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Claims (42)

  1. サンプル材料の光学特性を決定するシステムであって、
    第1及び第2の光波を有する第1の光ビームを生成する光源を備え、前記第1の光波が第1の直線偏光を有し、前記第2の光波が第2の直線偏光を有し、前記第1及び第2の直線偏光が相互に実質的に直交し、前記第1及び第2の光波が相互に同相であり、更に、
    前記第1の光波と前記第2の光波との間に相対遅延を加えることによって、前記第1の光波と第2の光波の間に合計90°の位相ずれを提供する光学リターダと、
    前記サンプル材料からの前記第1の光ビームを内部全反射の状態で反射する光学インタフェースと、
    前記第1の光ビームが前記光学インタフェースから反射した後に、前記第1のビームを第2の光ビームと第3の光ビームに分割する偏光ビームスプリッタと、を備え、前記第2及び第3の光ビームが、前記ビームスプリッタの主軸上で相互に直交する偏光成分の組合せ投影像で構成され、更に、
    前記第2の光ビームと前記第3の光ビームの強度差を測定して、前記サンプル材料によって誘発された位相差を計算する信号プロセッサを備え、前記信号プロセッサが、第1の検出器からの第1の強度測定値及び第2の検出器からの第2の強度測定値を受信し、前記第1及び第2の検出器が、それぞれ前記第2及び第3の光ビームの強度を測定する、
    システム。
  2. 前記光源が、直線偏光し、入射面に対して所定の角度で回転するコヒーレント光を備える、
    請求項1に記載のシステム。
  3. 前記光源が、ガスレーザ、ダイオード励起固体レーザ、エキシマランプ、垂直共振器型面発光レーザ又はレーザダイオードである、
    請求項2に記載のシステム。
  4. 前記光源が、約500〜700ナノメートルの範囲の波長を有する直線偏光コヒーレント光を提供する任意の光源である、
    請求項2に記載のシステム。
  5. 前記第2の光ビーム及び前記第3の光ビームの強度が実質的に等しいように、前記偏光ビームスプリッタが配向される、
    請求項1に記載のシステム。
  6. 前記偏光ビームスプリッタが、前記光学インタフェースの面に対して45°の角度で配向される、
    請求項1に記載のシステム。
  7. 前記所定の角度が、前記入射面に対して実質的に45°である、
    請求項2に記載のシステム。
  8. 前記第1及び第2の光波の強度の所定の比率が、
    β=I /I =I /I であり、
    及びI が、それぞれ、前記サンプル材料から反射する前及び反射した後の前記第1の光波の強度であり、I が、前記第2の光波の強度である、
    請求項2に記載のシステム。
  9. 合計90°の位相ずれを提供する前記光学リターダが、フレネル菱面体プリズムである、
    請求項1に記載のシステム。
  10. 合計90°の位相ずれを提供する前記光学リターダが、直角プリズムである、
    請求項1に記載のシステム。
  11. 前記第1のビームの路に配置された1つ又は複数の光学構成要素を更に備え、前記光ビームが前記ビームスプリッタへ伝送される前に、前記1つ又は複数の光学構成要素が前記光ビームの前記偏光を実質的に楕円の偏光から実質的に円形の偏光へと変換する、
    請求項1に記載のシステム。
  12. 前記センサが、少なくとも1つのSPRトランスデューサを備える、
    請求項1に記載のシステム。
  13. 前記サンプル材料が、検知材料を含むトランスデューサに適用される、
    請求項1に記載のシステム。
  14. 前記検知材料が、生体分子を含む、
    請求項13に記載のシステム。
  15. 前記サンプル材料が、アレイ状のトランスデューサに適用され、各トランスデューサが検知材料を含む、
    請求項1に記載のシステム。
  16. 前記サンプル材料が、トランスデューサのアレイチップに適用される、
    請求項1に記載のシステム。
  17. 前記サンプル材料が、核酸、タンパク質、ポリペプチド、ウイルス粒子、細菌又は有機分子を含む、
    請求項1に記載のシステム。
  18. 少なくとも5×10−8屈折率単位の表面屈折率の変化が検出される、
    請求項1に記載のシステム。
  19. 少なくとも50フェムトグラムのサンプル材料が検出される、
    請求項1に記載のシステム。
  20. サンプル材料の光学特性を決定する方法であって、
    検知材料を含むトランスデューサの光学インタフェースに前記サンプル材料を適用するステップと、
    第1及び第2の光波を有する第1の光ビームを生成するステップであって、前記第1の光波が第1の直線偏光を有し、前記第2の光波が第2の直線偏光を有し、前記第1及び第2の直線偏光が相互に直交するステップと、
    前記第1の光波と前記第2の光波との間に相対遅延を加えることによって、前記第1の光波と第2の光波との間に合計90°の位相ずれを提供するステップと、
    前記光学インタフェースで前記第1の光ビームを反射するステップと、
    前記第1の光ビームが前記光学インタフェースから反射した後に、前記第1の光ビームを第2の光ビームと第3の光ビームに分割するステップであって、前記第2及び第3の光ビームが、ビームスプリッタの主軸上で相互に直交する偏光成分の組合せ投影像で構成されるステップと、
    前記サンプル材料によって誘発された位相差を計算するために、前記第2の光ビームと前記第3の光ビームの間の強度差を測定するステップと、を含む、
    方法。
  21. 前記サンプル材料が、核酸、タンパク質、ポリペプチド、ウイルス粒子、細菌又は有機分子を含む、
    請求項20に記載の方法。
  22. 少なくとも50フェムトグラムのサンプル材料が検出される、
    請求項20に記載の方法。
  23. サンプル中の分析物の存在を検出する方法であって、
    検知材料を含むトランスデューサの光学インタフェースに前記サンプルを適用するステップと、
    第1及び第2の光波を有する第1の光ビームを前記光学インタフェースから反射するステップと、
    前記光学インタフェースから反射した後に、前記第1の光ビームを第2の光ビームと第3の光ビームに分割するステップと、
    前記サンプルによって誘発された位相差を計算するために、前記第2の光ビームと前記第3の光ビームとの間の強度差を測定するステップと、
    を含む方法。
  24. 前記サンプルによって誘発された前記位相差を、基準サンプルによって誘発された位相差と比較するステップを更に含む、
    請求項23に記載の方法。
  25. 前記基準サンプルに分析物が存在しない、
    請求項24に記載の方法。
  26. 前記基準サンプルに既知の分析物が存在する、
    請求項24に記載の方法。
  27. 前記基準サンプルに既知の量の分析物が存在する、
    請求項24に記載の方法。
  28. 前記第1の光波が、第1の直線偏光を有し、前記第2の光波が第2の直線偏光を有し、前記第1の直線偏光と前記第2の直線偏光とが相互に直交する、
    請求項23に記載の方法。
  29. 前記第1の光波と第2の光波との間に相対遅延を加えることによって、前記第1の光波と前記第2の光波との間に位相ずれを提供するステップを更に含む、
    請求項23に記載の方法。
  30. 前記位相ずれが、90°又は実質的に90°である、
    請求項29に記載の方法。
  31. 前記第2の光ビーム及び前記第3の光ビームが、ビームスプリッタの主軸上で相互に直交する偏光成分の組合せ投影像で構成される、
    請求項23に記載の方法。
  32. 前記第1の光ビームが、入射面に対して所定の角度で回転する直線偏光コヒーレント光ビームである、
    請求項17又は20に記載の方法。
  33. 前記第2の光ビーム及び前記第3の光ビームの強度が等しいか又は実質的に等しい、
    請求項20又は23に記載の方法。
  34. 前記所定の角度が、前記入射面に対して実質的に45°である、
    請求項32に記載の方法。
  35. 前記第1及び第2の光波の強度の所定の比率が、
    β=I /I =I /I であり、
    及びI が、それぞれ、前記サンプル材料から反射する前及び反射した後の前記第1の光波の強度であり、I が、前記第2の光波の強度である、
    請求項20又は23に記載の方法。
  36. 前記第1の光ビームを第2の光ビームと第3の光ビームに分割する前に、前記第1の光ビームの前記偏光を実質的に楕円の偏光から実質的に円形の偏光に変換するステップを更に含む、
    請求項20又は23に記載の方法。
  37. 前記第1の光ビームを内部全反射の状態で2つの反射面から反射させることによって、実質的に90°の前記位相ずれが提供される、
    請求項20又は30に記載の方法。
  38. 前記分析物が、核酸、タンパク質、ポリペプチド、ウイルス粒子、細菌又は有機分子を含む、
    請求項23に記載の方法。
  39. 前記検知材料が、生体分子、有機分子及び/又は触媒を含む、
    請求項20又は23に記載の方法。
  40. 前記検知材料が、抗体、抗原、オリゴヌクレオチド、タンパク質、酵素、受容体、及び受容体リガンドからなる群から選択される生体分子である
    請求項39に記載の方法。
  41. 前記サンプルによって誘発される前記位相差が、少なくとも5×10−8屈折率ユニットの表面屈折率変化である、
    請求項20又は23に記載の方法。
  42. 少なくとも50フェムトグラムの分析物が検出される、
    請求項23に記載の方法。
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Families Citing this family (69)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2006116362A2 (en) 2005-04-25 2006-11-02 The Trustees Of Boston University Structured substrates for optical surface profiling
US7532330B2 (en) * 2005-08-16 2009-05-12 Zygo Corporation Angle interferometers
US7460230B2 (en) * 2005-11-04 2008-12-02 J.A. Woollam Co., Inc. Deviation angle self compensating substantially achromatic retarder
US7907280B2 (en) * 2005-11-04 2011-03-15 J.A. Woollam Co., Inc. Method of constructing a deviation angle self compensating substantially achromatic retarder to compensate beam traslation
US8462341B2 (en) 2005-11-04 2013-06-11 J.A. Woollam Co., Inc. Mounting for deviation angle self compensating substantially achromatic retarder
US7233396B1 (en) * 2006-04-17 2007-06-19 Alphasniffer Llc Polarization based interferometric detector
CN100510700C (zh) * 2006-12-30 2009-07-08 清华大学深圳研究生院 线偏振光成像方法及装置
US8192026B2 (en) 2007-06-20 2012-06-05 Tearscience, Inc. Tear film measurement
US7758190B2 (en) 2007-06-20 2010-07-20 Tearscience, Inc. Tear film measurement
US7692791B2 (en) * 2007-06-21 2010-04-06 Canon Kabushiki Kaisha Target substance-detecting apparatus and target substance-detecting method
GB0721482D0 (en) * 2007-11-01 2007-12-12 Univ Exeter Plasmon resonance based sensor
EP2223084A4 (en) * 2007-11-28 2010-12-08 MOUNTING OPTICAL REFLECTOMETRY SYSTEM
JP5164822B2 (ja) * 2007-12-21 2013-03-21 エーエスエムエル ホールディング エヌ.ブイ. 光ビームの特性を検出するためのビーム特性モニタ
US20110188043A1 (en) * 2007-12-26 2011-08-04 Yissum, Research Development Company of The Hebrew University of Jerusalem, Ltd. Method and apparatus for monitoring processes in living cells
EP2240759A4 (en) * 2008-02-01 2013-01-16 Rare Light Inc METHOD, DEVICE AND KITS FOR PERIKRITICAL REFLECTION SPECTROSCOPY
US8072599B2 (en) * 2008-03-14 2011-12-06 Teledyne Scientific & Imaging, Llc Real-time, hybrid amplitude-time division polarimetric imaging camera
DE102009003548A1 (de) 2009-02-27 2010-09-02 Leibniz-Institut für Analytische Wissenschaften-ISAS-e.V. Verfahren zur hochaufgelösten Erfassung von Nanopartikeln auf zweidimensionalen Messflächen
EP2413699B1 (en) 2009-04-01 2019-11-20 Tearscience, Inc. Ocular surface interferometry (osi) apparatus for imaging an ocular tear film
US9642520B2 (en) 2009-04-01 2017-05-09 Tearscience, Inc. Background reduction apparatuses and methods of ocular surface interferometry (OSI) employing polarization for imaging, processing, and/or displaying an ocular tear film
US8915592B2 (en) 2009-04-01 2014-12-23 Tearscience, Inc. Apparatuses and methods of ocular surface interferometry (OSI) employing polarization and subtraction for imaging, processing, and/or displaying an ocular tear film
US9888839B2 (en) 2009-04-01 2018-02-13 Tearscience, Inc. Methods and apparatuses for determining contact lens intolerance in contact lens wearer patients based on dry eye tear film characteristic analysis and dry eye symptoms
US8888286B2 (en) 2009-04-01 2014-11-18 Tearscience, Inc. Full-eye illumination ocular surface imaging of an ocular tear film for determining tear film thickness and/or providing ocular topography
US9041923B2 (en) 2009-04-07 2015-05-26 Rare Light, Inc. Peri-critical reflection spectroscopy devices, systems, and methods
US8379228B1 (en) * 2010-02-16 2013-02-19 Alan Douglas Streater Apparatus for measuring thin film refractive index and thickness with a spectrophotometer
CN101846553B (zh) * 2010-03-30 2011-09-07 北京理工大学 一种利用双缝干涉法测量偏振态的方法
US8472031B2 (en) 2010-05-25 2013-06-25 Valerio Pruneri Apparatus and method for optical interrogation
US8988688B2 (en) * 2010-05-25 2015-03-24 The Chinese University Of Hong Kong Optical sensing devices and methods for detecting samples using the same
US8477309B2 (en) * 2010-08-10 2013-07-02 Camtek Ltd. Method and system for inspecting beveled objects
CN102539381B (zh) * 2010-12-24 2013-10-30 南京理工大学 基于微离轴显微干涉投影的折射率层析装置
US9671327B2 (en) * 2011-03-18 2017-06-06 The Regents Of The University Of Colorado, A Body Corporate Ultrasensitive biochemical sensing device and method of sensing analytes
US8970838B2 (en) 2011-04-29 2015-03-03 Avolonte Health LLC Method and apparatus for evaluating a sample through variable angle Raman spectroscopy
JP2013036792A (ja) * 2011-08-05 2013-02-21 Seiko Epson Corp 偏光状態測定装置及び偏光状態測定方法
WO2013048328A1 (en) * 2011-09-30 2013-04-04 General Electric Company Systems and methods for self-referenced detection and imaging of sample arrays
CN103162831B (zh) * 2011-12-19 2014-12-10 中国科学院微电子研究所 宽带偏振光谱仪及光学测量系统
WO2013163367A1 (en) * 2012-04-25 2013-10-31 Tearscience, Inc. Apparatuses and methods of ocular surface interferometry (osi) employing polarization and subtraction for imaging, processing, and/or displaying an ocular tear film
JP6262762B2 (ja) * 2012-12-06 2018-01-17 リーハイ・ユニバーシティー 空間分割多重光コヒーレンストモグラフィー装置
US9339177B2 (en) 2012-12-21 2016-05-17 Tearscience, Inc. Full-eye illumination ocular surface imaging of an ocular tear film for determining tear film thickness and/or providing ocular topography
CN103162836B (zh) * 2013-03-15 2015-02-25 北京航空航天大学 一种光偏振微小转角的光学干涉检测装置及方法
US9921148B2 (en) * 2013-04-21 2018-03-20 Mobileodt Ltd. Polarized light imaging apparatus and methods thereof for separating light from a surface of a sample its deeper diffuse layers
CN108670190A (zh) 2013-05-03 2018-10-19 眼泪科学公司 用于对睑板腺进行成像以供睑板腺分析的眼睑照明系统和方法
WO2015057219A2 (en) * 2013-10-16 2015-04-23 Halliburton Energy Services Inc. Intensity-independent optical computing device
WO2015065292A1 (en) * 2013-11-04 2015-05-07 Agency For Science, Technology And Research Optical sensing device for surface plasmon resonance (spr) and optical sensing method using surface plasmon resonance (spr)
US9795290B2 (en) 2013-11-15 2017-10-24 Tearscience, Inc. Ocular tear film peak detection and stabilization detection systems and methods for determining tear film layer characteristics
MX361549B (es) * 2014-03-07 2018-12-10 Halliburton Energy Services Inc Modulación de la intensidad de luz dependiente de la longitud de onda en dispositivos informáticos ópticos multivariados usando polarizadores.
US9322778B2 (en) * 2014-04-23 2016-04-26 The Chinese University Of Hong Kong Optical sensing apparatus and a method for detecting characteristics of a sample
CN105445929B (zh) * 2014-08-20 2018-03-02 上海微电子装备(集团)股份有限公司 光程调整装置和光程调整方法
WO2016053340A1 (en) * 2014-10-02 2016-04-07 Halliburton Energy Services, Inc. Three-dimensional waveguide sensors for sample analysis
CN104535496B (zh) * 2014-12-24 2017-04-12 大连理工大学 相位型表面等离子共振传感系统中的干涉光信号处理方法
KR102659810B1 (ko) * 2015-09-11 2024-04-23 삼성디스플레이 주식회사 결정화도 측정 장치 및 그 측정 방법
CN108369179B (zh) 2015-09-22 2021-12-24 波士顿大学董事会 纳米囊泡的多重表型分析
WO2017068878A1 (ja) * 2015-10-19 2017-04-27 ソニー株式会社 測距装置及び撮像システム
JP6458742B2 (ja) * 2016-01-20 2019-01-30 オムロン株式会社 近接センサ
CN105510237B (zh) * 2016-01-21 2018-11-30 绍兴文理学院 一种用于光学泵浦探测实验的多功能光学泵浦探测仪
CA3012212A1 (en) 2016-02-05 2017-08-10 Nanoview Diagnostics Inc. Detection of exosomes having surface markers
US10247661B2 (en) 2016-07-20 2019-04-02 Cook Medical Technologies Llc Optical technique for coating characterization
WO2018043194A1 (ja) * 2016-08-29 2018-03-08 国立大学法人 鹿児島大学 屈折率測定装置及び屈折率測定方法
CN106338497B (zh) * 2016-09-13 2019-02-22 南京大学 一种表面等离子体共振显微成像装置及方法
US10234402B2 (en) * 2017-01-05 2019-03-19 Kla-Tencor Corporation Systems and methods for defect material classification
EP3399299A1 (en) * 2017-05-04 2018-11-07 ABB Schweiz AG Gas sensor employing polarization, gas detection system and method employing the same
WO2019030749A1 (en) * 2017-08-06 2019-02-14 Biop - Medical Ltd OPTICAL PROBE FOR CERVICAL EXAMINATION
CN107941710B (zh) * 2017-08-16 2020-10-13 四川大学 基于量子弱测量的表面等离子体共振传感器及金属表面介质折射率测量方法
CN109443704B (zh) * 2018-09-28 2021-11-12 北京航空航天大学 一种相位增强的光学强度检测方法和系统
FR3090099B1 (fr) 2018-12-18 2022-04-22 Univ De Technologie De Troyes Dispositif laser pour interferometrie a polarisation
JP7290243B2 (ja) 2019-03-29 2023-06-13 Tianma Japan株式会社 ガス検知装置
TWI687676B (zh) * 2019-04-29 2020-03-11 國立中正大學 生物感測器自我補償系統
EP4045933A4 (en) * 2019-10-16 2023-05-31 Waymo LLC SYSTEMS AND METHODS FOR INFRARED DETECTION
TWI798623B (zh) * 2020-01-20 2023-04-11 台灣百應生物科技股份有限公司 光學檢測器
US11953377B2 (en) * 2021-02-16 2024-04-09 Si-Ware Systems Integrated evanescent wave spectral sensing device
TWI799875B (zh) * 2021-05-28 2023-04-21 國立中央大學 折射率量測系統、方法與其所使用的全反射子系統

Family Cites Families (38)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5955377A (en) * 1991-02-11 1999-09-21 Biostar, Inc. Methods and kits for the amplification of thin film based assays
US5235404A (en) * 1991-06-27 1993-08-10 Board Of Trustees, Leland Stanford Junior University, Stanford University Interferometric technique for measurement of nonreciprocal optical effects in a sample
US5600441A (en) * 1995-01-31 1997-02-04 Zygo Corporation Interferometer and method for measuring the distance of an object surface with respect to the surface of a rotating disk
JP3476958B2 (ja) * 1995-04-12 2003-12-10 アークレイ株式会社 分光測定におけるスペクトルの安定化法
JP3693750B2 (ja) * 1996-05-15 2005-09-07 富士写真フイルム株式会社 電気泳動センサー
US5926284A (en) * 1997-04-30 1999-07-20 Fuji Photo Film Co., Ltd. Surface plasmon sensor
RU2141645C1 (ru) * 1997-06-11 1999-11-20 Никитин Петр Иванович Способ исследования биологических, биохимических, химических характеристик сред и устройство для его осуществления
US6134011A (en) * 1997-09-22 2000-10-17 Hdi Instrumentation Optical measurement system using polarized light
GB9803704D0 (en) * 1998-02-24 1998-04-15 Univ Manchester Waveguide structure
US6429846B2 (en) * 1998-06-23 2002-08-06 Immersion Corporation Haptic feedback for touchpads and other touch controls
US6313918B1 (en) * 1998-09-18 2001-11-06 Zygo Corporation Single-pass and multi-pass interferometery systems having a dynamic beam-steering assembly for measuring distance, angle, and dispersion
US6738141B1 (en) * 1999-02-01 2004-05-18 Vir A/S Surface plasmon resonance sensor
US6888638B1 (en) * 1999-05-05 2005-05-03 Zygo Corporation Interferometry system having a dynamic beam steering assembly for measuring angle and distance
JP3778248B2 (ja) 1999-07-30 2006-05-24 独立行政法人科学技術振興機構 偏光を用いたspr装置及びspr測定方法
IL131903A0 (en) * 1999-09-15 2001-03-19 Technion Res & Dev Foundation Plasmon resonance phase imaging
US6594011B1 (en) * 2000-07-11 2003-07-15 Maven Technologies, Llc Imaging apparatus and method
US7023547B2 (en) * 2000-07-11 2006-04-04 Maven Technologies, Llc Apparatus including a biochip for imaging of biological samples and method
US6943893B2 (en) * 2001-05-21 2005-09-13 Chen Chou Optical heterodyne surface plasma wave detecting method and apparatus
GB0119062D0 (en) 2001-08-06 2001-09-26 Cambridge Consultants Interferometer
US20030030817A1 (en) * 2001-08-10 2003-02-13 Chih-Kung Lee Multifunctional opto-electronic biochip detection system
WO2003036225A1 (en) * 2001-10-26 2003-05-01 University Of Rochester Method for biomolecular sensing and system thereof
US20030219809A1 (en) * 2002-03-26 2003-11-27 U-Vision Biotech, Inc. Surface plasmon resonance shifting interferometry imaging system for biomolecular interaction analysis
JP2004020539A (ja) * 2002-06-20 2004-01-22 Jasco Corp 赤外円二色性測定装置および赤外円二色性測定方法
CN1659416A (zh) * 2002-07-08 2005-08-24 科罗拉多州立大学董事会 具有全息读出的光学嗅觉传感器
EP1616157B1 (en) 2003-04-04 2012-05-09 VP Holding, LLC Method and apparatus for enhanced nano-spectroscopic scanning
JP3950818B2 (ja) 2003-05-29 2007-08-01 アイシン精機株式会社 反射型テラヘルツ分光測定装置及び測定方法
US7027676B2 (en) * 2004-03-08 2006-04-11 Agilent Technologies, Inc. Optical phase measurement of target
JP4370945B2 (ja) * 2004-03-11 2009-11-25 ソニー株式会社 誘電率の測定方法
US7336359B1 (en) * 2004-05-03 2008-02-26 Purdue Research Foundation System and method for nonlinear optical null ellipsometry
EP1766398B1 (en) 2004-06-24 2011-01-05 GE Healthcare Bio-Sciences AB Method for detecting molecular surface interactions
JP4505279B2 (ja) * 2004-08-02 2010-07-21 富士フイルム株式会社 試料分析用測定装置および測定方法
JP4516803B2 (ja) * 2004-08-24 2010-08-04 システム・インスツルメンツ株式会社 光吸収測定方法及び装置
JP4494160B2 (ja) * 2004-10-14 2010-06-30 株式会社トプコン 光画像計測装置
TWI259290B (en) * 2004-12-02 2006-08-01 Phalanx Biotech Group Inc Common-path phase-shift interferometry surface plasmon resonance microscope
US7365855B2 (en) * 2005-07-08 2008-04-29 The Chinese University Of Hong Kong Optical sensing devices with SPR sensors based on differential phase interrogation and measuring method using the same
US7407817B2 (en) * 2006-01-19 2008-08-05 The Chinese University Of Hong Kong Surface plasmon resonance sensors and method for detecting samples using the same
US7233396B1 (en) 2006-04-17 2007-06-19 Alphasniffer Llc Polarization based interferometric detector
JP4897572B2 (ja) * 2006-06-30 2012-03-14 株式会社ミツトヨ 斜入射干渉計

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