KR20060050572A - 시료의 광흡수특성을 측정하기 위한 방법 및 장치 - Google Patents

시료의 광흡수특성을 측정하기 위한 방법 및 장치 Download PDF

Info

Publication number
KR20060050572A
KR20060050572A KR20050077380A KR20050077380A KR20060050572A KR 20060050572 A KR20060050572 A KR 20060050572A KR 20050077380 A KR20050077380 A KR 20050077380A KR 20050077380 A KR20050077380 A KR 20050077380A KR 20060050572 A KR20060050572 A KR 20060050572A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
light
optical waveguide
sample
light absorption
reflected
Prior art date
Application number
KR20050077380A
Other languages
English (en)
Inventor
히로미 타카하시
Original Assignee
시스템 인스트루먼츠 컴퍼니 리미티드
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 시스템 인스트루먼츠 컴퍼니 리미티드 filed Critical 시스템 인스트루먼츠 컴퍼니 리미티드
Publication of KR20060050572A publication Critical patent/KR20060050572A/ko

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/55Specular reflectivity
    • G01N21/552Attenuated total reflection
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/25Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
    • G01N21/31Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
    • G01N21/314Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry with comparison of measurements at specific and non-specific wavelengths
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2201/00Features of devices classified in G01N21/00
    • G01N2201/06Illumination; Optics
    • G01N2201/066Modifiable path; multiple paths in one sample
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2201/00Features of devices classified in G01N21/00
    • G01N2201/08Optical fibres; light guides

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)

Abstract

본 발명에 따른 시료의 광흡수특성을 측정하는 장치는 광원, 서로 마주보는 입광면(들) 및 출광면(들), 및 빛이 통과하여 시료상에서 전반사에 의해 반사되는 측정 시료가 배치된 광반사면을 포함하는 광도파로, 상기 광도파로의 상기 출광면과 상기 입광면 사이에 배치되어 상기 빛이 상기 광도파로로 다시 들어가도록 하는 하나 이상의 광전달 수단, 및 상기 출광면을 거쳐 상기 광도파로로부터 다시 나오는 빛을 수신하여 상기 수신된 빛에 기초하여 상기 시료의 광흡수특성을 검출하는 처리장치로 구성되어, 상기 광도파로를 통과한 빛이 상기 광도파로로 다시 보내어지고, 그 빛이 상기 광도파로로 다시 도입되며, 상기 시료에서 다시 반사된다(도 1).
광흡수특성, 광도파로

Description

시료의 광흡수특성을 측정하기 위한 방법 및 장치{A method of and a device for measuring optical absorption characteristics of a sample}
도 1은 본 발명에 따른 시료의 광흡수특성 측정장치에 관한 제 1 실시예를 도시하는 측면도.
도 2는 도 1에 도시된 시료의 광흡수특성 측정장치의 평면도.
도 3은 본 발명에 따른 시료의 광흡수특성 측정장치에 관한 제 2 실시예를 도시하는 측면도.
도 4는 본 발명에 따른 시료의 광흡수특성 측정장치에 관한 제 3 실시예를 도시하는 측면도.
도 5는 본 발명에 따른 시료의 광흡수특성 측정장치에 관한 제 4 실시예를 도시하는 측면도.
도 6은 본 발명에 따른 시료의 광흡수특성 측정장치에 관한 제 5 실시예를 도시하는 측면도.
도 7은 도 6에 도시된 시료의 광흡수특성 측정장치의 기능을 도시함.
도 8은 도 6에 도시된 시료의 광흡수특성 측정장치의 기능을 도시함.
도 9는 도 6에 도시된 시료의 광흡수특성 측정장치의 기능을 도시함.
도 10은 본 발명에 따른 시료의 광흡수특성 측정장치에 관한 제 6 실시예를 도시하는 측면도.
도 11은 본 발명에 따른 시료의 광흡수특성 측정장치에 관한 제 7 실시예를 도식적으로 나타냄.
도 12(a) 및 12(b)는 종래의 광도파로를 도시함.
본 발명은 광도파로를 이용하여 극히 소량의 측정가능한 양을 갖는 시료의 광흡수특성을 측정하는 방법에 관한 것이다. 본 발명은 또한 광도파로를 이용하여 매우 소량의 시료의 광흡수 특성을 측정하기 위한 장치에 관한 것이다.
시료의 광흡수특성을 측정하기 위한 공지된 방법은, 빛을 시료로 전송하여 빛이 전반사에 의해 시료에서 반사되도록 하고, 시료에서 반사된 빛을 수신하고, 수신된 빛에 기초하여 시료의 광흡수 특성을 검출하여, 상기 시료의 광흡수 특성에 기초하여 시료내 목표 물질의 상태, 종류, 농도 및 양 중 하나 이상을 특정하는 것으로 구성된다.
이러한 종래의 측정 방법에서, 빛을 전반사에 의해 시료 상에서 반사시키기 위하여 광도파로가 이용된다.
종래의 광도파로는 사다리꼴 또는 직사각형 평행육면체를 포함하여, 빛이 광 도파로에서 전반사에 의하여 수회 반사되도록 하였다.
도 12(a)에는 사다리꼴을 포함하여 종래의 광도파로가 도시된다. 도 12(a)에 도시된 바와 같이, 광도파로는 서로 마주보는 한 쌍의 입광면(31) 및 출광면(32), 및 서로 마주보는 상부 반사면(33) 및 바닥 반사면(34)을 포함한다. 상기 바닥 반사면(34)상에 측정될 시료(35)가 놓여진다.
도면에는 도시되지 않은 광원으로부터의 레이저광 또는 백광은 상기 입광면(31)을 통해 광도파로 내로 도입되며, 계속해서 상기 상부 반사면(33) 및 바닥 반사면(34) 상에서 전반사에 의해 반사된다. 빛은 상기 바닥 반사면(34)에 배치된 시료에서 수차례 전반사되어, 광 흡수도가 매 전반사를 통해 얻어지도록 한다. 광흡수특성은 시료내 목표 물질의 종류에 따라 다르다. 따라서, 광도파로내에서 전반사에 의해 시료에서 반사된 다음 광도파로로부터 나오는 빛으로부터 시료의 광흡수 특성을 검출함으로써, 시료내 목표 물질의 상태, 종류, 농도 및 양을 구체화할 수 있다(일본 특허 제2807777호 참조). 예를 들어, 광흡수 특성은 광흡수량, 광흡수 세기 및 광흡수 스펙트럼 중 하나일 수 있다.
상기 언급된 측정 방법의 측정 감도(sensitivity)는 반사되는 횟수에 따라 다르다. 좀 더 구체적으로, 반사 횟수가 증가하면, 측정 감도 또한 증가한다. 반대로, 반사 횟수가 감소하면, 측정 감도도 감소한다. 따라서 측정 감도를 증가시키기 위하여, 광도파로를 길게 하거나 얇게 하여 반사 횟수를 증가시킬 필요가 있다.
그러나 광도파로를 얇게 하는 데는 기술적 한계가 있다.
따라서 측정 감도를 증가시키기 위하여, 실제로는 광도파로를 연장하는 것이 필요하다. 그러나, 광도파로가 연장되려면 광흡수특성을 측정하기 위한 커다란 크기의 장치가 사용되어야 한다는 문제가 있다.
광도파로가 연장되면, 반사 횟수는 도 12(b)에 도시된 바와 같이 증가한다. 그러나 반사면의 면적 또한 커져서, 측정에 필요한 시료의 양 또한 증가한다. 단지 미량만이 제조 또는 이용가능한 시료를 추출하는 것이 어렵기 때문에, 측정을 위해 시료의 양이 증가되어야 한다면 시료를 측정하는 것이 곤란해지는 심각한 문제가 있다.
본 발명의 목적은 상기한 바의 문제점을 해결하고, 최소화된 크기를 갖는 광도파로를 이용하여 측정될 시료의 양이 최소화될 수 있고 전반사의 횟수가 적절하게 설정될 수 있는, 시료의 광흡수 특성을 측정하는 방법 및 장치를 제공하는 것이다.
상기 목적을 달성하기 위하여, 본 발명에 따른 시료의 광흡수 특성을 측정하는 방법은, 서로 마주보는 입광면(들) 및 출광면(들), 및 빛이 통과하여 시료상에서 전반사에 의해 반사되는 측정 시료가 배치된 반사면을 포함하는 광도파로로 광원으로부터의 빛을 보내고, 상기 출광면을 통해 상기 광도파로로부터 나오는 빛을 상기 광도파로의 상기 입광면으로 전달하여 상기 빛이 상기 광도파로 내로 한 번 이상 다시 들어가도록 하고, 상기 광도파로로부터 다시 나오는 빛을 수신하고, 상기 수신된 빛에 기초하여 상기 시료의 광흡수특성을 검출하는 것으로 구성된다.
또한 본 발명에 따른 시료의 광흡수특성을 측정하는 장치는, 광원; 서로 마주보는 입광면(들) 및 출광면(들), 및 빛이 통과하여 시료상에서 전반사에 의해 반사되는 측정 시료가 배치된 광반사면을 포함하는 광도파로; 상기 광도파로의 상기 출광면과 상기 입광면 사이에 배치되어 상기 빛이 상기 광도파로로 다시 들어가도록 하는 하나 이상의 광전달 수단; 및 상기 출광면을 거쳐 상기 광도파로로부터 다시 나오는 빛을 수신하여 상기 수신된 빛에 기초하여 상기 시료의 광흡수특성을 검출하는 처리장치로 구성되어, 상기 광도파로를 통과한 빛이 상기 광도파로로 다시 보내어지고, 그 빛이 상기 광도파로로 다시 도입되며, 상기 시료에서 다시 반사되도록 한다.
본 발명에 따라 시료의 광흡수특성을 측정하는 방법 및 장치의 실행 양식이 첨부된 도면에 도시된 몇몇 실시예를 참고로 이하에서 기술될 것이다.
도 1은 본 발명에 따른 시료의 광흡수특성 측정장치의 제 1 실시예를 나타내는 측면도로서, 본 발명의 또 다른 측면에 따른 시료의 광흡수특성 측정 방법의 원리를 설명하기 위한 것이다. 도 2는 도 1에 도시된 장치의 평면도이다.
상기 도면에서 도면 부호 1은 광도파로를 나타낸다. 광도파로(1)는 모서리가 잘린 육면의 피라미드형이다. 모서리가 잘린 육면 피라미드형의 광도파로(1)는 6개의 측면(2), 즉 서로 마주보는 3쌍의 두개의 측면을 갖는다. 본 실시예에서 서로 마주보는 첫번째 2개의 측면(2a 및 2b)쌍은 제 1 입광면(2a) 및 제 1 출광면(2b)으 로 이용되며, 서로 마주보는 두번째 2개의 측면(2c 및 2d)쌍은 제 2 입광면(2c) 및 제 2 출광면(2d)으로 이용된다. 상기 제 2 출광면(2d)은 본 실시예에서 최종 출광면이다.
광도파로(1)는, 빛이 광도파로(1)를 거쳐 전반사에 의해 안내될 수 있는 굴절률을 갖는 투명 재질, 예를 들어 실리카 유리 또는 고굴절률 유리로 구성된다.
광도파로(1)의 바닥면(반사면)(3)에 측정될 시료(4)가 놓여진다.
광원(5)은 레이저광이 상기 제 1 입광면(2a)의 소정의 제 1 입력점을 통과하여 광도파로(1)로 들어갈 수 있도록 배치된다. 이렇게 하여 빛이 광도파로(1)내로 도입된다. 빛은 반사면(3)상에 놓여진 시료의 소정의 반사 지점에서 전반사된다. 그러면 레이저광이 상기 제 1 출광면(2b)의 소정의 제 1 출력점을 통해 광도파로(1)로부터 나온다. 상기 제 1 입력점은 중심축 "a"에 대하여 상기 제 1 출력점과 대칭하여 마주보는데, 상기 중심축은 반사면(3)의 소정의 반사 지점을 통과하여 직각으로 연장된다.
광섬유(6)는 상기 제 1 출광면(2b) 및 상기 제 2 입광면(2c) 사이에 제공되는 광전달 수단으로서 배치된다. 광섬유(6)는 상기 제 1 출광면(2b)의 상기 제 1 출력점을 거쳐 광도파로(1)로부터 빠져나오는 레이저광을 수신하여 그 빛을 상기 제 2 입광면(2c)의 소정의 제 2 입력점으로 전달한다.
광섬유(6)에 의해 전달된 빛은 상기 제 2 입광면(2c)의 제 2 입력점을 거쳐 광도파로내로 다시 도입된다. 재도입된 빛은 반사면(3)상에 배치된 시료의 상기 반사 지점에서 다시 전반사된다. 그 다음, 빛은 다시 광도파로(1)로부터 상기 제 2 출광면(2d)의 제 2 출력점을 거쳐 빠져나가는데, 이는 중심축 "a"에 대하여 상기 제 2 입광면(2c)의 제 2 입력점과 대칭하여 마주본다.
처리장치(7)는, 광도파로(1) 내에서 시료에 두 번 전반사된 다음 최종 출력점(본 실시예에서 최종 출력점은 제 2 출광면(2d)의 제 2 출력점이다.)을 거쳐 광도파로(1)로부터 빠져나온 레이저광을 수신하도록 배치된다. 상기 처리장치는 상기 광에 기초하여 시료의 광흡수특성을 검출하여, 시료내 목표 물질의 상태, 목표 물질의 종류, 목표 물질의 농도 및 목표 물질의 양을 특정하도록 한다. 예를 들어 광흡수특성은 광흡수량, 광흡수 세기 및 광흡수 스펙트럼 중 어느 하나일 수 있다.
상기 실시예에서, 광원으로부터의 빛은 시료의 동일0한 반사 지점에서 2회 전반사되므로, 측정 감도가 상기 실시예에서와 동일한 광도파로를 이용하여 빛이 시료의 상기 하나의 반사 지점에서 단지 한 번만 전반사되는 종래 방법에 따라 얻어진 측정 감도 보다 더 높다.
상기 실시예에서, 빛은 광원(5)으로부터 광도파로(1)내로 직접 도입되고, 상기 광도파로(1)에서 나온 빛은 광섬유(6)에 의해 직접 수신되며, 그 빛은 광섬유(6)로부터 광도파로(1)로 직접 재도입된다. 그러나, 광원(5), 광도파로(1) 및 광섬유(6)의 상기 구성은 상기 실시예에 한정되지 않는다. 필요하면, 광도파로 및 광섬유를 통해 빛을 효율적으로 전달하기 위하여, 집합 렌즈가 광도파로(1)와 광섬유(6) 사이에 제공되거나, 또는 광섬유(6)의 끝단면이 렌즈와 같은 형태로 성형되도록 할 수 있다.
상기 실시예에서, 광흡수특성을 측정하기 위한 장치는 빛이 광도파로(1) 내 에서 시료에 의해 2회 전반사되도록 구성된다. 그러나 빛 반사 횟수는 상기 실시예에 한정되지 않는다. 예를 들어, 상기 실시예에서, 상기 제 2 출광면(2d)을 거쳐 상기 광도파로(1)로부터 빠져나온 빛을 제 3 입광면(2e)으로 전달할 수 있는 또 다른 광섬유가 제공되어, 빛이 상기 광도파로(1) 내로 2번 재도입되고, 광도파로(1) 내에서 시료의 동일한 반사 지점에서 3회 전반사되도록 할 수 있다. 이 경우, 처리 장치(7)는 중심축 "a"에 대하여 상기 제 3 입광면(2e)의 제 3 입력점과 대칭적으로 마주보는 제 3 출광면(2f)의 제 3 출력점을 거쳐 상기 광도파로(1)로부터 나오는 레이저광을 수신하도록 배치되어야 한다. 이러한 원리에 기초하여, 광도파로를 모서리가 잘린 팔면 피라미드체 또는 모서리가 잘린 십면 피라미드체로 형성하고, 광도파로의 입광면 및 출광면으로 구성되는 서로 마주보는 두개의 쌍을 이루는 면의 수를 증가시킴으로써, 빛 반사 횟수를 4회, 5회 및 그 이상의 횟수로 임의로 증가시킬 수 있다. 도 3에 도시된 바와 같이, 광도파로(1)는 반구형으로 형성될 수 있다. 이 경우, 입광점 및 출광점은 측면 없이 결정될 수 있다.
또한, 모서리가 잘린 원뿔형 또는 피라미드형인지에 관계없이, 상기 실시예에서 언급된 모서리가 잘린 형태의 광도파로로, 상기 실시예의 그것과 반대되는 위치에서 상기 광도파로를 이용할 수 있다.
도 4는 모서리가 잘린 피라미드형의 광도파로가 도 1의 실시예와는 반대되는 위치에 사용된 경우를 도시한다. 도 4에 도시된 실시예에서, 입사광은 광도파로(1)의 경사면(1a)에서 반사되어 시료(4)로 전달된다. 그 다음 빛은 시료(4)에서 전반사되고 경사면(1b)에서 반사된다. 반사된 빛은 광도파로(1)로부터 나간다. 도 4에 도시된 실시예에서, 경사면(1a 및 1b)은 빛의 반사를 위해서만 사용된다. 선택적으로 시료(4)는 경사면(1a 및 1b) 상에 배치될 수 있다. 바닥면(3) 뿐 아니라 이들 경사면(1a 및 1b)은 빛의 전반사를 이루도록 의도될 수 있다.
또한, 광도파로는 반드시 모서리가 잘린 형태이어야 하는 것은 아니다. 선택적으로 그것은 원뿔형 또는 피라미드형일 수 있다(도 5 참조).
상기 실시예에서, 입력점 및 출력점은 각각 다른 표면에 위치한다. 그러나, 입력점 및 출력점의 위치는 상기 실시예에 한정되는 것이 아니다. 예를 들어, 매트릭스 집합된 수많은 광섬유가, 빛이 상기 매트릭스의 광섬유 각각으로부터 광도파로내로 도입 및 재도입되는 수많은 입력점이 동일한 입광면 상에 배치되고, 빛이 광도파로로부터 빠져나오고 다시 빠져나오는 수많은 출력점이 동일한 출광면 상에 배치되도록 배치될 수 있다.
도 6 내지 도 9는 본 발명에 따른 시료의 광흡수특성 측정 장치의 제 5 실시예를 도시한다. 광흡수특성 측정장치는 4개의 광섬유로 구성된 매트릭스 집합을 갖는다. 상기 매트릭스 집합은 광도파로로서 프리즘(21)의 입광면 및 출광면 사이에 배치되어, 4개의 입력점이 프리즘(21)의 동일한 입광면 상에 위치하고, 4개의 출력점이 프리즘(21)의 동일한 출광면 상에 위치하도록 한다. 이들 도면에서, 도면 부호 20a 내지 20e는 광섬유를 나타내며, 도면 부호 22는 측정될 시료가 배치되는 프리즘의 반사면을 나타낸다.
도 6에 도시된 바와 같이, 광원으로부터의 빛 A는 광섬유(20a)를 통해 프리즘(21)으로 도입된 다음, 반사면(22)의 시료에서 전반사된다. 전반사에 의해, 빛 A 는 프리즘(21)으로부터 나가서 광섬유(20b)에 의해 수신된다.
도 7에 도시된 바와 같이, 광섬유(20b)는 프리즘(21)의 입광면으로 빛을 전달한다. 광섬유(20b)로부터의 빛 B는 프리즘(21)으로 재도입되고, 그 다음 반사면(22)의 시료상에서 전반사에 의해 재반사된다. 상기 전반사에 의해, 빛 B는 프리즘(21)으로부터 다시 나가서 광섬유(20c)에 의해 수신된다. 그리고, 광섬유(20c)는 프리즘(21)의 입광면으로 빛을 전달한다.
도 8에 도시된 바와 같이, 광섬유(20c)로부터의 빛 C는 프리즘(21)으로 재도입되고, 그 다음 반사면(22)의 시료상에서 전반사에 의해 다시 반사된다. 그 다음, 빛 C는 프리즘(21)으로부터 다시 나가서 광섬유(20d)에 의해 수신된다. 광섬유(20d)는 프리즘(21)의 입광면으로 빛을 전달한다.
도 9에 도시된 바와 같이, 광섬유(20d)로부터의 빛 D는 프리즘(21)으로 재도입되고, 그 다음 반사면(22)의 시료상에서 전반사에 의해 재반사된다. 그 다음, 빛 D는 프리즘(21)으로부터 다시 나가서 광섬유(20e)에 의해 수신된다. 광섬유(20e)는 도면에는 도시되지 않은 처리 장치로 연결된다.
상기 실시예에서, 매트릭스 집합은 4개의 광섬유로 구성된다. 그러나 매트릭스의 광섬유의 수는 상기 실시예에 한정되지 않는다. 예를 들어, 매트릭스 집합은 각각의 직경이 0.1 mm인 백 개의 광섬유로 구성되어, 빛이 1 ㎟ 의 영역 내에서 시료상에서 1백회 반사되도록 할 수 있다.
도 6 내지 9에 도시된 상기 실시예에서 동일한 반사 지점에서 빛을 반사하는 것은 불가능하다. 그러나 도 6 내지 9에 도시된 바와 같이, 모든 반사 지점들이 서 로 매우 인접하기 때문에, 프리즘의 크기가 종래의 광흡수도 측정 장치에서 사용된 프리즘의 크기보다 더 작고, 본 발명의 상기 장치에서 요구되는 시료의 양이 종래 측정 장치에서 요구되던 시료의 양 보다 더 적다.
도 1에 기재된 실시예와 도 6 내지 9에 기재된 실시예를 조합함으로써 빛 반사 횟수를 증가시킬 수 있다. 특히, 예를 들어, 광도파로는 모서리가 잘린 사면 피라미드, 즉 두 쌍의 입광면과 출광면을 갖는다. 또, 각각의 직경이 0.1 mm인 백 개의 광섬유로 구성된 하나의 매트릭스 집합이 광도파로의 제 1 입광면 및 광도파로의 제 1 출광면 사이에 배치되고, 각각의 직경이 0.1 mm인 백 개의 광섬유로 구성된 또 다른 매트릭스 집합이 광도파로의 제 2 입광면과 광도파로의 제 2 출광면 사이에 배치된다. 이러한 구성에 의해, 빛이 1 ㎟ 의 영역 내에서 시료상에서 2백회 반사될 수 있다.
상기 실시예에서, 빛은 입광면에 대하여 직각으로 도입되어 출광면에 대하여 직각으로 나간다. 그러나 빛의 입력각 및 출력각은 본 실시예에 한정되지 않는다. 예를 들어, 도 10에 도시된 바와 같이, 빛은 광도파로(1)의 입광면(2a) 및 출광면(2b)의 경사를 이용하여 굴절되어 빛을 시료(4)로 향하게 할 수 있다.
본 발명에 따른 시료의 광흡수특성을 측정하기 위한 장치의 제 7 실시예는 도 11을 참고로 설명될 것이다.
상기 실시예들의 요소와 동일한 요소에 대해서는 동일한 도면 부호가 주어진다.
광흡수특성 측정장치는 광원(5), 광섬유(6) 및 광수신 소자(7)가 제공되어 있는 하우징(10)으로 구성된다.
상기 광흡수특성 측정장치는 또한 측정될 시료가 배치된 광도파로로 구성된다.
광섬유(6)는 광도파로로부터 나온 빛을 광도파로로 다시 전달하여, 빛이 광도파로로 재도입되고 광도파로상에 배치된 시료에서 다시 반사되도록 한다.
광흡수특성 측정장치는 또한, 광도파로내 시료 상에서 수회 반사되고 광도파로로부터 나가서 광수신 소자(7)에 의해 수신된 빛에 기초하여 광도파로상에 배치된 시료의 광흡수특성을 검출하는 처리장치(11)로 구성된다. 상기 처리장치(11)의 처리 결과는 디스플레이(12)에 표시된다.
상기 광흡수특성 측정장치에서, 광원(5), 광섬유(6), 광수신 소자(7), 처리장치(11) 및 디스플레이(12)는 하우징(10)내에 제공되므로, 광흡수특성을 측정하는 신규한 장치로서 전부가 하나로 된(올인원, all-in-one) 휴대용 장치를 제공할 수 있게 된다. 이와 같은 올인원 형태의 광흡수특성을 측정하기 위한 휴대용 장치의 크기는 광도파로의 크기에 의존한다. 상기 광흡수특성 측정장치는 빛이 광도파로의 출광면으로부터 입광면으로 되돌아가도록 하는 광섬유(6)를 포함하므로, 빛은 광도파로로 재도입되고 광도파로내 시료 상에서 재반사된다. 따라서, 하나의 반사지점 또는 가장 근접한 지점들에서 빛이 시료 상에서 전반사에 의해 수회 반사되므로, 광도파로의 크기는 매우 작다. 따라서, 시료의 광흡수특성 측정장치의 크기 또한 매우 작다. 상기 시료의 광흡수특성 측정장치가 올인원 유형이기 때문에 광흡수 측정장치는 휴대용일 수 있다.
도 11에 도시된 상기 실시예에서, 광원(5), 광섬유(6), 광수신 소자(7), 처리장치(11) 및 디스플레이(12)는 하나의 하우징에 제공되지만, 시료의 광흡수특성 측정장치의 구성은 상기 실시예에 한정되지 않는다.
도 11에 도시된 상기 실시예에서, 결과는 디스플레이(12)로 표시된다. 그러나, 본 발명에 따른 광흡수특성 측정장치의 구성은 상기 실시예에 한정되지 않으며, 예를 들어, 그 결과는 프린터, 임의의 저장매체, 덩어리(lump) 또는 스피커에 의해 출력될 수 있다.
도 11에 도시된 상기 실시예에서, 광섬유가 빛을 광도파로의 출광면으로부터 광도파로의 입광면으로 되돌리기 위하여 하우징 내에 제공되므로, 빛은 광도파로내로 재도입된다. 그러나, 광 전달수단의 구성은 도 11의 실시예에 한정되지 않는다. 예를 들어, 수많은 광섬유의 매트릭스 집합이 광섬유 대신 하우징내에 제공되어, 수많은 횟수의 반사가 이루어지도록 할 수 있다.
필요하면, P-타입 편광기(세로파) 또는 S-타입 편광기(가로파)가 광섬유와 광도파로 사이에 제공되어, 반사면에 배치된 시료내의 분자의 방향을 검출할 수 있도록 할 수 있다.
본 발명에 따르면, 최소화된 크기를 갖는 광도파로를 이용하여 측정될 시료의 양이 최소화될 수 있고 전반사의 횟수가 적절하게 설정될 수 있는 시료의 광흡수 특성을 측정하는 방법 및 장치가 제공된다. 즉, 본 발명에 의하면 광도파로를 이용하여 극히 소량의 측정가능한 양을 갖는 시료의 광흡수특성을 우수한 측정감도로 측정할 수 있게 된다.

Claims (13)

  1. 서로 마주보는 입광면(들) 및 출광면(들), 및 빛이 통과하여 시료상에서 전반사에 의해 반사되는 측정 시료가 배치된 반사면을 포함하는 광도파로로 광원으로부터의 빛을 보내고,
    상기 출광면을 통해 상기 광도파로로부터 나오는 빛을 상기 광도파로의 상기 입광면으로 전달하여 상기 빛이 상기 광도파로 내로 한 번 이상 다시 들어가도록 하고,
    상기 광도파로로부터 다시 나오는 빛을 수신하고,
    상기 수신된 빛에 기초하여 상기 시료의 광흡수특성을 검출하는 것으로 구성되는 시료의 광흡수특성 측정방법.
  2. 청구항 1에 있어서, 상기 광흡수특성은 상기 시료의 광흡수량, 상기 시료의 광흡수 스펙트럼 및 상기 시료의 광흡수 세기 중 어느 하나 이상인 것을 특징으로 하는 시료의 광흡수특성 측정방법.
  3. 광원,
    서로 마주보는 입광면(들) 및 출광면(들), 및 빛이 통과하여 시료상에서 전 반사에 의해 반사되는 측정 시료가 배치된 광반사면을 포함하는 광도파로,
    상기 광도파로의 상기 출광면과 상기 입광면 사이에 배치되어 상기 빛이 상기 광도파로로 다시 도입되도록 하는 하나 이상의 광전달 수단, 및
    상기 출광면을 거쳐 상기 광도파로로부터 다시 나오는 빛을 수신하여 상기 수신된 빛에 기초하여 상기 시료의 광흡수특성을 검출하는 처리장치로 구성되어,
    상기 광도파로를 통과한 빛이 상기 광도파로로 다시 보내어지고, 그 빛이 상기 광도파로로 다시 도입되며, 상기 시료에서 다시 반사되는 것을 특징으로 하는 시료의 광흡수특성 측정장치.
  4. 청구항 3에 있어서, 상기 광흡수특성은 상기 시료의 광흡수량, 광흡수 스펙트럼 및 광흡수 세기 중 어느 하나 이상인 것을 특징으로 하는 시료의 광흡수특성 측정장치.
  5. 청구항 3 또는 4에 있어서, 상기 광전달 수단은 하나 이상의 광섬유로 구성되는 시료의 광흡수특성 측정장치.
  6. 청구항 3 내지 5 중 어느 한 항에 있어서, 상기 광도파로는 각 쌍이 서로 마 주보는 상기 입광면 및 상기 출광면을 두 쌍 이상 포함하고, 상기 광전달 수단은 상기 하나의 출광면을 거쳐 상기 광도파로로부터 나오는 빛을 상기 출광면과 마주보지 않는 다른 상기 입광면으로 전달하는, 시료의 광흡수특성 측정장치.
  7. 청구항 6에 있어서, 상기 하나의 입광면을 거쳐 상기 광도파로로 다시 도입된 빛은, 상기 다른 입광면을 거쳐 상기 광도파로로 도입되거나 다시 도입된 빛이 반사되는 상기 광도파로의 상기 반사면의 반사 지점과 동일한 지점에서 상기 시료상에서 반사되는, 시료의 광흡수특성 측정장치.
  8. 청구항 3 내지 5 중 어느 한 항에 있어서, 상기 광도파로는 하나의 입광면 및 하나의 출광면을 갖고, 상기 빛은 상기 동일한 입광면을 거쳐 상기 광도파로내로 도입 또는 재도입되며 상기 동일한 출광면을 거쳐 상기 광도파로로부터 나가거나 다시 나가는 것을 특징으로 하는 시료의 광흡수특성 측정장치.
  9. 청구항 3 내지 8 중 어느 한 항에 있어서, 상기 광도파로는 투명 재질로 구성되는 시료의 광흡수특성 측정장치.
  10. 청구항 3 내지 9 중 어느 한 항에 있어서, 상기 광도파로는 서로 마주보는 두 쌍 이상의 상기 측면들을 갖는 피라미드형인 것을 특징으로 하는 시료의 광흡수특성 측정장치.
  11. 청구항 10에 있어서, 상기 광도파로는 모서리가 잘린 피라미드형인 시료의 광흡수특성 측정장치.
  12. 청구항 3 내지 9 중 어느 한 항에 있어서, 상기 광도파로는 원뿔형인 시료의 광흡수특성 측정장치.
  13. 청구항 12에 있어서, 상기 광도파로는 모서리가 잘린 원뿔형인 시료의 광흡수특성 측정장치.
KR20050077380A 2004-08-24 2005-08-23 시료의 광흡수특성을 측정하기 위한 방법 및 장치 KR20060050572A (ko)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2004244032A JP4516803B2 (ja) 2004-08-24 2004-08-24 光吸収測定方法及び装置
JPJP-P-2004-00244032 2004-08-24

Publications (1)

Publication Number Publication Date
KR20060050572A true KR20060050572A (ko) 2006-05-19

Family

ID=35311790

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR20050077380A KR20060050572A (ko) 2004-08-24 2005-08-23 시료의 광흡수특성을 측정하기 위한 방법 및 장치

Country Status (6)

Country Link
US (1) US7298485B2 (ko)
EP (1) EP1630545B1 (ko)
JP (1) JP4516803B2 (ko)
KR (1) KR20060050572A (ko)
CN (1) CN1740776B (ko)
TW (1) TWI283742B (ko)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2017209319A1 (ko) * 2016-05-30 2017-12-07 한국기술교육대학교 산학협력단 측정 체적이 확장된 에어로졸의 광흡수계수 측정시스템

Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7233396B1 (en) 2006-04-17 2007-06-19 Alphasniffer Llc Polarization based interferometric detector
CN102478505B (zh) * 2010-11-30 2015-06-10 新奥科技发展有限公司 用于测定流体光学参数的装置
CN103115879B (zh) * 2013-01-18 2015-05-06 北京林业大学 一种利用吸收光谱测定植物活体叶片中叶绿素a、叶绿素b和类胡萝卜素含量的方法
KR101884091B1 (ko) * 2016-11-30 2018-08-02 한국표준과학연구원 사다리꼴 입사구조 프리즘 입사형 실리콘 기반 액침 미세유로 측정장치 및 측정방법

Family Cites Families (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3415602A (en) * 1966-01-14 1968-12-10 Philips Corp Internal reflection element for micro-sample analysis
US3415603A (en) * 1967-03-17 1968-12-10 Floyd W. Blanchard Self-pressurizing retractable ballpoint pen
JPH01245134A (ja) * 1988-03-28 1989-09-29 Yokogawa Electric Corp シート状物体の特性測定装置
JPH03273138A (ja) * 1990-03-22 1991-12-04 Nec Corp 光学式液質測定装置
JPH05249035A (ja) * 1992-03-10 1993-09-28 F M T:Kk 塩分検知方法
JPH0712715A (ja) * 1993-06-29 1995-01-17 Shimadzu Corp 全反射吸収スペクトル測定装置
JP2807777B2 (ja) 1994-09-09 1998-10-08 工業技術院長 スラブ光導波路を利用した光吸収スペクトル測定装置
JPH08201278A (ja) * 1995-01-20 1996-08-09 Shimadzu Corp スペクトル測定装置
US5818046A (en) * 1996-08-30 1998-10-06 Rizvi; Syed A. Mid-infrared analysis system
JP2000111474A (ja) 1998-10-07 2000-04-21 Mitsubishi Electric Corp 高感度atr分析法及びそれに用いる光学プリズム
US6992770B2 (en) * 2001-01-25 2006-01-31 Fuji Photo Film Co., Ltd. Sensor utilizing attenuated total reflection
EP1371966A1 (en) 2002-06-14 2003-12-17 Stiftung Für Diagnostische Forschung A cuvette for a reader device for assaying substances using the evanescence field method
US20050007596A1 (en) * 2003-07-11 2005-01-13 Wilks Enterprise, Inc. Apparatus and method for increasing the sensitivity of in-line infrared sensors

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2017209319A1 (ko) * 2016-05-30 2017-12-07 한국기술교육대학교 산학협력단 측정 체적이 확장된 에어로졸의 광흡수계수 측정시스템

Also Published As

Publication number Publication date
EP1630545A1 (en) 2006-03-01
US20060044560A1 (en) 2006-03-02
CN1740776B (zh) 2010-05-12
CN1740776A (zh) 2006-03-01
TW200615532A (en) 2006-05-16
JP4516803B2 (ja) 2010-08-04
US7298485B2 (en) 2007-11-20
TWI283742B (en) 2007-07-11
EP1630545B1 (en) 2013-01-02
JP2006064405A (ja) 2006-03-09

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP6505654B2 (ja) 接触感応装置
US7315632B2 (en) Device for imaging the papillary lines of a finger
US6016197A (en) Compact, all-optical spectrum analyzer for chemical and biological fiber optic sensors
US11698302B2 (en) Apparatus for optical applications, spectrometer system and method for producing an apparatus for optical applications
CN112840176B (zh) 用于确定至少一个对象的位置的检测器
KR20060050572A (ko) 시료의 광흡수특성을 측정하기 위한 방법 및 장치
KR20210046044A (ko) 적어도 하나의 물체의 위치를 결정하기 위한 측정 헤드
CN112424575B (zh) 测光装置
US8000007B2 (en) Polarization filter utilizing Brewster's angle
JP2019179046A (ja) マイクロプレートリーダーユニット
JPS63273042A (ja) 光学的測定装置
JPS63132139A (ja) 液体屈折率計
KR20100005452A (ko) 전반사미러의 소산파를 이용한 마이크로 공진기 센서
JP7170876B1 (ja) 光導波路素子および光軸調整方法
KR102101434B1 (ko) 광 굴절계 및 이를 구비한 실시간 모니터링 분석 장치
US11181476B2 (en) Miniature full analysis device and method for manufacturing the same
WO2022059524A1 (ja) 測光装置
JPH0875646A (ja) 全反射型屈折率センサ
JPH10104444A (ja) ファイバ光学デバイス、受光部品及びパターン取得装置
JPS63263452A (ja) 液体センサヘツド
Shi et al. Application of one multimode fiber optical sensor in optical tomography technology
JPH01250931A (ja) 音響光学光スイッチ及び光パルス試験器

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
AMND Amendment
E601 Decision to refuse application
J201 Request for trial against refusal decision
AMND Amendment
B601 Maintenance of original decision after re-examination before a trial
E801 Decision on dismissal of amendment
J301 Trial decision

Free format text: TRIAL DECISION FOR APPEAL AGAINST DECISION TO DECLINE REFUSAL REQUESTED 20070820

Effective date: 20080627