているように、マイクロガラスビーズ又は粉末ガラス繊維を加えることが適している。
スルホネート誘導体を、例えば、ハイブリッド系に使用することもできる。これらの系は、2つの異なる反応機構により完全に硬化される配合物に基づいている。その例は、酸触媒架橋反応又は重合反応を受けることのできる成分を含むが、第二の機構により架橋される更なる成分も含む系である。第二の機構の例は、ラジカル完全硬化、酸化架橋又は湿度開始架橋である。第二の硬化機構を、純粋に熱的に、必要であれば適切な触媒を用いて開始することができるか、又は第二の光開始剤を使用して光により開始することもできる。適切な追加の光開始剤は、上記に記載されている。
組成物がラジカル架橋性成分を含む場合、特に、着色された(例えば、二酸化チタンにより)組成物の硬化処理を、熱条件下でラジカル形成する成分、例えば、2,2′−アゾビス(4−メトキシ−2,4−ジメチルバレロニトリル)のようなアゾ化合物、トリアジン、ジアゾスルフィド、ペンタアザジエン、又は例えばヒドロペルオキシド若しくはペルオキシカルボネートのようなペルオキシ化合物、例としては、例えばEP245639に記載されているtert−ブチルヒドロペルオキシドを加えることにより助けることもできる。コバルト塩のようなレドックス開始剤を加えると、空気中の酸素を用いる酸化架橋により硬化を助けることができる。
表面コーティングは当該技術に慣用の方法のうちの1つ、例えば、噴霧、塗布又は浸漬により適用することができる。適切な表面コーティングが使用される場合、例えば陽極電気泳動塗装による電気的適用も可能である。乾燥させた後、表面コーティング膜を照射する。必要であれば、次に表面コーティング膜を熱処理により完全に硬化させる。
式I、II若しくはIIIの化合物、又は式I、II及び/若しくはIIIの化合物から誘導される反復単位を含むポリマーを、複合材料から製造されている成形品の硬化に使用することもできる。複合材料は、光硬化配合物で含浸されている自立マトリックス材料、例えば、ガラス繊維織物からなる。
スルホネート誘導体を、ガラス、アルミニウム及びスチール表面の表面処理及び清浄に適している組成物において、光により活性化されうる酸発生剤として使用できることが、EP592139により知られている。そのような化合物をオルガノシラン系に使用すると、遊離酸を使用する場合に得られるものよりも著しく良好な保存安定性を有する組成物をもたらす。式I、II若しくはIIIの化合物、又は式I、II及び/若しくはIIIの化合物から誘導される反復単位を含むポリマーは、この用途にも適している。
本発明のスルホネート誘導体は、酸誘導変換を受けるポリマーを、フォトリソグラフィーを使用して必要な特性を有する状態にすることに使用することもできる。例えば、スルホネート誘導体は、例えばM.L. Renak; C. Bazan; D. Roitman; Advanced materials 1997, 9, 392に記載されているように、共役放射ポリマーにパターン形成するために使用することができる。そのようなパターン化放射ポリマーは、ディスプレー及びデータ記憶媒体の製造に使用することができるマイクロスカラーパターン化発光ダイオード(LED)を製造するために使用することができる。同様に、ポリイミドの前駆体(例えば、現像液において溶解度を変化させる酸不安定保護基を有するポリイミド前駆体)を照射して、パターン化ポリイミド層を形成することができ、それは、マイクロチップ及びプリント回路基板の製造における保護コーティング、絶縁層及び緩衝層として役立つことができる。
本発明の配合物は、プリント回路基板のための連続堆積系、集積回路の製造のための圧力緩衝層において使用されるので、相似コーティング、光画像形成性絶縁層及び誘電体として使用してすることもできる。
例えばポリアニリンのような共役ポリマーを、プロトンドープにより半導性から伝導性状態に変換できることが知られている。本発明のスルホネート誘導体を、絶縁材料(非暴露領域)に埋め込まれた伝導構造(暴露領域)を形成するため、そのような共役ポリマーを含む組成物を像様式に照射するのに使用することもできる。これらの材料は、電気及び電子デバイスを製造する配線又は接続部品として使用することができる。
式I、II若しくはIIIの化合物又は式I、II及び/若しくはIIIの化合物から誘導される反復単位を含むポリマーを含む組成物に適切な放射源は、波長がおよそ150〜1500、例えば180〜1000、又は好ましくは190〜700ナノメータの放射線を放射する放射線源、並びにe−ビーム放射線及びX線のような高エネルギー電磁線である。点光源及び平面投光器(ランプカーペット)の両方が適している。例は、カーボンアーク灯、キセノンアーク灯、中圧、高圧及び低圧水銀灯、場合により金属ハロゲン化物でドープされているもの(メタルハライドランプ)、マイクロ波励起金属蒸気灯、エキシマーランプ、超化学線蛍光管、蛍光灯、アルゴン白熱電球、電子閃光電球、写真投光照明、シンクロトロン又はレーザープラズマにより発生する電子ビーム及びX線ビームである。放射線源と照射される本発明の基材との距離は、意図される使用、並びに放射線源の種類及び/又は強度により、例えば2cm〜150cmに変わることができる。適切な放射線源は、特に、所望であれば放射線から他の波長の輝線を取り除くことのできる水銀蒸気灯、特に中圧及び高圧水銀灯である。これは特に比較的に短い波長の放射線の場合である。しかし、適した波長範囲で放射できる低エネルギーランプ(例えば、蛍光管)を使用することも可能である。その例は、Philips TL03ランプである。使用することができる他の種類の放射線源は、小帯域放射源又は大帯域(白色光)源のいずれかとして、全スペクトルを通して異なる波長を放射する発光ダイオード(LED)である。また、適切なものは、レーザー放射線源、例えばエキシマーレーザーであり、例としては、248nmで照射するKr−Fレーザー、193nmで照射するAr−Fレーザー又は157nmで照射するF2レーザーである。可視領域及び赤外領域のレーザーを使用することもできる。特に適切なものは、365、405及び436ナノメータの波長の水銀i、h及びg線の放射線である。光源としては、更に、13nmのEUV(極紫外)も適している。適切なレーザー光線源は、例えば、454、458、466、472、478、488及び514ナノメータの波長で放射線を放射するアルゴンイオンレーザーである。1064nmで発光するNd−YAGレーザー、並びにその第二及び第三高調波(それぞれ532nm及び355nm)を使用することもできる。また、適切なものは、例えば、442nmで放射するヘリウム/カドミウムレーザー又はUV領域で放射するレーザーである。この種類の照射では、光重合性コーティングと接触してポジティブ又はネガティブレジストを製造するフォトマスクの使用は絶対に必要なことではなく、制御されたレーザー光線により、コーティングに直接書き込むことができる。この目的のためには、本発明の材料の高い感受性が非常に有利であり、比較的に低い強度で速い書き込み速度を可能にする。照射すると、表面コーティングの照射部分における組成物中のスルホネート誘導体が分解して、酸を形成する。
高い強度の放射線による慣用のUV硬化と対照的に、本発明の化合物を用いると、活性化は比較的に低い強度の放射線の作用により達成される。そのような放射線には、例えば、昼光(日光)及び昼光と同等の放射線源が含まれる。日光は、UV硬化に慣用的に使用される人工放射線源の光とスペクトル組成及び強度が異なる。本発明の化合物の吸収特性は、硬化のために天然放射線源として日光を利用するには好適である。本発明の化合物を活性化するのに使用できる昼光同等人工光源は、低強度の投光器、例えば、Philips TL05特殊蛍光灯又はPhilips TL09特殊蛍光灯のような特定の蛍光灯であることが理解される。高昼光含有量を有するランプ及び昼光自体は、特に、十分に不粘着になるように表面コーティング層の表面を硬化することができる。この場合、高価な硬化装置は不必要であり、組成物は特に外面の仕上げに使用することができる。昼光又は昼光同等光源による硬化は、省エネルギー型の方法であり、外面の塗装において揮発性有機成分の放出を防止する。平面部品に適しているコンベアベルト法と対照的に、昼光硬化は、静止又は固定物品及び構造物の外面仕上げに使用することもできる。
硬化される表面コーティングを、日光又は昼光同等光源に直接暴露することができる。しかし硬化は、透明層(例えば、ガラスパネル又はプラスチックシート)の後側で実施することもできる。
下記の実施例は本発明をより詳細に説明する。記載の残りの部分及び請求項において、部及び百分率は、特に記述のない限り重量に基づいている。炭素原子を3個より多く有するアルキルラジカルが、特定の異性体の記載がなく言及される場合、それぞれの場合でn−異性体を意味する。
実施例1:
Figure 2009541254
1.1:
Figure 2009541254
酢酸2−フェノキシエチルエステル10g(55.5mmol)を、CHCl 60mlに加え、氷浴で冷却した。溶液に、AlCl 25.9g(194mmol)を加え、続いて5H−オクタフルオロペンタノイルクロリド13.7g(55.5mmol)を滴加した。反応混合物を室温で一晩撹拌し、氷水に注ぎ、CHClで抽出した。有機相を水で洗浄し、MgSOで乾燥し、濃縮した。残渣を、溶離剤として酢酸エチル/ヘキサン(1:9)を使用するカラムクロマトグラフィーにより精製して、実施例1.1の標記化合物を無色の液体として得た。構造をH−NMRスペクトル(CDCl)により確認した。δ〔ppm〕:2.10(s,3H),4.28(t,2H),4.46(t,2H),6.16(tt,1H),7.01(d,2H),8.08(d,2H)。
1.2:
Figure 2009541254
実施例1.2の化合物14.5g(35.5mmol)をエタノール80mlに溶解した。溶液に、ヒドロキシアンモニウムクロリド5.92g(85.2mmol)及びピリジン16.9g(213mmol)を加えた。反応混合物を一晩還流し、溶媒をロータリーエバポレーターで留去した。残渣を水に注ぎCHClで抽出した。有機相を1N HCl、水、ブラインで洗浄し、MgSOで乾燥した。MgSOを濾過により除去した後、1M HCl/CHCOH 35mlを溶液に加え、室温で一晩撹拌した。反応混合物を水及びブラインで洗浄し、MgSOで乾燥し、濃縮した。生成物を更に精製することなく次の工程に使用した。構造をH−NMR及び19F−NMRスペクトル(CDCl)により確認した。δ〔ppm〕:2.10(s,3H),4.21(t,2H),4.44(t,2H),6.05(tt,1H),6.98(d,2H),7.37(d,2H),8.82(br s,1H),−137.74(d,2F),−129.71(s,2F),−122.68(s,2F),−110.61(s,2F)。スペクトルは、化合物が単一の異性体であることを示し、これを仮にE−配座と呼んだ。
1.3:
Figure 2009541254
実施例1.2の化合物10.3g(24.3mmol)をメタノール80mlに溶解した。溶液に、炭酸カリウム1.68g(12.2mmol)を加えた。反応混合物を室温で1.5時間撹拌し、水に注ぎ、CHClで抽出した。有機相を1N HCl及び水で洗浄し、MgSOで乾燥し、濃縮した。残渣を、溶離剤として酢酸エチル/ヘキサン(1:3)を使用するカラムクロマトグラフィーにより精製して、実施例1.3の標記化合物を無色の液体として得た。構造をH−NMR及び19F−NMRスペクトル(CDCl)により確認した。δ〔ppm〕:4.00(s,2H),4.12(t,2H),6.05(tt,1H),6.98(d,2H),7.36(d,2H),9.17(s,1H),−137.79(d,2F),−129.74(s,2F),−122.65(s,2F),−110.52(s,2F)。スペクトルは、化合物が単一の異性体であることを示し、これを仮にE−配座と呼んだ。
1.4:
Figure 2009541254
実施例1.3の化合物5.7g(15.0mmol)をCHCl 30mlに溶解し、氷浴で冷却した。溶液に、2.6−ルチジン2.41g(22.5mmol)を加え、続いてノナフルオロブタンスルホン酸無水物10.5g(18.0mmol)を滴加した。反応混合物を室温で3時間撹拌し、氷水に注ぎ、CHClで抽出した。有機相を1N HCl及び水で洗浄し、MgSOで乾燥し、濃縮した。残渣を、溶離剤として酢酸エチル/ヘキサン(1:3)を使用するカラムクロマトグラフィーにより精製して、実施例1.4の標記化合物を白色の固体として得た。構造をH−NMR及び19F−NMRスペクトル(CDCl)により確認した。δ〔ppm〕:4.01(m,2H),4.16(t,2H),6.06(tt,1H),7.05(d,2H),7.36(d,2H),−137.64(d,2F),−129.05(s,2F),−126.21(s,2F),−122.15(s,2F),−121.52(s,2F),−110.29(s,2F),−107.44(s,2F),−81.10(s,3F)。スペクトルは、化合物が単一の異性体であることを示し、これを仮にE−配座と呼んだ。
1.5:
Figure 2009541254
実施例1.4の化合物4.7g(7.13mmol)をCHCl 30mlに溶解し、氷浴で冷却した。溶液に、塩化メタクリロイル0.89g(8.55mmol)を加え、続いてトリエチルアミン0.94g(9.27mmol)を滴加した。反応混合物を0℃で1時間撹拌し、氷水に注ぎ、CHClで抽出した。有機相を1N HCl及び水で洗浄し、MgSOで乾燥し、濃縮した。残渣を、溶離剤として酢酸エチル/ヘキサン(1:9)を使用するカラムクロマトグラフィーにより精製して、実施例1.5の標記化合物を無色の液体として得た。構造をH−NMR及び19F−NMRスペクトル(CDCl)により確認した。δ〔ppm〕:1.95(s,3H),4.30(t,2H),4.53(t,2H),5.60(s,1H),6.06(tt,1H),6.13(s,1H),7.04(d,2H),7.36(d,2H),−137.63(d,2F),−129.08(s,2F),−126.23(s,2F),−122.17(s,2F),−121.54(s,2F),−110.34(s,2F),−107.45(s,2F),−81.14(s,3F)。スペクトルは、化合物が単一の異性体であることを示し、これを仮にE−配座と呼んだ。
実施例2〜11:
実施例2〜11の化合物は、対応する抽出物を使用し、実施例1に記載された方法に従って得た。生成物の構造及び物理データを表1に提示する。
Figure 2009541254

Figure 2009541254

Figure 2009541254
実施例12:(EAMA/BLMA/HMA/実施例1=40:40:20:2)
Figure 2009541254
2−エチル−2−アダマンチルメタクリレート(EAMA)14.9g(60mmol)、ガンマ−ブチロラクトンメタクリレート(BLMA)10.2g(60mmol)、3−ヒドロキシ−1−アダマンチルメタクリレート(HMA)7.1g(30mmol)、実施例1 2.19g(3mmol)及びWako Pure Chemical Industries, Ltd.により製造された重合開始剤V-601 3.5g(15mmol)を、THF 300mlに溶解し、次に重合を、還流条件下、窒素雰囲気下で3時間実施した。重合溶液をヘキサンに注いで、白色の沈殿物を生じた。白色の粉末を濾過し、THFに再び溶解し、CHOH/HO溶液に再沈殿させ、濾過し、真空下で乾燥した。ポリスチレン標準を使用するGPC測定によると、得られたポリマーの重量平均分子量(Mw)及び数平均分子量(Mn)は、それぞれ8700及び4800であった。
実施例13:(EAMA/BLMA/HMA/実施例1=40:40:20:5)
Figure 2009541254
EAMA 14.9g(60mmol)、BLMA 10.2g(60mmol)、HMA 7.1g(30mmol)、実施例1 5.5g(7.5mmol)及びWako Pure Chemical Industries, Ltd.により製造された重合開始剤V-601 3.5g(15mmol)を、THF 300mlに溶解し、次に重合を、還流条件下、窒素雰囲気下で3時間実施した。重合溶液をヘキサンに注いで、白色の沈殿物を生じた。白色の粉末を濾過し、THFに再び溶解し、CHOH/HO溶液に再沈殿させ、濾過し、真空下で乾燥した。ポリスチレン標準を使用するGPC測定によると、得られたポリマーの重量平均分子量(Mw)及び数平均分子量(Mn)は、それぞれ9800及び5300であった。
実施例14:(EAMA/BLMA/HMA/実施例1=40:20:40:2)
Figure 2009541254
EAMA 24.8g(100mmol)、BLMA 9.6g(50mmol)、HMA 23.6g(100mmol)、実施例1 3.66g(5mmol)及びWako Pure Chemical Industries, Ltd.により製造された重合開始剤V-601 5.8g(25mmol)を、THF 300mlに溶解し、次に重合を、還流条件下、窒素雰囲気下で3時間実施した。重合溶液をヘキサンに注いで、白色の沈殿物を生じた。白色の粉末を濾過し、THFに再び溶解し、CHOH/HO溶液に再沈殿させ、濾過し、真空下で乾燥した。ポリスチレン標準を使用するGPC測定によると、得られたポリマーの重量平均分子量(Mw)及び数平均分子量(Mn)は、それぞれ9900及び5600であった。
実施例15:(EAMA/BLMA/HMA/実施例1=40:20:40:5)
Figure 2009541254
EAMA 24.8g(100mmol)、BLMA 9.6g(50mmol)、HMA 23.6g(100mmol)、実施例1 9.1g(12.5mmol)及びWako Pure Chemical Industries, Ltd.により製造された重合開始剤V-601 5.8g(25mmol)を、THF 300mlに溶解し、次に重合を、還流条件下、窒素雰囲気下で3時間実施した。重合溶液をヘキサンに注いで、白色の沈殿物を生じた。白色の粉末を濾過し、THFに再び溶解し、CHOH/HO溶液に再沈殿させ、濾過し、真空下で乾燥した。ポリスチレン標準を使用するGPC測定によると、得られたポリマーの重量平均分子量(Mw)及び数平均分子量(Mn)は、それぞれ11000及び6200であった。
実施例16:(EAMA/BLMA/HMA/実施例2=40:20:40:5)
Figure 2009541254
EAMA 2.48g(10mmol)、BLMA 0.96g(5mmol)、HMA 2.36g(10mmol)、実施例2 0.79g(1.25mmol)及びWako Pure Chemical Industries, Ltd.により製造された重合開始剤V-601 0.58g(2.5mmol)を、THF 30mlに溶解し、次に重合を、還流条件下、窒素雰囲気下で3時間実施した。重合溶液をヘキサンに注いで、白色の沈殿物を生じた。白色の粉末を濾過し、THFに再び溶解し、CHOH/HO溶液に再沈殿させ、濾過し、真空下で乾燥した。ポリスチレン標準を使用するGPC測定によると、得られたポリマーの重量平均分子量(Mw)及び数平均分子量(Mn)は、それぞれ12000及び7300であった。
実施例17:(EAMA/BLMA/HMA/実施例2=40:40:20:5)
Figure 2009541254
EAMA 3.68g(14.8mmol)、BLMA 2.51g(14.8mmol)、HMA 1.45g(7.4mmol)、実施例2 1.17g(1.85mmol)及びWako Pure Chemical Industries, Ltd.により製造された重合開始剤V-601 0.86g(3.7mmol)を、THF 45mlに溶解し、次に重合を、還流条件下、窒素雰囲気下で3時間実施した。重合溶液をヘキサンに注いで、白色の沈殿物を生じた。白色の粉末を濾過し、THFに再び溶解し、CHOH/HO溶液に再沈殿させ、濾過し、真空下で乾燥した。ポリスチレン標準を使用するGPC測定によると、得られたポリマーの重量平均分子量(Mw)及び数平均分子量(Mn)は、それぞれ9700及び5200であった。
実施例18〜31:
実施例18〜31の化合物は、対応する抽出物を使用し、実施例12に記載された方法に従って得た。生成物の構造及び分子量を表2に提示する。
Figure 2009541254

Figure 2009541254

Figure 2009541254
実施例32:
ポジティブ型フォトレジスト組成物は、表3に示された成分を混合及び溶解することによって調製した。それぞれのポジティブトーンフォトレジスト組成物では、以下に開示された手順によりレジストパターンを形成することによってリソグラフィー特性について評価した。
Figure 2009541254

(c)−1:トリ(n−ペンチル)アミン
(s)−1:溶媒のPGMEAとPGME(重量比8:2)の混合物
(s)−2:溶媒のPGMEAとPGME(重量比6:4)の混合物
〔〕内の数字は、重量部で表した成分の量を示す
8インチの半導体シリコンウエハーに、反射防止コーティング用有機化合物のARC29A(商標)(Brewer Science)を含む組成物を、スピナーを使用してコーティングし、続いて、ホットプレートにより205℃で60秒間乾燥及び焼き付け処理をして、77nmの厚さを有する反射防止コーティングを形成した。コーティングに、ポジティトーンレジスト組成物を、スピナーを使用して被覆し、続いてホットプレートにより、表3に提示したPAB温度で60秒間乾燥及び後適用焼き付け処理をして、150nmの厚さを有するフォトレジスト層を形成した。フォトレジスト層を、マスクパターン(6%ハーフトーンレチクル)を通して、ArF暴露機械NSR-S302(Nikon Co.により製造;NA(開口数)=0.60、2/3環状照明)により、波長193nmのArFエキシマーレーザー光線に像様式に暴露した。
次に層を、表4に提示したPEB温度でホットプレートにより60秒間後暴露焼き付けし、2.38重量%の水酸化テトラメチルアンモニウム水溶液により23℃で30秒間現像し、続いて水で30秒間すすぎ、乾燥して、レジストパターンを形成した。
感受性
1:1ライン及びスペースのレジストパターン(L/Sパターン)を形成するために、L/Sパターン(ライン幅:120nm、ピッチ:240nm)に最適な暴露線量を決定した(感光性:Eop、mJ/cm)。
解像度
フォトレジストの微細形状は、前記のEop決定におけるマスクパターンのサイズを変えることによって決定した。
Figure 2009541254
上記に記載された結果から明らかなように、超微細レジストパターンを、実施例32に記載されたポジティトーンフォトレジスト組成物により形成できることが確認された。
浸出物の測定
ポジティブ型フォトレジスト組成物は、表5に示された成分を混合及び溶解することによって調製した。
Figure 2009541254

(a)−1:2−メタクリロイルオキシ−2−エチルアダマンタン/アルファ−メタクリロイルオキシ−ガンマ−ブチロラクトン/1−メタクリロイルオキシ−3−ヒドロキシアダマンタン(モル比4:4:2、Mw=10000、Mn=5600)のコポリマー
(b)−1:4−メチルフェニルジフェニルスルホニウムノナフルオロ−n−ブタンスルホネート
(s)−2:溶媒のPGMEAとPGME(重量比6:4)の混合物
レジストフィルムは、ポジティブ型フォトレジスト配合物10〜12及び比較配合物1を用いて上記に記載した方法に従って調製した。次に一滴の純水(50μL)を、VRC310S(S. E. S. Co. Ltd.から入手可能)により、室温で一定の線速度の円運動によってウエハーの中心から動かした。液滴が接触したレジストフィルムの総接触領域は、221.56cmであった。
次に、液滴を収集し、Agilent-HP1100 LC-MSD(Agilent Technologies Inc.から入手可能)により分析して、暴露前のレジストフィルムの浸出物の量(mol/cm)を決定した。
結果を表6にまとめた。
Figure 2009541254
配合物10〜12の浸出物の量は、比較配合物1よりもはるかに少なかった。したがって、本発明のポジティブ型フォトレジスト組成物は、浸漬暴露において浸出を抑制することができるので、浸漬暴露に適していることが見出された。

Claims (26)

  1. 式I、II又はIII:
    Figure 2009541254

    〔式中、
    は、C〜C18アルキルスルホニル、C〜C10ハロアルキルスルホニル、C〜C12アルケニルスルホニル、C〜C12アルキニルスルホニル、C〜C30シクロアルキルスルホニル、1つ以上のOで割り込まれているC〜C18アルキルスルホニル、又は1つ以上のOで割り込まれているC〜C10ハロアルキルスルホニルであり;
    ここで、基C〜C18アルキルスルホニル、C〜C10ハロアルキルスルホニル、C〜C12アルケニルスルホニル、C〜C12アルキニルスルホニル、C〜C30シクロアルキルスルホニル、割り込まれたC〜C18アルキルスルホニル及び割り込まれたC〜C10ハロアルキルスルホニルは、場合により、1つ以上の、C〜C30シクロアルキル、C〜C30シクロアルケニル、1つ以上のO、S、NR、CO、SO及び/若しくはSOで割り込まれているC〜C30シクロアルキル、1つ以上のO、S、NR、CO、SO及び/若しくはSOで割り込まれているC〜C30シクロアルケニル、1つ以上のO、S、NR、CO、SO及び/若しくはSOで割り込まれているC〜C12アルケニルにより置換されているか;又は
    NO、CN、Ar、(CO)R、(CO)OR′、(CO)NR、O(CO)R、O(CO)OR′、O(CO)NR、NR(CO)R、NR(CO)OR′、OR′、NR、SR、SOR、SO及び/若しくはOSOにより置換されているか;或いは
    は、カンホリルスルホニル、フェニル−C〜Cアルキルスルホニル、フェニルスルホニル、ナフチルスルホニル、アントリルスルホニル、フェナントリルスルホニル又はヘテロアリールスルホニルであり、
    ここで、基カンホリルスルホニル、フェニル−C〜Cアルキルスルホニル、フェニルスルホニル、ナフチルスルホニル、アントリルスルホニル、フェナントリルスルホニル及びヘテロアリールスルホニルは、場合により、1つ以上の、C〜C30シクロアルキル、C〜C18アルキル、C〜C10ハロアルキル、C〜C12アルケニル、C〜C30シクロアルケニル、フェニル−C〜Cアルキル、1つ以上のO、S、NR、CO、SO及び/若しくはSOで割り込まれているC〜C18アルキル、1つ以上のO、S、NR、CO、SO及び/若しくはSOで割り込まれているC〜C30シクロアルキル、1つ以上のO、S、NR、CO、SO及び/若しくはSOで割り込まれているC〜C30シクロアルケニル、1つ以上のO、S、NR、CO、SO及び/若しくはSOで割り込まれているC〜C12アルケニルにより置換されているか;又は
    ハロゲン、NO、CN、Ar、(CO)R、(CO)OR′、(CO)NR、O(CO)R、O(CO)OR′、O(CO)NR、NR(CO)R、NR(CO)OR′、OR′、NR、SR、SOR、SO及び/若しくはOSOにより置換されており;
    ここで全てのラジカルRは、場合により、追加的に、酸の作用で切断される−O−C−結合又は−O−Si−結合を有する基により置換されており;
    R′は、フェニレンジスルホニル、ナフチレンジスルホニル、下記:
    Figure 2009541254

    ジフェニレンジスルホニル又はオキシジフェニレンジスルホニルであり、
    ここで、基フェニレンジスルホニル、ナフチレンジスルホニル、下記:
    Figure 2009541254

    ジフェニレンジスルホニル及びオキシジフェニレンジスルホニルは、場合により、1つ以上の、C〜C30シクロアルキル、C〜C18アルキル、C〜C10ハロアルキル、C〜C12アルケニル、C〜C30シクロアルケニル、フェニル−C〜Cアルキル、1つ以上のO、S、NR、CO、SO及び/若しくはSOで割り込まれているC〜C18アルキル、1つ以上のO、S、NR、CO、SO及び/若しくはSOで割り込まれているC〜C30シクロアルキル、1つ以上のO、S、NR、CO、SO及び/若しくはSOで割り込まれているC〜C30シクロアルケニル、1つ以上のO、S、NR、CO、SO及び/若しくはSOで割り込まれているC〜C12アルケニルにより置換されているか;又は
    ハロゲン、NO、CN、Ar、(CO)R、(CO)OR′、(CO)NR、O(CO)R、O(CO)OR′、O(CO)NR、NR(CO)R、NR(CO)OR′、OR′、NR、SR、SOR、SO及び/若しくはOSOにより置換されているか;或いは
    R′は、C〜C12アルキレンジスルホニル又はC〜C10ハロアルキレンジスルホニルであり;
    ここで全てのラジカルR′は、場合により、追加的に、酸の作用で切断される−O−C−結合又は−O−Si−結合を有する基により置換されており;
    は、CN、C〜C10ハロアルキル、又はNO、CN、Ar、(CO)R、(CO)OR、(CO)NR、O(CO)R、O(CO)OR、O(CO)NR、NR(CO)R、NR(CO)OR、OR、NR、SR、SOR、SO、OSO及び/若しくは式IV:
    Figure 2009541254

    の基により置換されているC〜C10ハロアルキルであり;
    Arは、フェニル、ビフェニリル、フルオレニル、ナフチル、アントリル、フェナントリル又はヘテロアリールであり、
    ここで、基フェニル、ビフェニリル、フルオレニル、ナフチル、アントリル、フェナントリル及びヘテロアリールは、場合により、1つ以上の、C〜C30シクロアルキル、C〜C18アルキル、C〜C10ハロアルキル、C〜C12アルケニル、C〜C30シクロアルケニル、フェニル−C〜Cアルキル、1つ以上のO、S、NR、CO、SO及び/若しくはSOで割り込まれているC〜C18アルキル、1つ以上のO、S、NR、CO、SO及び/若しくはSOで割り込まれているC〜C30シクロアルキル、1つ以上のO、S、NR、CO、SO及び/若しくはSOで割り込まれているC〜C30シクロアルケニル、1つ以上のO、S、NR、CO、SO及び/若しくはSOで割り込まれているC〜C12アルケニルにより置換されているか;又は
    式IV:
    Figure 2009541254

    の基、ハロゲン、NO、CN、Ar、(CO)R、(CO)OR、(CO)NR、O(CO)R、O(CO)OR、O(CO)NR、NR(CO)R、NR(CO)OR、OR、NR、SR、SOR、SO及び/若しくはOSOにより置換されており;
    場合により、置換基C〜C18アルキル、C〜C12アルケニル、(CO)R、(CO)OR、(CO)NR、O(CO)R、O(CO)OR、O(CO)NR、NR(CO)R、NR(CO)OR、OR、NR、SR、SOR、SO及び/又はOSOは、フェニル、ビフェニリル、ナフチル、アントリル、フェナントリル若しくはヘテロアリール環の更なる置換基と又はフェニル、ビフェニリル、ナフチル、アントリル、フェナントリル若しくはヘテロアリール環の炭素原子のうちの1個と、ラジカルC〜C18アルキル、C〜C12アルケニル、R、R、R、R及び/又はRを介して5員、6員又は7員環を形成し;
    ここで全てのラジカルArは、場合により、追加的に、酸の作用で切断される−O−C−結合又は−O−Si−結合を有する基により置換されており;
    Ar′は、フェニレン、ビフェニレン、ナフチレン、下記:
    Figure 2009541254

    ヘテロアリーレン、オキシジフェニレン若しくは下記:
    Figure 2009541254

    であり;
    ここで、基フェニレン、ビフェニレン、ナフチレン、下記:
    Figure 2009541254

    ヘテロアリーレン、オキシジフェニレン及び下記:
    Figure 2009541254

    は、場合により、1つ以上の、C〜C30シクロアルキル、C〜C18アルキル、C〜C10ハロアルキル、C〜C12アルケニル、C〜C30シクロアルケニル、フェニル−C〜Cアルキル、1つ以上のO、S、NR、CO、SO及び/若しくはSOで割り込まれているC〜C18アルキル、1つ以上のO、S、NR、CO、SO及び/若しくはSOで割り込まれているC〜C30シクロアルキル、1つ以上のO、S、NR、CO、SO及び/若しくはSOで割り込まれているC〜C30シクロアルケニル、1つ以上のO、S、NR、CO、SO及び/若しくはSOで割り込まれているC〜C12アルケニルにより置換されているか;又は
    式IV:
    Figure 2009541254

    の基により置換されているか;又は
    ハロゲン、NO、CN、Ar、(CO)R、(CO)OR、(CO)NR、O(CO)R、O(CO)OR、O(CO)NR、NR(CO)R、NR(CO)OR、OR、NR、SR、SOR、SO及び/若しくはOSOにより置換されており、
    場合により、置換基C〜C18アルキル、C〜C12アルケニル、(CO)R、(CO)OR、(CO)NR、O(CO)R、O(CO)OR、O(CO)NR、NR(CO)R、NR(CO)OR、OR、NR、SR、SOR、SO及び/又はOSOは、フェニレン、ビフェニレン、ナフチレン、下記:
    Figure 2009541254

    ヘテロアリーレン、下記:
    Figure 2009541254

    若しくはオキシジフェニレン環の更なる置換基と又はフェニレン、ビフェニレン、ナフチレン、下記
    Figure 2009541254

    ヘテロアリーレン、下記:
    Figure 2009541254

    若しくはオキシジフェニレン環の炭素原子のうちの1個と、ラジカルC〜C18アルキル、C〜C12アルケニル、R、R、R、R及び/又はRを介して5員、6員又は7員環を形成するか;或いは
    Ar′は、−Ar″−X−Y−X−Ar″−であり;
    ここで全てのラジカルAr′は、場合により、追加的に、酸の作用で切断される−O−C−結合又は−O−Si−結合を有する基により置換されており、
    Ar″は、フェニレン、ビフェニレン、ナフチレン、ヘテロアリーレンであり:
    ここで、基フェニレン、ビフェニレン、ナフチレン、ヘテロアリーレンは、場合により、1つ以上の、C〜C30シクロアルキル、C〜C18アルキル、C〜C10ハロアルキル、C〜C12アルケニル、C〜C30シクロアルケニル、フェニル−C〜Cアルキル、1つ以上のO、S、NR、CO、SO及び/若しくはSOで割り込まれているC〜C18アルキル、1つ以上のO、S、NR、CO、SO及び/若しくはSOで割り込まれているC〜C30シクロアルキル、1つ以上のO、S、NR、CO、SO及び/若しくはSOで割り込まれているC〜C30シクロアルケニル、1つ以上のO、S、NR、CO、SO及び/若しくはSOで割り込まれているC〜C12アルケニルにより置換されているか;又は
    ハロゲン、NO、CN、Ar、(CO)R、(CO)OR、(CO)NR、O(CO)R、O(CO)OR、O(CO)NR、NR(CO)R、NR(CO)OR、OR、NR、SR、SOR、SO及び/若しくはOSOにより置換されており、
    場合により、置換基C〜C18アルキル、C〜C12アルケニル、(CO)R、(CO)OR、(CO)NR、O(CO)R、O(CO)OR、O(CO)NR、NR(CO)R、NR(CO)OR、OR、NR、SR、SOR、SO及び/又はOSOは、フェニレン、ビフェニレン、ナフチレン、ヘテロアリーレン環の更なる置換基と又はフェニレン、ビフェニレン、ナフチレン、ヘテロアリーレン環の炭素原子のうちの1個と、ラジカルC〜C18アルキル、C〜C12アルケニル、R、R、R、R及び/又はRを介して5員、6員又は7員環を形成し;
    ここで全てのラジカルAr″は、場合により、追加的に、酸の作用で切断される−O−C−結合又は−O−Si−結合を有する基により置換されており;
    は、直接結合、O、S、NR、CO、O(CO)、S(CO)、NR(CO)、SO、SO又はOSOであるか;或いは
    は、C〜C18アルキレン又はフェニレンであり、ここでこれらのラジカルは、非置換であるか又は1つ以上のC〜C18アルキル、C〜Cハロアルキル、ハロゲン、OR及び/若しくはSRにより置換されており;
    は、場合により、OR、SR、ハロゲン、フェニル及び/又は式IV:
    Figure 2009541254

    の基により置換されているC〜C18アルキレンであるか;或いは
    は、1つ以上のO、S、NR、CO、SO及び/又はSOで割り込まれ、場合により、式IV:
    Figure 2009541254

    の基により置換されているC〜C18アルキレンであり;
    R′は、水素、C〜C30シクロアルキル、C〜C18アルキル、C〜C10ハロアルキル、C〜C12アルケニル、C〜C30シクロアルケニル、フェニル−C〜Cアルキルであるか;或いは
    R′は、1つ以上のO、S、NR、CO、SO及び/又はSOで割り込まれているC〜C18アルキル、1つ以上のO、S、NR、CO、SO及び/又はSOで割り込まれているC〜C30シクロアルキル、1つ以上のO、S、NR、CO、SO及び/又はSOで割り込まれているC〜C30シクロアルケニル、1つ以上のO、S、NR、CO、SO及び/又はSOで割り込まれているC〜C12アルケニルであるか;或いは
    R′は、フェニル、ナフチル、C〜C18アルカノイル、ベンゾイル、C〜C18アルキルスルホニル、フェニルスルホニル、ナフチルスルホニル、アントリルスルホニル又はフェナントリルスルホニルであり;
    ここで、基フェニル、ナフチル、C〜C18アルカノイル、ベンゾイル、C〜C18アルキルスルホニル、フェニルスルホニル、ナフチルスルホニル、アントリルスルホニル及びフェナントリルスルホニルは、場合により、1つ以上の、Ar、OH、C〜C18アルキル、C〜C10ハロアルキル、ハロゲン、NO、CN、C〜C18アルコキシ、フェノキシ、NR、C〜C12アルキルチオ、C〜C18アルキルスルホニルオキシ、フェニルスルホニルオキシ、(4−メチルフェニル)スルホニルオキシ、C〜C18アルカノイルオキシ及び/又はベンゾイルオキシにより置換されており;
    は、C〜C30シクロアルキル、C〜C18アルキル、C〜C10ハロアルキル、C〜C12アルケニル、C〜C30シクロアルケニル、フェニル−C〜Cアルキルであり;これらは全て、場合により、式IV:
    Figure 2009541254

    の基により置換されているか;或いは
    は、1つ以上のO、S、NR、CO、SO及び/又はSOで割り込まれているC〜C18アルキル、1つ以上のO、S、NR、CO、SO及び/又はSOで割り込まれているC〜C30シクロアルキル、1つ以上のO、S、NR、CO、SO及び/又はSOで割り込まれているC〜C30シクロアルケニル、1つ以上のO、S、NR、CO、SO及び/又はSOで割り込まれているC〜C12アルケニルであるか;或いは
    は、フェニル、ナフチル、C〜C18アルカノイル、ベンゾイル、C〜C18アルキルスルホニル、フェニルスルホニル、ナフチルスルホニル、アントリルスルホニル又はフェナントリルスルホニルであり;
    ここで、基フェニル、ナフチル、C〜C18アルカノイル、ベンゾイル、C〜C18アルキルスルホニル、フェニルスルホニル、ナフチルスルホニル、アントリルスルホニル及びフェナントリルスルホニルは、場合により、1つ以上の、Ar、OH、C〜C18アルキル、C〜C10ハロアルキル、ハロゲン、NO、CN、C〜C18アルコキシ、フェノキシ、NR、C〜C12アルキルチオ、C〜C18アルキルスルホニルオキシ、フェニルスルホニルオキシ、(4−メチルフェニル)スルホニルオキシ、C〜C18アルカノイルオキシ、ベンゾイルオキシ及び/又は式IV:
    Figure 2009541254

    の基により置換されているか;或いは
    は、水素であり;
    及びRは、互いに独立して、水素、C〜C30シクロアルキル、C〜C18アルキル、C〜C10ハロアルキル、C〜C12アルケニル、C〜C30シクロアルケニル、フェニル−C〜Cアルキル、1つ以上のO、S、NR、CO、SO及び/又はSOで割り込まれているC〜C18アルキル、1つ以上のO、S、NR、CO、SO及び/又はSOで割り込まれているC〜C30シクロアルキル、1つ以上のO、S、NR、CO、SO及び/又はSOで割り込まれているC〜C30シクロアルケニル、1つ以上のO、S、NR、CO、SO及び/又はSOで割り込まれているC〜C12アルケニルであるか;或いは
    及びRは、互いに独立して、フェニル、ナフチル、C〜C18アルカノイル、ベンゾイル、C〜C18アルキルスルホニル、フェニルスルホニル、ナフチルスルホニル、アントリルスルホニル又はフェナントリルスルホニルであり;
    ここで、基フェニル、ナフチル、C〜C18アルカノイル、ベンゾイル、C〜C18アルキルスルホニル、フェニルスルホニル、ナフチルスルホニル、アントリルスルホニル及びフェナントリルスルホニルは、場合により、1つ以上の、Ar、OH、C〜C18アルキル、C〜C10ハロアルキル、ハロゲン、NO、CN、C〜C18アルコキシ、フェノキシ、C〜C18アルキルアミノ、C〜C18ジアルキルアミノ、C〜C12アルキルチオ、C〜C18アルキルスルホニルオキシ、フェニルスルホニルオキシ、(4−メチルフェニル)スルホニルオキシ、C〜C18アルカノイルオキシ及び/又はベンゾイルオキシにより置換されているか;或いは
    及びRは、それらが結合している窒素原子と一緒になって、場合により、1つ以上のO、NR又はCOで割り込まれている5員、6員又は7員環を形成し;
    は、水素、C〜C30シクロアルキル、C〜C18アルキル、C〜C10ハロアルキル、C〜C12アルケニル、C〜C30シクロアルケニル、フェニル−C〜Cアルキル、1つ以上のO、S、NR、CO、SO及び/又はSOで割り込まれているC〜C18アルキル、1つ以上のO、S、NR、CO、SO及び/又はSOで割り込まれているC〜C30シクロアルキル、1つ以上のO、S、NR、CO、SO及び/又はSOで割り込まれているC〜C30シクロアルケニル、1つ以上のO、S、NR、CO、SO及び/又はSOで割り込まれているC〜C12アルケニルであるか;或いは
    は、フェニル、ナフチル、C〜C18アルカノイル、ベンゾイル、C〜C18アルキルスルホニル、フェニルスルホニル、ナフチルスルホニル、アントリルスルホニル又はフェナントリルスルホニルであり;
    ここで、基フェニル、ナフチル、C〜C18アルカノイル、ベンゾイル、C〜C18アルキルスルホニル、フェニルスルホニル、ナフチルスルホニル、アントリルスルホニル及びフェナントリルスルホニルは、場合により、1つ以上のAr、OH、C〜C18アルキル、C〜C10ハロアルキル、ハロゲン、NO、CN、C〜C18アルコキシ、フェノキシ、NR、C〜C12アルキルチオ、C〜C18アルキルスルホニルオキシ、フェニルスルホニルオキシ、(4−メチルフェニル)スルホニルオキシ、C〜C18アルカノイルオキシ及び/又はベンゾイルオキシにより置換されており;
    は、水素、C〜C30シクロアルキル、C〜C18アルキル、C〜C10ハロアルキル、C〜C12アルケニル、C〜C30シクロアルケニル、フェニル−C〜Cアルキル、1つ以上のO、S、NR、CO、SO及び/又はSOで割り込まれているC〜C18アルキル、1つ以上のO、S、NR、CO、SO及び/又はSOで割り込まれているC〜C30シクロアルキル、1つ以上のO、S、NR、CO、SO及び/又はSOで割り込まれているC〜C30シクロアルケニル、1つ以上のO、S、NR、CO、SO及び/又はSOで割り込まれているC〜C12アルケニルであるか;或いは
    は、フェニル又はナフチルであり、両方とも、場合により、1つ以上のAr、OH、C〜C18アルキル、C〜C10ハロアルキル、ハロゲン、NO、CN、C〜C18アルコキシ、フェノキシ、NR、C〜C12アルキルチオ、C〜C18アルキルスルホニルオキシ、フェニルスルホニルオキシ、(4−メチルフェニル)スルホニルオキシ、C〜C18アルカノイルオキシ及び/又はベンゾイルオキシにより置換されており;
    は、C〜C30シクロアルキル、C〜C18アルキル、C〜C10ハロアルキル、C〜C12アルケニル、C〜C30シクロアルケニル又はフェニル−C〜Cアルキルであり;
    Arは、フェニル、ビフェニリル又はナフチルであり、
    ここで、基フェニル、ビフェニリル及びナフチルは、場合により、1つ以上のOH、C〜C18アルキル、C〜C10ハロアルキル、ハロゲン、NO、CN、C〜C18アルコキシ、フェノキシ、NR、C〜C12アルキルチオ、C〜C18アルキルスルホニルオキシ、フェニルスルホニルオキシ、(4−メチルフェニル)スルホニルオキシ、C〜C18アルカノイルオキシ及び/又はベンゾイルオキシにより置換されており;
    、A及びAは、互いに独立して、水素、ハロゲン、CN、C〜C18アルキル、ORにより置換されているC〜C18アルキルであるか;或いはA、A及びAは、互いに独立して、C〜C10ハロアルキル、(CO)R、(CO)OR又は(CO)NRであり;
    は、直接結合、O、(CO)O、(CO)S、(CO)NR、SO、OSO, Ar′、C〜C18アルキレンであるか;或いは
    及びDは、それらが結合しているエチレン性不飽和二重結合と一緒になって、場合により、1つ以上のO、S、N、NR、CO、SO及び/又はSOで割り込まれているC〜C30シクロアルケニルを形成するか;或いは
    及びDは、それらが結合しているエチレン性不飽和二重結合の炭素と一緒になって、場合により、1つ以上のO、S、N、NR、CO、SO及び/又はSOで割り込まれているC〜C30シクロアルキルを形成し;
    及びDは、互いに独立して、直接結合、O、S、NR、CO、O(CO)、(CO)O、(CO)S、(CO)NR、SO、SO、OSO、Ar′、下記:
    Figure 2009541254

    〜C18アルキレン、C〜C30シクロアルキレン、C〜C12アルケニレン、C〜C30シクロアルケニレン、1つ以上のO、S、NR、CO、SO及び/又はSOで割り込まれているC〜C18アルキレン、1つ以上のO、S、NR、CO、SO及び/又はSOで割り込まれているC〜C30シクロアルキレン、1つ以上のO、S、NR、CO、SO及び/又はSOで割り込まれているC〜C30シクロアルケニレン、1つ以上のO、S、NR、CO、SO及び/又はSOで割り込まれているC〜C12アルケニレンであり;
    ここで、基C〜C18アルキレン、C〜C30シクロアルキレン、C〜C12アルケニレン、C〜C30シクロアルケニレン、割り込まれたC〜C18アルキレン、割り込まれたC〜C30シクロアルキレン、割り込まれたC〜C30シクロアルケニレン及び割り込まれたC〜C12アルケニレンは、場合により、1つ以上のAr、OH、ハロゲン、NO、CN、C〜C18アルコキシ、フェノキシ、NR、C〜C12アルキルチオ、C〜C18アルキルスルホニルオキシ、フェニルスルホニルオキシ、(4−メチルフェニル)スルホニルオキシ、C〜C18アルカノイルオキシ及び/又はベンゾイルオキシにより置換されており;
    ここで、全てのラジカルD及びDは、場合により、追加的に、酸の作用で切断される−O−C−結合又は−O−Si−結合を有する基により置換されており;
    Ar′2は、フェニレン、ビフェニレン、ナフチレン又はヘテロアリーレンであり:
    ここで、基フェニレン、ビフェニレン、ナフチレン及びヘテロアリーレンは、場合により、1つ以上のOH、C〜C18アルキル、C〜C10ハロアルキル、ハロゲン、NO、CN、C〜C18アルコキシ、フェノキシ、NR、C〜C12アルキルチオ、C〜C18アルキルスルホニルオキシ、フェニルスルホニルオキシ、(4−メチルフェニル)スルホニルオキシ、C〜C18アルカノイルオキシ及び/又はベンゾイルオキシにより置換されており;
    2aは、Rにおいて提示された意味のうちの1つを有するが;
    但し、ラジカルR、R、Ar又はAr′のうちの少なくとも1つは、式IVの基を含む〕
    で示される化合物。
  2. が、C〜C18アルキルスルホニル、C〜C10ハロアルキルスルホニルであるか;或いは
    が、場合により、1つ以上のC〜C18アルキル、C〜C10ハロアルキル、ハロゲン又はNOで置換されているフェニルスルホニルであり:
    R′が、フェニレンジスルホニル又はC〜C10ハロアルキレンジスルホニルであり;
    が、CN又はC〜C10ハロアルキルであり;
    Arが、フェニル、フルオレニル、ナフチル又はヘテロアリールであり、
    これらが全て、場合より、1つ以上のOR、NR、SR又は式IV:
    Figure 2009541254

    の基により置換されており:
    2aが、Rにおいて提示された意味のうちの1つを有し;
    Ar′が、場合により、式IV:
    Figure 2009541254

    の基により置換されているフェニレン又はヘテロアリーレンであるか;或いは
    Ar′が、−Ar″−X−Y−X−Ar″−であり;
    Ar″が、フェニレン又はナフチレンであり;
    が、O、NR又はSであり;
    が、場合により、式IV:
    Figure 2009541254

    の基により置換されているC〜C18アルキレンであり;
    が、場合により、式IV:
    Figure 2009541254

    の基により置換されているC〜C18アルキルであり;
    及びRが、互いに独立して、水素、場合により式IV:
    Figure 2009541254

    の基により置換されているC〜C18アルキルであり;
    、A及びAが、互いに独立して、水素又はC〜C18アルキルであり;
    が、(CO)O、Ar′、C〜C18アルキレンであるか;或いは
    及びDが、それらが結合しているエチレン性不飽和二重結合と一緒になって、場合により、1つ以上のN又はCOで割り込まれているC〜C30シクロアルケニルを形成するか;或いは
    及びDが、それらが結合しているエチレン性不飽和二重結合の炭素と一緒になって、場合により、1つ以上のN又はCOで割り込まれているC〜C30シクロアルキルを形成し;
    及びDが、互いに独立して、直接結合、O、S、CO、O(CO)、(CO)O、Ar′、下記:
    Figure 2009541254

    〜C30シクロアルキレン、C〜C18アルキレン、1つ以上のO、CO、NR及び/又はSOで割り込まれているC〜C18アルキレンであり;
    が、水素であり;そして
    A′が、フェニレンである
    請求項1記載の式I、II又はIIIの化合物。
  3. が、C〜C10ハロアルキルスルホニルであるか;或いはRが、場合によりC〜C10ハロアルキル又はNOにより置換されているフェニルスルホニルであり:
    が、C〜C10ハロアルキルであり;
    Arが、フェニル、フルオレニル、ナフチル又はヘテロアリールであり、これらが全て、式IV:
    Figure 2009541254

    の基により置換されており;
    、A及びAが、互いに独立して、水素又はC〜Cアルキルであり;
    が、(CO)Oであり;
    及びDが、互いに独立して、直接結合、(CO)O、O、下記:
    Figure 2009541254

    〜C18アルキレン、又は1つ以上のCO若しくはNRで割り込まれているC〜C18アルキレンであり;
    2aが、CNであり;そして
    が、水素である
    請求項1記載の式Iの化合物。
  4. 請求項1記載の式I、II及び/又はIIIの化合物から誘導される少なくとも1つの反復単位を含むポリマー。
  5. 請求項1記載の式I、II及び/又はIIIの化合物から誘導される少なくとも1つの反復単位に加えて、式V:
    Figure 2009541254

    〔式中、
    、A及びAは、互いに独立して、水素、ハロゲン、CN、C〜C18アルキル、ORにより置換されているC〜C18アルキルであるか;或いはA、A及びAは、互いに独立して、C〜C10ハロアルキル、(CO)R、(CO)OR又は(CO)NRであり;
    は、C〜C18アルキル、1つ以上のO、S、NR、CO、SO及び/又はSOで割り込まれているC〜C18アルキル、
    〜C30シクロアルキル、1つ以上のO、S、NR、CO、SO及び/又はSOで割り込まれているC〜C30シクロアルキル、
    〜C12アルケニル、1つ以上のO、S、NR、CO、SO及び/又はSOで割り込まれているC〜C12アルケニル、
    〜C30シクロアルケニル、1つ以上のO、S、NR、CO、SO及び/又はSOで割り込まれているC〜C30シクロアルケニルであり、
    ここで、基C〜C18アルキル、割り込まれたC〜C18アルキル、C〜C30シクロアルキル、割り込まれたC〜C30シクロアルキル、C〜C12アルケニル、割り込まれたC〜C12アルケニル、C〜C30シクロアルケニル及び割り込まれたC〜C30シクロアルケニルは、場合により、1つ以上のAr、OR、(CO)OR、O(CO)R、ハロゲン、NO、CN、NR、C〜C12アルキルチオ、C〜C18アルキルスルホニルオキシ、フェニルスルホニルオキシ及び/又は(4−メチルフェニル)スルホニルオキシにより置換されているか;或いは
    は、水素、ハロゲン、NO、CN、Ar、(CO)R、(CO)OR、(CO)NR、O(CO)R、O(CO)OR、O(CO)NR、NR(CO)R、NR(CO)OR、OR、NR、SR、SOR、SO及び/又はOSOであり;
    は、直接結合、O、CO、(CO)O、(CO)S、(CO)NR、SO又はOSOであるか;或いは
    は、C〜C18アルキレンであるか;或いは
    は、基Ar′であり;
    場合により、ラジカルA及びDは、それらが結合しているエチレン性不飽和二重結合と一緒になって、場合により、1つ以上のO、S、NR、CO、SO及び/又はSOで割り込まれているC〜C30シクロアルケニルを形成するか;或いは
    場合により、ラジカルA及びDは、それらが結合しているエチレン性不飽和二重結合の炭素と一緒になって、場合により、1つ以上のO、S、N、NR、CO、SO及び/又はSOで割り込まれているC〜C30シクロアルキルを形成し;
    、R、R、R、R、Ar′及びArは、請求項1で定義されたとおりである〕
    で示される群から選択されるエチレン性不飽和化合物から誘導される1つ以上の同一又は異なる反復単位を含む、請求項4記載のポリマー。
  6. 、A及びAが、互いに独立して、水素又はC〜C18アルキルであり;
    が、水素、C〜C30シクロアルキル、1つ以上のO及び/又はCOで割り込まれているC〜C30シクロアルキル、C〜C18アルキル、1つ以上のO及び/又はCOで割り込まれているC〜C18アルキル、1つ以上のO及び/又はCOで割り込まれているC〜C30シクロアルケニルであり;
    ここで、基C〜C30シクロアルキル、割り込まれたC〜C30シクロアルキル、C〜C18アルキル、割り込まれたC〜C18アルキル及び割り込まれたC〜C30シクロアルケニルが、場合により、1つ以上のOR、(CO)OR又はO(CO)Rで置換されており;
    が、(CO)Oであり;
    が、C〜C18アルキル、1つ以上のO及び/若しくはCOで割り込まれているC〜C18アルキル、
    〜C30シクロアルキル、1つ以上のO及び/若しくはCOで割り込まれているC〜C30シクロアルキル、又は
    1つ以上のO及び/若しくはCOで割り込まれているC〜C30シクロアルケニルであるか;或いは
    が、水素であり;
    が、C〜C30シクロアルキル、C〜C18アルキル、1つ以上のO及び/又はCOで割り込まれているC〜C18アルキル、1つ以上のO及び/又はCOで割り込まれているC〜C30シクロアルキル、1つ以上のO及び/又はCOで割り込まれているC〜C30シクロアルケニルであるか;或いは
    が、水素である
    請求項5記載のポリマー。
  7. 下記:
    (a)酸の作用で硬化する化合物、又はその溶解度が酸の作用で増加する化合物、並びに/或いは
    (b)請求項1記載の式I、II及び/又はIIIの少なくとも1つの化合物、及び/又は請求項4記載のポリマー
    を含む、化学的に増幅されたフォトレジスト組成物。
  8. ポジティブレジストである、請求項7記載の化学的に増幅されたフォトレジスト組成物。
  9. 下記:
    (b)請求項4記載の少なくとも1つのポリマー
    を含む、請求項8記載の化学的に増幅されたポジティブフォトレジスト組成物。
  10. 下記:
    (b)請求項1記載の式I、II及び/又はIIIの化合物から誘導される少なくとも1つの反復単位を含む少なくとも1つのポリマーと、
    請求項5で定義された式Vの群から選択されるエチレン性不飽和化合物から誘導される少なくとも1つの反復単位と、
    式VI:
    Figure 2009541254

    〔式中、
    、A、A、A及びAr′は、請求項5で定義されたとおりである〕
    で示される群から選択されるエチレン性不飽和化合物から誘導される少なくとも1つの反復単位と
    を含む、請求項8記載の化学的に増幅されたポジティブフォトレジスト組成物。
  11. 下記:
    (a1)酸の存在下で分解して、アルカリ性現像水溶液において溶解度を増加させる酸不安定基を有する少なくとも1つのポリマー;及び/又は
    (a2)酸の存在下で分解して、アルカリ性現像水溶液において溶解度を増加させる酸不安定基を有する少なくとも1つのモノマ−又はオリゴマー溶解抑制剤;及び/又は
    (a3)少なくとも1つのアルカリ可溶性モノマー、オリゴマー又はポリマー化合物;並びに
    (b)請求項1記載の式I、II及び/又はIIIの少なくとも1つの化合物、及び/又は請求項4記載のポリマー
    を含む、請求項8記載の化学的に増幅されたポジティブフォトレジスト組成物。
  12. 下記:
    (a1)酸の存在下で分解して、アルカリ性現像水溶液において溶解度を増加させる酸不安定基を有する少なくとも1種のポリマー;及び/又は
    (a2)酸の存在下で分解して、アルカリ性現像水溶液において溶解度を増加させる酸不安定基を有する少なくとも1種のモノマ−又はオリゴマー溶解抑制剤;及び/又は
    (a3)少なくとも1つのアルカリ可溶性モノマー、オリゴマー又はポリマー化合物;並びに
    (b)請求項1記載の式I、II及び/又はIIIの少なくとも1つの化合物;及び/又は、請求項1記載の式I、II及び/又はIIIの化合物から誘導される少なくとも1つの反復単位、請求項10で定義された式VIの群から選択されるエチレン性不飽和化合物から誘導される少なくとも1つの反復単位、及び場合により請求項5で定義された式Vの群から選択されるエチレン性不飽和化合物から誘導される反復単位を含むポリマー
    を含む、請求項8記載の化学的に増幅されたポジティブフォトレジスト組成物。
  13. ネガティブレジストである、請求項7記載の化学的に増幅されたフォトレジスト組成物。
  14. 下記:
    (a5)酸の触媒作用を受けると、それ自体で、及び/又は他の成分と架橋反応を起こす成分;並びに
    (b)請求項1記載の式I、II及び/又はIIIの少なくとも1つの化合物;及び/又は、請求項1記載の式I、II及び/又はIIIの化合物から誘導される少なくとも1つの反復単位、及び場合により請求項5で定義された式Vの群から選択されるエチレン性不飽和化合物から誘導される反復単位を含むポリマー
    を含む、請求項13記載の化学的に増幅されたネガティブフォトレジスト組成物。
  15. 下記:
    (a4)結合剤としてアルカリ可溶性樹脂;
    (a5)酸の触媒作用を受けると、それ自体で、及び/又は結合剤と架橋反応を起こす成分;並びに
    (b)請求項1記載の式I、II及び/又はIIIの少なくとも1つの化合物;及び/又は、請求項1記載の式I、II及び/又はIIIの化合物から誘導される少なくとも1つの反復単位、及び場合により請求項5で定義された式Vの群から選択されるエチレン性不飽和化合物から誘導される反復単位を含むポリマー
    を含む、請求項13記載の化学的に増幅されたネガティブフォトレジスト組成物。
  16. 成分(b)、又は成分(a1)、(a2)、(a3)及び(b)、又は成分(a5)及び(b)、又は成分(a4)、(a5)及び(b)に加えて、更なる添加剤(c)、更なる感光性酸供与体化合物(b1)、他の光開始剤(d)及び/又は増感剤(e)を含む、請求項7〜15のいずれか1項記載の化学的に増幅されたフォトレジスト組成物。
  17. (1)請求項7記載の組成物を基材に適用すること;
    (2)組成物を60℃〜160℃の温度で適用後焼き付けすること;
    (3)10nm〜1500nmの波長の光を用いて像様式に照射すること;
    (4)場合により、組成物を60℃〜160℃の温度で曝露後焼き付けすること;及び
    (5)溶媒又はアルカリ性現像水溶液で現像すること
    による、フォトレジストの調製プロセス。
  18. 下記:
    (b)請求項1記載の式I、II及び/又はIIIの化合物から誘導される少なくとも1つの反復単位と、請求項5で定義された式Vの群から選択されるエチレン性不飽和化合物から誘導される反復単位とを含む少なくとも1つのポリマー
    を含む組成物。
  19. 下記:
    (a)酸の作用で硬化する化合物、又はその溶解度が酸の作用で増加する化合物;並びに
    (b)請求項1記載の式I、II及び/又はIIIの少なくとも1つの化合物;及び/又は、請求項1記載の式I、II及び/又はIIIの化合物から誘導される少なくとも1つの反復単位、及び場合により請求項5で定義された式Vの群から選択されるエチレン性不飽和化合物から誘導される反復単位を含むポリマー
    を含む組成物。
  20. 酸の作用下で架橋されうる組成物における光潜在性の酸供与体として及び/又は溶解度が酸の作用下で増加される組成物における溶解増強剤としての、請求項1記載の式I、II若しくはIIIの化合物、又は請求項1記載の式I、II及び/若しくはIIIの化合物から誘導される少なくとも1つの反復単位、及び場合により請求項5で定義された式Vの群から選択されるエチレン性不飽和化合物から誘導される反復単位を含むポリマーの使用。
  21. 酸の作用下で架橋されうる化合物又はその溶解度が酸の作用下で増加される化合物を架橋するプロセスであって、請求項1記載の式I、II若しくはIIIの化合物、並びに/又は請求項1記載の式I、II及び/若しくはIIIの化合物から誘導される少なくとも1つの反復単位、及び場合により請求項5で定義された式Vの群から選択されるエチレン性不飽和化合物から誘導される反復単位を含むポリマーを上記の組成物に加え、10〜1500nmの波長を有する光により像様式に又は全領域を照射することを含む方法。
  22. 表面コーティング、印刷インク、印刷版、歯科組成物、カラーフィルター、レジスト、又は画像記録材料若しくはホログラフ像を記録する画像記録材料の調製における感光性酸供与体としての、請求項1記載の式I、II若しくはIIIの化合物、又は請求項1記載の式I、II及び/若しくはIIIの化合物から誘導される少なくとも1つの反復単位、及び場合により請求項5で定義された式Vの群から選択されるエチレン性不飽和化合物から誘導される反復単位を含むポリマーの使用。
  23. 表面コーティング、印刷インク、印刷版、歯科組成物、カラーフィルター、レジスト、又は画像記録材料若しくはホログラフ像を記録する画像記録材料の調製のための、請求項21記載のプロセス。
  24. カラーフィルター又は化学的に増幅されたレジストの調製における感光性酸供与体としての、請求項1記載の式I、II若しくはIIIの化合物、又は請求項1記載の式I、II及び/若しくはIIIの化合物から誘導される少なくとも1つの反復単位、及び場合により請求項5で定義された式Vの群から選択されるエチレン性不飽和化合物から誘導される反復単位を含むポリマーの使用。
  25. カラーフィルター又は化学的に増幅されたレジストの調製のための、請求項21記載のプロセス。
  26. 全て、感光性樹脂、及び顔料及び/又は染料を含む、赤色、緑色及び青色の画素及び黒色のマトリックスを透明な基材上に提供すること、並びに基材の表面又はカラーフィルター層の表面のいずれかに透明な電極を提供することにより調製され、前記感光性樹脂が、請求項1記載の式I、II及び/又はIIIの化合物から誘導される少なくとも1つの反復単位、及び場合により請求項5で定義された式Vの群から選択されるエチレン性不飽和化合物から誘導される反復単位を含むポリマーを、感光性酸供与体として含む、カラーフィルター。
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012088449A (ja) * 2010-10-18 2012-05-10 Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd ポジ型レジスト組成物、レジストパターン形成方法
JP2016169173A (ja) * 2015-03-11 2016-09-23 株式会社Adeka オキシムスルホネート化合物、光酸発生剤、レジスト組成物、カチオン重合開始剤、およびカチオン重合性組成物
WO2020158537A1 (ja) * 2019-01-31 2020-08-06 株式会社Adeka 化合物、酸発生剤、組成物、硬化物、硬化物の製造方法及びパターン塗膜の製造方法

Families Citing this family (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP1967904A1 (en) 2007-03-06 2008-09-10 FUJIFILM Corporation Positive resist composition and pattern forming method using the same
JP5049815B2 (ja) * 2007-03-06 2012-10-17 富士フイルム株式会社 ポジ型レジスト組成物及びそれを用いたパターン形成方法
JP4990085B2 (ja) * 2007-09-28 2012-08-01 富士フイルム株式会社 着色硬化性組成物、カラーフィルタ、及び、固体撮像素子
JP5448352B2 (ja) 2008-03-10 2014-03-19 富士フイルム株式会社 着色硬化性組成物、カラーフィルタ、及び、固体撮像素子
JP5507054B2 (ja) * 2008-03-28 2014-05-28 富士フイルム株式会社 重合性組成物、カラーフィルタ、カラーフィルタの製造方法、及び固体撮像素子
KR20110025211A (ko) * 2008-06-12 2011-03-09 바스프 에스이 술포늄 유도체 및 잠재성 산으로서의 그의 용도
TW201016651A (en) * 2008-07-28 2010-05-01 Sumitomo Chemical Co Oxime compound and resist composition containing the same
US8338077B2 (en) * 2009-06-22 2012-12-25 Rohm And Haas Electronic Materials Llc Photoacid generators and photoresists comprising same
JP5618625B2 (ja) 2010-05-25 2014-11-05 富士フイルム株式会社 パターン形成方法及び感活性光線性又は感放射線性樹脂組成物
JP2012031144A (ja) * 2010-06-29 2012-02-16 Sumitomo Chemical Co Ltd 化合物、樹脂及びレジスト組成物
JP2014509671A (ja) * 2011-03-30 2014-04-21 ディーエスエム アイピー アセッツ ビー.ブイ. 組成物をラジカル硬化する方法
WO2012130960A1 (en) * 2011-03-30 2012-10-04 Dsm Ip Assets B.V. Process for radically curing a composition
JP5732364B2 (ja) 2011-09-30 2015-06-10 富士フイルム株式会社 パターン形成方法、及び、電子デバイスの製造方法
US9261786B2 (en) * 2012-04-02 2016-02-16 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. Photosensitive material and method of photolithography
US9146469B2 (en) 2013-03-14 2015-09-29 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. Middle layer composition for trilayer patterning stack
KR101538061B1 (ko) * 2014-01-06 2015-07-21 광주과학기술원 노보넨 유도체 등을 포함하는 거대 단량체 및 이의 제조방법
KR102329691B1 (ko) * 2014-10-13 2021-11-23 삼성디스플레이 주식회사 투명 표시 장치 및 이의 제조 방법
CN115611782A (zh) * 2022-10-15 2023-01-17 瑞红(苏州)电子化学品股份有限公司 高产酸肟磺酸酯类光产酸剂及其抗蚀剂组合物应用

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61251652A (ja) * 1985-04-12 1986-11-08 チバ − ガイギ− アクチエンゲゼルシヤフト オキシムスルホネ−ト及び該化合物から製造されるポリマ−
JPH0519477A (ja) * 1991-01-30 1993-01-29 Fuji Photo Film Co Ltd 感光性組成物
JP2000314956A (ja) * 1999-03-31 2000-11-14 Ciba Specialty Chem Holding Inc オキシム誘導体及びその潜在酸としての使用
WO2007148623A1 (ja) * 2006-06-20 2007-12-27 Tokyo Ohka Kogyo Co., Ltd. ポジ型レジスト組成物およびレジストパターン形成方法

Family Cites Families (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4540598A (en) * 1983-08-17 1985-09-10 Ciba-Geigy Corporation Process for curing acid-curable finishes
CA1316622C (en) * 1987-05-28 1993-04-20 Nippon Paint Co., Ltd. Positive type photosensitive resinous composition
JP2645384B2 (ja) * 1990-05-21 1997-08-25 日本ペイント株式会社 ポジ型感光性樹脂組成物
DE59309494D1 (de) * 1992-05-22 1999-05-12 Ciba Geigy Ag Hochauflösender I-Linien Photoresist mit höherer Empfindlichkeit
JP3830183B2 (ja) * 1995-09-29 2006-10-04 東京応化工業株式会社 オキシムスルホネート化合物及びレジスト用酸発生剤
MY117352A (en) * 1995-10-31 2004-06-30 Ciba Sc Holding Ag Oximesulfonic acid esters and the use thereof as latent sulfonic acids.
TW550439B (en) * 1997-07-01 2003-09-01 Ciba Sc Holding Ag New oxime sulfonates as latent acids and compositions and photoresists comprising said oxime sulfonates
NL1014545C2 (nl) * 1999-03-31 2002-02-26 Ciba Sc Holding Ag Oxim-derivaten en de toepassing daarvan als latente zuren.
TWI272451B (en) * 2000-09-25 2007-02-01 Ciba Sc Holding Ag Chemically amplified photoresist composition, process for preparation of a photoresist, and use of said chemically amplified photoresist composition
US7326511B2 (en) * 2002-02-06 2008-02-05 Ciba Specialty Chemicals Corporation Sulfonate derivatives and the use thereof as latent acids
MXPA05008118A (es) * 2003-02-19 2005-09-30 Ciba Sc Holding Ag Derivados de oxima halogenados y el uso de los mismos como acidos latentes.
CA2574054A1 (en) * 2004-07-20 2006-01-26 Ciba Specialty Chemicals Holding Inc. Oxime derivatives and the use therof as latent acids

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61251652A (ja) * 1985-04-12 1986-11-08 チバ − ガイギ− アクチエンゲゼルシヤフト オキシムスルホネ−ト及び該化合物から製造されるポリマ−
JPH0519477A (ja) * 1991-01-30 1993-01-29 Fuji Photo Film Co Ltd 感光性組成物
JP2000314956A (ja) * 1999-03-31 2000-11-14 Ciba Specialty Chem Holding Inc オキシム誘導体及びその潜在酸としての使用
WO2007148623A1 (ja) * 2006-06-20 2007-12-27 Tokyo Ohka Kogyo Co., Ltd. ポジ型レジスト組成物およびレジストパターン形成方法

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012088449A (ja) * 2010-10-18 2012-05-10 Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd ポジ型レジスト組成物、レジストパターン形成方法
JP2016169173A (ja) * 2015-03-11 2016-09-23 株式会社Adeka オキシムスルホネート化合物、光酸発生剤、レジスト組成物、カチオン重合開始剤、およびカチオン重合性組成物
WO2020158537A1 (ja) * 2019-01-31 2020-08-06 株式会社Adeka 化合物、酸発生剤、組成物、硬化物、硬化物の製造方法及びパターン塗膜の製造方法

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