JP4516803B2 - 光吸収測定方法及び装置 - Google Patents
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Description
この光吸収測定では、試料に光を全反射で照射させるために光導波路が用いられる。
従来の光導波路は、縦断面台形又は長方形の形状をしており、内部で光が複数回全反射を繰り返すことができるように構成されている。
図12(a)は、縦断面台形の従来の光導波路を示している。図面に示すように、この光導波路は、対向する左右一対の入射面31と出射面32と、上下に位置する反射面33及び34を有する。下側に位置する反射面34には測定すべき試料34が配置される。
そして、レーザーや白色光等の光源(図示せず)からの光を入射面31から光導波路内に導入し、上下の反射面33及び34により光の全反射を繰り返させる。これにより、光は試料34に対して全反射で複数回照射され、全反射する毎に光吸収が生じる。この光吸収量は、試料によって異なる。そして、反射面32から出射した光の光強度を測定することにより、試料面に対して光が全反射した時の光吸収量を判断し、この光吸収量から試料における目的物質の状態や種、濃度、量などが分かる(特許文献1参照)。
しかし、光導波路を薄くするには技術的に限界がある。
このため測定感度を上げる方法としては、光導波路を長くする方法が現実的であるが、光導波路を長くすると、光導波路自体が大型化するため測定装置も大型化するという問題がある。
また、光導波路が長くなると、図12(b)に示すように、全反射回数は増えるが、それに伴い、全反射面の面積も大きくなるため、測定すべき試料の必要量が増えるという問題もある。測定すべき試料の中には、微量しか採取できない試料もあるため、試料の必要量が増えると測定すらできない試料も出てくるので問題である。
本発明は、上記した従来の問題点を解決し、測定すべき試料の必要量を最低限に抑えることができ、かつ、最小限の大きさの光導波路で、全反射回数を任意に設定することが可能な光吸収測定方法及び装置を提供することを目的としている。
また、本発明に係る光吸収測定装置は、一つの反射面を有し、反射面に直交し、かつ、反射面上の予定の一つ又は複数の反射点を通る軸線を挟んで対称に配置された対の入射点及び出射点を複数備え、入射点から入射した光が、反射面の予定の反射点と重なるように設けられた試料上で全反射した後、前記入射点と対称位置にある出射点から出射するように形成された光導波路を用いて、前記試料における光吸収強度又は光吸収スペクトルを出射光より測定する光吸収測定装置であって、一つの入射点へ光を入射させるための一つの光源と、ある対の出射点からの出射光を、他の対の入射点へ送るように前記光導波路の外側に配置された少なくとも一つの光移送手段と、予め決められた最後の出射点からの出射光から光吸収強度又は光吸収スペクトルを検出する検出手段とを備えていることを特徴とする。
好ましくは、前記光移送手段は、光ファイバから成る。
少なくとも一対の入射面及び出射面を有する光導波路を用いる場合には、ある対の入射点と、他の対の入射点とが、同一の入射面に配置され、ある対の出射点と、他の対の出射点とが、同一の出射面に配置されるように光ファイバを配置することができる。
また、少なくとも二対の入射面及び出射面を有する光導波路を用いる場合には、ある対の入射点と、他の対の入射点とが、異なる入射面に配置され、ある対の出射点と、他の対の出射点とが、異なる出射面に配置されるように光ファイバを配置してもよい。
前記入射点と出射点とは、反射点が一つになるように配置してもよく、また、反射点が複数になるように配置してもよい。
前記光導波路は、偶数の対向壁を持った多角錐形状、例えば、4角錐、6角錐、8角錐であり得、この場合には、各対の入射点と出射点とが、各々対向壁に位置する。また、前記光導波路は、円錐形状であってもよく、半球形であってもよい。さらに、必要に応じて、切頭多角錐又は切頭円錐であってもよい。
また、一回反射型の光導波路を用いて測定すべき試料に対して複数回光を全反射させるため、試料に対する光の全反射点を一つにすることができ、また、全反射点が複数あるでも、それらの全反射点を相互に近づけることができる。その結果、試料の量を最小限に抑えることができ、さらに、試料の同じ部分又は近接した部分で全反射させるため試料のバラツキによる測定精度の低下がない。従って、同じ回数全反射させたとしても、複数の離れた反射点で試料に光を全反射させる従来の光導波路を用いた測定方法より測定感度を上げることができる。
また、本発明に係る光吸収測定装置は、上記した測定方法と同様の効果が得られることは勿論、光導波路を小型化できる分、測定装置自体の大きさも小型化することが可能になるという効果を奏する。具体的には、例えば、上記した光源、少なくとも一つの光移送手段及び検出手段を一つのハウジング内に収容すると共に、同ハウジング内に、光検出手段からの検出結果を処理する制御手段と、制御手段により処理された結果を表示するディスプレイとを設けることにより、今までに存在しない一体型の小型測定装置を製造することも可能になる。また、光導波路の繰り返し反射機能による高感度そのままに、ヘッドにプリズムを配置したプローブタイプ、ハンディータイプ、ポータブル化が可能になる。
前記光移送手段は、ある対の出射点からの出射光を、他の対の入射点へ送ることができる構成であれば任意の構成でよいが、光の拡散等を防ぐために、光ファイバを用いることが好ましい。
また、光導波路へ入射する光及び光導波路から出射する光を効率的に伝播させるために、光ファイバと光導波路の間に集光のためのレンズ系を配置したり、またファイバの端面をレンズ効果を持たせる形状に加工することができる。
加えて光導波路より出射した光を再度他の入射点から入射するために用いる光ファイバとしては、光を入射する側が出射側より口径が大きいタイプの(テーパーファイバ)などが用いられ得る。
図中符号1は、光導波路を示している。この光導波路1は、対向する一対の入射面及び出射面2を3対有する切頭6角錐台の形状である。光導波路1は、内部で光が全反射して伝播可能な屈折率を有する透明な材料、例えば、石英ガラスや高屈折率ガラスから成る。
光導波路1の底面(反射面)3には、測定すべき試料4が配置される。
光源5は、レーザー光を、光導波路1の第1の入射面2aの入射点に入射するように配置されている。こうして入射された光は、反射面3に設けられた前記試料上の予定の反射点で全反射した後に、第1の出射面2bの出射点から出射する。前記第1の入射面2aの入射点と、第1の出射面2bの出射点とは、反射面3に直交し、かつ、前記予定の反射点を通る軸線aを挟んで対称位置にある。
光移送手段としての光ファイバ6は、第1の出射面2bの出射点から出射した出射光を、他の対を構成する第2の入射面2cの入射点に戻すように配置されている。
これにより、第2の入射面2cの入射点から再び、光導波路1内に光が入射される。再入射された光は、反射面3に設けられた前記試料上の予定の反射点で全反射した後に、前記中心軸線aを挟んで入射点と対称位置にある第2の出射面2dの出射点から出射する。
検出装置7は、予め決められた最後の出射点(この実施例では、出射面2dの出射点)から出射した光を受光する。受光された光は、不図示の処理装置に送られ、処理装置にて、反射した光の光強度や分光感度を検出する。
上記した構成により、光は、試料の同じ点にて、2回全反射した後、検出装置7に受光されるので、測定感度が向上する。
尚、この実施例では、光源5から直接、光が光導波路に入射され、光導波路からの出射光が直接光ファイバ6に入り、さらに、光ファイバ6からの光が直接光導波路に入射されるように構成されているが、これは本実施例に限定されることなく、必要に応じて、光導波路へ入射する光及び光導波路から出射する光を効率的に伝播させるために、光ファイバと光導波路の間に集光のためのレンズ系を配置してもよく、また、光ファイバの端面をレンズ効果を持たせる形状に加工してもよい。
また、上記した実施例では、構造を分かりやすくするために、2回反射の例を挙げて説明しているが、反射回数は、この実施例に限定されることなく、任意の回数に設定され得る。例えば、上記した実施例では、光導波路1が切頭6角錐台の形状なので、第2の出射面2dの出射点からの出射光を、さらに、他の対を構成する第3の入射面2eの入射点に戻す光ファイバを設け、出射面2fの出射点を最後の出射点として、この出射点からの出射光を検出するように構成してもよい。同様の原理で、光導波路を切頭8角錐台、切頭10角錐台等で形成し、入射面及び出射面から成る対を増やすことにより、反射回数を4回、5回と任意に増やすことができる。また、図3に示すように、光導波路を半球体で構成した場合には、入射点及び出射点の対を、面とは関係なく設定することができるので、反射回数の設定の自由度が高くなる。
さらに、光導波路が、上記した実施例のように切頭型の場合には、円錐台形状であっても、角錐台形状であっても、上記した実施例と逆向きに光導波路を使用することが可能である。図4は、切頭角錐台形状の光導波路を図1に示した実施例と逆向きに使用する例を示している。この実施例では、光導波路1の傾斜面1aを利用して入射光を屈折させて試料4に導いた後、試料4にて全反射した光を傾斜面1bを利用して屈折させて出射させている。
図4に示した実施例では、傾斜面1a及び1bを単に屈折のために用いているだけであるが、図4に点線で示すように、これらの傾斜面1a及び1bにも試料4を設け、底面3に加えてこれらの傾斜面1a及び1bにおいても光を全反射させるように構成してもよい。
さらにまた、光導波路は、切頭型である必要はなく、円錐形状又は角錐形状であってもよい(図5参照)。
また、上記した実施例では、複数の入射点及び出射点が、それぞれ異なる入射面及び出射面に位置するように構成されているが、これは本実施例に限定されることなく、光ファイバのマトリックスを組み、同一の入射面及び出射面に複数の入射点及び出射点が位置するように構成してもよい。図6〜図9は、4本の光ファイバで2×2のマトリックスを組立て、同一の入射面及び出射面に各々4つの入射点及び出射点を配置する例を示している。図6〜図9中、符号20a〜20eは光ファイバを示し、符号21はプリズムを示し、符号22は反射面を示している。
図6に示すように、光源からの光Aは光ファイバ20aからプリズム21へ入射され、反射面22上で全反射する。全反射してプリズム21から出射した光Aは、光ファイバ20bに入射する。
図7に示すように、光ファイバ20bからの光Bは、再び、プリズム21へ入射され、反射面22上で全反射した後、プリズム22から出射して光ファイバ20cに入射する。
図8に示すように、光ファイバ20cからの光Cは、再び、プリズム21へ入射され、反射面22上で全反射した後、プリズム22から出射して光ファイバ20dに入射する。
図9に示すように、光ファイバ20dからの光Dは、再び、プリズム21へ入射され、反射面22上で全反射した後、プリズム22から出射して光ファイバ20eに入射する。光ファイバ20eは、不図示の処理装置に接続されている。
この実施例を応用して、例えば、直径0.1mmの光ファイバで10×10のマトリックスを組立てることにより、1mm2で100回反射を行うことが可能になる。
図6〜図9に示した実施例では、図1〜図5に示した実施例とは異なり、反射点を一箇所に集中させることはできない。しかし、図面に示したように、全ての反射点を非常に近接させることができる。そのため、従来の光吸収測定装置に比べるとプリズムの大きさが非常に小さくなり、試料の必要量も低減させることができる。
また、図6〜図9に示した実施例と、図1〜図5に示した実施例とを組み合わせると、さらに、反射回数を増やすことが可能になる。具体的には、例えば、4角錐のプリズムを用いて、一つの対向する面に、直径0.1mmの光ファイバで10×10のマトリックスを組立てて配置し、さらに、他の対向する面に同様のマトリックスを組立てて配置することにより、1mm2で200回反射を行うことも可能になる。
尚、図1及び図2に示した構成部材と同じ構成部材には、同じ符号を付して詳細な説明は省略する。
この光吸収測定装置は、ハウジング10の内部に、光源5、光ファイバ6、光検出手段としての光検出素子7が設けられている。
光検出素子7で検出した光は、処理装置11に送られ、この処理装置11で検出した光の光強度を測定し、その測定結果に基づいて、測定物質の吸収スペクトルや、吸収強度等の必要情報が、ディスプレイ12に表示される。
このように、全ての構成部材を一つのハウジング10内に収容することにより、今までにない一体型の光吸収スペクトル測定装置を提供することが可能になる。この一体型の光吸収スペクトル測定装置の大きさは、使用する光導波路の大きさに依存する。本発明に係る測定方法によれば、一つの点で繰り返し反射が行えるので光導波路は非常に小型化することができ、その結果、測定装置も非常に小型化することができる。そして、上記した実施例のように一体化することにより、携帯型の測定装置を提供することも可能になる。
また、図11に示した実施例では、最終的な測定及び分析結果をディスプレイに出力するように構成されているが、これは本実施例に限定されることなく、プリンタ、記憶媒体、表示ランプ、スピーカ等の任意の出力手段に出力可能である。
さらに、図11に示した実施例に、図6〜図9に示した光ファイバのマトリックス構造を適用すれば、小さな測定装置で非常に多くの反射回数を得ることが可能になる。
2 側面
3 底面
4 試料
5 光源
6 光ファイバ
7 検出装置
10 ハウジング
11 制御装置
12 ディスプレイ
a 中心軸線
20a 光ファイバ
20b 光ファイバ
20c 光ファイバ
20d 光ファイバ
20e 光ファイバ
21 プリズム
22 反射面
Claims (8)
- 一つの反射面を有し、
反射面に直交し、かつ、反射面上の予定の一つ又は複数の反射点を通る軸線を挟んで対称に配置された対の入射点及び出射点を複数備え、
入射点から入射した光が、反射面の予定の反射点と重なるように設けられた試料上で全反射した後、前記入射点と対称位置にある出射点から出射するように形成された光導波路を用いて、
前記試料における光吸収強度又は光吸収スペクトルを出射光より測定する光吸収測定方法であって、
前記光導波路の外側に配置した少なくとも一つの光移送手段を用いて、ある対の出射点からの出射光を、少なくとも一回、他の対の入射点から再入射させ、
予め決められた最後の出射点からの出射光から光吸収強度又は光吸収スペクトルを測定する
ことを特徴とする光吸収測定方法。 - 一つの反射面を有し、
反射面に直交し、かつ、反射面上の予定の一つ又は複数の反射点を通る軸線を挟んで対称に配置された対の入射点及び出射点を複数備え、
入射点から入射した光が、反射面の予定の反射点と重なるように設けられた試料上で全反射した後、前記入射点と対称位置にある出射点から出射するように形成された光導波路を用いて、
前記試料における光吸収強度又は光吸収スペクトルを出射光より測定する光吸収測定装置であって、
一つの入射点へ光を入射させるための一つの光源と、
ある対の出射点からの出射光を、他の対の入射点へ送るように前記光導波路の外側に配置された少なくとも一つの光移送手段と、
予め決められた最後の出射点からの出射光から光吸収強度又は光吸収スペクトルを検出する検出手段と
を備えていることを特徴とする光吸収測定装置。 - 前記光移送手段が、光ファイバから成る
ことを特徴とする請求項2に記載の光吸収測定装置。 - 光導波路が少なくとも一対の入射面及び出射面を有し、
ある対の入射点と、他の対の入射点とが、同一の入射面に配置され、
ある対の出射点と、他の対の出射点とが、同一の出射面に配置されるように光ファイバが配置されている
ことを特徴とする請求項3に記載の光吸収測定装置。 - 光導波路が少なくとも二対の入射面及び出射面を有し、
ある対の入射点と、他の対の入射点とが、異なる入射面に配置され、
ある対の出射点と、他の対の出射点とが、異なる出射面に配置されるように光ファイバが配置されている
ことを特徴とする請求項3に記載の光吸収測定装置。 - 前記光導波路が、偶数の対向壁を持った多角錐台形状であり、
各対の入射点と出射点とが、各々対向壁に位置する
ことを特徴とする請求項3に記載の光吸収測定装置。 - 前記光導波路が、円錐形状である
ことを特徴とする請求項3に記載の光吸収測定装置。 - 前記光導波路が、切頭多角錐台形状又は切頭円錐形状である
ことを特徴とする請求項3に記載の光吸収測定装置。
Priority Applications (6)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2004244032A JP4516803B2 (ja) | 2004-08-24 | 2004-08-24 | 光吸収測定方法及び装置 |
US11/200,086 US7298485B2 (en) | 2004-08-24 | 2005-08-10 | Method of and a device for measuring optical absorption characteristics of a sample |
EP20050356136 EP1630545B1 (en) | 2004-08-24 | 2005-08-12 | Device for measuring with enhanced sensitivity optical absorption characteristics of a sample |
TW94127798A TWI283742B (en) | 2004-08-24 | 2005-08-16 | A method of and a device for measuring optical absorption characteristics of a sample |
KR20050077380A KR20060050572A (ko) | 2004-08-24 | 2005-08-23 | 시료의 광흡수특성을 측정하기 위한 방법 및 장치 |
CN2005100977525A CN1740776B (zh) | 2004-08-24 | 2005-08-24 | 用于测量样本光吸收特性的方法和装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2004244032A JP4516803B2 (ja) | 2004-08-24 | 2004-08-24 | 光吸収測定方法及び装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2006064405A JP2006064405A (ja) | 2006-03-09 |
JP4516803B2 true JP4516803B2 (ja) | 2010-08-04 |
Family
ID=35311790
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2004244032A Expired - Fee Related JP4516803B2 (ja) | 2004-08-24 | 2004-08-24 | 光吸収測定方法及び装置 |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7298485B2 (ja) |
EP (1) | EP1630545B1 (ja) |
JP (1) | JP4516803B2 (ja) |
KR (1) | KR20060050572A (ja) |
CN (1) | CN1740776B (ja) |
TW (1) | TWI283742B (ja) |
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-
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- 2005-08-12 EP EP20050356136 patent/EP1630545B1/en not_active Expired - Fee Related
- 2005-08-16 TW TW94127798A patent/TWI283742B/zh not_active IP Right Cessation
- 2005-08-23 KR KR20050077380A patent/KR20060050572A/ko active Search and Examination
- 2005-08-24 CN CN2005100977525A patent/CN1740776B/zh not_active Expired - Fee Related
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JPH03273138A (ja) * | 1990-03-22 | 1991-12-04 | Nec Corp | 光学式液質測定装置 |
JPH05249035A (ja) * | 1992-03-10 | 1993-09-28 | F M T:Kk | 塩分検知方法 |
JPH0712715A (ja) * | 1993-06-29 | 1995-01-17 | Shimadzu Corp | 全反射吸収スペクトル測定装置 |
JPH08201278A (ja) * | 1995-01-20 | 1996-08-09 | Shimadzu Corp | スペクトル測定装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR20060050572A (ko) | 2006-05-19 |
EP1630545A1 (en) | 2006-03-01 |
TW200615532A (en) | 2006-05-16 |
US7298485B2 (en) | 2007-11-20 |
JP2006064405A (ja) | 2006-03-09 |
US20060044560A1 (en) | 2006-03-02 |
TWI283742B (en) | 2007-07-11 |
CN1740776A (zh) | 2006-03-01 |
EP1630545B1 (en) | 2013-01-02 |
CN1740776B (zh) | 2010-05-12 |
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A621 | Written request for application examination |
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A977 | Report on retrieval |
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A131 | Notification of reasons for refusal |
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A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
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|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
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|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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