JPH05249035A - 塩分検知方法 - Google Patents
塩分検知方法Info
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- JPH05249035A JPH05249035A JP8645592A JP8645592A JPH05249035A JP H05249035 A JPH05249035 A JP H05249035A JP 8645592 A JP8645592 A JP 8645592A JP 8645592 A JP8645592 A JP 8645592A JP H05249035 A JPH05249035 A JP H05249035A
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/55—Specular reflectivity
- G01N21/552—Attenuated total reflection
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- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
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- Biochemistry (AREA)
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- General Physics & Mathematics (AREA)
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- Pathology (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 金属の腐食や絶縁物の電気抵抗の低下等に関
与する塩分の検知方法を提供する。 【構成】 プリズム１に検知光束Ｌｅを入射し、これを
プリズム１内で複数回反射させた後プリズム１外に取り
出し、再びプリズム１内に入射して反射させてプリズム
１外に取り出す。以後このサイクルを適宜回数繰り返し
た後、最終回にプリズム１から出射した最終出射光束Ｌ
ｏの光量を光パワメータ７により測定して最初にプリズ
ム１内に入射した検知光束Ｌｅとの出力比較を行う。上
記のサイクルにおいて、各サイクル毎に検知光束Ｌｅの
プリズム１内での反射点Ｒ１，Ｒ２，Ｒ３，…の位置を
つぎつぎとずらせていく。最終出射光束Ｌｏの最初にプ
リズム１に入射した検知光束Ｌｅに対する減衰率を測定
することにより、プリズム反射面Ｐ１，Ｐ２の外面の塩
分付着面Ａ１，Ａ２に付着した塩分量を知ることができ
る。特に上記サイクルの繰り返しにより、塩分の存在量
が微量である場合でも、これを鋭敏に検知し得る。
与する塩分の検知方法を提供する。 【構成】 プリズム１に検知光束Ｌｅを入射し、これを
プリズム１内で複数回反射させた後プリズム１外に取り
出し、再びプリズム１内に入射して反射させてプリズム
１外に取り出す。以後このサイクルを適宜回数繰り返し
た後、最終回にプリズム１から出射した最終出射光束Ｌ
ｏの光量を光パワメータ７により測定して最初にプリズ
ム１内に入射した検知光束Ｌｅとの出力比較を行う。上
記のサイクルにおいて、各サイクル毎に検知光束Ｌｅの
プリズム１内での反射点Ｒ１，Ｒ２，Ｒ３，…の位置を
つぎつぎとずらせていく。最終出射光束Ｌｏの最初にプ
リズム１に入射した検知光束Ｌｅに対する減衰率を測定
することにより、プリズム反射面Ｐ１，Ｐ２の外面の塩
分付着面Ａ１，Ａ２に付着した塩分量を知ることができ
る。特に上記サイクルの繰り返しにより、塩分の存在量
が微量である場合でも、これを鋭敏に検知し得る。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は、金属の腐食劣化や絶
縁物の電気抵抗の低下等に大きく関与する塩分の存在と
その量とを検知する塩分検知方法に関するものである。
縁物の電気抵抗の低下等に大きく関与する塩分の存在と
その量とを検知する塩分検知方法に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】塩分の存在やその量を検知する従来の方
法として、例えば筆洗い法が知られている。この方法を
以下に図４ないし図６を参照して説明する。まず塩分
（Ｓ）の存在を検知しようとする場所に図４（ａ）
（ｂ）に示す塩分検知用付着板１００を配置し、ある一
定の期間放置した後その検知用付着板１００を回収し、
図５に示す如く洗浄水１０２を降りかけつつその表面を
筆１０３によって洗い流す。その洗い流された液、つま
り検知しようとする塩分（Ｓ）を含んだ溶液１０９を別
に用意した空の容器１０１にもらすことなく収容する。
洗浄水１０２としては電解質などを含んでいない蒸留水
等が使用される。さらに後の計算が容易に行えるように
同じ蒸留水を加えて溶液１０９の総量を端数のない、た
とえば１ｋｇにする。
法として、例えば筆洗い法が知られている。この方法を
以下に図４ないし図６を参照して説明する。まず塩分
（Ｓ）の存在を検知しようとする場所に図４（ａ）
（ｂ）に示す塩分検知用付着板１００を配置し、ある一
定の期間放置した後その検知用付着板１００を回収し、
図５に示す如く洗浄水１０２を降りかけつつその表面を
筆１０３によって洗い流す。その洗い流された液、つま
り検知しようとする塩分（Ｓ）を含んだ溶液１０９を別
に用意した空の容器１０１にもらすことなく収容する。
洗浄水１０２としては電解質などを含んでいない蒸留水
等が使用される。さらに後の計算が容易に行えるように
同じ蒸留水を加えて溶液１０９の総量を端数のない、た
とえば１ｋｇにする。
【０００３】つぎに図６に示すように容器１０１内の溶
液１０９中に１対の電極１０４，１０５をセットし、両
電極１０４，１０５間に電流計１０６と電池１０７とを
組みこんだ電気回路を構成する。このとき溶液１０９中
に温度計１０８も配置する。この準備の後、回路に流れ
る電流値を電流計１０６から、またそのときの溶液１０
９の温度を温度計１０８から読み取り、これらの数値か
ら両電極間の電気抵抗、従ってその電気伝導率を知る。
一般に溶液の塩分濃度（ｍｏｌ／ｋｇ）はその電気伝導
率（Ｓ／ｃｍ）に対して一義的に決まった関係にあるか
ら、これらの関数関係を示したグラフまたは表を利用し
てその溶液の塩分濃度を知ることになる。
液１０９中に１対の電極１０４，１０５をセットし、両
電極１０４，１０５間に電流計１０６と電池１０７とを
組みこんだ電気回路を構成する。このとき溶液１０９中
に温度計１０８も配置する。この準備の後、回路に流れ
る電流値を電流計１０６から、またそのときの溶液１０
９の温度を温度計１０８から読み取り、これらの数値か
ら両電極間の電気抵抗、従ってその電気伝導率を知る。
一般に溶液の塩分濃度（ｍｏｌ／ｋｇ）はその電気伝導
率（Ｓ／ｃｍ）に対して一義的に決まった関係にあるか
ら、これらの関数関係を示したグラフまたは表を利用し
てその溶液の塩分濃度を知ることになる。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】従来の筆洗い法は上述
のように手作業に頼る煩雑なものであるので、迅速容易
に塩分検知を行なうことができないものであった。そこ
で、この発明は、塩分の存在およびその量を容易に検知
可能な塩分検知方法を提供するものである。
のように手作業に頼る煩雑なものであるので、迅速容易
に塩分検知を行なうことができないものであった。そこ
で、この発明は、塩分の存在およびその量を容易に検知
可能な塩分検知方法を提供するものである。
【０００５】
【課題を解決するための手段】この発明は上述の課題を
解決するためになされたものであって、検知すべき塩分
の屈折率と同一またはそれよりも小さい屈折率を有する
角柱状のプリズムに検知光束を入射し、この入射した検
知光束をプリズムの複数の反射面におけるそれぞれの反
射点において順次反射させた後にプリズム外に出射光束
として取り出し、その出射光束を転換光路を介して再び
前記プリズム内に入射して前記プリズムの複数の反射面
における前回の反射点とは異なる位置のそれぞれの反射
点において再度反射させて再びプリズム外に出射光束と
して取り出し、以後順次このサイクルを適宜回数繰り返
した後、最終回にプリズムから出射した最終出射光束の
最初にプリズムに入射した検知光束に対する減衰率を測
定することによってプリズム反射面の外面である塩分付
着面に付着した塩分量を検知する塩分検知方法である。
解決するためになされたものであって、検知すべき塩分
の屈折率と同一またはそれよりも小さい屈折率を有する
角柱状のプリズムに検知光束を入射し、この入射した検
知光束をプリズムの複数の反射面におけるそれぞれの反
射点において順次反射させた後にプリズム外に出射光束
として取り出し、その出射光束を転換光路を介して再び
前記プリズム内に入射して前記プリズムの複数の反射面
における前回の反射点とは異なる位置のそれぞれの反射
点において再度反射させて再びプリズム外に出射光束と
して取り出し、以後順次このサイクルを適宜回数繰り返
した後、最終回にプリズムから出射した最終出射光束の
最初にプリズムに入射した検知光束に対する減衰率を測
定することによってプリズム反射面の外面である塩分付
着面に付着した塩分量を検知する塩分検知方法である。
【０００６】またこの発明は上述の塩分検知方法におい
て、プリズムの反射面における光束の繰り返し反射にお
いて、後続回の反射点を先行回の反射点に対して、同一
の反射面については順次該反射面の傾斜方向にずらすも
のである。またこの発明は上述の塩分検知方法におい
て、プリズムの反射面における光束の繰り返し反射にお
いて、後続回の反射点を先行回の反射点に対して、順次
該プリズムの軸方向にずらすものである。
て、プリズムの反射面における光束の繰り返し反射にお
いて、後続回の反射点を先行回の反射点に対して、同一
の反射面については順次該反射面の傾斜方向にずらすも
のである。またこの発明は上述の塩分検知方法におい
て、プリズムの反射面における光束の繰り返し反射にお
いて、後続回の反射点を先行回の反射点に対して、順次
該プリズムの軸方向にずらすものである。
【０００７】
【作用】プリズムに塩分が付着すると塩分の屈折率がプ
リズムのそれと同一またはそれよりも大きいためにプリ
ズム反射面で反射する光の全反射条件が崩れ、検知光束
が臨界角以上の入射角度で入射しても、その検知光束は
全反射せずにプリズム外へ透過・屈折することになるか
ら、複数回の反射の後には出射光は検知光に対して大き
く減衰し、その減衰の度合によって塩分量が検知され
る。
リズムのそれと同一またはそれよりも大きいためにプリ
ズム反射面で反射する光の全反射条件が崩れ、検知光束
が臨界角以上の入射角度で入射しても、その検知光束は
全反射せずにプリズム外へ透過・屈折することになるか
ら、複数回の反射の後には出射光は検知光に対して大き
く減衰し、その減衰の度合によって塩分量が検知され
る。
【０００８】プリズム内での反射を経てプリズム外へ一
旦出射した光束を進入位置を変えて再びプリズム内に入
射して前回の反射点とは異なる位置で反射させてプリズ
ム外に取り出し、以後順次このサイクルを適宜回数繰り
返す工程は、塩分付着による減衰率の低下量を増幅して
塩分検知の精度をより高める。
旦出射した光束を進入位置を変えて再びプリズム内に入
射して前回の反射点とは異なる位置で反射させてプリズ
ム外に取り出し、以後順次このサイクルを適宜回数繰り
返す工程は、塩分付着による減衰率の低下量を増幅して
塩分検知の精度をより高める。
【０００９】
【実施例】この発明方法の一実施例を図１について説明
する。まず塩分検知工程に使用するプリズム１は、検知
すべき塩分Ｓの屈折率（約１．５５）よりも小さい屈折
率（約１．４６）を有する石英にて三角柱状に形成さ
れ、そのひとつの側面が検知光束Ｌｅと出射光束Ｌｏの
入出射面１１となっている。この入出射面１１に接して
垂直に検知光入射部４および検知光出射部５が設けら
れ、プリズム１内に入射される光束はすべて検知光入射
部４を経由し、またプリズム１から出射される光束は検
知光出射部５を経由するようにされる。検知光入射部４
は検知光束Ｌｅを平行光束としてプリズム１内に導入す
るコリメータレンズ（図示略）が収納され、また検知光
出射部５にはプリズム１の各反射面Ｐ１，Ｐ２で反射後
の検知光束を集光してつぎの光路に導く集光レンズ（図
示略）が収納されている。
する。まず塩分検知工程に使用するプリズム１は、検知
すべき塩分Ｓの屈折率（約１．５５）よりも小さい屈折
率（約１．４６）を有する石英にて三角柱状に形成さ
れ、そのひとつの側面が検知光束Ｌｅと出射光束Ｌｏの
入出射面１１となっている。この入出射面１１に接して
垂直に検知光入射部４および検知光出射部５が設けら
れ、プリズム１内に入射される光束はすべて検知光入射
部４を経由し、またプリズム１から出射される光束は検
知光出射部５を経由するようにされる。検知光入射部４
は検知光束Ｌｅを平行光束としてプリズム１内に導入す
るコリメータレンズ（図示略）が収納され、また検知光
出射部５にはプリズム１の各反射面Ｐ１，Ｐ２で反射後
の検知光束を集光してつぎの光路に導く集光レンズ（図
示略）が収納されている。
【００１０】さて検知光束Ｌｅはまずプリズム１の入出
射面１１の端部に位置する検知光入射部４からプリズム
１内に入射され、反射面Ｐ１上の第１の反射点Ｒ１にお
いて反射し、ついでプリズム１内を進行して反射面Ｐ２
に至り、ここの第２の反射点Ｒ２において反射して入出
射面１１から検知光出射部５を経てプリズム１外に出射
される。検知光出射部５からたとえば光ファイバのよう
なＵ字状に曲がった転換光路６が延び、その他端は上記
検知光出射部５に隣接して設けられている検知光入射部
４に接続されており、それ故、上記検知光出射部５から
出射された検知光束Ｌｅは転換光路６および上記検知光
入射部４を経て再びプリズム１内に入射される。この入
射された検知光束Ｌｅはこんどはまず反射面Ｐ２におい
てさきの第２の反射点Ｒ２よりも反射面Ｐ２に沿って傾
斜方向に位置のずれた第３の反射点Ｒ３において反射し
た後プリズム１内を進行し、ついで反射面Ｐ１の、さき
のこの反射面Ｐ１の第１の反射点Ｒ１よりは傾斜方向に
位置のずれた第４の反射点Ｒ４において反射して検知光
出射部５を経てプリズム１外に出射される。
射面１１の端部に位置する検知光入射部４からプリズム
１内に入射され、反射面Ｐ１上の第１の反射点Ｒ１にお
いて反射し、ついでプリズム１内を進行して反射面Ｐ２
に至り、ここの第２の反射点Ｒ２において反射して入出
射面１１から検知光出射部５を経てプリズム１外に出射
される。検知光出射部５からたとえば光ファイバのよう
なＵ字状に曲がった転換光路６が延び、その他端は上記
検知光出射部５に隣接して設けられている検知光入射部
４に接続されており、それ故、上記検知光出射部５から
出射された検知光束Ｌｅは転換光路６および上記検知光
入射部４を経て再びプリズム１内に入射される。この入
射された検知光束Ｌｅはこんどはまず反射面Ｐ２におい
てさきの第２の反射点Ｒ２よりも反射面Ｐ２に沿って傾
斜方向に位置のずれた第３の反射点Ｒ３において反射し
た後プリズム１内を進行し、ついで反射面Ｐ１の、さき
のこの反射面Ｐ１の第１の反射点Ｒ１よりは傾斜方向に
位置のずれた第４の反射点Ｒ４において反射して検知光
出射部５を経てプリズム１外に出射される。
【００１１】さてプリズム１の、たとえば反射面Ｐ１の
外面（以下塩分付着面Ａ１と呼ぶ）に塩分Ｓが付着した
とすれば、検知光束Ｌｅは反射面Ｐ１において全反射せ
ずにその一部は図３に示すようにプリズム１を透過して
付着塩分Ｓの内部に進入して行く。すなわち、プリズム
１の屈折率の値が塩分Ｓのそれよりも小さいために、逆
に言えば塩分Ｓの屈折率の値がプリズム１のそれよりも
大きいために塩分Ｓの付着部においては検知光束Ｌｅが
該塩分Ｓ中に進入していく。そしてプリズム１を透過し
て上記塩分Ｓ内に進入した光は、塩分Ｓの表面（普通は
かなり凹凸の多い粗雑な面）から媒質（空気）Ｍ中に乱
反射して出て行く。かくして検知光束Ｌｅは反射面Ｐ１
において全反射することなく、部分反射状態となって減
衰する。他の反射面Ｐ２においてももしそれらの反射面
Ｐ２の外面（以下塩分付着面Ａ２とよぶ）に塩分Ｓの付
着があれば、反射面Ｐ１の場合と同様に検知光束Ｌｅは
部分反射状態となってさらに減衰する。
外面（以下塩分付着面Ａ１と呼ぶ）に塩分Ｓが付着した
とすれば、検知光束Ｌｅは反射面Ｐ１において全反射せ
ずにその一部は図３に示すようにプリズム１を透過して
付着塩分Ｓの内部に進入して行く。すなわち、プリズム
１の屈折率の値が塩分Ｓのそれよりも小さいために、逆
に言えば塩分Ｓの屈折率の値がプリズム１のそれよりも
大きいために塩分Ｓの付着部においては検知光束Ｌｅが
該塩分Ｓ中に進入していく。そしてプリズム１を透過し
て上記塩分Ｓ内に進入した光は、塩分Ｓの表面（普通は
かなり凹凸の多い粗雑な面）から媒質（空気）Ｍ中に乱
反射して出て行く。かくして検知光束Ｌｅは反射面Ｐ１
において全反射することなく、部分反射状態となって減
衰する。他の反射面Ｐ２においてももしそれらの反射面
Ｐ２の外面（以下塩分付着面Ａ２とよぶ）に塩分Ｓの付
着があれば、反射面Ｐ１の場合と同様に検知光束Ｌｅは
部分反射状態となってさらに減衰する。
【００１２】このようなプリズム１内への検知光束Ｌｅ
の入射、各反射面Ｐ１，Ｐ２における反射、プリズム１
外への出射を何回か繰り返させた後、最終回にプリズム
１内に入射された検知光束Ｌｅは反射面Ｐ１の第９の反
射点Ｒ９、ついで反射面Ｐ２の第１０の反射点Ｒ１０に
おいて反射してプリズム１外に出射され、その最終出射
光束Ｌｏは、光ファイバのような適宜の光路を経て一種
の光量計である光パワメータ７のセンサヘッド７１に導
かれて光量が測定され、最初にプリズム１に入射された
検知光束Ｌｅのそれと出力比較がなされる。この場合、
検知光入射部４と検知光出射部５における接続損失、お
よびＵ字状の転換光路６の曲がり損失などによる、既知
あるいはあらかじめ測定して大きさの分かる光減衰量は
もちろんあらかじめ差引き除外する。こうして上述の出
力比較によって、プリズム１の外面に塩分Ｓが付着した
ために起こる減衰量だけを正確に算出して塩分付着量を
知ることができるのである。
の入射、各反射面Ｐ１，Ｐ２における反射、プリズム１
外への出射を何回か繰り返させた後、最終回にプリズム
１内に入射された検知光束Ｌｅは反射面Ｐ１の第９の反
射点Ｒ９、ついで反射面Ｐ２の第１０の反射点Ｒ１０に
おいて反射してプリズム１外に出射され、その最終出射
光束Ｌｏは、光ファイバのような適宜の光路を経て一種
の光量計である光パワメータ７のセンサヘッド７１に導
かれて光量が測定され、最初にプリズム１に入射された
検知光束Ｌｅのそれと出力比較がなされる。この場合、
検知光入射部４と検知光出射部５における接続損失、お
よびＵ字状の転換光路６の曲がり損失などによる、既知
あるいはあらかじめ測定して大きさの分かる光減衰量は
もちろんあらかじめ差引き除外する。こうして上述の出
力比較によって、プリズム１の外面に塩分Ｓが付着した
ために起こる減衰量だけを正確に算出して塩分付着量を
知ることができるのである。
【００１３】図２はこの発明の別の実施例を説明するも
のであって、この実施例では軸方向に比較的長い三角柱
状のプリズム１が使用され、検知光束Ｌｅのプリズム１
への入射位置およびプリズム外への出射光束の出射位置
をそのひとつの側面である入出射面１１上を軸方向に移
動させ、これによりプリズム１の反射面Ｐ１，Ｐ２にお
ける反射点Ｒ１，Ｒ２，Ｒ３，Ｒ４，…をこれらの反射
面Ｐ１，Ｐ２に沿って軸方向につぎつぎと位置をずらせ
てゆくことがさきの実施例と異なるものである。
のであって、この実施例では軸方向に比較的長い三角柱
状のプリズム１が使用され、検知光束Ｌｅのプリズム１
への入射位置およびプリズム外への出射光束の出射位置
をそのひとつの側面である入出射面１１上を軸方向に移
動させ、これによりプリズム１の反射面Ｐ１，Ｐ２にお
ける反射点Ｒ１，Ｒ２，Ｒ３，Ｒ４，…をこれらの反射
面Ｐ１，Ｐ２に沿って軸方向につぎつぎと位置をずらせ
てゆくことがさきの実施例と異なるものである。
【００１４】以上に説明した実施例ではいずれも三角柱
状のプリズムが使用されているが、たとえば等脚台形柱
状のプリズムを使用して、検知光束Ｌｅの１回のプリズ
ム内滞在中における反射回数を３回以上とさせてもよ
い。
状のプリズムが使用されているが、たとえば等脚台形柱
状のプリズムを使用して、検知光束Ｌｅの１回のプリズ
ム内滞在中における反射回数を３回以上とさせてもよ
い。
【００１５】
【発明の効果】この発明によれば、プリズム１内に最初
に入射された検知（入射）光束Ｌｅに対する最終出射光
束Ｌｏについての減衰率の測定を行うことにより、塩分
の存在および塩分量を容易迅速に知ることができる。そ
して特に、検知光束のプリズム内への入射、反射面にお
ける反射、出射光束としてのプリズム外への取り出し、
取り出された光束の再度のプリズム内への入射、反射面
における反射および出射光束としてのプリズム外への取
り出しのサイクルを繰り返し行なうので、上記減衰率の
値を大きくさせることができ、そのため塩分の存在量が
微量である場合であってもこれを鋭敏に検知することが
できるものである。
に入射された検知（入射）光束Ｌｅに対する最終出射光
束Ｌｏについての減衰率の測定を行うことにより、塩分
の存在および塩分量を容易迅速に知ることができる。そ
して特に、検知光束のプリズム内への入射、反射面にお
ける反射、出射光束としてのプリズム外への取り出し、
取り出された光束の再度のプリズム内への入射、反射面
における反射および出射光束としてのプリズム外への取
り出しのサイクルを繰り返し行なうので、上記減衰率の
値を大きくさせることができ、そのため塩分の存在量が
微量である場合であってもこれを鋭敏に検知することが
できるものである。
【図１】この発明の方法の一実施例を示す説明図であ
る。
る。
【図２】この発明の方法の別の実施例を示す説明図であ
る。
る。
【図３】プリズムの塩分付着面に塩分が付着したときの
光束の反射状況を説明する断面略図である。
光束の反射状況を説明する断面略図である。
【図４】（ａ） 従来の塩分検知方法である筆洗い法に
用いる塩分検知用付着板を示す正面図である。 （ｂ） 図４（ａ）に示す塩分検知用付着板の側面図で
ある。
用いる塩分検知用付着板を示す正面図である。 （ｂ） 図４（ａ）に示す塩分検知用付着板の側面図で
ある。
【図５】従来の塩分検知方法である筆洗い法を実施して
いる状況を示す側面図である。
いる状況を示す側面図である。
【図６】従来の塩分検知方法である筆洗い法において実
施される塩分溶液の電気伝導度の測定状況を示す説明図
である。
施される塩分溶液の電気伝導度の測定状況を示す説明図
である。
１ プリズム Ｐ１，Ｐ２ 反射面 Ｒ１，Ｒ２，Ｒ３，… 反射点 Ａ１，Ａ２ 塩分付着面 ４ 検知光入射部 ５ 検知光出射部 Ｌｅ 検知光束 Ｌｏ 出射光束 Ｓ 塩分
Claims (3)
- 【請求項１】 検知すべき塩分（Ｓ）の屈折率と同一ま
たはそれよりも小さい屈折率を有する角柱状のプリズム
（１）に検知光束（Ｌｅ）を入射し、この入射した検知
光束（Ｌｅ）をプリズム（１）の複数の反射面（Ｐ１，
Ｐ２）におけるそれぞれの反射点（Ｒ１，Ｒ２）におい
て順次反射させた後にプリズム（１）外に出射光束とし
て取り出し、その出射光束を転換光路（６）を介して再
び前記プリズム（１）内に入射して前記プリズム（１）
の複数の反射面（Ｐ１，Ｐ２）における前回の反射点と
は異なる位置のそれぞれの反射点（Ｒ３，Ｒ４）におい
て再度反射させて再びプリズム（１）外に出射光束とし
て取り出し、以後順次このサイクルを適宜回数繰り返し
た後、最終回にプリズム（１）から出射した最終出射光
束（Ｌｏ）の最初にプリズム（１）に入射した検知光束
（Ｌｅ）に対する減衰率を測定することによってプリズ
ム反射面（Ｐ１，Ｐ２）の外面である塩分付着面（Ａ
１，Ａ２）に付着した塩分（Ｓ）量を検知することを特
徴とする塩分検知方法。 - 【請求項２】 プリズム（１）の反射面（Ｐ１，Ｐ２）
における光束の繰り返し反射において、後続回の反射点
（Ｒ３，Ｒ４，Ｒ５，…）を先行回の反射点（Ｒ１，Ｒ
２）に対して、同一の反射面については順次該反射面の
傾斜方向にずらすことを特徴とする請求項１記載の塩分
検知方法。 - 【請求項３】 プリズム（１）の反射面（Ｐ１，Ｐ２）
における光束の繰り返し反射において、後続回の反射点
（Ｒ３，Ｒ４，Ｒ５，…）を先行回の反射点（Ｒ１，Ｒ
２）に対して、順次該プリズム（１）の軸方向にずらす
ことを特徴とする請求項１記載の塩分検知方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8645592A JPH05249035A (ja) | 1992-03-10 | 1992-03-10 | 塩分検知方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8645592A JPH05249035A (ja) | 1992-03-10 | 1992-03-10 | 塩分検知方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05249035A true JPH05249035A (ja) | 1993-09-28 |
Family
ID=13887421
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8645592A Pending JPH05249035A (ja) | 1992-03-10 | 1992-03-10 | 塩分検知方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH05249035A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006064405A (ja) * | 2004-08-24 | 2006-03-09 | System Instruments Kk | 光吸収測定方法及び装置、並びに同測定方法又は装置において使用可能な光導波路 |
-
1992
- 1992-03-10 JP JP8645592A patent/JPH05249035A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006064405A (ja) * | 2004-08-24 | 2006-03-09 | System Instruments Kk | 光吸収測定方法及び装置、並びに同測定方法又は装置において使用可能な光導波路 |
| JP4516803B2 (ja) * | 2004-08-24 | 2010-08-04 | システム・インスツルメンツ株式会社 | 光吸収測定方法及び装置 |
| EP1630545B1 (en) * | 2004-08-24 | 2013-01-02 | System Instruments Co., Ltd. | Device for measuring with enhanced sensitivity optical absorption characteristics of a sample |
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